CN115878040A - 外部补偿数据存储方法及装置、显示装置 - Google Patents
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Abstract
本公开属于显示技术领域,具体涉及一种外部补偿数据存储方法及装置、显示装置,此方法可包括:获取显示面板的显示画面;侦测所述显示画面中各异常像素的位置;对各所述异常像素的位置进行分析统计,以记录所述显示画面中异常像素行的位置,所述异常像素行为具有所述异常像素的像素行;确定每个所述异常像素行中异常段的数量,并获取所述异常段中起始异常像素的位置和终止异常像素的位置;计算各所述异常像素所需的补偿数据;将各所述异常像素的补偿数据、所述异常像素行的行位、以及所述异常像素行中各异常段的异常像素起止位存储至闪存器中。该方案在实现Demura技术的同时,还可大大降低存储的数据量,以提高Flash内存利用率,降低成本。
Description
技术领域
本公开属于显示技术领域,具体涉及一种外部补偿数据存储方法及装置、显示装置。
背景技术
显示器在人们的生活中已是常用的电器之一,随着显示技术的不断更新迭代以及客户对显示效果要求的不断提升,人们所需的显示器的画质也在持续优化,这就需要对对比度、色域、显示灰阶准确度等进行进一步优化,因此我们采用了姆拉擦除(Demura)技术,对显示过程中的异常区块进行处理。
目前,采用固定侦测面积的Demura技术对mura区块进行处理,但该方案的侦测方式为固定面积的异常区域侦测及补偿,此方案侦测方式固化缺乏灵活性,同时由于固定面积的侦测方式导致预设进闪存器(Flash)的数据量巨大,必须使用更大内存的Flash,导致成本的大幅上升。
发明内容
本公开的目的在于提供一种外部补偿数据存储方法及装置、显示装置,在实现Demura技术的同时,还可大大降低存储的数据量,以提高Flash内存利用率,降低成本。
本公开第一方面提供了一种外部补偿数据存储方法,包括:
获取显示面板的显示画面;
侦测所述显示画面中各异常像素的位置;
对各所述异常像素的位置进行分析统计,以记录所述显示画面中异常像素行的位置,所述异常像素行为具有所述异常像素的像素行;
确定每个所述异常像素行中异常段的数量,并获取所述异常段中起始异常像素的位置和终止异常像素的位置;
计算各所述异常像素所需的补偿数据;
将各所述异常像素的补偿数据、所述异常像素行的行位、以及所述异常像素行中各异常段的异常像素起止位存储至闪存器中。
在本公开的一种示例性实施例中,所述侦测所述显示画面中各异常像素的位置的步骤,包括:
根据显示面板的解析度将所述显示画面划分为多个像素区块,每个所述像素区块包括多个在行方向和列方向上阵列排布的像素;
确定所述像素区块的至少一个像素为侦测点;
将在所述侦测点目标范围内的所有像素的灰阶数据与所述侦测点的灰阶数据进行对比分析,以确定异常像素的位置,所述侦测点目标范围内的所有像素至少包括所述侦测点所在像素区块中除了所述侦测点之外的所有像素。
在本公开的一种示例性实施例中,所述像素区块包括P行和Q列个像素,且P和Q为大于1的正整数,其中,
所述确定所述像素区块的至少一个像素为侦测点的步骤,包括:
至少以每个所述像素区块中第P行的第Q个像素为侦测点。
在本公开的一种示例性实施例中,所述侦测点目标范围内的所有像素还包括与所述侦测点相邻所述像素区块的所有像素。
在本公开的一种示例性实施例中,
所述将在所述侦测点目标范围内的所有像素的灰阶数据与所述侦测点的灰阶数据进行对比分析,以确定异常像素的位置的步骤,包括:
读取并分析所述显示画面的目标灰阶数据和所述侦测点的灰阶数据;
在确定所述侦测点的灰阶数据与所述目标灰阶数据之间的实际比值在目标范围内时,确定所述侦测点为正常像素,并以所述侦测点的灰阶数据作为基准值,或,在确定所述侦测点的灰阶数据与所述目标灰阶数据之间的实际比值超出目标范围时,确定所述侦测点为异常像素,并将所述实际比值与所述侦测点的灰阶数据之和作为基准值;
将在所述侦测点目标范围内与所述基准值之间的差值超出所述目标范围内的像素确定为异常像素;
以所述侦测点在所述显示画面的位置为基准位置,确定所述异常像素在所述显示画面中的位置。
在本公开的一种示例性实施例中,所述异常段为包括多个异常像素、且所述多个异常像素呈连续性设置的像素段。
