CN115428010A - 用于评估扫描仪的扫描质量的系统及其方法 - Google Patents

用于评估扫描仪的扫描质量的系统及其方法 Download PDF

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Abstract

提供了一种用于评估扫描仪对测试件的扫描质量的系统。该系统包括处理器以及存储器，存储器与处理器能够进行通信以用于存储由该处理器执行的指令，使得处理器被配置成：从扫描仪接收测试件的扫描图像；显示扫描图像；基于扫描图像生成第一评分值；显示评估输入界面，该评估输入界面被配置成接收基于对扫描图像的评估的用户评估输入；以及基于用户评估输入生成第二评分值，使得第一评分值和第二评分值用于评估扫描仪的扫描质量。此外，提供了一种用于评估扫描仪的扫描质量的方法。

Description

用于评估扫描仪的扫描质量的系统及其方法
相关申请的交叉引用
本申请要求于2019年12月27日提交的新加坡专利申请第10201913527R号以及2020年8月20日提交的新加坡专利申请第10202008028P号的权益；其全部内容通过引用并入本文。
技术领域
本发明涉及一种用于评估扫描仪的扫描质量的系统及其方法。
背景技术
扫描仪在许多国家的海关被广泛用于识别通过海关的物品。举例来说，使用CT扫描仪及X射线扫描仪对货物及行李进行扫描，以对进入国家或离开国家并进入运输工具(例如，飞机、船舶)的非法物品或危险物品进行检测。如今，随着物流及人流的不断增加，扫描仪能够更快且更准确地扫描物品变得至关重要。因此，定期维护及测试扫描仪以确保其性能达到最佳水平并高于要求标准是重要的。
存在能够对扫描仪进行测试的一些可用系统。此种系统通常包括正在通过扫描仪的测试件，使得可以捕获并随后评估测试件的扫描图像。然而，此种测试件体积大且笨重，因此难以操作。此外，对于多视图X射线扫描仪，在每次必须对视图进行测试时，必须对测试件进行调整以面对扫描仪的每一视图并通过扫描仪。因此，对多视图扫描仪进行测试所需的时间会相当长。对于全天高流量的海关，扫描仪的任何长时间停机都会降低海关的效率。另外，由于测试件可能无法提供对准确评估扫描仪有用的扫描图像，因此测试件可能无法正确测试扫描仪。
当测试件被扫描时，扫描图像通常由检验官员或测试者进行视觉查验及评估。因此，测试结果可能非常不一致，这是由于一个检验官员的意见可能与另一检验官员的意见不同。当对数个扫描仪进行测试时，不一致的测试结果会导致扫描仪的校准及性能不准确。尽管存在自动评估扫描图像以评估测试结果的系统，然而由于系统限制(例如，不良的评估程序、测试件)，系统的评估可能不准确。因此，目前可用的系统不能高效及准确地对扫描仪进行测试。
因此，能够具有一种克服上述问题的系统是重要的。
发明内容
根据各种实施例，提供了一种用于评估扫描仪对测试件的扫描质量的系统。所述系统包括处理器以及存储器，所述存储器与所述处理器能够进行通信以用于存储由所述处理器执行的指令，使得所述处理器被配置成：从所述扫描仪接收所述测试件的扫描图像；显示所述扫描图像；基于所述扫描图像生成第一评分值；显示评估输入界面，所述评估输入界面被配置成接收基于对所述扫描图像的评估的用户评估输入；以及基于所述用户评估输入生成第二评分值，使得所述第一评分值和所述第二评分值用于评估所述扫描仪的所述扫描质量。
根据各种实施例，所述处理器可被配置成确定所述扫描图像中的至少一个感兴趣区(ROI)并且对所述至少一个ROI进行分析以生成所述第一评分值。
根据各种实施例，所述处理器可被配置成检索包括至少一个预定ROI的模板，将所述模板映射到所述扫描图像上以确定所述扫描图像中的所述至少一个ROI。
根据各种实施例，所述处理器可被配置成从所述扫描图像的所述至少一个ROI提取图像数据并且通过所提取的所述图像数据生成统计数据，以对所述至少一个ROI的所述图像数据进行分析。
根据各种实施例，所述至少一个ROI可基于所述测试件确定。
根据各种实施例，所述模板可基于所述测试件确定。
根据各种实施例，可针对CT图像质量分析对所述测试件进行优化。
根据各种实施例，所述扫描仪可包括介于100mm×100mm至2000mm×2000mm的范围内的视场。
根据各种实施例，所述扫描图像可包括介于0.5mm至10.0mm的重建体素范围内的图像分辨率。
根据各种实施例，所述扫描仪可包括扫描速度介于0.01m/s至10.00m/s的范围内的螺旋扫描系统。
根据各种实施例，可针对透射X射线图像质量分析对所述测试件进行优化。
根据各种实施例，所述扫描仪可包括介于300mm×300mm至4500mm×6000mm的范围内的视场。
根据各种实施例，所述扫描图像可包括介于0.3mm至10mm的空间分辨率范围内的图像分辨率。
根据各种实施例，所述扫描仪可包括扫描速度介于0.01m/s至100km/h的范围内的线性X射线系统。
根据各种实施例，可针对后向散射X射线图像质量分析对所述测试件进行优化。
根据各种实施例，所述扫描仪可包括介于300mm×300mm至5000mm×12000mm的空间分辨率范围内的视场。
根据各种实施例，所述扫描仪可包括扫描速度介于0.01m/s至20km/h的范围内的线性后向散射扫描系统。
根据各种实施例，所述扫描图像可包括介于0.5mm至20mm的范围内的图像分辨率。
根据各种实施例，所述扫描仪可为X射线扫描仪。
根据各种实施例，提供了一种用于评估扫描仪对测试件的扫描质量的计算机实施的方法。所述方法包括：从所述扫描仪接收所述测试件的扫描图像；显示所述扫描图像；针对所述扫描图像生成第一评分值；显示评估输入界面，所述评估输入界面被配置成接收基于对所述扫描图像的评估的用户评估输入；以及基于所述用户评估输入生成第二评分值，使得所述第一评分值和所述第二评分值用于评估所述扫描仪的所述扫描质量。
根据各种实施例，所述方法还可包括确定所述扫描图像中的至少一个感兴趣区(ROI)并且对所述至少一个ROI进行分析以生成所述第一评分值。
根据各种实施例，所述方法还可包括检索包括至少一个预定ROI的模板，将所述模板映射到所述扫描图像上以确定所述扫描图像中的所述至少一个ROI。
根据各种实施例，所述方法还可包括从所述扫描图像的所述至少一个ROI提取图像数据并且通过所提取的图像数据生成统计数据，以对所述至少一个ROI的图像数据进行分析。
根据各种实施例，提供了一种非暂时性计算机可读存储介质。所述非暂时性计算机可读存储介质包括指令，所述指令在由系统中的处理器执行时致使所述系统：从扫描仪接收测试件的扫描图像；显示所述扫描图像；基于所述扫描图像生成第一评分值；显示评分输入界面，所述评分输入界面被配置成接收用户输入；以及经由所述评分输入界面接收第二评分值，所述第一评分值和所述第二评分值用于评估所述扫描仪的扫描质量。
根据各种实施例，提供了一种测试系统，所述测试系统包括上述系统以及用于评估扫描仪的扫描质量的测试件。
根据各种实施例，所述测试件可包括沿着纵向轴线彼此间隔开的多个测试面板，所述多个测试面板中的每一者垂直于所述纵向轴线。
根据各种实施例，所述测试件可包括基底面板、可旋转面板，所述基底面板包括第一多个测试元件和纵向轴线，所述可旋转面板包括第二多个测试元件并且沿着所述纵向轴线以枢转方式连接到所述基底面板，所述可旋转面板能够绕所述纵向轴线旋转。
附图说明
图1示出用于评估扫描仪对测试件的扫描质量的系统的示例性实施例。
图2示出用于评估扫描仪对测试件的扫描质量的计算机实现的方法的流程图。
图3示出用于对扫描仪的扫描质量进行测试的测试件的示例性实施例的透视图。
图3A示出图3中的测试件的正视图。
图3B示出图3中的测试件的俯视图。
图4示出多个测试面板中的第一测试面板的示例性实施例的透视图。
图4A示出用于测试件的用户评估界面的示例性实施例。
图5示出多个测试面板中的第二测试面板的示例性实施例的透视图。
图5A示出图5中的第二测试面板的俯视示意图。
图5B示出用于测试件的用户评估界面的示例性实施例。
图6示出多个测试面板中的第三测试面板的示例性实施例的透视图。
图6A示出图6中的第三测试面板的俯视图。
图6B示出图6中的第三测试面板的正视图。
图6C示出第三测试面板的区段的俯视示意图。
图6D示出用于计算第三测试面板的第一评分值及第二评分值的矩阵的示例性示例。
图6E示出用于测试件的用户评估界面的示例性实施例。
图7示出多个测试面板中的第四测试面板的示例性实施例的透视图。
图7A示出图7中的第四测试面板的俯视图。
图7B示出图7中的多个孔的区段以及ROI的示意图。
图7C示出用于测试件的用户评估界面的示例性实施例。
图8示出多个测试面板中的第五测试面板的示例性实施例的透视图。
图8A示出多个细长元件的俯视图。
图8B示出用于测试件的用户评估界面的示例性实施例。
图9示出多个测试面板中的第六测试面板的示例性实施例的透视图。
图9A示出图9中的第六测试面板的俯视图。
图9B示出用于测试件的用户评估界面的示例性实施例。
图10示出多个测试面板中的第七测试面板的示例性实施例的透视图。
图10A及图10B示出图10中的基底的上部基底面板及下部基底面板的俯视图。
图10C示出用于测试件的用户评估界面的示例性实施例。
图10D示出总评分汇总表的示例性实施例。
图11A示出测试件的示例性实施例的俯视图。
图11B示出处于旋转位置的测试件的正视图。
图11C示出侧试件处于闭合位置时的正视图。
图11D示出处于打开位置的图11A中的测试件的正视图。
图11E示出在双视图扫描仪中使用的测试件的正视图。
图12示出基底面板和/或可旋转面板的基板的示例性实施例的透视图。
图13A示出多个测试元件中的第一测试元件的示例性实施例的俯视示意图。
图13B示出图13A中的第一测试件的剖视示意图。
图13C示出用于测试件的用户评估界面的示例性实施例。
图14A示出多个测试元件中的第二测试元件的示例性实施例的俯视示意图。
图14B示出用于测试件的用户评估界面的示例性实施例。
图15示出多个测试元件中的第三测试元件的示例性实施例的俯视图。
图15A示出用于测试件的用户评估界面的示例性实施例。
