CN115598625A - 激光雷达测量校正方法、装置、设备及存储介质 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种激光雷达测量校正方法、装置、设备及存储介质，属于激光雷达技术领域。本发明获取激光雷达电机的当前转速数据和测量时的光强数据；根据光强数据确定激光器的初始发光准备时间数据；获取预设转速和预设发光准备时间；根据当前转速数据、初始发光准备时间数据、预设转速以及预设发光准备时间计算延迟时间；根据延迟时间对激光器的初始发光准备时间数据进行校正，得到目标发光准备时间；基于目标发光准备时间控制激光器进行发光，以完成激光雷达测量校正，可使激光器的发光准备时间统一为目标发光准备时间，从而使激光器不论转速和发光准备时间是否相同都在同一个角度发光，避免了测试位置的标记出现偏差，提高激光雷达的测量效果。

Description

激光雷达测量校正方法、装置、设备及存储介质

技术领域

本发明涉及激光雷达技术领域，尤其涉及一种激光雷达测量校正方法、装置、设备及存储介质。

背景技术

现有的激光雷达测量时，激光雷达使用在二维和三维测距领域时所使用的多点测距都依赖于电机转动将激光发射位置由单一位置变成了一条线，而两个电机的组合转动，则将一条线变成了一个面。在码盘上可以标记每一个起始测量位置，每一次测量时间都在几个微秒，在电机不同转速下会使码盘上同一个标记点不是测量同一个位置，导致测试位置的标记出现偏差，导致激光雷达的测量效果差。

发明内容

本发明的主要目的在于提供一种激光雷达测量校正方法、装置、设备及存储介质，旨在解决现有技术激光雷达测试时出现偏差，导致测量效果差的技术问题。

为实现上述目的，本发明提供了一种激光雷达测量校正方法，所述方法包括以下步骤:

