CN115825702B - 一种指纹芯片抗干扰测试装置 - Google Patents

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Abstract

本发明涉及测试设备技术领域,具体的公开了一种指纹芯片抗干扰测试装置,包括底盘、指纹芯片测试机、指纹芯片和测试电路板。本发明中第二电动滑块在螺旋导轨上沿螺旋导轨的开设轨迹进行螺旋运动,第二电动滑块在螺旋轨道上进行运动时,可通过调整第二电动滑块的行进速度,可使得第二电动滑块在螺旋导轨上进行时快时慢的叫错行进速度,进而使得第二电动滑块侧面第二滑杆上的滑套在第二滑杆上频繁发生横向滑动,进而对滑套的横向位置进行调整,并且滑套在第二滑杆上频繁滑动压缩第二弹簧,滑套在第二弹簧的弹性复位力的作用下增加在第二滑杆上横向滑动的幅度,进而更好的使得滑套外壁安装的电磁脉冲干扰器更好的调整其干扰位置。

Description

一种指纹芯片抗干扰测试装置
技术领域
本发明涉及测试设备技术领域,尤其涉及一种指纹芯片抗干扰测试装置。
背景技术
指纹芯片,是指内嵌指纹识别技术的芯片产品,能够片上实现指纹的图像采集、特征提取、特征比对的芯片,开发着可以方便的实现指纹识别的功能,大大降低了指纹识别行业的门槛,对指纹识别的推广具有十分积极的推动作用。
在指纹芯片的研发中,其指纹芯片的抗干扰性能一直是重要性能之一,通常需要对指纹芯片的抗干扰性能进行测试,如申请号为201820639162.3的中国专利,公开了一种指纹芯片抗干扰测试装置,包括测试机和表面多处镀铜的测试电路板,所述测试机与测试电路板电连接,测试电路板的每个镀铜处上设有用于电连接指纹芯片的导电胶,各镀铜处上的导电胶之间不相连,把整板指纹芯片放在导电胶上进行测试时,由于各镀铜处上的导电胶之间不相连,在按压整板指纹芯片后,各颗指纹芯片下的导电胶内的电流信号不会互相影响,故各个指纹芯片之间不会互相干扰,提高了测试精度;但上述该指纹芯片抗干扰测试装置在对指纹芯片进行抗干扰测试时,其干扰源的位置固定,造成对指纹芯片的抗干扰测试不全面,并且不能屏蔽外界电磁干扰信号,造成在测试指纹芯片的抗干扰性能时测试数据可能存在误差,因此,为了解决此类问题,我们提出了一种指纹芯片抗干扰测试装置。
发明内容
本发明的目的是为了解决现有技术中存在的缺点,而提出的一种指纹芯片抗干扰测试装置。
为了实现上述目的,本发明采用了如下技术方案:
一种指纹芯片抗干扰测试装置,包括底盘、指纹芯片测试机、指纹芯片和测试电路板,所述测试电路板安装在底盘上,指纹芯片安装在测试电路板上并与测试电路板电连接,底盘上通过安装柱连接有顶盘,指纹芯片测试机安装在顶盘上,且指纹芯片测试机与测试电路板电连接,底盘和顶盘之间设置有用于对指纹芯片进行屏蔽电磁信号的电磁信号屏蔽机构,顶盘底部设置有用于测试指纹芯片的干扰发生机构;
所述干扰发生机构包括开设在顶盘上的通孔,通孔内滑动安装有第一滑杆,第一滑杆顶端延伸至顶盘上方并连接有第一安装盘,第一安装盘与顶盘之间安装有第一弹簧,第一滑杆位于第一弹簧内圈,第一滑杆底端延伸至顶盘下方并连接有第二安装盘,第二安装盘底部安装有加热棒,加热棒底端安装有用于模拟人手指的模拟手指块,第一弹簧在自然状态下,第二安装盘上表面与顶盘底部相接触,加热棒外壁设置有用于产生干扰信号的信号干扰组件。
