CN115483993A - 检测输入信号对输出信号影响的方法、装置、设备和介质 - Google Patents

检测输入信号对输出信号影响的方法、装置、设备和介质 Download PDF

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Abstract

本公开提供一种检测输入信号对输出信号影响的方法,逐次调整待测系统的输入信号的特征参数,针对每一次调整,将调整后的输入信号输入至待测系统,检测并记录待测系统的输出信号的抖动参数,根据各次调整对应的输出信号的抖动参数,确定输入信号的特征参数的容限范围。本公开实施例基于输入信号的特性的变化,得到输出信号抖动的变化,由此确定输入信号的特征参数对待测系统输出信号的影响程度,从而指导待测系统设计;当待测系统发生故障时,还可以复现故障,以确定故障根因。本公开还提供一种检测装置、计算机设备和可读介质。

Description

检测输入信号对输出信号影响的方法、装置、设备和介质
技术领域
本公开涉及通信技术领域,具体涉及一种检测输入信号对输出信号影响的方法、装置、计算机设备和可读介质。
背景技术
如果把一个通信系统或者电路板比作一个黑盒子系统,则黑盒可以看作一个响应系统,对输入的各种因素做响应,并输出信号。例如,一个通信电路板对输入的电源、时钟和信号量做处理后,输出所需的输出信号,输出信号的质量取决于输入信号的好坏。而往往在输入信号比较多的情况下,当系统的输出信号劣化时,很难分析出是哪种输入信号的劣化造成的影响,对解决问题造成了很大障碍。在通信系统中,随着通信速率越来越高,容量越来越大,对输出信号的抖动指标要求越来越苛刻。输出信号劣化的抖动轻则影响误码率,重则导致无法和其他通信设备对接。
因此,亟需一种系统输出性能分析方案以解决上述问题。
发明内容
本公开提供一种检测输入信号对输出信号影响的方法、装置、计算机设备和可读介质。
第一方面,本公开实施例提供一种检测输入信号对输出信号影响的方法,包括:
逐次调整待测系统的输入信号的特征参数,针对每一次调整,将调整后的输入信号输入至待测系统,检测并记录所述待测系统的输出信号的抖动参数;
根据各次调整对应的所述输出信号的抖动参数,确定所述输入信号的特征参数的容限范围。
在一些实施例中,所述输入信号包括电源信号,所述电源信号的特征参数包括电源信号的噪声,所述调整待测系统的输入信号的特征参数包括:调整电源信号热噪声的幅值、电源信号开关噪声的频率、电源信号开关噪声的幅值中的至少一个。
在一些实施例中,调整电源信号开关噪声幅值包括:针对电源信号的不同频点,分别调整电源信号开关噪声的幅值。
在一些实施例中,所述输入信号包括时钟信号,所述时钟信号的特征参数包括时钟信号的抖动,所述调整待测系统的输入信号的特征参数包括:调整时钟信号随机抖动的幅值、时钟信号确定性抖动的频率、时钟信号确定性抖动的幅值中的至少一个。
在一些实施例中,逐次调整待测系统的输入信号的特征参数,包括:
在完成本次调整待测系统的输入信号的特征参数之后,根据所述输入信号的特征参数的历史样本数据和所述输出信号的抖动参数的历史样本数据,采用收敛算法确定用于进行下次调整的输入信号的特征参数。
在一些实施例中,所述收敛算法包括最大似然估计算法,所述根据所述输入信号的特征参数的历史样本数据和所述输出信号的抖动参数的历史样本数据,采用收敛算法确定用于进行下次调整的输入信号的特征参数,包括:
根据所述输入信号的特征参数的历史样本数据和所述输出信号的抖动参数的历史样本数据,拟合生成调整函数;
根据最大似然估计算法和所述调整函数确定用于进行下次调整的输入信号的特征参数。
在一些实施例中,所述调整待测系统的输入信号的特征参数,包括:按照预设的步长值调整待测系统的输入信号的特征参数。
在一些实施例中,所述逐次调整待测系统的输入信号的特征参数,包括:逐次增加待测系统的输入信号的特征参数值。
在一些实施例中,所述抖动参数包括相位噪声或抖动的峰值。