获取激光雷达电机的当前转速数据和测量时的光强数据；

根据所述光强数据确定激光器的初始发光准备时间数据；

获取预设转速和预设发光准备时间；

根据所述当前转速数据、所述初始发光准备时间数据、所述预设转速以及所述预设发光准备时间计算延迟时间；

根据所述延迟时间对所述激光器的初始发光准备时间数据进行校正，得到目标发光准备时间；

基于所述目标发光准备时间控制所述激光器进行发光，以完成激光雷达测量校正。

可选地，所述根据所述当前转速数据、所述初始发光准备时间数据、所述预设转速以及所述预设发光准备时间计算延迟时间，包括：

根据所述当前转速数据、所述初始发光准备时间数据、所述预设转速以及所述预设发光准备时间计算转动角度数据；

通过所述转动角度数据和所述当前转速数据计算延迟时间。

可选地，所述转动角度数据包括：当前转动角度数据和预设转动角度；

所述根据所述当前转速数据、所述初始发光准备时间数据、所述预设转速以及所述预设发光准备时间计算转动角度数据，包括：

通过所述初始发光准备时间数据和所述当前转速数据计算当前转动角度数据；

通过所述预设发光准备时间和所述预设转速计算预设转动角度；

将所述当前转动角度和所述预设转动角度作为转动角度数据。

可选地，所述通过所述转动角度数据和所述当前转速数据计算延迟时间，包括：

通过所述当前转动角度数据和所述预设转动角度计算转动角度差；

通过所述当前转动角度数据和所述转动角度差计算延迟时间。

可选地，所述获取激光雷达电机的当前转速数据，包括：

在激光雷达电机进行转动时，获取激光雷达电机的历史转速数据；

设置转速补偿系数；

根据所述转速补偿系数和所述历史转速数据计算，得到激光雷达电机的当前转速数据。

可选地，所述基于所述目标发光准备时间控制所述激光器进行发光，以完成激光雷达测量校正，包括：

在所述激光器进行发光时，获取激光器的当前发光时间；

获取所述激光器接收到激光回波的回波时间和光速；

通过所述当前发光时间、所述回波时间以及所述光速计算初始测量距离；

根据所述当前转速对所述初始测量距离进行校正，以完成激光雷达测量校正。

可选地，所述根据所述当前转速对所述初始测量距离进行校正，包括：

获取电机在静态时的参考发光时间和参考回波时间；

根据所述当前转速得到当前发光时间和当前回波时间；

通过所述参考发光时间和所述当前发光时间计算发光时间校准值；

通过所述发光时间校准值对所述当前发光时间进行校正，得到目标发光时间；

根据所述当前回波时间和所述参考回波时间计算回波时间校准值；

通过所述回波时间校准值对所述当前回波时间进行校正，得到目标回波时间；

通过所述目标回波时间、所述目标发光时间和所述光速计算目标测量距离；

通过所述目标测量距离对所初始测量距离进行校正。

此外，为实现上述目的，本发明还提出一种激光雷达测量校正装置，所述激光雷达测量校正装置包括：

获取模块，用于获取激光雷达电机的当前转速数据和测量时的光强数据；

确定模块，用于根据所述光强数据确定激光器的初始发光准备时间数据；

所述获取模块，还用于获取预设转速和预设发光准备时间；

计算模块，用于根据所述当前转速数据、所述初始发光准备时间数据、所述预设转速以及所述预设发光准备时间计算延迟时间；

校正模块，用于根据所述延迟时间对所述激光器的初始发光准备时间数据进行校正，得到目标发光准备时间；

控制模块，用于基于所述目标发光准备时间控制所述激光器进行发光，以完成激光雷达测量校正。

此外，为实现上述目的，本发明还提出一种激光雷达测量校正设备，所述激光雷达测量校正设备包括：存储器、处理器及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的激光雷达测量校正程序，所述激光雷达测量校正程序配置为实现如上文所述的激光雷达测量校正方法的步骤。

此外，为实现上述目的，本发明还提出一种存储介质，所述存储介质上存储有激光雷达测量校正程序，所述激光雷达测量校正程序被处理器执行时实现如上文所述的激光雷达测量校正方法的步骤。

本发明通过获取激光雷达电机的当前转速数据和测量时的光强数据；根据所述光强数据确定激光器的初始发光准备时间数据；获取预设转速和预设发光准备时间；根据所述当前转速数据、所述初始发光准备时间数据、所述预设转速以及所述预设发光准备时间计算延迟时间；根据所述延迟时间对所述激光器的初始发光准备时间数据进行校正，得到目标发光准备时间；基于所述目标发光准备时间控制所述激光器进行发光，以完成激光雷达测量校正，从而可使激光器的发光准备时间统一为目标发光准备时间，从而使激光器不论转速和发光准备时间是否相同都可在同一个角度发光，避免了测试位置的标记出现偏差，提高激光雷达的测量效果。

附图说明

图1是本发明实施例方案涉及的硬件运行环境的激光雷达测量校正设备的结构示意图；

图2为本发明激光雷达测量校正方法第一实施例的流程示意图；

图3为本发明激光雷达测量校正方法一实施例中激光雷达进行测距时测量位置和目标位置示意图；

图4为本发明激光雷达测量校正方法第二实施例的流程示意图；

图5为本发明激光雷达测量校正方法第三实施例的流程示意图；

图6为本发明激光雷达测量校正方法一实施例的整体流程示意图；

图7为本发明激光雷达测量校正装置第一实施例的结构框图。

本发明目的的实现、功能特点及优点将结合实施例，参照附图做进一步说明。

具体实施方式

应当理解，此处所描述的具体实施例仅用以解释本发明，并不用于限定本发明。

参照图1，图1为本发明实施例方案涉及的硬件运行环境的激光雷达测量校正设备结构示意图。

如图1所示，该激光雷达测量校正设备可以包括：处理器1001，例如中央处理器（Central Processing Unit，CPU），通信总线1002、用户接口1003，网络接口1004，存储器1005。其中，通信总线1002用于实现这些组件之间的连接通信。用户接口1003可以包括显示屏（Display）、输入单元比如键盘（Keyboard），可选用户接口1003还可以包括标准的有线接口、无线接口。网络接口1004可选的可以包括标准的有线接口、无线接口（如无线保真（Wireless-Fidelity，Wi-Fi）接口）。存储器1005可以是高速的随机存取存储器（RandomAccess Memory，RAM），也可以是稳定的非易失性存储器（Non-Volatile Memory，NVM），例如磁盘存储器。存储器1005可选的还可以是独立于前述处理器1001的存储装置。