在本公开的一种示例性实施例中,所述异常段为包括多个异常像素、且相邻两所述异常像素之间正常像素的个数小于目标个数的像素段。
在本公开的一种示例性实施例中,所述计算各所述异常像素所需的补偿数据,包括;
读取所述显示画面的目标灰阶数据,对所述异常像素的灰阶数据进行加权运算,以计算出各所述异常像素所需的补偿数据。
本公开第二方面提供了一种外部补偿数据存储装置,包括:
图像获取单元,用于获取显示面板的显示画面;
侦测单元,用于侦测所述显示画面中各异常像素的位置;
分析统计单元,用于对各所述异常像素的位置进行分析统计,以记录所述显示画面中异常像素行的位置,所述异常像素行为具有所述异常像素的像素行;
位置确定单元,用于确定每个所述异常像素行中异常段的数量,并获取所述异常段中起始异常像素的位置和终止异常像素的位置;
补偿计算单元,用于计算各所述异常像素所需的补偿数据;
存储单元,用于将各所述异常像素的补偿数据、所述异常像素行的行位、以及所述异常像素行中各异常段的异常像素起止位存储至闪存器中。
本公开第三方面提供了一种显示装置,其包括显示面板,闪存器、时序控制器,源极驱动器;其中,
所述闪存器内用于与上述所述的外部补偿数据存储装置的存储单元连接,用于存储有各所述异常像素的补偿数据、所述异常像素行的行位、以及所述异常像素行中各异常段的异常像素起止位;
所述时序控制器用于在所述显示装置开机时采集所述闪存器内存储的各所述异常像素的补偿数据、所述异常像素行的行位、以及所述异常像素行中各异常段的异常像素起止位,并输出至所述源极驱动器;
所述源极驱动器用于将各所述异常像素的补偿数据输出到所述显示面板的对应位置。
本公开的有益效果:
本公开方案通过将侦测到异常行数、每行异常行数中异常段的异常像素起止位以及经过运算得到异常像素的补偿数据存入至闪存器(简称:Flash)中,这样相比于将拍得的所有点位的数据以及运算所得的补偿数据同时存入至闪存器的方案,大大降低了存储的数据量,以提高Flash内存利用率,同样解析度的情况下,降低器件成本。
本公开的其他特性和优点将通过下面的详细描述变得显然,或部分地通过本公开的实践而习得。
应当理解的是,以上的一般描述和后文的细节描述仅是示例性和解释性的,并不能限制本公开。
附图说明
此处的附图被并入说明书中并构成本说明书的一部分,示出了符合本公开的实施例,并与说明书一起用于解释本公开的原理。显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本公开的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1示出本公开实施例一所描述的外部补偿数据存储方法的流程示意图;
图2示出本公开实施例一所描述的显示面板的结构示意图;
图3示出本公开实施例二所描述的外部补偿数据存储装置的结构示意图;
图4示出本公开实施例三所描述的显示装置与外部补偿数据存储装置配合的关系示意图。
附图标记说明:
10、显示面板;11、主控单元;12、CCD相机;13、背光源;14、图像产生器;15、时序控制器;16、闪存器;17、源极驱动器;
20、外部补偿数据存储装置;201、图像获取单元;202、侦测单元;203、分析统计单元;204、位置确定单元;205、补偿计算单元;206、存储单元。
具体实施方式
现在将参考附图更全面地描述示例实施方式。然而,示例实施方式能够以多种形式实施,且不应被理解为限于在此阐述的范例;相反,提供这些实施方式使得本公开将更加全面和完整,并将示例实施方式的构思全面地传达给本领域的技术人员。
在本公开中,术语“第一”、“第二”仅用于描述目的,而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此,限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多个该特征。在本公开的描述中,“多个”的含义是两个或两个以上,除非另有明确具体的限定。
此外,所描述的特征、结构或特性可以以任何合适的方式结合在一个或更多实施例中。在下面的描述中,提供许多具体细节从而给出对本公开的实施例的充分理解。然而,本领域技术人员将意识到,可以实践本公开的技术方案而没有特定细节中的一个或更多,或者可以采用其它的方法、组元、装置、步骤等。在其它情况下,不详细示出或描述公知方法、装置、实现或者操作以避免模糊本公开的各方面。