图16示出多个测试元件中的第四测试元件的示例性实施例的俯视图。
图16A示出用于测试件的用户评估界面的示例性实施例。
图17示出多个测试元件中的第五测试元件的示例性实施例的透视图。
图17A示出图17中的多个层的正视图。
图17B示出用于测试件的用户评估界面的示例性实施例。
图17C示出用于计算第五测试元件的第一评分值及第二评分值的矩阵。
图18示出多个测试元件中的第六测试元件的示例性实施例的透视图。
图18A示出图18中的基底面板的俯视示意图。
图18C示出用于测试件的用户评估界面的示例性实施例。
图18D示出用于计算第五测试元件的第一评分值及第二评分值的矩阵。
图19示出总评分汇总表的示例性实施例。
具体实施方式
在以下的实例中，将参照附图，其中相同的特征用相同的附图标记表示。
图1示出用于评估扫描仪10对测试件的扫描质量的系统100的示例性实施例。系统100可被配置成与扫描仪10进行通信。系统100可包括处理器100P及与处理器100P进行通信的存储器100M，以用于存储可由处理器100P执行的指令。处理器100P被配置成：从扫描仪10接收测试件的扫描图像；显示扫描图像；基于扫描图像生成第一评分值；显示评估输入界面，所述评估输入界面被配置成接收基于对扫描图像的评估的用户评估输入；以及基于用户评估输入生成第二评分值，使得第一评分值和第二评分值用于评估扫描仪10的扫描质量。处理器100P可被配置成基于第一评分值及第二评分值来确定扫描仪的扫描质量。系统100可用于评估不同类型扫描仪(例如，CT扫描仪、包括线性X射线扫描仪的X射线扫描仪、反向散射X射线扫描仪等)的扫描质量。
系统100可包括多媒体模块100U、音频模块100A、输入/输出(I/O)界面100N及通信模块100C中的至少一者，多媒体模块100U被配置成显示扫描图像以及评分输入界面并且接收用户输入，音频模块100A被配置成输入/输出音频信号，输入/输出(I/O)界面100N被配置成在处理器100P与外围界面模块(例如，键盘)之间提供界面，通信模块100C被配置成促进系统100与其他装置或服务器之间的通信。系统100可包括被配置成存储数据的存储模块(例如，数据库、云服务器)。
系统100能够对扫描图像进行客观评估及主观评估。基于扫描图像，系统100能够基于扫描图像的质量自动针对测试的至少一个方面(例如，空间分辨率)生成第一评分值。同时，扫描图像被显示在多媒体模块100U上以供用户观看，并且基于用户对扫描图像质量的评估，用户通过经由多媒体模块100U或I/O界面将输入数据输入到系统中来将用户评估输入数据输入到评估输入界面中。系统100可通过用户评估输入数据生成第二评分值。系统100可获得由系统100生成的客观的第一评分值及由用户生成的主观的第二评分值。第一评分值和第二评分值二者可用于评估扫描仪10的扫描质量。系统100可从存储模块检索预定的第一阈值评分值及预定的第二阈值评分值并且分别将第一阈值评分值及第二阈值评分值与第一评分值及第二评分值进行比较。如果第一评分值低于第一阈值评分值或者第二评分值低于第二阈值评分值，则系统100可生成故障信号并经由用户装置(例如，平板电脑、膝上型电脑或多媒体模块100U)将故障信号发送给用户。系统100可经由音频模块100A产生警报。系统100可对第一评分值及第二评分值二者进行计算并且生成总评分值。系统100可检索预定的总阈值评分值并且将总阈值评分值与总评分值进行比较。如果总评分值低于总阈值评分值，则系统100可生成故障信号并经由用户装置或多媒体模块100U将故障信号发送给用户。系统100可经由音频模块100A生成警报。系统100可在存储模块中存储预定的总阈值评分值、第一阈值评分值、第二阈值评分值。
图2示出用于评估扫描仪10对测试件的扫描质量的计算机实施的方法的流程图。所述方法包括：在方块202中从扫描仪10接收测试件的扫描图像；在方块204中显示扫描图像；在方块206中生成扫描图像的第一评分值；在方块208中显示评估输入界面，所述评估输入界面被配置成接收基于对扫描图像的评估的用户评估输入；以及在方块210中基于用户评估输入生成第二评分值，使得第一评分值和第二评分值用于评估扫描仪10的扫描质量。
为了获得扫描图像的客观评分，系统100可被配置成执行以下方法。当处理器100P接收到测试件的扫描图像时，处理器100P可被配置成确定扫描图像中的至少一个感兴趣区(ROI)并且对所述至少一个ROI进行分析以生成第一评分值。基于测试件确定所述至少一个ROI。系统100可被配置成检索具有所述至少一个预定ROI的模板，以确定扫描图像中的所述至少一个ROI。系统100可被配置成在存储模块中存储具有所述至少一个预定ROI的多个模板。处理器100P可检索具有所述至少一个预定ROI的模板并且将所述模板映射到扫描图像上，以确定扫描图像中的所述至少一个ROI。处理器100P可被配置成对模板进行变换以将其映射到扫描图像。通过对模板进行变换，处理器100P可将模板旋转、平移和/或缩放到扫描图像。为了将模板映射到扫描图像，处理器100P可执行包括模式匹配、最小平方拟合最小化等技术。一旦执行了变换，处理器100P便可被配置成使用变换因子(例如，旋转因子、平移因子和/或缩放因子)来将模板中的所述至少一个ROI映射到扫描图像上，以确定扫描图像中的所述至少一个ROI。
一旦确定出扫描图像中的所述至少一个ROI，处理器100P便可被配置成从扫描图像的所述至少一个ROI提取图像数据并且通过所提取的图像数据生成统计数据，以对所述至少一个ROI的图像数据进行分析。处理器100P可被配置成计算参数(例如，一组统计特性)，所述参数包括扫描图像中的所述至少一个ROI中的每一者内包含的单个像素或体素值的平均值及标准偏差。根据这些参数，处理器100P可对用于表征扫描仪10的扫描质量的量(例如，对比度、均匀性、特征检测等)进行计算。举例来说，处理器100P可对所述至少一个ROI的统计特性之间的品质因数进行计算。处理器100P可基于所述至少一个ROI中的每一者的参数生成评分值。举例来说，处理器100P可返送扫描质量的二进制值(例如，真或假、是或否)，并且如果二进制值为真，则指派评分值。系统100可在存储模块中存储评分表。评分表可包括多个ROI及对应的评分值，所述至少一个ROI中的每一者的二进制值用于生成评分值。系统100可检索测试件的评分表，以检索多个ROI中的每一者的评分值。处理器100P可使用评分表为所述至少一个ROI中的每一者指派评分值。处理器100P可对所述至少一个ROI的评分值进行合计以生成第一评分值。
为了获得扫描图像的主观评分，系统100可被配置成执行以下方法。处理器100P可在多媒体模块(例如，显示器、触摸屏)上显示扫描图像以供用户查看。处理器100P可在多媒体模块上显示用户评估界面以供用户查看。系统100可将评估输入界面存储在存储模块中。评估输入界面可包括评分表。用户评估界面的实例可在图4A中示出。处理器100P可显示具有所述至少一个ROI的测试件的示意图，使得用户能够对所述至少一个ROI进行识别并且经由多媒体模块或I/O界面(例如，键盘)输入所述至少一个ROI中的每一者的二进制值。如果扫描图像的ROI中的特征是可见的，则用户可在用户评估界面中输入“是”。否则，用户可输入“否”。处理器100P可接收所述至少一个ROI中的至少一者的二进制值，并且基于评分表为所述至少一个ROI中的每一者指派评分值。可选地，用户可使用矩阵将评分值直接输入到用户评估界面中。处理器100P可接收评分值并对所述至少一个ROI的评分值进行合计以生成第二评分值。可对评分值进行加权，使得更难识别的经设计ROI可更高。将扫描图像的第一评分及第二评分存储在服务器中。将扫描图像的分析结果存储在服务器中。存储的数据以形成历史数据可被存储用于将来的分析。
扫描图像可被转换成具有预定图像坐标及数据类型的统一格式。以此种方式，例如来自各种类型的扫描仪10s的各种格式的扫描图像可被标准化为单一格式。
图1示出一种测试系统，所述测试系统可包括系统100及如下所述的测试件。
图3示出用于对扫描仪10的扫描质量进行测试的测试件300的示例性实施例的透视图。测试件300可适于CT扫描仪。可针对CT图像质量分析对测试件300进行优化。扫描仪10可具有介于100mm×100mm至2000mm×2000mm的范围内的视场。扫描仪10可具有扫描速度介于0.01m/s至10.00m/s的范围内的螺旋扫描系统100。扫描图像可具有介于0.5mm至10.0mm的重建体素的范围内的图像分辨率。测试件300可包括多个测试面板310。多个测试面板310可沿着纵向轴线300L彼此间隔开。所述多个测试面板310中的每一者可与纵向轴线300L形成一个角度。多个测试面板310可垂直于纵向轴线300L，使得所述多个测试面板310可彼此平行。纵向轴线300L可穿过所述多个测试面板310中的每一者。所述多个测试面板310中的每一者可包括中心轴线。纵向轴线300L可穿过所述多个测试面板310中的每一者的中心。所述多个测试面板310中的每一者的中心轴线可平行于纵向轴线300L。所述多个测试面板310中的每一者可具有圆形轮廓。当所述多个测试面板310沿着纵向轴线300L平行布排列时，所述多个测试面板310可形成管状轮廓。测试件300可包括适于容纳所述多个测试面板310的管状壳体。测试件300可为600mm长及300mm宽。
图3A示出图3中的测试件300的正视图。图3B示出图3中的测试件300的俯视图。如图3A及图3B中所示，所述多个测试面板310可彼此平行。所述多个测试面板310中的每一者可被设计成对扫描仪10的特定扫描质量进行测试。参照图3B，测试件300的本实施例可包括七个测试面板310。测试件300可包括任意组合的七个测试面板310中的至少一者，或者在必要时包括其他测试面板310。具有所述多个测试面板310的测试件300允许在单次扫描中进行多次测试。
