CN115572958B - 一种气体输送组件及气相反应装置 - Google Patents
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Abstract
本发明提供一种气体输送组件及气相反应装置,气体输送组件包括位于气体输送组件中间区域的内部气体输送组件和环绕中间区域的外围气体输送组件;外围气体输送组件包括若干管状通道及至少一个环形沟槽,环形沟槽与管状通道连通用以配合管状通道内的气体流出,至少部分管状通道的管轴在所述管状通道与环形沟槽连接处的端点所在切平面上的投影与气体输送组件的主轴线之间具有角 不为0,使得从外围气体输送组件流出的气体形成旋转气流,且旋转气流的旋转方向与承载盘在反应过程中的旋转方向一致。该旋转气流使得反应室内中间流场气流与边缘流场气流的相对速度减小,由此抑制或完全消除反应腔室内涡流的产生。
Description
技术领域
本发明涉及半导体器件及装置技术领域,特别涉及一种气体输送组件及气相反应装置。
背景技术
反应腔室是半导体器件制程中至关重要的腔室,其中气相反应装置的反应腔室是由气体带入反应物及建立流场的。例如,对于通过气相反应生长材料的反应腔室,在进行工艺生长过程中,气体源物料的输送及生长反应后副产物的带走,是通过载气与反应物气体共同建立的反应腔室流场完成的。
在气流中承载材料生长基片的承载盘,在材料生长过程中通常是旋转的,而对于承载盘需要旋转的反应腔,由于承载盘的旋转,在承载盘外边缘附近的气流,气体除了有沿着反应腔主轴方向的流动速度,还有被承载盘拖拽形成的切向流动速度。切向流动速度的存在,会增大边缘流场气流的总速度,尤其是承载盘高速旋转的情况下,切向流动速度较大,会在承载盘边缘区域来流方向的流场中产生涡旋。气体涡旋会对腔体的使用带来多方面的负面影响:降低涡流区域及附近区域基片上生长材料的均匀性;降低腔体生长环境及生长工艺的稳定性等。
对于气体携带反应物的反应腔室,在进行实际的材料生长过程中,气流流场的分布与形态通常通过对如下三个整体工艺参数进行调整:反应腔工艺总气量、反应腔压力、承载盘转速。通过以上三个整体工艺调整参数的设定调整,可以在一定的方向和范围内抑制及消除上述气体涡旋;但如此的调整本身就对可用的工艺参数范围产生了限制。并且,这些整体工艺参数的调整以消除气体涡旋的过程中,往往会增大载气气体和源物料气体的用量,造成源物料使用效率降低,增加了物料耗用量和生长成本。
发明内容
鉴于现有技术中气相反应装置中气体流场存在的上述不足及缺陷,本发明提供一种气体输送组件及气相反应装置,以解决上述一个或多个问题。
为了达到上述目的,第一方面本发明提供一种气体输送组件,该气体输送组件用于气相反应装置,所述气相反应装置中设置有承载盘,所述气体输送组件包括位于所述气体输送组件中间区域的内部气体输送组件和环绕所述中间区域的外围气体输送组件;其中,
所述外围气体输送组件包括若干管状通道及至少一个环形沟槽,所述环形沟槽与所述管状通道连通用以配合所述管状通道内的气体流出,所述环形沟槽的开口侧为面向所述承载盘的出气侧;
定义一与所述出气侧所在的面垂直且经过所述气体输送组件出气面的几何中心的主轴线,定义每个所述管状通道的管轴在所述管状通道与所述环形沟槽连接处的端点为O点,经过所述O点的关于所述主轴线的切平面为该管状通道的O点所在切平面,至少部分所述管状通道的管轴在其对应的所述O点所在切平面上的投影与所述主轴线之间具有角,所述角/>不为0,使得从所述外围气体输送组件流出的气体形成旋转气流,且所述旋转气流的旋转方向与所述承载盘在反应过程中的旋转方向一致。
可选地,所述环形沟槽为锥形槽、梯形槽、矩形槽、弧形槽及多边形槽中的任意一种。
可选地,所述外围气体输送组件包括一个环形沟槽,所述管状通道沿至少一个同心环形区域分布,所述管状通道与所述环形沟槽对应连通。
可选地,所述外围气体输送组件包括多个同心环形沟槽,所述管状通道沿多个同心环形区域分布,所述同心环形沟槽的数量小于或等于所述同心环形区域的数量,多个所述同心环形沟槽中的每一个与多个所述同心环形区域中的至少一个对应设置,使得每一个同心环形沟槽与对应的同心环形区域中的所述管状通道连通。
可选地,各个所述同心环形区域中的管状通道数量相同,或者最外侧环形区域中的管状通道数量大于最内侧环形区域中的管状通道数量,或者多个所述同心环形区域中的管状通道数量由最内侧环形区域至最外侧环形区域逐渐增加。
可选地,各个所述同心环形沟槽的开口宽度相同,或者最外侧环形沟槽的开口宽度大于最内侧环形沟槽的开口宽度,或者各个所述同心环形沟槽的开口宽度由最内侧环形沟槽至最外侧环形沟槽逐渐增加;或者最外侧环形沟槽的开口面积大于最内侧环形沟槽的开口面积,或者各个所述同心环形沟槽的开口面积由最内侧环形沟槽至最外侧环形沟槽逐渐增加。
可选地,至少部分所述管状通道的管轴在其对应的所述O点所在切平面上的投影与所述主轴线之间的角相同。
可选地,多个所述同心环形沟槽与多个所述同心环形区域一一对应,同一同心环形区域中所述管轴在其对应的所述O点所在切平面上的投影与所述主轴线之间的角相同。
可选地,最外侧环形区域中所述管轴在其对应的所述O点所在切平面上的投影与所述主轴线之间的角不小于最内侧环形区域中所述管轴在其对应的所述O点所在切平面上的投影与所述主轴线之间的角/>,或者自多个所述同心环形区域的最内侧环形区域至最外侧环形区域,所述管轴在其对应的所述O点所在切平面上的投影与所述主轴线之间的角/>逐渐增加。
可选地,定义过任一O点与主轴线平行的直线为O点的轴向线OO',同时通过所述主轴线和所述轴向线OO'的平面为P0面,所述管轴所在的垂面为所述管轴与所述轴向线OO'张成的平面;其中,至少部分所述管状通道的管轴所在的垂面与所述O点所在的切平面之间具有角θ;
所述环形沟槽与所述出气侧所在的面形成第一交线和第二交线,其中,所述第一交线与所述P0面具有第一交点M点,所述第二交线与所述P0面具有第二交点N点,OM与ON之间形成角γ,所述角γ的角平分线为OQ,OQ与轴向线OO'之间形成角δ;其中所述角δ与所述角θ至少一个不为0。
可选地,所述角平分线OQ靠近所述承载盘的一端与所述管轴靠近所述承载盘的一端均以相同的方向朝远离或靠近所述主轴线的方向偏斜,并且所述角δ与所述角θ的大小相同。
可选地,所述外围气体输送组件输送的气体来自同一供气端,并使得所述外围气体输送组件输送的气体被统一调控。
可选地,所述气相反应装置包括至少一个隔离件,所述隔离件将所述外围气体输送组件分隔成相互独立的多个子区域,至少两个所述子区域中输送的气体被独立调控。
