CN115549821A - 一种阵列天线外场差分相差标定方法 - Google Patents

一种阵列天线外场差分相差标定方法 Download PDF

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CN115549821A CN202211421176.5A CN202211421176A CN115549821A CN 115549821 A CN115549821 A CN 115549821A CN 202211421176 A CN202211421176 A CN 202211421176A CN 115549821 A CN115549821 A CN 115549821A
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薛玉斌
周雨
吴天
陈清刚
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Abstract

本发明属于无线通信技术领域,涉及一种阵列天线外场差分相差标定方法,通过选取一处无遮挡平整空旷场地,场地中心划定为待测阵列天线点位,围绕待测天线点位确定一个正圆并完成圆周各点与待测阵列天线点位之间的正北偏差测量;按照仰角需求解算待测阵列天线与测试天线的高度,将待测阵列天线阵面的本体坐标X轴对准正北方向;测试天线以正北方向为起点,顺时针移动测试天线至各待测点位,阵列天线接收机依次记录各阵元与基准阵元在不同待测点位位置上的相位差;通过各阵元与基准阵元相差测量结果结合来波方向矩阵完成阵元及信道间相差的解算;本发明解决了在无微波暗室环境支持条件下阵列天线阵元间相差误差对波束扫描、测向定位性能的恶化影响。

Description

一种阵列天线外场差分相差标定方法
技术领域
本发明属于无线通信技术领域,尤其涉及一种阵列天线外场差分相差标定方法。
背景技术
阵列天线已经在卫星通信、卫星导航领域得到了广泛应用,相比于传统的单天线,在阵元间、接收通道间的相位差准确标定与修正基础上,阵列天线可通过多阵元接收信号相位控制、空域调零等技术完成阵列天线接收波束的空域扫描及干扰抑制,也可通过多阵元相位干涉及空间谱估计等技术完成辐射源的精确测向。由于阵列天线中每个阵元均包含一个完整的天线阵子与接收通道,传统阵列天线的标校工作流程复杂且效率较低,主要体现在:
1)阵列天线阵元与接收通道的相差标校需借助微波暗室环境,包括转台、机械臂及多径抑制环境,测试环境相对苛刻;
2)阵列天线阵元之间相差与天线极化形式、安装姿态、安装位置直接相关,传统标定方法针对不同阵列流行阵元间相差标定需完成阵列天线中每个阵元的天线相位方向图测试,测试流程复杂;
3)阵列天线的各阵元接收通道(如放大器、滤波器、混频器、ADC等)相位传输延迟不同,阵列天线的标定需完成每个阵元接收通道相位的标定,测试流程复杂。
随着阵列天线在卫星通信、卫星导航领域广泛应用,不依赖于暗室环境的情况下,阵列天线阵元与接收信道一体化相差标定方法可为阵列天线标校提供新的技术手段并可大幅度提升标校效率。
发明内容
为了解决上述现有技术中存在的技术问题,本发明提供了一种阵列天线外场差分相差标定方法,拟解决目前天线与通道相位标定,流程复杂,效率低下的技术问题。
为解决上述技术问题,本发明采用的技术方案如下:
一种阵列天线外场差分相差标定方法,包括以下步骤:
步骤1:选取一处周围无建筑遮挡且平整的空旷场地,以场地中心作为待测阵列天线放置点,以待测阵列天线本体坐标原点为圆心,围绕待测阵列天线本体坐标原点确定一个正圆,通过GNSS测向设备测定M个水平距离为R的测试天线点位,其中测试天线点位1位于待测阵列天线的正北方向;
步骤2:将待测阵列天线部署到场地中心,将待测阵列天线的X轴对准位于正北方向的测试天线点位,Z轴正对天顶,X-Y平面与地面保持平行;
步骤3:基于确定的测试天线点位以及所部署的待测阵列天线,计算测试天线点位相对于待测阵列天线X-Y-Z坐标点位的方位与俯仰;
步骤4:依次将测试天线放置于所确定的M个测试天线点位,通过待测阵列天线接收机完成每个阵列天线的阵元n到阵元1通道的载波相位差测量,并记录载波相位差;
