CN115902383A

CN115902383A - 一种智能卡的功耗测试方法、装置及相关产品

Info

Publication number: CN115902383A
Application number: CN202310110076.9A
Authority: CN
Inventors: 欧阳睿; 汤华杰; 李凯亮; 刘静; 邹欢; 陈凝
Original assignee: Ziguang Tongxin Microelectronics Co Ltd
Current assignee: Ziguang Tongxin Microelectronics Co Ltd
Priority date: 2023-02-02
Filing date: 2023-02-02
Publication date: 2023-04-04

Abstract

本申请公开了一种智能卡的功耗测试方法、装置及相关产品。该方法包括：接收目标智能卡对应的功耗测试需求，根据所述功耗测试需求确定与所述功耗测试需求对应的目标功耗测试模式，根据所述目标功耗测试模式确定与所述目标功耗测试模式对应的目标参数，根据所述目标参数通过FPGA对所述目标智能卡进行功耗测试。其中，根据功耗测试需求可以选择不同的目标功耗测试模式，然后根据不同的目标功耗测试模式确定所需的目标参数，根据所述目标参数由FPGA实现对目标智能卡的功耗测试，可实现对智能卡的功耗的全面有效测试，避免局限于固定电压、频率值测试，可实现自动化测试流程，提高测试效率。

Description

一种智能卡的功耗测试方法、装置及相关产品

技术领域

本申请涉及智能卡功耗测试技术领域，特别是涉及一种智能卡的功耗测试方法、装置及相关产品。

背景技术

随着科学技术的发展，智能卡广泛的应用于通信、金融、交通等领域，其可以实现身份认证、权限识别、数据加解密等功能。其中，功耗是衡量智能卡性能优劣的重要指标之一。

在现有技术中，一般是通过商用读卡机对智能卡进行指令操作，同时用万用表来测量电流，通过商用读卡机切换1.8V、3.0V和5.0V三个额定工作电压来获取相应的电流值，由人工记录电流值并计算功耗。但是，由于商用读卡机的工作电压值固定，最多仅支持1.8V、3.0V和5.0V三种额定工作电压，此条件不能模拟智能卡在实际使用当中出现的过压或者欠压工况；同时由于测量电流时，不能通过监测智能卡的状态信号进行触发万用表测量，因此采集瞬态电流很难；此外，测试的时候需要通过PC对卡机进行控制，一旦读卡机或PC出现故障，整个测试就会中断，无法保证测试的独立性和可靠性。

