CN115825108A - 一种pcb电路板的aoi检测设备及检测方法 - Google Patents
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- CN115825108A CN115825108A CN202310102354.6A CN202310102354A CN115825108A CN 115825108 A CN115825108 A CN 115825108A CN 202310102354 A CN202310102354 A CN 202310102354A CN 115825108 A CN115825108 A CN 115825108A
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Abstract
本发明公开了一种PCB电路板的AOI检测设备及检测方法,涉及AOI检测技术领域,包括检测端;在设备底座的工作面上安置有调节组件,包括检测板,所述检测板沿着外套筒长度方向移动及翻转;PCB电路板安放在检测板的表面,检测时,将检测板调整至检测端的下方;所述清理组件包括第二电机,第二电机输出端处同轴转动有第二传动杆,第二传动杆远离第二电机的一端连接有扇叶,在第二传动杆的一侧设置有摆动件,使扇叶在第二电机一侧上下摆动,使扇叶输出气流流经检测端或者检测板的表面;对PCB电路板进行重复检测,相互验证,避免检测产生误差或者检测错误,从而提高对PCB电路板检测成功率;对PCB电路板的不同角度形成检测,增加检测端检测效率。
Description
技术领域
本发明涉及AOI检测技术领域,具体为一种PCB电路板的AOI检测设备及检测方法。
背景技术
AOI检测设备又名AOI光学自动检测设备,现已成为电子制造业确保产品质量的重要检测工具和过程质量控制工具,当其自动检测时,通过高清CCD摄像头自动扫描PCBA产品,采集图像,测试的检测点与数据库中的合格的参数进行比较,经过图像处理,检查出目标产品上的缺陷,并通过显示器或自动标志把缺陷标示出来, 供维修人员修整和SMT工程人员改善工艺。
但是AOI检测设备的检测端,也即是高清CCD摄像头,在长期使用之后,表面会沾染灰尘,最终形成遮挡,而PCB电路板上也可能会因为各种原因形成沾染上一定的灰尘;这些原因都有可能对PCB电路板的检测结果造成干扰,使PCB电路板的合格率与真实结果存在一定的差异。
为此,提供了一种PCB电路板的AOI检测设备及检测方法。
发明内容
(一)解决的技术问题
针对现有技术的不足,本发明提供了一种PCB电路板的AOI检测设备及检测方法,通过在PCB电路板安放在检测板的表面,检测时,将检测板调整至检测端的下方;还包括清理组件,所述清理组件包括第二电机,第二电机输出端处同轴转动有第二传动杆,第二传动杆远离第二电机的一端连接有扇叶,在第二传动杆的一侧设置有摆动件,使扇叶在第二电机一侧上下摆动,使扇叶输出气流流经检测端或者检测板的表面;对PCB电路板进行重复检测,相互验证,避免检测产生误差或者检测错误,从而提高对PCB电路板检测成功率;对PCB电路板的不同角度形成检测,增加检测端检测效率,解决了背景技术中问题。
(二)技术方案
为实现以上目的,本发明通过以下技术方案予以实现:
一种PCB电路板的AOI检测设备,包括检测设备本体,所述检测设备本体包括位于下方的设备底座及设置于设备底座上方的设备机架,在设备机架的长度方向设置有检测端;在设备底座的工作面上安置有调节组件,调节组件包括横向设置有第一传动杆,沿着第一传动杆长度方向设置有检测板,所述检测板沿着外套筒长度方向移动及翻转;PCB电路板安放在检测板的表面,检测时,将检测板调整至检测端的下方;
所述清理组件包括第二电机,第二电机输出端处同轴转动有第二传动杆,第二传动杆远离第二电机的一端连接有扇叶,在第二传动杆的一侧设置有摆动件,使扇叶在第二电机一侧上下摆动,使扇叶输出气流流经检测端或者检测板的表面;