本领域技术人员可以理解，图1中示出的结构并不构成对激光雷达测量校正设备的限定，可以包括比图示更多或更少的部件，或者组合某些部件，或者不同的部件布置。

如图1所示，作为一种存储介质的存储器1005中可以包括操作系统、网络通信模块、用户接口模块以及激光雷达测量校正程序。

在图1所示的激光雷达测量校正设备中，网络接口1004主要用于与网络服务器进行数据通信；用户接口1003主要用于与用户进行数据交互；本发明激光雷达测量校正设备中的处理器1001、存储器1005可以设置在激光雷达测量校正设备中，所述激光雷达测量校正设备通过处理器1001调用存储器1005中存储的激光雷达测量校正程序，并执行本发明实施例提供的激光雷达测量校正方法。

本发明实施例提供了一种激光雷达测量校正方法，参照图2，图2为本发明激光雷达测量校正方法第一实施例的流程示意图。

本实施例中，所述激光雷达测量校正方法包括以下步骤：

步骤S10：获取激光雷达电机的当前转速数据和测量时的光强数据。

需要说明的是，本实施例的执行主体为激光雷达测量校正设备，还可为其他可实现相同或相似功能的设备，本实施例对此不作限制，本实施例以激光雷达测量校正设备为例进行说明。

在本实施例中，激光雷达电机的当前转速数据包括不同的转速，例如当前转速数据包括转速1为20HZ，转速2为25HZ等，本实施例对此不作限制。在激光雷达启动测量到激光器开始发光中间会有一段时间，这段时间为发光准备时间，发光准备时间可相同或不同，可通过在测量时获取激光雷达测量时的光强数据。

激光雷达电机的当前转速数据指的是经过转速校正的激光雷达电机的稳定转速数据，在实际测量时，电机的转动是有精度范围的，因此获取激光雷达电机的当前转速数据包括：在激光雷达电机进行转动时，获取激光雷达电机的历史转速数据；设置转速补偿系数；根据所述转速补偿系数和所述历史转速数据计算，得到激光雷达电机的当前转速数据。

可以理解的是，历史转速数据指的是激光雷达的电机转动过程中监控的每一圈的转速，可通过监控电机转动过程中每一圈所需要的时长，并根据转动的周长计算电机转动过程中的每一圈的转速，从而得到历史转速数据。转速补偿系数指的是在进行激光雷达标定多次试验时计算得到的对转速进行补偿的系数，例如转速补偿系数为0.3、0.4等，本实施例对此不作限制，通过补偿系数和历史转速数据进行计算，以对历史转速数据中的各个转速数据进行补偿，得到激光雷达电机的当前转速数据。

应理解的是，在测量时所用的光强数据相同时，激光器的发光准备时间相同，当测量时所用的光强不一样时，激光器的准备时间不一定相同。因此可获取测量时的光强数据，并确定激光雷达测量时的光强数据中的光强是否相同。

步骤S20：根据所述光强数据确定激光器的初始发光准备时间数据。

在本实施例中，可根据光强数据中的光强大小是否相同进行不同的处理，当光强数据中的光强大小都相同时，确定初始发光准备时间数据中的各个初始发光准备时间都相同，初始发光准备时间指的是激光器以当前转速进行转动时的发光准备时间。当光强数据中的光强大小不同时，确定初始发光准备时间数据中的各个初始发光准备时间不相同。发光准备时间指的是从激光器开始准备到开始发光之间所花费的时间，可从几纳秒到及微秒不等，这也造成了发光准备时间越长，激光器实际发光位置和标记的位置之间的偏差越大。

激光雷达的电机一般工作十几赫兹到几十赫兹下，例如10HZ~50HZ下，激光雷达一次测试将花费几微秒的时间，激光雷达测量分为激光器准备、激光器发光、回波接收等待以及计算距离4个部分，码盘在对应的标记位置开始进入激光器的准备阶段，这个标记位置将会成为此次测试的位置标记，而对于不同类型的激光器，激光器准备到发光的时间可能不相同，因此准备时间越长，激光器实际发光位置和标记位置的偏差就越大。

在具体实施中，若初始发光准备时间数据都相同时，例如初始发光准备时间为2us，在不同的激光雷达电机的转速下，固定的初始发光准备时间下，不同的激光雷达电机的转速所旋转的角度不同，电机转动的频率越高，实际发光位置和标记偏差位置之间的偏差越大，因此在同一个标记位置下，激光会打到不同的目标位置上，目标位置越远，偏差越大，则最后获取二维数据存在旋转，导致激光雷达测量的效果较差，因此需要对偏差进行处理，提高测量的效果。