基于此，如何实现对智能卡的功耗的有效测试，是本领域技术人员亟待解决的技术问题。

发明内容

基于上述问题，本申请提供了一种智能卡的功耗测试方法、装置及相关产品，以实现对智能卡的功耗的有效测试。

本申请实施例公开了如下技术方案：

第一方面，本申请实施例提供一种智能卡的功耗测试方法，所述方法包括：

接收目标智能卡对应的功耗测试需求；

根据所述功耗测试需求确定与所述功耗测试需求对应的目标功耗测试模式；

根据所述目标功耗测试模式确定与所述目标功耗测试模式对应的目标参数；

根据所述目标参数通过FPGA对所述目标智能卡进行功耗测试。

可选地，所述目标功耗测试模式包括静态功耗测试模式或静态功耗定值连续测试模式或动态功耗测试模式。

可选地，当所述目标功耗测试模式为静态功耗测试模式时，所述根据所述目标功耗测试模式确定与所述目标功耗测试模式对应的目标参数，包括：

根据所述静态功耗测试模式确定所述目标智能卡复位时的ATR返回值，作为第一复位参数；

根据所述静态功耗测试模式确定所述目标智能卡工作时的电压范围和通讯时钟范围，作为第一工作参数；

根据所述静态功耗测试模式确定所述目标智能卡休眠时的数字逻辑参数，作为第一休眠参数；

将所述第一复位参数、第一工作参数和第一休眠参数作为目标参数。

可选地，当所述目标功耗测试模式为静态功耗定值连续测试模式时，所述根据所述目标功耗测试模式确定与所述目标功耗测试模式对应的目标参数，包括：

根据所述静态功耗定值连续测试模式确定所述目标智能卡复位时的ATR返回值，作为第二复位参数；

根据所述静态功耗定值连续测试模式确定所述目标智能卡在连续测试时的电压值和通讯时钟条件，作为第二工作参数；

根据所述静态功耗定值连续测试模式确定所述目标智能卡休眠时的时钟参数，作为第二休眠参数；

根据所述静态功耗定值连续测试模式确定连续测试的采样时间间隔周期，作为周期参数；

将所述第二复位参数、第二工作参数、第二休眠参数和周期参数作为目标参数。

可选地，当所述目标功耗测试模式为动态功耗测试模式时，所述根据所述目标功耗测试模式确定与所述目标功耗测试模式对应的目标参数，包括：

根据所述动态功耗测试模式确定所述目标智能卡复位时的ATR返回值，作为第三复位参数；

根据所述动态功耗测试模式确定所述目标智能卡工作时的电压范围和通讯时钟范围，作为第三工作参数；

根据所述动态功耗测试模式确定所述目标智能卡测试时的指令项，作为指令项参数；

将所述第三复位参数、第三工作参数和指令项参数作为目标参数。

可选地，在根据所述目标参数通过FPGA对所述目标智能卡进行功耗测试之后，所述方法还包括：

将得到的功耗测试结果输出并存储，并根据所述功耗测试结果生成功耗曲线图进行展示。

第二方面，本申请实施例提供一种智能卡的功耗测试装置，所述装置包括：

接收模块，用于接收目标智能卡对应的功耗测试需求；

目标功耗测试模式确定模块，用于根据所述功耗测试需求确定与所述功耗测试需求对应的目标功耗测试模式；

目标参数确定模块，用于根据所述目标功耗测试模式确定与所述目标功耗测试模式对应的目标参数；

功耗测试模块，用于根据所述目标参数通过FPGA对所述目标智能卡进行功耗测试。

第三方面，本申请实施例提供一种智能卡功耗测试仪，所述智能卡功耗测试仪执行智能卡的功耗测试时，实现如第一方面所述的智能卡的功耗测试方法。

第四方面，本申请实施例提供一种计算机设备，包括：存储器，处理器，及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时，实现如第一方面所述的智能卡的功耗测试方法。

第五方面，本申请实施例提供一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质中存储有指令，当所述指令在终端设备上运行时，使得所述终端设备执行如第一方面所述的智能卡的功耗测试方法。

相较于现有技术，本申请具有以下有益效果：本申请通过接收目标智能卡对应的功耗测试需求，根据所述功耗测试需求确定与所述功耗测试需求对应的目标功耗测试模式，根据所述目标功耗测试模式确定与所述目标功耗测试模式对应的目标参数，根据所述目标参数通过FPGA对所述目标智能卡进行功耗测试。其中，根据功耗测试需求可以选择不同的目标功耗测试模式，然后根据不同的目标功耗测试模式确定所需的目标参数，根据所述目标参数由FPGA实现对目标智能卡的功耗测试，可实现对智能卡的功耗的全面有效测试，避免局限于固定电压和频率值的测试，可实现自动化测试流程，提高测试效率。

附图说明

为了更清楚地说明本申请实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为本申请实施例提供的一种智能卡的功耗测试方法的流程图；

图2为本申请实施例提供的一种智能卡功耗测试仪的示意图；

图3为本申请实施例提供的一种智能卡的功耗测试装置的结构示意图。

具体实施方式

正如前文描述，发明人在针对智能卡的功耗测试的研究中发现，在现有技术中，一般是通过商用读卡机对智能卡进行指令操作，同时用万用表来测量电流，同时通过商用读卡机切换1.8V、3.0V和5.0V三个工作电压来获取不同的电流值，由人工记录电流值并计算功耗。但是，由于商用读卡机的工作电压值固定，因此不能测量在其他更多电压工作条件下的电流值；同时由于测量的电流是由万用表得到，其测量不能通过智能卡的信号进行触发，因此很难获取精准的状态电流值，此外，一旦读卡机或PC出现故障，整个测试就会中断，无法保证测试的独立性和可靠性。

