CN115791519A - 胶膜的流变性能测试方法 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种胶膜的流变性能测试方法。该流变性能测试方法包括；S1、提供多个胶膜组件；S2、将其中一个胶膜组件的覆膜离型膜去除，并将去除覆膜离型膜的胶膜组件固定到工作台上，底膜离型膜与工作台接触；S3、依次去除其余多个胶膜组件的覆膜离型膜和底膜离型膜，将多个胶膜本体层叠粘接在一起，以达到设定厚度，其中，最后一个胶膜组件保留底膜离型膜，以使多层胶膜本体位于两个底膜离型膜之间，计两个底膜离型膜以及位于两个底膜离型膜之间的多层胶膜层为待测试件；S4、将待测试件从工作台取下，在设定温度下，将待测试件保温设定时间，以消除待测试件的应力；S5、对消除应力后的待测试件的流变性能进行测试。

Description

胶膜的流变性能测试方法

技术领域

本发明涉及性能测试技术领域，更具体地，涉及一种胶膜的流变性能测试方法。

背景技术

复合材料在声学振膜中的应用越来越广泛。这种材料通常需要胶膜将多个膜层粘结在一起。胶膜不仅起到粘接的作用，还为声学振膜提供阻尼性能，起到优化声学振膜低音效果以及提高声学振膜抗剪切力的效果的作用。因此，胶膜的流变性能参数，例如，在剪切或拉伸模式下的储能模量、损耗模量、损耗因子、蠕变、应力松弛等的表征显得至关重要。胶膜的厚度很薄，强度极小，通常为微米级，在该条件下胶膜无法直接做成标准的条状试样进行流变性能测试。

因此，需要提供一种新的技术方案，以解决上述技术问题。

发明内容

本发明的一个目的是提供一种胶膜的流变性能测试方法的新技术方案。

根据本发明的第一方面，提供了一种胶膜的流变性能测试方法。胶膜组件包括底膜离型膜、覆膜离型膜和贴附在所述底膜离型膜和所述覆膜离型膜之间的胶膜本体，所述底膜离型膜的剥离强度大于所述覆膜离型膜的剥离强度；所述测试方法包括；

S1、提供多个所述胶膜组件；

S2、将其中一个所述胶膜组件的所述覆膜离型膜去除，并将去除所述覆膜离型膜的所述胶膜组件固定到工作台上，所述底膜离型膜与所述工作台接触；

S3、依次去除其余多个所述胶膜组件的覆膜离型膜和底膜离型膜，将多个所述胶膜本体层叠粘接在一起，以达到设定厚度，其中，最后一个所述胶膜组件保留所述底膜离型膜，以使多层所述胶膜本体位于两个所述底膜离型膜之间，计两个所述底膜离型膜以及位于两个所述底膜离型膜之间的多层所述胶膜层为待测试件；

S4、将待测试件从工作台取下，在设定温度下，将待测试件保温设定时间，以消除待测试件的应力；

S5、对消除应力后的待测试件的流变性能进行测试。

可选地,在S1步骤中，通过胶带将去除所述覆膜离型膜的所述胶膜组件的边缘固定到工作台上。

可选地,在S2步骤中，首先，去除每个胶膜的覆膜离型膜；

然后，将胶膜本体与位于工作台上的胶膜本体粘结在一起；

最后，去除底膜离型膜。

可选地,在进行粘结两个胶膜本体时，从两个胶膜本体相对应的同一侧开始逐渐粘结，并采用刮片从一侧向另一侧刮所述底膜离型膜。

可选地,在步骤S1之前，还包括将多个胶膜组件裁切成长方形试片，长方形试片的宽度为5厘米至8厘米，长度为10厘米。

可选地,所述设定厚度为0.5毫米至1毫米。

可选地,在S5步骤中，还包括将待测试件裁切成设定大小、形状，并去除两个所述底膜离型膜。

可选地,在S5步骤中，包括剪切模式测试和拉伸模式测试。

可选地,在S4步骤中，所述设定温度为30℃至50℃，所述设定时间为2小时至4小时。

可选地,在S4步骤中，所述待测试件被放置到恒温箱中。

在本公开实施例中，将多层胶膜本体层叠粘结在一起，以形成设定厚度的待测试件，以满足测试设备的对待测试件的厚度要求。通过测量设定厚度待测试件的流变性能来表征胶膜本体的性能。该方法能有效地对胶膜本体的流变性能进行测试、评价。