又一方面,本公开实施例还提供一种检测装置,包括调整模块、检测模块和处理模块,所述调整模块用于,调整待测系统的输入信号的特征参数,针对每一次调整,将调整后的输入信号输入至待测系统;
所述检测模块用于,检测并记录所述待测系统的输出信号的抖动参数;
所述处理模块用于,控制所述调整模块逐次调整待测系统的输入信号的特征参数,以及根据各次调整对应的所述输出信号的抖动参数,确定所述输入信号的特征参数的容限范围。
又一方面,本公开实施例还提供一种计算机设备,包括:
一个或多个处理器;
存储装置,其上存储有一个或多个程序;
当所述一个或多个程序被所述一个或多个处理器执行时,使得所述一个或多个处理器实现如前所述的检测输入信号对输出信号影响的方法。
又一方面,本公开实施例还提供一种计算机可读介质,其上存储有计算机程序,其中,所述程序被执行时实现如前所述的检测输入信号对输出信号影响的方法。
本公开实施例提供的检测输入信号对输出信号影响的方法,逐次调整待测系统的输入信号的特征参数,针对每一次调整,将调整后的输入信号输入至待测系统,检测并记录待测系统的输出信号的抖动参数,根据各次调整对应的输出信号的抖动参数,确定输入信号的特征参数的容限范围。本公开实施例基于输入信号的特性的变化,得到输出信号抖动的变化,由此确定输入信号的特征参数对待测系统输出信号的影响程度,从而指导待测系统设计;当待测系统发生故障时,还可以复现故障,以确定故障根因。
附图说明
图1为本公开实施例提供的系统架构示意图;
图2为本公开实施例提供的检测输入信号对输出信号影响的方法的流程示意图;
图3为本公开实施例提供的电源噪声及频谱特性示意图;
图4为本公开实施例提供的随机抖动的频谱示意图;
图5为本公开实施例提供的随机抖动与确定性抖动叠加后的频谱示意图;
图6为本公开实施例提供的利用最大似然估计算法确定用于进行下次调整的输入信号的特征参数的流程示意图;
图7为本公开实施例检测得到的相位噪声示意图;
图8为本公开实施例提供的检测装置的结构示意图。
具体实施方式
在下文中将参考附图更充分地描述示例实施例,但是所述示例实施例可以以不同形式来体现且不应当被解释为限于本文阐述的实施例。反之,提供这些实施例的目的在于使本公开透彻和完整,并将使本领域技术人员充分理解本公开的范围。
如本文所使用的,术语“和/或”包括一个或多个相关列举条目的任何和所有组合。
本文所使用的术语仅用于描述特定实施例,且不意欲限制本公开。如本文所使用的,单数形式“一个”和“该”也意欲包括复数形式,除非上下文另外清楚指出。还将理解的是,当本说明书中使用术语“包括”和/或“由……制成”时,指定存在所述特征、整体、步骤、操作、元件和/或组件,但不排除存在或添加一个或多个其他特征、整体、步骤、操作、元件、组件和/或其群组。
本文所述实施例可借助本公开的理想示意图而参考平面图和/或截面图进行描述。因此,可根据制造技术和/或容限来修改示例图示。因此,实施例不限于附图中所示的实施例,而是包括基于制造工艺而形成的配置的修改。因此,附图中例示的区具有示意性属性,并且图中所示区的形状例示了元件的区的具体形状,但并不旨在是限制性的。
除非另外限定,否则本文所用的所有术语(包括技术和科学术语)的含义与本领域普通技术人员通常理解的含义相同。还将理解,诸如那些在常用字典中限定的那些术语应当被解释为具有与其在相关技术以及本公开的背景下的含义一致的含义,且将不解释为具有理想化或过度形式上的含义,除非本文明确如此限定。
影响系统输出信号抖动的主要因素是系统电源的噪声和设备系统的时钟抖动性能,作为系统的输入信号,这些输入信号对系统输出性能的影响很难分析。本公开实施例提供一种检测输入信号对输出信号影响的方案,通过逐次、定量地修改各种输入信号的特征参数,检测输出信号的性能变化,来分析判断输入信号的特征参数对系统输出的影响程度,从而解决系统输出性能劣化的问题。