图4示出所述多个测试面板310中的第一测试面板410的示例性实施例的透视图。第一测试面板410可适于对扫描仪10的对比度、有效核电荷(Zeffective)及密度分辨率进行测试。第一测试面板410可包括具有顶侧410BT及与顶侧410BT相对的底侧410BB的基底410B。基底410B可安装到基底面板410P。基底410B可包括从基底410B内延伸且延伸出基底410B的多个细长元件410E。多个细长元件410E可平行于第一测试面板410的中心轴线410。多个细长元件410E可具有相同或不同的长度。多个细长元件410E可由不同的材料制成，使得所述多个细长元件410E具有不同的密度。所述多个细长元件410E的材料可从有机范围内的密度范围中选择，使得可对扫描仪10在该范围内的扫描质量及敏感度进行测试。例如，所述材料可包括聚丙烯、聚酰胺12或聚丙烯10％玻璃、聚丙烯30％玻璃、聚醚醚酮(peek)、乙缩醛均聚物(例如迭尔林(DelrinTM))、氯化PVC、聚偏二氟乙烯、聚四氟乙烯(例如铁氟龙(TeflonTM))。基底410B可由丙烯酸(例如有机玻璃(PerspexTM))制成。基底410B可用作散射基底，用于散射由扫描仪10发射的电子波。多个细长元件410E可被划分成多组细长元件410E。参照图4，可存在两组细长元件。一组中的细长元件410E的宽度可不同于另一组中的细长元件410E的宽度。参照图4，第一组细长元件410E1可宽于第二组细长元件410E2。第一组细长元件410E1可被设置成同心配置从而形成围绕中心轴线410的环并且彼此等距隔开。第二组细长元件410E2可被配置成同心配置从而形成围绕中心轴线410的环并且彼此等距隔开。第二组细长元件410E2可设置在第一组细长元件410E1内。多个细长元件410E可为杆。基底410B可为圆形、方形或任何合适的形状。第一测试面板410使用户能够查看细长元件410E在空气中(即，从基底410B延伸)以及在散射材料内(即，在基底410B中)的可见性。
图4A示出用于测试件300的用户评估界面412的示例性实施例。用户评估界面412可为第一测试面板410的评分表。评分表可包括多个ROI(例如，步长1、步长2等)以及所述多个ROI中的每一者的评分值(例如，分数)。处理器100P可接收第一测试面板410的扫描图像并且评估扫描图像。对于客观评估，第一测试面板410的模板可由处理器100P检索并且将其映射到第一测试面板410的扫描图像上。可基于模板确定扫描图像的多个ROI。举例来说，如果第一组细长元件410E1中的细长元件直径为20mm，则可以确定ROI可为半径为16mm的圆，其包括细长元件。可提取完全包含在ROI内的体素或像素用于进行分析。举例来说，可对ROI内的像素的参数(例如，平均值及标准偏差)进行计算。可在基底410B内的扫描图像的中心处对同一区域的单独ROI进行计算。如果空气中两个步长的平均值之间的间隔大于一个标准偏差，则可认为步长是可区分的。如果步长与基底410B平均值之间的平均值大于一个标准偏差，则可认为步长在基底410B中是可区分的。处理器100P可基于评分表将对应的评分值指派给ROI。一旦完成评分表，系统100便可针对扫描仪10的每一性能特征(即，对比度、Zeffective及密度分辨率)生成第一评分值及第二评分值，以评估扫描仪10的扫描质量。
对于主观评估，系统100可经由多媒体模块100U提示用户对空气中及基底410B中的多个细长元件410E的不同材料之间的灰度级进行区分。举例来说，参照图4，如果用户能够在扫描图像中识别步长1(在基底410B上表示为1)与步长2(在基底410B上表示为2)之间的可辨别的对比度，则用户可经由多媒体模块100U和/或I/O界面100N在“主观、空气”下的“步长1”中输入“是”。因此，如果步长1与步长2不可区分，用户可输入“否”。在空气中及在基底410B中可对步长1至8采取相同的步骤。
图5示出所述多个测试面板310中的第二测试面板510的示例性实施例的透视图。第二测试面板510可适于对扫描仪10上的束硬化效应的程度进行测试。第二测试面板510可包括三角形板510T，三角形板510T具有基底部分510TB及与基底相对的顶点(图5中未示出)。基底部分510TB及顶点可沿着中心轴线510L。第二测试面板510可包括基板510P及与基板510P隔开的顶板510A。三角形板510T可沿着中心轴线510L从基板510P延伸到顶板510A。三角形板510T可由丙烯酸制成。
图5A示出图5中的第二测试面板510的俯视示意图。如图5A中所示，三角形板510T可从基板510P延伸到顶板510A，使得三角形板510T的基底部分510TB连接到基板510P并且顶点连接到顶板510A。图5A还示出具有所述至少一个ROI的第二测试面板510的示意图。举例来说，对于第二测试件300，可存在八个ROI(即，测试区1至8)。
图5B示出用于测试件300的用户评估界面512的示例性实施例。用户评估界面512可包括第二测试面板510的评分表。评分表可包括多个ROI，例如测试区1及2、测试区3及4等，其对应于示意图及所述多个ROI中的每一者的对应评分值(例如，分数)。处理器100P可接收第二测试面板510的扫描图像并且评估扫描图像。对于客观评估，处理器100P可检索第二测试面板510的模板并且将其映射到第二测试面板510的扫描图像上。可基于模板确定扫描图像的多个ROI。举例来说，三角形板510T可被划分成8个ROI条带。处理器100P可提取所述多个ROI中的每一者中的体素或像素。系统100可对所述多个ROI中的每一者的参数进行计算。举例来说，如果方差小于平均值的预定次数(例如2×)，则处理器100P可根据评分表将对应的评分值指派给ROI。
对于主观评估，系统100可经由多媒体模块100U提示用户识别每一ROI的颜色是否存在任何变化。举例来说，参照图5A，均匀颜色的第二测试面板510(即，三角形)将指示扫描仪10的扫描质量是可接受的。如果用户能够识别扫描图像中ROI(例如，测试区1及2)中的均匀颜色，则用户可经由多媒体模块100U和/或I/O界面100N在“测试区1及2”中输入“是”。因此，如果ROI中存在颜色变化，用户可输入“否”。可对测试区1至8采取相同的步骤。一旦完成评分表，系统100便可为扫描仪10的每一性能特性(即，束硬化效应)生成第一评分值及第二评分值，以评估扫描仪10的扫描质量。
图6示出所述多个测试面板310中的第三测试面板610的示例性实施例的透视图。第三测试面板610可适于对扫描仪10的空间分辨率进行测试。第三测试面板610可包括基板610P、与基板610P垂直的中心轴线610L及沿着基板610P延伸的多个细长脊610R。多个脊610R可彼此间隔开。多个脊610R可具有介于从5mm到20mm内的值的不同高度。所述多个脊610R的高度可具有间隔，例如5mm、10mm、15mm、20mm。多个脊610R可从最高到最低依序排列。多个脊610R可被分成多组脊610R。所述多组脊610R中的每一者中的脊610R可具有相同的高度。所述多组脊610R中的一者中的脊610R的高度可不同于所述多组脊610R中的另一者中的脊610R的高度。所述多个脊610R中的每一者从俯视图来看可为楔形的并且具有尖端。多个脊610R可被排列成使得所述多个脊610R的尖端会聚在中心轴线610L处。
图6A示出图6中的第三测试面板610的俯视图。多个脊610R可从中心轴线610L向外延伸并且彼此间隔开。如图6A中所示，第一组脊610R1可为5mm高，与第一组脊间隔开的第二组脊610R2可为10mm高，与第二组脊间隔开的第三组脊610R3是15mm高，与第三组脊间隔开的第四组脊610R4是20mm高。从俯视图看，所述多个脊610R从基板610P的中心轴线610L辐射。
图6B示出图6中的第三测试面板610的正视图。如图6B中所示，所述多个脊610可具有从基板610P延伸的不同高度。第四组脊610R4可高于第三组脊610R3，第三组脊610R3可高于第二组脊610R2，第二组脊610R2可高于第一组脊610R1。
图6C示出第三测试面板610的区段的俯视示意图。图6C示出具有一定高度的多个脊610R的区段。系统100被配置成针对每一高度识别所述多个脊610R不再可区分的点。举例来说，如图6C中所示，如果所述多个脊610R不再可区分的点由来自所述多个脊610R的边缘的L2表示，则可通过用L2减去所述多个脊610R的长度来对作为不可区分区的L1进行计算。
图6D示出用于对第三测试面板610的第一评分值及第二评分值进行计算的矩阵612M的示例性示例。系统100可包括用于一维以上的测试面板的矩阵612M。举例来说，第三测试面板610可具有所述多个脊610R的高度的第一维度及所述多个脊610R的宽度的第二维度。矩阵612M可包括维度及维度的对应评分值。如矩阵612M中所示，最小分辨率(例如1mm)的评分值可具有最高的权重或评分值。
图6E示出用于测试件300的用户评估界面612的示例性实施例。用户评估界面612可为第三测试面板610的评分表。评分表可包括多个ROI(例如，5mm测试区、10mm测试区等)以及供用户输入所述多个ROI中的每一者的测量长度L2的空白字段。处理器100P可接收第三测试面板610的扫描图像并且评估扫描图像。对于客观评估，处理器100P可检索第三测试面板610的模板并将其映射到第三测试面板610的扫描图像上。处理器100P可基于第三测试面板610的模板识别多个ROI。举例来说，处理器100P可从图6C中所示的测试区的中心轴线610L向外到所述多个脊610R的区段的边缘以5mm的间隔对一组环进行界定。对于每一环，处理器100P可被配置成提取体素或像素并且对所述环周围的体素或像素的最大值及最小值进行计算。如果体素或像素的最小值低于阈值(例如，最大值的20％)，则处理器100P可将环识别为“可见”。处理器100P可将具有最小直径的“可见”环确定为所述区段的分辨率极限。可对其他高度的多个脊610R的每一区段执行相同的计算。对于主观评估，系统100可经由多媒体模块100U提示用户识别每一区段中彼此可区分的多个脊610R的宽度。举例来说，参照图6C及图6D，如果用户能够识别5mm的测试区的宽度是3mm，则用户可经由多媒体模块100U和/或I/O界面100N输入指派的评分值。处理器100P可基于矩阵612M将对应的评分值指派给ROI。可对具有不同高度的多个脊610R的其他区段采取相同的步骤。一旦完成评分表，系统100便可针对扫描仪10的每一性能特征(即，空间分辨率)生成第一评分值及第二评分值，以评估扫描仪10的扫描质量。
