TW202143172A - 評估掃描器之掃描品質的系統、方法、電腦可讀儲存媒體及測試系統 - Google Patents

評估掃描器之掃描品質的系統、方法、電腦可讀儲存媒體及測試系統 Download PDF

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Abstract

本發明提供一種用於關於測試件評估掃描器之掃描品質的系統。該系統包括：處理器；及與處理器通訊之記憶體，該記憶體用於儲存藉由處理器可執行的指令，使得處理器經組態以：自掃描器接收測試件的經掃描影像，顯示經掃描影像，基於經掃描影像產生第一得分值，顯示評估輸入介面，該評估輸入介面經組態以基於經掃描影像之評估接收使用者評估輸入，且基於使用者評估輸入產生第二得分值，使得第一得分值及第二得分值用以評估掃描器的掃描品質。另外，提供一種用於評估掃描器之掃描品質的方法。

Description

評估掃描器之掃描品質的系統、方法、電腦可讀儲存媒體及測試系統
[相關申請案的交叉參考]
本申請案主張2019年12月27日申請之新加坡專利申請案第10201913527R號及2020年8月20日申請之新加坡專利申請案第10202008028P號的權益；前述各案的全部內容以引用之方式併入本文中。
本發明係關於一種用於評估掃描器之掃描品質的系統及其方法。
掃描器廣泛用於國家海關處以識別通過海關之物品。舉例而言，CT掃描器及X射線掃描器用以掃描貨物及行李以偵測進入國家或離開國家且進入運輸工具(例如，飛機、輪船)的非法或危險物品。現今，隨著日益增大之物流及人流量，關鍵的是掃描器能夠更快速且準確地掃描物品。因此，重要的是，對掃描器進行維護且定期測試，以確保掃描器的性能達到最佳水平並高於所要求的標準。
存在使得掃描器能夠經測試的若干可用系統。此系統通常包括一測試件，前述測試件能通過掃描器，使得測試件之經掃描影像可經俘獲且隨後予以評估。然而，此類測試件為體積龐大且笨重的，因此難以處置。此外，對於多視圖X射線掃描器，測試件必須經調整以面向掃描器的每一視圖，且每當視圖必須經測試時通過掃描器。因此，測試多視圖掃描器需要的時間將為相當長的。對於一整天具有高流量的海關，掃描器之停機的延長之時段將減低海關的效率。此外，測試件可能無法正確地測試掃描器，此乃由於測試件可能無法提供可用於準確地評估掃描器的經掃描影像。
當測試件經掃描時，經掃描影像通常藉由公務員或測試人員進行視覺檢測及評估。因此，測試結果可為高度不一致的，此乃由於一個公務員的觀點與另一公務員的觀點可能不同。當正在測試數個掃描器時，不一致的測試結果將使得掃描器之校準及執行為不準確的。雖然存在自動地評估經掃描影像以評估測試結果的系統，但歸因於系統限制，例如差的評估程式、測試件，藉由系統進行之評估可能並非準確的。因此，目前的可用系統並不能有效且準確地測試掃描器。
因此重要的是能夠具有克服前述問題的系統。
根據各種實施例，提供一種用於評估測試件上掃描器之掃描品質的系統。前述系統包括：處理器；及與前述處理器通訊之記憶體，前述記憶體用於儲存藉由前述處理器可執行的指令，使得前述處理器經組態以：自前述掃描器接收前述測試件的經掃描影像，顯示前述經掃描影像，基於前述經掃描影像產生第一得分值，顯示評估輸入介面，前述評估輸入介面經組態以基於前述經掃描影像之前述評估接收使用者評估輸入，且基於前述使用者評估輸入來產生第二得分值，使得前述第一得分值及前述第二得分值用以評估前述掃描器的前述掃描品質。
根據各種實施例，前述處理器可經組態以判定前述經掃描影像中的至少一個關注區(region of interest; ROI)，且分析前述至少一個ROI以產生前述第一得分值。
根據各種實施例，前述處理器可經組態以擷取模板，前述模板包含至少一個預定ROI，將前述模板映射於前述經掃描影像上以判定前述經掃描影像中的前述至少一個ROI。
根據各種實施例，前述處理器可經組態以自前述經掃描影像之前述至少一個ROI提取影像資料，且自前述經提取影像資料產生統計資料以分析前述至少一個ROI的前述影像資料。
根據各種實施例，前述至少一個ROI者可基於前述測試件來判定。
根據各種實施例，前述模板可基於前述測試件來判定。
根據各種實施例，前述測試件可針對CT影像品質分析來最佳化。
根據各種實施例，前述掃描器可包括在100 mm × 100 mm至2000 mm × 2000 mm之範圍內的視場。
根據各種實施例，前述經掃描影像可包括在0.5 mm至10.0 mm重建構立體像素之範圍內的影像解析度。
根據各種實施例，前述掃描器可包括螺旋掃描系統，其中掃描速度係在0.01 m/s至10.00 m/s的範圍內。
根據各種實施例，前述測試件可針對透射X射線影像品質分析來最佳化。
根據各種實施例，前述掃描器可包括在300 mm × 300 mm至4500 mm × 6000 mm之範圍內的視場。
根據各種實施例，前述經掃描影像可包括在0.3 mm至10 mm空間解析度之範圍內的影像解析度。
根據各種實施例，前述掃描器可包括線性X射線系統，其中掃描速度係在0.01 m/s至100 km/h的範圍內。
根據各種實施例，前述測試件可針對反向散射X射線影像品質分析來最佳化。
根據各種實施例，前述掃描器可包括在300 mm × 300 mm至5000 mm × 12000 mm空間解析度之範圍內的視場。
根據各種實施例，前述掃描器可包括線性反向散射掃描系統，其中掃描速度係在0.01 m/s至20 km/h的範圍內。
根據各種實施例，前述經掃描影像可包括在0.5 mm至20 mm之範圍內的影像解析度。