任何一个电路系统都会存在噪声,当噪声大到一定强度的时候,信号本身就会被淹没,电路系统中噪声的来源包括有:电源带来的噪声、地上的噪声、温度噪声、外部噪声、布板不当带来的噪声等等。电路系统对不同性质的噪声响应也不同,也就是说,不同性质的噪声源,对系统输出信号的影响程度不同。本公开实施例提供一种检测输入信号对输出信号影响的方法,通过改变输入信号中电源特性和/或时钟特性,测试输出信号性能的变化,分析输入信号特性改变对输出信号的影响程度,以指导系统设计,还可以复现故障,定位故障根因。
本公开实施例提供一种检测输入信号对输出信号影响的方法,所述方法应用于图1所示的系统中,所述系统包括检测装置1和待测系统2,检测装置1分别与待测系统2的输入端和输出端相连,用于向待测系统2提供输入信号,以及,检测待测系统2的输出信号。检测装置1的输入量是电源噪声和时钟抖动,检测装置1输出两类信号,一类是一路或多路电源信号,能够为待测系统2中单板的主要电源供电,每路电源的输出电压值可以调节,可以给待测系统2电路板上不同电压的电源供电,另一类是一路或多路时钟信号,这两类信号作为待测系统2的输入信号。检测装置1可以提供多路电源,检测装置1检测待测系统2输出信号的抖动变化,在输出信号劣化时,通过改变电源噪声和时钟抖动,分析造成输出信号劣化的具体原因。
结合图1和图2所示,本公开实施例提供的检测输入信号对输出信号影响的方法包括以下步骤:
步骤11,逐次调整待测系统的输入信号的特征参数,针对每一次调整,将调整后的输入信号输入至待测系统,检测并记录待测系统的输出信号的抖动参数。
在一些实施例中,输入信号可以为电源信号和/或时钟信号,通常,待测系统2有多路电源和多路时钟,因此,检测装置1可以向待测系统2发送多路电源信号和/或多路时钟信号。
在本步骤中,针对一种类型的输入信号调整其特征参数的值,检测待测系统2基于该调整后的输入信号生成的输出信号的抖动参数,并进行记录;然后再次调整该输入信号的特征参数的值,再次检测待测系统2基于本次调整后的输入信号生成的输出信号的抖动参数,并进行记录,以此类推,可以得到多个输出信号的抖动参数。
步骤12,根据各次调整对应的输出信号的抖动参数,确定输入信号的特征参数的容限范围。
确定输入信号的特征参数的容限范围的过程就是定位导致输出信号劣化的输入信号的特征参数的临界值的过程。特征参数的容限范围用于表示输出信号对输入信号的特征参数的容忍程度,特征参数的容限范围可以直观体现待测系统2的输入信号的灵敏度,容限范围越大,灵敏度越低。
在本步骤中,示例性的,可以将各次调整的输入信号的特征参数、输出信号的抖动参数汇总形成表格,以确定输入信号的特征参数的容限范围。也可以将各次调整的输入信号的特征参数输入检测设备(例如相噪仪或示波器等),观察检测设备的输出信号的抖动参数变化情况,进而分析待测系统2对输入信号的特征参数的容忍程度。
本公开实施例提供的检测输入信号对输出信号影响的方法,逐次调整待测系统的输入信号的特征参数,针对每一次调整,将调整后的输入信号输入至待测系统,检测并记录待测系统的输出信号的抖动参数,根据各次调整对应的输出信号的抖动参数,确定输入信号的特征参数的容限范围。本公开实施例基于输入信号的特性的变化,得到输出信号抖动的变化,由此确定输入信号的特征参数对待测系统输出信号的影响程度,从而指导待测系统设计;当待测系统发生故障时,还可以复现故障,以确定故障根因。
在一些实施例中,当输入信号为电源信号时,电源信号的特征参数可以为电源信号的噪声。电源信号的噪声主要包括热噪声和开关噪声,考量电源信号的噪声有两个维度,即噪声的幅值和频率。热噪声亦称白噪声,是由导体中电子的热震动引起的,频谱范围比较广。开关噪声特点是噪声频谱集中在一个或者几个频率上,其频率与DC-DC转换器开关频率有关,一般从几十千赫兹到几兆赫兹,这种固定频率的开关噪声对电路的抖动影响比较大。
所述调整待测系统的输入信号的特征参数(即步骤11)包括:调整电源信号热噪声的幅值、电源信号开关噪声的频率、电源信号开关噪声的幅值中的至少一个。针对电源信号的噪声调整,可以通过注入噪声实现,开关噪声的幅值和频率允许任意调整,可以输出一种或者多种频点的开关噪声。电源热噪声的频率基本不变,因此可以通过调整热噪声的幅值实现对电源热噪声的调整。