优选的,所述电磁信号屏蔽机构包括安装在安装柱外壁的导轨,导轨上滑动安装有第一电动滑块,顶盘底部安装有波纹护套,波纹护套底部固定有环形的密封环,第一电动滑块底部通过连接块与密封环顶部相连接,密封环上固定有喇叭盘,喇叭盘的环心处开设有开口,开口内安装有用于对指纹芯片进行限位的限位环,限位环内壁安装有一圈擦拭海绵,喇叭盘位于测试电路板上方,顶盘底部、喇叭盘顶部和波纹护套内壁均缝合有一层电磁屏蔽布。
优选的,所述信号干扰组件包括螺旋缠绕在加热棒外壁的螺旋导轨,螺旋导轨上滑动安装有第二电动滑块,第二电动滑块侧面安装有第二滑杆,第二滑杆端部固定有第三安装盘,第二滑杆上滑动套接有滑套,滑套与第三安装盘之间安装有第二弹簧,第二滑杆位于第二弹簧内圈,第二弹簧处于自然状态时,滑套位于第二滑杆中部,滑套外壁安装有用于产生电磁干扰信号的电磁脉冲干扰器,加热棒和电磁脉冲干扰器均位于波纹护套内。
优选的,所述第三安装盘远离滑套的一端安装有弹簧伸缩杆,弹簧伸缩杆的活塞杆末端安装有清洁毛刷头,清洁毛刷头的刷毛与波纹护套内壁相接触。
优选的,所述底盘上开设有形状与密封环相配合的安装槽,密封环上安装有若干个吊环,加热棒底端外壁固定套接有导热环,导热环与吊环之间连接有若干根铜丝绳,密封环位于安装槽内时,铜丝绳处于绷紧状态,且加热棒底端安装的模拟手指块与指纹芯片相接触。
优选的,所述密封环上开设有环形的集尘槽,集尘槽位于波纹护套与吊环之间,铜丝绳位于喇叭盘上方。
优选的,所述第三安装盘外壁固定有橡胶棒,橡胶棒底端连接有击打布条,击打布条与铜丝绳相接触,滑套外壁安装有扇叶。
优选的,所述导轨两端均安装有限位块,限位块固定在安装柱侧面,连接块顶端固接在第一电动滑块底部,连接块底部固接在密封环顶部。
优选的,所述螺旋导轨位于导热环上方,加热棒外壁开设有若干个散热孔,
优选的,所述底盘上开设有用于安装测试电路板的固定槽,测试电路板安装在固定槽内,测试电路板位于波纹护套内,底盘上开设有若干个安装孔,安装孔位于波纹护套外侧。
与现有技术相比,本发明的有益效果是:
1:本发明中第二电动滑块在螺旋导轨上沿螺旋导轨的开设轨迹进行螺旋运动,第二电动滑块在螺旋轨道上进行运动时,可通过调整第二电动滑块的行进速度,可使得第二电动滑块在螺旋导轨上进行时快时慢的叫错行进速度,进而使得第二电动滑块侧面第二滑杆上的滑套在第二滑杆上频繁发生横向滑动,进而对滑套的横向位置进行调整,并且滑套在第二滑杆上频繁滑动压缩第二弹簧,滑套在第二弹簧的弹性复位力的作用下增加在第二滑杆上横向滑动的幅度,进而更好的使得滑套外壁安装的电磁脉冲干扰器更好的调整其干扰位置。
2:本发明中第二电动滑块在螺旋导轨上进行螺旋运动,其第二电动滑块的高度位置也是随时变化的,进而使得滑套的高度位置和横向位置随时发生变化,进而使得滑套外壁安装的电磁脉冲干扰器的干扰角度和与指纹芯片之间的干扰距离随时发生变化,进而可对指纹芯片在受到不同高度、不同角度和不同间距的电磁脉冲干扰的情况下的抗干扰性能进行测试,进而解决传统在对指纹芯片进行抗干扰测试时因干扰源的位置、高度和与指纹芯片之间的间距固定而测试不全面的问题。
3:本发明中加热棒可对顶盘与喇叭盘之间的空气进行加热干燥,保证顶盘与喇叭盘之间的空气的干燥性,避免其空气中存在潮湿空气而造成潮湿空气中的水分子影响测试精度,并且第二滑杆在跟对第二电动滑块运动时,带动弹簧伸缩杆和清洁毛刷头运动,利用弹簧伸缩杆的弹性伸出和回缩作用可使得清洁毛刷头的清洁刷毛始终与波纹护套内壁相接触,并且随着第二滑杆的螺旋运动使得清洁毛刷头螺旋对波纹护套内壁进行清扫去除灰尘,保证波纹护套内壁的洁净性,避免波纹护套内壁粘附灰尘影响波纹护套内壁缝合的屏蔽布的屏蔽效果。