实施例一
mura原意是指亮暗不均,后扩展至显示面板上指任何人眼可识别的颜色差异。其中,造成mura的原因众多且复杂,主要可总结为如下几个方面:a.在彩色滤光片(简称:CF)制程中由于膜厚涂布(简称:Coating)不均匀而产生的颜色不均匀;b.由于Coating过程中喷嘴堵塞而导致的竖向显示不均;c.TFT(薄膜晶体管)在制作过程中产生偏移而导致TFT特性变化,从而导致的显示异常;d.偏光片本身来料不良导致贴合完成后产生的显示异常等。
为了提高显示均匀性,可采用Demura技术对显示过程中的异常区域(即:mura区域)进行处理,具体地,Demura技术的过程为:首先采用CCD(电荷耦合器件)相机对显示面板进行拍照,以读取显示区的显示画面,随后对获取的显示画面进行处理得到原始的显示数据,再侦测mura区域并对该mura区域数据与其他区域数据进行对比分析生成补偿数据,再将所有侦测的数据和补偿数据存入Flash中;然后在开机过程中,时序控制器(简称:Tcon)先会从Flash下载补偿数据编码(code),Tcon再将补偿数据送到源极驱动器(SourceDriver)进行补偿,最终Source Driver输出到面内,使得mura区域数据得到补偿,mura被消除。
详细说明,在对显示画面进行图像处理时,会先根据显示面板的解析度(即:分辨率),将整个显示区域划分为8×8个像素的区块,然后将拍得的所有区块的图像数据进行灰阶数据转化,转化为0-255个灰阶数据的像素矩阵,再对所有区块灰阶数据进行对比,并对这些像素矩阵进行高质量背景模型建立,经过运算找出某一个区块的某个点位的灰阶数据与其他区块灰阶数据不一致时,就判定该区块存在mura;根据已经侦测到的mura区域记录其灰阶数据,同时将该灰阶数据与其余区块点位的灰阶数据进行对比并根据理想的灰阶数据(即:目标灰阶数据)对mura区域的数据进行加权运算,最后根据运算得到的补偿数据,将其通过Source Driver送进面内的mura区域,使得mura区域的显示灰阶得到改善,从而消除mura,完成Demura操作。
其中,mura侦测的方式具体可为:使用CCD相机将整个显示区域进行多次拍照,每次都会设定显示一个固定的纯色灰阶画面,然后将显示区域分为8×8的像素区块后,Demura设备会对每个区域第8个点进行采集数据,然后将采集到的数据跟该点前后左右的各8个点进行灰阶数据的对比,可以得到某个点的灰阶数据与其他点位的差异值,再使用线性插值法经过加权运算,得到这个点位的补偿数据,然后将CCD相机拍得的所有点位的数据以及运算所得的补偿数据转化为code(代码)文件,同时将code文件烧录进Flash中,以便于开机时Tcon从Flash下载代码(download code),并对相应的异常点位进行数据补偿。
但此mura侦测方式的缺陷在于CCD相机采取到的数据以及运算所得的补偿数据全部都会存入Flash中(灰阶正常的数据存入Flash用于Tcon在下载代码后确认需要补偿的数据位置),因此产品设计过程中所需要的Flash内存量就会非常大,以解析度为3840×2160的UHD(Ultra High Definition,超高清)产品,8×8区域侦测方式,CCD相机拍照3个灰阶画面为例,所需的内存量为:(3840/8+1)×(2160/8+1)×12/8×3=586579≈0.6Mbyte,“3840/8”这里的8指的是每8个点作为一个侦测点位,行向就一共有3840/8个点位,“2160/8”这里的8指的是每8个点作为一个侦测点位,列向就一共有2160/8个点位;“12/8”指的是Demura的数据是以12bit进行处理,Demura后的数据需要转为8bit才是我们正常显示使用的数据,因此,需选用8Mbit,而不能选择4Mbit的Flash(8Mbit=1Mbyte,4Mbit=0.5Mbyte),由于Flash内存量越大价格就会越高,针对同一解析度的产品而言,Flash内存使用率就会大大降低,器件成本也会随之增加。
以上方案为采用固定面积的异常区域侦测及补偿,此方案侦测方式固化缺乏灵活性,同时由于固定面积的侦测方式导致预设进闪存器(Flash)的数据量巨大,必须使用更大内存的Flash,导致成本的大幅上升。
