CN115756996B - 一种芯片测试方法、装置、设备及可读存储介质 - Google Patents
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Abstract
本申请公开了集成电路技术领域内的一种芯片测试方法、装置、设备及可读存储介质。本申请在执行同一芯片的不同仿真实例时，后一仿真实例可以跳过与前一仿真实例存在重复的测试环节，也就是：后一仿真实例复用前一仿真实例的某一测试环节输出的测试结果，直接基于该测试结果执行下一测试环节，可避免同一测试环节在不同仿真实例中被重复执行，从而节约测试时间，提高测试效率，缩短测试周期。相应地，本申请提供的一种芯片测试装置、设备及可读存储介质，也同样具有上述技术效果。
Description
技术领域
本申请涉及集成电路技术领域，特别涉及一种芯片测试方法、装置、设备及可读存储介质。
背景技术
目前在设计芯片后，需对芯片的各种功能进行多方测试。一般可以使用一个仿真实例对芯片的某一种功能进行测试，那么对芯片的各种功能进行测试，就需要执行用于测试不同功能的多个仿真实例，这些仿真实例中可能存在重复测试内容，因此现有方案逐一执行各个仿真实例会导致重复测试，拖慢测试效率，延长测试周期。
因此，如何提高芯片的测试效率，是本领域技术人员需要解决的问题。
发明内容
有鉴于此，本申请的目的在于提供一种芯片测试方法、装置、设备及可读存储介质，以提高芯片的测试效率。其具体方案如下：
第一方面，本申请提供了一种芯片测试方法，包括：
若前一仿真实例执行完成，则按照预设顺序确定所述前一仿真实例的后一仿真实例；所述前一仿真实例和所述后一仿真实例用于测试被测芯片的不同功能；
若所述前一仿真实例和所述后一仿真实例存在起始信号相同的重复测试环节，则获取所述前一仿真实例执行所述重复测试环节得到的目标测试结果；
在执行所述后一仿真实例的过程中跳过所述重复测试环节，并基于所述目标测试结果执行所述重复测试环节在所述后一仿真实例中的下一测试环节，直至所述后一仿真实例执行完成。
可选地，所述预设顺序的生成过程包括：
获取用于测试所述被测芯片的所有功能的各个仿真实例；
接收用户针对所述被测芯片的每一仿真实例输入的执行序号；
按照所述执行序号生成所述预设顺序。
可选地，还包括：
接收用户输入的测试请求；
根据所述测试请求确定执行序号最小的首个仿真实例；
执行所述首个仿真实例中的所有测试环节，并在执行过程中记录所述首个仿真实例中的所有测试环节的测试结果，得到所述首个仿真实例对应的结果文件。
可选地，所述起始信号包括：输入触发信号和芯片状态信号；
相应地，所述前一仿真实例和所述后一仿真实例存在起始信号相同的重复测试环节，包括：
若所述前一仿真实例中的任一测试环节与所述后一仿真实例中的任一测试环节的输入触发信号和芯片状态信号均相同，则确定这两个测试环节是所述重复测试环节。
可选地，若所述前一仿真实例中的任一测试环节与所述后一仿真实例中的任一测试环节的输入触发信号和/或芯片状态信号不同，则确定这两个测试环节不是所述重复测试环节。
可选地，所述芯片状态信号包括：至少一个芯片寄存器信号。
可选地，所述获取所述前一仿真实例执行所述重复测试环节得到的目标测试结果，包括：
通过预设通信协议从其他设备获取所述目标测试结果。
可选地，所述通过预设通信协议从其他设备获取所述目标测试结果，包括：
通过所述预设通信协议发送所述目标测试结果的获取请求至所述其他设备，以使所述其他设备返回所述目标测试结果。
可选地，所述获取所述前一仿真实例执行所述重复测试环节得到的目标测试结果，包括：
获取所述前一仿真实例中的所有测试环节的测试结果构成的结果集合；
将所述结果集合中与所述起始信号对应的测试结果确定为所述目标测试结果。
可选地，还包括：
在执行所述后一仿真实例的过程中，记录除所述重复测试环节之外的其他测试环节的测试结果。
可选地，所述记录除所述重复测试环节之外的其他测试环节的测试结果，包括：
创建所述后一仿真实例对应的结果文件；
将所述后一仿真实例中除所述重复测试环节之外的其他测试环节的测试结果记录至所述结果文件。
可选地，所述基于所述目标测试结果执行所述重复测试环节在所述后一仿真实例中的下一测试环节，包括：
将所述后一仿真实例中为所述下一测试环节设定的输入触发信号和所述目标测试结果中的芯片状态信号作为所述下一测试环节的起始信号；
基于所述下一测试环节的起始信号执行所述下一测试环节。
可选地，还包括：
若不存在所述后一仿真实例，则生成测试完成的提示消息。
可选地，所述生成测试完成的提示消息之后，还包括：
基于所述被测芯片的每一仿真实例对应的结果文件，得到测试报告；
将所述测试报告发送至预设的目的端，以使所述目的端显示所述测试报告。
可选地，所述基于所述被测芯片的每一仿真实例对应的结果文件，得到测试报告，包括：
将每一仿真实例对应的结果文件中的最终测试结果与对应的预设标准结果进行对比，得到对比结果；
记录每一仿真实例对应的最终测试结果和对比结果，得到所述测试报告。
可选地，还包括：
在不同设备中执行所述被测芯片的不同仿真实例。
可选地，还包括：
在执行所述被测芯片的不同仿真实例的过程中，实时记录所述被测芯片的测试进度。
第二方面，本申请提供了一种芯片测试装置，包括：
确定模块，用于若前一仿真实例执行完成，则按照预设顺序确定所述前一仿真实例的后一仿真实例；所述前一仿真实例和所述后一仿真实例用于测试被测芯片的不同功能；
获取模块，用于若所述前一仿真实例和所述后一仿真实例存在起始信号相同的重复测试环节，则获取所述前一仿真实例执行所述重复测试环节得到的目标测试结果；
执行模块，用于在执行所述后一仿真实例的过程中跳过所述重复测试环节，并基于所述目标测试结果执行所述重复测试环节在所述后一仿真实例中的下一测试环节，直至所述后一仿真实例执行完成。
可选地，所述预设顺序的生成过程包括：
获取用于测试所述被测芯片的所有功能的各个仿真实例；
接收用户针对所述被测芯片的每一仿真实例输入的执行序号；
按照所述执行序号生成所述预设顺序。
可选地，还包括：
测试触发模块，用于接收用户输入的测试请求；根据所述测试请求确定执行序号最小的首个仿真实例；执行所述首个仿真实例中的所有测试环节，并在执行过程中记录所述首个仿真实例中的所有测试环节的测试结果，得到所述首个仿真实例对应的结果文件。
可选地，所述起始信号包括：输入触发信号和芯片状态信号；相应地，所述获取模块具体用于：若所述前一仿真实例中的任一测试环节与所述后一仿真实例中的任一测试环节的输入触发信号和芯片状态信号均相同，则确定这两个测试环节是所述重复测试环节。
