CN115902379A - 电压检测方法、装置、终端设备以及计算机可读存储介质 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种电压检测方法、装置、终端设备以及计算机可读存储介质，在所述电池模块向所述MCU控制器供电时，基于所述MCU控制器的推挽输出端获取电压检测信号；通过所述MCU控制器基于所述电压检测信号向所述基准模块供电，并通过所述MCU控制器的第一数模转换通道获取所述基准模块的输入基准值；根据所述输入基准值和所述第一数模转换通道的寄存器值确定所述电池模块提供的电池电压的电压数值；根据所述电压数值检测所述MCU控制器中的第二数模转换通道对应的管脚电压值。本发明的MCU控制器中的推挽输出端集成有推挽输出单元，避免了漏电流现象的出现，同时也降低通过MCU控制器进行电压检测的成本和功耗。

Description

电压检测方法、装置、终端设备以及计算机可读存储介质

技术领域

本发明涉及集成电路技术领域，尤其涉及一种电压检测方法、装置、终端设备以及计算机可读存储介质。

背景技术

随着集成电路技术的不断发展，人们对电压检测的功耗要求越来越高，换句话说，低功耗的电压检测已成为当前IC(Integrated Circuit Chip，微型电子器件)芯片的研究热点。

目前，常规的电压检测方案需要一片升压IC，以及其外围电路的电感电阻电容等器件，在设备处于待机模式时，需要让升压IC一直工作，来维持MCU的唤醒功能，其电路通常用在无线鼠标等设备上，所以为了延长电池寿命，其产品上通常会设计一个拨动开关来关机，这样升压IC给出的稳定3.3V电源即可给MCU的VREF+提供基准源(一些MCU的VREF+直接内部连接到了VSS)，然后电池电压可以直接输入ADC通道来检测电压。但是，这种常规的电压检测方案存在着极大的缺陷，一方面，需要额外增加升压IC和周边器件，从而导致休眠消耗电流较大，也占用了一部分体积；另一方面，ADC通道直连电池，即ADC通道没有开关控制和电池的通断，在不需要检测ADC通道电量的时候无法断开，在ADC管脚上产生了一定的漏电流。

综上，常规的电压检测方案存在着成本高和功耗高的技术问题。

发明内容

本发明的主要目的在于提供一种电压检测方法、装置、设备及计算机可读存储介质，旨在降低电压检测的成本和功耗。

为实现上述目的，本发明提供一种电压检测方法，所述电压检测方法应用于电压检测电路，所述电压检测电路包括：电池模块、控制模块、基准模块，所述控制模块包括MCU控制器，所述电池模块与所述MCU控制器的工作电压端连接，所述MCU控制器的推挽输出端与所述基准模块连接；