此外，多层胶膜本体在进行层叠粘结时容易形成残余应力。通过在设定温度下将两面贴附有底膜离型膜的多层胶膜本体保温设定时间，能有效地消除待测试件的应力。这使得多层胶膜本体的流变性能测试更准确、测试结果的一致性良好。

通过以下参照附图对本发明的示例性实施例的详细描述，本发明的其它特征及其优点将会变得清楚。

附图说明

被结合在说明书中并构成说明书的一部分的附图示出了本发明的实施例，并且连同其说明一起用于解释本发明的原理。

图1是根据本公开实施例的胶膜的流变性能测试方法的流程图。

图2为本公开实施例的多层胶膜本体剪切模式测试的储能模量、损耗模量、损耗因子随温度变化的曲线。

图3为本公开实施例的多层胶膜本体剪切模式下的TTS时温转换曲线。

图4为本公开实施例的多层胶膜本体拉伸模式测试的储能模量、损耗模量随温度的变化曲线。

图5为本公开实施例的多层胶膜本体拉伸模式下的松弛模量和应变恢复率随时间的变化曲线。

具体实施方式

现在将参照附图来详细描述本发明的各种示例性实施例。应注意到：除非另外具体说明，否则在这些实施例中阐述的部件和步骤的相对布置、数字表达式和数值不限制本发明的范围。

以下对至少一个示例性实施例的描述实际上仅仅是说明性的，决不作为对本发明及其应用或使用的任何限制。

对于相关领域普通技术人员已知的技术、方法和设备可能不作详细讨论，但在适当情况下，所述技术、方法和设备应当被视为说明书的一部分。

在这里示出和讨论的所有例子中，任何具体值应被解释为仅仅是示例性的，而不是作为限制。因此，示例性实施例的其它例子可以具有不同的值。

应注意到：相似的标号和字母在下面的附图中表示类似项，因此，一旦某一项在一个附图中被定义，则在随后的附图中不需要对其进行进一步讨论。

根据本公开的一个实施例，提供了一种胶膜的流变性能测试方法。

胶膜组件包括底膜离型膜、覆膜离型膜和贴附在所述底膜离型膜和所述覆膜离型膜之间的胶膜本体，所述底膜离型膜的剥离强度大于所述覆膜离型膜的剥离强度。如图1所示，所述测试方法包括：

S1、提供多个所述胶膜组件；

S2、将其中一个所述胶膜组件的所述覆膜离型膜去除，并将去除所述覆膜离型膜的所述胶膜组件固定到工作台上，所述底膜离型膜与所述工作台接触；

S3、依次去除其余多个所述胶膜组件的覆膜离型膜和底膜离型膜，将多个所述胶膜本体层叠粘接在一起，以达到设定厚度，其中，最后一个所述胶膜组件保留所述底膜离型膜，以使多层所述胶膜本体位于两个所述底膜离型膜之间，计两个所述底膜离型膜以及位于两个所述底膜离型膜之间的多层所述胶膜层为待测试件；

S4、将待测试件从工作台取下，在设定温度下，将待测试件保温设定时间，以消除待测试件的应力；

S5、对消除应力后的待测试件的流变性能进行测试。

具体来说，流变性能是指材料在外力作用下的变形和流动性质。材料的粘性不同，施加于材料上的剪切应力与剪切速率之间的定量关系也不同。

胶膜本体具有粘性，用于粘结其他膜层。其他膜层例如是工程塑料膜层、热塑性弹性体膜层、纤维层等。胶膜本体可以是但不限于聚烯烃胶膜、丙烯酸酯胶膜、聚乙烯醇胶膜、聚乙酸乙烯酯胶膜、聚酰胺胶膜、聚氨酯胶膜、硅胶膜等。