可选地,所述多个子区域为多个同心环形区域,最外侧子区域中通入气体的流量不小于最内侧子区域中通入气体的流量,和/或最外侧子区域中通入气体的平均分子量不小于最内侧子区域中通入气体的平均分子量。
可选地,所述多个子区域为多个同心环形区域,自最内侧子区域至最外侧子区域,通入气体的流量逐渐增大,和/或通入气体的平均分子量逐渐增大。
可选地,所述外围气体输送组件覆盖所述承载盘的边缘,且覆盖面积不超过所述承载盘面积的36%。
可选地,所述外围气体输送组件位于所述承载盘的外侧。
可选地,所述内部气体输送组件输送的气体为反应源气体和载气,用于反应生成目标产物,所述外围气体输送组件输送的气体为吹扫气体、载气、反应源气体中的一种或多种,所述外围气体输送组件输送的气体相互之间不发生反应,或者所述外围气体输送组件输送的气体相互之间反应但不生成所述目标产物。
第二方面,本发明提供一种气相反应装置,其包括:
反应腔室;
承载盘,设置在所述反应腔室中,所述承载盘在反应过程中的旋转速度≥200RPM;
气体输送组件,与所述承载盘相对设置,所述气体输送组件为第一方面中所述的气体输送组件。
如上所述,本发明的气体输送组件及气相反应装置,具有以下有益效果:
本发明的气体输送组件包括位于气体输送组件中间区域的内部气体输送组件和环绕中间区域的外围气体输送组件;外围气体输送组件包括若干管状通道及至少一个环形沟槽,环形沟槽与管状通道连通用以配合管状通道内的气体流出,至少部分管状通道的管轴在管状通道与环形沟槽连接处的端点O点所在切平面上的投影与气体输送组件的主轴线之间具有角不为0,使得从外围气体输送组件流出的气体形成旋转气流,且旋转气流的旋转方向与承载盘在反应过程中的旋转方向一致。该旋转气流具有切向的速度和动量,使得反应腔室内中间流场气流与边缘流场气流的相对速度减小,因此使得反应腔室内的流场在边缘区域的流动撞击混合及流线转向过程更平稳,由此抑制或完全消除反应腔室内涡流的产生,使得反应腔流场的层流特性更加稳定。同时也扩大了整体工艺参数,例如反应腔室的工艺总气量、反应腔室的压力、承载盘转速等的可使用范围。上述工艺参数的可使用范围的扩大能够进一步地帮助提高载气和源物料气体的利用率,因此能够有效降低材料生长的成本。同时还能够减少反应腔中承载盘上的生长材料中出现的颗粒缺陷,提高产品的良率。对于承载盘高转速旋转(转速在200RPM以上)的情况,上述效果尤为明显。
具有上述气体输送组件的气相反应装置能够减少、抑制气流涡旋的产生,获得均匀稳定的气体流场,从而扩大工艺参数的可设置范围,帮助提高载气和源物料气体的利用率,因此能够有效降低材料生长的成本。
附图说明
图1显示为本发明实施例一提供的气体输送组件所在的气相反应装置的反应腔室的主视剖面示意图。
图2显示为图1中的气体输送组件的仰视示意图。
图3显示为一可选实施例中气体输送组件的仰视示意图。
图4显示为图1所示的气体输送组件的外围气体输送组件的俯视视角的立体结构示意图。
图5显示为外围气体输送组件沿图4所示的径向L0-L0的剖视示意图,并以俯视视角示出了外围气体输送组件的立体透视结构。
图6显示为图1所示的气体输送组件的外围气体输送组件的仰视示意图。
图7显示为沿图6中的线H-H的侧视剖面示意图。
图8显示为沿图6中的线K-K的主视剖面示意图。
图9显示为本发明的实施例二提供的气体输送组件的外围气体输送组件的仰视结构示意图,其中,采用局部透视的方式显示了外围气体输送组件中的管状通道。
图10显示为图9中P部分的局部放大示意图。
图11显示为外围气体输送组件沿图9所示的线C-C的正视剖面示意图。
图12显示为沿图9所示的外围气体输送组件径向剖视示意图,并以俯视视角示出了外围气体输送组件的立体透视结构。
图13显示为本发明的实施例五提供的气体输送组件的外围气体输送组件的俯视视角的立体结构示意图。
元件标号说明
100 气体输送组件 1024 第一侧
101 内部气体输送组件 1025 第二侧
1010 第一气体输送通道 1027(1027') 环形沟槽
1010-1 第一缝隙 10271(10271') 第一环形沟槽
1010-2 第二缝隙 10272(10272') 第二环形沟槽
102(102')(102”) 外围气体输送组件 10273(10273') 第三环形沟槽
1020(1020')(1020”) 第二气体输送通道 103 隔离件
1020-1(1020'-1) 管状通道 200 反应腔室
1021 第一子区域 201 承载盘
1022 第二子区域 300 供气端
1023 第三子区域 301 供气管路
具体实施方式
以下通过特定的具体实例说明本发明的实施方式,本领域技术人员可由本说明书所揭露的内容轻易地了解本发明的其他优点与功效。本发明还可以通过另外不同的具体实施方式加以实施或应用,本说明书中的各项细节也可以基于不同观点与应用,在没有背离本发明的精神下进行各种修饰或改变。
实施例一
本实施例提供一种气体输送组件,该气体输送组件用于气相反应装置,如图1所示,该气相反应装置包括反应腔室200,反应腔室200中设置有承载盘201,气体输送组件100与承载盘201相对设置,用于将反应气体输送到反应腔室200中。该气相反应装置例如可以是气相沉积装置,具体地,可以是化学气相沉积装置、物理气相沉积装置、等离子体增强气相沉积装置、金属有机物化学气相沉积(MOCVD)装置等。本实施例以MOCVD装置的气体输送组件为例进行说明。应该理解的是该装置仅仅是示例性的,本发明并不限于这一种装置。
如图1所示,本实施例的气相反应装置具有一反应腔室200,气相反应装置的反应腔室200的横截面一般为圆形或者类圆形结构,或者可以是矩形结构及其他本领域技术人员所公知的结构,在此不作赘述。反应腔室200可以是垂直方向进气的垂直流腔室,也可以是中心进气的水平流腔室。反应腔室200可以是气体输送组件100与承载盘201相对设置,且气体输送组件100位于上部、承载盘201位于下部的正置式腔室,也可以是气体输送组件100与承载盘201相对设置,且承载盘201位于上部、气体输送组件100位于下部的倒置式腔室。为了便于描述,本实施例以图1所示的反应腔室200的横截面为圆形,且气体输送组件100位于上部、承载盘201位于下部的正置式垂直流腔室为例对气体输送组件100进行说明。
