CN115856587A - 一种芯片测试的方法、装置、存储介质及电子设备 - Google Patents

Abstract

本说明书公开了一种芯片测试的方法、装置、存储介质及电子设备，首先获取待测试芯片的序列号，并根据所述序列号，确定预先配置的测试参数，之后可以根据测试参数，配置信号发射设备的电源参数，根据测试参数和电源参数，控制信号发射设备发送测试信号，并接收信号接收设备返回的结果，以根据信号接收设备返回的结果，确定测试结果，并根据测试结果，更新序列号对应的测试参数。

Description

一种芯片测试的方法、装置、存储介质及电子设备

技术领域

本说明书涉及计算机技术领域，尤其涉及一种芯片测试的方法、装置、存储介质及电子设备。

背景技术

目前，由于测试不同的射频芯片需要配置不同的参数，因此在每次测试射频芯片时，需要先获取待测试的射频芯片的参数，之后由人工根据该射频芯片的参数确定测试该射频芯片的测试参数。

因为每次测试射频芯片都需要人工确定芯片参数和参数，效率较低。

因此，如何提升测试芯片的效率，则是一个亟待解决的问题。

发明内容

本说明书提供一种芯片测试的方法、装置、存储介质及电子设备，以部分的解决提升测试芯片的效率的技术问题。

本说明书采用下述技术方案：

本说明书提供了一种芯片测试的方法，包括：

获取待测试芯片的序列号，并根据所述序列号，确定预先配置的测试参数；

根据所述测试参数，配置信号发射设备的电源参数；

根据所述测试参数和所述电源参数，控制所述信号发射设备发送测试信号，并接收信号接收设备返回的结果，以根据所述信号接收设备返回的结果，确定测试结果，并根据所述测试结果，更新所述序列号对应的测试参数。

可选地，根据所述测试参数，配置信号发射设备的电源参数，具体包括：

根据所述测试参数，配置所述信号发送设备的所述电源参数的最小值、所述电源参数的最大值和电压测试步长。

可选地，根据所述测试参数和所述电源参数，控制所述信号发射设备发送测试信号，具体包括：

根据所述电压测试步长、所述电源参数的最小值和所述电源参数的最大值，控制所述信号发射设备发送测试信号。

可选地，所述测试参数包括：电源通道序号；

根据所述测试参数，配置信号发射设备的电源参数，具体包括：

根据所述电源通道序号，确定所述电源通道序号涉及的电源通道以及各电源通道的开启顺序；

根据所述测试参数和所述电源通道序号，配置信号发射设备涉及的各电源通道的电源参数。

可选地，根据所述测试结果，更新所述序列号对应的测试参数，具体包括：

根据所述测试结果，判断是否需要存储所述测试结果；

若确定需要存储所述测试结果，则将所述测试结果存储至数据库中。

可选地，所述方法还包括：

在用户输入关键词后，向用户展示涉及所述关键词的各测试结果。

可选地，所述测试参数涉及射频有源芯片。

本说明书提供了一种芯片测试的装置，包括：

获取模块，用于获取待测试芯片的序列号，并根据所述序列号，确定预先配置的测试参数；

配置模块，用于根据所述测试参数，配置信号发射设备的电源参数；

发送模块，用于根据所述测试参数和所述电源参数，控制所述信号发射设备发送测试信号，并接收信号接收设备返回的结果，以根据所述信号接收设备返回的结果，确定测试结果，并根据所述测试结果，更新所述序列号对应的测试参数。

本说明书提供了一种计算机可读存储介质，所述存储介质存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现上述芯片测试的方法。

本说明书提供了一种电子设备，包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述程序时实现上述芯片测试的方法。

本说明书采用的上述至少一个技术方案能够达到以下有益效果：

在本说明书提供的芯片测试的方法，首先获取待测试芯片的序列号，并根据所述序列号，确定预先配置的测试参数，之后可以根据测试参数，配置信号发射设备的电源参数，根据测试参数和电源参数，控制信号发射设备发送测试信号，并接收信号接收设备返回的结果，以根据信号接收设备返回的结果，确定测试结果，并根据测试结果，更新序列号对应的测试参数。

从上述方法中可以看出，可以根据预先配置的测试参数，自动完成芯片的测试，提高了测试芯片的效率，同时可以根据测试结果，根据序列号对应的测试参数，以提升下次测试该序列号对用的芯片的准确性。