为了解决上述问题，本申请实施例提供一种智能卡的功耗测试方法、装置及相关产品。该方法包括：接收目标智能卡对应的功耗测试需求，根据所述功耗测试需求确定与所述功耗测试需求对应的目标功耗测试模式，根据所述目标功耗测试模式确定与所述目标功耗测试模式对应的目标参数，根据所述目标参数通过FPGA对所述目标智能卡进行功耗测试。

如此，根据功耗测试需求可以选择不同的目标功耗测试模式，然后根据不同的目标功耗测试模式确定所需的目标参数，根据所述目标参数运行FPGA实现对目标智能卡的功耗测试，可实现对智能卡的功耗的有效测试，避免固定电压、频率值带来的测试结果的局限性，实现自动化测试流程，提高测试效率。

为了使本技术领域的人员更好地理解本申请方案，下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅是本申请一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本申请保护的范围。

需要说明的是，在下述格式示例中的智能卡(Smart Card)，又称集成电路卡，即IC卡(Integrated Circuit Card)。其中，IC卡是指将一个具有CPU、动态存储器、静态存储器、通讯I/O端口、加密算法等功能的专用集成电路芯片镶嵌于符合ISO7816标准的PVC或ABS等塑料基片中，通过终端设备对智能卡的相关指令操作，实现身份认证、权限识别、数据加解密等处理。其中，接触式智能卡特指设备与卡片的通讯控制，是通过设备的信号触点与卡片的信号触点采取物理接触的方式实现电气交互的智能卡。

需要说明的是，在下述各实施例中，主要是针对智能卡的芯片进行功耗测试，其功耗会根据具体的运算强度及外部工作条件而发生变化，可度量的评估指标分为静态功耗和动态功耗两种。

其中，静态功耗也称为待机功耗是指在芯片处于休眠、待机、空载或非开关状态的任何一段时间不完全工作的情况下的功率消耗。随着当前可穿戴设备和物联网设备的发展，如共享单车、智能门锁等的兴起，这种低功耗应用场景设备不仅电池的容量有限，而且使用过程当中无法对其充电，因此静态功耗的大小极大的制约着设备的待机时长。

其中，动态功耗包括开关功耗或称为反转功耗、短路功耗是指芯片在动态运行时产生的功率消耗，当芯片中的电路运行时，任何信号翻转，都会产生能量消耗。动态功耗不仅和芯片的功能相关，而且也和芯片的功能设计、制造工艺有关联，随着绿色环保理念的发展，对芯片应用的动态功耗也提出了新的要求。智能卡是软硬相结合工作的，软件高效、稳定的工作，需要在合适的工作参数支持，因此在芯片的评测阶段，对功耗的测试也尤为重要。

其中，需要说明的是，在本申请中，不仅根据所述目标参数通过FPGA对所述目标智能卡进行功耗测试，同时也可以根据所述目标参数通过FPGA及相关参数实现对目标智能卡进行测试，但在本申请中主要介绍通过FPGA进行功耗测试，对于相关电路的连接方式以及运行方式在此并不作具体说明，本领域技术人员可想到的针对目标智能卡进行功耗测试的电路连接方式和运行方式，均在本申请的保护范围之内。

