CN115602102A - 一站式有机发光二极管面板的亮度校正与局部电阻电位降补偿的方法 - Google Patents

一站式有机发光二极管面板的亮度校正与局部电阻电位降补偿的方法 Download PDF

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Abstract

一种一站式有机发光二极管面板的亮度校正与局部电阻电位降补偿的方法包括步骤：(A)拍摄有机发光二极管面板于多个预定灰阶的各子像素的亮度信息；(B)计算各灰阶的亮度校正补偿值，并选出其中一特定灰阶的亮度校正补偿值予以储存；(C)由各灰阶的亮度校正补偿值扣除储存的该特定灰阶的亮度校正补偿值，计算出各子像素的局部电阻电位降补偿参数；以及(D)根据局部电阻电位降补偿将该有机发光二极管面板所区分的多个区域，将步骤(C)所计算出的各子像素于各灰阶的局部电阻电位降补偿参数融合，得出各区域的局部电阻电位降补偿参数。

Description

一站式有机发光二极管面板的亮度校正与局部电阻电位降补 偿的方法
技术领域
本发明是关于有机发光二极管面板的技术领域，尤指一种一站式有机发光二极管面板的亮度校正与局部电阻电位降补偿的方法。
背景技术
有机发光二极管(Organic Light Emitting Diode，OLED)面板由于制程上各子像素之间有许多变异造成面板亮度随机性的不均(Mura现象)，通常以沙状呈现(Sandy Mura)而良率低落，若要解决此问题则需透过光学补偿方式来达成，亦即以亮度校正(Demura)来去除面板的亮度不均。又因为OLED面板是由电源芯片所供电，而电源走线的距离不同使得供给各子像素的电压(ELVDD)有不同程度的电阻电位降(IR drop)，导致面内亮度渐进性的不均，而需要进行局部电阻电位降补偿(Local IR drop compensation，LIRC)。
前述Demura需要取得OLED面板显示不同灰阶的各颜色(R/G/B)时的所有子像素单元亮度信息，并分析其亮度不均的状况，以求取并储存对应每一子像素单元的不同灰阶的各颜色的Demura补偿值。但由于前述Demura补偿值的资料量庞大，所以一般无法储存所有灰阶的Demura补偿值，而只是储存对应每一子像素单元的某一特定灰阶的各颜色的Demura补偿值，而对于其余的灰阶的Demura补偿值则是以计算求得，以供进行亮度校正。
前述LIRC是在OLED生产流程中，对每一片OLED面板均以光学仪器(例如CA-410)来量测OLED面板内各位置的亮度，以建立局部电阻电位降(local IR drop)的模型及建立补偿相关的参数。举例而言，每一片OLED面板区分为2x3＝6个区域，以光学仪器量测R64/R128/R192/R255、G64/G128/G192/G255、及B64/B128/B192/B255等3颜色(R/G/B)、4灰阶(64/128/192/255)共12张影像在OLED面板的6(＝2x3)个区域的亮度信息，亦即，总计需量测12x6＝72个区域的亮度信息，而此72个区域的亮度信息皆被储存以建立LIRC模型及建立LIRC补偿参数，以供进局部电阻电位降补偿。
而随着面板厂以及手机厂对于OLED面内均匀度的要求日渐严苛，LIRC的补偿分区数也跟著提高，可能区分为高达上百个区域，而为了取得所有测试色彩的所有区域的亮度信息，总共可能需要量测上千个位置点，如此一来将极为耗时而对面板的生产速度造成极其严重的影响。
再者，在驱动芯片的资料路径中，LIRC是在Demura的处理之前，所以在现有OLED生产流程中，LIRC及Demura的运作流程为先进行LIRC以量测LIRC所需测试色彩的各分区亮度、计算出LIRC的补偿参数、及进行LIRC补偿；且基于已经补偿OLED面板面内亮度渐进性的不均的情况下，再进行Demura补偿。
由于前述Demura与LIRC需在两制程站点分别以CCD相机进行拍摄及以光学仪器进行量测，其耗时甚久进而导致对面板的生产速度造成极其严重的影响。
因此，在现有显示面板的制程上，实仍存在有诸多缺失而有予以改善的必要。
发明内容
本发明的目的主要是在提供一种一站式有机发光二极管面板的亮度校正与局部电阻电位降补偿的方法，其将局部电阻电位降补偿与亮度校正整合在同一站点执行，可避免生产设备及时间成本的增加且有效处理有机发光二极管面板的两种的亮度不均问题。
依据本发明的一特色，是提出一种一站式有机发光二极管面板的亮度校正与局部电阻电位降补偿的方法包括步骤：(A)对每一颜色，拍摄有机发光二极管面板于多个预定灰阶的各子像素的亮度信息；(B)对每一颜色，计算各灰阶的亮度校正补偿值，并选出其中一特定灰阶的亮度校正补偿值予以储存；(C)对每一颜色，由各灰阶的亮度校正补偿值扣除储存的该特定灰阶的亮度校正补偿值，计算出各子像素的局部电阻电位降补偿参数；以及(D)对每一颜色，根据局部电阻电位降补偿将该有机发光二极管面板所区分的多个区域，将步骤(C)所计算出的各子像素于各灰阶的局部电阻电位降补偿参数融合，得出各区域的局部电阻电位降补偿参数。