4:本发明中利用波纹护套内壁、顶盘底部和喇叭盘顶部的屏蔽布将波纹护套内的电磁脉冲干扰器与外界隔绝,避免外界设备中产生的电磁脉冲影响波纹护套内的电磁脉冲干扰器正常产生的电磁脉冲,避免外界设备中产生的电磁脉冲影响波纹护套内进行抗干扰测试时干扰源的精确性,进而避免波纹护套内的指纹芯片在进行抗干扰测试时的测试精度,解决传统在对指纹芯片进行抗干扰测试时外界设备存在电磁干扰信号造成测试指纹芯片抗干扰性能时存在误差的问题。
附图说明
图1为本发明提出的一种指纹芯片抗干扰测试装置的轴测图;
图2为图1中A部的局部放大图;
图3为本发明提出的一种指纹芯片抗干扰测试装置的轴测图;
图4为本发明提出的一种指纹芯片抗干扰测试装置的局部剖视图;
图5为图4中B部的局部放大图;
图6为本发明提出的一种指纹芯片抗干扰测试装置的局部剖视图;
图7为本发明提出的一种指纹芯片抗干扰测试装置的底盘与安装柱的连接示意图;
图8为图7中C部的局部放大图;
图9为本发明提出的一种指纹芯片抗干扰测试装置的加热棒与螺旋导轨的连接示意图;
图10为本发明提出的一种指纹芯片抗干扰测试装置的底盘的结构示意图;
图11为本发明提出的一种指纹芯片抗干扰测试装置的底盘与密封环的连接示意图;
图12为本发明提出的一种指纹芯片抗干扰测试装置的喇叭盘的结构示意图;
图13为本发明提出的一种指纹芯片抗干扰测试装置的喇叭盘与限位环的连接示意图。
图中:1、底盘;2、波纹护套;3、安装柱;4、顶盘;5、指纹芯片测试机;6、第一安装盘;7、第一弹簧;8、第一滑杆;9、导轨;10、第一电动滑块;11、连接块;12、密封环;13、第二安装盘;14、加热棒;15、螺旋导轨;16、导热环;17、模拟手指块;18、指纹芯片;19、限位环;20、喇叭盘;21、击打布条;22、铜丝绳;23、第二电动滑块;24、第二滑杆;25、滑套;26、扇叶;27、第二弹簧;28、第三安装盘;29、弹簧伸缩杆;30、清洁毛刷头;31、橡胶棒;32、集尘槽;33、吊环;34、安装槽;35、测试电路板。
具体实施方式
下面将结合本发明实施例中的附图,对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例,而不是全部的实施例。
参照图1-13,一种指纹芯片抗干扰测试装置,包括底盘1、指纹芯片测试机5、指纹芯片18和测试电路板35,测试电路板35安装在底盘1上,指纹芯片18安装在测试电路板35上并与测试电路板35电连接,底盘1上通过安装柱3连接有顶盘4,指纹芯片测试机5安装在顶盘4上,且指纹芯片测试机5与测试电路板35电连接,底盘1和顶盘4之间设置有用于对指纹芯片18进行屏蔽电磁信号的电磁信号屏蔽机构,顶盘4底部设置有用于测试指纹芯片的干扰发生机构;
干扰发生机构包括开设在顶盘4上的通孔,通孔内滑动安装有第一滑杆8,第一滑杆8顶端延伸至顶盘4上方并连接有第一安装盘6,第一安装盘6与顶盘4之间安装有第一弹簧7,第一滑杆8位于第一弹簧7内圈,第一滑杆8底端延伸至顶盘4下方并连接有第二安装盘13,第二安装盘13底部安装有加热棒14,加热棒14底端安装有用于模拟人手指的模拟手指块17,第一弹簧7在自然状态下,第二安装盘13上表面与顶盘4底部相接触,加热棒14外壁设置有用于产生干扰信号的信号干扰组件。