可选地，所述获取模块具体用于：若所述前一仿真实例中的任一测试环节与所述后一仿真实例中的任一测试环节的输入触发信号和/或芯片状态信号不同，则确定这两个测试环节不是所述重复测试环节。
可选地，所述芯片状态信号包括：至少一个芯片寄存器信号。
可选地，所述获取模块具体用于：
通过预设通信协议从其他设备获取所述目标测试结果。
可选地，所述获取模块具体用于：
通过所述预设通信协议发送所述目标测试结果的获取请求至所述其他设备，以使所述其他设备返回所述目标测试结果。
可选地，所述获取模块具体用于：
获取所述前一仿真实例中的所有测试环节的测试结果构成的结果集合；
将所述结果集合中与所述起始信号对应的测试结果确定为所述目标测试结果。
可选地，还包括：
记录模块，用于在执行所述后一仿真实例的过程中，记录除所述重复测试环节之外的其他测试环节的测试结果。
可选地，所述记录模块具体用于：
创建所述后一仿真实例对应的结果文件；
将所述后一仿真实例中除所述重复测试环节之外的其他测试环节的测试结果记录至所述结果文件。
可选地，所述执行模块具体用于：
将所述后一仿真实例中为所述下一测试环节设定的输入触发信号和所述目标测试结果中的芯片状态信号作为所述下一测试环节的起始信号；
基于所述下一测试环节的起始信号执行所述下一测试环节。
可选地，还包括：
测试完成模块，用于若不存在所述后一仿真实例，则生成测试完成的提示消息。
可选地，测试完成模块还用于：
基于所述被测芯片的每一仿真实例对应的结果文件，得到测试报告；
将所述测试报告发送至预设的目的端，以使所述目的端显示所述测试报告。
可选地，测试完成模块具体用于：
将每一仿真实例对应的结果文件中的最终测试结果与对应的预设标准结果进行对比，得到对比结果；
记录每一仿真实例对应的最终测试结果和对比结果，得到所述测试报告。
可选地，在不同设备中执行所述被测芯片的不同仿真实例。在执行所述被测芯片的不同仿真实例的过程中，实时记录所述被测芯片的测试进度。
第三方面，本申请提供了一种电子设备，包括：
存储器，用于存储计算机程序；
处理器，用于执行所述计算机程序，以实现前述公开的芯片测试方法。
第四方面，本申请提供了一种可读存储介质，用于保存计算机程序，其中，所述计算机程序被处理器执行时实现前述公开的芯片测试方法。
通过以上方案可知，本申请提供了一种芯片测试方法，包括：若前一仿真实例执行完成，则按照预设顺序确定所述前一仿真实例的后一仿真实例；所述前一仿真实例和所述后一仿真实例用于测试被测芯片的不同功能；若所述前一仿真实例和所述后一仿真实例存在起始信号相同的重复测试环节，则获取所述前一仿真实例执行所述重复测试环节得到的目标测试结果；在执行所述后一仿真实例的过程中跳过所述重复测试环节，并基于所述目标测试结果执行所述重复测试环节在所述后一仿真实例中的下一测试环节，直至所述后一仿真实例执行完成。可见，本申请的有益效果为：在执行同一芯片的不同仿真实例时，后一仿真实例可以跳过与前一仿真实例存在重复的测试环节，也就是：后一仿真实例复用前一仿真实例的某一测试环节输出的测试结果，直接基于该测试结果执行下一测试环节，可避免同一测试环节在不同仿真实例中被重复执行，从而节约测试时间，提高测试效率，缩短测试周期。
相应地，本申请提供的一种芯片测试装置、设备及可读存储介质，也同样具有上述技术效果。
附图说明
为了更清楚地说明本申请实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据提供的附图获得其他的附图。
图1为本申请公开的一种芯片测试方法流程图；
图2为本申请公开的一种不同仿真实例之间的重复测试环节示意图；
图3为本申请公开的一种芯片的不同仿真实例示意图；
图4为本申请公开的一种芯片测试装置示意图；
图5为本申请公开的一种电子设备示意图。
具体实施方式
下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本申请一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本申请保护的范围。
目前，目前在设计芯片后，需对芯片的各种功能进行多方测试。一般可以使用一个仿真实例对芯片的某一种功能进行测试，那么对芯片的各种功能进行测试，就需要执行用于测试不同功能的多个仿真实例，这些仿真实例中可能存在重复测试内容，因此现有方案逐一执行各个仿真实例会导致重复测试，拖慢测试效率，延长测试周期。为此，本申请提供了一种芯片测试方案，能够节约芯片测试时间，提高芯片测试效率，缩短芯片测试周期。
参见图1所示，本申请实施例公开了一种芯片测试方法，包括：
S101、若前一仿真实例执行完成，则按照预设顺序确定前一仿真实例的后一仿真实例；前一仿真实例和后一仿真实例用于测试被测芯片的不同功能。
在本实施例中，同一芯片的不同仿真实例按照预设顺序逐一执行，该预设顺序由测试人员指定。在一种具体实施方式中，预设顺序的生成过程包括：获取用于测试被测芯片的所有功能的各个仿真实例；接收用户针对被测芯片的每一仿真实例输入的执行序号；按照执行序号生成预设顺序。其中，同一被测芯片的各个仿真实例用于测试该芯片的不同功能，且不同仿真实例中可能存在重复测试环节。重复测试环节即：测试输入信号和测试前的芯片状态信号均相同的测试流程。
例如：用户可以在测试端提供的人机交互界面选择被测芯片的所有功能的各个仿真实例，而后针对每个仿真实例指定执行序号，使得测试端基于用户的指定生成各个仿真实例的执行顺序，即预设顺序。
S102、若前一仿真实例和后一仿真实例存在起始信号相同的重复测试环节，则获取前一仿真实例执行重复测试环节得到的目标测试结果。
需要说明的是，按照预设顺序执行首个仿真实例的过程包括：接收用户输入的测试请求；根据测试请求确定执行序号最小的首个仿真实例；执行首个仿真实例中的所有测试环节，并在执行过程中记录首个仿真实例中的所有测试环节的测试结果，得到首个仿真实例对应的结果文件。其中，结果文件中包括一个仿真实例中所有测试环节输出的测试结果，任一测试环节的测试结果包括：任一测试环节结束时的芯片状态信号、任一测试环节开始时的测试输入信号和测试前的芯片状态信号。芯片状态信号包括：至少一个芯片寄存器信号。其中，任一测试环节开始时的输入信号的个数至少有一个、测试前的芯片状态信号的个数至少有一个。