附图说明
图1显示本发明的一站式有机发光二极管面板的亮度校正与局部电阻电位降补偿的方法的流程。
图2示意地显示有机发光二极管面板的结构。
图3示意地显示有机发光二极管面板于多个预定灰阶的各子像素单元的亮度信息。
图4示意地显示有机发光二极管面板的多个区域的局部电阻电位降补偿参数。
步骤 S11～S14
有机发光二极管面板 20
像素单元 21
子像素单元 201
区域 41
具体实施方式
为了使本发明的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本发明进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本发明的实施方式，并不用于限定本发明。
图1显示本发明的一站式有机发光二极管(Organic Light Emitting Diode，OLED)面板的亮度校正与局部电阻电位降补偿的方法的流程。于本发明的方法中，是将局部电阻电位降补偿(Local IR drop compensation，LIRC)与亮度校正(Demura)整合在同一站点执行，亦即，图1的步骤(A)至(D)是于同一Demura站点执行，以得到Demura补偿值及LIRC补偿参数，来对OLED面板进行亮度不均补偿及LIRC补偿，其中，如图2所示，有OLED面板20具有多数个像素单元21，每一像素单元21包含至少一颜色的子像素单元201，于一实施例及本发明以下的说明中，该OLED面板20的每一像素单元21是包含一红色(R)子像素单元201、一绿色(G)子像素单元201及一蓝色(B)子像素单元201，亦即，OLED面板20的像素单元21所显示的颜色是由R/G/B三种颜色所组合而成，然而，本发明不以此子像素的排列组合为限，在其它实施例中，上述像素单元中的子像素单元也可以是不同顺序的排列组合。
如图1所示，于步骤S11中，是对R/G/B三种颜色的每一颜色，以CCD相机拍摄OLED面板20于多个预定灰阶的各子像素单元201的亮度信息。以8位元色深的显示为例，多个预定灰阶是例如为第64阶、第128阶、第192阶及第255阶等4个灰阶，因此，如图3所示，步骤S11是于Demura站点以CCD相机拍摄R64/R128/R192/R255、G64/G128/G192/G255、及B64/B128/B192/B255等3颜色(R/G/B)、4灰阶(64/128/192/255)共12张影像的子像素单元201的亮度信息。
其次，于步骤S12中，是对R/G/B三种颜色的每一颜色，根据步骤S11所拍摄OLED面板20于多个预定灰阶的各子像素201的亮度信息，并分析其亮度不均的状况，计算出各灰阶的Demura补偿值，并选出其中一特定灰阶的Demura补偿值予以储存至快闪存储器(Flash)，此特定灰阶为经亮度分析为最佳的一阶；以前述步骤S11所示的范例而言，是根据图3的12张影像的子像素单元201的亮度信息，计算出各灰阶(64/128/192/255)的Demura补偿值，特定地，对于每一灰阶(64/128/192/255)，是计算出红色(R)的Demura补偿值(Demura_comR)、绿色(G)的Demura补偿值(Demura_comG)、及蓝色(B)的Demura补偿值(Demura_comB)；并由灰阶(64/128/192/255)中选出其中一特定灰阶(64)的Demura补偿值予以储存至快闪存储器，此特定灰阶Demura补偿值包含红色(R)的特定灰阶Demura补偿值(Demura_comR_sp_scale)、绿色(G)的特定灰阶Demura补偿值(Demura_comG_sp_scale)、及蓝色(B)的特定灰阶Demura补偿值(Demura_comB_sp_scale)。由此步骤S12所得Demura补偿值与显示资料值的关系式为：
R’＝R+Demura_comR；
G’＝G+Demura_comG；
B’＝B+Demura_comB； (式1)
其中，R/G/B为红色/绿色/蓝色子像素单元201所要显示的原始红色/绿色/蓝色显示资料值，Demura_comR/Demura_comG/Demura_comB为储存或计算出的红色/绿色/蓝色的Demura补偿值，R’/G’/B’为Demura补偿后的红色/绿色/蓝色显示资料值。