作为本发明的一种技术优化方案,电磁信号屏蔽机构包括安装在安装柱3外壁的导轨9,导轨9上滑动安装有第一电动滑块10,顶盘4底部安装有波纹护套2,波纹护套2底部固定有环形的密封环12,第一电动滑块10底部通过连接块11与密封环12顶部相连接,密封环12上固定有喇叭盘20,喇叭盘20的环心处开设有开口,开口内安装有用于对指纹芯片18进行限位的限位环19,限位环19内壁安装有一圈擦拭海绵,喇叭盘20位于测试电路板35上方,顶盘4底部、喇叭盘20顶部和波纹护套2内壁均缝合有一层电磁屏蔽布,利用波纹护套2内壁、顶盘4底部和喇叭盘20顶部的屏蔽布将波纹护套2内的电磁脉冲干扰器与外界隔绝,避免外界设备中产生的电磁脉冲影响波纹护套2内的电磁脉冲干扰器正常产生的电磁脉冲,避免外界设备中产生的电磁脉冲影响波纹护套2内进行抗干扰测试时干扰源的精确性。
作为本发明的一种技术优化方案,信号干扰组件包括螺旋缠绕在加热棒14外壁的螺旋导轨15,螺旋导轨15上滑动安装有第二电动滑块23,第二电动滑块23侧面安装有第二滑杆24,第二滑杆24端部固定有第三安装盘28,第二滑杆24上滑动套接有滑套25,滑套25与第三安装盘28之间安装有第二弹簧27,第二滑杆24位于第二弹簧27内圈,第二弹簧27处于自然状态时,滑套25位于第二滑杆24中部,滑套25外壁安装有用于产生电磁干扰信号的电磁脉冲干扰器,加热棒14和电磁脉冲干扰器均位于波纹护套2内,加热棒14可对顶盘4与喇叭盘20之间的空气进行加热干燥,保证顶盘4与喇叭盘20之间的空气的干燥性,避免其空气中存在潮湿空气而造成潮湿空气中的水分子影响测试精度。
作为本发明的一种技术优化方案,第三安装盘28远离滑套25的一端安装有弹簧伸缩杆29,弹簧伸缩杆29的活塞杆末端安装有清洁毛刷头30,清洁毛刷头30的刷毛与波纹护套2内壁相接触,随着第二滑杆24的螺旋运动使得清洁毛刷头30螺旋对波纹护套2内壁进行清扫去除灰尘,保证波纹护套2内壁的洁净性,避免波纹护套2内壁粘附灰尘影响波纹护套2内壁缝合的屏蔽布的屏蔽效果。
作为本发明的一种技术优化方案,底盘1上开设有形状与密封环12相配合的安装槽34,密封环12上安装有若干个吊环33,加热棒14底端外壁固定套接有导热环16,导热环16与吊环33之间连接有若干根铜丝绳22,密封环12位于安装槽34内时,铜丝绳22处于绷紧状态,且加热棒14底端安装的模拟手指块17与指纹芯片18相接触。
作为本发明的一种技术优化方案,密封环12上开设有环形的集尘槽32,集尘槽32位于波纹护套2与吊环33之间,铜丝绳22位于喇叭盘20上方,集尘槽32可便于清洁毛刷头30清刷波纹护套2内壁时掉落的灰尘进行收集。
作为本发明的一种技术优化方案,第三安装盘28外壁固定有橡胶棒31,橡胶棒31底端连接有击打布条21,击打布条21与铜丝绳22相接触,滑套25外壁安装有扇叶26,铜丝绳22在受到击打布条21击打产生震动时,因铜丝绳22此时处于绷紧状态,可使得加热棒14底部的模拟手指块17在受到铜丝绳22的震动下产生一定的震动而发生轻微偏移或者共振现象,进而更好的模仿人手进行指纹解锁时指纹芯片18,进而更好的测试指纹芯片18在进行指纹解锁时的抗干扰性能和各项数据。
作为本发明的一种技术优化方案,导轨9两端均安装有限位块,限位块固定在安装柱3侧面,连接块11顶端固接在第一电动滑块10底部,连接块11底部固接在密封环12顶部,限位块可对第一电动滑块10的提供一定的限位作用,避免第一电动滑块10与导轨9之间发生脱离现象。
作为本发明的一种技术优化方案,螺旋导轨15位于导热环16上方,加热棒14外壁开设有若干个散热孔,加热棒14外壁开设的散热孔可更好的使得加热棒14产生的热量传递至空气中,可更好的对顶盘4和喇叭盘20之间的空气进行干燥或者模拟夏季高温对空气进行升温操作,