参照图1,反应腔室200中设置有用于承载待处理基片的承载盘201,承载盘201在气相沉积期间绕旋转轴线A旋转。气体输送组件100与承载盘201相对设置,气体输送组件100例如设置在反应腔室200的顶部,向反应腔室200内注入气体,承载盘201位于气体输送组件100的下方。本实施例提供的气体输送组件100整体上呈现圆盘状结构,包括输送第一气体的内部气体输送组件101以及输送第二气体的外围气体输送组件102。其中内部气体输送组件101位于气体输送组件100的中间区域,外围气体输送组件102位于气体输送组件100的外围区域,并且环绕内部气体输送组件101设置。同样参照图1,该气相反应装置还包括气体供应源300和供气管路301,气体供应源300通过供气管路301与内部气体输送组件101和外围气体输送组件102连接,用于向内部气体输送组件101供应第一气体,向外围气体输送组件102供应第二气体。优选地,在气相反应期间,第二气体的平均分子量大于等于第一气体的平均分子量。
同样参照图1所示,外围气体输送组件102具有相对设置的第一侧1024和第二侧1025,该第一侧1024为面向承载盘201的出气面。同样地,内部气体输送组件101也同样具有面向承载盘201的出气面。定义一主轴线B,该主轴线B与第一侧1024所在面(可以等效为圆盘状气体输送组件100的出气面)垂直且经过气体输送组件100的出气面的几何中心,主轴线B与承载盘201的旋转轴线A可以平行,也可以不平行,优选地,主轴线B与承载盘201的旋转轴线A平行,优选地,主轴线B与旋转轴线A重合。
如图2所示,示出了气体输送组件100的仰视示意图。应该理解的是,在本发明中,所说的“仰视”为沿着第一侧1024向第二侧1025方向观察的视图方向,“俯视”为沿着第二侧1025向第一侧1024方向观察的视图方向。
如图2所示,内部气体输送组件101包括若干第一气体输送通道1010,该第一气体输送通道1010分布在内部气体输送组件101中。在该实施例中,第一气体输送通道1010设置为缝隙状通道,该缝隙状通道沿同一方向延伸。在气相反应期间,第一气体为反应源气体和载气。示例性地,对于III-V族MOCVD而言,第一气体为III族金属有机源气体、V族氢化物源气体和载气。第一气体输送通道1010包括第一缝隙1010-1和第二缝隙1010-2,第一缝隙1010-1用于将III族金属有机源气体和载气输送至气相反应区域,第二缝隙1010-2用于将V族氢化物源气体和载气输送至气相反应区域,从而提供III族金属有机源气体和V族氢化物源气体在待处理基片上发生反应生成III-V族化合物。
优选的,第一缝隙1010-1和第二缝隙1010-2交替排布在内部气体输送组件101中。优选的,交替排布的第一缝隙1010-1和第二缝隙1010-2之间还包括第三缝隙(未图示),不含反应气体且不与反应气体反应的载气(或吹扫气体)由第三缝隙中流出。
在本实施例的另一可选实施例中,如图3所示,第一气体输送通道1010为孔型结构,例如可以是圆形孔、椭圆形孔、菱形孔等类似孔结构。这些孔可排布为同心圆环区域,或是条状间隔分布区域,或是几组孔交错分布,或是若干扇形区域等,本领域技术人员可以根据实际的工艺需求自行调整孔分布的形状、位置关系等,在此不作限定。
在本实施例的另一可选实施例中,第一气体输送通道还可以是缝隙状通道和孔型结构的组合,其中缝隙通道和孔型结构的分布、形状及位置关系,同样可以根据实际的工艺需要进行调整。
在本实施例中,自第一气体输送通道1010喷出的第一气体形成的气流方向与主轴线B平行,即第一气体输送通道1010为垂直气流通道,形成的气流方向垂直朝向承载盘201。
本实施例中,外围气体输送组件102包括第二气体输送通道1020,用于输送第二气体,该第二气体可以是吹扫气体、载气、反应源气体中的一种或多种,优选地,第二气体相互之间不发生反应或者相互之间反应但不生成目标产物。如果外围气体输送组件102通入参与反应的全部反应源,会造成不必要的生长(如在器壁上沉积),而且浪费源气体,降低设备的维护周期,另外,还会有部分反应源进入内部气相反应区域,影响生长材料的均匀性。本实施例中第二气体输送通道1020通入的第二气体相互之间不发生反应,因此能够有效避免上述问题,提高生长材料的均匀性。示例性地,对于III-V族MOCVD而言,第二气体可为V族氢化物源气体和载气、或吹扫气体。
如图4至图8所示,第二气体输送通道1020包括若干管状通道1020-1以及至少一个环形沟槽1027,其中,至少一个环形沟槽1027与多个管状通道1020-1连通以配合管状通道1020-1内的气体流出,环形沟槽1027的开口侧(即,远离管状通道的一侧)为面向承载盘201的出气侧。该环形沟槽1027可以是锥形槽、梯形槽、矩形槽、弧形槽及多边形槽中的任意一种,即环形沟槽1027在外围输送组件102的厚度方向上的截面形状为锥形、梯形、矩形、弧形及多边形中的任意一种。优选地,同一外围气体输送组件102中,环形沟槽1027为相同截面形状的沟槽。如图5所示,管状通道1020-1自外围气体输送组件102的第二侧1025向第一侧1024延伸。
如图4所示,若干管状通道1020-1可以以任意方式分布在外围气体输送组件102中,例如可以呈环形分布或者呈扇环形分布。优选地,管状通道1020-1呈环形分布,更优选地,可以沿多个同心环形区域分布。各个同心环形区域中的管状通道1020-1数量相同;或者,最外侧环形区域中的管状通道1020-1的数量大于最内侧环形区域中的管状通道1020-1的数量;或者,自多个同心环形区域的最内侧环形区域至最外侧环形区域,管状通道1020-1数量逐渐增加;或者自多个同心环形区域的最内侧环形区域至最外侧环形区域,管状通道1020-1数量逐渐增加,且其中至少两个相邻的环形区域中的管状通道1020-1数量相同。具体数量分布依据工艺需求而定。示例性地,如图4所示,管状通道1020-1沿三个同心环形区域分布,包括内侧环形区域、中间环形区域及外侧环形区域,分别对应的管状通道数量为N1、N2、N3,其中,N1=N2=N3;或者N3>N1,N1≤N2≤N3。
如图5所示,环形沟槽1027的数量可以是一个也可以是多个。
当环形沟槽1027的数量为一个时,该环形沟槽1027与外围气体输送组件102中的所有管状通道1020-1连通,管状通道1020-1可呈一个环形区域分布,也可沿多个同心环形区域分布。
优选地,如图5所示,环形沟槽1027的数量为多个,并且形成为多个同心环形沟槽1027,管状通道1020-1沿多个同心环形区域分布,多个同心环形沟槽1027中的每一个与至少一个同心环形区域对应设置,使得每一个同心环形沟槽1027与对应的同心环形区域中的管状通道1020-1连通。在可选实施例中,环形沟槽1027与同心环形区域的数量相同,多个环形沟槽1027中的每一个均与一个同心环形区域对应设置,即,环形沟槽1027与环形区域一一对应,每一个环形沟槽1027均与与其对应的同心环形区域上分布的管状通道1020-1连通,与每一个环形沟槽1027对应的每一个同心环形区域上分布的管状通道1020-1呈至少一个环形分布。在其他可选实施例中,环形沟槽1027的数量与同心环形区域的数量也可以不同,例如环形沟槽1027的数量为多个且小于同心环形区域的数量,多个环形沟槽1027中的每一个与多个同心环形区域中的至少一个对应设置,使得每一个同心环形沟槽1027与对应的同心环形区域中的管状通道连通,例如,多个同心环形区域中至少有两个相邻的同心环形区域与多个环形沟槽1027中的一个相对应连通,其余同心环形区域与其余的环形沟槽1027一一对应连通。