接着，于步骤S13中，是对R/G/B三种颜色的每一颜色，由各灰阶的Demura补偿值扣除储存的特定灰阶的Demura补偿值，以计算出各子像素的LIRC补偿的偏移值参数，其中，LIRC是用以将OLED面板20区分为多个区域，并对每一颜色量测OLED面板20于多个预定灰阶的各区域的亮度信息。步骤S13是利用步骤S11所拍摄OLED面板20于多个预定灰阶的各子像素201的亮度信息及步骤S12所计算出各灰阶的Demura补偿值，来计算出各子像素201的LIRC补偿参数。
由于实际上以Demura及LIRC将OLED面板20的亮度不均现象补偿完全与显示资料值的关系式为：
R’＝R+LIRC_offsetR+Demura_comR_sp_scale；
G’＝G+LIRC_offsetG+Demura_comG_sp_scale；
B’＝B+LIRC_offsetB+Demura_comB_sp_scale； (式2)
其中，R/G/B为红色/绿色/蓝色子像素单元201所要显示的原始红色/绿色/蓝色显示资料值，LIRC_offsetR/LIRC_offsetG/LIRC_offsetB为红色/绿色/蓝色的LIRC补偿参数，Demura_comR_sp_scale/Demura_comG_sp_scale/Demura_comB_sp_scale为红色/绿色/蓝色的特定灰阶Demura补偿值，R’/G’/B’为LIRC补偿后的红色/绿色/蓝色显示资料值。比较式1与式2，可以得到：
Demura_comR＝LIRC_offsetR+Demura_comR_sp_scale；
Demura_comG＝LIRC_offsetG+Demura_comG_sp_scale；
Demura_comB＝LIRC_offsetB+Demura_comB_sp_scale；
亦即：
LIRC_offsetR＝Demura_comR-Demura_comR_sp_scale；
LIRC_offsetG＝Demura_comG-Demura_comG_sp_scale；
LIRC_offsetB＝Demura_comB-Demura_comB_sp_scale；
因此可得各子像素201的LIRC补偿参数等于各灰阶的Demura补偿值扣除储存的特定灰阶的Demura补偿值。例如，假设Demura储存的是第64阶的Demura补偿值，可以求得OLED面板20各子像素第128阶的LIRC补偿参数：
LIRC_offsetR[128]＝Demura_comR[128]–Demura_comR[64]；
LIRC_offsetG[128]＝Demura_comG[128]–Demura_comR[64]；
LIRC_offsetB[128]＝Demura_comB[128]–Demura_comR[64]；
其中，LIRC_offsetR[128]/LIRC_offsetG[128]/LIRC_offsetB[128]为红色/绿色/蓝色的第128阶的LIRC补偿参数，Demura_comR[128]/Demura_comG[128]/Demura_comB[128]为红色/绿色/蓝色的第128阶的Demura补偿值，Demura_comR[64]/Demura_comG[64]/Demura_comB[64]为红色/绿色/蓝色的第64阶的Demura补偿值。
因此，在步骤S11的Demura站点以CCD相机取得的R64/R128/R192/R255、G64/G128/G192/G255、B64/B128/B192/B255全子像素亮度信息，即为LIRC需要储存的补偿参数对应的多个预定灰阶(64/128/192/255)，而能以一站式的LIRC及Demura求得所需的各子像素的LIRC补偿值。
最后，于步骤S14中，是对R/G/B三种颜色的每一颜色，根据LIRC将OLED面板20所区分的多个区域，将步骤S13所计算出的各子像素于各灰阶的LIRC补偿参数融合，得出各区域的LIRC补偿参数，如图4所示，由于步骤S13是求得对每一颜色的各子像素201的LIRC补偿参数，而LIRC所要储存的是OLED面板20的多个区域41的LIRC补偿参数，因此将属于同一区域41的子像素201于各灰阶的LIRC补偿参数予以平均，而获致OLED面板20的多个区域41的LIRC补偿参数。
由以上的说明可知，本发明藉由Demura站点的拍摄以取得整面所有子像素的亮度信息，可以用以计算对应LIRC分区的亮度信息，其弹性充足，可以适用于不同的LIRC分区数，而不必重新量测，因此，不同于现有技术，本发明不需要双站点来处理OLED面板的两种的亮度不均问题，而可避免生产设备及时间成本的增加。
上述实施例仅是为了方便说明而举例而已，本发明所主张的权利范围自应以权利要求所述为准，而非仅限于上述实施例。