在制备时，胶膜本体采用涂布的工艺，在溶剂挥发后成型。胶膜本体的厚度小，强度低。胶膜本体的厚度通常为几微米到几十微米。胶膜本体通常做成胶膜组件进行保存，例如采用底膜离型膜和覆膜离型膜将胶膜本体夹在中间，以形成胶膜组件。底膜离型膜和覆膜离型膜通常为塑料膜。

离型膜为防止胶膜粘连，并且保护胶膜不受污染的防粘膜材料。离型膜由涂有防粘物质的膜制成。离型膜包括底膜离型膜和覆膜离型膜。底膜离型膜贴附在胶膜本体的一个表面。底膜离型膜为胶膜组件提供足够的结构强度。覆膜离型膜贴附在胶膜本体的另一个表面。覆膜离型膜与胶膜的剥离强度低，易被去除。在使用胶膜本体时，通常首先去除覆膜离型膜，以露出胶膜本体的一个表面。该表面用于粘结其他部件。

通常底膜离型膜的剥离力大于覆膜离型膜的剥离力，故通常首先将覆膜离型膜去除，再将底膜离型膜去除。

本公开的发明人发现，由于胶膜本体的厚度小，强度小，测量单层胶膜本体的难度大，测量数据误差大，参考价值低，故需要把多个胶膜本体层叠粘结到一起，做成设定厚度的多层胶膜本体进行测试。这种方式既满足测试设备对于待测试件的厚度的要求，又使得测量数据的误差小，参考价值搞。该测试方法将多层胶膜本体做成设定的厚度，测量设定厚度的多层胶膜本体的流变性能，从而反映单层胶膜本体的流变性能。

在S1步骤中，根据每个胶膜本体的厚度以及测试设备要求的待测试件的厚度计算出需要的胶膜组件的数量。进一步地，多个胶膜组件的尺寸一致，以保证层叠粘结在一起的待测试件不同位置的厚度一致。

在S2步骤中，首先，取一个胶膜组件，并去除该胶膜组件覆膜离型膜，以露出胶膜本体的一个表面。胶膜本体具有粘性。然后，将底膜离型膜贴附在工作台上。例如，通过粘结剂将底膜离型膜的与胶膜本体相背的表面粘结在工作台上，以使胶膜本体与工作台相背。

当然，底膜离型膜也可通过其他方式固定在工作台上。

在S3步骤中，将多个胶膜本体层叠粘结到一起，以达到设定厚度。在进行粘结时，逐层粘结胶膜本体。最后一个粘结的胶膜组件保留底膜离型膜。最终形成两个底膜离型膜中间夹设多层胶膜本体的待测试件。底膜离型膜能有效地对多层胶膜本体形成保护。

本申请的发明人发现，在层叠粘结胶膜本体过程中，不同人员进行胶膜的层叠粘结时作用力不一致，或同一胶膜本体不同部位粘结的作用力不一致，上述情况导致同一种胶膜，不同人员制得的待测试件残存的应力不一致。应力不一致导致在进行流变性能测试时，测试结果的误差大，一致性差。为了获得准确、一致的流变性能测试结果。需要对待测试件残存的应力进行消除。

在S4步骤中，将待测试件在高温环境中保持设定的时间。在高温环境中，各个胶膜本体的微观结构重新排列，使得多层胶膜本体不同部位的微观结构变得均匀，从而达到应力消除目的。

在S5步骤中，流变性能测试包括剪切模式测试和拉伸模式测试。

剪切模式测试例如采用旋转流变仪的平板转子进行测试。平板转子包括上转子和下转子。上转子与下转子相对设置。将待测试件裁切成与平板转子的大小相同的圆片。待测试件的厚度为t，在进行剪切模式测试时，需要将圆片状待测试件的两个底膜离型膜去除。底膜离型膜的厚度为t₁。最终得到的多层胶膜本体的厚度为t-2t₁。