例如：用户可以在测试端提供的人机交互界面输入测试请求，而后测试端根据测试请求确定预设执行顺序中执行序号最小的首个仿真实例，之后执行首个仿真实例中的所有测试环节，并在执行过程中记录首个仿真实例中的所有测试环节的测试结果，由此完成首个仿真实例的执行。之后在执行预设执行顺序中的第二个仿真实例、第三个仿真实例……时，按照本实施例执行，以跳过已执行的重复测试流程，节约测试时间。请参见图2，仿真实例1的T0阶段与仿真实例2的T0阶段的三个输入信号均为：a=a0、b=b0、c=c0，那么仿真实例1的T0阶段与仿真实例2的T0阶段为重复测试环节。因此在仿真实例1执行完成后，执行仿真实例2时，便不必再执行仿真实例2的T0阶段，而直接基于仿真实例1的T0阶段的输出执行仿真实例2的T1阶段，由此跳过重复测试流程，节约测试时间。
本实施例将任一测试环节开始时的测试输入信号和测试前的芯片状态信号作为该测试环节的起始信号。在一种具体实施方式中，起始信号包括：输入触发信号和芯片状态信号；相应地，前一仿真实例和后一仿真实例存在起始信号相同的重复测试环节，包括：若前一仿真实例中的任一测试环节与后一仿真实例中的任一测试环节的输入触发信号和芯片状态信号均相同，则确定这两个测试环节是重复测试环节。若前一仿真实例中的任一测试环节与后一仿真实例中的任一测试环节的输入触发信号和/或芯片状态信号不同，则确定这两个测试环节不是重复测试环节。
同一芯片的不同仿真实例可能在不同设备上执行，因此在一种具体实施方式中，获取前一仿真实例执行重复测试环节得到的目标测试结果，包括：通过预设通信协议从其他设备获取目标测试结果。其中，通过预设通信协议从其他设备获取目标测试结果，包括：通过预设通信协议发送目标测试结果的获取请求至其他设备，以使其他设备返回目标测试结果。可见，不同仿真实例可能被不同设备执行，因此需要跨设备复用测试结果。
在一种具体实施方式中，获取前一仿真实例执行重复测试环节得到的目标测试结果，包括：获取前一仿真实例中的所有测试环节的测试结果构成的结果集合；将结果集合中与起始信号对应的测试结果确定为目标测试结果。
S103、在执行后一仿真实例的过程中跳过重复测试环节，并基于目标测试结果执行重复测试环节在后一仿真实例中的下一测试环节，直至后一仿真实例执行完成。
由于本实施例不重复执行相同测试环节，因此不会有相同测试结果产生，那么也只需记录新产生的非重复测试环节的测试结果。在一种具体实施方式中，在执行后一仿真实例的过程中，记录除重复测试环节之外的其他测试环节的测试结果。其中，记录除重复测试环节之外的其他测试环节的测试结果，包括：创建后一仿真实例对应的结果文件；将后一仿真实例中除重复测试环节之外的其他测试环节的测试结果记录至结果文件。
在一种具体实施方式中，基于目标测试结果执行重复测试环节在后一仿真实例中的下一测试环节，包括：将后一仿真实例中为下一测试环节设定的输入触发信号和目标测试结果中的芯片状态信号作为下一测试环节的起始信号；基于下一测试环节的起始信号执行下一测试环节，由此跳过重复测试流程，节约测试时间。
本实施例在测试完成后，可以生成相应的提示消息，并生成相关测试报告。其中，测试报告可以包括：当前被测芯片的所有仿真实例的所有测试环节输出的测试结果、相关测试结果对应的预设标准结果、测试结果与其预设标准结果之间的对比差异、该差异所体现的芯片可能存在的问题等信息。在一种具体实施方式中，若不存在后一仿真实例，则生成测试完成的提示消息。在一种具体实施方式中，生成测试完成的提示消息之后，还包括：基于被测芯片的每一仿真实例对应的结果文件，得到测试报告；将测试报告发送至预设的目的端，以使目的端显示测试报告。在一种具体实施方式中，基于被测芯片的每一仿真实例对应的结果文件，得到测试报告，包括：将每一仿真实例对应的结果文件中的最终测试结果与对应的预设标准结果进行对比，得到对比结果；记录每一仿真实例对应的最终测试结果和对比结果，得到测试报告。
需要说明的是，测试报告可以以预设邮箱地址等方式推送给相关人员，以使相关人员及时获得该报告。其中，推送方式可以供用户灵活修改，如：修改为：生成包括测试报告的链接，将此链接推送至指定公众号、邮箱地址、某一特定人员测试账户等；或者，将测试报告以特定格式的文件形式推送至指定邮箱地址。接收测试报告的指定公众号、邮箱地址、某一特定人员测试账户等即为目的端。
在一种具体实施方式中，在不同设备中执行被测芯片的不同仿真实例。不同设备如：不同服务器。在一种具体实施方式中，在执行被测芯片的不同仿真实例的过程中，实时记录被测芯片的测试进度，以使测试人员及时掌握测试进度。
可见，本实施例在前一仿真实例执行完成后，按照预设顺序确定前一仿真实例的后一仿真实例；若前一仿真实例和后一仿真实例存在起始信号相同的重复测试环节，则获取前一仿真实例执行重复测试环节得到的目标测试结果；在执行后一仿真实例的过程中跳过重复测试环节，并基于目标测试结果执行重复测试环节在后一仿真实例中的下一测试环节，直至后一仿真实例执行完成。可见，本实施例在执行同一芯片的不同仿真实例时，后一仿真实例可以跳过与前一仿真实例存在重复的测试环节，也就是：后一仿真实例复用前一仿真实例的某一测试环节输出的测试结果，直接基于该测试结果执行下一测试环节，可避免同一测试环节在不同仿真实例中被重复执行，从而节约测试时间，提高测试效率，缩短测试周期。
请参见图3，用于测试同一芯片的不同功能的5个仿真实例如图3所示。本实施例假设各个仿真实例的测试输入信号有三个，分别为：a、b、c，这5个仿真实例的执行顺序为：仿真实例1、仿真实例2、仿真实例3、仿真实例4、仿真实例5。
具体的，仿真实例1的测试内容包括：初始时刻T0时，测试输入信号为：a=a0、b=b0、c=c0，直到测试结束Tend。仿真实例2的测试内容包括：初始时刻T0时，测试输入信号为：a=a0、b=b0、c=c0；T1时刻时，使测试输入信号为：a=a0、b=b1、c=c0，直到测试结束Tend。仿真实例3的测试内容包括：初始时刻T0时，测试输入信号为：a=a0、b=b0、c=c0；T1时刻时，使测试输入信号为：a=a0、b=b1、c=c0；T2时刻时，使测试输入信号为：a=a0、b=b2、c=c0；直到测试结束Tend。仿真实例4的测试内容包括：测试输入信号为：a=a0、b=b0、c=c0；T1时刻时，使测试输入信号为：a=a0、b=b1、c=c0；T3时刻时，使测试输入信号为：a=a0、b=b1、c=c3；直到测试结束Tend。仿真实例5的测试内容包括：测试输入信号为：a=a0、b=b0、c=c0；T3时刻时，使测试输入信号为：a=a3；b=b3；c=c3；直到测试结束Tend。
以上时刻的时刻值T0<T1<T2<T3<Tend，图3中空白部分表示信号的值未发生变化。不同时刻即为上述实施例所述的不同测试环节。