图3为3.3V电源噪声及频谱特性示意图,如图3所示,图3上半部分为3.3V电源噪声时域波形,图3下半部分为对时域波形做FFT(fast Fourier transform,快速傅立叶变换)运算分析得到的3.3V电源噪声的频谱图。在本公开实施例中,电源噪声的时域波形和频谱使用示波器测量和计算得到,当然也可以使用其他仪器进行测量,这里不一一举例。
从图3中的频谱可以看出,在电源噪声中存在固定频点的噪声。因此,为了提高检测准确性,在一些实施例中,调整电源信号开关噪声幅值包括:针对电源信号的不同频点,分别调整电源信号开关噪声的幅值。也就是说,针对电源信号的某一频点,调整开关噪声的幅值,再针对电源信号的其他频点,调整开关噪声的幅值。这样,可以确定输出信号对开关噪声的哪些频点敏感。
在一些实施例中,当输入信号为时钟信号时,时钟信号的特征参数可以为时钟信号的抖动,所述调整待测系统的输入信号的特征参数(即步骤11)包括:调整时钟信号随机抖动的幅值、时钟信号确定性抖动的频率、时钟信号确定性抖动的幅值中的至少一个。也就是说,针对每路时钟源输出的时钟信号,可以调整时钟频率和时钟幅值,输出多个频点的确定性抖动,也可以在时钟里可以叠加不同幅值的随机抖动和确定性抖动。具体的,可以将检测装置1输出的时钟信号连接到待测系统2中电路的输入时钟上,或者连接到待测系统2中芯片的输入时钟引脚上,从而施加不同程度的抖动。
时钟信号的抖动包括随机抖动(Random Jitter)和确定性抖动(DeterministicJitter)。随机抖动由热噪声等引起,如图4所示,随机抖动呈现高斯分布;确定性抖动由电源开关噪声、片上振荡器、数据总线等引起,确定性抖动呈周期分布。图5为随机抖动和确定性抖动叠加后的波形,如图5所示,图中出现两个尖峰,也就是说,存在两个确定性抖动的频点。
对于多信号输入的待测系统而言,每个输入信号的特性(即特征参数)好坏都对输出特性有一定影响,而检测每种输入信号的特征参数对输出的影响大小是一件耗时的工作,工作量取决于输入信号的多少,以及每个输入信号的特征参数的调整次数,随着输入信号的增加,测试工作可能呈现指数量级的增加。假设一种较简单的情况:有两个输入信号,每个输入信号调整5次,则需要调整10次,遍历所有调整才能得出两个输入信号对输出信号的影响。而如果有三个输入信号,测试次数增加到15次。而在实践中,输入信号的变化可能很多,测试次数将是海量。因此需要找到一种快速、高效,自动化的方法,以快速找到输入信号对输出信号影响的临界值。
在一些实施例中,逐次调整待测系统的输入信号的特征参数(即步骤11),包括以下步骤:在完成本次调整待测系统的输入信号的特征参数之后,根据输入信号的特征参数的历史样本数据和输出信号的抖动参数的历史样本数据,采用收敛算法确定用于进行下次调整的输入信号的特征参数。
本公开实施例通过学习之前已调试过的待测系统的记录,采用概率统计的方式,研究调整每种输入信号的特征参数对输出信号的影响程度,利用快速收敛算法,找到统计学规律,把这些规律应用到待测系统中,这样可以跳过一些本来需要遍历的特征参数,快速得到输出信号劣化对应的输入信号的特征参数临界值(即输出信号最终劣化到无法满足系统正常工作的工作值)。
在一些实施例中,所述收敛算法包括最大似然估计算法。相应的,如图6所示,所述根据输入信号的特征参数的历史样本数据和输出信号的抖动参数的历史样本数据,采用收敛算法确定用于进行下次调整的输入信号的特征参数,包括以下步骤:
步骤21,根据输入信号的特征参数的历史样本数据和输出信号的抖动参数的历史样本数据,拟合生成调整函数。
步骤22,根据最大似然估计算法和调整函数确定用于进行下次调整的输入信号的特征参数。
采用最大似然估计算法可以实现快速收敛,最大似然估计算法是一种统计学方法,不同类型的单板有各自的统计规律,本公开实施例将之前已测试过的单板已有的测试结果作为样本,根据该单板的统计规律生成调整函数,基于该调整函数,按照最大似然估计算法能够快速确定出输入信号的特征参数的临界值,从而快速确定出输入信号的特征参数的容限范围,大幅减少测试工作量,缩短测试时间。