还包括瑕疵判断单元、灰尘检测单元、遮挡检测单元、分析处理单元及控制单元;在检测端完成对PCB电路板完成后,由瑕疵判断单元确定当前的PCB电路板的是否合格,如果不合格,由灰尘检测单元对位于检测板上方的PCB电路板表面粘附的灰尘进行检测,确定灰尘在PCB电路板表面的覆盖面积Fm;由遮挡检测单元对检测端镜头上的遮挡物形成检测,确定检测端镜头表面遮挡物的面积,形成遮挡面积Zm;获取遮挡面积Zm及覆盖面积Fm,建立检测阻碍数据集;
将阻碍数据集发送至分析处理单元,由分析处理单元基于阻碍数据集中的检测数据,分析检测端对PCB电路板进行检测时,是否遭到较大干扰;如果存在,确定干扰来源及相应的清理策略;将清理策略发送至控制单元,形成第一控制指令,对调节组件形成控制,完成对干扰源进行清理;完成清理后,形成第二控制指令,对清理组件形成控制,使检测端对PCB电路板再次形成检测;由瑕疵判断单元再次获取检测结果并输出。
进一步的,所述调节组件包括第一电机,在第一电机输出端与检测板之间设置有传动件,对检测板的姿态形成调整;传动件包括与第一电机输出端同轴转动的第一传动杆,第一传动杆的外部套接有外套筒;在外套筒的一侧设置有低第一限制件及第二限制件,第一限制件配合第二限制件,使检测板沿着第一传动杆的长度方向上来回移动。
进一步的,所述第二限制件包括两个平行设置于外套筒下方的齿轮,齿轮转动设置于外套筒的下方,在外套筒的下方还设置有链条,链条将两个齿轮容纳在内部,并与两个齿轮相啮合。
进一步的,所述第一限制件包括开设于外套筒外部的往复槽线,在链条的表面设置有若干个限位滑块,限位滑块与往复槽线相配合,使链条发生转动;在所述链条的表面设置有安装板,在安装板的表面嵌合有第三电机,第三电机的输出端与检测板可拆卸连接,在第三电机输出动力的条件下,使检测板形成翻转。
进一步的,所述摆动件包括设置于第二电机一侧的安装条,在安装条的上下两端分别活动连接有第二连接件及第一连接件;所述第一连接件呈工字型,具有位于上方的长端及位于下方的短端,长端与短端之间连接有中间端,所述短端套设于第二传动杆的外部。
进一步的,在所述第二传动杆远离第二电机的一端外部套接有蜗杆,蜗杆的上方啮合有蜗轮,第一连接件的长端的顶端与安装条的底端活动连接,第一连接件的长端底端与蜗轮的轴心处活动连接;所述第二连接件底端延伸蜗轮的一侧并铰接有第三连接件,第三连接件远离第二连接件的一端延伸至位于蜗轮轴心处的第一连接件的长端末端表面,并与其活动连接。
进一步的,所述分析处理单元包括评估模块、判断模块、分析模块及路径检测模块,其中,
将阻碍数据集发送至评估模块,由评估模块获取遮挡面积Zm及覆盖面积Fm,进行无量纲化处理后,关联获取对干扰评价值Pt,对PCB电路板在检测时受到的干扰程度进行评价;干扰评价值Pt的获取方法符合如下公式:其中,参数意义为:遮挡因子Az,,覆盖因子Af,,为常数修正系数。
进一步的,将干扰评价值Pt发送至判断模块,与相应阈值进行对比,如果干扰评价值Pt大于相应阈值时,由判断模块形成判断结果;在干扰评价值Pt大于相应阈值时,由分析模块确定遮挡面积Zm及覆盖面积Fm中大于阈值的部分;如果遮挡面积Zm大于相应阈值,由路径检测模块分别确定检测端及扇叶的移动路径,在检测端向扇叶靠近时,摆动扇叶,使扇叶输出流经检测端表面的气流,从而对检测端的清理。
进一步的,在覆盖面积Fm大于相应阈值时,由路径检测模块分别确定搭载有PCB电路板的检测板及扇叶的运行轨迹;在检测板向扇叶处靠近时,使检测板向扇叶处摆动,扇叶输出向检测板表面的气流,对检测板表面的PCB电路板形成清理;在清理组件对检测端及检测板表面的电路板中至少一个形成清理后,使PCB电路板重新经检测端的下方,重新完成检测;由瑕疵判断单元输出检测结果。
一种PCB电路板的AOI检测方法,包括如下步骤:
步骤一、将PCB电路板安放在检测板的表面,将检测板调整至检测端的下方,由检测端对PCB电路板形成初步检测,获取检测结果并由瑕疵判断单元输出;