可见，同一芯片的不同仿真实例按照预设顺序逐一执行，该预设顺序由测试人员指定。在一种具体实施方式中，预设顺序的生成过程包括：获取用于测试被测芯片的所有功能的各个仿真实例；接收用户针对被测芯片的每一仿真实例输入的执行序号；按照执行序号生成预设顺序。其中，同一被测芯片的各个仿真实例用于测试该芯片的不同功能，且不同仿真实例中可能存在重复测试环节。重复测试环节即：测试输入信号和测试前的芯片状态信号均相同的测试流程。例如：用户可以在测试端提供的人机交互界面选择被测芯片的所有功能的各个仿真实例，而后针对每个仿真实例指定执行序号，使得测试端基于用户的指定生成各个仿真实例的执行顺序，即预设顺序。
需要说明的是，按照预设顺序执行首个仿真实例的过程包括：接收用户输入的测试请求；根据测试请求确定执行序号最小的首个仿真实例；执行首个仿真实例中的所有测试环节，并在执行过程中记录首个仿真实例中的所有测试环节的测试结果，得到首个仿真实例对应的结果文件。其中，结果文件中包括一个仿真实例中所有测试环节输出的测试结果，任一测试环节的测试结果包括：任一测试环节结束时的芯片状态信号、任一测试环节开始时的测试输入信号和测试前的芯片状态信号。芯片状态信号包括：至少一个芯片寄存器信号。其中，任一测试环节开始时的输入信号的个数至少有一个、测试前的芯片状态信号的个数至少有一个。
图3示意的是不同时刻的测试输入信号，需要说明的是，在仿真到不同的时刻时，芯片内部的其他状态信号也有相对应的值。为描述方便，把仿真实例y在某个时刻Tx时的芯片内部状态信号记录为Sytx，例如：仿真实例4的T3时刻时，芯片内部状态信号记录为S4t3，S4t3即：仿真实例4在T4时刻的所有信号的取值。
本实施例针对同一芯片的不同仿真实例，通过分类提取归纳出相同测试输入信号和Sytx，若某一时刻T之前的不同仿真实例的测试输入信号和Sytx相同，则可以把之前执行过的仿真状态Sytx直接导入本次要执行的仿真实例，避免重复执行相同测试内容，在T时刻以新的测试输入信号继续运行当前仿真实例。
如图3所示，仿真实例1在T1时刻的状态为：S1t1，且仿真实例1在T1时刻的状态也是所有仿真实例都共有的状态，因为不同仿真实例在T1时刻之前的输入条件都一样，所以在跑仿真实例2时，可以直接导入仿真实例1的T1时刻的仿真状态S1t1，只修改输入参量b=b1，之后继续跑仿真实例2的T1阶段。
相应地，仿真实例2和仿真实例3在T2时刻之前所输入的条件都一致，所以对于仿真实例3而言，其T2时刻的状态S3t2与仿真实例2的状态S2t2相同，所以如果仿真实例2已经跑完，那么在跑仿真实例3时，可以直接加载S2t2的状态值作为S3t2状态使用，这样就节省了仿真实例3从0开始到T2时刻的时间。
相应地，仿真实例2和仿真实例4在T3时刻之前所输入的条件都一致，所以对于仿真实例4而言，其T3时刻的状态S4t3与仿真实例2的状态S2t3相同，所以如果仿真实例2已经跑完，那么在跑仿真实例4时，可以直接加载S2t3的状态值作为S4t3状态使用，这样就节省了仿真实例4从0开始到T3时刻的时间。
相应地，仿真实例1和仿真实例5在T3时刻之前所输入的条件都一致，所以对于仿真实例5而言，其T3时刻的状态S5t3与仿真实例1的状态S1t3相同，所以如果仿真实例1已经跑完，那么在跑仿真实例5时，可以直接加载S1t3的状态值作为S5t3状态使用，这样就节省了仿真实例5从0开始到T3时刻的时间。
据此，针对每一仿真实例，可以记录仿真过程中所有时刻的所有信号的取值，包括当时刻的输入测试信号和前一时刻的输出状态信号。由于本实施例不重复执行相同测试环节，因此不会有相同测试结果产生，那么也只需记录新产生的非重复测试环节的测试结果。在一种具体实施方式中，在执行后一仿真实例的过程中，记录除重复测试环节之外的其他测试环节的测试结果。其中，记录除重复测试环节之外的其他测试环节的测试结果，包括：创建后一仿真实例对应的结果文件；将后一仿真实例中除重复测试环节之外的其他测试环节的测试结果记录至结果文件。
在测试完成后，可以生成相应的提示消息，并生成相关测试报告。其中，测试报告可以包括：当前被测芯片的所有仿真实例的所有测试环节输出的测试结果、相关测试结果对应的预设标准结果、测试结果与其预设标准结果之间的对比差异、该差异所体现的芯片可能存在的问题等信息。在一种具体实施方式中，若不存在后一仿真实例，则生成测试完成的提示消息。在一种具体实施方式中，还包括：测试端生成测试完成的提示消息；基于被测芯片的每一仿真实例对应的结果文件，得到测试报告；将测试报告发送至预设的目的端，以使目的端显示测试报告。在一种具体实施方式中，基于被测芯片的每一仿真实例对应的结果文件，得到测试报告，包括：将每一仿真实例对应的结果文件中的最终测试结果与对应的预设标准结果进行对比，得到对比结果；记录每一仿真实例对应的最终测试结果和对比结果，得到测试报告。
需要说明的是，测试报告可以以预设邮箱地址等方式推送给相关人员，以使相关人员及时获得该报告。其中，推送方式可以供用户灵活修改，如：修改为：生成包括测试报告的链接，将此链接推送至指定公众号、邮箱地址、某一特定人员测试账户等；或者，将测试报告以特定格式的文件形式推送至指定邮箱地址。
需要说明的是，一个仿真实例可能需要跑很多天（如10天）才能跑完，其中的一个测试环节可能需要跑2天，所以如果重复执行相同测试环节，会浪费较多时间。而按照本实施例针对相同测试环节进行结果复用，显然可以节约较多时间，使测试效率得到显著提升。
可见，通过确定两个或多个仿真实例的重复测试内容，在跑后一个仿真实例时直接调入前一个仿真实例在某一时刻的输出状态，然后修改后一个仿真实例中的需变动信号值，继续执行后一个仿真实例。可见，从已经执行过的实例中截取相关状态直接加载作为后边其他仿真实例的初始状态，可以减少重复跑仿真所花费的时间和占用的资源。
下面对本申请实施例提供的一种芯片测试装置进行介绍，下文描述的一种芯片测试装置与上文描述的一种芯片测试方法可以相互参照。
参见图4所示，本申请实施例公开了一种芯片测试装置，包括：
确定模块401，用于若前一仿真实例执行完成，则按照预设顺序确定前一仿真实例的后一仿真实例；前一仿真实例和后一仿真实例用于测试被测芯片的不同功能；
获取模块402，用于若前一仿真实例和后一仿真实例存在起始信号相同的重复测试环节，则获取前一仿真实例执行重复测试环节得到的目标测试结果；
执行模块403，用于在执行后一仿真实例的过程中跳过重复测试环节，并基于目标测试结果执行重复测试环节在后一仿真实例中的下一测试环节，直至后一仿真实例执行完成。
在一种具体实施方式中，预设顺序的生成过程包括：