所述电压检测方法包括：

在所述电池模块向所述MCU控制器供电时，基于所述MCU控制器的推挽输出端获取电压检测信号；

通过所述MCU控制器基于所述电压检测信号向所述基准模块供电，并通过所述MCU控制器的第一数模转换通道获取所述基准模块的输入基准值；

根据所述输入基准值和所述第一数模转换通道的寄存器值确定所述电池模块提供的电池电压的电压数值；

根据所述电压数值检测所述MCU控制器中的第二数模转换通道对应的管脚电压值。

可选地，所述推挽输出端封装有推挽输出单元，所述推挽输出单元包括：第一效应管和第二效应管；

所述第一效应管置于所述第二效应管上，所述第一效应管的第二端与所述第二效应管的第一端连接在所述推挽输出端；

所述第一效应管的第一端与所述工作电压端连接，所述第二效应管的第二端与所述MCU控制器的接地端连接；

所述第一效应管的第三端和所述第二效应管的第三端分别与所述MCU控制器内部的输出控制单元连接。

可选地，所述第一效应管和所述第二效应管均为MOSFET管。

可选地，所述基于所述MCU控制器的推挽输出端获取电压检测信号的步骤，包括：

基于所述MCU控制器根据所述输出控制单元的高电平信号确定所述第一效应管的导通信息和所述第二效应管的截止信息，以将所述导通信息和所述截止信息作为电压检测信号。

可选地，所述根据所述输入基准值和所述第一数模转换通道的寄存器值确定所述电池模块提供的电池电压的电压数值的步骤，包括：

确定所述第一数模转换通道对应的第一ADC位数；

将所述第一数模转换通道的寄存器值的倒数和所述第一ADC位数之间的乘积，与所述输入基准值相乘以得到所述电池电压的电压数值，其中，所述电压数值大于所述输入基准值。

可选地，所述根据所述电压数值检测所述MCU控制器中的第二数模转换通道对应的管脚电压值的步骤，包括：

读取所述MCU控制器中的第二数模转换通道的管脚寄存器值，并确定所述第二数模转换通道对应的第二ADC位数；

将所述第二ADC位数的倒数和所述管脚寄存器值的乘积，与所述电压数值相乘以得到所述第二数模转换通道对应的管脚电压值。

可选地，所述电压检测电路还包括：一个或者多个外接设备；

一个或者多个所述外接设备与所述电池模块连接，一个或者多个所述外接设备与所述MCU控制器建立有通信连接。

此外，为实现上述目的，本发明还提供一种电压检测装置，本发明电压检测装置包括：

获取模块，用于在所述电池模块向所述MCU控制器供电时，基于所述MCU控制器的推挽输出端获取电压检测信号；

供电模块，用于通过所述MCU控制器基于所述电压检测信号向所述基准模块供电，并通过所述MCU控制器的第一数模转换通道获取所述基准模块的输入基准值；

电压确定模块，用于根据所述输入基准值和所述第一数模转换通道的寄存器值确定所述电池模块提供的电池电压的电压数值；

检测模块，用于根据所述电压数值检测所述MCU控制器中的第二数模转换通道对应的管脚电压值。

本发明电压检测装置的各个功能模块在运行时实现如上所述的本发明电压检测方法的步骤。

此外，为实现上述目的，本发明还提供一种终端设备，所述终端设备包括存储器、处理器及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的电压检测程序，所述电压检测程序被所述处理器执行时实现上述电压检测方法的步骤。

此外，为实现上述目的，本发明还提供一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质上存储有电压检测程序，所述电压检测程序被处理器执行时实现上述的电压检测方法的步骤。

在本发明中，本申请的电压检测电路包括：电池模块、控制模块、基准模块，其中，控制模块包括MCU控制器，电池模块与MCU控制器的工作电压端连接，MCU控制器的推挽输出端与基准模块连接。另外，需要说明的是，在电池模块向MCU控制器供电时，基于MCU控制器的推挽输出端获取电压检测信号；由于基准模块消耗电流很小，推挽输出端的结构也不会造成压降影响，所以可以通过MCU控制器根据电压检测信号向基准模块供电，并通过MCU控制器的第一数模转换通道获取基准模块的输入基准值；根据输入基准值和第一数模转换通道的寄存器值确定电池模块提供的电池电压值；并根据电池电压值检测MCU控制器中的第二数模转换通道对应的管脚电压值。

区别于传统的常规电压检测方案，本申请通过MCU控制器的推挽输出端来控制MCU控制器与基准源之间连接的通断，换句话说，在通过MCU控制器的推挽输出端获取到电压检测信号后，通过MCU控制器基于该电压检测信号将电池模块对应的电池电压提供给基准模块，进而可以通过MCU控制器的第一数模转换通道获取由基准模块提供的输入基准值，从而不需要额外地增加升压IC及其外围电路，还有效地避免了ADC通道直连电池会产生漏电流的现象，从而大大地降低了电压检测的成本，并且还降低了电压检测的功耗。

附图说明

图1是本发明电压检测方法第一实施例的流程示意图；

图2为本发明电压检测方法一实施例涉及的结构框图；

图3为本发明电压检测方法一实施例涉及的推挽输出结构框图；

图4为本发明电压检测装置模块的示意图；

图5为本发明实施例方案涉及的终端设备的结构示意图；

图6为本发明实施例方案涉及的计算机可读存储介质的结构示意图。

本发明目的的实现、功能特点及优点将结合实施例，参照附图做进一步说明。

具体实施方式

本发明实施例提供了一种电压检测方法，参照图1所示，图1是本发明电压检测方法第一实施例的流程示意图。

这里将详细地对示例性实施例进行说明，其示例表示在附图中。下面的描述涉及附图时，除非另有表示，不同附图中的相同数字表示相同或相似的要素。以下示例性实施例中所描述的实施方式并不代表与本申请相一致的所有实施方式。