图7示出所述多个测试面板310中的第四测试面板710的示例性实施例的透视图。第四测试面板710可适于对扫描仪10的对比度分辨率进行测试。第四测试面板710也可适于对扫描仪10的空间分辨率进行测试。第四测试面板710可适于对作为重建CT切片厚度的函数的空间分辨率及对比度分辨率的性能进行验证。第四测试面板710可包括基底710B，所述基底710B具有顶侧710BT及与顶侧710BT相对的底侧(图7中未示出)以及延伸穿过顶侧710BT及底侧的中心轴线710L。第四测试面板710可包括从顶侧710BT朝向底侧延伸并且与中心轴线710L平行的多个孔710H。多个孔710H可具有不同的深度及宽度。多个孔710H可具有介于5mm到40mm的范围内的深度值。多个孔710H可具有介于1mm到10mm的范围内。基底710B可附接到基板610P。
图7A示出图7中的第四测试面板710的俯视图。多个孔710H可被分成多组孔710H1。所述多组孔710H1中的每一者可包括宽度增大的孔710H。举例来说，每一组孔710H1可包括宽度为1mm、2mm、4mm、6mm、8mm及10mm的孔710H。每一组孔710H1的深度可彼此不同。举例来说，所述多组孔710H1的深度可包括5mm、10mm、15mm、20mm、25mm、30mm、35mm、40mm。所述多组孔710H1中的每一者可设置成直线，孔710H从最深的孔到最浅的孔排列。所述多组孔710H1中的每一者可从中心轴线710L径向排列。基底710B可为圆形、方形或任何合适的形状。多个孔710H可为圆形的。
图7B示出图7中的所述多个孔710H的区段及ROI的示意图。对于客观评估，当接收到第二测试件300的扫描图像时，系统100可基于第四测试面板710的模板识别多个ROI。系统100可将每一孔位置识别为ROI。系统100可针对所述多个ROI中的每一者生成参数。举例来说，参照图7B，处理器100P可将任意两组孔710H之间的多个孔位置及背景区(例如，30mm直径的圆)识别为ROI。处理器100P可对每一ROI或孔内的体素或像素的平均值以及背景区的标准偏差进行计算并且对所述两个值进行比较。如果孔的平均值与测试区的平均值相差至少2个标准偏差，则处理器100P可将孔指定为“可见”。
图7C示出用于测试件300的用户评估界面712的示例性实施例。用户评估界面712可为第四测试面板710的评分表。评分表712可包括孔710H的宽度及指派给每一孔710H的评分值。如图7C中所示，评分值可被加权，使得具有较小宽度的孔710H可被指派较高的评分值。处理器可接收第四测试面板710的扫描图像并且评估扫描图像。对于客观评估，处理器100P可检索第四测试面板710的模板并将其映射到第四测试面板710的扫描图像上。可基于模板确定扫描图像的多个ROI。举例来说，每个孔可为ROI并且所述多组孔之间的背景区域可为ROI。可提取完全包含在ROI内的体素或像素用于进行分析。举例来说，可对孔内像素的参数(例如，平均值及标准偏差)并与背景区域的标准偏差进行比较。如果孔的平均值与背景区域的平均值相差至少2个标准偏差，则处理器100P可确定孔是“可见的”。处理器100P可基于评分表将对应的评分值指派给ROI。对于主观评估，系统100可经由多媒体模块100U提示用户识别在扫描图像中可看到的每一宽度的孔710H的数目。用户可经由多媒体模块100U和/或I/O界面100N在评分表中输入孔的数目，并且处理器100P可基于评分表指派对应的评分值。一旦完成评分表，系统100便可针对扫描仪10的每一性能特性(即，对比度分辨率)生成第一评分值及第二评分值，以评估扫描仪10的扫描质量。
图8示出所述多个测试面板310中的第五测试面板810的示例性实施例的透视图。第五测试面板810可适于扫描仪10对金属制品的敏感度测试。第五测试面板810可包括基底810B，基底810B具有顶侧810BT及与顶侧810BT相对的底侧(图8中未示出)以及穿过顶侧810BT及底侧的中心轴线810L。基底810B可安装到基板810P。基底810B可包括从基底810B内延伸且延伸出基底810B的多个细长元件810E。多个细长元件810E可平行于中心轴线810L。多个细长元件810E可具有相同的长度。多个细长元件810E可具有不同的宽度。所述多个细长元件810E的宽度可介于1mm至6mm的范围内。多个细长元件810E可被划分成多组细长元件810E。一组中的细长元件810E的宽度可不同于另一组中的细长元件810E的宽度。
图8A示出所述多个细长元件810E的俯视图。图8A示出所述多组细长元件810E。多组细长元件810E可包括具有第一宽度(例如1mm)的第一组细长元件810E1、具有第二宽度(例如2mm)的第二组细长元件810E2、具有第三宽度(例如6mm)的第三组细长元件810E3、具有第四宽度(例如6mm)的第四组细长元件810E4中的至少一者。多个细长元件810E可为杆。基底810B可为圆形、方形或任何合适的形状。图8A还示出扫描图像的所述多个ROI(即，环)。处理器100P可检索及映射第五测试面板810的模板，以识别扫描图像的ROI。
图8B示出用于测试件300的用户评估界面812的示例性实施例。用户评估界面812可为第五测试面板810的评分表。评分表可包括多个ROI(例如，1mm的配线、2mm的配线等)以及所述多个ROI中的每一者的评分值(例如，分数)。处理器100P可接收第五测试面板810的扫描图像并且评估扫描图像。对于客观评估，处理器100P可检索第五测试面板810的模板并将其映射到第五测试面板810的扫描图像上。可基于模板确定扫描图像的多个ROI。举例来说，所述多个ROI可为环绕每一组细长元件810E1的环。处理器100P可提取所述多个ROI中的体素及像素并且对所述多个ROI的参数进行计算。举例来说，处理器100P可对如图8A中所示的环内的体素或像素的平均值及标准偏差进行计算。如果环内存在多于预定数目的体素或像素(例如，五个)大于平均值的3个标准偏差，则处理器100P可指定所述多个细长元件810E是“可见的”。处理器100P可基于评分表将对应的评分值指派给所述多个ROI。可对不同宽度的细长元件810E的其他组采取相同的步骤。对于主观评估，系统100可经由多媒体模块100U提示用户设定多个环以穿过空气中及基底810B中的所述多个细长元件810E。系统100可提示用户覆盖扫描图像中的环的内部部分，并且如果是组的细长元件810E的轨迹在环中可见，则经由多媒体模块100U和/或I/O界面100N提供输入。处理器100P可被配置成在所述组的细长元件810E的迹线不可见的情况下指派对应的得评分值。可对在空气中及在基底810B中的其他组的细长元件810E采取相同的步骤。一旦完成评分表，系统100便可针对扫描仪10的每一性能特性(即，金属伪影敏感度)生成第一评分值及第二评分值，以评估扫描仪10的扫描质量。
图9示出所述多个测试面板310中的第六测试面板910的示例性实施例的透视图。第六测试面板910可适于对扫描仪10的栅格分辨率及空间分辨率进行测试。第六测试面板910可包括基底910B，基底910B具有顶侧910BT及与顶侧910BT相对的底侧(图9中未示出)以及穿过顶侧910BT及底侧的中心轴线910L。基底910B可包括与顶侧910BT平行的细长狭槽910S的阵列并且朝向底侧凹陷。狭槽910S的阵列可包括具有不同宽度合/或长度的多个狭槽910S。狭槽910S的阵列中的每一者可包括与基底910B的顶侧910BT平行并且与其间隔开的横向配线(图9中未示出)，以形成横向配线的阵列。每一横向配线可在狭槽910S的阵列中的每一者中线性延伸。狭槽910S的阵列中的每一者可包括直径对应于狭槽910S的宽度及长度的横向配线。多个狭槽910S可被排列成彼此平行，彼此之间具有间隙910G，以形成狭槽910S的阵列。狭槽910S的阵列可被排列成最宽及最长的狭槽在阵列的一端并且最窄及最短的狭槽在与阵列相对的另一端。间隙910G中的每一者的宽度可从阵列的一端向另一端减小。狭槽910S的阵列可被排列成多组狭槽910S。所述多组中的每一者可包括相同宽度及长度的狭槽910S，并且其间的间隙910G可与狭槽910S具有相同的宽度。如图9A中所示，所述多组狭槽910S1中的每一者可包括三个狭槽910S。阵列一端的一组狭槽910S1可具有最宽及最长的狭槽910S以及最宽的间隙910G，而阵列另一端的一组狭槽910S1可具有最窄及最短的狭槽910S以及最窄的间隙910G。第六测试面板910可包括多于一个的狭槽910S的阵列，例如两个阵列。所述多个狭槽910S的宽度以及所述多个横向配线的直径可包括1mm、2mm、3mm、4mm、6mm等中的至少一者。狭槽的宽度及配线的直径可根据测试的需要来确定。举例来说，一组狭槽910S及配线可为1mm，另一组可为2mm。
第六测试面板910可包括纵向配线910W的行。纵向配线910W的行可包括与中心轴线910L平行(即，与顶侧910BT垂直)并且从顶侧910BT延伸到底侧并且彼此间隔开的多条纵向配线910W。纵向配线910W的行中的配线910W的直径可从该行的一端到该行的另一端增大。举例来说，纵向配线的配线规格可包括24AWG、30AWG、32AWG、36AWG中的至少一者。第六测试面板910可包括多于一行的纵向配线910W。纵向配线910W的行允许测试件300对扫描仪10的配线分辨率进行测试。配线分辨率决定了扫描仪10在高对比度下分辨精细配线的能力。第六测试面板910允许同时对扫描仪10的栅格分辨率与配线分辨率进行测试。基底910B可由丙烯酸制成。