参见图1，该图为本申请实施例提供的一种智能卡的功耗测试方法的流程图，结合图1所示，本申请实施例所提供的智能卡的功耗测试方法，可以包括：

S101：接收目标智能卡对应的功耗测试需求。

目标智能卡意指待进行功耗测试的智能卡。

功耗测试需求意指对目标智能卡的测试要求或项目，比如，需要测试目标智能卡休眠时的功耗或目标智能卡在预设时间内工作的功耗，在此并不做具体限定。

需要说明的是，在本实施例中，可以根据不同的功耗测试需求实现不同的功耗测试，增加功耗测试的通用性以及灵活性。同时也可以实现对电压和通讯频率进行拉偏测试,不仅能采集到典型特征电气特性，可以涵盖完整的工作环境，增加功耗测试的完整性。

S102：根据所述功耗测试需求确定与所述功耗测试需求对应的目标功耗测试模式。

其中，所述目标功耗测试模式可以包括静态功耗测试模式或静态功耗定值连续测试模式或动态功耗测试模式，包括但不限于所述三种测试模式。

需要说明的是，在一种可实现的实施方式中，可以通过自定义的方式针对功耗测试需求定义测试模式，不仅限于前述三种测试模式，具体并不做限定，本领域技术人员在本申请揭露的技术范围内，可轻易想到的变化或替换，都应涵盖在本申请的保护范围之内。

静态功耗测试模式意指将工作状态的智能卡芯片通过施加相应信号触发使其进入休眠或待机状态后单次采集量测其功耗，也即静态功耗测试模式可以理解为目标智能卡处于休眠或待机的状态。

静态功耗定值连续测试模式意指对休眠或待机状态下的智能卡进行固定间隔周期性的连续采集量测功耗，当功耗出现跳变时说明芯片状态发生改变，以此监测芯片的休眠稳定性。

动态功耗测试模式意指目标智能卡的芯片在执行某种具体运算或操作时，采集其产生的瞬态功耗消耗。

S103：根据所述目标功耗测试模式确定与所述目标功耗测试模式对应的目标参数。

目标参数意指不同的目标功耗模式下的参数条件。

需要说明的是，不同的目标功耗测试模式对应不同的参数条件，通过不同的参数条件，后续即可根据不同的参数条件实现对目标智能卡的功耗测试，简单且快捷。

S104：根据所述目标参数通过FPGA对所述目标智能卡进行功耗测试。

FPGA(Field Programmable Gate Array)是在PAL(可编程阵列逻辑)、GAL(通用阵列逻辑)等可编程器件的基础上进一步发展的电路，其可作为专用集成电路(ASIC)领域中的一种半定制电路。

通过设置好的目标参数，通过运行FPGA控制器调用参数，控制相关电路执行功耗的测试，在内置存储当中存储测试记录，即可实现对目标智能卡的功耗测试，实现自动化测试流程，且可自动记录测试结果，无需人工参与，提高功耗测试效率。

本申请实施例所提供的智能卡的功耗测试方法，通过接收目标智能卡对应的功耗测试需求，根据所述功耗测试需求确定与所述功耗测试需求对应的目标功耗测试模式，根据所述目标功耗测试模式确定与所述目标功耗测试模式对应的目标参数，根据所述目标参数通过FPGA对所述目标智能卡进行功耗测试。其中，根据功耗测试需求可以选择不同的目标功耗测试模式，然后根据不同的目标功耗测试模式确定所需的目标参数，根据所述目标参数运行FPGA实现对目标智能卡的功耗测试，可实现对智能卡的功耗的有效测试，可测试评估智能卡不同的工况条件，避免商用卡机局限的固定电压、频率值的测试，实现自动化测试流程，提高测试效率。

基于上述实施例提供的智能卡的功耗测试方法，为了进一步可以直观的展示智能卡的功耗变化，在步骤S104之后，所述方法还可以包括：

需要说明的是，不同于使用万用表需要将结果进行人工记录，本实施例中可实现自动测试并记录测试结果，在一种可实现的实施方式中，还可以实时对测试过程进行监测，生成功耗测试过程曲线，对于生成的测试结果也可以生成对应的图表，不仅限于功耗曲线。