根據各種實施例，前述掃描器可為X射線掃描器。
根據各種實施例，提供一種用於評估測試件上掃描器之掃描品質的電腦實施方法。前述方法包括：自前述掃描器接收前述測試件的經掃描影像，顯示前述經掃描影像，產生前述經掃描影像的第一得分值，顯示評估輸入介面，前述評估輸入介面經組態以基於前述經掃描影像之前述評估接收使用者評估輸入，及基於前述使用者評估輸入來產生第二得分值，使得前述第一得分值及前述第二得分值用以評估前述掃描器的前述掃描品質。
根據各種實施例，前述方法可進一步包括：判定前述經掃描影像中的至少一個關注區(ROI)，且分析前述至少一個ROI以產生前述第一得分值。
根據各種實施例，前述方法可進一步包括：擷取模板，前述模板包含至少一個預定ROI，將前述模板映射於前述經掃描影像上以判定前述經掃描影像中的前述至少一個ROI。
根據各種實施例，前述方法可進一步包括：自前述經掃描影像之前述至少一個ROI提取影像資料，且自前述經提取影像資料產生統計資料以分析前述至少一個ROI的前述影像資料。
根據各種實施例，提供一種非暫時性電腦可讀儲存媒體。前述非暫時性電腦可讀儲存媒體包括指令，其中前述指令在藉由系統中之處理器執行時使得前述系統執行以下操作：自前述掃描器接收前述測試件的經掃描影像，顯示前述經掃描影像，基於前述經掃描影像產生第一得分值，顯示評分輸入介面，前述評分輸入介面經組態以接收使用者輸入，及經由前述評分輸入介面接收第二得分值，其中前述第一得分值及前述第二得分值用以評估前述掃描器的前述掃描品質。
根據各種實施例，提供一種測試系統，前述測試系統包含如上文所述之系統及用於評估掃描器之掃描品質的測試件。
根據各種實施例，前述測試件可包括沿著縱向軸線彼此隔開的複數個測試面板，其中前述複數個測試面板中之每一者垂直於前述縱向軸線。
根據各種實施例，前述測試件可包括：基底面板，前述基底面板包含第一複數個測試元件及縱向軸線；可旋轉面板，前述可旋轉面板包含第二複數個測試元件且沿著前述縱向軸線樞轉連接至前述基底面板，其中前述可旋轉面板圍繞前述縱向軸線可旋轉。
在以下實例中，將參看諸圖，在諸圖中，相同特徵運用類似數字來指明。
圖1顯示用於關於測試件評估掃描器10之掃描品質的系統100之例示性實施例。系統100可經組態以與掃描器10通訊。系統100可包括處理器100P，及用於儲存藉由處理器100P可執行之指令的通訊至處理器100P的記憶體100M。處理器100P經組態以：自掃描器10接收測試件的經掃描影像，顯示經掃描影像，基於經掃描影像產生第一得分值，顯示評估輸入介面，前述評估輸入介面經組態以基於經掃描影像之評估接收使用者評估輸入，且基於使用者評估輸入來產生第二得分值，使得第一得分值及前述第二得分值用以評估掃描器10的掃描品質。處理器100P可經組態以基於第一得分值及第二得分值來判定掃描器的掃描品質。系統100可用於評估不同類型之掃描器，例如CT掃描器、X射線掃描器(包括線性X射線掃描器、反向散射X射線掃描器)等的掃描品質。
系統100可包括以下各者中的至少一者：多媒體模組100U，其經組態以顯示經掃描影像及評分輸入介面且接收使用者輸入；音訊模組100A，前述音訊模組經組態以輸入/輸出音訊訊號；一輸入/輸出(input/output；I/O)介面100N，前述I/O介面經態以提供處理器100P與周邊介面模組(例如，鍵盤)之間的介面；及通訊模組100C，前述通訊模組經態以促進系統100與其他裝置或伺服器之間的通訊。系統100可包括經組態以儲存資料的儲存模組，例如，資料庫、雲端伺服器。
系統100能夠對經掃描影像進行客觀評估及主觀評估。基於經掃描影像，系統100能夠關於測試之至少一個態樣，例如空間解析度基於經掃描影像之品質來自動地產生第一得分值。同時，經掃描影像正顯示於多媒體模組100U上以供使用者檢視，且基於經掃描影像之品質的使用者評估，使用者藉由經由多媒體模組100U或I/O介面將輸入資料鍵入至系統中而將使用者評估輸入資料輸入至評估輸入介面中。系統100可接著自使用者評估輸入資料來產生第二得分值。系統100可接著獲得藉由系統100產生的客觀第一得分值及藉由使用者產生的主觀第二得分值兩者。第一得分值及第二得分值兩者可用以評估掃描器10的掃描品質。系統100可自儲存模組擷取預定之第一臨限得分值及預定的第二臨限得分值，且分別比較預定之第一臨限得分值及預定的第二臨限得分值與第一得分值及第二得分值。若第一得分值低於第一臨限得分值或第二得分值低於第二臨限得分值，則系統100可產生失敗訊號且經由使用者裝置，例如平板電腦、膝上型電腦或多媒體模組100U而傳輸失敗訊號至使用者。系統100可經由音訊模組100A產生警報。系統100可計算第一得分值及第二得分值兩者，且產生總得分值。系統100可擷取預定總臨限得分值，且比較前述預定總臨限得分值與總得分值。若總得分值低於總臨限得分值，則系統100可產生失敗訊號且經由使用者裝置或多媒體模組100U而傳輸失敗訊號至使用者。系統100可經由音訊模組100A產生警報。系統100可儲存預定之總臨限得分值、第一臨限得分值、第二臨限得分值於儲存模組中。
圖2顯示用於評估測試件上掃描器10之掃描品質的電腦實施方法之流程圖。方法包括：在區塊202中自掃描器10接收測試件的經掃描影像；在區塊204中顯示經掃描影像；在區塊206中產生經掃描影像的第一得分值；在區塊208中顯示評估輸入介面，前述評估輸入介面經組態以接收基於經掃描影像之評估的使用者評估輸入；及在區塊210中基於使用者評估輸入來產生第二得分值，使得第一得分值及第二得分值用以評估掃描器10的掃描品質。