图9A示出图9中的第六测试面板910的俯视图。狭槽910S的阵列可相对于中心轴线910L成横向排列。每一组狭槽910S可包括三个狭槽910S及相同长度及宽度并且彼此等距间隔开的横向配线。每一组狭槽910S的长度及宽度以及它们之间的间距随着下一组狭槽910S而减小。狭槽910S的阵列可包括具有第一宽度(例如6mm)的第一组狭槽910S1、具有第二宽度(例如4mm)的第二组狭槽910S2、具有第三宽度(例如3mm)的第三组狭槽910S3、具有第四宽度(例如2mm)的第四组狭槽910S4以及具有第五宽度(例如1mm)的第五组狭槽910S5中的至少一者。所述各组狭槽910中的每一狭槽具有直径与其宽度相对应的横向配线。可存在一行或多行纵向配线910W。每一行纵向配线910W可包括配线规格为24AWG、30AWG、32AWG及36AWG的纵向配线910W。
图9B示出用于测试件300的用户评估界面912的示例性实施例。用户评估界面912可为第六测试面板910的评分表。评分表可包括多个ROI(例如，24AWG、1mm的栅格等)以及所述多个ROI中的每一者的评分值(例如，分数)。处理器100P可接收第六测试面板910的扫描图像并且评估扫描图像。对于客观评估，处理器100P可检索第六测试面板910的模板并将其映射到第六测试面板910的扫描图像上。可基于模板确定扫描图像的多个ROI。处理器100P可被配置成施行评估扫描图像的独立方法。系统100可在第六测试面板910的模板上识别多个ROI基底910Bd。对于所述多个纵向配线910W的扫描图像的客观评估，处理器100P可被配置成对通过ROI中的每一者的一系列线轮廓进行计算并且对沿着纵向配线910W的长度的一系列线轮廓进行求和。处理器100P可被配置成基于总和值对纵向配线基底910Bd的大约中心处的峰值高度进行计算，对纵向配线910W周围的体素或像素的平均值进行计算并且将峰值高度与平均值进行比较。如果纵向配线910H的峰值高度大于周围平均值中噪声的标准偏差的预定次数(例如，3倍)，则处理器100P可将纵向配线910H的状态指定为“可见”。对于所述多组配线的客观评估，处理器100P可被配置成对与所述一组配线平行的方向上的体素或像素的值进行求和，并且通过所述一组配线的轮廓上的求和值来分析轮廓。处理器100P可被配置成对每一组配线中体素或像素的最大值及最小值进行计算。如果最小值小于最大值的预定百分比(例如，20％)，则处理器100P可指定所述一组配线“可见”的状态。处理器100P被配置成基于评分表为多个ROI指派评分值。对于主观评估，系统100可经由多媒体模块100U提示用户识别多条纵向配线及多组配线。如果用户能够识别它们，则用户可经由多媒体模块100U和/或I/O界面100N模块将结果输入评分表中。处理器100P可被配置成基于评分表将对应的评分值指派给ROI。一旦完成评分表，系统100便可针对扫描仪10的每一性能特征(即，栅格分辨率及空间分辨率)生成第一评分值及第二评分值，以评估扫描仪10的扫描质量。
图10示出所述多个测试面板310中的第七测试面板1010的示例性实施例的透视图。第七测试面板1010可适于对扫描仪10对小的夹杂物的敏感度进行测试。第七测试面板1010可包括基底1010B及穿过基底1010B的中心轴线1010L。基底1010B可包括至少一个基底面板1010P。所述至少一个基底面板1010P可包括多个孔1010H。多个孔1010H可具有不同的直径。多个孔1010H可具有介于1.0mm到3.0mm范围内的直径。举例来说，所述多个孔1010H的直径可为1.0mm、1.5mm、2.0mm、2.5mm及3.0mm。多个孔1010H可为穿过基底面板1010P的贯穿孔。基底面板1010P可在所述多个孔1010H中的每一者中包括销(图10中未示出)。销可由锡或其他材料制成。多个孔1010H可围绕中心轴线1010L排列成同心圆并且彼此等距间隔开。多个孔1010H可按照孔1010H的大小在逆时针方向上以升序或降序排列。如图10中所示，基底1010B可包括上部基底面板1010UP及下部基底面板1010LP。
图10A及图10B示出图10中的基底1010B的上部基底面板1010UP及下部基底面板1010LP的俯视图。图10A示出上部基底面板1010UP且图10B示出下部基底面板1010LP。上部基底面板1010UP与下部基底面板1010LP可彼此堆叠，使得每一基底面板1010P的所述多个孔1010H彼此不对准。举例来说，参照图10A，所述多个孔1010H可被定向成使得所述多个孔1010H中的一者可与基准线1010F形成约72.0°的角度，并且参照图10B，所述多个孔1010H可被定向成使得所述多个孔1010H中的一者可与基准线1010F形成约36.0°的角度。下部基底面板1010LP中的多个孔1010H可包括销。
图10C示出用于测试件300的用户评估界面1012的示例性实施例。用户评估界面1012可为第七测试面板1010的评分表。评分表可包括多个ROI(例如，1.0mm、2.0mm等)以及所述多个ROI中的每一者的评分值(例如，分数)。处理器100P可接收第七测试面板1010的扫描图像并评估扫描图像。处理器100P可接收上部基底面板1010UP及下部基底面板1010LP的扫描图像。对于客观评估，处理器100P可检索第七测试面板1010的模板并将其映射到第七测试面板1010的扫描图像上。可基于模板确定扫描图像的多个ROI。对于客观评估，处理器100P可将所述多个孔1010H及每一基底面板1010P的多个孔1010H之间的背景区(例如，20mm直径的圆)识别为多个ROI。处理器100P可被配置成对每一ROI内的体素或像素的平均值(即，基底面板1010P中的每一者及背景区中的多个孔1010H)进行计算。如果多个孔1010H的平均值与每一基底面板1010P的背景区的平均值相差至少2个标准偏差，则处理器100P可将该孔指定为“可见”。对于主观评估，系统100可经由多媒体模块100U提示用户识别不具有销的表上部基底面板1010P的扫描图像及具有销的下部基底面板1010P的扫描图像中的多个孔1010H。如果用户能够识别它们，用户可经由多媒体模块100U和/或I/O界面100N模块将结果输入评分表中。处理器100P可基于评分表将相应的评分值指派给ROI。一旦完成评分表，系统100可为扫描仪10的每一性能特征(即，栅格分辨率及空间分辨率)生成第一评分值及第二评分值，以评估扫描仪10的扫描质量。
图10D示出总评分汇总表1014的示例性实施例。当已评估多个测试面板310的扫描图像时，系统100可基于测试面板310的单独的第一评分值及单独的第二评分值生成测试件300的总体第一评分值及总体第二评分值，如图10D中所示。
图11A示出测试件1100的示例性实施例的俯视图。可针对透射X射线图像质量分析对测试件1100进行优化。扫描仪10可具有介于300mm×300mm至4500mm×6000mm的范围内的视场。扫描仪10可具有扫描速度介于0.01m/s至100km/h的范围内的线性X射线系统100。扫描图像可具有介于0.3mm至10.0mm的空间分辨率范围内的图像分辨率。可针对反向散射X射线图像质量分析对测试件1100进行优化。扫描仪10可具有介于300mm×300mm至5000mm×12000mm的空间分辨率范围内的视场。扫描仪10可具有扫描速度介于0.01m/s至20km/h的范围内的线性反向散射扫描系统100。扫描图像可具有介于0.5mm至20mm范围内的图像分辨率。
测试件1100可包括具有纵向轴线1102L的基底面板1100A及沿着纵向轴线1102L以枢转方式连接到基底面板1100A的可旋转面板1100B，使得可旋转面板1100B可绕纵向轴线1102L旋转。基底面板1100A可包括用于对扫描仪10的扫描质量进行测试的第一多个测试元件1100E。可旋转面板1100B可包括用于对扫描仪10的扫描质量进行测试的第二多个测试元件1100E。第一多个测试元件1100E可与第二多个测试元件1100E相同。当从俯视图观察时，可旋转面板1100B的第二多个测试元件1100E与基底面板1100A的第一多个测试元件1100E的取向相比可颠倒。基底面板1100A可包括一个或多个测试元件1100E。如图11A中所示，基底面板1100A可包括六个测试元件1100E。测试件1100可包括适于容纳测试件1100的壳体1120。壳体1120可包括适于对基底面板1100A进行封装的第一部分1120A及适于对可旋转面板1100B进行封装的第二部分1120B。壳体1120可包括手柄1120H，手柄1120H包括连接到第一部分1120A的第一半部及连接到第二部分1120B的第二半部。具有第一多个测试元件1100E的测试件1100允许在单次扫描中进行多次测试。
参照图11A，可旋转面板1100B可沿着横向轴线1102M枢转地连接到基底面板1100A。横向轴线1102M可垂直于纵向轴线1102L。横向轴线1102M可与纵向轴线1102L处于同一平面内。如图11A中所示，基底面板1100A可具有顶侧1100AT、与顶侧1100AT相对的底侧1100AB、从顶侧1100AT延伸到底侧1100AB的左侧1100AL及右侧1100AR，并且可旋转面板1100B可具有顶侧1100BT、与顶侧1100BT相对的底侧1100BB、从顶侧1100BT延伸到底侧1100BB的左侧1100BL及右侧1100BR。测试件1100可包括附接到基底面板1100A的右侧1100AR及可旋转板1100B的左侧1100BL的铰链1120H，以使可旋转面板1100B能够绕横向轴线1102M旋转。铰链1120H可适于允许可旋转面板1100B绕纵向轴线1102L旋转。
图11B示出处于旋转位置的测试件1100的正视图。壳体1120的部分已被移除，以示出基底面板1100A及可旋转面板1100B的剖视图。可旋转面板1100B可绕纵向轴线1102L旋转到旋转位置。可旋转面板1100B可绕铰链1100H旋转。可旋转面板1100B可旋转以在可旋转面板1100B与基底面板1100A之间形成角度。可旋转面板1100B可旋转，使得角度可介于1°至90°之间。