本实施例中，本发明电压检测方法应用于针对MCU控制器中各数模转换通道进行电压检测的终端设备，并具体由终端设备的MCU控制器来执行。另外，需要说明的是，本发明的电压检测方法应用于电压检测电路，电压检测电路包括：电池模块、控制模块、基准模块，控制模块包括MCU控制器，电池模块与MCU控制器的工作电压端连接，MCU控制器的推挽输出端与基准模块连接；

在本实施例中，电池模块为干电池，常见的干电池有普通锌锰干电池、碱性锌锰干电池、镁锰干电池、锌空气电池、锌氧化汞电池、锌氧化银电池、锂锰电池等。

控制模块包括MCU(Microcontroller Unit，微控制单元)控制器，又称单片微型计算机或者单片机。

基准模块为基准源，可以理解为一个高精度、高稳定性的独立电压源。

在本实施例中，本申请的电压检测电路不需要额外增加专用升压IC和周边器件，从而有效地降低了整个系统的成本和功耗。

本发明的电压检测方法包括：

步骤S10：在所述电池模块向所述MCU控制器供电时，基于所述MCU控制器的推挽输出端获取电压检测信号；

在本实施例中，根据电池模块与MCU控制器的工作电压端之间的连接，通过MCU控制器的工作电压端将电池模块的电池电压提供给MCU控制器供电，换句话说，电池模块用于MCU控制器提供一个供电电源。在确定到电池模块向MCU控制器供电后，基于MCU控制器的推挽输出端获取电压检测信号。

需要说明的是，参照图2，图2为本发明电压检测方法一实施例涉及的结构框图。MCU控制器的工作电压端可以用VDD表示；MCU控制器的推挽输出端又称为MCU控制器的IO端口。

另外，需要说明的是，参照图3，图3为本发明电压检测方法一实施例涉及的推挽输出结构框图，IO端口封装有推挽输出单元，其中，推挽输出单元包括：第一效应管和第二效应管，第一效应管置于第二效应管上，第一效应管的第二端与第二效应管的第一端连接在MCU控制器的推挽输出端；第一效应管的第一端与MCU控制器的工作电压端连接，第二效应管的第二端与MCU控制器的接地端连接；第一效应管的第三端和第二效应管的第三端分别与MCU控制器内部的输出控制单元连接。

MCU控制器内部的输出控制单元可以理解为一个信号输出端，即，MCU控制器输出电平信号高低的一个端口。

进一步地，在又一实施例中，当MCU控制器检测到外部有一个脉冲信号接收时，会将这个脉冲信号反馈给输出控制单元，使得输出控制单元输出高电平信号，此时，MCU控制器将获取第一效应管的导通信息，和第二效应管的截止信息，然后再将第一效应管的导通信息和第二效应管的截止信息作为电压检测信号，换句话说，当MCU控制器内部的输出控制单元输出高电平信号的时候，第一效应管导通，且第二效应管截止，进而可以将IO端口上拉到MCU控制器的工作电压端，即通过MCU控制器的IO端口将电池模块的电池电压提供给基准模块。

进一步地，在另一实施例中，本申请输出控制单元还可以包括定时器，当通过定时器判断MCU控制器的当前时刻是否处于电压检测时刻，若MCU控制器的当前时刻处于电压检测时刻，则通过输出控制单元输出高电平信号，此时，MCU控制器将获取第一效应管的导通信息，和第二效应管的截止信息，然后再将第一效应管的导通信息和第二效应管的截止信息作为电压检测信号。

进一步地，在又一实施例中，当不需要进行电压检测时，输出控制单元将输出低电平信号，即第一效应管截止，且第二效应管导通，进而可以确定IO端口被下拉至MCU控制器的接地端(即，VSS端)，即IO端口不能为基准模块供电，此时，便不会产生漏电流，进而有效地降低了电压检测的功耗。