為了獲得經掃描影像之客觀評分，系統100可經組態以實施以下方法。當測試件之經掃描影像藉由處理器100P接收到時，處理器100P可經組態以判定經掃描影像中的至少一個關注區(ROI)，且分析至少一個ROI以產生第一得分值。至少一個ROI基於測試件來判定。系統100可經組態以擷取具有至少一個預定ROI的模板以判定經掃描影像中的至少一個ROI。系統100可經組態以儲存具有至少一個預定ROI之複數個模板於儲存模組中。處理器100P可擷取具有至少一個預定ROI的一模板，且將模板映射於經掃描影像上以判定經掃描影像中的至少一個ROI。處理器100P可經組態以變換模板以將前述模板映射至經掃描影像。藉由變換模板，處理器100P可對模板進行旋轉、平移及/或縮放至經掃描影像。為了將模板映射至經掃描影像，處理器100P可執行包括圖案匹配、最小平方擬合最小化等的技術。一旦傳輸被執行，處理器100P便可經組態以使用傳輸因子(transformation factor)，例如旋轉、平移及/或縮放因子，以將模板中的至少一個ROI映射於經掃描影像上以判定經掃描影像中的至少一個ROI。
一旦經掃描影像中之至少一個ROI經判定，處理器100P便可經組態以自經掃描影像之至少一個ROI提取影像資料，且自經提取影像資料產生統計資料以分析至少一個ROI的影像資料。處理器100P可經組態以自含有於經掃描影像中之至少一個ROI中之每一者內的個別像素或立體像素值計算參數，例如統計性質集合，前述統計性質包括平均值及標準偏差。處理器100P可自參數計算用以表徵掃描品質的量，例如掃描器10的對比度、均一性、特徵偵測等。舉例而言，處理器100P可計算至少一個ROI之統計性質之間的品質因數(figure of merit)。處理器100P可基於至少一個ROI中之每一者的參數來產生得分值。舉例而言，處理器100P可傳回掃描品質的二元值，例如，真或假、是或否，且在二元值為真的情況下指派得分值。系統100可將評分表儲存於儲存模組中。評分表可包括複數個ROI及對應得分值，其中至少一個ROI中之每一者的二元值用於產生得分值。系統100可擷取針對測試件之評分表以擷取複數個ROI中每一者的得分值。處理器100P可使用評分表來指派至少一個ROI中每一者的得分值。處理器100P可聚合至少一個ROI之得分值以產生第一得分值。
為了獲得經掃描影像之主觀評分，系統100可經組態以實施以下方法。處理器100P可將經掃描影像顯示於多媒體模組，例如顯示器、觸控式螢幕上供使用者檢視。處理器100P可將使用者評估介面顯示於多媒體模組上供使用者檢視。系統100可將評估輸入介面儲存於儲存模組中。評估輸入介面可包括評分表。使用者評估介面之實例可顯示於圖4A中。處理器100P可顯示具有至少一個ROI之測試件的示意圖，使得使用者能夠識別至少一個ROI，且經由多媒體模組或I/O介面，例如鍵盤輸入至少一個ROI中每一者的二元值。若經掃描影像之ROI中的特徵為可見的，則使用者可在使用者評估介面中鍵入「是」。否則，使用者可鍵入「否」。處理器100P可接收至少一個ROI中每一者的二元值，且基於評分表指派至少一個ROI中每一者的得分值。替代地，使用者可使用矩陣將得分值直接鍵入至使用者評估介面中。處理器100P可接收得分值且聚合至少一個ROI之得分值以產生第二得分值。得分值可經加權，使得更難以識別之經設計ROI可更高。將經掃描影像之第一評分及第二評分儲存於伺服器中。將經掃描影像之經分析結果儲存於伺服器中。所儲存資料可經儲存以形成歷史資料以供將來分析。
經掃描影像可經轉換為具有預定影像座標及資料類型的統一格式。以此方式，例如來自各種類型之掃描器10s的各種格式之經掃描影像可經標準化成單一格式。
圖1顯示測試系統，前述測試系統可包括系統100，及如下文所描述的測試件。
圖3顯示用於測試掃描器10之掃描品質之測試件300的例示性實施例之透視圖。測試件300可適合於CT掃描器。測試件300可針對CT影像品質分析經最佳化。掃描器10可具有在100 mm × 100 mm至2000 mm × 2000 mm之範圍內的一視場。掃描器10可具有螺旋掃描系統100，其中掃描速度係在0.01 m/s至10.00 m/s的範圍內。經掃描影像可具有在0.5 mm至10.0 mm重建構立體像素之範圍內的影像解析度。測試件300可包括複數個測試面板310。複數個測試面板310可沿著縱向軸線300L彼此隔開。複數個測試面板310中之每一者關於縱向軸線300L可形成有一角度。複數個測試面板310可垂直於縱向軸線300L，使得複數個測試面板310可平行於彼此。縱向軸線300L可通過複數個測試面板310中的每一者。複數個測試面板310中之每一者可包括中心軸線。縱向軸線300L可通過複數個測試面板310中每一者的中心。複數個測試面板310中之每一者的中心軸線可平行於縱向軸線300L。複數個測試面板310中之每一者可具有圓形輪廓。當複數個測試面板310沿著縱向軸線300L配置時，複數個測試面板310可形成管狀輪廓。測試件300可包括管狀外殼，前述管狀外殼經調適以收容複數個測試面板310。測試件300可為600 mm長且300 mm寬。
圖3A顯示圖3中測試件300的正視圖。圖3B顯示圖3中測試件300的俯視圖。如圖3A及圖3B中所顯示，複數個測試面板310可平行於彼此。複數個測試面板310中的每一者可經設計以測試掃描器10的特定掃描品質。參看圖3B，測試件300之本實施例可包括七個測試面板310。測試件300可以任何組合包括七個測試面板310中的至少一者，或必要時包括其他測試面板310。具有複數個測試面板310之測試件300允許在單一掃描中予以執行多個測試。
