CN115656632A - 适用于阻抗分析仪的曲线扫描轨迹示踪与对比算法 - Google Patents
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Abstract
本发明涉及一种适用于阻抗分析仪的曲线扫描轨迹示踪与对比算法,包括如下步骤:设置曲线参数;开始扫描测量,根据设置的参数,将测量结果绘制成曲线;设置需要计算测量对比值的频率点;计算已测量曲线,在所有添加的频率点处的测量值,写入数据表;将测量曲线和计算的测量值结果导出,进行进一步数据分析和处理。本发明针对现有曲线轨迹示踪算法的不足,计算每条曲线在特定频点的测量值,提供定量分析的标准,同时允许撤销测量结果并进行重新测量,不改变曲线轨迹示踪基本方法的功能,仍然保持定性分析的过程。
Description
技术领域
本发明涉及仪器仪表和电子测量领域,尤其涉及一种适用于阻抗分析仪的曲线扫描轨迹示踪与对比算法。
背景技术
对于现代智能仪器,例如阻抗分析仪,功能中一般都包含了曲线轨迹示踪功能。该功能可以用于在相同的测试条件下多次测量相同或不同的被测件,对测量结果进行对比,进而做出进一步的数据分析和处理。目前常用的曲线轨迹示踪功能只能显示测量的曲线轨迹,无法撤销,且对比分析只能进行定性分析,较难获得特定频点下的每条曲线的测量值,不适合进行定量对比分析。因此目前的曲线轨迹示踪功能还存在较大的改进空间。
发明内容
本发明要解决的技术问题是:提供一种用于阻抗分析仪的曲线扫描轨迹示踪与对比算法,在显示曲线轨迹示踪的基础上,可以计算每条曲线在特定频点的测量值,提供定量分析的标准,同时允许撤销测量结果并进行重新测量。
本发明提供一种适用于阻抗分析仪的曲线扫描轨迹示踪与对比算法,包括如下步骤:
步骤一、设置曲线参数,所述曲线参数包括起始频率、终止频率、测量参数、坐标轴类型等;
步骤二、开始扫描测量,根据设置的参数,将测量结果绘制成曲线,可进行多次测量,并绘制出多条曲线;
步骤三、设置需要计算测量对比值的频率点;
步骤四、计算已测量曲线,在所有添加的频率点处的测量值,写入数据表;
步骤五、将测量曲线和计算的测量值结果导出,进行进一步数据分析和处理。
其中,步骤四中,通过插值计算频率点的测量值,具体方法如下:
a、已知设置的频率点为f,查找曲线上所有点的频率值(X轴),找到两个相邻点p1和p2,使得频率f在p1和p2对应的频率区间[f1,f2]中;
b、根据p1和p2的测量值(Y坐标)y1和y2,插值计算频率点f处的测量值(Y坐标)y;
若X轴为对数轴,使用对数插值,具体计算公式如下:
若X轴为线性轴,使用线性插值,具体计算公式如下:
本发明的有益效果是:本发明针对现有曲线轨迹示踪算法的不足,计算每条曲线在特定频点的测量值,提供定量分析的标准,同时允许撤销测量结果并进行重新测量,不改变曲线轨迹示踪基本方法的功能,仍然保持定性分析的过程。
附图说明
图1为本发明进行一次测量时绘制的曲线图;
图2为本发明进行多次测量时绘制的曲线图。
具体实施方式
下面结合附图对本发明的较佳实施例进行详细阐述,以使本发明的优点和特征能更易被本领域人员理解,从而对本发明的保护范围做出更为清楚明确的界定。
下面以现有的阻抗分析仪测量多个电感的阻抗-电感曲线为例,本发明的用于阻抗分析仪的曲线扫描轨迹示踪与对比算法具体处理方法如下:
(1)设置扫描的起始和终止频率,分别为10kHz和130MHz,测量参数分别为|Z|和Ls,横坐标为对数坐标轴;
(2)将被测电感连接到阻抗分析仪,进行一次测量,坐标轴中分别绘制曲线Z-01和Ls-01,曲线点数默认为201个,如图1所示;
(3)更换被测电感,进行多次曲线测量,每次测量后更换被测电感,最终绘制多条曲线,如图2所示;
(4)切换到数据页面,通过在数据列表中添加行进行计算频率的添加,频率可设置范围在起始频率和终止频率之间,实例中添加的频率为10kHz、100kHz、1MHz、10MHz、100MHz;
(5)通过插值计算每一个频率点在每一条曲线上的测量值,插值方法如下:
a、已知设置的频率点为f,查找曲线上所有点的频率值(X轴),找到两个相邻点p1和p2,使得频率f在p1和p2对应的频率区间[f1,f2]中;
b、根据p1和p2的测量值(Y坐标)y1和y2,插值计算频率点f处的测量值(Y坐标)y;
若X轴为对数轴,使用对数插值,具体计算公式如下:
若X轴为线性轴,使用线性插值,具体计算公式如下:
c、重复步骤a、b,计算频率点在每一条曲线上的测量值,写入表格中。
(6)将绘制的曲线和计算的数据导出,曲线为图片格式(png),数据为文本格式(csv)。
最后应说明的是:以上实施例,仅为本发明的具体实施方式,用以说明本发明的技术方案,而非对其限制,本发明的保护范围并不局限于此,尽管参照前述实施例对本发明进行了详细的说明,本领域的普通技术人员应当理解:任何熟悉本技术领域的技术人员在本发明揭露的技术范围内,其依然可以对前述实施例所记载的技术方案进行修改或可轻易想到变化,或者对其中部分技术特征进行等同替换;而这些修改、变化或者替换,并不使相应技术方案的本质脱离本发明实施例技术方案的精神和范围,都应涵盖在本发明的保护范围之内。因此,本发明的保护范围应以权利要求的保护范围为准。
Claims (4)
1.一种适用于阻抗分析仪的曲线扫描轨迹示踪与对比算法,其特征在于,包括如下步骤:
步骤一、设置曲线参数;
步骤二、开始扫描测量,根据设置的参数,将测量结果绘制成曲线;
步骤三、设置需要计算测量对比值的频率点;
步骤四、计算已测量曲线,在所有添加的频率点处的测量值,写入数据表;
步骤五、将测量曲线和计算的测量值结果导出,进行进一步数据分析和处理。
2.根据权利要求1所述的适用于阻抗分析仪的曲线扫描轨迹示踪与对比算法,其特征在于,步骤一中,所述曲线参数包括起始频率、终止频率、测量参数、坐标轴类型。
3.根据权利要求1所述的适用于阻抗分析仪的曲线扫描轨迹示踪与对比算法,其特征在于,步骤二中,根据设置的参数进行多次测量,并绘制出多条曲线。
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