步骤S20：通过所述MCU控制器基于所述电压检测信号向所述基准模块供电，并通过所述MCU控制器的第一数模转换通道获取所述基准模块的输入基准值；

在本实施例中，在基于MCU控制器的推挽输出端获取到电压检测信号后，根据MCU控制器的推挽输出端与基准模块之间的连接，通过MCU控制器的推挽输出端将电池模块的电池电压提供给基准模块，进而可以确定到供电后的基准模块处于工作模式。换句话说，通过MCU控制器的推挽输出端将电池电压提供给基准模块，以供基准模块开始工作(即，基准模块处于工作模式)，并根据基准模块与MCU控制器的数模转换通道之间的连接，通过MCU控制器的第一数模转换通道获取由基准模块提供的输入基准值。

需要说明的是，参照图2，MCU控制器的第一数模转换通道可以用ADC0表示。

步骤S30：根据所述输入基准值和所述第一数模转换通道的寄存器值确定所述电池模块提供的电池电压的电压数值；

在本实施例中，MCU控制器先读取第一数模转换通道的寄存器值，然后根据输入基准值和寄存器值确定电池模块提供的电池电压的电压数值，换句话说，可以通过下述公式(1)计算得到电池电压的电压数值。

其中，VBAT表示电池电压的电压数值，VAL表示数模转换通道的寄存器值，REF表示输入基准值，ADC_RES表示第一ADC位数，第一ADC位数可以理解为数模转换通道对应的ADC位数，例如，ADC0对应的ADC位数。

在本实施例中，如公式(1)所示，如果ADC通道的输入基准值恒定且低于VREF+的电压值，ADC通道的寄存器值VAL就会随着VREF+的降低而增加，其中，VREF+可以等效于电池电压。

步骤S40：根据所述电压数值检测所述MCU控制器中的第二数模转换通道对应的管脚电压值。

在本实施例中，MCU控制器先读取MCU控制器中第二数模转换通道的管脚寄存器值，并确定第二数模转换通道对应的第二ADC位数，然后根据管脚寄存器值、电池电压的电压数值和第二ADC位数确定MCU控制器中的第二数模转换通道对应的管脚电压值。

需要说明的是，第二数模转换通道的数量有多个，例如，第二数模转换通道包括但不限于图2中的ADC1和ADC2。

另外，需要说明的是，可以通过下述公式(2)计算得到各第二数模转换通道各自对应的管脚电压值。

其中，ADC_IN表示各数模转换通道各自对应的ADC管脚电压值，VBAT表示电池电压的电压数值，VAL_ADC_IN表示各ADC管脚各自对应的ADC通道的寄存器值，ADC_RES’表示第二ADC位数，第二ADC位数可以理解为各第二数模转换通道各自对应的ADC位数，例如，ADC1对应的ADC1位数，ADC2对应的ADC2位数。

在本实施例中，根据电池电压的电压数值检测MCU控制器中的第二数模转换通道对应的管脚电压值，换句话说，通过公式(2)的转换可以测得各第二数模转换通道各自对应的ADC管脚电压，从而实现了低成本下最大的片上资源利用。

综上，在本发明中，本申请的电压检测电路包括：电池模块、控制模块、基准模块，其中，控制模块包括MCU控制器，电池模块与MCU控制器的工作电压端连接，MCU控制器的推挽输出端与基准模块连接。另外，需要说明的是，在电池模块向MCU控制器供电时，基于MCU控制器的推挽输出端获取电压检测信号；由于基准模块消耗电流很小，推挽输出端的结构也不会造成压降影响，所以可以通过MCU控制器根据电压检测信号向基准模块供电，并通过MCU控制器的第一数模转换通道获取基准模块的输入基准值；根据输入基准值和第一数模转换通道的寄存器值确定电池模块提供的电池电压值；并根据电池电压值检测MCU控制器中的第二数模转换通道对应的管脚电压值。