在剪切模式测试准备过程中，首先，将圆片状待测试件一侧的底膜离型膜去除，以露出胶膜本体。然后，将胶膜本体粘结到下转子上，并与平板转子重合。多层胶膜本体另一侧的底膜离型膜背离下转子。接下来，将该另一侧的底膜离型膜去除。将上转子下降，以使得上转子和下转子之间的距离与多层胶膜本体的厚度相等。上转子和下转子对齐。多层胶膜本体的厚度即上、下转子之间的间隙的高度。上述准备工作完成后即可进行剪切模式测试。

在进行剪切模式测试时，由于胶膜本体的材质软，弹性大，故测试曲线呈现出的线性黏弹区较大。基于此，旋转流变仪的应变大小通常设置为0.2％至1％。在进行多层胶膜本体的时温转换拟合测试时，旋转流变仪的温度点的间隔为5℃至10℃。在进行等温频率扫描时，旋转流变仪的频率范围为0.16Hz至16Hz(约(1～100)rad/s，其中：1rad/s≈0.16Hz)。温度点的上、下限根据需拟合频率范围的大小进行选择。剪切模式测试能够表征的流变参数包括剪切储能模量、剪切损耗模量、剪切损耗因子、复数黏度、剪切蠕变、剪切应力松弛和剪切TTS时温转换拟合。

拉伸模式测试例如采用动态热机械分析仪的拉伸夹具进行测试。例如，将待测试件裁切成宽度为3mm至6mm宽，长度为50mm的条状试样。待测试件的厚度为t，在进行拉伸模式测试时，需要将条状试样的两侧的底膜离型膜去除。底膜离型膜的厚度为t₁。最终得到的多层胶膜本体的厚度为t-2t₁。

在拉伸模式测试准备过程中，首先，将两层底膜离型膜均去除，然后，将多层胶膜本体夹持到拉伸夹具中。在夹持过程中，需避免多层胶膜本体被过度拉扯，并使多层胶膜本体尽量保持原有尺寸。

在进行拉伸模式测试时，由于胶膜本体的材质软，弹性大，故测试曲线呈现出的线性黏弹区较大。基于此，动态热机械分析仪的应变大小通常设置为0.2％至1％。在进行多层胶膜本体的时温转换拟合测试时，动态热机械分析仪的温度点的间隔为5℃至10℃。在进行等温频率扫描时，动态热机械分析仪的频率范围为0.1Hz至1Hz。拉伸模式测试能表征的流变参数包括拉伸储能模量、拉伸损耗模量、拉伸损耗因子、拉伸蠕变、拉伸应力松弛和拉伸TTS时温转换拟合。

在本公开实施例中，将多层胶膜本体层叠粘结在一起，以形成设定厚度的待测试件，以满足测试设备的对待测试件的厚度要求。通过测量设定厚度待测试件的流变性能来表征胶膜本体的性能。该方法能有效地对胶膜本体的流变性能进行测试、评价。

此外，多层胶膜本体在进行层叠粘结时容易形成残余应力。通过在设定温度下将两面贴附有底膜离型膜的多层胶膜本体保温设定时间，能有效地消除待测试件的应力。这使得多层胶膜本体的流变性能测试更准确、测试结果的一致性良好。

在一个例子中，在S1步骤中，通过胶带将去除所述覆膜离型膜的所述胶膜组件的边缘固定到工作台上。

例如，胶膜组件为长方形。在去除覆膜离型膜之后，胶膜组件露出胶膜本体的一个表面。该表面用于与另一个胶膜组件的胶膜本体粘结。在进行固定时，胶带粘结在胶膜本体的四条边上。胶膜本体和胶带均具有粘性。这种方式使得该胶膜组件在工作台上的固定更牢固。