步骤S30：获取预设转速和预设发光准备时间。

需要说明的是，预设转速指的是激光器规定的最大转速，预设发光准备时间指的是激光器规定的最大发光准备时间。可直接获取激光器的参数数据得到预设转速和预设发光准备时间。

步骤S40：根据所述当前转速数据、所述初始发光准备时间数据、所述预设转速以及所述预设发光准备时间计算延迟时间。

需要说明的是，为了保证二维数据不旋转，就需要保证同一个发光标记位置在不同的转速或不同的发光准备时间下打在目标物体的同一个位置上，从而还原的每一帧测量数据的每个测量点位置不改变，使二维图形数据不会旋转。

应理解的是，延迟时间指的是对激光器的初始发光准备时间进行延长的时间。可通过电机的当前转速数据中的各个当前转速和初始发光准备时间中的各个初始发光准备时间、预设转速以及预设发光准备时间计算转动角度数据，从而可根据转动角度数据确定具体的延迟时间。

步骤S50：根据所述延迟时间对所述激光器的初始发光准备时间数据进行校正，得到目标发光准备时间。

在具体实施中，当计算得到了延迟时间后，可对初始发光准备时间数据中的各个初始发光准备时间进行延长校正，从而得到激光器的目标发光准备时间，例如激光器的转速1为20HZ，转速2为25HZ，激光器的初始发光准备时间数据中的各个初始发光准备时间均为2us，计算得到的延迟时间为3us和3.2us，则将转速1的初始发光准备时间2us再延长3us，得到转速1的激光器的目标发光准备时间为5us，转速2的激光器的目标发光准备时间为5.2us，从而使转速1和转速2的激光器的发光位置相同。

步骤S60：基于所述目标发光准备时间控制所述激光器进行发光，以完成激光雷达测量校正。

在具体实施中，可通过目标发光准备时间控制激光器进行发光，例如目标发光准备时间为5us，则在5us后，控制激光器进行发光，从而可时不同的转速下的激光器的发光位置相同，以便后续的激光雷达测量，提高测量效果，从而实现激光雷达测量校正。

如图3所示，图3为激光雷达进行测距时测量位置和目标位置示意图，准备测量时，电机从启动位置启动，进行旋转，在达到发光准备时间后，从发光位置进行发光，通过发光到目标物体上，从而可确定光斑位置，而在电机的转速不同时，发光位置会存在偏差，因此需要对发光位置进行校正。

本实施例通过获取激光雷达电机的当前转速数据和测量时的光强数据；根据所述光强数据确定激光器的初始发光准备时间数据；获取预设转速和预设发光准备时间；根据所述当前转速数据、所述初始发光准备时间数据、所述预设转速以及所述预设发光准备时间计算延迟时间；根据所述延迟时间对所述激光器的初始发光准备时间数据进行校正，得到目标发光准备时间；基于所述目标发光准备时间控制所述激光器进行发光，以完成激光雷达测量校正，从而可使激光器的发光准备时间统一为目标发光准备时间，从而使激光器不论转速和发光准备时间是否相同都可在同一个角度发光，避免了测试位置的标记出现偏差，提高激光雷达的测量效果。

参考图4，图4为本发明激光雷达测量校正方法第二实施例的流程示意图。

基于上述第一实施例，本实施例激光雷达测量校正方法所述步骤S40，具体包括：

步骤S401：根据所述当前转速数据、所述初始发光准备时间数据、所述预设转速以及所述预设发光准备时间计算转动角度数据。

需要说明的是，转动角度数据指的是不同转速下相同初始发光准备时间或不同初始发光准备时间下转动的角度以及根据激光器设置的最大转速和最大发光准备时间下的预设转动角度，可通过当前转速数据、初始发光准备时间数据、预设转速以及预设发光准备时间计算得到。

进一步地，所述转动角度数据包括：当前转动角度数据和预设转动角度；根据当前转速数据、所述初始发光准备时间数据、预设转速以及预设发光准备时间计算转动角度数据的步骤具体包括：通过所述初始发光准备时间数据和所述当前转速数据计算当前转动角度数据；通过所述预设发光准备时间和所述预设转速计算预设转动角度；将所述当前转动角度和所述预设转动角度作为转动角度数据。