区别于传统的常规电压检测方案，本申请通过MCU控制器的推挽输出端来控制MCU控制器与基准源之间连接的通断，换句话说，在通过MCU控制器的推挽输出端获取到电压检测信号后，通过MCU控制器基于该电压检测信号将电池模块对应的电池电压提供给基准模块，进而可以通过MCU控制器的第一数模转换通道获取由基准模块提供的输入基准值，从而不需要额外地增加升压IC及其外围电路，还有效地避免了ADC通道直连电池会产生漏电流的现象，从而大大地降低了电压检测的成本，并且还降低了电压检测的功耗。

进一步地，基于本发明电压检测方法的第一实施例，提出本发明电压检测方法的第二实施例。

所述电压检测方法应用于电压检测电路，所述推挽输出端封装有推挽输出单元，所述推挽输出单元包括：第一效应管和第二效应管；

在本实施例中，MCU控制器的推挽输出端封装有推挽输出单元，推挽输出单元包括：第一效应管和第二效应管。

所述第一效应管置于所述第二效应管上，所述第一效应管的第二端与所述第二效应管的第一端连接在所述推挽输出端；

所述第一效应管的第一端与所述工作电压端连接，所述第二效应管的第二端与所述MCU控制器的接地端连接；

所述第一效应管的第三端和所述第二效应管的第三端分别与所述MCU控制器内部的输出控制单元连接。

在本实施例中，第一效应管置于第二效应管上，第一效应管的第二端与第二效应管的第一端连接在推挽输出端(即，IO端)；第一效应管的第一端与MCU控制器的工作电压端连接，第二效应管的第二端与MCU控制器的接地端连接；第一效应管的第三端和第二效应管的第三端分别与MCU控制器内部的输出控制单元连接。

例如，当输出控制单元输出高电平时，推挽输出单元中第一效应管导通，第二效应管截止，即可以通过推挽输出端给基准模块供电；当输出控制单元输出低电平时，推挽输出单元中第一效应管截止，第二效应管导通，即推挽输出端被下拉至接地端，防止出现基准源(即，基准模块)一直与电源连接的情况，有效地避免了漏电流现象的发生。

进一步地，在另一些可行的实施例中，所述电压检测方法应用于电压检测电路，所述第一效应管和所述第二效应管均为MOSFET管。

在本实施例中，第一效应管和第二效应管均为MOSFET管(Metal-Oxide-Semiconductor Field-Effect Transistor，金氧半场效晶体管)，本申请不对第一效应管和第二效应管的类型和型号做限制。

进一步地，在一些可行的实施例中，上述步骤S10：基于所述MCU控制器的推挽输出端获取电压检测信号，还可以包括以下实施步骤。

步骤S101：基于所述MCU控制器根据所述输出控制单元的高电平信号确定所述第一效应管的导通信息和所述第二效应管的截止信息，以将所述导通信息和所述截止信息作为电压检测信号。

在本实施例中，当MCU控制器检测到外部有一个脉冲信号接收时，会将这个脉冲信号反馈给输出控制单元，使得输出控制单元输出高电平信号，此时，将MCU控制器获取第一效应管的导通信息，和第二效应管的截止信息，然后MCU控制器将第一效应管的导通信息和第二效应管的截止信息作为电压检测信号，换句话说，参照图3，当输出控制单元输出高电平的时候，第一效应管导通，且第二效应管截止，进而可以将IO端口上拉到MCU控制器的工作电压端，即可以MCU控制器根据电压检测信号通过MCU控制器的IO端口将电池模块的电池电压提供给基准源。

进一步地，在另一些可行的实施例中，上述步骤S30：根据所述输入基准值和所述第一数模转换通道的寄存器值确定所述电池模块提供的电池电压的电压数值，还可以包括以下实施步骤。

步骤S301：确定所述第一数模转换通道对应的第一ADC位数；

在本实施例中，MCU控制器先确定第一数模转换通道对应的第一ADC位数，例如，MCU控制器先确定ADC0对应的ADC0位数。

步骤S302：将所述第一数模转换通道的寄存器值的倒数和所述第一ADC位数之间的乘积，与所述输入基准值相乘以得到所述电池电压的电压数值，其中，所述电压数值大于所述输入基准值。

在本实施例中，参照上述公式(1)，将第一数模转换通道的寄存器值的倒数和第一ADC位数的乘积，与输入基准值相乘以得到电池电压的电压数值，其中，电压数值大于输入基准值。