在一个例子中，在S2步骤中，首先，去除每个胶膜的覆膜离型膜；

然后，将胶膜本体与位于工作台上的胶膜本体粘结在一起；

最后，去除底膜离型膜。

在进行层叠粘结时，首先，将另一个胶膜组件的覆膜离型膜去除，以露出胶膜本体的一个表面。该表面用于与位于工作台上的胶膜本体粘结。

然后，将该另一个胶膜组件的胶膜本体粘结在位于工作台上的胶膜本体上。

接下来，将该另一个胶膜组件的底膜离型膜去除，以露出胶膜本体的另一面。

接下来，重复上述的粘结步骤，以形成多层覆膜本体。最后粘结的胶膜组件的底膜离型膜保留。

最后，将胶带从工作台上揭开，并从多层覆膜本体上去除，以形成两个底膜离型膜中间夹设多层胶膜本体的结构。

在该例子中，底膜离型膜能有效地对多层覆膜本体形成保护。

在一个例子中，在进行粘结两个胶膜本体时，从两个胶膜本体的位置相对应的同一侧开始逐渐粘结，并采用刮片从一侧向另一侧刮所述底膜离型膜。

例如，胶膜本体为长方形。从两个胶膜本体的位置相对应的一条边采用刮片，从该边向相对的边逐渐刮底膜离型膜，以逐渐将两个胶膜本体进行粘结。刮片能有效地消除两个胶膜本体之间的气泡，若产生气泡，将影响测试结果的准确性。。在该例子中，底膜离型膜相对于覆膜离型膜的硬度更大，能耐受刮片的压力和摩擦力。

在一个例子中，在步骤S1之前，还包括将多个胶膜组件裁切成长方形试片，长方形试片的宽度为5厘米至8厘米，长度为10厘米。

长方形的胶膜组件的结构规整，在层叠粘结多层胶膜本体的时候，能更精确地将多层胶膜本体对齐。最终形成的待测试件各个部分的厚度的一致性更好。

上述尺寸范围的胶膜组件在层叠粘结过程中，产生气泡少，形成的应力小，并且层叠粘结的操作容易，满足流变性能测试要求。

在一个例子中，所述设定厚度为0.5毫米至1毫米。该厚度范围满足流变性能测试设备的试样厚度要求。

需要说明的是，不同的胶膜本体的流变性能测试，应尽量保持层叠粘结后的多层胶膜组件的厚度一致。这种方式能有效地避免厚度变量对于测试结果的影响。

当然，设定厚度不限于上述实施例，本领域技术人员可以根据实际需要进行设置。

在一个例子中,在S5步骤中，还包括将待测试件裁切成设定大小、形状，并去除两个所述底膜离型膜。

在不同的测试模式下，待测试件的大小、形状要求不同。在该例子中，根据实际需要对待测试件进行裁切，以满足测试要求。

在一个例子中，在S4步骤中，所述设定温度为30℃至50℃，所述设定时间为2小时至4小时。

设定温度过高，则对胶膜本体的损伤越大，容易引起胶膜本体的不可逆形变。设定温度越低，则需要的保温时间越长，影响应力消除的时效性。上述条件满足硅胶膜、丙烯酸胶膜等材质的胶膜本体的应力消除需要，并且应力消除的速度快，待测试件的不可逆形变小。

在一个例子中,在S4步骤中，所述待测试件被放置到恒温箱中。恒温箱具有恒定的温度，能形成良好的应力消除环境，从而使得待测试件的应力消除效果更好。

<实施例>

S11、提供多个所述胶膜组件。胶膜本体为聚丙烯酸酯胶膜。数量为100pcs，共两种，分别用于剪切模式和拉伸模式测试。胶膜组件的长度为10cm，宽度为6cm。

S12、取一个胶膜组件。去除该胶膜组件的覆膜离型膜去除，并通过胶带将该胶膜组件的四条边粘结到工作台上。四条胶带分别粘结在胶膜组件的四条边的边缘，并与胶膜本体接触。该胶膜组件的底膜离型膜工作台接触。