圖4顯示複數個測試面板310中之第一測試面板410的例示性實施例之透視圖。第一測試面板410可適合於測試掃描器10的對比度、有效核電荷(Zeffective )及密度解析度。第一測試面板410可包括基底410B，前述基底具有頂側410BT及與頂側410BT相對的底側410BB。基底410B可安裝至基底板410P。基底410B可包括自基底410B內部延伸且延伸出前述基底的複數個狹長元件410E。複數個狹長元件410E可平行於第一測試面板410的中心軸線410L。複數個狹長元件410E可具有相同或不同長度。複數個狹長元件410E可由不同材料製成，使得複數個狹長元件410E具有不同密度。複數個狹長元件410E之材料可選自在有機範圍內的密度範圍，使得可測試前述範圍內的掃描器10之掃描品質及敏感度。舉例而言，材料可包括聚丙烯、聚醯胺12或聚丙烯10%玻璃、聚丙烯30%玻璃、聚醚醚酮、縮醛類均聚物(例如，DelrinTM )、氯化PVC、聚偏二氟乙烯、聚四氟乙烯(例如，TeflonTM )。基底410B可由丙烯酸系(例如，PerspexTM )製成。基底410B可用作用於使掃描器10發射之電子波散射的散射基底。複數個狹長元件410E可經劃分成狹長元件410E的複數個群組。參看圖4，可存在兩個狹長元件群組。一個群組中狹長元件410E之寬度可不同於另一群組中狹長元件410E的寬度。參看圖4，第一狹長元件群組410E1可寬於第二狹長元件群組410E2。第一狹長元件群組410E1可安置成同心組態，從而圍繞中心軸線410L形成環且彼此相等地隔開。第二狹長元件群組410E2可安置成同心組態，從而圍繞中心軸線410L形成環且彼此相等地隔開。第二狹長元件群組410E2可安置於第一狹長元件群組410E1內。複數個狹長元件410E可為桿。基底410B可為圓形、正方形或任何合適形狀。第一測試面板410使得使用者能夠檢視狹長元件410E在空氣中的可見性，亦即，自基底410B且在散射材料內，亦即基底410B中延伸。
圖4A顯示針對測試件300之使用者評估介面412的例示性實施例。使用者評估介面412可為針對第一測試面板410的評分表。評分表可包括複數個ROI，例如步階1、步階2等，及針對複數個ROI中每一者的得分值，例如分數。處理器100P可接收第一測試面板410的經掃描影像，且評估經掃描影像。對於主觀評估，第一測試面板410之模板可藉由處理器100P擷取，且將前述模板映射至第一測試面板410的經掃描影像上。經掃描影像之複數個ROI可基於模板來判定。舉例而言，若第一狹長元件群組410E1之狹長元件直徑為20 mm，則ROI可為半徑為16 mm的圓、可予以判定，前述圓包括狹長元件。整個含有於ROI內的立體像素或像素可經提取以供分析。舉例而言，參數，例如ROI內像素的平均值及標準偏差可予以計算。具有相同面積之分離ROI可在經掃描影像的基底410B內之中心處予以計算。若空氣中兩個步階之間的平均值之間的間距大於一個標準偏差，則步階可被視為可區分的。若步階與基底410B之間的平均值大於一個標準偏差，則步階可被視為在基底410B中可區分的。處理器100P可基於評分表將對應得分值指派至ROI。一旦完成了評分表，系統100便可產生針對掃描器10之每一效能特性，亦即，對比度、Zeffective 及密度解析度的第一得分值及第二得分值以評估掃描器10的掃描品質。
對於主觀評估，使用者可經由多媒體模組100U藉由系統100提示，以區分空氣中且基底410B中複數個狹長元件410E的不同材料之間的灰階。舉例而言，參看圖4，若使用者能夠識別經掃描影像中的步階1(在基底410B上指示為1)與步階2(在基底410B上指示為2)之間的可辨別對比度，則使用者可經由多媒體模組100U及/或I/O介面100N在「主觀、空氣」欄位下的「步階1」中輸入「是」。因此，若步階1並非自步階2可辨別，則使用者可輸入「否」。相同步階針對空氣中且在基底410B中的步階1至8採用。
圖5顯示複數個測試面板310之第二測試面板510的例示性實施例之透視圖。第二測試面板510可適合於測試對掃描器10之光束硬化效應的程度。第二測試面板510可包括三角板510T，前述三角板具有基底部分510TB及與基底相對的頂點(圖5中未顯示)。基底部分510TB及頂點可沿著中心軸線510L。第二測試面板510可包括基底板510P，及與基底板510P隔開的頂板510A。三角板510T可沿著中心軸線510L自基底板510P延伸至頂板510A。三角板510T可由丙烯酸系製成。
圖5A顯示圖5中第二測試面板510之俯視圖的示意圖。如圖5A中所顯示，三角板510T可自基底板510P延伸至頂板510A，使得三角板510T之基底部分510TB連接至基底板510P，且頂點連接至頂板510A。圖5A亦顯示第二測試板510與至少一個ROI的示意圖。舉例而言，對於第二測試件300，可存在八個ROI，亦即測試區1至8。
圖5B顯示針對測試件300之使用者評估介面512的例示性實施例。使用者評估介面512可包括針對第二測試面板510的評分表。評分表可包括複數個ROI，例如測試區1及2、測試區3及4等，前述評分表對應於示意圖及針對複數個ROI中的每一者的得分值，例如分數。處理器100P可接收第二測試面板510的經掃描影像，且評估經掃描影像。對於客觀評估，處理器100P可擷取第二測試面板510的模板，且將前述模板映射至第二測試面板510的經掃描影像上。經掃描影像之複數個ROI可基於模板來判定。舉例而言，三角板510T可被劃分成8個ROI條帶。處理器100P可在複數個ROI中之每一者中提取立體像素或像素。系統100可計算複數個ROI中每一者的參數。舉例而言，若變數小於平均值的預定數目倍，例如2x倍，則處理器100P可根據評分表將對應得分值指派至ROI。