作为本发明的一种技术优化方案,底盘1上开设有用于安装测试电路板35的固定槽,测试电路板35安装在固定槽内,测试电路板35位于波纹护套2内,底盘1上开设有若干个安装孔,安装孔位于波纹护套2外侧,固定槽可便于安装测试电路板35,为测试电路板35提供一定的限位租用,避免测试电路板35在底盘1上发生滑动偏移现象而影响对指纹芯片18进行抗干扰测试的正常进行。
本发明在使用时,将测试电路板35安装在底盘1上,再将指纹芯片18安装在测试电路板35上,并使得指纹芯片18与测试电路板35电连接,再将测试电路板35与指纹芯片测试机5电连接。
启动第一电动滑块10,第一电动滑块10在导轨9上向下滑动,第一电动滑块10向下滑动带动连接块11和密封环12向下运动,密封环12向下运动带动波纹护套2向下运动,直至密封环12下移至底盘1上开设的安装槽34内,此时利用波纹护套2内壁、顶盘4底部和喇叭盘20顶部的屏蔽布将波纹护套2内的电磁脉冲干扰器与外界隔绝,避免外界设备中产生的电磁脉冲影响波纹护套2内的电磁脉冲干扰器正常产生的电磁脉冲,避免外界设备中产生的电磁脉冲影响波纹护套2内进行抗干扰测试时干扰源的精确性,进而避免波纹护套2内的指纹芯片在进行抗干扰测试时的测试精度,解决传统在对指纹芯片18进行抗干扰测试时外界设备存在电磁干扰信号造成测试指纹芯片18抗干扰性能时存在误差的问题。
并且,密封环12在下移过程中通过铜丝绳22拉动导热环16下移,导热环16拉动加热棒14下移,加热棒14下移带动加热棒14底部的模拟手指块17下移,并且在密封环12刚好下移至底盘1上开设的安装槽34内时,密封环12刚好通过铜丝绳22拉动导热环16和加热棒14底部的模拟手指块17下移至模拟手指块17刚好与指纹芯片18接触,利用模拟手指块17模拟现实中人手进行指纹解锁的场景,并且同时开启滑套25外壁安装的电磁脉冲干扰器进行干扰,测试电路板35将指纹芯片在被干扰的情况下进行指纹解锁过程中的各项数据传递给指纹芯片测试机5,进而对指纹芯片18的抗干扰性能进行测试。
在密封环12下移至底盘1上开设的安装槽34内时,密封环12上安装的喇叭盘20上的限位环19刚好将指纹芯片18插入限位环19内,利用限位环19对指纹芯片18提供限位作用,避免指纹芯片18在进行抗干扰测试过程中发生滑动偏移现象,并且限位环19内壁的擦拭海绵可对指纹芯片18外表面进行一定的擦拭,保证指纹芯片18外表面的洁净性,避免指纹芯片18外表面存在灰尘而影响指纹芯片18进行抗干扰测试时的精度,并且利用擦拭海绵可为指纹芯片18提供一个柔性限位,避免限位环19与指纹芯片18产生刚性摩擦而造成指纹芯片18的损坏,提高对指纹芯片18的保护性。
并且在电磁脉冲干扰器开启对指纹芯片18进行干扰时,可同时启动第二电动滑块23,第二电动滑块23在螺旋导轨15上沿螺旋导轨15的开设轨迹进行螺旋运动,第二电动滑块23在螺旋轨道15上进行运动时,可通过调整第二电动滑块23的行进速度,可使得第二电动滑块23在螺旋导轨15上进行时快时慢的叫错行进速度,进而使得第二电动滑块23侧面第二滑杆24上的滑套25在第二滑杆24上频繁发生横向滑动,进而对滑套25的横向位置进行调整,并且滑套25在第二滑杆24上频繁滑动压缩第二弹簧27,滑套25在第二弹簧27的弹性复位力的作用下增加在第二滑杆24上横向滑动的幅度,进而更好的使得滑套25外壁安装的电磁脉冲干扰器更好的调整其干扰位置,并且第二电动滑块23在螺旋导轨15上进行螺旋运动,其第二电动滑块23的高度位置也是随时变化的,进而使得滑套25的高度位置和横向位置随时发生变化,进而使得滑套25外壁安装的电磁脉冲干扰器的干扰角度和与指纹芯片18之间的干扰距离随时发生变化,进而可对指纹芯片18在受到不同高度、不同角度和不同间距的电磁脉冲干扰的情况下的抗干扰性能进行测试,进而解决传统在对指纹芯片18进行抗干扰测试时因干扰源的位置、高度和与指纹芯片18之间的间距固定而测试不全面的问题。