进一步地，在一些可行的实施例中，上述步骤S40：根据所述电压数值检测所述MCU控制器中的第二数模转换通道对应的管脚电压值，还可以包括以下实施步骤。

步骤S401：读取所述MCU控制器中的第二数模转换通道的管脚寄存器值，并确定所述第二数模转换通道对应的第二ADC位数；

在本实施例中，读取MCU控制器中的第二数模转换通道的管脚寄存器值，并确定第二数模转换通道对应的第二ADC位数。

需要说明的是，第二数模转换通道的数量有多个，例如，第二数模转换通道包括但不限于图2中的ADC1和ADC2；第二ADC位数可以理解为各ADC通道各自对应的ADC位数，例如，ADC1对应的ADC1位数，ADC2对应的ADC2位数。

步骤S402：将所述第二ADC位数的倒数和所述管脚寄存器值的乘积，与所述电压数值相乘以得到所述第二数模转换通道对应的管脚电压值。

在本实施例中，参照上述公式(2)，将第二ADC位数的倒数和管脚寄存器值的乘积，与电池电压的电压数值相乘以得到其它数模转换通道对应的管脚电压值。

在本实施例中，本申请充分利用除第一数模转换通道之外的各ADC通道(即，第二数模转换通道)测量各ADC通道各自对应的管脚电压值，进而可以最大限度地利用片上资源。

进一步地，在另一些可行的实施例中，所述电压检测电路还包括：一个或者多个外接设备；

在本实施例中，一个或者多个外接设备可以理解为与MCU控制器进行数据交互的电子产品，其中，该电子产品包括但不限于鼠标、键盘等。

一个或者多个所述外接设备与所述电池模块连接，一个或者多个所述外接设备与所述MCU控制器建立有通信连接。

在本实施例中，一个或者多个外接设备与电池模块连接，用于给一个或者多个外接设备提供工作电源；一个或者多个外接设备与MCU控制器建立有通信连接，用于根据MCU控制器发出的指令控制一个或者多个外接设备的运行。例如，在MCU控制器发出的低功耗运行指令被鼠标或者键盘接收到后，此时，MCU控制器将可以确定鼠标或者键盘对该低功耗运行指令做出响应，即，此时，鼠标或者键盘处于低功耗运行模式。

综上，本申请MCU控制器直接与电池模块(即，干电池)连接，其中MCU控制器的推挽输出端配置为推挽输出，并且，MCU控制器的推挽输出端(即，IO端)与基准模块(即，基准源)建立连接。当需要检测MCU控制器中各数模转换通道的管脚电压时，将IO端的管脚置高，并通过IO端提供的电压使基准源正常工作，在通过MCU控制器的第一数模转换通道获取到基准源输出恒定基准电压后，再读取ADC通道的寄存器值，换句话说，本申请MCU控制器的IO端集成有推挽输出单元，即IO端可以配置为推挽输出模式，通过置高管脚给基准源供电使其工作，为系统提供基准源，不使用检测功能时置底IO管脚，有效地避免了漏电流现象的出现，这样的供电方式使得基准源的供电电压几乎等于电池电压，然后根据公式(1)转换得到电池电压的电压数值，并根据电池电压的电压数值和公式(2)检测MCU控制器中其它数模转换通道对应的管脚电压值，进而大大地降低了电压检测的成本，并且还节约了电压检测的功耗。

进一步地，本发明还提供一种电压检测装置。参照图4，图4为本发明电压检测装置模块的示意图。

本发明电压检测装置包括：

获取模块H01，用于在所述电池模块向所述MCU控制器供电时，基于所述MCU控制器的推挽输出端获取电压检测信号；

供电模块H02，用于通过所述MCU控制器基于所述电压检测信号向所述基准模块供电，并通过所述MCU控制器的第一数模转换通道获取所述基准模块的输入基准值；

电压确定模块H03，用于根据所述输入基准值和所述第一数模转换通道的寄存器值确定所述电池模块提供的电池电压的电压数值；

检测模块H04，用于根据所述电压数值检测所述MCU控制器中的第二数模转换通道对应的管脚电压值。

可选地，所述获取模块H01，还可以包括：

电压检测单元，用于基于所述MCU控制器根据所述输出控制单元的高电平信号确定所述第一效应管的导通信息和所述第二效应管的截止信息，以将所述导通信息和所述截止信息作为电压检测信号。