對於主觀評估，使用者可經由多媒體模組100U藉由系統100提示，以識別每一ROI之色彩上是否存在任何變化。舉例而言，參看圖5A，均一著色的第二測試面板510，亦即三角板將指示，掃描器10的掃描品質為可接受的。若使用者能夠識別經掃描影像中之ROI，例如測試區1及2中的均一色彩，則使用者可經由多媒體模組100U及/或I/O介面100N在「測試區1及2」中輸入「是」。因此，若存在ROI中的色彩變化，則使用者可輸入「否」。相同步階可針對測試區1至8採用。一旦完成了評分表，系統100便可產生針對掃描器10之每一效能特性的第一得分值及第二得分值，亦即，光束硬化效應以評估掃描器10的掃描品質。
圖6顯示複數個測試面板310中之第三測試面板610的例示性實施例之透視圖。第三測試面板610可適合於測試掃描器10之空間解析度。第三測試面板610可包括基底板610P、垂直於基底板610P的中心軸線610L，及沿著基底板610P延伸的複數個狹長隆起610R。複數個隆起610R可彼此隔開。複數個隆起610R可具有不同高度，高度具有範圍為5 mm至20 mm的值。複數個隆起610R之高度可在如下間隔內，例如5 mm、10 mm、15 mm、20 mm。複數個隆起610R可自最高至最低依序配置。複數個隆起610R可經分隔成隆起610R的複數個群組。隆起610R之複數個群組中每一者中的隆起610R可具有相同高度。隆起610R之複數個群組中之一者中的隆起610R之高度可不同於隆起610R之複數個群組中之另一者中隆起610R的高度。複數個隆起610R中之每一者自頂部視圖可經楔形塑形，且具有尖端。可配置複數個隆起610R，使得複數個隆起610R之尖端彙聚於中心軸線610L處。
圖6A顯示圖6中第三測試面板610之俯視圖。複數個隆起610R可自中心軸線610L向外延伸，且彼此隔開。如圖6A中所顯示，第一隆起群組610R1可為5 mm高，與第一隆起群組隔開之第二隆起群組610R2可為10 mm高，與第二隆起群組隔開的第三隆起群組610R3為15 mm高，與第三隆起群組隔開的第四隆起群組610R4可為20 mm高。自俯視圖，複數個隆起610R自基底板610P的中心軸線610L輻射。
圖6B顯示圖6中第三測試面板610之正視圖。如圖6B中所顯示，複數個隆起610R可具有自基底板610P延伸的不同高度。第四隆起群組610R4可高於第三隆起群組610R3，前述第三隆起群組可高於第二隆起群組610R2，前述第二隆起群組可高於第一隆起群組610R1。
圖6C顯示第三測試面板610之一區段之俯視圖的示意圖。圖6C顯示具有具一高度之複數個隆起610R的區段。系統100經組態以識別每一高度之複數個隆起610R不再可區分的點。舉例而言，如圖6C中所顯示，若複數個隆起610R不再可區分的點藉由自複數個隆起610R之邊緣起的L2標示，則係不可區分之區的L1可藉由使複數個隆起610R的長度減去L2來計算。
圖6D顯示用於計算第三測試面板610之第一得分值及第二得分值之矩陣612M的例示性實例。系統100可包括具有一個以上維度的針對測試面板之矩陣612M。舉例而言，第三測試面板610可具有複數個隆起610R之高度的第一維度，及複數個隆起610R之寬度的第二維度。矩陣612M可包括兩個維度及前述維度的對應得分值。如矩陣612M中所顯示，最小解析度，例如1 mm之得分值可具有最高權重或得分值。
圖6E顯示針對測試件300之使用者評估介面612的例示性實施例。使用者評估介面612可為針對第三測試面板610的評分表。評分表可包括複數個ROI，例如5 mm測試區、10 mm測試區等，及針對使用者的用以鍵入複數個ROI中每一者之所量測長度L2的空白欄位。處理器100P可接收第三測試面板610的經掃描影像，且評估經掃描影像。對於客觀評估，第三測試面板610之模板可藉由處理器100P擷取，且將模板映射至第三測試面板610的經掃描影像上。處理器100P可基於第三測試面板610之模板識別複數個ROI。舉例而言，處理器100P可自顯示於圖6C中測試區之中心軸線610L向外至複數個隆起610R之區段之邊緣以5 mm間隔界定一組環。對於每一環，處理器100P可經組態以提取立體像素或像素，且計算環周圍的立體像素或像素之最大值及最小值。若立體像素或像素之最小值低於臨限值，例如最大值的20%，則處理器100P可識別環為「可見的」。處理器100P可判定具有最小直徑之「可見」環為區段的解析度限值。相同計算可針對具有其他高度之複數個隆起610R的每一區段執行。對於主觀評估，使用者可經由多媒體模組100U藉由系統100提示，以識別係彼此可區別的每一區段中複數個環610R的寬度。舉例而言，參看圖6C及圖6D，若使用者能夠識別5 mm之測試區的寬度為3 mm，則使用者可經由多媒體模組100U及/或I/O介面100N輸入經指派得分值。處理器100P可基於矩陣612M將對應得分值指派至ROI。相同步階可針對具有不同高度之複數個隆起610R的其他區段採用。一旦完成了評分表，系統100便可產生針對掃描器10之每一效能特性的第一得分值及第二得分值，亦即，空間解析度以評估掃描器10的掃描品質。