应理解的是，当前转动角度数据指的是在初始发光准备时间数据中的各个对应的初始发光准备时间下，以当前转速进行转动的角度，预设转动角度指的是在预设发光准备时间下，以预设转速进行转动的角度，计算转动角度数据的过程如下式1：

w=t/(1000000/v)（式1）

式1中，w为转动角度数据，t为初始发光准备时间数据，v为当前转速数据，例如初始发光准备时间为2us，当前转速为20HZ，预设发光准备时间为2us，预设转速为50HZ，则计算当前转动角度的过程如下式2：

w1=2/(1000000/20)=0.00004（式2）

计算预设转动角度的过程如下式3：

w2=2/(1000000/50)=0.0001（式3）

步骤S402：通过所述转动角度数据和所述当前转速数据计算延迟时间。

可以理解的是，当得到当前转动角度数据和预设转动角度后，可根据当前转速数据以及当前转动角度数据、预设转动角度计算需要延迟的时间。

进一步地，通过转动角度数据和当前转速数据计算延迟时间的步骤具体包括：通过所述当前转动角度数据和所述预设转动角度计算转动角度差；通过所述当前转动角度数据和所述转动角度差计算延迟时间。

需要说明的是，当得到当前转动角度w1和预设转动角度w2后，可通过当前转动角度和预设转动角度之差计算转动角度差，转动角度差Δw=w2-w1。

在具体实施中，通过计算的转动角度差以及当前转速数据计算需要延迟的时间，例如当前转速为20HZ，则延迟时间Δt=Δw*（1000000/20）。

应理解的是，若当前转速20HZ对应的激光器的初始发光准备时间为2us，预设转速50HZ，预设发光准备时间为4us，则计算当前转动角度为w1=2/（1000000/20）=0.00004，预设转动角度为w2=4/（1000000/50）=0.0002。从而计算转动角度差为Δw=（0.0002-0.0144），则延迟时间Δt=Δw*（1000000/20）。具体可根据初始发光准备时间数据、当前转速数据、预设发光准备时间以及预设转速进行计算。当计算得到延长时间后，可将激光器的发光准备时间进行延迟，将当前转速对应的激光器启动测量的时间延迟至计算的目标延迟时间，从而将各种转速和激光器的准备时间通过延时启动测量的方式全部归一到激光雷达下最大转速下的最大发光准备时间的发光位置上，从而达到发光位置的统一。

本实施例通过根据所述当前转速数据、所述初始发光准备时间数据、所述预设转速以及所述预设发光准备时间计算转动角度数据；通过所述转动角度数据和所述当前转速数据计算延迟时间，从而可将激光器的发光准备时间根据延迟时间进行延长，从而实现对激光器的发光位置的校正，提高激光雷达测量的效果。

参考图5，图5为本发明激光雷达测量校正方法第三实施例的流程示意图。

基于上述第一和第二实施例，本实施例激光雷达测量校正方法所述步骤S60，具体包括：

步骤S601：在所述激光器进行发光时，获取激光器的当前发光时间。

应理解的是，对于一些超高精度的雷达，除了要考虑激光器的发光准备时间的校正外，还需要考虑激光器的发光时间，在静态定标时激光器发光时间长短对光斑的大小不会产生影响，而在电机转动时，激光器的发光时间越长，打在目标物上的光斑会增大，因此需要对激光器的发光时间进行校正。则可在激光器进行发光时，可直接获取激光器的当前发光时间。

步骤S602：获取所述激光器接收到激光回波的回波时间和光速。

在具体实施中，当激光器发光后，会在目标物体上形成光斑，同时也会接收到激光回波，因此可在激光器接收到激光回波获取回波时间，并获取激光在传播时的速度C。

步骤S603：通过所述当前发光时间、所述回波时间以及所述光速计算初始测量距离。

应理解的是，当得到当前发光时间、回波时间以及光速后，可计算初始测量距离，初始测量距离指的是激光雷达和目标物体之间的距离S1，具体计算过程如下式4：

（式4）

式4中，S1为初始测量距离，T2为回波时间，T1为当前发光时间，C为光速。

步骤S604：根据所述当前转速对所述初始测量距离进行校正，以完成激光雷达测量校正。

在具体实施中，当激光器发光时间越长，打在目标物上的光斑会增大，这就使得初始测量距离需要根据激光器的发光时间和电机的转速再做修正，因此可通过当前转速对初始测量距离进行校正，从而提高激光雷达测量效果。