附图说明

此处所说明的附图用来提供对本说明书的进一步理解，构成本说明书的一部分，本说明书的示意性实施例及其说明用于解释本说明书，并不构成对本说明书的不当限定。在附图中：

图1为本说明书中提供的一种芯片测试的方法的流程示意图；

图2为本说明书提供的电源参数配置的流程示意图；

图3为本说明书提供的一种芯片测试的装置的示意图；

图4为本说明书提供的一种对应于图1的电子设备的示意图。

具体实施方式

为使本说明书的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本说明书具体实施例及相应的附图对本说明书技术方案进行清楚、完整地描述。显然，所描述的实施例仅是本说明书一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本说明书中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本说明书保护的范围。

以下结合附图，详细说明本说明书各实施例提供的技术方案。

图1为本说明书中提供的一种芯片测试的方法的流程示意图，包括以下步骤：

S101：获取待测试芯片的序列号，并根据所述序列号，确定预先配置的测试参数。

从上述说明中可以看出，本说明书提供的一种芯片测试的方法的核心创新点为，自动配置测试芯片的测试参数，因此，在本说明书中，具体实施芯片测试的方法的执行主体可以是操作者所使用的台式电脑、笔记本电脑、手机等终端设备，下面为便于描述，仅以终端设备为本说明书提供的一种芯片测试的方法的执行主体。

目前，测试芯片的主要方式为：由工作人员手动配置测试芯片的测试参数，这种方式虽然能够在一定程度上完成烧录数据的校验，但是由于依赖人工校验，容易出现错误，同时效率较低。

基于此，本说明书提供了一种测试芯片的方法，以至少部分解决上述问题。

首先，终端设备可以获取待测试芯片的序列号，其中，待测试芯片的序列号可以为用户自己设置，例如，待测试的有芯片A、芯片B和芯片C，用户可以将芯片A设置为1号芯片，芯片B设置为2号芯片，芯片C设置为3号芯片。

而由于各芯片的性能，所使用的电压不同，因此测试不同的芯片配置不同的参数，因此终端设备可以针对不同的序列号的芯片，设置对应的测试参数。

S102：根据所述测试参数，配置信号发射设备的电源参数。

终端设备可以根据测试参数，配置信号发射设备的电源参数。具体的，终端设备可以根据测试参数，配置信号发送设备的电源参数的最小值、电源参数的最大值和电压测试步长。

在本说明书中，测试参数可以包括：电源通道序号。其中，在一个电路中可能存在多个电源，而测试不同的芯片需要使用到不同的电源，因此电源通道序号可以为测试该芯片需要使用到的电源序号。

终端设备在获取到电源通道序号的同时，也可以确定各电源通道开启的顺序。

下面结合图2为本说明书提供的电源参数配置的流程示意图进行说明。

首先，终端设备可以根据测试参数，确定出电源通道序号以及各电源通道的开启顺序。同时，终端设备也可以根据测试参数确定出各电源通道的电源参数的最小值、电源参数的最大值和电压测试步长。

之后，终端设备可以根据任意一个电源通道的电源参数的最小值、电源参数的最大值和电压测试步长，例如，电源参数的最小值为100V，电源参数的最大值为10V，电压测试步长为10V，则第一次测试的电压可以为10V，第二次测试的电压可以为20V，第三次测试的电压可以为30V，这样依次增加电压测试步长的电压进行测试，直到测试的电压达到电源参数的最大值100V为止。

终端设备可以在测试完该电源通道后，切换至下一个电源通道，直到测试完芯片涉及的所有电源通道。

S103：根据所述测试参数和所述电源参数，控制所述信号发射设备发送测试信号，并接收信号接收设备返回的结果，以根据所述信号接收设备返回的结果，确定测试结果，并根据所述测试结果，更新所述序列号对应的测试参数。

终端设备可以根据测试参数和电源参数，控制信号发射设备发送测试信号，之后接收到信号接收设备返回的响应结果，并根据响应结果，确定测试结果。

之后，终端设备可以根据测试结果，更新该序列号对应的测试参数。

具体的，终端设备可以根据电源参数的最小值和电源参数的最大值，设置各电源通道对应的电压值，之后终端设备可以通过设置信号发送设备的功率，进而得到各电源通道对应的电流值。

在本说明书中，在信号发送信号之前，终端设备可以设置各电压对应的电压频率。

在终端设备接收到信号接收设备返回的结果后，可以选择是否保存该结果，若确定保存该结果，则终端设备可以将上述测试参数和电源参数添加到测试结果中，作为该次测试的测试结果，保存到数据库中。