在本公开实施例中,分别、分步进调整每路输入电源信号或者时钟信号,并检测输出信号的抖动参数。电源信号的噪声调整有两个维度:噪声的幅值和频率,时钟信号的抖动调整也有两个维度:随机抖动和确定性抖动。针对每一个调整维度,依次调整每个调整量的每个维度,逐渐增大各特征参数的值,但是这样的检测过程耗时长。
为了实现自动化测试,缩短检测耗时,在一些实施例中,所述调整待测系统的输入信号的特征参数(即步骤11),包括:按照预设的步长值调整待测系统的输入信号的特征参数。通过编写脚本,设置电源和时钟的特征参数的调整步长值,按照该步长值依次调整各特征参数值的大小,每调整一次,通过读取用于检测输出信号的测试仪表,记录抖动参数,从而实现对电源的特征参数和时钟的特征参数的自动调整,以及实现自动记录输入信号的特征参数和输出信号的变化数据。该测试过程无需人为参与,可以昼夜工作,在一定程度上提高测试效率,缩短测试时间。需要说明的是,这种按照预设步长值调整输入信号的特征参数的方案,相对于人工测试的方案而言,提高了测试效率,但是由于需要按照步长值逐个调整,因此,测试时间仍然较长。如果需要进一步缩短测试时间,那么就需要采用按照最大似然估计算法调整输入信号的特征参数的方案。
在一些实施例中,所述逐次调整待测系统的输入信号的特征参数,包括:逐次增加待测系统的输入信号的特征参数值。也就是说,为了快速确定输入信号的特征参数的容限范围,按照由小到大的顺序调整输入信号的特征参数的值。
在一些实施例中,所述抖动参数可以包括相位噪声或抖动的峰值。在本公开实施例中,以抖动参数为相位噪声为例进行说明,相位噪声反映了输出信号的抖动大小、抖动频率分量等信息,这些都与输入电源的噪声和时钟信号抖动有密切关联。如图7所示,利用相噪仪检测输出信号得到相位噪声曲线,在100kHz时出现较高的相位噪声,可以针对该相位噪声逐次调整电源和时钟的特征参数,以便确定电源和时钟的特征参数的容限范围。
需要说明的是,本公开实施例也可以用于复现系统故障,例如当电路系统的输出信号出现问题时,可以通过劣化某个输入信号,检测待测系统对哪个输入信号的特征参数的响应比较大,就可以定位故障根因。具体的,逐次劣化某个输入信号的特征参数的值,并分别记录输出信号的抖动参数,通过分析抖动参数的变化,确定对输出信号影响最大的输入信号的特征参数的值(或者数值范围),该输入信号的特征参数就是故障根因。
本公开提供的检测输入信号对输出信号影响的方法,用于检测电路系统输入时钟和/或电源特性改变对输出的影响,通过对电路系统的输入电源增加常见的噪声和/或对输入时钟增加常见的抖动,分析输出信号受影响的程度,从而确定通信设备的电源噪声和时钟抖动如何影响电子电路板。当电路板发生故障时,本公开还可以通过模拟电源和时钟的劣化程度,复现故障现象,用于深入研究故障的根源。本公开的检测输入信号对输出信号影响的方法通用性高,具有定量分析以及自动定界参数临界值等优点,用于解决通信芯片和通信系统中电源噪声和时钟抖动的传导问题。本公开能够对芯片时钟系统进行抗干扰能力分析,用于指导电路板设计,提高系统的稳定性。
基于相同的技术构思,本公开实施例还提供一种检测装置,如图8所示,所述检测装置包括调整模块101、检测模块102和处理模块103,调整模块101用于,调整待测系统的输入信号的特征参数,针对每一次调整,将调整后的输入信号输入至待测系统。
检测模块102用于,检测并记录所述待测系统的输出信号的抖动参数。
处理模块103用于,控制所述调整模块逐次调整待测系统的输入信号的特征参数,以及根据各次调整对应的所述输出信号的抖动参数,确定所述输入信号的特征参数的容限范围。
在一些实施例中,所述输入信号包括电源信号,所述电源信号的特征参数包括电源信号的噪声。调整模块101用于,调整电源信号热噪声的幅值、电源信号开关噪声的频率、电源信号开关噪声的幅值中的至少一个。