步骤5:根据步骤3得到的方位与俯仰以及步骤4得到的载波相位差,解算阵元n到阵元1之间的天线及信道相位差。
本发明在外场通过GNSS高精度测向定位设备实现待测阵列天线与测试天线两者之间的相对方位与俯仰角度标定,结合空旷场地弱多径电磁环境特征,无需微波暗室环境以及机械臂及转台等基础设施完成阵子间与信道间联合相位差的一次性标定;不受阵列流行约束。
优选的,所述阵元n到阵元1之间的天线及信道相位差的解算步骤如下:
A.基于步骤4得到M个测试天线点位的载波相位差,形成测试数据矩阵
Figure 816895DEST_PATH_IMAGE001
B.基于步骤3得到M个测试天线点位与待测阵列天线的方位与俯仰,并形成方位与俯仰数据矩阵
Figure 937297DEST_PATH_IMAGE002
C.获取阵列天线各阵元在坐标系X-Y-Z中的安装位置
Figure 700723DEST_PATH_IMAGE003
,以阵元1为阵列天线基准点,则阵元n与阵元1的空间位置矢量为
Figure 33615DEST_PATH_IMAGE004
;根据数据矩阵B得到测试天线点位N的测试天线与待测阵列天线方位与俯仰角
Figure 51250DEST_PATH_IMAGE005
;再基于如下公式得到阵元n与阵元1的波程相位差:
Figure 326242DEST_PATH_IMAGE006
D.构建阵列流行理论波程相位差矩阵
Figure 796538DEST_PATH_IMAGE007
,当阵元n与阵元1距离大于
Figure 707688DEST_PATH_IMAGE008
时,
Figure 579829DEST_PATH_IMAGE009
可大于
Figure 42034DEST_PATH_IMAGE010
,其中
Figure 265205DEST_PATH_IMAGE011
为电磁波波长,通过公式
Figure 720326DEST_PATH_IMAGE012
解算
Figure 446974DEST_PATH_IMAGE013
的模糊度
Figure 80080DEST_PATH_IMAGE014
,得到修正测试矩阵
Figure 508657DEST_PATH_IMAGE015
E.将修正测试矩阵
Figure 518201DEST_PATH_IMAGE016
与理论波程相位差矩阵
Figure 364934DEST_PATH_IMAGE017
做差得到矩阵
Figure 621472DEST_PATH_IMAGE018
,对矩阵
Figure 819235DEST_PATH_IMAGE019
中的n列数据求均值,得到阵元n到阵元1之间的不同方向的平均相位差
Figure 350580DEST_PATH_IMAGE020
F.将平均相位差
Figure 317398DEST_PATH_IMAGE021
作为每个阵元及通道的修正参数录入接收机修正参数中,实现阵列天线中阵元n到阵元1之间的相位差标定与修正。
优选的,所述待测阵列天线本体坐标系X负轴指向正北方向。
优选的,所述测试天线点位N俯仰角
Figure 292308DEST_PATH_IMAGE022
的计算方式如下:
Figure 961055DEST_PATH_IMAGE023
= atan((R2-R1)/R);
式中:
Figure 312402DEST_PATH_IMAGE024
表示第N个测试天线点位的俯仰角;R1表示待测阵列天线安装高度;R2表示测试天线支架高度;R表示测试天线支架与待测阵列天线支架的水平距离。
优选的,所述测试天线点位N的方位差
Figure 868149DEST_PATH_IMAGE025
的计算方式如下:
Figure 279538DEST_PATH_IMAGE026
=
Figure 435582DEST_PATH_IMAGE027
式中:
Figure 59461DEST_PATH_IMAGE028
表示第N个测试天线点位的方位差;N表示第N个测试天线点位;M表示第M个测试天线点位。
本发明的有益效果包括:
本发明在外场通过GNSS高精度测向定位设备实现待测阵列天线与测试天线两者之间的相对方位与俯仰角度标定,结合空旷场地弱多径电磁环境特征,无需微波暗室环境以及机械臂及转台等基础设施完成阵子间与信道间联合相位差的一次性标定;不受阵列流行约束。
附图说明
图1为本发明阵列天线外场差分相差标定方法原理图,其中a部分为俯视图,b部分为侧视图。
图2为本发明阵列天线差分相差解算方法流程及步骤。
图3为本发明阵列天线差分相差解算方法修正结果示意图(未修正)。
图4为本发明阵列天线差分相差解算方法修正结果示意图(标定后)。
具体实施方式
为使本申请实施例的目的、技术方案和优点更加清楚,下面将结合本申请实施例中附图,对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅是本申请一部分实施例,而不是全部的实施例。通常在此处附图中描述和示出的本申请实施例的组件可以各种不同的配置来布置和设计。因此,以下对在附图中提供的本申请的实施例的详细描述并非旨在限制要求保护的本申请的范围,而是仅仅表示本申请的选定实施例。基于本申请的实施例,本领域技术人员在没有做出创造性劳动的前提下所获得的所有其他实施例,都属于本申请保护的范围。
下面结合图1到图4对本发明作进一步的详细说明:
一种阵列天线外场差分相差标定方法,包括以下步骤:
参见图1,步骤1:选取一处处周围无建筑遮挡且平整空旷场地,以场地中心作为待测阵列天线放置点,通过GNSS测向设备距离测定M个水平距离为R的测试天线点位,测试天线点位1位于放置点的正北方向,点位1~M分别按照顺时针方向以
Figure 735293DEST_PATH_IMAGE029
间隔设定,待测阵列天线安装高度为R1,测试天线支架高度为R2,测试天线支架与待测阵列天线支架的水平距离为R,则天线仰角可通过调整R1或R2值进行设定;
步骤2:将待测阵列天线部署到场地中心,将待测阵列天线的X轴对准位于正北方向的测试天线点位,Z轴正对天顶,X-Y平面与地面保持平行;待测阵列天线原点O与场地中心点位重合;
步骤3:基于确定的测试天线点位以及所部署的待测阵列天线,计算测试天线点位相对于待测阵列天线X-Y-Z坐标点位的方位与俯仰
Figure 35694DEST_PATH_IMAGE030
测试天线点位N俯仰角
Figure 164187DEST_PATH_IMAGE031
通过atan((R2-R1)/R)计算获得,方位角
Figure 857336DEST_PATH_IMAGE032
通过标定好测试天线点位角度
Figure 908381DEST_PATH_IMAGE033
直接获取;
步骤4:依次将测试天线放置于所确定的M个测试天线点位,通过天线接收机完成每个阵列天线的阵元n到阵元1通道的载波相位差测量,并记录载波相位差
Figure 661573DEST_PATH_IMAGE034
步骤5:根据步骤3得到的方位与俯仰
Figure 542941DEST_PATH_IMAGE035
以及步骤4得到的载波相位差
Figure 757891DEST_PATH_IMAGE036
,解算阵元n到阵元1之间的阵元及信道相位差。
参见图2,所述阵元n到阵元1之间的天线及信道相位差的解算步骤如下:
A.阵列天线接收机完成位于测试天线点位N的待测阵列天线各阵元通道相位差
Figure 142736DEST_PATH_IMAGE037
,直至遍历整个圆周M个测试天线点位,形成测试数据矩阵
Figure 66830DEST_PATH_IMAGE038
B.获取测试天线点位与待测阵列天线之间的方位与俯仰矩阵
Figure 419182DEST_PATH_IMAGE039
C.获取阵列天线各阵元在天线本体坐标系X-Y-Z中的安装位置
Figure 454134DEST_PATH_IMAGE040
,以阵元1为阵列天线基准点,则阵元n与阵元1的空间位置矢量为
Figure 959065DEST_PATH_IMAGE041
;根据数据矩阵B得到测试天线点位N的测试天线与待测阵列天线方位与俯仰角
Figure 788481DEST_PATH_IMAGE042
;再基于如下公式得到阵元n与阵元1的波程相位差:
Figure 893709DEST_PATH_IMAGE043