S13、取另一个胶膜组件。去除该胶膜组件的覆膜离型膜。将该胶膜组件的胶膜本体粘结到工作台上的胶膜本体的表面。然后，去除底膜离型膜。

重复上述操作，依次粘结多个胶膜本体直至达到设定厚度的多层粘结结构。其中，最后一个胶膜组件保留底膜离型膜，以形成待测试件。

S14、将待测试件从工作台取下，将待测试件放置到恒温箱中，恒温保存，以消除待测试件的应力。恒温箱的温度为35℃。保温时间为3小时。

S15、对消除应力后的待测试件的流变性能进行测试。其中，待测试件1的厚度t为1.15mm。底膜离型膜的厚度t₁为0.047mm，该待测试件用于剪切模式测试。

待测试件2的厚度t为1.2mm，底膜离型膜的厚度t₁为0.035mm，该待测试件用于拉伸模式测试。

(1)剪切模式测试：

将待测试件1裁剪成直径为8mm的圆片。采用旋转流变仪的平板转子进行测试。

A、测试项目：储能模量、损耗模量、损耗因子。

测试条件：

温度：-50℃至250℃

震荡频率：1Hz

升温速率：3℃/min

震荡应变：0.2％

图2为本公开实施例的多层胶膜本体剪切模式测试的储能模量、损耗模量、损耗因子随温度变化的曲线。

其中，a为储能模量随温度的变化曲线。b为损耗模量随温度的变化曲线。c为损耗因子随温度的变化曲线。

通过读取横坐标和纵坐标的数值，能够获取设定温度下该胶膜本体的储能模量、损耗模量和损耗因子。

从图2中曲线可以看出，该胶膜本体的玻璃化转变温度较为-43.5℃；之后，随着温度的上升，胶膜本体的储能模量下降，在150℃时储能模量加速下降。之后，随着温度的持续上升，胶膜本体发生老化，储能模量有所上升。

B、测试项目：TTS时温转换

测试条件：

温度梯度：-20℃、-15℃、-10℃、-5℃、0℃、5℃、10℃、15℃、20℃、25℃

温度梯度恒温时间：600s

扫描频率：1至100rad/s

振荡应变：0.2％

基准温度：25℃

重复测试：3次

图3为本公开实施例的多层胶膜本体剪切模式下TTS时温转换曲线。

其中，A为不同温度梯度下的储能模量随角频率(1至100rad/s)的变化曲线。由远离储能模量纵坐标原点至靠近储能模量纵坐标原点的多条曲线依次为-20℃、-15℃、-10℃、-5℃、0℃、5℃、10℃、15℃、20℃、25℃的变化曲线。

B为不同温度梯度下的损耗模量随角频率(1至100rad/s)的变化曲线。由远离储能模量的纵坐标原点至靠近储能模量纵坐标原点的多条曲线依次为-20℃、-15℃、-10℃、-5℃、0℃、5℃、10℃、15℃、20℃、25℃的变化曲线。

a为TTS时温转换后的储能模量随扫描频率的变化曲线。

b为TTS时温转换后的损耗模量随扫描频率的变化曲线。

通过读取横坐标和纵坐标的数值，能够获取设定扫描频率下该多层胶膜本体的储能模量、损耗模量。

从图3中可以看出，通过TTS时温转换，可将低温下的频率扫描数据等效转换为25℃下高频的测试数据，从而得到多层胶膜本体在声学振动频率(例如，20Hz-20000Hz)下的储能模量、损耗模量等参数，从而客观评价多层胶膜本体在声学振动频率下的力学性能。该测试重复测试3次，重复性效果优良。

(2)拉伸模式测试：

将待测试件2裁剪成长度为50mm，宽度为5mm的长方形片。采用动态热机械分析仪的拉伸夹具进行测试。

A、测试项目：储能模量、损耗模量、损耗因子。

测试条件：温度：-50℃～200℃

震荡频率：1Hz

升温速率：3℃/min

震荡应变：0.2％

图4为本公开实施例的多层胶膜本体拉伸模式测试的储能模量、损耗模量随温度的变化曲线。

其中，A为损耗因子随温度的变化曲线。B为损耗模量随温度的变化曲线。C为储能模量随温度的变化曲线。

通过读取横坐标和纵坐标的数值，能够获取设定温度下该多层胶膜本体的储能模量、损耗模量和损耗因子。

从图4中曲线可以看出，该胶膜本体的玻璃化转变温度为-31℃；之后，随着温度的上升，胶膜本体的储能模量下降，在110℃时胶膜本体持续变软，力值太小，超出设备测量极限。胶膜本体被拉长，测试中断。