需要说明的是，在后续用户查询各芯片的测试结果时，可以在用户输入对应的关键词后，显示该关键词涉及的芯片测试结果。

从上述方法中可以看出，可以根据预先配置的测试参数，自动完成芯片的测试，提高了测试芯片的效率，同时可以根据测试结果，根据序列号对应的测试参数，以提升下次测试该序列号对用的芯片的准确性。

以上为本说明书的一个或多个实施例提供的芯片测试的方法，基于同样的思路，本说明书还提供了相应的芯片测试的装置，如图3所示。

图3为本说明书提供的一种芯片测试的装置的示意图，包括：

获取模块301，用于获取待测试芯片的序列号，并根据所述序列号，确定预先配置的测试参数；

配置模块302，用于根据所述测试参数，配置信号发射设备的电源参数；

发送模块303，用于根据所述测试参数和所述电源参数，控制所述信号发射设备发送测试信号，并接收信号接收设备返回的结果，以根据所述信号接收设备返回的结果，确定测试结果，并根据所述测试结果，更新所述序列号对应的测试参数。

可选地，所述配置模块302具体用于，根据所述测试参数，配置所述信号发送设备的所述电源参数的最小值、所述电源参数的最大值和电压测试步长。

可选地，所述配置模块302具体用于，根据所述电压测试步长、所述电源参数的最小值和所述电源参数的最大值，控制所述信号发射设备发送测试信号。

可选地，所述测试参数包括：电源通道序号；

所述配置模块302具体用于，根据所述电源通道序号，确定所述电源通道序号涉及的电源通道以及各电源通道的开启顺序；根据所述测试参数和所述电源通道序号，配置信号发射设备涉及的各电源通道的电源参数。

可选地，所述发送模块303具体用于，根据所述测试结果，判断是否需要存储所述测试结果；若确定需要存储所述测试结果，则将所述测试结果存储至数据库中。

可选地，所述发送模块303还用于，在用户输入关键词后，向用户展示涉及所述关键词的各测试结果。

可选地，所述测试参数涉及射频有源芯片。

本说明书还提供了一种计算机可读存储介质，该存储介质存储有计算机程序，计算机程序可用于执行上述图1提供的一种芯片测试的方法。

本说明书还提供了图4所示的一种对应于图1的电子设备的示意结构图。如图4所述，在硬件层面，该电子设备包括处理器、内部总线、网络接口、内存以及非易失性存储器，当然还可能包括其他业务所需要的硬件。处理器从非易失性存储器中读取对应的计算机程序到内存中然后运行，以实现上述图1所述的芯片测试的方法。当然，除了软件实现方式之外，本说明书并不排除其他实现方式，比如逻辑器件抑或软硬件结合的方式等等，也就是说以下处理流程的执行主体并不限定于各个逻辑单元，也可以是硬件或逻辑器件。

在20世纪90年代，对于一个技术的改进可以很明显地区分是硬件上的改进（例如，对二极管、晶体管、开关等电路结构的改进）还是软件上的改进（对于方法流程的改进）。然而，随着技术的发展，当今的很多方法流程的改进已经可以视为硬件电路结构的直接改进。设计人员几乎都通过将改进的方法流程编程到硬件电路中来得到相应的硬件电路结构。因此，不能说一个方法流程的改进就不能用硬件实体模块来实现。例如，可编程逻辑器件（Programmable Logic Device, PLD）（例如现场可编程门阵列（Field ProgrammableGateArray，FPGA））就是这样一种集成电路，其逻辑功能由用户对器件编程来确定。由设计人员自行编程来把一个数字系统“集成”在一片PLD上，而不需要请芯片制造厂商来设计和制作专用的集成电路芯片。而且，如今，取代手工地制作集成电路芯片，这种编程也多半改用“逻辑编译器（logic compiler）”软件来实现，它与程序开发撰写时所用的软件编译器相类似，而要编译之前的原始代码也得用特定的编程语言来撰写，此称之为硬件描述语言（Hardware DescriptionLanguage，HDL），而HDL也并非仅有一种，而是有许多种，如ABEL（Advanced BooleanExpression Language）、AHDL（Altera Hardware DescriptionLanguage）、Confluence、CUPL（Cornell UniversityProgramming Language）、HDCal、JHDL（Java Hardware Description Language）、Lava、Lola、MyHDL、PALASM、RHDL（RubyHardware DescriptionLanguage）等，目前最普遍使用的是VHDL（Very-High-SpeedIntegratedCircuit Hardware Description Language）与Verilog。本领域技术人员也应该清楚，只需要将方法流程用上述几种硬件描述语言稍作逻辑编程并编程到集成电路中，就可以很容易得到实现该逻辑方法流程的硬件电路。