步骤二、在初步检测结果不达标时,由灰尘检测单元配合遮挡检测单元,获取遮挡面积Zm及覆盖面积Fm,建立检测阻碍数据集;
步骤三、基于检测阻碍数据集,将阻碍数据集发送至分析处理单元,由分析处理单元基于阻碍数据集中的检测数据,判断检测端对PCB电路板进行检测时,是否遭到较大干扰;如果存在,确定干扰来源及相应的清理策略;
步骤四、将清理策略发送至控制单元,形成第一控制指令,对调节组件形成控制,完成对干扰源进行清理;
步骤五、完成清理后,由控制单元形成第二控制指令,对清理组件形成控制,调整PCB电路板姿态,使检测端对PCB电路板再次形成检测;
由瑕疵判断单元再次获取检测结果并输出。
(三)有益效果
本发明提供了一种PCB电路板的AOI检测设备及检测方法,具备以下有益效果:
利用检测板沿着检测端的长度方向来回移动,对PCB电路板进行重复检测,相互验证,避免检测产生误差或者检测错误,从而提高对PCB电路板检测成功率;在安装板移动的同时,利用第三电机驱动检测板来回摆动,对检测板的姿态形成调整,使检测板与水平面形成不同的夹角,使检测端能够对PCB电路板的不同角度形成检测,增加检测面的覆盖范围,同时也能对检测板表面的光线条件形成调整,增加检测端检测效率。
使用时,在检测到检测端的镜头表面存在遮挡物或者PCB电路板的表面存在灰尘时,在摆动件的配合下,启动第二电机能够驱动扇叶转动并形成摆动,使扇叶的摆动轨迹将检测板或者检测端包含在内,对PCB电路板或者检测端进行清理,从而使检测端对PCB电路板进行检测时,能获取更好的检测效果,减少误判。
基于干扰评价值Pt与相应阈值的关系,确定遮挡面积Zm及覆盖面积Fm中大于阈值的,从而基于对检测端或者检测板的控制,使扇叶能够不断的输出气流,使扇叶输出的气流至少能够经过检测端或者PCB电路板中的至少一个,从而形成清理,减少PCB电路板在被检测时,所遭受的干扰,提高PCB电路板的检测效率;在完成清理工作后,调节组件的配合下,由检测端重新开始对PCB电路板进行检测,对上一次的检测结果形成校验及验证;从而避免出现检测错误的情况,提高对PCB电路板检测的成功率,减少PCB电路板在检测时遭受的干扰。
附图说明
图1为本发明AOI检测设备的正视结构示意图;
图2为本发明调节组件处的剖视结构示意图;
图3为本发明清理组件的剖视结构示意图;
图4为本发明第一传动杆处的剖视结构示意图;
图5为本发明AOI检测设备的检测流程示意图。
图中:
10、检测设备本体;11、设备底座;12、设备机架;13、检测端;
20、调节组件;21、第一电机;22、检测板;23、第一传动杆;24、外套筒;25、往复槽线;26、限位滑块;27、安装板;28、第三电机;29、链条;210、齿轮;
30、清理组件;31、第二电机;32、扇叶;33、安装条;34、第二传动杆;35、第一连接件;36、第二连接件;37、第三连接件;38、蜗轮;39、蜗杆;
40、瑕疵判断单元;50、灰尘检测单元;60、遮挡检测单元;70、分析处理单元;71、评估模块;72、判断模块;73、分析模块;74、路径检测模块;80、控制单元。
具体实施方式
下面将结合本发明实施例中的附图,对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本发明保护的范围。
实施例请参阅图1-5,本发明提供一种PCB电路板的AOI检测设备,包括检测设备本体10、调节组件20、清理组件30、瑕疵判断单元40、灰尘检测单元50、遮挡检测单元60、分析处理单元70及控制单元80;其中,
所述检测设备本体10包括位于下方的设备底座11及设置于设备底座11上方的设备机架12,在设备机架12的长度方向设置有用于对PCB电路板进行缺陷检测的检测端13;
在设备底座11的工作面上安置有调节组件20,调节组件20包括横向设置有第一传动杆23,沿着第一传动杆23长度方向设置有检测板22,所述检测板22沿着外套筒24长度方向移动及翻转;