可选地，所述读取模块H03，还可以包括：

第一位数确定单元，用于确定所述第一数模转换通道对应的第一ADC位数；

电压数值计算单元，用于将所述第一数模转换通道的寄存器值的倒数和所述第一ADC位数之间的乘积，与所述输入基准值相乘以得到所述电池电压的电压数值，其中，所述电压数值大于所述输入基准值。

可选地，所述检测模块H04，还可以包括：

第二位数确定单元，用于读取所述MCU控制器中的第二数模转换通道的管脚寄存器值，并确定所述第二数模转换通道对应的第二ADC位数；

管脚电压计算单元，用于将所述第二ADC位数的倒数和所述管脚寄存器值的乘积，与所述电压数值相乘以得到所述第二数模转换通道对应的管脚电压值。

本发明电压检测装置的各个功能模块在运行时实现如上所述的本发明电压检测方法的步骤。

此外，本发明还提供一种终端设备。请参照图5，图5为本发明实施例方案涉及的终端设备的结构示意图。本发明实施例终端设备具体可以是为本地进行电压检测的设备。

如图5所示，本发明实施例终端设备可以包括：处理器1001，例如CPU，通信总线1002，用户接口1003，网络接口1004，存储器1005和感知单元1006。其中，通信总线1002用于实现这些组件之间的连接通信。用户接口1003可以包括显示屏(Display)、输入单元比如键盘(Keyboard)，可选用户接口1003还可以包括标准的有线接口、无线接口。网络接口1004可选的可以包括标准的有线接口、无线接口(如Wi-Fi接口)。

存储器1005设置在终端设备主体上，存储器1005上存储有程序，该程序被处理器1001执行时实现相应的操作。存储器1005还用于存储供终端设备使用的参数。存储器1005可以是高速RAM存储器，也可以是稳定的存储器(non-volatile memory)，例如磁盘存储器。存储器1005可选的还可以是独立于前述处理器1001的存储装置。

本领域技术人员可以理解，图5中示出的终端设备结构并不构成对终端设备的限定，可以包括比图示更多或更少的部件，或者组合某些部件，或者不同的部件布置。

如图5所示，作为一种存储介质的存储器1005中可以包括操作系统、网络通信模块、用户接口模块以及终端设备的电压检测程序。

在图5所示的终端设备中，处理器1001可以用于调用存储器1005中存储的终端设备的电压检测程序，并执行上述本发明电压检测方法的各个实施例的步骤。

此外，本发明还提供一种计算机可读存储介质。请参照图6，图6为本发明实施例方案涉及的计算机可读存储介质的结构示意图。

本发明还提供一种计算机可读存储介质，计算机可读存储介质上存储有电压检测程序，电压检测程序被处理器执行时实现如上述的电压检测方法的步骤。

需要说明的是，在本文中，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者系统不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者系统所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括一个……”限定的要素，并不排除在包括该要素的过程、方法、物品或者系统中还存在另外的相同要素。

上述本发明实施例序号仅仅为了描述，不代表实施例的优劣。

通过以上的实施方式的描述，本领域的技术人员可以清楚地了解到上述实施例方法可借助软件加必需的通用硬件平台的方式来实现，当然也可以通过硬件，但很多情况下前者是更佳的实施方式。基于这样的理解，本发明的技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分可以以软件产品的形式体现出来，该计算机软件产品存储在如上述的一个计算机可读存储介质(如ROM/RAM、磁碟、光盘)中，包括若干指令用以使得一台终端设备(可以是手机，计算机，服务器，或者网络设备等)执行本发明各个实施例所述的方法。

以上仅为本发明的优选实施例，并非因此限制本发明的专利范围，凡是利用本发明说明书及附图内容所作的等效结构或等效流程变换，或直接或间接运用在其他相关的技术领域，均同理包括在本发明的专利保护范围内。