控制器可以按任何适当的方式实现，例如，控制器可以采取例如微处理器或处理器以及存储可由该（微）处理器执行的计算机可读程序代码（例如软件或固件）的计算机可读介质、逻辑门、开关、专用集成电路（Application SpecificIntegrated Circuit，ASIC）、可编程逻辑控制器和嵌入微控制器的形式，控制器的例子包括但不限于以下微控制器：ARC625D、Atmel AT91SAM、Microchip PIC18F26K20 以及Silicone Labs C8051F320，存储器控制器还可以被实现为存储器的控制逻辑的一部分。本领域技术人员也知道，除了以纯计算机可读程序代码方式实现控制器以外，完全可以通过将方法步骤进行逻辑编程来使得控制器以逻辑门、开关、专用集成电路、可编程逻辑控制器和嵌入微控制器等的形式来实现相同功能。因此这种控制器可以被认为是一种硬件部件，而对其内包括的用于实现各种功能的装置也可以视为硬件部件内的结构。或者甚至，可以将用于实现各种功能的装置视为既可以是实现方法的软件模块又可以是硬件部件内的结构。

上述实施例阐明的系统、装置、模块或单元，具体可以由计算机芯片或实体实现，或者由具有某种功能的产品来实现。一种典型的实现设备为计算机。具体的，计算机例如可以为个人计算机、膝上型计算机、蜂窝电话、相机电话、智能电话、个人数字助理、媒体播放器、导航设备、电子邮件设备、游戏控制台、平板计算机、可穿戴设备或者这些设备中的任何设备的组合。

为了描述的方便，描述以上装置时以功能分为各种单元分别描述。当然，在实施本说明书时可以把各单元的功能在同一个或多个软件和/或硬件中实现。

本领域内的技术人员应明白，本说明书的实施例可提供为方法、系统、或计算机程序产品。因此，本说明书可采用完全硬件实施例、完全软件实施例、或结合软件和硬件方面的实施例的形式。而且，本说明书可采用在一个或多个其中包含有计算机可用程序代码的计算机可用存储介质（包括但不限于磁盘存储器、CD-ROM、光学存储器等）上实施的计算机程序产品的形式。

本说明书是参照根据本说明书实施例的方法、设备（系统）、和计算机程序产品的流程图和／或方框图来描述的。应理解可由计算机程序指令实现流程图和／或方框图中的每一流程和／或方框、以及流程图和／或方框图中的流程和／或方框的结合。可提供这些计算机程序指令到通用计算机、专用计算机、嵌入式处理机或其他可编程数据处理设备的处理器以产生一个机器，使得通过计算机或其他可编程数据处理设备的处理器执行的指令产生用于实现在流程图一个流程或多个流程和／或方框图一个方框或多个方框中指定的功能的装置。

这些计算机程序指令也可存储在能引导计算机或其他可编程数据处理设备以特定方式工作的计算机可读存储器中，使得存储在该计算机可读存储器中的指令产生包括指令装置的制造品，该指令装置实现在流程图一个流程或多个流程和／或方框图一个方框或多个方框中指定的功能。

这些计算机程序指令也可装载到计算机或其他可编程数据处理设备上，使得在计算机或其他可编程设备上执行一系列操作步骤以产生计算机实现的处理，从而在计算机或其他可编程设备上执行的指令提供用于实现在流程图一个流程或多个流程和／或方框图一个方框或多个方框中指定的功能的步骤。

在一个典型的配置中，计算设备包括一个或多个处理器(CPU)、输入/输出接口、网络接口和内存。

内存可能包括计算机可读介质中的非永久性存储器，随机存取存储器(RAM)和/或非易失性内存等形式，如只读存储器(ROM)或闪存(flash RAM)。内存是计算机可读介质的示例。

计算机可读介质包括永久性和非永久性、可移动和非可移动媒体可以由任何方法或技术来实现信息存储。信息可以是计算机可读指令、数据结构、程序的模块或其他数据。计算机的存储介质的例子包括，但不限于相变内存(PRAM)、静态随机存取存储器(SRAM)、动态随机存取存储器(DRAM)、其他类型的随机存取存储器(RAM)、只读存储器(ROM)、电可擦除可编程只读存储器(EEPROM)、快闪记忆体或其他内存技术、只读光盘只读存储器(CD-ROM)、数字多功能光盘(DVD)或其他光学存储、磁盒式磁带，磁带磁磁盘存储或其他磁性存储设备或任何其他非传输介质，可用于存储可以被计算设备访问的信息。按照本文中的界定，计算机可读介质不包括暂存电脑可读媒体(transitory media)，如调制的数据信号和载波。