优选地,各个同心环形沟槽1027的开口宽度相同,或者最外侧环形沟槽1027的开口宽度大于最内侧环形沟槽1027的开口宽度;或者各个同心环形沟槽1027的开口宽度由最内侧环形沟槽1027至最外侧环形沟槽1027逐渐增加;或者各个同心环形沟槽1027的开口宽度由最内侧环形沟槽1027至最外侧环形沟槽1027逐渐增加,且其中至少两个相邻的环形沟槽1027的开口宽度相同;或者最外侧环形沟槽1027的开口面积大于最内侧环形沟槽1027的开口面积,或者各个同心环形沟槽1027的开口面积由最内侧环形沟槽1027至最外侧环形沟槽1027逐渐增加;或者各个同心环形沟槽1027的开口面积由最内侧环形沟槽1027至最外侧环形沟槽1027逐渐增加,且其中至少两个相邻的环形沟槽1027的开口面积相同。具体结构依据工艺需求而定。
如图8所示,可选实施例中,管状通道1020-1沿三个同心环形区域分布,环形沟槽1027由内至外包括三个同心环形沟槽:第一环形沟槽10271、第二环形沟槽10272及第三环形沟槽10273。上述第一环形沟槽10271、第二环形沟槽10272及第三环形沟槽10273与三个同心环形区域中一一对应,分别与同心环形区域中的管状通道1020-1相连通。可选地,多个同心环形沟槽1027由内至外(例如图8所示的自第一环形沟槽10271至第三环形沟槽10273,分别对应的沟槽开口宽度为d1、d2、d3,分别对应的沟槽开口面积为S1、S2、S3),环形沟槽1027的开口宽度相同,例如图8中d1=d2=d3;或者环形沟槽1027的开口宽度d3>d1,d1≤d2≤d3;或者环形沟槽1027的开口面积S3>S1,S1≤S2≤S3。
定义:每个管状通道1020-1的管轴在所述管状通道与所述环形沟槽1027连接处的端点为O点,经过所述O点的关于主轴线B的切平面为该管状通道的O点所在切平面,在本实施例中,至少部分所述管状通道的管轴在其对应的O点所在切平面上的投影与主轴线B之间具有角,所述角/>不为0,从而使得从所述外围气体输送组件102流出的气体形成旋转气流,所述旋转气流的速度包括轴向分量和切向分量,且所述旋转气流的旋转方向与承载盘201在反应过程中的旋转方向一致。
为了便于理解,本实施例以管状通道1020-1的管轴位于该管状通道的O点所在切平面上为例,结合图6及图7所示,图7显示为沿图6中的线H-H的侧视剖面图,过线H-H的剖面即为图6中中间一个管状通道1020-1的O点所在切平面。
如图7所示,在本实施例中,定义管状通道1020-1的管轴在管状通道1020-1与环形沟槽1027连接处的端点为O点(即所述管轴的下端点),管轴位于外围气体输送组件102的第二侧1025的一端的几何中心为O1点(即所述管轴的上端点),管状通道1020-1的管轴即为OO1,经过O点的关于主轴线B的切平面为该管状通道1020-1的O点所在切平面。此情形下,管状通道1020-1的管轴OO1在其O点所在切平面上的投影即为管轴OO1本身,此时,至少部分管状通道1020-1的管轴OO1与气体输送组件100的主轴线B(可参考图7所示的与主轴线B平行的直线O1B')之间具有角,角/>不为0。即,至少部分管状通道1020-1相对于主轴线B是倾斜的。可选地,外围气体输送组件102中的管状通道1020-1可以全部是相对主轴线B倾斜的;也可以是部分是与主轴线B相互平行的,部分是相对主轴线B倾斜的。相对主轴线B倾斜的管状通道1020-1使得从外围气体输送组件102流出的气体形成旋转气流,并且该旋转气流的旋转方向与承载盘201在反应过程中的旋转方向一致。
对于管状通道1020-1的管轴不位于其O点所在切平面上的情形,不难理解,只要部分管状通道1020-1的管轴在其O点所在切平面上的投影与主轴线B之间存在角度,就可以使从第二气体输送通道1020喷出的气体的气流速度包括轴向分量和切向分量,从而形成旋转气流。
一般而言,越大,切向分量与轴向分量的比例越大,旋转气流的旋转特性更明显。但旋转气流的气流速度的切向分量与轴向分量的比例不宜过大,否则会对内部区域气流造成较大影响,不利于均衡注入反应腔室200的气体。优选地,/>。
外部供气端300提供的第二气体通过第二气体输送通道1020流至反应腔室200内,第二气体输送通道1020的至少部分管状通道1020-1及环形沟槽1027的设置使得当气体从环形沟槽1027喷出时形成旋转气流,旋转气流的方向与承载盘201在反应过程中的旋转方向一致。由于承载盘201在反应过程中是旋转的,因此承载盘201边缘的气流由于承载盘的拖拽会存在一个切向速度(尤其是对于高速旋转(转速在200RPM以上)的承载盘而言,切向速度更大),其与来流(一般为轴向的来流)会产生碰撞并混合,从而在承载盘201边缘来流方向产生涡流。使旋转气流的方向与承载盘201在反应过程中的旋转方向一致,边缘来流由轴向来流变为了带有同方向切向速度的来流,使得反应腔室200内边缘流场气流的相对速度减小,因此使得反应腔室200内的流场在边缘区域的流动撞击混合及流线转向过程更平稳,由此抑制或完全消除反应腔室200内涡流的产生,使得反应腔室200中流场的层流特性更加稳定。如果使旋转气流的方向与承载盘201的旋转方向不一致,承载盘201边缘的气流与来流的相对速度变大,会加剧涡流。
在可选的实施例中,上述外围气体输送组件102位于承载盘201的外侧。在另一可选实施例中,由于采取上述可产生旋转气流的第二气体输送通道1020,可使外围气体输送组件102覆盖承载盘201的边缘,并且覆盖面积不超过承载盘201面积的36%(即沿承载盘径向上未被覆盖区域的半径大于等于承载盘半径的80%),相对于现有技术而言,在保证承载盘上有效生长区域生长均匀性的前提下,外围气体输送组件102覆盖承载盘的面积有所增加,可以减少反应源气体浪费,进一步提高反应源使用效率。