在一些实施例中,调整模块用于,针对电源信号的不同频点,分别调整电源信号开关噪声的幅值。
在一些实施例中,所述输入信号包括时钟信号,所述时钟信号的特征参数包括时钟信号的抖动。调整模块101用于,调整时钟信号随机抖动的幅值、时钟信号确定性抖动的频率、时钟信号确定性抖动的幅值中的至少一个。
在一些实施例中,处理模块103用于,在完成本次调整待测系统的输入信号的特征参数之后,根据所述输入信号的特征参数的历史样本数据和所述输出信号的抖动参数的历史样本数据,采用收敛算法确定用于进行下次调整的输入信号的特征参数。
在一些实施例中,所述收敛算法包括最大似然估计算法。处理模块103用于,根据所述输入信号的特征参数的历史样本数据和所述输出信号的抖动参数的历史样本数据,拟合生成调整函数;根据最大似然估计算法和所述调整函数确定用于进行下次调整的输入信号的特征参数。
在一些实施例中,调整模块101用于,按照预设的步长值调整待测系统的输入信号的特征参数。
在一些实施例中,处理模块103用于,逐次增加待测系统的输入信号的特征参数值。
在一些实施例中,所述抖动参数包括相位噪声或抖动的峰值。
本公开实施例还提供了一种计算机设备,该计算机设备包括:一个或多个处理器以及存储装置;其中,存储装置上存储有一个或多个程序,当上述一个或多个程序被上述一个或多个处理器执行时,使得上述一个或多个处理器实现如前述的检测输入信号对输出信号影响的方法。
本公开实施例还提供了一种计算机可读介质,其上存储有计算机程序,其中,该计算机程序被执行时实现如前述各实施例所提供的检测输入信号对输出信号影响的方法。
本领域普通技术人员可以理解,上文中所公开方法中的全部或某些步骤、装置中的功能模块/单元可以被实施为软件、固件、硬件及其适当的组合。在硬件实施方式中,在以上描述中提及的功能模块/单元之间的划分不一定对应于物理组件的划分;例如,一个物理组件可以具有多个功能,或者一个功能或步骤可以由若干物理组件合作执行。某些物理组件或所有物理组件可以被实施为由处理器,如中央处理器、数字信号处理器或微处理器执行的软件,或者被实施为硬件,或者被实施为集成电路,如专用集成电路。这样的软件可以分布在计算机可读介质上,计算机可读介质可以包括计算机存储介质(或非暂时性介质)和通信介质(或暂时性介质)。如本领域普通技术人员公知的,术语计算机存储介质包括在用于存储信息(诸如计算机可读指令、数据结构、程序模块或其他数据)的任何方法或技术中实施的易失性和非易失性、可移除和不可移除介质。计算机存储介质包括但不限于RAM、ROM、EEPROM、闪存或其他存储器技术、CD-ROM、数字多功能盘(DVD)或其他光盘存储、磁盒、磁带、磁盘存储或其他磁存储装置、或者可以用于存储期望的信息并且可以被计算机访问的任何其他的介质。此外,本领域普通技术人员公知的是,通信介质通常包含计算机可读指令、数据结构、程序模块或者诸如载波或其他传输机制之类的调制数据信号中的其他数据,并且可包括任何信息递送介质。
本文已经公开了示例实施例,并且虽然采用了具体术语,但它们仅用于并仅应当被解释为一般说明性含义,并且不用于限制的目的。在一些实例中,对本领域技术人员显而易见的是,除非另外明确指出,否则可单独使用与特定实施例相结合描述的特征、特性和/或元素,或可与其他实施例相结合描述的特征、特性和/或元件组合使用。因此,本领域技术人员将理解,在不脱离由所附的权利要求阐明的本发明的范围的情况下,可进行各种形式和细节上的改变。

Claims (12)

1.一种检测输入信号对输出信号影响的方法,其特征在于,所述方法包括:
逐次调整待测系统的输入信号的特征参数,针对每一次调整,将调整后的输入信号输入至待测系统,检测并记录所述待测系统的输出信号的抖动参数;
根据各次调整对应的所述输出信号的抖动参数,确定所述输入信号的特征参数的容限范围。
2.如权利要求1所述的方法,其特征在于,所述输入信号包括电源信号,所述电源信号的特征参数包括电源信号的噪声,所述调整待测系统的输入信号的特征参数包括:调整电源信号热噪声的幅值、电源信号开关噪声的频率、电源信号开关噪声的幅值中的至少一个。