为解决此技术问题,本公开实施例提出了一种外部补偿数据存储方法,如图1、图2及图4所示,此方法可包括步骤S100、步骤S200、步骤S300、步骤S400、步骤S500及步骤S600,下面对各步骤进行详细说明。
在步骤S100中:获取显示面板10的显示画面。
其中,参考图4所示,步骤S100具体可包括:主控单元11可控制拍摄室内处于暗室,然后,在暗室环境下,主控单元11可控制高分辨的CCD相机12对显示面板10的整个显示区域进行拍照,以获取显示面板10的显示画面,这样可避免环境光影响高分辨CCD相机12的拍摄效果,以保证后续mura区域侦测的准确性,从而可保证Demura的准确性,继而提高显示均匀性。
举例而言,参考图4所示,显示面板10可为液晶显示面板,但不限于此,也可为OLED显示面板10。在显示面板10为液晶显示面板时,可设置一背光源13为液晶显示面板提供光源,图像产生器14在主控单元11的控制下可将原始图像资料输出至时序控制器15,时序控制器15可基于原始图像资料控制显示面板10中各子像素的液晶分子偏转,以进行相应画面显示。
应当理解的是,本实施例中获取的显示画面可为纯色灰阶画面。
在步骤S200中:侦测显示画面中各异常像素的位置。此异常像素指的是对应灰阶数据不符合要求(即:出现异常)的像素。
具体地,步骤S200可包括:
步骤S2002,根据显示面板10的解析度将显示画面划分为多个像素区块A,每个像素区块A包括多个在行方向和列方向上阵列排布的像素(如图2中圆圈结构),换言之,像素区块A可包括P行和Q列个像素,P和Q为大于1的正整数,即:每个像素区块A中像素的个数为P×Q个,如图2中所示,P、Q等于8,但不限于图中所示,可根据实际情况进行分块;
步骤S2004,确定像素区块A的至少一个像素为侦测点(如图2中具有刨面线的圆圈结构);
步骤S2006,将在侦测点目标范围内的所有像素的灰阶数据与侦测点的灰阶数据进行对比分析,以确定异常像素的位置,侦测点目标范围内的所有像素至少包括侦测点所在像素区块A中除了侦测点之外的所有像素,换言之,将侦测点的灰阶数据至少与其所在像素区块A中其余所有像素的灰阶数据进行对比分析,以确定该像素区块A中异常像素的位置。
在本实施例中,通过将显示画面划分为多个像素区块A,然后每个像素区块A均具有侦测点,以用来对自身像素区块A内的所有像素进行对比分析,从而确定该像素区块A中是否有异常像素,以及确定该像素区块A中异常像素的位置,由于分区块侦测,因此,各像素区块A可同时进行数据对比分析,从而可快速确定整个显示画面中所有异常像素的位置,即:快速侦测到面内的mura区域,提高数据处理效率。
其中,步骤S2004,具体包括:至少以每个像素区块A中第P行的第Q个像素为侦测点。
在本实施例中,通过利用像素区块A中边界像素来作为侦测点,方便确定侦测点在整个显示面板10中位置,然后以此侦测点为基准点,可快速确定其他异常像素在整个显示面板10中的位置。需要说明的是,位于第一行排的像素区块A除了以第P行的第Q个像素为侦测点,还可以第一行的第Q个像素作为侦测点,位于第一列排的像素区块A除了以第P行的第Q个像素为侦测点,还可以第一列的第P个像素作为侦测点,也就是说,以整个显示面板10的行列作为基准坐标,整个显示面板中像素的行坐标包括P的整数倍,或列坐标包括Q的整数倍的都可以作为侦测点。
例如:显示面板10的解析度为3840×2160,即:显示面板10包括3840行像素和2160列像素,在像素区块A包括8×8个像素时,即:前述提到P、Q为8时,此显示面板10中像素区块A可具有480(3840÷8)行排和270(2160÷8)列排,其中,坐标为第n行排和第m列排的像素区块A中侦测点在整个显示面板10中的坐标为(8×n,8×m),然后根据异常像素与侦测点的位置关系,确定出异常像素在整个显示面板10的坐标。
应当理解的是,本实施例提到的像素可由红、绿、蓝子像素组成,但不限于此,也可为其他组成形式,例如:由红、绿、蓝、黄子像素组成等等,视具体情况而定,在此不作过多说明。
示例地,前述提到的侦测点目标范围内的所有像素除了包括侦测点所在像素区块A的其余所有像素之外,还可包括与侦测点相邻像素区块A的所有像素,这样可以对相邻像素区块A侦测数据进行交叉验证,从而可提高异常像素侦测的准确性。