进一步地，根据所述当前转速对所述初始测量距离进行校正的步骤具体包括：获取电机在静态时的参考发光时间和参考回波时间；根据所述当前转速得到当前发光时间和当前回波时间；通过所述参考发光时间和所述当前发光时间计算发光时间校准值；通过所述发光时间校准值对所述当前发光时间进行校正，得到目标发光时间；根据所述当前回波时间和所述参考回波时间计算回波时间校准值；通过所述回波时间校准值对所述当前回波时间进行校正，得到目标回波时间；通过所述目标回波时间、所述目标发光时间和所述光速计算目标测量距离；通过所述目标测量距离对所初始测量距离进行校正。

需要说明的是，由于电机在静态时发光时间和回波时间的长短对光斑的大小不会产生影响，因此可将电机在静态时的发光时间和回波时间作为参考，则可获取电机在静态时的参考发光时间和参考回波时间，通过获取电机的当前转速，可建立电机的转速和发光时间以及回波时间之间的映射关系，从而可根据当前转速得到当前发光时间和当前回波时间，发光时间校准值指的是当前发光时间和参考发光时间之间的时间差，回波时间校准值指的是当前回波时间和参考回波时间之间的时间差。

在具体实施中，可通过回波时间校准值对当前回波时间进行校正，得到校正后的回波时间，即目标回波时间，并通过发光时间校准值对当前发光时间进行校正，得到校正后的发光时间，即目标发光时间。从而可通过目标发光时间和目标回波时间重新计算精确距离，可根据当前转速设置距离校准值，从而通过距离校准值、目标发光时间和目标回波时间计算目标测量距离，从而可完成对初始测量距离的校正。

如图6所示，图6为本实施例激光雷达测量校正方法的整体流程示意图。在进行测量之前，码盘获得发光标志后，获取当前位置激光器的初始发光准备时间，并可控制码盘进行转动，并在码盘一圈转完后计算转速，从而得到历史转速，并根据设置的转速补偿系数得到当前转速补偿值，从而对转速进行补偿，获得当前转速，根据当前转速、初始发光准备时间、预设转速以及预设发光准备时间计算发光准备时间需要的延时，从而将初始发光准备时间延时对应时长，在延时对应时长后，启动测量，控制激光器准备发光，并在激光器发光时获得激光器发光时间以及激光器发光时间校准值，在激光器发光后等待回波时间，从而根据激光器发光时间以及回波时间和光速计算粗距离，即初始测量距离，并根据当前转速设置距离校准值，从而通过距离校准值和发光时间校准值计算精确距离，并等待码盘下一个发光标志从而计算下一次发光时的转速并不断对发光准备时间以及距离进行校正，从而提高测量的效果。

本实施例通过在所述激光器进行发光时，获取激光器的当前发光时间；获取所述激光器接收到激光回波的回波时间和光速；通过所述当前发光时间、所述回波时间以及所述光速计算初始测量距离；根据所述当前转速对所述初始测量距离进行校正，以完成激光雷达测量校正，通过考虑发光时长的长短第距离的影响从而对初始测量距离进行修正，提高激光雷达测量的效果。

参照图7，图7为本发明激光雷达测量校正装置第一实施例的结构框图。

如图7所示，本发明实施例提出的激光雷达测量校正装置包括：

获取模块10，用于获取激光雷达电机的当前转速数据和测量时的光强数据。

确定模块20，用于根据所述光强数据确定激光器的初始发光准备时间数据。

所述获取模块10，还用于获取预设转速和预设发光准备时间。

计算模块30，用于根据所述当前转速数据、所述初始发光准备时间数据、所述预设转速以及所述预设发光准备时间计算延迟时间。

校正模块40，用于根据所述延迟时间对所述激光器的初始发光准备时间数据进行校正，得到目标发光准备时间。

控制模块50，用于基于所述目标发光准备时间控制所述激光器进行发光，以完成激光雷达测量校正。

本实施例通过获取激光雷达电机的当前转速数据和测量时的光强数据；根据所述光强数据确定激光器的初始发光准备时间数据；获取预设转速和预设发光准备时间；根据所述当前转速数据、所述初始发光准备时间数据、所述预设转速以及所述预设发光准备时间计算延迟时间；根据所述延迟时间对所述激光器的初始发光准备时间数据进行校正，得到目标发光准备时间；基于所述目标发光准备时间控制所述激光器进行发光，以完成激光雷达测量校正，从而可使激光器的发光准备时间统一为目标发光准备时间，从而使激光器不论转速和发光准备时间是否相同都可在同一个角度发光，避免了测试位置的标记出现偏差，提高激光雷达的测量效果。