还需要说明的是，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、商品或者设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、商品或者设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括一个……”限定的要素，并不排除在包括所述要素的过程、方法、商品或者设备中还存在另外的相同要素。

本领域技术人员应明白，本说明书的实施例可提供为方法、系统或计算机程序产品。因此，本说明书可采用完全硬件实施例、完全软件实施例或结合软件和硬件方面的实施例的形式。而且，本说明书可采用在一个或多个其中包含有计算机可用程序代码的计算机可用存储介质（包括但不限于磁盘存储器、CD-ROM、光学存储器等）上实施的计算机程序产品的形式。

本说明书可以在由计算机执行的计算机可执行指令的一般上下文中描述，例如程序模块。一般地，程序模块包括执行特定任务或实现特定抽象数据类型的例程、程序、对象、组件、数据结构等等。也可以在分布式计算环境中实践本说明书，在这些分布式计算环境中，由通过通信网络而被连接的远程处理设备来执行任务。在分布式计算环境中，程序模块可以位于包括存储设备在内的本地和远程计算机存储介质中。

本说明书中的各个实施例均采用递进的方式描述，各个实施例之间相同相似的部分互相参见即可，每个实施例重点说明的都是与其他实施例的不同之处。尤其，对于系统实施例而言，由于其基本相似于方法实施例，所以描述的比较简单，相关之处参见方法实施例的部分说明即可。

以上所述仅为本说明书的实施例而已，并不用于限制本说明书。对于本领域技术人员来说，本说明书可以有各种更改和变化。凡在本说明书的精神和原理之内所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本说明书的权利要求范围之内。

Claims (10)

1.一种芯片测试的方法，其特征在于，包括：

获取待测试芯片的序列号，并根据所述序列号，确定预先配置的测试参数；

根据所述测试参数，配置信号发射设备的电源参数；

根据所述测试参数和所述电源参数，控制所述信号发射设备发送测试信号，并接收信号接收设备返回的结果，以根据所述信号接收设备返回的结果，确定测试结果，并根据所述测试结果，更新所述序列号对应的测试参数。

2.根据权利要求1所述的芯片测试的方法，其特征在于，根据所述测试参数，配置信号发射设备的电源参数，具体包括：

根据所述测试参数，配置所述信号发送设备的所述电源参数的最小值、所述电源参数的最大值和电压测试步长。

3.根据权利要求2所述的芯片测试的方法，其特征在于，根据所述测试参数和所述电源参数，控制所述信号发射设备发送测试信号，具体包括：

根据所述电压测试步长、所述电源参数的最小值和所述电源参数的最大值，控制所述信号发射设备发送测试信号。

4.根据权利要求1所述的芯片测试的方法，其特征在于，所述测试参数包括：电源通道序号；

根据所述测试参数，配置信号发射设备的电源参数，具体包括：

根据所述电源通道序号，确定所述电源通道序号涉及的电源通道以及各电源通道的开启顺序；

根据所述测试参数和所述电源通道序号，配置信号发射设备涉及的各电源通道的电源参数。

5.根据权利要求1所述的芯片测试的方法，其特征在于，根据所述测试结果，更新所述序列号对应的测试参数，具体包括：

根据所述测试结果，判断是否需要存储所述测试结果；

若确定需要存储所述测试结果，则将所述测试结果存储至数据库中。

6.根据权利要求1所述的芯片测试的方法，其特征在于，所述方法还包括：

在用户输入关键词后，向用户展示涉及所述关键词的各测试结果。

7.根据权利要求1~6任一项所述的芯片测试的方法，其特征在于，所述测试参数涉及射频有源芯片。

8.一种芯片测试的装置，其特征在于，包括：

获取模块，用于获取待测试芯片的序列号，并根据所述序列号，确定预先配置的测试参数；

配置模块，用于根据所述测试参数，配置信号发射设备的电源参数；

发送模块，用于根据所述测试参数和所述电源参数，控制所述信号发射设备发送测试信号，并接收信号接收设备返回的结果，以根据所述信号接收设备返回的结果，确定测试结果，并根据所述测试结果，更新所述序列号对应的测试参数。

9.一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述存储介质存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现上述权利要求1~7任一项所述的芯片测试的方法。

10.一种电子设备，包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，其特征在于，所述处理器执行所述程序时实现上述权利要求1~7任一项所述的芯片测试的方法。

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