D.构建理论波程相位差矩阵
Figure 466773DEST_PATH_IMAGE044
,当阵元n与阵元1距离大于
Figure 91789DEST_PATH_IMAGE045
时,
Figure 357685DEST_PATH_IMAGE046
可大于
Figure 684630DEST_PATH_IMAGE047
,其中
Figure 326964DEST_PATH_IMAGE048
为电磁波波长,通过公式
Figure 806487DEST_PATH_IMAGE049
解算
Figure 243285DEST_PATH_IMAGE050
的模糊度
Figure 57526DEST_PATH_IMAGE051
,得到修正测试矩阵
Figure 706813DEST_PATH_IMAGE052
E.将修正测试矩阵
Figure 572001DEST_PATH_IMAGE053
与理论波程相位差矩阵
Figure 179700DEST_PATH_IMAGE054
做差得到矩阵
Figure 481237DEST_PATH_IMAGE055
,对矩阵
Figure 934215DEST_PATH_IMAGE056
中的n列数据求均值,得到阵元n到阵元1之间的不同方向的平均相位差
Figure 388330DEST_PATH_IMAGE057
F.将平均相位差
Figure 416198DEST_PATH_IMAGE058
作为每个阵元及通道的修正参数录入接收机修正参数中,实现阵列天线中阵元n到阵元1之间的相位差标定与修正。
参见图3所示,以6阵列天线标定为例,天线1坐标为(0,0,0),天线2坐标为(0.4
Figure 955764DEST_PATH_IMAGE059
,0,0),天线3(0,0.4
Figure 478012DEST_PATH_IMAGE060
,0),天线4(0.4
Figure 786633DEST_PATH_IMAGE061
,0.4
Figure 2981DEST_PATH_IMAGE062
,0),天线5(2
Figure 498684DEST_PATH_IMAGE063
,0,0),天线6(0,2
Figure 293465DEST_PATH_IMAGE064
,0);未通过本发明方法修正的阵元间相位差具有如下特点:
(1)实线代表天线阵子n与阵子1之间的实测数据,点线代表不同测试天线点位对应的理论波程相位差;
(2)阵子2~阵子n与阵子1之间的相位差各不相同,且与理论波程差在不同方位来向上不一致,在无标定情况下,各阵子之间无法进行相位合成,进而直接影响阵列天线的各类应用。
参见图4,以相同6阵元为例,经过本专利方法天线2~天线6与天线1之间的相差特点如下:
(1)实线代表天线阵子n与阵子1之间的实测数据,点线代表不同测试天线点位对应的理论波程相位差;
(2)经本发明方法标定后,阵元间相位差与理论波程差一致且误差较小;
(3)经本发明方法标定后,阵子2~阵子n与阵子1之间的相位差保持一致,不影响阵列天线的各类应用。
以上所述实施例仅表达了本申请的具体实施方式,其描述较为具体和详细,但并不能因此而理解为对本申请保护范围的限制。应当指出的是,对于本领域的普通技术人员来说,在不脱离本申请技术方案构思的前提下,还可以做出若干变形和改进,这些都属于本申请的保护范围。

Claims (5)

1.一种阵列天线外场差分相差标定方法,其特征在于,包括以下步骤:
步骤1:选取一处周围无建筑遮挡且平整的空旷场地,以场地中心作为待测阵列天线放置点,以待测阵列天线本体坐标原点为圆心,围绕待测阵列天线本体坐标原点确定一个正圆,通过GNSS测向设备测定M个水平距离为R的测试天线点位,其中测试天线点位1位于待测阵列天线的正北方向;
步骤2:将待测阵列天线部署到场地中心,将待测阵列天线的X轴对准位于正北方向的测试天线点位,Z轴正对天顶,X-Y平面与地面保持平行;
步骤3:基于确定的测试天线点位以及所部署的待测阵列天线,计算测试天线点位相对于待测阵列天线X-Y-Z坐标点位的方位与俯仰;
步骤4:依次将测试天线放置于所确定的M个测试天线点位,通过待测阵列天线接收机完成每个阵列天线的阵元n到阵元1通道的载波相位差测量,并记录载波相位差;