图11C示出测试件1100处于闭合位置时的正视图。壳体1120的部分已被移除，以示出基底面板1100A及可旋转面板1100B的剖视图。可旋转面板1100B可绕横向轴线1102M(图11C中未示出)旋转，以在闭合位置与打开位置之间旋转，在闭合位置处，可旋转面板1100B旋转以面对基底面板1100A，如图11C中所示，在打开位置处，可旋转面板1100B可与基底面板1100A处于相同的平面中，如图11A中所示。图11中的测试件1100可被认为处于承载模式，其中用户可通过手柄1120H承载测试件1100。
图11D示出处于打开位置的图11A中的测试件1100的正视图。壳体1120的部分已被移除，以示出基底面板1100A及可旋转面板1100B的剖视图。基底面板1100A可安装到壳体1120的第一部分1120A上，并且可旋转面板1100B可安装到壳体1120的第二部分1120B上。
图11E示出在双视图扫描仪1020中使用的测试件1100的正视图。测试件1100允许单视图或双视图扫描仪(例如X射线扫描仪)进行单次扫描，以产生2D扫描图像。由于绕纵向轴线1102L旋转的灵活性，测试件1100能够被调整以适应任何位置的双视图扫描仪的视图位置。如图11E中的两个图所示，尽管双视图扫描仪1020中的视图1020C的位置可不同，但可通过使可旋转面板1100B旋转并根据双视图扫描仪1020中的视图1020C的位置放置基底面板1100A来对测试件1100进行取向，以使得测试件1100能够垂直于扫描仪10的光束。与需要根据每一视图放置并在双视图扫描仪1020中扫描两次的常规测试件相比，本测试件1100允许单程扫描来对双视图扫描仪1020中的两个视图进行测试。此外，测试件1100紧凑且重量轻。因此，测试件1100是便携式的并且易于使用。如上所述，可用手柄1120H在壳体1120周围承载测试件1100。在使用时，壳体1120可打开，使得壳体1120的第二部分1120B与可旋转面板1100B一起可绕横向轴线1102M从闭合位置旋转到打开位置。当壳体1120的第一部分1120A与基底面板1100A一起放置在扫描仪10上时，壳体1120的第二部分1120B与可旋转面板1100B一起可根据扫描仪10的视角成角度。因此，可通过使测试件1100通过一次以获得扫描图像来对扫描仪10进行测试，即，测试件1100允许单次通过双视图扫描仪1020。扫描仪10的每一视图可包括X射线生成器及多个X射线检测元件。
图12示出基底面板1100A和/或可旋转面板1100B的基板1200P的示例性实施例的透视图。基底面板1100A可包括适于在其上安装测试元件1100E的基板1200P。基板1200P可包括顶侧1200PT及与顶侧1100AT相对的底侧1100AB(图12中未示出)。基板1200P可包括适于在其中接纳多个测试元件1100E的多个凹槽1200PR。
图13A示出所述多个测试元件1100E中的第一测试元件1310的示例性实施例的俯视示意图。第一测试元件1310可适于对扫描仪10的穿透水平进行测试。第一测试元件1310可包括多个不同高度的区块1310B。举例来说，所述多个区块1310B可包括八个区块1310B，所述八个区块1310B中的每一者具有不同的高度，例如2mm、4mm、6mm、8mm、10mm、12mm、14mm、16mm。多个区块1310B可按照其高度降序排列。多个区块1310B可形成阶梯，其中最高的区块处于一端并且最低的区块处于与所述一端相对的另一端。所述多个区块1310B中的每一者可为楔形，使得所述多个区块1310B可被排列成形成如图13A中所示的圆形区块。多个区块1310B可由钢制成。多个区块1310B可安装到基板1200P的顶侧1200PT上(图13A中未示出)。第一测试元件1310可包括位于所述多个区块1310B之下的中心区块1310C。中心区块1310C可具有与所述多个区块1310B不同的材料。中心区块1310C可由铅制成。中心区块1310C可嵌入基板1200P中。参照图12，基板1200P可包括适于接纳中心区块1310C的第一凹槽1200PR1。中心区块1310C可为圆形的。
图13B示出图13A中的第一测试件1100的剖视示意图。第一测试元件1310可包括位于所述多个区块1310B之下的底部区块1310M。底部区块1310M可设置在中心区块1310C之下，使得中心区块1310C可设置在所述多个区块1310B与底部区块1310M之间。底部区块1310M可安装到基板1200P的底侧。底部区块1310M可为22mm厚。如图13B中所示，所述多个区块1310B可具有不同的高度。底部区块1310M可为圆形的。
图13C示出用于测试件1100的用户评估界面1312的示例性实施例。用户评估界面1312可为第一测试元件1310的评分表。评分表可包括多个ROI(例如，步长1、步长2等)以及所述多个ROI中的每一者的评分值(例如，分数)。处理器100P可接收第一测试元件1310的扫描图像并评估扫描图像。对于客观评估，可由处理器100P检索第一测试元件1310的模板并映射到第一测试元件1310的扫描图像上。可基于模板确定扫描图像的多个ROI。举例来说，可在具有及不具有中心区块1310C的多个区块1310B中的每一者中确定一个或多个ROI。处理器100P可被配置成对所述多个ROI的平均值及标准偏差进行计算。如果具有中心区块1310C的区块的ROI的平均值与不具有中心区块1310C的区块的ROI的平均值之间的差大于一个标准偏差，则处理器100P可将所述步长的状态指定为“可见”。处理器100P可被配置成基于评分表将相应的评分值指派给ROI。对于主观评估，系统100可经由多媒体模块100U提示用户对具有中心区块1310C的区块的部分及不具有中心区块1310C的区块的部分之间的清晰台阶进行区分。处理器100P可经由多媒体模块100U或I/O模块接收所述步长是否可见的输入并基于评分表1312指派相应的评分值。处理器100P可基于评分表将对应的评分值指派给ROI。可对其他多个区块1310B采取相同的步骤。一旦完成评分表，系统100便可针对扫描仪10的每一性能特征(即，穿透水平)生成第一评分值及第二评分值以评估扫描仪10的扫描质量。
图14A示出所述多个测试元件1100E中的第二测试元件1410的示例性实施例的俯视示意图。第二测试元件1410可适于对扫描仪10区分不同成分的材料的能力进行测试。第二测试元件1410可适于对有效核电荷(Zeffective)的能力进行测试。第二测试元件1410可包括由不同材料制成的多个区块1410B，使得所述多个区块1410B具有不同的密度。所述多个区块1410B中的每一者可为楔形，使得所述多个区块1410B可被排列成形成如图14A中所示的圆形区块。多个区块1410B可安装到基板的顶侧1200PT上(图14A中未示出)。多个区块1410B可具有相同的高度。所述多个区块1410B的材料可从有机范围内的密度范围中选择，使得可对扫描仪10在所述范围内的扫描质量及敏感度进行测试。举例来说，所述材料可包括聚丙烯、聚酰胺12或聚丙烯10％玻璃、聚丙烯30％玻璃、聚醚醚酮、乙缩醛均聚物(例如迭尔林)、氯化PVC、聚偏二氟乙烯、聚四氟乙烯(例如铁氟龙)。基底可由丙烯酸(例如，有机玻璃)制成。
图14B示出用于测试件1100的用户评估界面1412的示例性实施例。用户评估界面1412可为第二测试元件1410的评分表。评分表可包括多个ROI(例如，测试区1、测试区2等)以及所述多个ROI中的每一者的评分值(例如，分数)。处理器100P可接收第二测试元件1410的扫描图像并评估扫描图像。对于客观评估，可由处理器100P检索第二测试元件1410的模板并映射到第二测试元件1410的扫描图像上。可基于模板确定扫描图像的多个ROI。举例来说，可在所述多个区块1410B中的每一者中确定一个或多个ROI。处理器100P可被配置成从扫描仪10接收所述多个ROI中的每一者的Zeffective值。处理器100P可被配置成对所述多个ROI中的每一者的Zeffective值的平均值及标准偏差进行计算。处理器100P可被配置成在一个区块(例如，测试区1)的ROI的平均值比下一区块(例如，测试区2)的平均值大一个标准偏差时指派“是”状态，并且基于评分表1312指派对应的评分值。处理器100P可被配置成基于评分表指派ROI的对应评分值。可对其他多个区块1410B采取相同的步骤。对于主观评估，系统100可提示用户基于所述多个区块1410B的材料类型(Zeffective值)将扫描仪10设定为彩色。系统100可提示用户确定一个区块是否可与相邻区块区分开。系统100可被配置成接收一个区块是否可与相邻区块区分开的输入，并基于评分表1412为两个区块1410B指派对应的评分值。处理器100P可被配置成基于评分表指派ROI的对应评分值。一旦完成评分表，系统100便可针对扫描仪10的每一性能特征(即，穿透水平)生成第一评分值及第二评分值，以评估扫描仪10的扫描质量。
图15示出所述多个测试元件1100E中的第三测试元件1510的示例性实施例的俯视图。第三测试元件1510可适于对扫描仪10的空间分辨率进行测试。第三测试元件1510可包括板1510D及位于板1510D上的多个条带1510S。所述多个条带1510S中的每一者可为楔形的，使得每一者具有宽端及与宽端相对的尖端。所述多个条带1510S的尖端可会聚在中心点1510C处，并且多个条带的宽端可彼此间隔开。多个条带1510S可形成截头扇形。第三测试元件1510可安装在基板的顶侧1200PT上(图15中未示出)。多个条带1510S可由钢制成。