当需要对PCB电路板形成检测时,将PCB电路板安放在检测板22的表面,并将检测板22调整至检测端13的下方;所述清理组件30包括用于输出动力的第二电机31,第二电机31输出端处同轴转动有第二传动杆34,第二传动杆34远离第二电机31的一端连接有扇叶32,在第二传动杆34的一侧设置有摆动件,使扇叶32在第二电机31一侧上下摆动,使扇叶32输出气流流经检测端13或者检测板22的表面;
参考图1至图5,还包括瑕疵判断单元40、灰尘检测单元50、遮挡检测单元60、分析处理单元70及控制单元80;其中,
在检测端13完成对PCB电路板完成后,由瑕疵判断单元40确定当前的PCB电路板的是否合格,如果不合格,则准备展开对PCB电路板进行重复检测;在展开重复检测时,由灰尘检测单元50对位于检测板22上方的PCB电路板表面粘附的灰尘进行检测,判断PCB电路板表面是否存在灰尘;如果存在,则确定灰尘在PCB电路板表面的覆盖面积Fm;
由遮挡检测单元60对检测端13镜头上的遮挡物形成检测,如果检测端13的镜头上存在遮挡物时,则确定检测端13镜头表面遮挡物的面积,形成遮挡面积Zm;其中,遮挡物可以灰尘;获取遮挡面积Zm及覆盖面积Fm,建立检测阻碍数据集;
将阻碍数据集发送至分析处理单元70,由分析处理单元70基于阻碍数据集中的检测数据,分析检测端13对PCB电路板进行检测时,是否遭到了较大的干扰;在存在较大干扰的情况下,确定干扰来源及相应的清理策略;
将清理策略发送至控制单元80,形成第一控制指令,对调节组件20形成控制,完成对干扰源进行清理;完成清理后,形成第二控制指令,对清理组件30形成控制,使检测端13对PCB电路板再次形成检测;由瑕疵判断单元40再次获取检测结果并输出,此时,由检测端13对PCB电路板的检测流程完成。
参考2及图4,所述调节组件20包括第一电机21、检测板22、第一传动杆23、外套筒24、往复槽线25、限位滑块26、安装板27及第三电机28、链条29、齿轮210;其中,
所述调节组件20包括用于输出动力的第一电机21,在第一电机21输出端与检测板22之间设置有传动件,对检测板22的姿态形成调整;所述传动件包括与第一电机21输出端同轴转动的第一传动杆23,第一传动杆23的外部套接有外套筒24;在外套筒24的一侧设置有低第一限制件及第二限制件,第一限制件配合第二限制件,使检测板22沿着第一传动杆23的长度方向上来回移动。
参考图4,所述第二限制件包括两个平行设置于外套筒24下方的齿轮210,齿轮210转动设置于外套筒24的下方,在外套筒24的下方还设置有链条29,链条29将两个齿轮210容纳在内部,并与两个齿轮210相啮合;
所述第一限制件包括开设于外套筒24外部的往复槽线25,在链条29的表面设置有若干个限位滑块26,限位滑块26与往复槽线25相配合,也即限位滑块26沿着往复槽线25内部的滑动,使链条29发生转动;
在所述链条29的表面设置有安装板27,在安装板27的表面嵌合有第三电机28,第三电机28的输出端与检测板22可拆卸连接,在第三电机28输出动力的条件下,使检测板22形成翻转。
使用时,在需要对PCB电路板进行检测时,启动第一电机21输出动力,第一传动杆23带动外套筒24转动,基于第一限制件和第二限制件的配合,使检测板22第一次移动至检测端13的下方,由检测端13对位于检测板22表面PCB电路板进行检测。
使用时,利用检测板22沿着检测端13的长度方向来回移动,对PCB电路板进行重复检测,相互验证,避免检测产生误差或者检测错误,从而提高对PCB电路板检测成功率;在安装板27移动的同时,利用第三电机28驱动检测板22来回摆动,对检测板22的姿态形成调整,使检测板22与水平面形成不同的夹角,使检测端13能够对PCB电路板的不同角度形成检测,增加检测面的覆盖范围,同时也能对检测板22表面的光线条件形成调整,增加检测端13检测效率。