步骤5:根据步骤3得到的方位与俯仰以及步骤4得到的载波相位差,解算阵元n到阵元1之间的天线及信道相位差。
2.根据权利要求1所述的一种阵列天线外场差分相差标定方法,其特征在于,所述阵元n到阵元1之间的天线及信道相位差的解算步骤如下:
A.基于步骤4得到M个测试天线点位的载波相位差,形成测试数据矩阵
Figure 881849DEST_PATH_IMAGE001
B.基于步骤3得到M个测试天线点位与待测阵列天线的方位与俯仰,并形成方位与俯仰数据矩阵
Figure 823260DEST_PATH_IMAGE002
C.获取待测阵列天线各阵元在坐标系X-Y-Z中的安装位置
Figure 592502DEST_PATH_IMAGE003
,以阵元1为阵列天线基准点,则阵元n与阵元1的空间位置矢量为
Figure 252153DEST_PATH_IMAGE004
;根据数据矩阵B得到测试天线点位N的测试天线与待测阵列天线方位与俯仰角
Figure 945303DEST_PATH_IMAGE005
;再基于如下公式得到阵元n与阵元1的波程相位差:
Figure 193751DEST_PATH_IMAGE006
D.构建理论波程相位差矩阵
Figure 212522DEST_PATH_IMAGE007
,当阵元n与阵元1距离大于
Figure 93890DEST_PATH_IMAGE008
时,
Figure 574419DEST_PATH_IMAGE009
可大于
Figure 224843DEST_PATH_IMAGE010
,其中
Figure 352199DEST_PATH_IMAGE011
为电磁波波长,通过公式
Figure 970131DEST_PATH_IMAGE012
解算
Figure 5084DEST_PATH_IMAGE013
的模糊度
Figure 510014DEST_PATH_IMAGE014
,得到修正测试矩阵
Figure 605009DEST_PATH_IMAGE015
E.将修正测试矩阵
Figure 704378DEST_PATH_IMAGE016
与理论波程相位差矩阵
Figure 277442DEST_PATH_IMAGE017
做差得到矩阵
Figure 902458DEST_PATH_IMAGE018
,对矩阵
Figure 168354DEST_PATH_IMAGE019
中的n列数据求均值,得到阵元n到阵元1之间的不同方向的平均相位差
Figure 495299DEST_PATH_IMAGE020
F.将平均相位差
Figure 137633DEST_PATH_IMAGE021
作为每个阵元及通道的修正参数录入接收机修正参数中,实现阵列天线中阵元n到阵元1之间的相位差标定与修正。
3.根据权利要求1所述的一种阵列天线外场差分相差标定方法,其特征在于,所述待测阵列天线X轴负方向位于正北方向。
4.根据权利要求1所述的一种阵列天线外场差分相差标定方法,其特征在于,所述测试天线点位N俯仰角
Figure 882735DEST_PATH_IMAGE022
的计算方式如下:
Figure 319533DEST_PATH_IMAGE023
= atan((R2-R1)/R);
式中:
Figure 133774DEST_PATH_IMAGE024
表示第N个测试天线点位的俯仰角;R1表示待测阵列天线安装高度;R2表示测试天线支架高度;R表示测试天线支架与待测阵列天线支架的水平距离。
5.根据权利要求1所述的一种阵列天线外场差分相差标定方法,其特征在于,所述测试天线点位N的方位差
Figure 48640DEST_PATH_IMAGE025
的计算方式如下:
Figure 648249DEST_PATH_IMAGE026
=
Figure 255948DEST_PATH_IMAGE027
式中:
Figure 557485DEST_PATH_IMAGE028
表示第N个测试天线点位的方位差;N表示第N个测试天线点位;M表示第M个测试天线点位。
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