其中,以在坐标为第n行排和第m列排的像素区块A(简写为坐标(n,m)的像素区块A)为例:与其第P行的第Q个像素相邻的像素区块A包括坐标为(n+1,m+1)的像素区块A、坐标为(n,m+1)的像素区块A和坐标为(n,m+1)的像素区块A。
在一些实施例中,步骤S2006可包括:
步骤S20061,读取并分析显示画面的目标灰阶数据和侦测点的灰阶数据;
步骤S20063,在确定侦测点的灰阶数据与目标灰阶数据之间的实际比值在目标范围内时,确定侦测点为正常像素,并以侦测点的灰阶数据作为基准值,或,在确定侦测点的灰阶数据与目标灰阶数据之间的实际比值超出目标范围时,确定侦测点为异常像素,并将实际比值与侦测点的灰阶数据之和(即:侦测点经补偿后的灰阶数据)作为基准值;
步骤S20065,将在侦测点目标范围内与基准值之间的差值超出目标范围内的像素确定为异常像素;
步骤S20067,以侦测点在显示画面的位置为基准位置,确定异常像素在显示画面中的位置。
在本实施例中,通过先将侦测点的灰阶数据与目标灰阶数据进行对比分析,以确定此侦测点为异常像素或者正常像素后,若为侦测点为正常像素,直接将目标范围内其余像素与侦测点的灰阶数据进行对比,若侦测点为异常像素,就将目标范围内其余像素与侦测点经补偿后的灰阶数据进行对比,应当理解的是,侦测点经补偿后的灰阶数据与目标灰阶数据之间的比值在目标范围内,也可以理解为将侦测点的灰阶数据补偿至目标灰阶数据;也就是说,不论侦测点是否为正常像素,本实施方案均以侦测点为基准来判断目标范围内的其余像素是否为异常像素,只不过在侦测点为正常像素时,利用的就是实际采集到的侦测点的灰阶数据作为对比的基准值,在侦测点为异常像素时,利用的就是侦测点经补偿后的灰阶数据作为对比的基准值,应当理解的是,与目标范围内其余像素对比的基准值就可以理解为目标灰阶数据,这样不仅能够识别出来mura区域,还可以确定画面显示是否达到了目标要求,因此,在后续进行补偿时,不仅可以消除mura区域,也可使得显示画面更靠近目标显示要求,提高产品性能。
此外,本实施例以侦测点为基准来判断目标范围内的其余像素是否为异常像素,这样相比于直接将面内所有像素直接与目标灰阶数据进行对比分析的方案,本实施例由于分区块侦测,因此,各像素区块A可同时进行数据对比分析,从而可快速确定整个显示画面中所有异常像素的位置,即:快速侦测到面内的mura区域,提高数据处理效率。
应当理解的是,实际采用时考虑误差和阈值差异,将目标范围设定为0.999~1.001。
此外,还需说明的是,在步骤S100之后,且在步骤S200之前,外部补偿数据存储方法还可包括步骤S120,在步骤S120中,需对拍得的显示画面进行灰阶数据转化,通过各像素的灰阶数据来确定异常像素。
在步骤S300中:对各异常像素的位置进行分析统计,以记录显示画面中异常像素行的位置,异常像素行为具有异常像素的像素行。
具体地,可根据显示面板10的解析度和扫描线(gate line)将所有像素分为N行,通过前面步骤S200记载的内容可确定异常像素在整个显示面板10的具体位置,即:行列坐标,然后对这些所有异常像素的位置进行统计,记录有异常像素的行位信息。
在步骤S400中:确定每个异常像素行中异常段的数量,并获取异常段中起始异常像素的位置和终止异常像素的位置。
具体地,在一可选方案中,异常段为包括多个异常像素、且多个异常像素呈连续性设置的像素段,也就是说,只要异常像素行中相邻两个异常像素之间有正常像素,则认为这两个异常像素就属于不同的异常段,那么这两个异常像素所属的异常段的异常像素起止位均需要记录,这样侦测的mura区域范围更加精准,以提高后续补偿效果,从而提高显示均匀性。
或者,在另一可选方案中,异常段为包括多个异常像素、且相邻两异常像素之间正常像素的个数小于目标个数的像素段,也就是说,虽然异常像素行中相邻两个异常像素之间有正常像素,但正常像素少于目标个数,此目标个数的数量可根据能够肉眼明显识别的程度确定,则认为这两个异常像素属于同一异常段,仅需记录这一异常段的异常像素起止位即可,这样在确定mura区域范围后续整体进行补偿的同时,还可适当减少异常像素起止位记录的数量,从而进一步节省闪存器16(如图4所示)内存。
在步骤S500中:计算各异常像素所需的补偿数据。
具体地,步骤S500可为:读取显示画面的目标灰阶数据,对异常像素的灰阶数据进行加权运算,以计算出各异常像素所需的补偿数据。