获取用于测试被测芯片的所有功能的各个仿真实例；
接收用户针对被测芯片的每一仿真实例输入的执行序号；
按照执行序号生成预设顺序。
在一种具体实施方式中，还包括：
测试触发模块，用于接收用户输入的测试请求；根据测试请求确定执行序号最小的首个仿真实例；执行首个仿真实例中的所有测试环节，并在执行过程中记录首个仿真实例中的所有测试环节的测试结果，得到首个仿真实例对应的结果文件。
在一种具体实施方式中，起始信号包括：输入触发信号和芯片状态信号；相应地，获取模块具体用于：若前一仿真实例中的任一测试环节与后一仿真实例中的任一测试环节的输入触发信号和芯片状态信号均相同，则确定这两个测试环节是重复测试环节。
在一种具体实施方式中，获取模块具体用于：若前一仿真实例中的任一测试环节与后一仿真实例中的任一测试环节的输入触发信号和/或芯片状态信号不同，则确定这两个测试环节不是重复测试环节。
在一种具体实施方式中，芯片状态信号包括：至少一个芯片寄存器信号。
在一种具体实施方式中，获取模块具体用于：
通过预设通信协议从其他设备获取目标测试结果。
在一种具体实施方式中，获取模块具体用于：
通过预设通信协议发送目标测试结果的获取请求至其他设备，以使其他设备返回目标测试结果。
在一种具体实施方式中，获取模块具体用于：
获取前一仿真实例中的所有测试环节的测试结果构成的结果集合；
将结果集合中与起始信号对应的测试结果确定为目标测试结果。
在一种具体实施方式中，还包括：
记录模块，用于在执行后一仿真实例的过程中，记录除重复测试环节之外的其他测试环节的测试结果。
在一种具体实施方式中，记录模块具体用于：
创建后一仿真实例对应的结果文件；
将后一仿真实例中除重复测试环节之外的其他测试环节的测试结果记录至结果文件。
在一种具体实施方式中，执行模块具体用于：
将后一仿真实例中为下一测试环节设定的输入触发信号和目标测试结果中的芯片状态信号作为下一测试环节的起始信号；
基于下一测试环节的起始信号执行下一测试环节。
在测试完成后，可以生成相应的提示消息，并生成相关测试报告。其中，测试报告可以包括：当前被测芯片的所有仿真实例的所有测试环节输出的测试结果、相关测试结果对应的预设标准结果、测试结果与其预设标准结果之间的对比差异、该差异所体现的芯片可能存在的问题等信息。
在一种具体实施方式中，还包括：
测试完成模块，用于若不存在后一仿真实例，则生成测试完成的提示消息。
在一种具体实施方式中，测试完成模块还用于：
基于被测芯片的每一仿真实例对应的结果文件，得到测试报告；
将测试报告发送至预设的目的端，以使目的端显示测试报告。
在一种具体实施方式中，测试完成模块具体用于：
将每一仿真实例对应的结果文件中的最终测试结果与对应的预设标准结果进行对比，得到对比结果；
记录每一仿真实例对应的最终测试结果和对比结果，得到测试报告。
在一种具体实施方式中，在不同设备中执行被测芯片的不同仿真实例。在执行被测芯片的不同仿真实例的过程中，实时记录被测芯片的测试进度。
在测试完成后，可以生成相应的提示消息，并生成相关测试报告。其中，测试报告可以包括：当前被测芯片的所有仿真实例的所有测试环节输出的测试结果、相关测试结果对应的预设标准结果、测试结果与其预设标准结果之间的对比差异、该差异所体现的芯片可能存在的问题等信息。在一种具体实施方式中，若不存在后一仿真实例，则生成测试完成的提示消息。在一种具体实施方式中，还包括：测试端生成测试完成的提示消息；基于被测芯片的每一仿真实例对应的结果文件，得到测试报告；将测试报告发送至预设的目的端，以使目的端显示测试报告。在一种具体实施方式中，基于被测芯片的每一仿真实例对应的结果文件，得到测试报告，包括：将每一仿真实例对应的结果文件中的最终测试结果与对应的预设标准结果进行对比，得到对比结果；记录每一仿真实例对应的最终测试结果和对比结果，得到测试报告。
需要说明的是，测试报告可以以预设邮箱地址等方式推送给相关人员，以使相关人员及时获得该报告。其中，推送方式可以供用户灵活修改，如：修改为：生成包括测试报告的链接，将此链接推送至指定公众号、邮箱地址、某一特定人员测试账户等；或者，将测试报告以特定格式的文件形式推送至指定邮箱地址。
其中，关于本实施例中各个模块、单元更加具体的工作过程可以参考前述实施例中公开的相应内容，在此不再进行赘述。
可见，本实施例提供了一种芯片测试装置，可避免同一测试环节在不同仿真实例中被重复执行，从而节约测试时间，提高测试效率，缩短测试周期。
下面对本申请实施例提供的一种电子设备进行介绍，下文描述的一种电子设备与上文描述的一种芯片测试方法及装置可以相互参照。
参见图5所示，本申请实施例公开了一种电子设备，包括：
存储器501，用于保存计算机程序；
处理器502，用于执行所述计算机程序，以实现上述任意实施例公开的方法。
在本实施例中，所述处理器执行所述存储器中保存的计算机程序时，可以具体实现以下步骤：若前一仿真实例执行完成，则按照预设顺序确定前一仿真实例的后一仿真实例；前一仿真实例和后一仿真实例用于测试被测芯片的不同功能；若前一仿真实例和后一仿真实例存在起始信号相同的重复测试环节，则获取前一仿真实例执行重复测试环节得到的目标测试结果；在执行后一仿真实例的过程中跳过重复测试环节，并基于目标测试结果执行重复测试环节在后一仿真实例中的下一测试环节，直至后一仿真实例执行完成。
在本实施例中，所述处理器执行所述存储器中保存的计算机程序时，可以具体实现以下步骤：获取用于测试被测芯片的所有功能的各个仿真实例；接收用户针对被测芯片的每一仿真实例输入的执行序号；按照执行序号生成预设顺序。
在本实施例中，所述处理器执行所述存储器中保存的计算机程序时，可以具体实现以下步骤：接收用户输入的测试请求；根据测试请求确定执行序号最小的首个仿真实例；执行首个仿真实例中的所有测试环节，并在执行过程中记录首个仿真实例中的所有测试环节的测试结果，得到首个仿真实例对应的结果文件。
在本实施例中，所述处理器执行所述存储器中保存的计算机程序时，可以具体实现以下步骤：若前一仿真实例中的任一测试环节与后一仿真实例中的任一测试环节的输入触发信号和芯片状态信号均相同，则确定这两个测试环节是重复测试环节。
在本实施例中，所述处理器执行所述存储器中保存的计算机程序时，可以具体实现以下步骤：若前一仿真实例中的任一测试环节与后一仿真实例中的任一测试环节的输入触发信号和/或芯片状态信号不同，则确定这两个测试环节不是重复测试环节。
在本实施例中，所述处理器执行所述存储器中保存的计算机程序时，可以具体实现以下步骤：通过预设通信协议从其他设备获取目标测试结果。