本实施例中,相对主轴线B倾斜的管状通道1020-1中,至少部分管状通道1020-1的管轴在其O点所在切平面上的投影与主轴线B之间的角是相同的。当外围气体输送组件102包括多个同心环形沟槽1027,管状通道1020-1沿多个同心环形区域分布,且多个同心环形沟槽1027与多个同心环形区域一一对应时,优选地,沿同一个同心环形区域分布的管状通道1020-1的管轴在其O点所在切平面上的投影与主轴线B之间的角/>相同。优选地,各同心环形区域分布的管状通道1020-1的管轴在其O点所在切平面上的投影与主轴线B之间的角/>均相同。优选地,最外侧环形区域中的管状通道1020-1的管轴在其O点所在切平面上的投影与主轴线B之间的角/>不小于最内侧环形区域中的管状通道1020-1的管轴在其O点所在切平面上的投影与主轴线B之间的度/>。优选地,自多个同心环形区域的最内侧环形区域至最外侧环形区域,管状通道1020-1的管轴在其O点所在切平面上的投影与主轴线B之间的/>逐渐增加,或者角/>逐渐增加且其中至少两个相邻的环形区域中的角/>相同。示例性地,如图4所示,管状通道1020-1沿三个同心环形区域分布,包括内侧环形区域、中间环形区域及外侧环形区域,对应的管状通道1020-1的管轴在其O点所在切平面上的投影与主轴线B之间的角分别为/>,其中,/>;或者/>;或者/>。可以根据不同的反应腔室和工艺需求,对管状通道1020-1的具体结构(例如角/>)进行设计,从而使承载盘201边缘附近气体流场中的涡流最小化。
以上仅以气体输送组件位于上部、承载盘位于下部的正置式垂直流腔室为例对气体输送组件进行了说明,应该理解的是在任意类型的反应腔室中,只要可能因为承载盘旋转而产生涡旋的反应腔室中,均可采用本发明提供的气体输送组件以抑制或完全消除涡旋,均衡气流。
实施例二
本实施例同样提供一种气体输送组件,该气体输送组件用于气相反应装置,例如可以用于气相沉积装置。同样如图1所示,该气相反应装置包括反应腔室200,反应腔室200中设置有承载盘201,气体输送组件100与承载盘201相对设置,用于将反应气体输送到反应腔室200中。本实施例的气体输送组件与实施例一提供的气体输送组件的相同之处不再赘述,不同之处体现在气体输送组件100的外围气体输送组件,因此,在本实施例中,如图9所示,仅示出了其中的外围气体输送组件102',该外围气体输送组件102'同样分布有若干个第二气体输送通道1020'。参照图9至图12,该第二气体输送通道1020'同样包括若干管状通道1020'-1及环形沟槽1027'。至少部分管状通道1020'-1的管轴在其O点所在切平面上的投影与主轴线B之间具有角,角/>不为0。此外,第二气体输送通道1020'还具有以下特征。
如图10,示出了图9中P部分的局部放大图。其中至少部分管状通道1020'-1的管轴OO1所在的垂面与O点所在的切平面之间具有角θ,其中O点为管状通道1020'-1的管轴在管状通道1020'-1与环形沟槽1027'连接处的端点(即管轴的下端点),O1点为管状通道1020'-1的管轴的另一端点,位于外围气体输送组件102'的第二侧1025的一端的几何中心(即管轴的上端点),过O点且平行于主轴线B的直线为O点的轴向线OO'。管状通道1020'-1的管轴OO1所在的垂面为管轴OO1与轴向线OO'张成的平面;经过O点的关于主轴线B的切平面为该管状通道1020-1的O点所在切平面,也即O点的切向线(在O点关于主轴线B的切向线)与轴向线OO'张成的平面。
参照图11,同时参照图12,环形沟槽1027'与出气侧所在的面形成第一交线和第二交线。以图12中的第三环形沟槽10273'为例,该第三环形沟槽10273'与出气侧所在的面形成第一交线L1和第二交线L2,同时通过主轴线B和轴向线OO'的平面为P0面(例如图11所示的外围气体输送组件102'沿图9中C-C线的剖面)。其中,第一交线L1与P0面具有第一交点M点,第二交线L2与P0面具有第二交点N点,OM与ON之间形成角γ。角γ的角平分线为OQ,OQ与轴向线OO'之间形成角δ,其中,角δ及角θ中至少一个不为0。其中,OM与OO'之间形成角γi,ON与OO'之间形成角γo,δ的大小即为角γi与角γo之间的差值Δγ的一半。优选地,角δ与角θ的大小相同,管状通道1020'-1和环形沟槽1027'相对于O点所在的切平面均是偏斜的,且二者的偏斜方向一致,即,角平分线OQ靠近承载盘201的一端与管轴靠近承载盘201的一端均以相同的方向朝远离或靠近主轴线的方向偏斜,例如,二者均以相同的方向朝远离主轴线B的方向偏斜。特别地,当δ=0,且θ=0时,即为实施例一中图5所示的结构(其管状通道的管轴及环形沟槽的角平分线均位于O点所在切平面上的情形,喷出气体的气流速度仅包括切向分量和轴向分量)。
由本实施例的上述倾斜的管状通道1020'-1和环形沟槽1027'注入的气体的气流速度不仅包括轴向分量和切向分量,还包括径向分量,对于不同构造比例和使用场景的反应腔室,引入上述气流速度包含径向分量的气流可以进一步减小涡流。优选地,当第二气体输送通道包括多个环形沟槽1027'时,使喷出气流的速度包括径向分量的第二气体输送通道不位于最靠近中间区域的环形沟槽1027'及其对应的管状通道1020'-1所在区域。
实施例三
本实施例同样提供一种气体输送组件,该气体输送组件用于气相反应装置,例如可以用于气相沉积装置。同样如图1所示,该气相反应装置包括反应腔室200,反应腔室200中设置有承载盘201,气体输送组件100与承载盘201相对设置,用于将反应气体输送到反应腔室200中。本实施例中,气体输送组件100中的外围气体输送组件102包括若干第二气体输送通道1020,第二气体输送通道1020同样包括若干管状通道和至少一个环形沟槽,该管状通道和环形沟槽可以全部是实施例一的管状通道1020-1及环形沟槽1027;也可以全部是实施例二的管状通道1020'-1及环形沟槽1027';还可以是与主轴线B平行的管状通道1020-1和实施例一的管状通道1020-1及环形沟槽1027的组合,也可以是与主轴线B平行的管状通道1020-1和实施例二的管状通道1020'-1及环形沟槽1027',还可以是与主轴线B平行的管状通道1020-1、实施例一的管状通道1020-1及环形沟槽1027和实施例二的管状通道1020'-1及环形沟槽1027'的组合。第二气体输送通道的具体类型,可以依照不同的气相反应装置、使用场景和工艺需求而定。
实施例四
本实施例同样提供一种气体输送组件,该气体输送组件用于气相反应装置,例如可以用于气相沉积装置,同样如图1所示,该气相反应装置包括反应腔室200,反应腔室200中设置有承载盘201,气体输送组件100与承载盘201相对设置,用于将反应气体输送到反应腔室200中。本实施例的气体输送组件中的外围气体输送组件102包括若干第二气体输送通道1020,该第二气体输送通道1020的结构可以为实施例一至三中的任意一种,第二气体输送通道1020中管状通道1020-1的分布方式与实施例一相同。