图15A示出用于测试件1100的用户评估界面1512的示例性实施例。用户评估界面1512可为第三测试元件1510的评分表。评分表可包括多个ROI(例如，0.5mm测试区、1.0mm测试区等)以及所述多个ROI中的每一者的评分值(例如，分数)。处理器100P可接收第三测试元件1510的扫描图像并评估扫描图像。对于客观评估，可由处理器100P检索第三测试元件1510的模板并映射到第三测试元件1510的扫描图像上。可基于模板确定扫描图像的多个ROI。举例来说，ROI可为距中心点1510C不同半径的多条圆形线1510R。处理器100P可被配置成从中心点1510C以恒定半径投射圆形线1510R(参见图15)穿过多个条带1510S，即超出截头扇形的一侧到超出另一侧。处理器100P可被配置成以从中心点1510C开始预定的半径间隔(例如，1mm、2mm等)对沿着每一圆形线1510R的强度分布进行计算。对于强度分布中的每一者，处理器100P可被配置成对波峰与波谷之间的调制进行计算。举例来说，处理器100P可被配置成对波峰与波谷的平均值及标准偏差进行计算。处理器100P可被配置成如果波峰与波谷的平均值的差至少是一个标准偏差，则指派“可见”状态，向上舍入到最接近的0.5mm半径并基于评分表1512指派对应的评分值。处理器100P可被配置成基于评分表指派ROI的对应评分值。可针对如评分表1512中所示的其他预定半径采取相同的步骤。对于主观评估，系统100可提示用户识别所述多个条带1510S彼此融合的点，以至于它们不再可区分。基于在所述多个条带1510S的侧上指派的半径，系统100可经由多媒体模块100U或I/O界面100N模块从用户接收多个条带1510S可见的半径的输入。举例来说，如果所述多个条带1510S在2.0mm的半径处可见，则用户可输入2.5mm及3.0mm的半径。处理器100P可基于评分表指派对应的评分值。一旦完成评分表，系统100便可针对扫描仪10的每一性能特征(即，空间分辨率)生成第一评分值及第二评分值，以评估扫描仪10的扫描质量。
图16示出所述多个测试元件1100E中的第四测试元件1610的示例性实施例的俯视图。第四测试元件1610可适于对扫描仪10的栅格分辨率进行测试。第四测试元件1610可包括板1610D及位于板1610D上不同宽度的多个杆1610S。多个杆1610S可被分组成不同宽度的多组杆1610S。每一组杆1610S中的多个杆1610S可具有相同的长度。每一组杆1610S中的多个杆1610S可通过与多个杆1610S相同宽度的间隙彼此间隔开。多个杆1610S可由钢制成。多个杆1610S可具有介于0.5mm至3.0mm的范围内的宽度。多组杆1610S可以0.5mm、1.0mm、1.5mm、2.0mm、2.5mm、3.0mm的宽度分组。多组杆1610S可根据宽度以升序排列。多个杆1610S可被排列成两个区段，使得一个区段中的多个杆1610S垂直于另一区段中的多个杆1610S。
图16A示出用于测试件1100的用户评估界面1612的示例性实施例。用户评估界面1612可为第四测试元件1610的评分表。评分表可包括多个ROI(例如，0.5mm测试区、1.0mm测试区等)以及所述多个ROI中的每一者的评分值(例如，分数)。处理器100P可接收第四测试元件1610的扫描图像并评估扫描图像。对于客观评估，可由处理器100P检索第四测试元件1610的模板并映射到第四测试元件1610的扫描图像上。可基于模板确定扫描图像的多个ROI。举例来说，ROI可为跨越每组杆1610S的多条直线1610R。处理器100P可被配置成将直线1610R(参见图16)投射到每组杆1610S上。处理器100P可被配置成沿着每条直线1610R提取轮廓。对于多个分布图中的每一者，处理器100P可被配置成对分布图中波峰与波谷的平均值及标准偏差进行计算。处理器100P可被配置成在波峰与波谷的平均值的差至少是一个标准偏差时指派“可见”状态，并且基于评分表指派对应的评分值。可对各组杆1610S采取相同的步骤。只有当两个区段中的两组杆1610S都“可见”时，处理器100P才可指派对应的评分值。对于主观评估，在经由多媒体模块100U或I/O界面100N模块将“可见”状态输入到系统100中之前，系统100可提示用户识别每组杆1610S中的所有杆1610S。处理器100P可接收输入，并基于评分表1512指派对应的评分值。只有当两个区段中的两组杆1610S都“可见”时，处理器100P才可指派对应的评分值。一旦完成评分表，系统100便可针对扫描仪10的每一性能特征(即，栅格分辨率)生成第一评分值及第二评分值，以评估扫描仪10的扫描质量。
图17示出所述多个测试元件1100E中的第五测试元件1710的示例性实施例的透视图。第五测试元件1710可适于对扫描仪10的配线分辨率进行测试。第五测试元件1710可包括基底层1710B，所述基底层1710B具有多条不同直径的配线1710W及位于基底层1710B上的多个层1710Y。底层1710Y顶部的多个层1710Y中的每一者可具有比底层1710Y小的面积，使得底层1710Y可被暴露。所述多个层1710Y的最低层1710Y可具有比基底层1710B小的面积，使得基底层1710B被暴露。基底层1710B可为圆形的，并且所述多个层1710Y中的每一者可为圆的扇区。举例来说，最低层1710Y可为内角为320°的扇区，顶部的下一层1710Y可为内角为280°的扇区，顶部的下一层1710Y可为内角为240°的扇区，顶部的下一层1710Y可为内角为200°的扇区，顶部的下一层1710Y可为内角为160°的扇区，顶部的下一层1710Y可为内角为120°的扇区，顶部的下一层1710Y可为内角为80°的扇区，顶部的下一层1710Y可为内角为40°的扇区。所述多个层1710Y可沿着一侧对齐，形成平坦表面。如图17中所示，所述多个层1710Y可形成不同高度的多个扇区。多条配线1710W可排列在彼此间隔开的同心圆中。多条配线1710W可以配线1710W的直径厚度的顺序排列，使得最粗的配线1710W可为最外圆并且最细的配线1710W可为最内圆。多条配线1710W可具有30AWG、34AWG、36AWG及40AWG的线规。第五测试元件1710可安装在基板1200P的顶侧1100AT上。基底层可由丙烯酸制成。
图17A示出图17中的多个层1710Y的正视图。如图17A中所示，第五测试元件1710可包括多个层1710Y。
图17B示出用于测试件1100的用户评估界面1712的示例性实施例。用户评估界面1712可为第五测试元件1710的评分表。评分表可包括多个ROI(例如，测试区1、测试区2等)。
图17C示出用于对第五测试元件1710的第一评分值及第二评分值进行计算的矩阵1712M。系统100可包括用于一维以上的测试元件1100E的矩阵1712M。举例来说，第五测试元件1710可具有多个层1710Y的厚度的第一维度及多条配线1710W的配线规格的第二维度。矩阵1712M可包括维度及维度的对应评分值。如矩阵1712M中所示，最厚层及最高线规(例如40AWG及7mm)的评分值可具有最高的权重或评分值。
对于客观评估，可由处理器100P检索第五测试元件1710的模板并映射到第五测试元件1710的扫描图像上。可基于模板确定扫描图像的多个ROI。举例来说，ROI可为多个扇区中的每一者中的多条配线1710W上的多条直线。处理器100P可被配置成将直线投射到多个扇区中的每一者上。处理器100P可被配置成沿着每条直线提取轮廓。对于多个轮廓中的每一者，处理器100P可被配置成对由多个层1710Y提供的线的平均值及线的背景的平均值进行计算。处理器100P可被配置成在配线与背景的平均值的差至少是一个标准偏差时指派“可见”状态，并且基于矩阵1712M指派对应的评分值。处理器100P可被配置成基于评分表指派ROI的对应评分值。可对多个扇区中的每一者中的多条配线1710W中的每一条采取相同的步骤。对于主观评估，系统100可提示用户识别在多个扇区中的每一者中可见的配线1710W的数目，并经由多媒体模块100U和/或I/O界面100N输入到系统100中。处理器100P可被配置成接收输入，基于矩阵1712M指派对应的评分值。一旦完成评分表，系统100便可针对扫描仪10的每一性能特征(即，配线分辨率)生成第一评分值及第二评分值，以评估扫描仪10的扫描质量。
图18示出所述多个测试元件1100E中的第六测试元件1810的示例性实施例的透视图。第六测试元件1810可适于对扫描仪10的配线分辨率进行测试。第六测试元件1810可包括具有不同宽度的多个孔1810H的基底层1810B及位于基底层1810B上的多个层1810Y。底层1810Y顶部的多个层1810Y中的每一者可具有比底层1810Y小的面积，使得底层1810Y可被暴露。多个层1810Y中的最低层1810Y可具有比基底层1810B小的面积，使得基底层1810B被暴露。基底层1810B可为圆形的，并且多个层1810Y中的每一者可为圆的扇区。举例来说，最低层1810Y可为内角为320°的扇区，顶部的下一层1810Y可为内角为280°的扇区，顶部的下一层1810Y可为内角为240°的扇区，顶部的下一层1810Y可为内角为200°的扇区，顶部的下一层1810Y可为内角为160°的扇区，顶部的下一层1810Y可为内角为120°的扇区，顶部的下一层1810Y可为内角为80°的扇区，顶部的下一层1810Y可为内角为40°的扇区。多个层1810Y可沿着一侧对齐，形成平坦表面。如图18中所示，多个层1810Y可形成不同高度的多个扇区。基底层可由丙烯酸制成。
图18A示出图18中的基底层1810的俯视示意图。多个孔1810H可排列成一行，孔1810H的宽度以降序排列，使得宽度最宽的孔在该行的一端并且宽度最窄的孔在该行的另一端。多个孔1810H可为贯穿孔。基底层1810B可包括多排孔1810H。多排孔1810H可从基底层1810B的中心径向延伸，并且彼此等距间隔开。多个孔1810H可为圆形的。多个孔1810H的宽度可介于1mm至3mm的范围内。多个孔1810H的宽度可为0.5mm、1.0mm、2.0mm、3.0mm。
图18C示出用于测试件1100的用户评估界面1812的示例性实施例。用户评估界面1812可为第六测试元件1810的评分表。评分表可包括多个ROI(例如，测试区1、测试区2等)。
图18D示出用于对第五测试元件的第一评分值及第二评分值进行计算的矩阵1812M。系统100可包括用于一维以上的测试元件1100E的矩阵1812M。举例来说，第六测试元件1810可具有多个孔1810H的宽度的第一维度及多个扇区的厚度的第二维度。矩阵1812M可包括维度及维度的对应评分值。如矩阵1812M中所示，最厚的层1810Y及最宽宽度(例如7mm及3.0mm)的评分值可具有最高的权重或评分值。