在本实施例中，所述处理器执行所述存储器中保存的计算机程序时，可以具体实现以下步骤：通过预设通信协议发送目标测试结果的获取请求至其他设备，以使其他设备返回目标测试结果。
在本实施例中，所述处理器执行所述存储器中保存的计算机程序时，可以具体实现以下步骤：获取前一仿真实例中的所有测试环节的测试结果构成的结果集合；将结果集合中与起始信号对应的测试结果确定为目标测试结果。
在本实施例中，所述处理器执行所述存储器中保存的计算机程序时，可以具体实现以下步骤：在执行后一仿真实例的过程中，记录除重复测试环节之外的其他测试环节的测试结果。
在本实施例中，所述处理器执行所述存储器中保存的计算机程序时，可以具体实现以下步骤：创建后一仿真实例对应的结果文件；将后一仿真实例中除重复测试环节之外的其他测试环节的测试结果记录至结果文件。
在本实施例中，所述处理器执行所述存储器中保存的计算机程序时，可以具体实现以下步骤：将后一仿真实例中为下一测试环节设定的输入触发信号和目标测试结果中的芯片状态信号作为下一测试环节的起始信号；基于下一测试环节的起始信号执行下一测试环节。
在测试完成后，可以生成相应的提示消息，并生成相关测试报告。其中，测试报告可以包括：当前被测芯片的所有仿真实例的所有测试环节输出的测试结果、相关测试结果对应的预设标准结果、测试结果与其预设标准结果之间的对比差异、该差异所体现的芯片可能存在的问题等信息。在本实施例中，所述处理器执行所述存储器中保存的计算机程序时，可以具体实现以下步骤：若不存在后一仿真实例，则生成测试完成的提示消息。
在本实施例中，所述处理器执行所述存储器中保存的计算机程序时，可以具体实现以下步骤：基于被测芯片的每一仿真实例对应的结果文件，得到测试报告；将测试报告发送至预设的目的端，以使目的端显示测试报告。
在本实施例中，所述处理器执行所述存储器中保存的计算机程序时，可以具体实现以下步骤：将每一仿真实例对应的结果文件中的最终测试结果与对应的预设标准结果进行对比，得到对比结果；记录每一仿真实例对应的最终测试结果和对比结果，得到测试报告。
在本实施例中，所述处理器执行所述存储器中保存的计算机程序时，可以具体实现以下步骤：在不同设备中执行被测芯片的不同仿真实例。
在本实施例中，所述处理器执行所述存储器中保存的计算机程序时，可以具体实现以下步骤：在执行被测芯片的不同仿真实例的过程中，实时记录被测芯片的测试进度。
在测试完成后，可以生成相应的提示消息，并生成相关测试报告。其中，测试报告可以包括：当前被测芯片的所有仿真实例的所有测试环节输出的测试结果、相关测试结果对应的预设标准结果、测试结果与其预设标准结果之间的对比差异、该差异所体现的芯片可能存在的问题等信息。在一种具体实施方式中，若不存在后一仿真实例，则生成测试完成的提示消息。在一种具体实施方式中，还包括：测试端生成测试完成的提示消息；基于被测芯片的每一仿真实例对应的结果文件，得到测试报告；将测试报告发送至预设的目的端，以使目的端显示测试报告。在一种具体实施方式中，基于被测芯片的每一仿真实例对应的结果文件，得到测试报告，包括：将每一仿真实例对应的结果文件中的最终测试结果与对应的预设标准结果进行对比，得到对比结果；记录每一仿真实例对应的最终测试结果和对比结果，得到测试报告。
需要说明的是，测试报告可以以预设邮箱地址等方式推送给相关人员，以使相关人员及时获得该报告。其中，推送方式可以供用户灵活修改，如：修改为：生成包括测试报告的链接，将此链接推送至指定公众号、邮箱地址、某一特定人员测试账户等；或者，将测试报告以特定格式的文件形式推送至指定邮箱地址。
进一步的，本申请实施例还提供了一种服务器作为上述电子设备。该服务器，具体可以包括：至少一个处理器、至少一个存储器、电源、通信接口、输入输出接口和通信总线。其中，所述存储器用于存储计算机程序，所述计算机程序由所述处理器加载并执行，以实现前述任一实施例公开的芯片测试方法中的相关步骤。
本实施例中，电源用于为服务器上的各硬件设备提供工作电压；通信接口能够为服务器创建与外界设备之间的数据传输通道，其所遵循的通信协议是能够适用于本申请技术方案的任意通信协议，在此不对其进行具体限定；输入输出接口，用于获取外界输入数据或向外界输出数据，其具体的接口类型可以根据具体应用需要进行选取，在此不进行具体限定。
另外，存储器作为资源存储的载体，可以是只读存储器、随机存储器、磁盘或者光盘等，其上所存储的资源包括操作系统、计算机程序及数据等，存储方式可以是短暂存储或者永久存储。
其中，操作系统用于管理与控制服务器上的各硬件设备以及计算机程序，以实现处理器对存储器中数据的运算与处理，其可以是Windows Server、Netware、Unix、Linux等。计算机程序除了包括能够用于完成前述任一实施例公开的芯片测试方法的计算机程序之外，还可以进一步包括能够用于完成其他特定工作的计算机程序。数据除了可以包括虚拟机等数据外，还可以包括虚拟机的开发商信息等数据。
进一步的，本申请实施例还提供了一种终端作为上述电子设备。该终端具体可以包括但不限于智能手机、平板电脑、笔记本电脑或台式电脑等。
通常，本实施例中的终端包括有：处理器和存储器。
其中，处理器可以包括一个或多个处理核心，比如4核心处理器、8核心处理器等。处理器可以采用DSP(Digital Signal Processing，数字信号处理)、FPGA(Field－Programmable Gate Array，现场可编程门阵列)、PLA(Programmable Logic Array，可编程逻辑阵列)中的至少一种硬件形式来实现。处理器也可以包括主处理器和协处理器，主处理器是用于对在唤醒状态下的数据进行处理的处理器，也称CPU(Central Processing Unit，中央处理器)；协处理器是用于对在待机状态下的数据进行处理的低功耗处理器。在一些实施例中，处理器可以在集成有GPU(Graphics Processing Unit，图像处理器)，GPU用于负责显示屏所需要显示的内容的渲染和绘制。一些实施例中，处理器还可以包括AI(ArtificialIntelligence，人工智能)处理器，该AI处理器用于处理有关机器学习的计算操作。
存储器可以包括一个或多个计算机可读存储介质，该计算机可读存储介质可以是非暂态的。存储器还可包括高速随机存取存储器，以及非易失性存储器，比如一个或多个磁盘存储设备、闪存存储设备。本实施例中，存储器至少用于存储以下计算机程序，其中，该计算机程序被处理器加载并执行之后，能够实现前述任一实施例公开的由终端侧执行的芯片测试方法中的相关步骤。另外，存储器所存储的资源还可以包括操作系统和数据等，存储方式可以是短暂存储或者永久存储。其中，操作系统可以包括Windows、Unix、Linux等。数据可以包括但不限于应用程序的更新信息。