圖7顯示複數個測試面板310之第四測試面板710的例示性實施例之透視圖。第四測試面板710可適合於測試掃描器10之對比度解析度。第四測試面板710可又適合於測試掃描器10之空間解析度。第四測試面板710可依據經重建構CT截塊厚度適合於驗證空間及對比度解析度之效能。第四測試面板710可包括基底710B，前述基底具有頂側710BT及與頂側710BT相對的底側(圖7中未顯示)；及延伸穿過頂側710BT及底側的中心軸線710L。第四測試面板710可包括自頂側710BT朝向底側且平行於中心軸線710L延伸的複數個孔710H。複數個孔710H可具有不同深度及寬度。複數個孔710H可具有範圍為5 mm至40 mm之值的深度。複數個孔710H可具有範圍為1 mm至10 mm之值的寬度。基底710B可附接至基底板710P。
圖7A顯示圖7中第四測試面板710之俯視圖。複數個孔710H可經分隔成複數個孔群組710H1。複數個孔群組710H1中的每一者可包括具有增大寬度的孔710H。舉例而言，每一孔群組710H1可包括寬度為1 mm、2 mm、4 mm、6 mm、8 mm及10 mm的孔710H。每一孔群組710H1的深度可彼此不同。舉例而言，複數個孔群組710H1之深度可包括5 mm、10 mm、15 mm、20 mm、25 mm、30 mm、35 mm、40 mm。複數個孔群組710H1中之每一者可安置成直線，其中孔710H自最深孔至最淺孔配置。複數個孔群組710H1中的每一者可自中心軸線710L徑向排成線。基底710B可為圓形、正方形或任何合適形狀。複數個孔710H可為圓形。
圖7B顯示圖7中複數個孔710H及ROI之區段的示意圖。對於客觀評估，當第二測試件300之經掃描影像被接收到時，系統100可基於第四測試面板710之模板來識別複數個ROI。系統100可識別每一孔方位為ROI。系統100可產生複數個ROI中每一者的參數。舉例而言，參看圖7B，處理器100P可識別複數個孔方位及背景區，例如任何孔710H之兩個群組之間的30 mm直徑圓為ROI。處理器100P可計算每一ROI或孔內立體像素或像素的平均值及背景區的標準偏差，且比較兩個值。若孔之平均值為不同於測試區之平均值的至少2個標準偏差，則處理器100P可指派孔為「可見的」。
圖7C顯示針對測試件300之使用者評估介面712的例示性實施例。使用者評估介面712可為針對第四測試面板710的評分表。使用者評估介面712可包括孔710H之寬度及每一孔710H之所指派的得分值。如圖7C中所顯示，得分值可經加權，使得具有較小寬度的孔710H可被指派有較高得分值。處理器可接收第四測試面板710的經掃描影像，且評估經掃描影像。對於客觀評估，第四測試面板710之模板可藉由處理器100P擷取，且將模板映射至第四測試面板710的經掃描影像上。經掃描影像之複數個ROI可基於模板來判定。舉例而言，孔中的每一者可為ROI，且複數個孔群組之間的背景區域可為ROI。整個含有於ROI內的立體像素或像素可經提取以供分析。舉例而言，參數，例如孔內像素的平均值及標準偏差可予以計算且與背景區域之標準偏差予以比較。若孔之平均值為不同於背景區域之平均值的至少2個標準偏差，則處理器100P可判定孔為「可見的」。處理器100P可基於評分表將對應得分值指派至ROI。對於主觀評估，使用者可經由多媒體模組100U藉由系統100提示，以識別可在經掃描影像中看到的每一寬度之孔710H的數目。使用者可經由多媒體模組100U及/或I/O介面100N在評分表中輸入孔的數目，且處理器100P可基於評分表指派對應得分值。一旦完成了評分表，系統100便可產生針對掃描器10之每一效能特性的第一得分值及第二得分值，亦即，對比度解析度以評估掃描器10的掃描品質。
圖8顯示複數個測試面板310中之第五測試面板810的例示性實施例之透視圖。第五測試面板810可適合於測試掃描器10對金屬假影之敏感度。第五測試面板810可包括基底810B，前述基底具有頂側810BT及與頂側810BT相對的底側(圖8中未顯示)；及延伸穿過頂側810BT及底側的中心軸線810L。基底810B可安裝至基底板810P。基底810B可包括自基底810B內部延伸且延伸出前述基底的複數個狹長元件810E。複數個狹長元件810E可平行於中心軸線810L。複數個狹長元件810E可具有相同長度。複數個狹長元件810E可具有不同長度。複數個狹長元件810E之寬度可在1 mm至6 mm的範圍內。複數個狹長元件810E可經劃分成狹長元件810E的複數個群組。一個群組中狹長元件810E之寬度可不同於另一群組中狹長元件810E的寬度。
圖8A顯示複數個狹長元件810E的俯視圖。圖8A顯示狹長元件810E的複數個群組。狹長元件810E的複數個群組可包括以下各者中之至少一者：具有第一寬度，例如1 mm的第一狹長元件群組810E1；具有第二寬度，例如2 mm之第二狹長元件群組810E2；具有第三寬度，例如6 mm的第三狹長元件群組810E3；具有第四寬度，例如6 mm的第四狹長元件群組810E4。複數個狹長元件810E可為桿。基底810B可為圓形、正方形或任何合適形狀。圖8A亦顯示經掃描影像之複數個ROI，例如環。處理器100P可擷取第五測試面板810的模板且映射前述模板以識別經掃描影像的ROI。