需要说明的是,此计算方法较为复杂,可以简单的解释为:异常数据与正常数据进行对比,每个异常数据出现了几次进行统计,例如灰阶数据出现了3次,4出现了5次,6出现了8次,那么3、5、8就是权数,公式(p1*n1+p2*n2+p3*n3+……+pn*nn)/n=结论;其中p1到pn就是权数,n1到nn就是对应这个权数出现的次数,再除以总的数据个数,就是加权运算的方法,此处只是简述运算过程中的加权算法,实际运算过程参考因素更多,数据处理量更大,在这里不做赘述,只要能够进行数据补偿即可。
在步骤S600中,将各异常像素的补偿数据、异常像素行的行位、以及异常像素行中各异常段的异常像素起止位存储至闪存器16(如图4所示)中。
具体地,可将将各异常像素的补偿数据、异常像素行的行位、以及异常像素行中各异常段的异常像素起止位转化为code(代码)文件,然后将code文件烧录进Flash中,以便于开机时Tcon从Flash下载代码(download code),并对相应的异常像素进行数据补偿。
基于上述记载内容,本公开一具体实施例可采用CCD相机12对整个显示区域进行拍照,根据本方案的设计,对所有P*Q像素区块A进行拍照采集数据后,根据解析度和扫描线将所有像素分为N行,侦测到异常数据(异常像素),确定其所处的行数,再记录其所处行数的起始异常像素位和终止异常像素位,如此逐行确认并记录,并将其存入Flash内;此时存入Flash的数据就不再是所有侦测到的侦测点和异常像素的数据,而是存在异常像素的行位、异常像素起止位,大大降低了存储的数据量,同一侦测区域方式下提高了Flash内存利用率,同样解析度情况下降低了器件成本。
以解析度3840*2160UHD显示产品,8*8区域侦测方式为例,结合图2和图4所示,首先CCD相机12对显示区域进行拍照,对拍得的画面中每个8*8区域的侦测点进行一次数据采集,然后对数据进行分析,其次对测得的异常数据(图2中黑灰色的圆圈结构为异常像素)的位置进行分析读取,如图2所示,读取到:异常像素行的行数为第8行,异常像素起始位为第14个,异常像素终止位为第20个;异常像素行的行数为第9行,异常像素起始位为第17个,异常像素终止位为第20个;以及异常像素行的行数为第10行,异常像素起始位为第16个,异常像素终止位为第21个,以此方式对显示面板10中的每一行进行分析,确认所有行的所有异常数据都被记录;接着对异常数据通过运算得到其补偿灰阶数据,并将此灰阶数据与上述异常数据的行位、所处行的异常像素起止位存入闪存器16中;当下一次开机时,时序控制器15会先采集这些数据,然后输出给源极驱动器17,源极驱动器17控制数据输出到面内的具体位置,从而完成Demura操作。
综上所述,本方案之优势:1、由于优化了mura侦测方式使得所需要存储的数据由所有侦测到的侦测点和异常像素变为了mura区域行数和每行的像素起止位,mura区域越少,占用的闪存器16内存越小,相比存储所有侦测数据的方式,闪存器16内存使用量大大降低;2、对于同一解析度的产品闪存器16内存利用率大幅提升;3、另外,针对UHD及以上解析度的大尺寸显示面板10产品,其产品售价更高,所需的显示效果更好,对mura的容错率更低,因此会采取更精细的侦测区域(例如1*1),这样一来所需的闪存器16内存变得更加巨量,采用本方案所示之方式,可以在更高售价的产品,使用更低成本的闪存器16,大大提高产品成本优势,增强了产品的核心竞争力。
也就是说,本方案通过改进mura侦测方式,优化了Demura功能,提高了闪存器16利用率,降低了器件成本,提高了产品的成本优势,增强了产品竞争力。
实施例二
本公开实施例提供了一种外部补偿数据存储装置20,也可理解为Demura装置,如图3和图2所示,此装置可包括图像获取单元201、侦测单元202、分析统计单元203、位置确定单元204、补偿计算单元205及存储单元206。