Claims (10)

1.一种电压检测方法，其特征在于，所述电压检测方法应用于电压检测电路，所述电压检测电路包括：电池模块、控制模块、基准模块，所述控制模块包括MCU控制器，所述电池模块与所述MCU控制器的工作电压端连接，所述MCU控制器的推挽输出端与所述基准模块连接；

所述电压检测方法包括：

在所述电池模块向所述MCU控制器供电时，基于所述MCU控制器的推挽输出端获取电压检测信号；

通过所述MCU控制器基于所述电压检测信号向所述基准模块供电，并通过所述MCU控制器的第一数模转换通道获取所述基准模块的输入基准值；

根据所述输入基准值和所述第一数模转换通道的寄存器值确定所述电池模块提供的电池电压的电压数值；

根据所述电压数值检测所述MCU控制器中的第二数模转换通道对应的管脚电压值。

2.如权利要求1所述电压检测方法，其特征在于，所述推挽输出端封装有推挽输出单元，所述推挽输出单元包括：第一效应管和第二效应管；

所述第一效应管置于所述第二效应管上，所述第一效应管的第二端与所述第二效应管的第一端连接在所述推挽输出端；

所述第一效应管的第一端与所述工作电压端连接，所述第二效应管的第二端与所述MCU控制器的接地端连接；

所述第一效应管的第三端和所述第二效应管的第三端分别与所述MCU控制器内部的输出控制单元连接。

3.如权利要求2所述电压检测方法，其特征在于，所述第一效应管和所述第二效应管均为MOSFET管。

4.如权利要求2所述电压检测方法，其特征在于，所述基于所述MCU控制器的推挽输出端获取电压检测信号的步骤，包括：

基于所述MCU控制器根据所述输出控制单元的高电平信号确定所述第一效应管的导通信息和所述第二效应管的截止信息，以将所述导通信息和所述截止信息作为电压检测信号。

5.如权利要求1所述电压检测方法，其特征在于，所述根据所述输入基准值和所述第一数模转换通道的寄存器值确定所述电池模块提供的电池电压的电压数值的步骤，包括：

确定所述第一数模转换通道对应的第一ADC位数；

将所述第一数模转换通道的寄存器值的倒数和所述第一ADC位数之间的乘积，与所述输入基准值相乘以得到所述电池电压的电压数值，其中，所述电压数值大于所述输入基准值。

6.如权利要求1所述电压检测方法，其特征在于，所述根据所述电压数值检测所述MCU控制器中的第二数模转换通道对应的管脚电压值的步骤，包括：

读取所述MCU控制器中的第二数模转换通道的管脚寄存器值，并确定所述第二数模转换通道对应的第二ADC位数；

将所述第二ADC位数的倒数和所述管脚寄存器值的乘积，与所述电压数值相乘以得到所述第二数模转换通道对应的管脚电压值。

7.如权利要求1所述电压检测方法，其特征在于，所述电压检测电路还包括：一个或者多个外接设备；

一个或者多个所述外接设备与所述电池模块连接，一个或者多个所述外接设备与所述MCU控制器建立有通信连接。

8.一种电压检测装置，其特征在于，所述电压检测装置，包括：

获取模块，用于在所述电池模块向所述MCU控制器供电时，基于所述MCU控制器的推挽输出端获取电压检测信号；

供电模块，用于通过所述MCU控制器基于所述电压检测信号向所述基准模块供电，并通过所述MCU控制器的第一数模转换通道获取所述基准模块的输入基准值；

电压确定模块，用于根据所述输入基准值和所述第一数模转换通道的寄存器值确定所述电池模块提供的电池电压的电压数值；

检测模块，用于根据所述电压数值检测所述MCU控制器中的第二数模转换通道对应的管脚电压值。

9.一种终端设备，其特征在于，所述终端设备包括存储器、处理器及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的电压检测程序，所述处理器执行所述电压检测程序时实现如权利要求1至7中任一项所述电压检测方法的步骤。

10.一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述计算机可读存储介质上存储有电压检测程序，所述电压检测程序被处理器执行时实现如权利要求1至7中任一项所述电压检测方法的步骤。

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