参考图3,所述清理组件30包括第二电机31、扇叶32、安装条33、第二传动杆34、第一连接件35、第二连接件36、第三连接件37、蜗轮38及蜗杆39,其中,
所述摆动件包括设置于第二电机31一侧的安装条33,在安装条33的上下两端分别活动连接有第二连接件36及第一连接件35;所述第一连接件35呈工字型,具有位于上方的长端及位于下方的短端,长端与短端之间连接有中间端,所述短端套设于第二传动杆34的外部;
在所述第二传动杆34远离第二电机31的一端外部套接有蜗杆39,蜗杆39的上方啮合有蜗轮38,第一连接件35的长端的顶端与安装条33的底端活动连接,第一连接件35的长端底端与蜗轮38的轴心处活动连接;所述第二连接件36底端延伸蜗轮38的一侧并铰接有第三连接件37,第三连接件37远离第二连接件36的一端延伸至位于蜗轮38轴心处的第一连接件35的长端末端表面,并与其活动连接。
使用时,在检测到检测端13的镜头表面存在遮挡物或者PCB电路板的表面存在灰尘时,在摆动件的配合下,启动第二电机31能够驱动扇叶32转动并形成摆动,使扇叶32的摆动轨迹将检测板22或者检测端13包含在内,对PCB电路板或者检测端13进行清理,从而使检测端13对PCB电路板进行检测时,能获取更好的检测效果,减少误判。
参考图5,所述分析处理单元70包括评估模块71、判断模块72、分析模块73及路径检测模块74,其中,
将阻碍数据集发送至评估模块71,由评估模块71获取遮挡面积Zm及覆盖面积Fm,进行无量纲化处理后,关联获取对干扰评价值Pt,对PCB电路板在检测时受到的干扰程度进行评价;
需要说明的是,由本领域技术人员采集多组样本数据并对每一组样本数据设定对应的预设比例系数;将设定的预设比例系数和采集的样本数据代入公式,任意两个公式构成二元一次方程组,将计算得到的系数进行筛选并取均值,得到Az、Af的取值;
系数的大小是为了将各个参数进行量化得到的一个具体的数值,便于后续比较,关于系数的大小,取决于样本数据的多少及本领域技术人员对每一组样本数据初步设定对应的预设比例系数;只要不影响参数与量化后数值的比例关系即可。
参考图5,将干扰评价值Pt发送至判断模块72,与相应阈值进行对比,在干扰评价值Pt小于相应阈值时,说明PCB电路板受到的干扰程度较低,无需对PCB电路板进行重新检测;
如果干扰评价值Pt大于相应阈值时,此时说明,PCB电路板在被检测时,受到的干扰程度较大,需要减少干扰,重新进行检测,之前的检测结果可能存在错误,此时,由判断模块72形成判断结果;
在干扰评价值Pt大于相应阈值时,由分析模块73确定遮挡面积Zm及覆盖面积Fm中大于阈值的部分;如果遮挡面积Zm大于相应阈值,由路径检测模块74分别确定检测端13及扇叶32的移动路径,在检测端13向扇叶32靠近时,摆动扇叶32,使扇叶32输出流经检测端13表面的气流,从而对检测端13的清理。
在覆盖面积Fm大于相应阈值时,由路径检测模块74分别确定搭载有PCB电路板的检测板22及扇叶32的运行轨迹;在检测板22向扇叶32处靠近时,使检测板22向扇叶32处摆动,扇叶32输出向检测板22表面的气流,对检测板22表面的PCB电路板形成清理。
在清理组件30对检测端13及检测板22表面的电路板中至少一个形成清理后,使PCB电路板重新经检测端13的下方,重新完成检测;由瑕疵判断单元40输出检测结果。
使用时,基于干扰评价值Pt与相应阈值的关系,确定遮挡面积Zm及覆盖面积Fm中大于阈值的,从而基于对检测端13或者检测板22的控制,使扇叶32能够不断的输出气流,使扇叶32输出的气流至少能够经过检测端13或者PCB电路板中的至少一个,从而形成清理,减少PCB电路板在被检测时,所遭受的干扰,提高PCB电路板的检测效率;在完成清理工作后,调节组件20的配合下,由检测端13重新开始对PCB电路板进行检测,对上一次的检测结果形成校验及验证;从而避免出现检测错误的情况,提高对PCB电路板检测的成功率,减少PCB电路板在检测时,遭受的干扰。
实施例
请参阅图1-5,本发明提供一种PCB电路板的AOI检测方法,包括如下步骤:
步骤一、将PCB电路板安放在检测板22的表面,将检测板22调整至检测端13的下方,由检测端13对PCB电路板形成初步检测,获取检测结果并由瑕疵判断单元40输出;
步骤二、在初步检测结果不达标时,由灰尘检测单元50配合遮挡检测单元60,获取遮挡面积Zm及覆盖面积Fm,建立检测阻碍数据集;
步骤三、基于检测阻碍数据集,将阻碍数据集发送至分析处理单元70,由分析处理单元70基于阻碍数据集中的检测数据,判断检测端13对PCB电路板进行检测时,是否遭到较大干扰;如果存在,确定干扰来源及相应的清理策略;
步骤四、将清理策略发送至控制单元80,形成第一控制指令,对调节组件20形成控制,完成对干扰源进行清理;
步骤五、完成清理后,由控制单元80形成第二控制指令,对清理组件30形成控制,调整PCB电路板姿态,使检测端13对PCB电路板再次形成检测;
由瑕疵判断单元40再次获取检测结果并输出。
上述实施例,可以全部或部分地通过软件、硬件、固件或其他任意组合来实现。当使用软件实现时,上述实施例可以全部或部分地以计算机程序产品的形式实现。所述计算机程序产品包括一个或多个计算机指令或计算机程序。在计算机上加载或执行所述计算机指令或计算机程序时,全部或部分地产生按照本申请实施例所述的流程或功能。所述计算机可以为通用计算机、专用计算机、计算机网络、或者其他可编程装置。所述计算机指令可以存储在计算机可读存储介质中,或者从一个计算机可读存储介质向另一个计算机可读存储介质传输,例如,所述计算机指令可以从一个网站站点、计算机、服务器或数据中心通过有线(例如红外、无线、微波等)方式向另一个网站站点、计算机、服务器或数据中心进行传输。所述计算机可读存储介质可以是计算机能够存取的任何可用介质或者是包含一个或多个可用介质集合的服务器、数据中心等数据存储设备。所述可用介质可以是磁性介质(例如,软盘、硬盘、磁带)、光介质(例如,DVD)、或者半导体介质。半导体介质可以是固态硬盘。
本领域普通技术人员可以意识到,结合本文中所公开的实施例描述的各示例的单元及算法步骤,能够以电子硬件、或者计算机软件和电子硬件的结合来实现。这些功能究竟以硬件还是软件方式来执行,取决于技术方案的特定应用和设计约束条件。专业技术人员可以对每个特定的应用来使用不同方法来实现所描述的功能,但是这种实现不应认为超出本申请的范围。
所属领域的技术人员可以清楚地了解到,为描述的方便和简洁,上述描述的系统、装置和单元的具体工作过程,可以参考前述方法实施例中的对应过程,在此不再赘述。
在本申请所提供的几个实施例中,应该理解到,所揭露的系统、装置和方法,可以通过其它的方式实现。例如,以上所描述的装置实施例仅仅是示意性的,例如,所述单元的划分,仅仅为一些逻辑功能划分,实际实现时可以有另外的划分方式,例如多个单元或组件可以结合或者可以集成到另一个系统,或一些特征可以忽略,或不执行。另一点,所显示或讨论的相互之间的耦合或直接耦合或通信连接可以是通过一些接口,装置或单元的间接耦合或通信连接,可以是电性,机械或其它的形式。
所述作为分离部件说明的单元可以是或者也可以不是物理上分开的,作为单元显示的部件可以是或者也可以不是物理单元,即可以位于一个地方,或者也可以分布到多个网络单元上。可以根据实际的需要选择其中的部分或者全部单元来实现本实施例方案的目的。
另外,在本申请各个实施例中的各功能单元可以集成在一个处理单元中,也可以是各个单元单独物理存在,也可以两个或两个以上单元集成在一个单元中。
所述功能如果以软件功能单元的形式实现并作为独立的产品销售或使用时,可以存储在一个计算机可读取存储介质中。基于这样的理解,本申请的技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分或者该技术方案的部分可以以软件产品的形式体现出来,该计算机软件产品存储在一个存储介质中,包括若干指令用以使得一台计算机设备(可以是个人计算机,服务器,或者网络设备等)执行本申请各个实施例所述方法的全部或部分步骤。而前述的存储介质包括:U盘、移动硬盘、只读存储器(read-onlymemory,ROM)、随机存取存储器(randomaccessmemory,RAM)、磁碟或者光盘等各种可以存储程序代码的介质。