圖8B顯示測試件300之使用者評估介面812的例示性實施例。使用者評估介面812可為第五測試面板810的評分表。評分表可包括複數個ROI，例如1 mm導線、2 mm導線等，及針對複數個ROI中每一者的得分值，例如分數。處理器100P可接收第五測試面板810的經掃描影像，且評估經掃描影像。對於客觀評估，第五測試面板810之模板可藉由處理器100P擷取，且將模板映射至第五測試面板810的經掃描影像上。經掃描影像之複數個ROI可基於模板來判定。舉例而言，複數個ROI可為包圍每一狹長元件群組810E1的環。處理器100P可提取複數個ROI中的立體像素或像素，且計算複數個ROI的參數。舉例而言，處理器100P可計算環內立體像素或像素之平均值及標準偏差，如圖8A中所顯示。若在環內存在大於預定數目，例如五個立體像素或像素、距平均值大於3個標準偏差，則處理器100P可指派複數個狹長元件810E為「可見的」。處理器100P可基於評分表將對應得分值指派至複數個ROI。相同步階可針對具有不同寬度之狹長元件810E的其他群組採用。對於主觀評估，使用者可經由多媒體模組100U藉由系統100提示，以設定複數個環通過空氣中且基底810B中的複數個狹長元件810E。系統100可向使用者提示以覆蓋經掃描影像中環之內部部分，且經由多媒體模組100U及/或I/O介面100N提供狹長元件810E之群組的跡線(traces)在環中是否可見的輸入。處理器100P可經組態以指派狹長元件810E之群組的跡線是否皆為不可見的對應得分值。相同步階可針對空氣中且基底810B中的狹長元件810E的其他群組採用。一旦完成了評分表，系統100便可產生針對掃描器10之每一效能特性的第一得分值及第二得分值，亦即，金屬假影敏感度以評估掃描器10的掃描品質。
圖9顯示複數個測試面板310中之第六測試面板910的例示性實施例之透視圖。第六測試面板910可適合於測試掃描器10之網格及空間解析度。第六測試面板910可包括基底910B，前述基底具有頂側910BT及與頂側910BT相對的底側(圖9中未顯示)；及延伸穿過頂側910BT及底側的中心軸線910L。基底910B可包括平行於頂側910BT的狹長槽910S的陣列，及朝向底側之凹座。槽910S之陣列可包括具有不同寬度及/或長度的複數個槽910S。槽910S之陣列中的每一者可包括橫向導線(圖9中未顯示)，前述橫向導線平行於基底910B之頂側910BT且與前述頂側隔開以形成橫向導線的陣列。每一橫向導線可在槽910S之陣列中的每一者中線性延伸。槽910S之陣列中的每一者可包括具有一直徑的橫向導線，前述直徑對應於槽910S的寬度及長度。複數個槽910S可經配置以在之間存在間隙910G情況下平行於彼此以形成槽910S的陣列。槽910S之陣列在陣列之一個末端處配置有最寬且最長槽，且在陣列之另一末端處具有最窄且最短槽。間隙910G中每一者的寬度可自陣列之一個末端至另一末端減低。槽910S的陣列可經配置成槽910S的複數個群組。複數個群組中之每一者可包括具有相同寬度及長度的槽910S，且其之間的間隙910G可具有與槽910S相同的寬度。如圖9A中所顯示，複數個槽群組910S1中的每一者可包括三個槽910S。陣列之一個末端處的槽群組910S1可具有具最寬間隙910G的最寬且最長槽910S，且陣列之另一末端處的群組910S1可具有具最窄間隙910G的最窄且最短槽910S。第六測試面板910可包括槽910S的一個以上陣列，例如兩個陣列。複數個槽910S之寬度及複數個橫向導線的直徑可包括1 mm、2 mm、3 mm、4 mm、6 mm等中的至少一者。槽的寬度及橫向導線之直徑可按需要針對測試予以判定。舉例而言，槽910S之一個群組及導線可為1 mm，另一群組可為2 mm。
第六測試面板910可包括一列縱向導線910W。前述列縱向導線910W可包括複數個縱向導線910W，前述複數個縱向導線平行於中心軸線910L，亦即垂直於頂側910BT且自頂側910BT延伸至底側且彼此隔開。前述列縱向導線910W中導線910W的直徑自列之一個末端至列的另一末端增大。舉例而言，縱向導線之線規可包括24AWG、30AWG、32AWG、36AWG中的至少一者。第六測試面板910可包括一個以上列的縱向導線910W。前述列的縱向導線910W允許測試件300測試掃描器10的導線解析度。導線解析度判定掃描器10的以高對比度解析精細導線的能力。第六測試面板910允許掃描器10之網格解析度及導線解析度兩者經同時測試。基底910B可由丙烯酸系製成。
圖9A顯示圖9中第六測試面板910之俯視圖。槽910S之陣列可橫向於中心軸線910L排成線。槽910S之每一群組可包括三個槽910S、具有相同長度及寬度的橫向導線及彼此等距地隔開的空間。槽910S之每一群組的長度及寬度以及其之間的空間隨著槽910S之下一群組減低。槽910S之陣列可包括以下各者中之至少一者：具有第一寬度，例如6 mm的第一槽群組910S1；具有第二寬度，例如4 mm之第二槽群組910S2；具有第三寬度，例如3 mm的第三槽群組910S3；具有第四寬度，例如2 mm的第四槽群組910S4；及具有第五寬度，例如1 mm的第五槽群組910S5。槽910S之群組中的每一槽具有具一直徑的橫向導線，前述直徑對應於槽的寬度。可存在一或多列縱向導線910W。每一列縱向導線910W可包括縱向導線910W，前述縱向導線具有24AWG、30AWG、32AWG及36AWG的線規。