本实施例中,外围气体输送组件102输送的第二气体来自同一供气端,并使得外围气体输送组件102输送的气体被统一调控。
如图1所示,位于气体输送组件100的外围区域的外围气体输送组件102由供气端300通入同一种气体,因此由第二气体输送通道1020中的环形沟槽1027输送至反应腔室200中的第二气体的种类和组分均相同。需指出的是,上述同一种气体并非指单一气体种类,而是指由第二气体输送通道1020输送至反应腔室200中的气体相同,其可以是单一气体,也可以是混合气体。示例性地,对于III-V族MOCVD而言,第二气体可为V族氢化物源气体和载气、或吹扫气体。
在供气端300和外围气体输送组件102之间还设有控制单元(未图示),如阀门、质量流量控制器、压力控制器等,控制单元对外围气体输送组件102的气体进行统一调控,由此使得外围气体输送组件102中输送的气体的种类和组分均相同。
实施例五
本实施例同样提供一种气体输送组件,其与实施例四的差别在于:实施例四中外围气体输送组件102输送的第二气体来自同一供气端300,并使得外围气体输送组件102输送的气体被统一调控,而本实施例中外围气体输送组件被分隔成相互独立的多个子区域,至少两个子区域中输送的第二气体被独立调控。
如图13所示,仅示出了其中的外围气体输送组件102”的俯视视角的结构示意图,该外围气体输送组件102”同样分布有若干个第二气体输送通道1020”。本实施例的外围气体输送组件102”被至少一个隔离件103分隔成相互独立的多个子区域。
可选实施例中,反应腔室200设有顶板(未图示),该顶板覆于外围气体输送组件102”的第二侧1025,顶板上设有若干隔离件103,隔离件103可以为自顶板向外围气体输送组件102”的第二侧1025方向凸出的棱,隔离件103位于外围气体输送组件102”的第二侧1025和顶板之间。当顶板覆盖安装于外围气体输送组件102”的第二侧1025上时,隔离件103将外围气体输送组件102”中的第二气体输送通道1020”划分在多个子区域中。
可选实施例中,如图13所示,隔离件103可以形成为由外围气体输送组件102”的第二侧1025向顶板方向凸出的棱。隔离件103位于外围气体输送组件102”的第二侧1025和顶板之间。当顶板覆盖安装于外围气体输送组件102”的第二侧1025上时,隔离件103将外围气体输送组件102”中的第二气体输送通道1020”划分在多个子区域中。
如图13所示,隔离件103可以沿外围气体输送组件102”的周向以圆周形式分布,将外围气体输送组件102”划分为至少两个同心环形的子区域,优选地,每一子区域包含一个环形沟槽。优选地,调节最外侧子区域中通入气体的流量不小于最内侧子区域中通入气体的流量;或调节最外侧子区域中通入气体的平均分子量不小于最内侧子区域中通入气体的平均分子量;或调节最外侧子区域中通入气体的流量不小于最内侧子区域中通入气体的流量,且最外侧子区域中通入气体的平均分子量不小于最内侧子区域中通入气体的平均分子量。优选地,自最内侧子区域至最外侧子区域,调节通入气体的流量逐渐增大;或调节通入气体的平均分子量逐渐增大;或调节通入气体的流量及平均分子量均逐渐增大。优选地,自最内侧子区域至最外侧子区域,调节通入气体的流量逐渐增大且其中至少两个相邻的子区域中的气体的流量相同;或调节通入气体的平均分子量逐渐增大且其中至少两个相邻的子区域中的气体的平均分子量相同;或调节通入气体的流量及平均分子量均逐渐增大,且其中至少两个相邻的子区域中的气体的流量相同且气体的平均分子量相同。
或者隔离件103沿气体输送组件100的中心至边缘的方向延伸形成在外围气体输送组件102”中,将外围气体输送组件102”划分为至少两个扇环形的子区域,优选地,至少两个扇环形的子区域的面积相同。
本实施例中,以圆形反应腔室200中的圆盘形气体输送组件100为例,隔离件103沿外围气体输送组件102”的周向以圆周形式分布为例,如图13所示,以具有两条隔离件103为例,这两条隔离件103与外围气体输送组件102”的侧壁将外围气体输送组件102”划分为三个子区域:位于径向最内侧的第一子区域1021、位于第一子区域1021外侧的第二子区域1022以及位于径向最外侧的第三子区域1023,并分别对应第一环形沟槽、第二环形沟槽、第三环形沟槽。在可选实施例中,上述第一子区域1021、第二子区域1022及第三子区域1023分别与独立的供气端300连通。示例性地,供气端300包括若干个不同气体源,各子区域分别与若干个不同气体源连接,气体源与各子区域之间设有控制单元(未图示),如阀门、质量流量控制器、压力控制器等,控制单元分别单独控制进入各子区域中的气体,使通入第一子区域1021、第二子区域1022及第三子区域1023的气体的组成以及流量等参数可以相同也可以不同,并且上述各参数是可以分别独立控制的,由此可以单独控制通入第一子区域1021、第二子区域1022及第三子区域1023的气体的流量或者组分等。由此增加了通过外围气体输送组件通入反应腔室200的气体的控制可能性,实现更好的抑制或完全消除反应腔室涡旋气流的效果。
在可选实施例中,上述第一子区域1021与第二子区域1022连接同一气体源,并被同一控制单元调控,第三子区域1023连接另一气体源,被另一控制单元单独调控。另有其他类似组合,只要是使得子区域中的气体可被单独调控,在此不做赘述。
如图13所示,沿径向由内而外的方向,由第一子区域1021、第二子区域1022及第三子区域1023注入的第二气体的流量分别为F1、F2、F3,注入的第二气体的平均分子量分别为M1、M2、M3,其中,F1≤F2≤F3,或者,M1≤M2≤M3,或者,F1≤F2≤F3且M1≤M2≤M3。
由于在反应腔室200中,越靠近内部区域,其气流需要通过精细分布来调节和匹配,因此上述子区域的设计能够减少对内部区域气流的影响,由此有利于均衡注入反应腔室200的气体,获得更好的抑制及消除气流涡旋的效果,进而帮助提高气体的利用率。
实施例六
本实施例提供一种气相反应装置,可参照图1,该气相反应装置包括反应腔室200,反应腔室200中设置有承载盘201,承载盘201在反应过程中的旋转速度≥200RPM;以及与承载盘201相对设置的气体输送组件100。本实施例中,气体输送组件100为实施例一至五中的任意一种。该气相反应装置能够减少、抑制气流涡旋的产生,获得均匀稳定的气体流场,从而扩大工艺参数的可设置范围,帮助提高载气和源物料气体的利用率,因此能够有效降低材料生长的成本。
上述实施例仅例示性说明本发明的原理及其功效,而非用于限制本发明。任何熟悉此技术的人士皆可在不违背本发明的精神及范畴下,对上述实施例进行修饰或改变。因此,举凡所属技术领域中具有通常知识者在未脱离本发明所揭示的精神与技术思想下所完成的一切等效修饰或改变,仍应由本发明的权利要求所涵盖。