B、测试项目：应力松弛曲线

测试温度：45℃

应变：20％

保温时间：5min

松弛时间：10min

恢复时间：10min

图5为根据本公开实施例的多层胶膜本体的松弛模量和应变恢复率随时间的变化曲线。

其中，a为应变恢复率随时间的变化曲线。b为应变随时间的变化曲线。c为松弛模量随时间的变化曲线。

通过读取横坐标和纵坐标的数值，能够获取设定时间下该多层胶膜本体的松弛模量、应变和应变恢复率。

从图中可以看出，在瞬间施加20％应变后，松弛模量瞬间上升至约0.16MPa，然后瞬间松弛掉大部分松弛模量，松弛10min后，松弛模量还剩约0.03MPa。设定应变撤除后，样条形变在慢慢恢复，10min后，应变从20％恢复至约5％。该测试能够用来评价多层胶膜本体的应力松弛及力撤除后形变恢复能力。

虽然已经通过例子对本发明的一些特定实施例进行了详细说明，但是本领域的技术人员应该理解，以上例子仅是为了进行说明，而不是为了限制本发明的范围。本领域的技术人员应该理解，可在不脱离本发明的范围和精神的情况下，对以上实施例进行修改。本发明的范围由所附权利要求来限定。

Claims (10)

1.一种胶膜的流变性能测试方法，其特征在于，胶膜组件包括底膜离型膜、覆膜离型膜和贴附在所述底膜离型膜和所述覆膜离型膜之间的胶膜本体，所述底膜离型膜的剥离强度大于所述覆膜离型膜的剥离强度；所述测试方法包括；

S1、提供多个所述胶膜组件；

S2、将其中一个所述胶膜组件的所述覆膜离型膜去除，并将去除所述覆膜离型膜的所述胶膜组件固定到工作台上，所述底膜离型膜与所述工作台接触；

S3、依次去除其余多个所述胶膜组件的覆膜离型膜和底膜离型膜，将多个所述胶膜本体层叠粘接在一起，以达到设定厚度，其中，最后一个所述胶膜组件保留所述底膜离型膜，以使多层所述胶膜本体位于两个所述底膜离型膜之间，计两个所述底膜离型膜以及位于两个所述底膜离型膜之间的多层所述胶膜层为待测试件；

S4、将待测试件从工作台取下，在设定温度下，将待测试件保温设定时间，以消除待测试件的应力；

S5、对消除应力后的待测试件的流变性能进行测试。

2.根据权利要求1所述的性能测试方法，其特征在于，在S1步骤中，通过胶带将去除所述覆膜离型膜的所述胶膜组件的边缘固定到工作台上。

3.根据权利要求1所述的流变性能测试方法，其特征在于，在S2步骤中，首先，去除每个胶膜的覆膜离型膜；

然后，将胶膜本体与位于工作台上的胶膜本体粘结在一起；

最后，去除底膜离型膜。

4.根据权利要求3所述的流变性能测试方法，其特征在于，在进行粘结两个胶膜本体时，从两个胶膜本体相对应的同一侧开始逐渐粘结，并采用刮片从一侧向另一侧刮所述底膜离型膜。

5.根据权利要求1所述的流变性能测试方法，其特征在于，在步骤S1之前，还包括将多个胶膜组件裁切成长方形试片，长方形试片的宽度为5厘米至8厘米，长度为10厘米。

6.根据权利要求1所述的流变性能测试方法，其特征在于,所述设定厚度为0.5毫米至1毫米。

7.根据权利要求1所述的流变性能测试方法，其特征在于,在S5步骤中，还包括将待测试件裁切成设定大小、形状，并去除两个所述底膜离型膜。

8.根据权利要求1所述的流变性能测试方法，其特征在于,在S5步骤中，包括剪切模式测试和拉伸模式测试。

9.根据权利要求1-8中的任一项所述的流变性能测试方法，其特征在于,在S4步骤中，所述设定温度为30℃至50℃，所述设定时间为2小时至4小时。

10.根据权利要求1-8中的任一项所述的流变性能测试方法，其特征在于,在S4步骤中，所述待测试件被放置到恒温箱中。

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