需要说明的是，在本实施例中，所述功耗测试结果可以通过用于显示的屏幕进行显示，也可传输至终端进行显示，在此并不作具体限定。

基于上述实施例提供的智能卡的功耗测试方法，当所述目标功耗测试模式为静态功耗测试模式时，本申请实施例还提供一种步骤S103的实现流程，包括：

步骤11：根据所述静态功耗测试模式确定所述目标智能卡复位时的ATR返回值，作为第一复位参数。

需要说明的是，步骤11是设置目标智能卡的芯片复位时的预期ATR返回值。

步骤12：根据所述静态功耗测试模式确定所述目标智能卡工作时的电压范围和通讯时钟范围，作为第一工作参数。

需要说明的是，步骤12具体可以设置目标智能卡工作的电压范围与扫描步进、通讯时钟范围与扫描步进。

步骤13：根据所述静态功耗测试模式确定所述目标智能卡休眠时的数字逻辑参数，作为第一休眠参数。

需要说明的是，步骤13具体可以设置选择目标智能卡进入休眠下时钟停止在数字逻辑1还是数字逻辑0。

步骤14：将所述第一复位参数、第一工作参数和第一休眠参数作为目标参数。

需要说明的是，在获取步骤14中的目标参数之后，可以运行FPGA进行测试，由7816master按协议输出标准复位信号，采集ATR值返回并比较后，进一步按设定状态停止CLK(意指工作时的时钟)，并在一个测试周期内，采样智能卡VCC上流入的电流，获取最大、最小、平均值，显示在屏幕区域，并将测试条件和结果记录在内置存储当中，完成对智能卡在静态时的功耗测试。

其中，ATR意指Answer To Reset，即智能卡的复位应答；7816master意指一种可对智能卡的芯片进行指令控制的设备；扫描步进意指同一参数，两次参测量条件的差值。

其中，步骤11～14的序号仅用于对不同步骤的区分或区分不同步骤之间的时序关系，因此并未在附图中示出。

基于上述实施例提供的智能卡的功耗测试方法，当所述目标功耗测试模式为静态功耗定值连续测试模式时，本申请实施例还提供另一种步骤S103的实现流程，包括：

步骤21：根据所述静态功耗定值连续测试模式确定所述目标智能卡复位时的ATR返回值，作为第二复位参数。

需要说明的是，步骤21具体可以设置所述目标智能卡的芯片复位时的预期ATR返回值。

步骤22：根据所述静态功耗定值连续测试模式确定所述目标智能卡在连续测试时的电压值和通讯时钟条件，作为第二工作参数。

步骤23：根据所述静态功耗定值连续测试模式确定所述目标智能卡休眠时的时钟参数，作为第二休眠参数。

需要说明的是，步骤23具体可以设置选择智能卡进入休眠下时钟停止在1还是0。

步骤24：根据所述静态功耗定值连续测试模式确定连续测试的采样时间间隔周期，作为周期参数。

需要说明的是，步骤24具体设置的是两次持续检测的时间间隔周期，具体周期依据实际情况而确定，在此并不作具体限定。

步骤25：将所述第二复位参数、第二工作参数、第二休眠参数和周期参数作为目标参数。

需要说明的是，在获取到步骤25的目标参数之后，可运行FPGA进行测试，由7816master按协议输出标准复位信号，采集ATR返回并比较后，停止时钟，进行固定间隔的持续采样量测，记录电压、频率、电流值，实时显示结果，并记录在测试日志当中。