对于客观评估，可由处理器100P检索第六测试元件1810的模板并映射到第六测试元件1810的扫描图像上。可基于模板确定扫描图像的多个ROI。举例来说，ROI可为多个孔1810H及多个扇区中每个孔周围的区域。处理器100P可被配置成对多个孔1810H中的每一者中的像素的平均值及多个孔1810H中的每一者的背景(其由多个层1810Y提供)的平均值进行计算。处理器100P可被配置成在孔与背景的平均值之差是至少一个标准偏差时指派“可见”状态，并且基于矩阵1812M指派对应的评分值。处理器100P可被配置成基于评分表指派ROI的对应评分值。可对多个扇区中的每一者中的多个孔1810H中的每一者采取相同的步骤。对于主观评估，系统100可提示用户识别在多个扇区中的每一者中可见的孔1810H的数目，并经由多媒体模块100U和/或I/O界面100N输入到系统100中。处理器100P可被配置成接收输入，基于矩阵1812M指派对应的评分值。一旦完成评分表，系统100便可针对扫描仪10的每一性能特征(即，配线分辨率)生成第一评分值及第二评分值，以评估扫描仪10的扫描质量。
图19示出总评分汇总表1912的示例性实施例。当已评估了多个测试元件1100E的扫描图像时，系统100可基于多个测试元件1100E的单独的第一评分值及单独的第二评分值生成测试件的总体第一评分值及总体第二评分值，如图19中所示。
系统100可适于测试件的上述实施例中的任一者。第一评分值及第二评分值可被标准化，使得从每一测试件获得的评分被标准化。
系统100可包括移动装置，例如移动电话、平板电脑、膝上型电脑、计算机等。
处理器100P通常对系统100的整体操作进行控制，例如与显示、电话呼叫、数据通信、查看操作及记录操作相关的操作。处理器100P可包括一个或多个处理器，以执行指令来执行上述方法中的所有或部分步骤。另外，处理器100P可包括便于处理器100P与其他模块之间的交互的一个或多个模块。举例来说，处理器100P可包括多媒体模块，以便于多媒体模块100U与处理器100P之间的交互。系统100可经由网络与服务器进行通信。
存储器100M可被配置成存储各种类型的数据，以支持系统100的操作。举例来说，数据可包括用于在系统上操作的任何应用或上述方法的指令、联系人数据、电话簿数据、消息、图片、视频等。存储器100M可使用任何类型的易失性存储器装置或非易失性存储器装置或其组合来实施，例如静态随机存取存储器(SRAM)、电可擦除可编程只读存储器(EEPROM)、可擦除可编程只读存储器(EPROM)、可编程只读存储器(PROM)、只读存储器(ROM)、磁性存储器、闪存存储器、磁盘或光盘。
多媒体模块100U可包括在系统100与用户之间提供输出界面的屏幕。在一些实施例中，屏幕可包括液晶显示器(LCD)、有机发光二极管(OLED)、触摸面板等。如果屏幕包括触摸面板，则屏幕可被实施为触摸屏，以接收来自用户的输入信号。触摸面板可包括一个或多个触摸传感器，以感测触摸面板上的触摸、滑动及手势。触摸传感器不仅可感测触摸或滑动动作的边界，还可感测与触摸或滑动动作相关联的时间段及压力。
音频模块100A可被配置成输出和/或输入音频信号。举例来说，音频模块100A可包括麦克风(“MIC”)，当系统100处于操作模式(诸如呼叫模式、录音模式及语音识别模式)时，配置可接收外部音频信号。接收的音频信号可进一步存储在存储器100M中或者经由通信模块100C发送。在一些实施例中，音频模块100A还包括输出音频信号的扬声器。
I/O界面100N提供处理器100P与外围界面模块(诸如键盘、点拨轮、按钮等)之间的界面。
通信模块100C可被配置成便于系统100与其他装置或服务器之间的有线通信或无线通信。系统100可基于诸如WiFi、2G或3G、LTE及4G蜂窝技术或其组合的通信标准来接入无线网络。在一个示例性实施例中，通信模块100C可经由广播信道从外部广播管理系统接收广播信号或广播相关信息。在一个示例性实施例中，通信模块100C还可包括近场通信(NFC)模块，以便于短距离通信。举例来说，可基于射频识别(RFID)技术、红外数据协会(IrDA)技术、超宽带(UWB)技术、蓝牙(BT)技术及其他技术来实施NFC模块。
所属领域中的技术人员将理解，在一个实例中描述的特征可不限于该实例，并且可与任何一个其他实例进行组合。
本发明涉及一种用于评估扫描仪对测试件的扫描质量的系统及其方法，如在本文中参照附图和/或在附图中所示。

Claims (27)

1.一种用于评估扫描仪对测试件的扫描质量的系统，其特征在于，所述系统包括：
处理器；以及
存储器，所述存储器与所述处理器进行通信以用于存储能够由所述处理器执行的指令，
所述处理器被配置成：
从所述扫描仪接收所述测试件的扫描图像，
显示所述扫描图像，
基于所述扫描图像生成第一评分值，
显示评估输入界面，所述评估输入界面被配置成接收基于对所述扫描图像的评估的用户评估输入，以及
基于所述用户评估输入生成第二评分值，
所述第一评分值和所述第二评分值用于评估所述扫描仪的所述扫描质量。
2.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，所述处理器被配置成确定所述扫描图像中的至少一个感兴趣区(ROI)并且对所述至少一个ROI进行分析以生成所述第一评分值。
3.根据权利要求2所述的系统，其特征在于，所述处理器被配置成检索包括至少一个预定ROI的模板，将所述模板映射到所述扫描图像上以确定所述扫描图像中的所述至少一个ROI。
4.根据权利要求2、3所述的系统，其特征在于，所述处理器被配置成从所述扫描图像的所述至少一个ROI提取图像数据并且通过所提取的所述图像数据生成统计数据，以对所述至少一个ROI的所述图像数据进行分析。
5.根据权利要求2-4中的任一项所述的系统，其特征在于，所述至少一个ROI是基于所述测试件确定的。
6.根据权利要求3-5中的任一项所述的系统，其特征在于，所述模板是基于所述测试件确定的。
7.根据权利要求1-6中的任一项所述的系统，其特征在于，针对CT图像质量分析对所述测试件进行优化。
8.根据权利要求7所述的系统，其特征在于，所述扫描仪具有介于100mm×100mm至2000mm×2000mm的范围内的视场。
9.根据权利要求7、8所述的系统，其特征在于，所述扫描图像具有介于0.5mm至10.0mm的重建体素范围内的图像分辨率。
10.根据权利要求7-9中的任一项所述的系统，其特征在于，所述扫描仪具有扫描速度介于0.01m/s至10.00m/s的范围内的螺旋扫描系统。
11.根据权利要求1-6中的任一项所述的系统，其特征在于，针对透射X射线图像质量分析对所述测试件进行优化。
12.根据权利要求11所述的系统，其特征在于，所述扫描仪具有介于300mm×300mm至4500mm×6000mm的范围内的视场。
13.根据权利要求11、12所述的系统，其特征在于，所述扫描图像具有介于0.3mm至10mm的空间分辨率范围内的图像分辨率。
14.根据权利要求11-13中的任一项所述的系统，其特征在于，所述扫描仪具有扫描速度介于0.01m/s至100km/h的范围内的线性X射线系统。
15.根据权利要求1-6中的任一项所述的系统，其特征在于，针对后向散射X射线图像质量分析对所述测试件进行优化。
16.根据权利要求15所述的系统，其特征在于，所述扫描仪具有介于300mm×300mm至5000mm×12000mm的空间分辨率范围内的视场。
17.根据权利要求15、16所述的系统，其特征在于，所述扫描仪具有扫描速度介于0.01m/s至20km/h的范围内的线性后向散射扫描系统。
18.根据权利要求15-17中的任一项所述的系统，其特征在于，所述扫描图像具有介于0.5mm至20mm的范围内的图像分辨率。
19.根据权利要求11-18中的任一项所述的系统，其特征在于，所述扫描仪是X射线扫描仪。
20.一种用于评估扫描仪对测试件的扫描质量的计算机实施的方法，其特征在于，所述方法包括：
从所述扫描仪接收所述测试件的扫描图像，
显示所述扫描图像，
针对所述扫描图像生成第一评分值，
显示评估输入界面，所述评估输入界面被配置成接收基于对所述扫描图像的评估的用户评估输入，以及
基于所述用户评估输入生成第二评分值，
所述第一评分值和所述第二评分值用于评估所述扫描仪的所述扫描质量。
21.根据权利要求20所述的方法，其特征在于，还包括确定所述扫描图像中的至少一个感兴趣区(ROI)并且对所述至少一个ROI进行分析以生成所述第一评分值。
22.根据权利要求21、22所述的方法，其特征在于，还包括检索包括至少一个预定ROI的模板，将所述模板映射到所述扫描图像上以确定所述扫描图像中的所述至少一个ROI。
23.根据权利要求20-22中的任一项所述的方法，其特征在于，还包括从所述扫描图像的所述至少一个ROI提取图像数据并且通过所提取的所述图像数据生成统计数据，以对所述至少一个ROI的所述图像数据进行分析。
24.一种包括指令的非暂时性计算机可读存储介质，其特征在于，所述指令在由系统中的处理器执行时致使所述系统：
从扫描仪接收测试件的扫描图像，
显示所述扫描图像，
基于所述扫描图像生成第一评分值，
显示评分输入界面，所述评分输入界面被配置成接收用户输入，以及
经由所述评分输入界面接收第二评分值，
所述第一评分值和所述第二评分值用于评估所述扫描仪的扫描质量。
25.一种测试系统，其特征在于，包括根据权利要求1至权利要求19中的任一项所述的系统以及用于评估扫描仪的扫描质量的测试件。
26.根据权利要求25所述的测试系统，其特征在于，所述测试件包括沿着纵向轴线彼此间隔开的多个测试面板，所述多个测试面板中的每一者垂直于所述纵向轴线。
27.根据权利要求25所述的测试系统，其特征在于，所述测试件包括基底面板、可旋转面板，所述基底面板包括第一多个测试元件和纵向轴线，所述可旋转面板包括第二多个测试元件并且沿着所述纵向轴线以枢转方式连接到所述基底面板，所述可旋转面板能够绕所述纵向轴线旋转。
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