此图像获取单元201可用于获取显示面板10的显示画面,举例而言,此图像获取单元201可包括CCD相机12;侦测单元202可用于侦测显示画面中各异常像素的位置,举例而言,此侦测单元202也可属于CCD相机12,但不限于此,也可与CCD相机12独立设置;分析统计单元203用于对各异常像素的位置进行分析统计,以记录显示画面中异常像素行的位置,异常像素行为具有异常像素的像素行;位置确定单元204用于确定每个异常像素行中异常段的数量,并获取异常段中起始异常像素的位置和终止异常像素的位置;补偿计算单元205用于计算各异常像素所需的补偿数据;存储单元206用于将各异常像素的补偿数据、异常像素行的行位、以及异常像素行中各异常段的异常像素起止位存储至闪存器16中,其中,分析统计单元203、位置确定单元204、补偿计算单元205及存储单元206可属于主控单元11。
本公开方案通过将侦测到异常行数、每行异常行数中异常段的异常像素起止位以及经过运算得到异常像素的补偿数据存入至闪存器16(简称:闪存器16)中,这样相比于将拍得的所有点位的数据以及运算所得的补偿数据同时存入至闪存器16的方案,大大降低了存储的数据量,以提高闪存器16内存利用率,同样解析度的情况下,降低器件成本。
本实施例为与实施一的外部补偿数据存储方法相匹配的外部补偿数据存储,在此不对外部补偿数据存储装置20进行详细赘述,只要能够实现外部补偿数据存储方法所记载的内容即可。
实施例三
本公开实施例提供了一种显示装置,如图4所示,其包括:显示面板10,闪存器16、时序控制器15,源极驱动器17;其中,闪存器16内用于与前述的外部补偿数据存储装置20的存储单元206连接,用于存储有各异常像素的补偿数据、异常像素行的行位、以及异常像素行中各异常段的异常像素起止位;时序控制器15用于在显示装置开机时采集闪存器16内存储的各异常像素的补偿数据、异常像素行的行位、以及异常像素行中各异常段的异常像素起止位,并输出至源极驱动器17;源极驱动器17用于将各异常像素的补偿数据输出到显示面板10的对应位置。
本实施例的显示装置中闪存器16在存储有需要补偿的数据信息,以提高显示均匀性之外,成本低,从而可提高显示装置的成本优势,增强了产品竞争力。
在本说明书的描述中,参考术语“一些实施例”、“示例地”等的描述意指结合该实施例或示例描述的具体特征、结构、材料或者特点包含于本公开的至少一个实施例或示例中。在本说明书中,对上述术语的示意性表述不必须针对的是相同的实施例或示例。而且,描述的具体特征、结构、材料或者特点可以在任一个或多个实施例或示例中以合适的方式结合。此外,在不相互矛盾的情况下,本领域的技术人员可以将本说明书中描述的不同实施例或示例以及不同实施例或示例的特征进行结合和组合。
尽管上面已经示出和描述了本公开的实施例,可以理解的是,上述实施例是示例性的,不能理解为对本公开的限制,本领域的普通技术人员在本公开的范围内可以对上述实施例进行变化、修改、替换和变型,故但凡依本公开的权利要求和说明书所做的变化或修饰,皆应属于本公开专利涵盖的范围之内。
Claims (10)
1.一种外部补偿数据存储方法,其特征在于,包括:
获取显示面板的显示画面;
侦测所述显示画面中各异常像素的位置;
对各所述异常像素的位置进行分析统计,以记录所述显示画面中异常像素行的位置,所述异常像素行为具有所述异常像素的像素行;
确定每个所述异常像素行中异常段的数量,并获取所述异常段中起始异常像素的位置和终止异常像素的位置;
计算各所述异常像素所需的补偿数据;
将各所述异常像素的补偿数据、所述异常像素行的行位、以及所述异常像素行中各异常段的异常像素起止位存储至闪存器中。
2.根据权利要求1所述的外部补偿数据存储方法,其特征在于,所述侦测所述显示画面中各异常像素的位置的步骤,包括:
根据显示面板的解析度将所述显示画面划分为多个像素区块,每个所述像素区块包括多个在行方向和列方向上阵列排布的像素;
确定所述像素区块的至少一个像素为侦测点;
将在所述侦测点目标范围内的所有像素的灰阶数据与所述侦测点的灰阶数据进行对比分析,以确定异常像素的位置,所述侦测点目标范围内的所有像素至少包括所述侦测点所在像素区块中除了所述侦测点之外的所有像素。
3.根据权利要求2所述的外部补偿数据存储方法,其特征在于,所述像素区块包括P行和Q列个像素,且P和Q为大于1的正整数,其中,
所述确定所述像素区块的至少一个像素为侦测点的步骤,包括:
至少以每个所述像素区块中第P行的第Q个像素为侦测点。
4.根据权利要求3所述的外部补偿数据存储方法,其特征在于,所述侦测点目标范围内的所有像素还包括与所述侦测点相邻所述像素区块的所有像素。
5.根据权利要求2所述的外部补偿数据存储方法,其特征在于,所述将在所述侦测点目标范围内的所有像素的灰阶数据与所述侦测点的灰阶数据进行对比分析,以确定异常像素的位置的步骤,包括:
读取并分析所述显示画面的目标灰阶数据和所述侦测点的灰阶数据;
在确定所述侦测点的灰阶数据与所述目标灰阶数据之间的实际比值在目标范围内时,确定所述侦测点为正常像素,并以所述侦测点的灰阶数据作为基准值,或,在确定所述侦测点的灰阶数据与所述目标灰阶数据之间的实际比值超出目标范围时,确定所述侦测点为异常像素,并将所述实际比值与所述侦测点的灰阶数据之和作为基准值;
将在所述侦测点目标范围内与所述基准值之间的差值超出所述目标范围内的像素确定为异常像素;
以所述侦测点在所述显示画面的位置为基准位置,确定所述异常像素在所述显示画面中的位置。
6.根据权利要求1所述的外部补偿数据存储方法,其特征在于,所述异常段为包括多个异常像素、且所述多个异常像素呈连续性设置的像素段。
7.根据权利要求1所述的外部补偿数据存储方法,其特征在于,所述异常段为包括多个异常像素、且相邻两所述异常像素之间正常像素的个数小于目标个数的像素段。
8.根据权利要求1所述的外部补偿数据存储方法,其特征在于,所述计算各所述异常像素所需的补偿数据,包括;
读取所述显示画面的目标灰阶数据,对所述异常像素的灰阶数据进行加权运算,以计算出各所述异常像素所需的补偿数据。
9.一种外部补偿数据存储装置,其特征在于,包括:
图像获取单元,用于获取显示面板的显示画面;
侦测单元,用于侦测所述显示画面中各异常像素的位置;
分析统计单元,用于对各所述异常像素的位置进行分析统计,以记录所述显示画面中异常像素行的位置,所述异常像素行为具有所述异常像素的像素行;
位置确定单元,用于确定每个所述异常像素行中异常段的数量,并获取所述异常段中起始异常像素的位置和终止异常像素的位置;
补偿计算单元,用于计算各所述异常像素所需的补偿数据;
存储单元,用于将各所述异常像素的补偿数据、所述异常像素行的行位、以及所述异常像素行中各异常段的异常像素起止位存储至闪存器中。
10.一种显示装置,其特征在于,包括:显示面板,闪存器、时序控制器,源极驱动器;其中,
所述闪存器内用于与权利要求9所述的外部补偿数据存储装置的存储单元连接,用于存储有各所述异常像素的补偿数据、所述异常像素行的行位、以及所述异常像素行中各异常段的异常像素起止位;
所述时序控制器用于在所述显示装置开机时采集所述闪存器内存储的各所述异常像素的补偿数据、所述异常像素行的行位、以及所述异常像素行中各异常段的异常像素起止位,并输出至所述源极驱动器;
所述源极驱动器用于将各所述异常像素的补偿数据输出到所述显示面板的对应位置。
Priority Applications (1)
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---|---|---|---|
CN202211631959.6A CN115878040A (zh) | 2022-12-19 | 2022-12-19 | 外部补偿数据存储方法及装置、显示装置 |
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Publications (1)
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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CN116504169A (zh) * | 2023-06-27 | 2023-07-28 | 联士光电(深圳)有限公司 | 显示设备 |
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2022
- 2022-12-19 CN CN202211631959.6A patent/CN115878040A/zh active Pending
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CN116504169A (zh) * | 2023-06-27 | 2023-07-28 | 联士光电(深圳)有限公司 | 显示设备 |
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