其中，步骤21～25的序号仅用于对不同步骤的区分或区分不同步骤之间的时序关系，因此并未在附图中示出。

基于上述实施例提供的智能卡的功耗测试方法，当所述目标功耗测试模式为动态功耗测试模式时，本申请实施例还提供又一种步骤S103的实现流程，包括：

步骤31：根据所述动态功耗测试模式确定所述目标智能卡复位时的ATR返回值，作为第三复位参数。

需要说明的是，步骤31具体可以设置所述目标智能卡的芯片复位时的预期ATR返回值。

步骤32：根据所述动态功耗测试模式确定所述目标智能卡工作时的电压范围和通讯时钟范围，作为第三工作参数。

需要说明的是，步骤32具体可以设置目标智能卡工作的电压范围与扫描步进、通讯时钟范围与扫描步进。

步骤33：根据所述动态功耗测试模式确定所述目标智能卡测试时的指令项，作为指令项参数。

具体举例来说，指令项可以包括对智能卡存储器的读、写、擦除、算法运算等操作。

步骤34：将所述第三复位参数、第三工作参数和指令项参数作为目标参数。

需要说明的是，在步骤34确定出目标参数之后，可以运行FPGA进行测试，由7816master按协议输出标准复位信号采集ATR返回并比较后，进一步执行具体的指令测试项，根据指令的发送状态，触发调用高精度电流测量单元获取VCC上流入的电流，获取最大、最小、平均值，并显示在屏幕区域，根据指令的执行结果返回判断指令的有效性，将测试条件和结果记录在内置存储当中。

其中，步骤31～34的序号仅用于对不同步骤的区分或区分不同步骤之间的时序关系，因此并未在附图中示出。

基于上述实施例提供的智能卡的功耗测试方法，本申请实施例还提供一种智能卡功耗测试仪，参见图2，该图为本申请实施例提供的一种智能卡功耗测试仪的示意图，结合图2所示，所述智能卡功耗测试仪可以包括：

FPGA控制器、高精度可调电压源、高精度电流采集电路、限流保护电路、高精度时钟控制电路、LED触摸屏、静态存储器、USB接口、RS-232接口、测试通道、7816master及模块化设计的功耗测试程序。

其中，所述智能卡功耗测试仪集成有7816master功能，可通过7816master接口对芯片发送指令、可采集芯片的返回值并和预期值进行比较，并可将操作动作或结果作为逻辑判断条件或功耗电流测量的触发条件，准确获得的各状态下的真实功耗。

其中，所述智能卡功耗测试仪可提供工作电压VCC＝1.0V～15V(最小步进10mV)，通讯时钟CLK＝100KHz～20MHz(最小步进500Hz)的测试条件。

其中，所述智能卡功耗测试仪还自带过流保护功能，当智能卡VCC端口消耗电流大于100mA时，设备自动下电，避免测试过程当中的极端异常造成智能卡的芯片烧毁。

其中，所述智能卡功耗测试仪具有自定义的逻辑判断，功能模块化的设计，可以实现多种模式的功耗测量，可实现自定义工作模式。

其中，所述智能卡测试仪和智能卡的芯片的连接采取分体设计，7816master不受卡片测试环境温度和湿度的影响，VCC端口有补偿反馈电路保证施加给智能卡电气特性的准确性，可满足智能卡在各种温湿度环境下的测试需求。

基于上述所提供的智能卡功耗测试仪，对应的，所述智能卡功耗测试仪的操作流程可以为：

步骤一：将待测IC治具通过屏蔽线连接至测试仪的测试通道，接通测试仪电源；

步骤二：测试仪开机，进入主界面根据功耗测试需求选择相应的功耗测试模块；

步骤三：设置该功耗测试模式下对应的参数条件；

步骤四：运行测试，FPGA控制器调用参数，控制相关电路执行功耗的测试，在内置存储当中存储测试记录，并将输出结果显示在屏幕窗口结果显示区域；

步骤五：测试完成后通过USB接口，获取存储器内记录的测试记录文件；

步骤六：处理测试记录文件，获取电压、频率、指令条件下的各功耗曲线。

需要说明的是，IC治具意指一个多接口的通用智能卡测试夹具，可满足多封装形式的智能卡与测试仪通道连接。

本实施例所提供的智能卡功耗测试仪，FPGA内置7816master功能，通过模块化设计的功耗测试模块，只需设定功耗测试的各参数，即可实现自动化的功耗测试与记录，实现自动化测试流程，降低测试成本，提高测试效率，而且增多了功耗测试的测试条件，提高了功耗测试的完整性。