以上所述,仅为本申请的具体实施方式,但本申请的保护范围并不局限于此,任何熟悉本技术领域的技术人员在本申请揭露的技术范围内,可轻易想到变化或替换,都应涵盖在本申请的保护范围之内。因此,本申请的保护范围应以所述权利要求的保护范围为准。
最后:以上所述仅为本发明的优选实施例而已,并不用于限制本发明,凡在本发明的精神和原则之内,所作的任何修改等同替换、改进等,均应包含在本发明的保护范围之内。
Claims (10)
1.一种PCB电路板的AOI检测设备,包括检测设备本体(10),所述检测设备本体(10)包括位于下方的设备底座(11)及设置于设备底座(11)上方的设备机架(12),在设备机架(12)的长度方向设置有检测端(13);其特征在于:
在设备底座(11)的工作面上安置有调节组件(20),调节组件(20)包括横向设置有第一传动杆(23),沿着第一传动杆(23)长度方向设置有检测板(22),所述检测板(22)沿着外套筒(24)长度方向移动及翻转;PCB电路板安放在检测板(22)的表面,检测时,将检测板(22)调整至检测端(13)的下方;
还包括清理组件,所述清理组件(30)包括第二电机(31),第二电机(31)输出端处同轴转动有第二传动杆(34),第二传动杆(34)远离第二电机(31)的一端连接有扇叶(32),在第二传动杆(34)的一侧设置有摆动件,使扇叶(32)在第二电机(31)一侧上下摆动,使扇叶(32)输出气流流经检测端(13)或者检测板(22)的表面;
还包括瑕疵判断单元(40)、灰尘检测单元(50)、遮挡检测单元(60)、分析处理单元(70)及控制单元(80);
在检测端(13)完成对PCB电路板完成后,由瑕疵判断单元(40)确定当前的PCB电路板的是否合格,如果不合格,由灰尘检测单元(50)对位于检测板(22)上方的PCB电路板表面粘附的灰尘进行检测,确定灰尘在PCB电路板表面的覆盖面积Fm;由遮挡检测单元(60)对检测端(13)镜头上的遮挡物形成检测,确定检测端(13)镜头表面遮挡物的面积,形成遮挡面积Zm;获取遮挡面积Zm及覆盖面积Fm,建立检测阻碍数据集;
将阻碍数据集发送至分析处理单元(70),由分析处理单元(70)基于阻碍数据集中的检测数据,分析检测端(13)对PCB电路板进行检测时,是否遭到较大干扰;如果存在,确定干扰来源及相应的清理策略;
将清理策略发送至控制单元(80),形成第一控制指令,对调节组件(20)形成控制,完成对干扰源进行清理;完成清理后,形成第二控制指令,对清理组件(30)形成控制,使检测端(13)对PCB电路板再次形成检测;由瑕疵判断单元(40)再次获取检测结果并输出。
2.根据权利要求1所述的一种PCB电路板的AOI检测设备,其特征在于:
所述调节组件(20)包括第一电机(21),在第一电机(21)输出端与检测板(22)之间设置有传动件,对检测板(22)的姿态形成调整;传动件包括与第一电机(21)输出端同轴转动的第一传动杆(23),第一传动杆(23)的外部套接有外套筒(24);在外套筒(24)的一侧设置有低第一限制件及第二限制件,第一限制件配合第二限制件,使检测板(22)沿着第一传动杆(23)的长度方向上来回移动。
3.根据权利要求2所述的一种PCB电路板的AOI检测设备,其特征在于:
所述第二限制件包括两个平行设置于外套筒(24)下方的齿轮(210),齿轮(210)转动设置于外套筒(24)的下方,在外套筒(24)的下方还设置有链条(29),链条(29)将两个齿轮(210)容纳在内部,并与两个齿轮(210)相啮合。
4.根据权利要求2所述的一种PCB电路板的AOI检测设备,其特征在于:
所述第一限制件包括开设于外套筒(24)外部的往复槽线(25),在链条(29)的表面设置有若干个限位滑块(26),限位滑块(26)与往复槽线(25)相配合,使链条(29)发生转动;在所述链条(29)的表面设置有安装板(27),在安装板(27)的表面嵌合有第三电机(28),第三电机(28)的输出端与检测板(22)可拆卸连接,在第三电机(28)输出动力的条件下,使检测板(22)形成翻转。
5.根据权利要求1所述的一种PCB电路板的AOI检测设备,其特征在于:
所述摆动件包括设置于第二电机(31)一侧的安装条(33),在安装条(33)的上下两端分别活动连接有第二连接件(36)及第一连接件(35);所述第一连接件(35)呈工字型,具有位于上方的长端及位于下方的短端,长端与短端之间连接有中间端,所述短端套设于第二传动杆(34)的外部。
6.根据权利要求5所述的一种PCB电路板的AOI检测设备,其特征在于:
在所述第二传动杆(34)远离第二电机(31)的一端外部套接有蜗杆(39),蜗杆(39)的上方啮合有蜗轮(38),第一连接件(35)的长端的顶端与安装条(33)的底端活动连接,第一连接件(35)的长端底端与蜗轮(38)的轴心处活动连接;所述第二连接件(36)底端延伸蜗轮(38)的一侧并铰接有第三连接件(37),第三连接件(37)远离第二连接件(36)的一端延伸至位于蜗轮(38)轴心处的第一连接件(35)的长端末端表面,并与其活动连接。
8.根据权利要求7所述的一种PCB电路板的AOI检测设备,其特征在于:
将干扰评价值Pt发送至判断模块(72),与相应阈值进行对比,如果干扰评价值Pt大于相应阈值时,由判断模块(72)形成判断结果;在干扰评价值Pt大于相应阈值时,由分析模块(73)确定遮挡面积Zm及覆盖面积Fm中大于阈值的部分;
如果遮挡面积Zm大于相应阈值,由路径检测模块(74)分别确定检测端(13)及扇叶(32)的移动路径,在检测端(13)向扇叶(32)靠近时,摆动扇叶(32),使扇叶(32)输出流经检测端(13)表面的气流,从而对检测端(13)的清理。
9.根据权利要求8所述的一种PCB电路板的AOI检测设备,其特征在于:
在覆盖面积Fm大于相应阈值时,由路径检测模块(74)分别确定搭载有PCB电路板的检测板(22)及扇叶(32)的运行轨迹;在检测板(22)向扇叶(32)处靠近时,使检测板(22)向扇叶(32)处摆动,扇叶(32)输出向检测板(22)表面的气流,对检测板(22)表面的PCB电路板形成清理;
在清理组件(30)对检测端(13)及检测板(22)表面的电路板中至少一个形成清理后,使PCB电路板重新经检测端(13)的下方,重新完成检测;由瑕疵判断单元(40)输出检测结果。
10.一种PCB电路板的AOI检测方法,应用有权利要求1至9中的中任一项所述的AOI检测设备,其特征在于:包括如下步骤:
步骤一、将PCB电路板安放在检测板(22)的表面,将检测板(22)调整至检测端(13)的下方,由检测端(13)对PCB电路板形成初步检测,获取检测结果并由瑕疵判断单元(40)输出;
步骤二、在初步检测结果不达标时,由灰尘检测单元(50)配合遮挡检测单元(60),获取遮挡面积Zm及覆盖面积Fm,建立检测阻碍数据集;
步骤三、基于检测阻碍数据集,将阻碍数据集发送至分析处理单元(70),由分析处理单元(70)基于阻碍数据集中的检测数据,判断检测端(13)对PCB电路板进行检测时,是否遭到较大干扰;如果存在,确定干扰来源及相应的清理策略;
步骤四、将清理策略发送至控制单元(80),形成第一控制指令,对调节组件(20)形成控制,完成对干扰源进行清理;
步骤五、完成清理后,由控制单元(80)形成第二控制指令,对清理组件(30)形成控制,调整PCB电路板姿态,使检测端(13)对PCB电路板再次形成检测;
由瑕疵判断单元(40)再次获取检测结果并输出。
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