Claims (19)
1.一种气体输送组件,用于气相反应装置,所述气相反应装置中设置有承载盘,其特征在于,所述气体输送组件包括位于所述气体输送组件中间区域的内部气体输送组件和环绕所述中间区域的外围气体输送组件;其中,
所述外围气体输送组件包括若干管状通道及至少一个环形沟槽,所述环形沟槽与所述管状通道连通用以配合所述管状通道内的气体流出,所述环形沟槽的开口侧为面向所述承载盘的出气侧;
定义一与所述出气侧所在的面垂直且经过所述气体输送组件出气面的几何中心的主轴线,定义每个所述管状通道的管轴在所述管状通道与所述环形沟槽连接处的端点为O点,经过所述O点的关于所述主轴线的切平面为该管状通道的O点所在切平面,至少部分所述管状通道的管轴在其对应的所述O点所在切平面上的投影与所述主轴线之间具有角所述角不为0,使得从所述外围气体输送组件流出的气体形成旋转气流,且所述旋转气流的旋转方向与所述承载盘在反应过程中的旋转方向一致。
2.根据权利要求1所述的气体输送组件,其特征在于,所述环形沟槽为锥形槽、梯形槽、矩形槽、弧形槽及多边形槽中的任意一种。
3.根据权利要求1所述的气体输送组件,其特征在于,所述外围气体输送组件包括一个环形沟槽,所述管状通道沿至少一个同心环形区域分布,所述管状通道与所述环形沟槽对应连通。
4.根据权利要求1所述的气体输送组件,其特征在于,所述外围气体输送组件包括多个同心环形沟槽,所述管状通道沿多个同心环形区域分布,所述同心环形沟槽的数量小于或等于所述同心环形区域的数量,多个所述同心环形沟槽中的每一个与多个所述同心环形区域中的至少一个对应设置,使得每一个同心环形沟槽与对应的同心环形区域中的所述管状通道连通。
5.根据权利要求4所述的气体输送组件,其特征在于,各个所述同心环形区域中的管状通道数量相同,或者最外侧环形区域中的管状通道数量大于最内侧环形区域中的管状通道数量,或者多个所述同心环形区域中的管状通道数量由最内侧环形区域至最外侧环形区域逐渐增加。
6.根据权利要求4所述的气体输送组件,其特征在于,各个所述同心环形沟槽的开口宽度相同,或者最外侧环形沟槽的开口宽度大于最内侧环形沟槽的开口宽度,或者各个所述同心环形沟槽的开口宽度由最内侧环形沟槽至最外侧环形沟槽逐渐增加;或者最外侧环形沟槽的开口面积大于最内侧环形沟槽的开口面积,或者各个所述同心环形沟槽的开口面积由最内侧环形沟槽至最外侧环形沟槽逐渐增加。
7.根据权利要求1所述的气体输送组件,其特征在于,至少部分所述管状通道的管轴在其对应的所述O点所在切平面上的投影与所述主轴线之间的角相同。
8.根据权利要求4所述的气体输送组件,其特征在于,多个所述同心环形沟槽与多个所述同心环形区域一一对应,同一同心环形区域中所述管轴在其对应的所述O点所在切平面上的投影与所述主轴线之间的角相同。
9.根据权利要求8所述的气体输送组件,其特征在于,最外侧环形区域中所述管轴在其对应的所述O点所在切平面上的投影与所述主轴线之间的角不小于最内侧环形区域中所述管轴在其对应的所述O点所在切平面上的投影与所述主轴线之间的角/>或者自多个所述同心环形区域的最内侧环形区域至最外侧环形区域,所述管轴在其对应的所述O点所在切平面上的投影与所述主轴线之间的角/>逐渐增加。
10.根据权利要求1所述的气体输送组件,其特征在于,定义过任一O点与主轴线平行的直线为O点的轴向线OO',同时通过所述主轴线和所述轴向线OO'的平面为P0面,所述管轴所在的垂面为所述管轴与所述轴向线OO'张成的平面;其中,至少部分所述管状通道的管轴所在的垂面与所述O点所在切平面之间具有角θ;
所述环形沟槽与所述出气侧所在的面形成第一交线和第二交线,其中,所述第一交线与所述P0面具有第一交点M点,所述第二交线与所述P0面具有第二交点N点,OM与ON之间形成角γ,所述角γ的角平分线为OQ,OQ与轴向线OO'之间形成角δ;其中,所述角δ及所述角θ至少一个不为0。
11.根据权利要求10所述的气体输送组件,其特征在于,所述角平分线OQ靠近所述承载盘的一端与所述管轴靠近所述承载盘的一端均以相同的方向朝远离或靠近所述主轴线的方向偏斜,并且所述角δ与所述角θ的大小相同。
12.根据权利要求1所述的气体输送组件,其特征在于,所述外围气体输送组件输送的气体来自同一供气端,并使得所述外围气体输送组件输送的气体被统一调控。
13.根据权利要求1所述的气体输送组件,其特征在于,所述气相反应装置包括至少一个隔离件,所述隔离件将所述外围气体输送组件分隔成相互独立的多个子区域,至少两个所述子区域中输送的气体被独立调控。
14.根据权利要求13所述的气体输送组件,其特征在于,所述多个子区域为多个同心环形区域,最外侧子区域中通入气体的流量不小于最内侧子区域中通入气体的流量,和/或最外侧子区域中通入气体的平均分子量不小于最内侧子区域中通入气体的平均分子量。
15.根据权利要求13所述的气体输送组件,其特征在于,所述多个子区域为多个同心环形区域,自最内侧子区域至最外侧子区域,通入气体的流量逐渐增大,和/或通入气体的平均分子量逐渐增大。
16.根据权利要求1所述的气体输送组件,其特征在于,所述外围气体输送组件覆盖所述承载盘的边缘,且覆盖面积不超过所述承载盘面积的36%。
17.根据权利要求1所述的气体输送组件,其特征在于,所述外围气体输送组件位于所述承载盘的外侧。
18.根据权利要求1所述的气体输送组件,其特征在于,所述内部气体输送组件输送的气体为反应源气体和载气,用于反应生成目标产物,所述外围气体输送组件输送的气体为吹扫气体、载气、反应源气体中的一种或多种,所述外围气体输送组件输送的气体相互之间不发生反应,或者所述外围气体输送组件输送的气体相互之间反应但不生成所述目标产物。
19.一种气相反应装置,其特征在于,包括:
反应腔室;
承载盘,设置在所述反应腔室中,所述承载盘在反应过程中的旋转速度≥200RPM;
气体输送组件,与所述承载盘相对设置,所述气体输送组件为权利要求1~18中任意一项所述的气体输送组件。
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Citations (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH09293681A (ja) * | 1996-04-26 | 1997-11-11 | Sharp Corp | 気相成長装置 |
JPH10177959A (ja) * | 1996-12-19 | 1998-06-30 | Toshiba Ceramics Co Ltd | 気相薄膜成長装置及び気相薄膜成長方法 |