并且在对指纹芯片18进行抗干扰测试时,可同时启动加热棒14,加热棒14可对顶盘4与喇叭盘20之间的空气进行加热干燥,保证顶盘4与喇叭盘20之间的空气的干燥性,避免其空气中存在潮湿空气而造成潮湿空气中的水分子影响测试精度,并且第二滑杆24在跟对第二电动滑块23运动时,带动弹簧伸缩杆29和清洁毛刷头30运动,利用弹簧伸缩杆29的弹性伸出和回缩作用可使得清洁毛刷头30的清洁刷毛始终与波纹护套2内壁相接触,并且随着第二滑杆24的螺旋运动使得清洁毛刷头30螺旋对波纹护套2内壁进行清扫去除灰尘,保证波纹护套2内壁的洁净性,避免波纹护套2内壁粘附灰尘影响波纹护套2内壁缝合的屏蔽布的屏蔽效果。
加热棒14产生的热量可通过加热棒14外壁的散热孔快速散发至顶盘4与喇叭盘20之间的空间中对其中的空气进行干燥,并且加热棒14可将产生的热量通过导热环16传递给铜丝绳22,利用铜丝绳22本身铜属性的良好导热性能将加热棒14产生的热量快速传递至顶盘4与喇叭盘20之间的空气中,进而快速对顶盘4与喇叭盘20之间的空气进行干燥,并且可便于对不同温度下的指纹芯片18的抗干扰性能进行测试,可模拟指纹芯片18在炎热夏季经受太阳烘烤温度升高,进而模拟指纹芯片18在夏季经受高温后对其抗干扰性能进行测试,可度指纹芯片18进行多方面测试;并且第二滑杆24在螺旋运动中可带动扇叶26旋转对顶盘4与喇叭盘20之间的空气进行扇动,进而使得对顶盘4与喇叭盘20之间的空气进行混合,使得加热棒14产生的热量均匀散发至顶盘4与喇叭盘20之间的空气中,保证加热棒14在对顶盘4和喇叭盘20之间的空气进行加热或者干燥时的均匀全面性。
第二滑杆24在螺旋运动中,可带动橡胶棒31螺旋运动,橡胶棒31螺旋运动带动击打布条21螺旋摆动对铜丝绳22进行碰撞,进而可使得绷紧状态的铜丝绳22产生震颤,可使得在利用铜丝绳22对顶盘4与喇叭盘20之间的空气进行干燥或者模拟夏季指纹芯片18经受高温时将铜丝绳22的热量更好的传递至空气中,提高导热效率,并且铜丝绳22在受到击打产生震动时,因铜丝绳22此时处于绷紧状态,可使得加热棒14底部的模拟手指块17在受到铜丝绳22的震动下产生一定的震动而发生轻微偏移或者共振现象,进而更好的模仿人手进行指纹解锁时指纹芯片18,进而更好的测试指纹芯片18在进行指纹解锁时的抗干扰性能和各项数据。
当对指纹芯片18的抗干扰测试完毕后,启动第一电动滑块10,第一电动滑块10通过连接块11带动密封环12上移,密封环12上移使得波纹护套2上移,进而带动喇叭盘20上移与指纹芯片18脱开,此时可便于将指纹芯片18和测试电路板35自底盘1上取出,密封环12上移后,铜丝绳22由绷紧状态转化为松弛状态,因第一弹簧7在自然状态下第二安装盘13上表面与顶盘4底部接触,从而使得加热棒14带动模拟手指块17自动上移脱开与指纹芯片18之间的接触,并且通过喇叭盘20和波纹护套2的配合使用,可将加热棒14、铜丝绳22等部件密封在波纹护套2、喇叭盘20和顶盘4之间,避免外界灰尘进入,同时利用波纹护套2还可对其内的部件提供一定的防护作用。
以上所述,仅为本发明较佳的具体实施方式,但本发明的保护范围并不局限于此,任何熟悉本技术领域的技术人员在本发明揭露的技术范围内,根据本发明的技术方案及其发明构思加以等同替换或改变,都应涵盖在本发明的保护范围之内。

Claims (8)