在一些实施例中，终端还可包括有显示屏、输入输出接口、通信接口、传感器、电源以及通信总线。
可见，本实施例可避免同一测试环节在不同仿真实例中被重复执行，从而节约测试时间，提高测试效率，缩短测试周期。
下面对本申请实施例提供的一种可读存储介质进行介绍，下文描述的一种可读存储介质与上文描述的一种芯片测试方法、装置及设备可以相互参照。
一种可读存储介质，用于保存计算机程序，其中，所述计算机程序被处理器执行时实现前述实施例公开的芯片测试方法。
在本实施例中，可读存储介质中保存的计算机程序，可以具体实现以下步骤：若前一仿真实例执行完成，则按照预设顺序确定前一仿真实例的后一仿真实例；前一仿真实例和后一仿真实例用于测试被测芯片的不同功能；若前一仿真实例和后一仿真实例存在起始信号相同的重复测试环节，则获取前一仿真实例执行重复测试环节得到的目标测试结果；在执行后一仿真实例的过程中跳过重复测试环节，并基于目标测试结果执行重复测试环节在后一仿真实例中的下一测试环节，直至后一仿真实例执行完成。
在本实施例中，可读存储介质中保存的计算机程序，可以具体实现以下步骤：获取用于测试被测芯片的所有功能的各个仿真实例；接收用户针对被测芯片的每一仿真实例输入的执行序号；按照执行序号生成预设顺序。
在本实施例中，可读存储介质中保存的计算机程序，可以具体实现以下步骤：接收用户输入的测试请求；根据测试请求确定执行序号最小的首个仿真实例；执行首个仿真实例中的所有测试环节，并在执行过程中记录首个仿真实例中的所有测试环节的测试结果，得到首个仿真实例对应的结果文件。
在本实施例中，可读存储介质中保存的计算机程序，可以具体实现以下步骤：若前一仿真实例中的任一测试环节与后一仿真实例中的任一测试环节的输入触发信号和芯片状态信号均相同，则确定这两个测试环节是重复测试环节。
在本实施例中，可读存储介质中保存的计算机程序，可以具体实现以下步骤：若前一仿真实例中的任一测试环节与后一仿真实例中的任一测试环节的输入触发信号和/或芯片状态信号不同，则确定这两个测试环节不是重复测试环节。
在本实施例中，可读存储介质中保存的计算机程序，可以具体实现以下步骤：通过预设通信协议从其他设备获取目标测试结果。
在本实施例中，可读存储介质中保存的计算机程序，可以具体实现以下步骤：通过预设通信协议发送目标测试结果的获取请求至其他设备，以使其他设备返回目标测试结果。
在本实施例中，可读存储介质中保存的计算机程序，可以具体实现以下步骤：获取前一仿真实例中的所有测试环节的测试结果构成的结果集合；将结果集合中与起始信号对应的测试结果确定为目标测试结果。
在本实施例中，可读存储介质中保存的计算机程序，可以具体实现以下步骤：在执行后一仿真实例的过程中，记录除重复测试环节之外的其他测试环节的测试结果。
在本实施例中，可读存储介质中保存的计算机程序，可以具体实现以下步骤：创建后一仿真实例对应的结果文件；将后一仿真实例中除重复测试环节之外的其他测试环节的测试结果记录至结果文件。
在本实施例中，可读存储介质中保存的计算机程序，可以具体实现以下步骤：将后一仿真实例中为下一测试环节设定的输入触发信号和目标测试结果中的芯片状态信号作为下一测试环节的起始信号；基于下一测试环节的起始信号执行下一测试环节。
在测试完成后，可以生成相应的提示消息，并生成相关测试报告。其中，测试报告可以包括：当前被测芯片的所有仿真实例的所有测试环节输出的测试结果、相关测试结果对应的预设标准结果、测试结果与其预设标准结果之间的对比差异、该差异所体现的芯片可能存在的问题等信息。在本实施例中，可读存储介质中保存的计算机程序，可以具体实现以下步骤：若不存在后一仿真实例，则生成测试完成的提示消息。
在本实施例中，可读存储介质中保存的计算机程序，可以具体实现以下步骤：基于被测芯片的每一仿真实例对应的结果文件，得到测试报告；将测试报告发送至预设的目的端，以使目的端显示测试报告。
在本实施例中，可读存储介质中保存的计算机程序，可以具体实现以下步骤：将每一仿真实例对应的结果文件中的最终测试结果与对应的预设标准结果进行对比，得到对比结果；记录每一仿真实例对应的最终测试结果和对比结果，得到测试报告。
在本实施例中，可读存储介质中保存的计算机程序，可以具体实现以下步骤：在不同设备中执行被测芯片的不同仿真实例。
在本实施例中，可读存储介质中保存的计算机程序，可以具体实现以下步骤：在执行被测芯片的不同仿真实例的过程中，实时记录被测芯片的测试进度。
在测试完成后，可以生成相应的提示消息，并生成相关测试报告。其中，测试报告可以包括：当前被测芯片的所有仿真实例的所有测试环节输出的测试结果、相关测试结果对应的预设标准结果、测试结果与其预设标准结果之间的对比差异、该差异所体现的芯片可能存在的问题等信息。在一种具体实施方式中，若不存在后一仿真实例，则生成测试完成的提示消息。在一种具体实施方式中，还包括：测试端生成测试完成的提示消息；基于被测芯片的每一仿真实例对应的结果文件，得到测试报告；将测试报告发送至预设的目的端，以使目的端显示测试报告。在一种具体实施方式中，基于被测芯片的每一仿真实例对应的结果文件，得到测试报告，包括：将每一仿真实例对应的结果文件中的最终测试结果与对应的预设标准结果进行对比，得到对比结果；记录每一仿真实例对应的最终测试结果和对比结果，得到测试报告。
需要说明的是，测试报告可以以预设邮箱地址等方式推送给相关人员，以使相关人员及时获得该报告。其中，推送方式可以供用户灵活修改，如：修改为：生成包括测试报告的链接，将此链接推送至指定公众号、邮箱地址、某一特定人员测试账户等；或者，将测试报告以特定格式的文件形式推送至指定邮箱地址。
可见，本实施例可避免同一测试环节在不同仿真实例中被重复执行，从而节约测试时间，提高测试效率，缩短测试周期。
本说明书中各个实施例采用递进的方式描述，每个实施例重点说明的都是与其它实施例的不同之处，各个实施例之间相同或相似部分互相参见即可。
结合本文中所公开的实施例描述的方法或算法的步骤可以直接用硬件、处理器执行的软件模块，或者二者的结合来实施。软件模块可以置于随机存储器（RAM）、内存、只读存储器（ROM）、电可编程ROM、电可擦除可编程ROM、寄存器、硬盘、可移动磁盘、CD-ROM、或技术领域内所公知的任意其它形式的可读存储介质中。
本文中应用了具体个例对本申请的原理及实施方式进行了阐述，以上实施例的说明只是用于帮助理解本申请的方法及其核心思想；同时，对于本领域的一般技术人员，依据本申请的思想，在具体实施方式及应用范围上均会有改变之处，综上所述，本说明书内容不应理解为对本申请的限制。