Claims (9)

1.一种一站式有机发光二极管面板的亮度校正与局部电阻电位降补偿的方法，该有机发光二极管面板具有多数个像素单元，每一像素单元包含至少一颜色的子像素单元，其特征在于，该方法包括步骤：
(A)对每一颜色，拍摄有机发光二极管面板于多个预定灰阶的各子像素的亮度信息；
(B)对每一颜色，计算各灰阶的亮度校正补偿值，并选出其中一特定灰阶的亮度校正补偿值予以储存；
(C)对每一颜色，由各灰阶的亮度校正补偿值扣除储存的该特定灰阶的亮度校正补偿值，计算出各子像素的局部电阻电位降补偿参数；以及
(D)对每一颜色，根据局部电阻电位降补偿将该有机发光二极管面板所区分的多个区域，将步骤(C)所计算出的各子像素于各灰阶的局部电阻电位降补偿参数融合，得出各区域的局部电阻电位降补偿参数。
2.如权利要求1所述的一站式有机发光二极管面板的亮度校正与局部电阻电位降补偿的方法，其特征在于，于步骤(A)中，是以CCD相机拍摄有机发光二极管面板于多个预定灰阶的各子像素的亮度信息。
3.如权利要求1所述的一站式有机发光二极管面板的亮度校正与局部电阻电位降补偿的方法，其特征在于，每一像素单元包含一红色子像素单元、一绿色子像素单元及一蓝色子像素单元。
4.如权利要求3所述的一站式有机发光二极管面板的亮度校正与局部电阻电位降补偿的方法，其特征在于，步骤(B)是计算出每一灰阶的红色的亮度校正补偿值、绿色的亮度校正补偿值、及蓝色的亮度校正补偿值，且该亮度校正补偿值与显示资料值的关系式为：
R’＝R+Demura_comR；
G’＝G+Demura_comG；
B’＝B+Demura_comB；
当中，R/G/B为红色/绿色/蓝色子像素单元所要显示的原始红色/绿色/蓝色显示资料值，Demura_comR/Demura_comG/Demura_comB为红色/绿色/蓝色的亮度校正补偿值，R’/G’/B’为亮度校正补偿后的红色/绿色/蓝色显示资料值。
5.如权利要求4所述的一站式有机发光二极管面板的亮度校正与局部电阻电位降补偿的方法，其特征在于，各子像素的局部电阻电位降补偿参数是依下述关系式求得：
LIRC_offsetR＝Demura_comR-Demura_comR_sp_scale；
LIRC_offsetG＝Demura_comG-Demura_comG_sp_scale；
LIRC_offsetB＝Demura_comB-Demura_comB_sp_scale；
当中，LIRC_offsetR/LIRC_offsetG/LIRC_offsetB为红色/绿色/蓝色的局部电阻电位降补偿参数，Demura_comR_sp_scale/Demura_comG_sp_scale/Demura_comB_sp_scale为红色/绿色/蓝色的特定灰阶亮度校正补偿值。
6.如权利要求4所述的一站式有机发光二极管面板的亮度校正与局部电阻电位降补偿的方法，其特征在于，于步骤(D)中，是将属于同一区域的子像素于各灰阶的局部电阻电位降补偿参数予以平均，而获致有机发光二极管面的多个区域的局部电阻电位降补偿参数。
7.如权利要求1所述的一站式有机发光二极管面板的亮度校正与局部电阻电位降补偿的方法，其特征在于，步骤(A)至(D)是于亮度校正站点执行。
8.如权利要求1所述的一站式有机发光二极管面板的亮度校正与局部电阻电位降补偿的方法，其特征在于，于步骤(B)中，该选出的特定灰阶是经亮度分析为最佳的一阶。
9.如权利要求1所述的一站式有机发光二极管面板的亮度校正与局部电阻电位降补偿的方法，其特征在于，于步骤(B)中，该特定灰阶的亮度校正补偿值是储存至快闪存储器。
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