1.一种指纹芯片抗干扰测试装置,包括底盘(1)、指纹芯片测试机(5)、指纹芯片(18)和测试电路板(35),其特征在于,所述测试电路板(35)安装在底盘(1)上,指纹芯片(18)安装在测试电路板(35)上并与测试电路板(35)电连接,底盘(1)上通过安装柱(3)连接有顶盘(4),指纹芯片测试机(5)安装在顶盘(4)上,且指纹芯片测试机(5)与测试电路板(35)电连接,底盘(1)和顶盘(4)之间设置有用于对指纹芯片(18)进行屏蔽电磁信号的电磁信号屏蔽机构,顶盘(4)底部设置有用于测试指纹芯片的干扰发生机构;
所述干扰发生机构包括开设在顶盘(4)上的通孔,通孔内滑动安装有第一滑杆(8),第一滑杆(8)顶端延伸至顶盘(4)上方并连接有第一安装盘(6),第一安装盘(6)与顶盘(4)之间安装有第一弹簧(7),第一滑杆(8)位于第一弹簧(7)内圈,第一滑杆(8)底端延伸至顶盘(4)下方并连接有第二安装盘(13),第二安装盘(13)底部安装有加热棒(14),加热棒(14)底端安装有用于模拟人手指的模拟手指块(17),第一弹簧(7)在自然状态下,第二安装盘(13)上表面与顶盘(4)底部相接触,加热棒(14)外壁设置有用于产生干扰信号的信号干扰组件;
所述电磁信号屏蔽机构包括安装在安装柱(3)外壁的导轨(9),导轨(9)上滑动安装有第一电动滑块(10),顶盘(4)底部安装有波纹护套(2),波纹护套(2)底部固定有环形的密封环(12),第一电动滑块(10)底部通过连接块(11)与密封环(12)顶部相连接,密封环(12)上固定有喇叭盘(20),喇叭盘(20)的环心处开设有开口,开口内安装有用于对指纹芯片(18)进行限位的限位环(19),限位环(19)内壁安装有一圈擦拭海绵,喇叭盘(20)位于测试电路板(35)上方,顶盘(4)底部、喇叭盘(20)顶部和波纹护套(2)内壁均缝合有一层电磁屏蔽布;
所述信号干扰组件包括螺旋缠绕在加热棒(14)外壁的螺旋导轨(15),螺旋导轨(15)上滑动安装有第二电动滑块(23),第二电动滑块(23)侧面安装有第二滑杆(24),第二滑杆(24)端部固定有第三安装盘(28),第二滑杆(24)上滑动套接有滑套(25),滑套(25)与第三安装盘(28)之间安装有第二弹簧(27),第二滑杆(24)位于第二弹簧(27)内圈,第二弹簧(27)处于自然状态时,滑套(25)位于第二滑杆(24)中部,滑套(25)外壁安装有用于产生电磁干扰信号的电磁脉冲干扰器,加热棒(14)和电磁脉冲干扰器均位于波纹护套(2)内。
2.根据权利要求1所述的一种指纹芯片抗干扰测试装置,其特征在于,所述第三安装盘(28)远离滑套(25)的一端安装有弹簧伸缩杆(29),弹簧伸缩杆(29)的活塞杆末端安装有清洁毛刷头(30),清洁毛刷头(30)的刷毛与波纹护套(2)内壁相接触。
3.根据权利要求2所述的一种指纹芯片抗干扰测试装置,其特征在于,所述底盘(1)上开设有形状与密封环(12)相配合的安装槽(34),密封环(12)上安装有若干个吊环(33),加热棒(14)底端外壁固定套接有导热环(16),导热环(16)与吊环(33)之间连接有若干根铜丝绳(22),密封环(12)位于安装槽(34)内时,铜丝绳(22)处于绷紧状态,且加热棒(14)底端安装的模拟手指块(17)与指纹芯片(18)相接触。
4.根据权利要求3所述的一种指纹芯片抗干扰测试装置,其特征在于,所述密封环(12)上开设有环形的集尘槽(32),集尘槽(32)位于波纹护套(2)与吊环(33)之间,铜丝绳(22)位于喇叭盘(20)上方。