Claims (19)
1.一种芯片测试方法，其特征在于，包括：
若前一仿真实例执行完成，则按照预设顺序确定所述前一仿真实例的后一仿真实例；所述前一仿真实例和所述后一仿真实例用于测试被测芯片的不同功能；
若所述前一仿真实例和所述后一仿真实例存在起始信号相同的重复测试环节，则获取所述前一仿真实例执行所述重复测试环节得到的目标测试结果；所述起始信号包括：输入触发信号和芯片状态信号；所述芯片状态信号包括：至少一个芯片寄存器信号；所述目标测试结果包括：所述重复测试环节结束时的芯片状态信号、所述重复测试环节开始时的测试输入信号和测试前的芯片状态信号；
在执行所述后一仿真实例的过程中跳过所述重复测试环节，并基于所述目标测试结果执行所述重复测试环节在所述后一仿真实例中的下一测试环节，直至所述后一仿真实例执行完成。
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述预设顺序的生成过程包括：
获取用于测试所述被测芯片的所有功能的各个仿真实例；
接收用户针对所述被测芯片的每一仿真实例输入的执行序号；
按照所述执行序号生成所述预设顺序。
3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，还包括：
接收用户输入的测试请求；
根据所述测试请求确定执行序号最小的首个仿真实例；
执行所述首个仿真实例中的所有测试环节，并在执行过程中记录所述首个仿真实例中的所有测试环节的测试结果，得到所述首个仿真实例对应的结果文件。
4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述前一仿真实例和所述后一仿真实例存在起始信号相同的重复测试环节，包括：
若所述前一仿真实例中的任一测试环节与所述后一仿真实例中的任一测试环节的输入触发信号和芯片状态信号均相同，则确定这两个测试环节是所述重复测试环节。
5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，若所述前一仿真实例中的任一测试环节与所述后一仿真实例中的任一测试环节的输入触发信号和/或芯片状态信号不同，则确定这两个测试环节不是所述重复测试环节。
6.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述获取所述前一仿真实例执行所述重复测试环节得到的目标测试结果，包括：
通过预设通信协议从其他设备获取所述目标测试结果。
7.根据权利要求6所述的方法，其特征在于，所述通过预设通信协议从其他设备获取所述目标测试结果，包括：
通过所述预设通信协议发送所述目标测试结果的获取请求至所述其他设备，以使所述其他设备返回所述目标测试结果。
8.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述获取所述前一仿真实例执行所述重复测试环节得到的目标测试结果，包括：
获取所述前一仿真实例中的所有测试环节的测试结果构成的结果集合；
将所述结果集合中与所述起始信号对应的测试结果确定为所述目标测试结果。
9.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，还包括：
在执行所述后一仿真实例的过程中，记录除所述重复测试环节之外的其他测试环节的测试结果。
10.根据权利要求9所述的方法，其特征在于，所述记录除所述重复测试环节之外的其他测试环节的测试结果，包括：
创建所述后一仿真实例对应的结果文件；
将所述后一仿真实例中除所述重复测试环节之外的其他测试环节的测试结果记录至所述结果文件。
11.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述基于所述目标测试结果执行所述重复测试环节在所述后一仿真实例中的下一测试环节，包括：
将所述后一仿真实例中为所述下一测试环节设定的输入触发信号和所述目标测试结果中的芯片状态信号作为所述下一测试环节的起始信号；
基于所述下一测试环节的起始信号执行所述下一测试环节。
12.根据权利要求1至11任一项所述的方法，其特征在于，还包括：
若不存在所述后一仿真实例，则生成测试完成的提示消息。
13.根据权利要求12所述的方法，其特征在于，所述生成测试完成的提示消息之后，还包括：
基于所述被测芯片的每一仿真实例对应的结果文件，得到测试报告；
将所述测试报告发送至预设的目的端，以使所述目的端显示所述测试报告。
14.根据权利要求13所述的方法，其特征在于，所述基于所述被测芯片的每一仿真实例对应的结果文件，得到测试报告，包括：
将每一仿真实例对应的结果文件中的最终测试结果与对应的预设标准结果进行对比，得到对比结果；
记录每一仿真实例对应的最终测试结果和对比结果，得到所述测试报告。
15.根据权利要求1至11任一项所述的方法，其特征在于，还包括：
在不同设备中执行所述被测芯片的不同仿真实例。
16.根据权利要求15所述的方法，其特征在于，还包括：
在执行所述被测芯片的不同仿真实例的过程中，实时记录所述被测芯片的测试进度。
17.一种芯片测试装置，其特征在于，包括：
确定模块，用于若前一仿真实例执行完成，则按照预设顺序确定所述前一仿真实例的后一仿真实例；所述前一仿真实例和所述后一仿真实例用于测试被测芯片的不同功能；
获取模块，用于若所述前一仿真实例和所述后一仿真实例存在起始信号相同的重复测试环节，则获取所述前一仿真实例执行所述重复测试环节得到的目标测试结果；所述起始信号包括：输入触发信号和芯片状态信号；所述芯片状态信号包括：至少一个芯片寄存器信号；所述目标测试结果包括：所述重复测试环节结束时的芯片状态信号、所述重复测试环节开始时的测试输入信号和测试前的芯片状态信号；
执行模块，用于在执行所述后一仿真实例的过程中跳过所述重复测试环节，并基于所述目标测试结果执行所述重复测试环节在所述后一仿真实例中的下一测试环节，直至所述后一仿真实例执行完成。
18.一种电子设备，其特征在于，包括：
存储器，用于存储计算机程序；
处理器，用于执行所述计算机程序，以实现如权利要求1至16任一项所述的方法。
19.一种可读存储介质，其特征在于，用于保存计算机程序，其中，所述计算机程序被处理器执行时实现如权利要求1至16任一项所述的方法。
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