3.如权利要求2所述的方法,其特征在于,调整电源信号开关噪声幅值包括:针对电源信号的不同频点,分别调整电源信号开关噪声的幅值。
4.如权利要求1或2所述的方法,其特征在于,所述输入信号包括时钟信号,所述时钟信号的特征参数包括时钟信号的抖动,所述调整待测系统的输入信号的特征参数包括:调整时钟信号随机抖动的幅值、时钟信号确定性抖动的频率、时钟信号确定性抖动的幅值中的至少一个。
5.如权利要求1所述的方法,其特征在于,逐次调整待测系统的输入信号的特征参数,包括:
在完成本次调整待测系统的输入信号的特征参数之后,根据所述输入信号的特征参数的历史样本数据和所述输出信号的抖动参数的历史样本数据,采用收敛算法确定用于进行下次调整的输入信号的特征参数。
6.如权利要求5所述的方法,其特征在于,所述收敛算法包括最大似然估计算法,所述根据所述输入信号的特征参数的历史样本数据和所述输出信号的抖动参数的历史样本数据,采用收敛算法确定用于进行下次调整的输入信号的特征参数,包括:
根据所述输入信号的特征参数的历史样本数据和所述输出信号的抖动参数的历史样本数据,拟合生成调整函数;
根据最大似然估计算法和所述调整函数确定用于进行下次调整的输入信号的特征参数。
7.如权利要求1所述的方法,其特征在于,所述调整待测系统的输入信号的特征参数,包括:按照预设的步长值调整待测系统的输入信号的特征参数。
8.如权利要求1所述的方法,其特征在于,所述逐次调整待测系统的输入信号的特征参数,包括:逐次增加待测系统的输入信号的特征参数值。
9.如权利要求1-3、5-8任一项所述的方法,其特征在于,所述抖动参数包括相位噪声或抖动的峰值。
10.一种检测装置,其特征在于,包括调整模块、检测模块和处理模块,所述调整模块用于,调整待测系统的输入信号的特征参数,针对每一次调整,将调整后的输入信号输入至待测系统;
所述检测模块用于,检测并记录所述待测系统的输出信号的抖动参数;
所述处理模块用于,控制所述调整模块逐次调整待测系统的输入信号的特征参数,以及根据各次调整对应的所述输出信号的抖动参数,确定所述输入信号的特征参数的容限范围。
11.一种计算机设备,包括:
一个或多个处理器;
存储装置,其上存储有一个或多个程序;
当所述一个或多个程序被所述一个或多个处理器执行时,使得所述一个或多个处理器实现如权利要求1-9任一项所述的检测输入信号对输出信号影响的方法。
12.一种计算机可读介质,其上存储有计算机程序,其中,所述程序被执行时实现如权利要求1-9任一项所述的检测输入信号对输出信号影响的方法。
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WO2003073280A1 (en) * 2002-02-26 2003-09-04 Advantest Corporation Measuring apparatus and measuring method
JP4216198B2 (ja) * 2002-02-26 2009-01-28 株式会社アドバンテスト 測定装置、及び測定方法
SE529454C2 (sv) * 2005-12-30 2007-08-14 Abb Ab Förfarande och anordning för trimning och styrning
US8903747B2 (en) * 2009-06-18 2014-12-02 Microsoft Corporation Isolating changes in dynamic systems
CN109143043B (zh) * 2018-09-30 2021-04-16 深圳市盈科互动科技有限公司 控制器io输入防抖检测方法、系统、装置及存储介质

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