基于上述实施例提供的智能卡的功耗测试方法，本申请实施例还提供一种智能卡的功耗测试装置，参见图3，该图为本申请实施例提供的一种智能卡的功耗测试装置的结构示意图，结合图3所示，所述装置300可以包括：

接收模块301，用于接收目标智能卡对应的功耗测试需求；

目标功耗测试模式确定模块302，用于根据所述功耗测试需求确定与所述功耗测试需求对应的目标功耗测试模式；

目标参数确定模块303，用于根据所述目标功耗测试模式确定与所述目标功耗测试模式对应的目标参数；

功耗测试模块304，用于根据所述目标参数通过FPGA对所述目标智能卡进行功耗测试。

作为一种示例，所述目标功耗测试模式包括静态功耗测试模式或静态功耗定值连续测试模式或动态功耗测试模式。

作为一种示例，当所述目标功耗测试模式为静态功耗测试模式时，所述目标参数确定模块303，包括：

第一复位参数确定单元，用于根据所述静态功耗测试模式确定所述目标智能卡复位时的ATR返回值，作为第一复位参数；

第一工作参数确定单元，用于根据所述静态功耗测试模式确定所述目标智能卡工作时的电压范围和通讯时钟范围，作为第一工作参数；

第一休眠参数确定单元，用于根据所述静态功耗测试模式确定所述目标智能卡休眠时的数字逻辑参数，作为第一休眠参数；

第一目标参数确定子模块，用于将所述第一复位参数、第一工作参数和第一休眠参数作为目标参数。

作为一种示例，当所述目标功耗测试模式为静态功耗定值连续测试模式时，所述目标参数确定模块303，包括：

第二复位参数确定单元，用于根据所述静态功耗定值连续测试模式确定所述目标智能卡复位时的ATR返回值，作为第二复位参数；

第二工作参数确定单元，用于根据所述静态功耗定值连续测试模式确定所述目标智能卡在连续测试时的电压值和通讯时钟条件，作为第二工作参数；

第二休眠参数确定单元，用于根据所述静态功耗定值连续测试模式确定所述目标智能卡休眠时的时钟参数，作为第二休眠参数；

周期参数确定单元，用于根据所述静态功耗定值连续测试模式确定连续测试的采样时间间隔周期，作为周期参数；

第二目标参数确定子模块，用于将所述第二复位参数、第二工作参数、第二休眠参数和周期参数作为目标参数。

作为一种示例，当所述目标功耗测试模式为动态功耗测试模式时，所述目标参数确定模块303，包括：

第三复位参数确定单元，用于根据所述动态功耗测试模式确定所述目标智能卡复位时的ATR返回值，作为第三复位参数；

第三工作参数确定单元，用于根据所述动态功耗测试模式确定所述目标智能卡工作时的电压范围和通讯时钟范围，作为第三工作参数；

指令项参数确定单元，用于根据所述动态功耗测试模式确定所述目标智能卡测试时的指令项，作为指令项参数；

第三目标参数确定子模块，用于将所述第三复位参数、第三工作参数和指令项参数作为目标参数。

作为一种示例，在功耗测试模块304之后，所述装置还包括：

本申请实施例提供的智能卡的功耗测试装置与上述实施例提供的智能卡的功耗测试方法具有相同的有益效果，因此不再赘述。

本申请实施例还提供了对应的设备以及计算机存储介质，用于实现本申请实施例提供的方案。

其中，所述设备包括存储器和处理器，所述存储器用于存储指令或代码，所述处理器用于执行所述指令或代码，以使所述设备执行本申请任一实施例所述的智能卡的功耗测试方法。

所述计算机存储介质中存储有代码，当所述代码被运行时，运行所述代码的设备实现本申请任一实施例所述的智能卡的功耗测试方法。