KR100892754B1 (ko) * | 2007-11-02 | 2009-04-15 | 세메스 주식회사 | 기판 처리 장치 및 방법 |
WO2015183483A1 (en) * | 2014-05-30 | 2015-12-03 | Applied Materials, Inc. | Method and apparatus for improving gas flow in a substrate processing chamber |
CN105200395A (zh) * | 2014-06-18 | 2015-12-30 | 中微半导体设备(上海)有限公司 | 用于mocvd设备的进气及冷却装置 |
CN107447205A (zh) * | 2017-07-24 | 2017-12-08 | 江苏实为半导体科技有限公司 | 一种高效沉积cvd装置 |
CN108103479A (zh) * | 2017-12-26 | 2018-06-01 | 德淮半导体有限公司 | 用于气相沉积的喷头 |
JP2019075516A (ja) * | 2017-10-19 | 2019-05-16 | 東京エレクトロン株式会社 | プラズマ処理装置及びガス流路が形成される部材 |
WO2021257462A1 (en) * | 2020-06-15 | 2021-12-23 | Lam Research Corporation | Showerhead faceplates with angled gas distribution passages for semiconductor processing tools |
CN215288962U (zh) * | 2021-08-02 | 2021-12-24 | 聚能纳米科技(苏州)有限公司 | 真空气相沉积反应室 |
CN114164412A (zh) * | 2020-09-10 | 2022-03-11 | 鑫天虹(厦门)科技有限公司 | 半导体原子层沉积装置的喷洒头结构 |
Family Cites Families (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US20090084317A1 (en) * | 2007-09-28 | 2009-04-02 | Applied Materials, Inc. | Atomic layer deposition chamber and components |
US9353440B2 (en) * | 2013-12-20 | 2016-05-31 | Applied Materials, Inc. | Dual-direction chemical delivery system for ALD/CVD chambers |
CN105441904B (zh) * | 2014-06-18 | 2018-06-26 | 中微半导体设备(上海)有限公司 | 气体喷淋装置、化学气相沉积装置和方法 |
US10018920B2 (en) * | 2016-03-04 | 2018-07-10 | Taiwan Semiconductor Manufacturing Co., Ltd. | Lithography patterning with a gas phase resist |
CN115572958B (zh) * | 2022-09-30 | 2023-08-11 | 楚赟精工科技(上海)有限公司 | 一种气体输送组件及气相反应装置 |
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Patent Citations (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH09293681A (ja) * | 1996-04-26 | 1997-11-11 | Sharp Corp | 気相成長装置 |
JPH10177959A (ja) * | 1996-12-19 | 1998-06-30 | Toshiba Ceramics Co Ltd | 気相薄膜成長装置及び気相薄膜成長方法 |
KR100892754B1 (ko) * | 2007-11-02 | 2009-04-15 | 세메스 주식회사 | 기판 처리 장치 및 방법 |
WO2015183483A1 (en) * | 2014-05-30 | 2015-12-03 | Applied Materials, Inc. | Method and apparatus for improving gas flow in a substrate processing chamber |
CN105200395A (zh) * | 2014-06-18 | 2015-12-30 | 中微半导体设备(上海)有限公司 | 用于mocvd设备的进气及冷却装置 |
CN107447205A (zh) * | 2017-07-24 | 2017-12-08 | 江苏实为半导体科技有限公司 | 一种高效沉积cvd装置 |
JP2019075516A (ja) * | 2017-10-19 | 2019-05-16 | 東京エレクトロン株式会社 | プラズマ処理装置及びガス流路が形成される部材 |
CN108103479A (zh) * | 2017-12-26 | 2018-06-01 | 德淮半导体有限公司 | 用于气相沉积的喷头 |
WO2021257462A1 (en) * | 2020-06-15 | 2021-12-23 | Lam Research Corporation | Showerhead faceplates with angled gas distribution passages for semiconductor processing tools |
CN114164412A (zh) * | 2020-09-10 | 2022-03-11 | 鑫天虹(厦门)科技有限公司 | 半导体原子层沉积装置的喷洒头结构 |
CN215288962U (zh) * | 2021-08-02 | 2021-12-24 | 聚能纳米科技(苏州)有限公司 | 真空气相沉积反应室 |
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