在一实施例中，所述计算模块30，还用于根据所述当前转速数据、所述初始发光准备时间数据、所述预设转速以及所述预设发光准备时间计算转动角度数据；通过所述转动角度数据和所述当前转速数据计算延迟时间。

在一实施例中，所述转动角度数据包括：当前转动角度数据和预设转动角度，所述计算模块30，还用于通过所述初始发光准备时间数据和所述当前转速数据计算当前转动角度数据；通过所述预设发光准备时间和所述预设转速计算预设转动角度；将所述当前转动角度和所述预设转动角度作为转动角度数据。

在一实施例中，所述计算模块30，还用于通过所述当前转动角度数据和所述预设转动角度计算转动角度差；通过所述当前转动角度数据和所述转动角度差计算延迟时间。

在一实施例中，所述获取模块10，还用于在激光雷达电机进行转动时，获取激光雷达电机的历史转速数据；设置转速补偿系数；根据所述转速补偿系数和所述历史转速数据计算，得到激光雷达电机的当前转速数据。

在一实施例中，所述控制模块50，还用于在所述激光器进行发光时，获取激光器的当前发光时间；获取所述激光器接收到激光回波的回波时间和光速；通过所述当前发光时间、所述回波时间以及所述光速计算初始测量距离；根据所述当前转速对所述初始测量距离进行校正，以完成激光雷达测量校正。

此外，为实现上述目的，本发明还提出一种激光雷达测量校正设备，所述激光雷达测量校正设备包括：存储器、处理器及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的激光雷达测量校正程序，所述激光雷达测量校正程序配置为实现如上文所述的激光雷达测量校正方法的步骤。

由于本激光雷达测量校正设备采用了上述所有实施例的全部技术方案，因此至少具有上述实施例的技术方案所带来的所有有益效果，在此不再一一赘述。

此外，本发明实施例还提出一种存储介质，所述存储介质上存储有激光雷达测量校正程序，所述激光雷达测量校正程序被处理器执行时实现如上文所述的激光雷达测量校正方法的步骤。

由于本存储介质采用了上述所有实施例的全部技术方案，因此至少具有上述实施例的技术方案所带来的所有有益效果，在此不再一一赘述。

应当理解的是，以上仅为举例说明，对本发明的技术方案并不构成任何限定，在具体应用中，本领域的技术人员可以根据需要进行设置，本发明对此不做限制。

需要说明的是，以上所描述的工作流程仅仅是示意性的，并不对本发明的保护范围构成限定，在实际应用中，本领域的技术人员可以根据实际的需要选择其中的部分或者全部来实现本实施例方案的目的，此处不做限制。

另外，未在本实施例中详尽描述的技术细节，可参见本发明任意实施例所提供的激光雷达测量校正方法，此处不再赘述。

此外，需要说明的是，在本文中，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者系统不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者系统所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括一个……”限定的要素，并不排除在包括该要素的过程、方法、物品或者系统中还存在另外的相同要素。

上述本发明实施例序号仅仅为了描述，不代表实施例的优劣。

通过以上的实施方式的描述，本领域的技术人员可以清楚地了解到上述实施例方法可借助软件加必需的通用硬件平台的方式来实现，当然也可以通过硬件，但很多情况下前者是更佳的实施方式。基于这样的理解，本发明的技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分可以以软件产品的形式体现出来，该计算机软件产品存储在一个存储介质（如只读存储器（Read Only Memory，ROM）/RAM、磁碟、光盘）中，包括若干指令用以使得一台终端设备（可以是手机，计算机，服务器，或者网络设备等）执行本发明各个实施例所述的方法。

以上仅为本发明的优选实施例，并非因此限制本发明的专利范围，凡是利用本发明说明书及附图内容所作的等效结构或等效流程变换，或直接或间接运用在其他相关的技术领域，均同理包括在本发明的专利保护范围内。

Claims (10)