5.根据权利要求4所述的一种指纹芯片抗干扰测试装置,其特征在于,所述第三安装盘(28)外壁固定有橡胶棒(31),橡胶棒(31)底端连接有击打布条(21),击打布条(21)与铜丝绳(22)相接触,滑套(25)外壁安装有扇叶(26)。
6.根据权利要求5所述的一种指纹芯片抗干扰测试装置,其特征在于,所述导轨(9)两端均安装有限位块,限位块固定在安装柱(3)侧面,连接块(11)顶端固接在第一电动滑块(10)底部,连接块(11)底部固接在密封环(12)顶部。
7.根据权利要求6所述的一种指纹芯片抗干扰测试装置,其特征在于,所述螺旋导轨(15)位于导热环(16)上方,加热棒(14)外壁开设有若干个散热孔。
8.根据权利要求1所述的一种指纹芯片抗干扰测试装置,其特征在于,所述底盘(1)上开设有用于安装测试电路板(35)的固定槽,测试电路板(35)安装在固定槽内,测试电路板(35)位于波纹护套(2)内,底盘(1)上开设有若干个安装孔,安装孔位于波纹护套(2)外侧。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN117007895B (zh) * 2023-10-07 2024-01-16 成都汉芯国科集成技术有限公司 一种毫米波抗干扰测试治具及测试工装总成
CN117214673B (zh) * 2023-11-07 2024-03-08 蓝芯存储技术(赣州)有限公司 芯片的测试方法、装置、设备和存储介质

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2017185247A1 (zh) * 2016-04-27 2017-11-02 深圳市汇顶科技股份有限公司 芯片测试方法及装置
CN106415294A (zh) * 2016-07-19 2017-02-15 深圳市汇顶科技股份有限公司 感应模组的测试方法及测试装置
US9971930B2 (en) * 2016-10-14 2018-05-15 Fingerprint Cards Ab Test module for a fingerprint sensing device
WO2018152662A1 (zh) * 2017-02-21 2018-08-30 深圳市汇顶科技股份有限公司 用于测试指纹芯片的装置和方法
CN207249057U (zh) * 2017-08-07 2018-04-17 广东利扬芯片测试股份有限公司 一种用于测试指纹芯片的测试装置
CN207249056U (zh) * 2017-08-07 2018-04-17 广东利扬芯片测试股份有限公司 指纹芯片测试装置
CN208140822U (zh) * 2018-04-28 2018-11-23 上海利扬创芯片测试有限公司 一种指纹芯片抗干扰测试装置
CN209417229U (zh) * 2018-12-19 2019-09-20 广西桂芯半导体科技有限公司 一种用于测试指纹芯片的测试装置
CN209656852U (zh) * 2019-02-28 2019-11-19 华芯智造微电子(重庆)股份有限公司 一种指纹芯片抗干扰测试装置
CN114019352B (zh) * 2021-10-25 2024-02-09 深圳贝特莱电子科技股份有限公司 一种电容式指纹识别芯片大板ft测试系统及测试方法
CN217305355U (zh) * 2022-02-22 2022-08-26 深圳市耀星微电子有限公司 一种芯片抗干扰测试装置

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