需要说明的是，本说明书中的各个实施例均采用递进的方式描述，各个实施例之间相同相似的部分互相参见即可，每个实施例重点说明的都是与其他实施例的不同之处。尤其，对于装置及设备实施例而言，由于其基本相似于方法实施例，所以描述得比较简单，相关之处参见方法实施例的部分说明即可。以上所描述的装置及设备实施例仅仅是示意性的，其中作为分离部件说明的单元可以是或者也可以不是物理上分开的，作为单元提示的部件可以是或者也可以不是物理单元，即可以位于一个地方，或者也可以分布到多个网络单元上。可以根据实际的需要选择其中的部分或者全部模块来实现本实施例方案的目的。本领域普通技术人员在不付出创造性劳动的情况下，即可以理解并实施。

本申请实施例所提到的“第一”、“第二”(若存在)等名称中的“第一”、“第二”只是用来做名字标识，并不代表顺序上的第一、第二。

通过以上的实施方式的描述可知，本领域的技术人员可以清楚地了解到上述实施例方法中的全部或部分步骤可借助软件加通用硬件平台的方式来实现。基于这样的理解，本申请的技术方案可以以软件产品的形式体现出来，该计算机软件产品可以存储在存储介质中，如只读存储器(英文：read-only memory，ROM)/RAM、磁碟、光盘等，包括若干指令用以使得一台计算机设备(可以是个人计算机，服务器，或者诸如路由器等网络通信设备)执行本申请各个实施例或者实施例的某些部分所述的方法。

以上所述，仅为本申请的一种具体实施方式，但本申请的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本申请揭露的技术范围内，可轻易想到的变化或替换，都应涵盖在本申请的保护范围之内。因此，本申请的保护范围应该以权利要求的保护范围为准。

Claims

1.一种智能卡的功耗测试方法，其特征在于，所述方法包括：

接收目标智能卡对应的功耗测试需求；

根据所述目标参数通过FPGA对所述目标智能卡进行功耗测试。

2.根据权利要求1所述的智能卡的功耗测试方法，其特征在于，所述目标功耗测试模式包括静态功耗测试模式或静态功耗定值连续测试模式或动态功耗测试模式。

3.根据权利要求2所述的智能卡的功耗测试方法，其特征在于，当所述目标功耗测试模式为静态功耗测试模式时，所述根据所述目标功耗测试模式确定与所述目标功耗测试模式对应的目标参数，包括：

4.根据权利要求2所述的智能卡的功耗测试方法，其特征在于，当所述目标功耗测试模式为静态功耗定值连续测试模式时，所述根据所述目标功耗测试模式确定与所述目标功耗测试模式对应的目标参数，包括：

根据所述静态功耗定值连续测试模式确定连续测试采样的时间间隔周期，作为周期参数；

5.根据权利要求2所述的智能卡的功耗测试方法，其特征在于，当所述目标功耗测试模式为动态功耗测试模式时，所述根据所述目标功耗测试模式确定与所述目标功耗测试模式对应的目标参数，包括：

6.根据权利要求1所述的智能卡的功耗测试方法，其特征在于，在根据所述目标参数通过FPGA对所述目标智能卡进行功耗测试之后，所述方法还包括：

7.一种智能卡的功耗测试装置，其特征在于，所述装置包括：

接收模块，用于接收目标智能卡对应的功耗测试需求；

8.一种智能卡功耗测试仪，其特征在于，所述智能卡功耗测试仪执行智能卡的功耗测试时，实现如权利要求1-6任意一项所述的智能卡的功耗测试方法。

9.一种计算机设备，其特征在于，包括：存储器，处理器，及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时，实现如权利要求1-6任一项所述的智能卡的功耗测试方法。

10.一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述计算机可读存储介质中存储有指令，当所述指令在终端设备上运行时，使得所述终端设备执行如权利要求1-6任一项所述的智能卡的功耗测试方法。