1.一种激光雷达测量校正方法，其特征在于，所述激光雷达测量校正方法包括：

获取激光雷达电机的当前转速数据和测量时的光强数据；

根据所述光强数据确定激光器的初始发光准备时间数据；

获取预设转速和预设发光准备时间；

根据所述当前转速数据、所述初始发光准备时间数据、所述预设转速以及所述预设发光准备时间计算延迟时间；

根据所述延迟时间对所述激光器的初始发光准备时间数据进行校正，得到目标发光准备时间；

基于所述目标发光准备时间控制所述激光器进行发光，以完成激光雷达测量校正。

2.如权利要求1所述的激光雷达测量校正方法，其特征在于，所述根据所述当前转速数据、所述初始发光准备时间数据、所述预设转速以及所述预设发光准备时间计算延迟时间，包括：

根据所述当前转速数据、所述初始发光准备时间数据、所述预设转速以及所述预设发光准备时间计算转动角度数据；

通过所述转动角度数据和所述当前转速数据计算延迟时间。

3.如权利要求2所述的激光雷达测量校正方法，其特征在于，所述转动角度数据包括：当前转动角度数据和预设转动角度；

所述根据所述当前转速数据、所述初始发光准备时间数据、所述预设转速以及所述预设发光准备时间计算转动角度数据，包括：

通过所述初始发光准备时间数据和所述当前转速数据计算当前转动角度数据；

通过所述预设发光准备时间和所述预设转速计算预设转动角度；

将所述当前转动角度和所述预设转动角度作为转动角度数据。

4.如权利要求3所述的激光雷达测量校正方法，其特征在于，所述通过所述转动角度数据和所述当前转速数据计算延迟时间，包括：

通过所述当前转动角度数据和所述预设转动角度计算转动角度差；

通过所述当前转动角度数据和所述转动角度差计算延迟时间。

5.如权利要求1所述的激光雷达测量校正方法，其特征在于，所述获取激光雷达电机的当前转速数据，包括：

在激光雷达电机进行转动时，获取激光雷达电机的历史转速数据；

设置转速补偿系数；

根据所述转速补偿系数和所述历史转速数据计算，得到激光雷达电机的当前转速数据。

6.如权利要求1-5中任一项所述的激光雷达测量校正方法，其特征在于，所述基于所述目标发光准备时间控制所述激光器进行发光，以完成激光雷达测量校正，包括：

在所述激光器进行发光时，获取激光器的当前发光时间；

获取所述激光器接收到激光回波的回波时间和光速；

通过所述当前发光时间、所述回波时间以及所述光速计算初始测量距离；

根据所述当前转速对所述初始测量距离进行校正，以完成激光雷达测量校正。

7.如权利要求6所述的激光雷达测量校正方法，其特征在于，所述根据所述当前转速对所述初始测量距离进行校正，包括：

获取电机在静态时的参考发光时间和参考回波时间；

根据所述当前转速得到当前发光时间和当前回波时间；

通过所述参考发光时间和所述当前发光时间计算发光时间校准值；

通过所述发光时间校准值对所述当前发光时间进行校正，得到目标发光时间；

根据所述当前回波时间和所述参考回波时间计算回波时间校准值；

通过所述回波时间校准值对所述当前回波时间进行校正，得到目标回波时间；

通过所述目标回波时间、所述目标发光时间和所述光速计算目标测量距离；

通过所述目标测量距离对所初始测量距离进行校正。

8.一种激光雷达测量校正装置，其特征在于，所述激光雷达测量校正装置包括：

获取模块，用于获取激光雷达电机的当前转速数据和测量时的光强数据；

确定模块，用于根据所述光强数据确定激光器的初始发光准备时间数据；

所述获取模块，还用于获取预设转速和预设发光准备时间；

计算模块，用于根据所述当前转速数据、所述初始发光准备时间数据、所述预设转速以及所述预设发光准备时间计算延迟时间；

校正模块，用于根据所述延迟时间对所述激光器的初始发光准备时间数据进行校正，得到目标发光准备时间；

控制模块，用于基于所述目标发光准备时间控制所述激光器进行发光，以完成激光雷达测量校正。

9.一种激光雷达测量校正设备，其特征在于，所述激光雷达测量校正设备包括：存储器、处理器及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的激光雷达测量校正程序，所述激光雷达测量校正程序配置为实现如权利要求1至7中任一项所述的激光雷达测量校正方法。

10.一种存储介质，其特征在于，所述存储介质上存储有激光雷达测量校正程序，所述激光雷达测量校正程序被处理器执行时实现如权利要求1至7中任一项所述的激光雷达测量校正方法。

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