圖9B顯示針對測試件300之使用者評估介面912的例示性實施例。使用者評估介面912可為針對第六測試面板910的評分表。評分表可包括複數個ROI，例如24AWG、1 mm網格等，及針對複數個ROI中每一者的得分值，例如分數。處理器100P可接收第六測試面板910的經掃描影像，且評估經掃描影像。對於客觀評估，第六測試面板910之模板可藉由處理器100P擷取，且將前述模板映射至第六測試面板910的經掃描影像上。經掃描影像之複數個ROI可基於模板來判定。處理器100P可經組態以實施評估經掃描影像的分離方法。系統100可識別第六測試面板910之模板上的複數個ROI基底910B。對於複數個縱向導線910W之經掃描影像的客觀評估，處理器100P可經組態以經由ROI中的每一者計算一系列線輪廓且沿著縱向導線910W之長度對前述系列輪廓進行加總。處理器100P可經組態以關於經加總值量測縱向導線基底910B之中心處的峰值之高度，計算包圍縱向導線910W之立體像素或像素的平均值，且比較峰值高度與平均值。若縱向導線910W之峰值高度大於周圍平均值中雜訊之標準偏差的預定數目倍，例如3倍，則處理器100P可指派縱向導線910W之狀態為「可見的」。對於複數個導線群組的客觀評估，處理器100P可經組態以對平行於導線群組之方向上的立體像素或像素的值進行加總，且越過導線群組之輪廓經由經加總值來分析輪廓。處理器100P可經組態以計算每一導線群組中立體像素或像素的最大值及最小值。若最小值小於最大值的預定之百分數，例如20%，則處理器100P可指派導線群組為「可見」的狀態。處理器100P經組態以基於評分表為複數個ROI指派得分值。對於主觀評估，使用者可經由多媒體模組100U藉由系統100提示，以識別複數個縱向導線及導線群組。若使用者能夠識別縱向導線及導線群組，則使用者可經由多媒體模組100U及/或I/O介面100N模組將結果輸入評分表中。處理器100P可經組態以基於評分表將對應得分值指派至ROI。一旦完成了評分表，系統100便可產生針對掃描器10之每一效能特性的第一得分值及第二得分值，亦即，網格及空間解析度以評估掃描器10的掃描品質。
圖10顯示複數個測試面板310中之第七測試面板1010的例示性實施例之透視圖。第七測試面板1010可適合於測試掃描器10對小型包括物之敏感度。第七測試面板1010可包括基底1010B及通過基底1010B的中心軸線1010L。基底1010B可包括至少一個基底面板1010BP。至少一個基底面板1010BP可包括複數個孔1010H。複數個孔1010H可具有不同直徑。複數個通孔1010H可具有範圍為1.0 mm至3.0 mm的直徑。舉例而言，複數個孔1010H之直徑可為1.0 mm、1.5 mm、2.0 mm、2.5 mm及3.0 mm。複數個孔1010H可為通過基底面板1010BP的通孔。基底面板1010BP可包括複數個孔1010H中之每一者中的銷(圖10中未顯示)。銷可由錫或其他材料製成。複數個孔1010H可圍繞中心軸線1010L配置成同心圓，且彼此等距地隔開。複數個孔1010H可在逆時針方向上以升序或降序藉由孔1010H的大小來配置。如圖10中所顯示，基底1010B可包括上部基底面板1010UP及下部基底面板1010LP。
圖10A及圖10B顯示圖10中基底1010B之上部基底面板1010UP及下部基底面板1010LP的俯視圖。圖10A顯示上部基底面板1010UP，且圖10B顯示下部基底面板1010LP。上部基底面板1010UP及下部基底面板1010LP可堆疊於彼此上，使得每一基底面板1010BP的複數個孔1010H並不彼此對準。舉例而言，參看圖10A，複數個孔1010H可經定向，使得複數個孔1010H中之一者可形成關於參考線1010F的約72.0°之角度，且參看圖10B，複數個孔1010H可經定向，使得複數個孔1010H中的一者自參考線1010F形成約36.0°的角度。下部基底面板1010LP中的複數個孔1010H可包括銷。
圖10C顯示針對測試件300之使用者評估介面1012的例示性實施例。使用者評估介面1012可為針對第七測試面板1010的評分表。評分表可包括複數個ROI，例如1.0 mm、2.0 mm等，及針對複數個ROI中每一者的得分值，例如分數。處理器100P可接收第七測試面板1010的經掃描影像，且評估經掃描影像。處理器100P可接收上部基底面板1010UP及下部基底面板1010LP的經掃描影像。對於客觀評估，第七測試面板1010之模板可藉由處理器100P擷取，且將前述模板映射至第七測試面板1010的經掃描影像上。經掃描影像之複數個ROI可基於模板來判定。對於客觀評估，處理器100P可識別複數個孔1010H及背景區，例如每一基底面板1010BP之複數個孔1010H之間的20 mm直徑圓為複數個ROI。處理器100P可經組態以計算每一ROI內立體像素或像素的平均值，亦即基底面板1010BP及背景區中每一者中的複數個孔1010H。若複數個孔1010H之平均值距每一基底面板1010BP之背景區的平均值為至少2個標準偏差，則處理器100P可指派孔為「可見的」。對於主觀評估，使用者可經由多媒體模組100U藉由系統100來提示以識別無銷情況下上部基底面板1010BP之經掃描影像中及有銷情況下下部基底面板1010BP的經掃描影像中的複數個孔1010H。若使用者能夠識別複數個孔，則使用者可經由多媒體模組100U及/或I/O介面100N模組將結果輸入評分表中。處理器100P可基於評分表將對應得分值指派至ROI。一旦完成了評分表，系統100便可產生針對掃描器10之每一效能特性的第一得分值及第二得分值，亦即，網格及空間解析度以評估掃描器10的掃描品質。
圖10D顯示總體評分概述表1014的例示性實施例。當複數個測試面板310之經掃描影像已經評估時，系統100可基於如圖10D中所顯示的測試面板310之個別第一得分值及個別第二得分值來產生測試件300的總第一得分值及總第二得分值。
圖11A顯示測試件1100之例示性實施例的俯視圖。測試件1100可針對透射X射線影像品質分析經最佳化。掃描器10可具有在300 mm × 300 mm至4500 mm × 6000 mm之範圍內的一視場。掃描器10可具有線性X射線系統100，其中掃描速度係在0.01 m/s至100 km/h的範圍內。經掃描影像可具有在0.3 mm至10.0 mm空間解析度之範圍內的影像解析度。測試件1100可針對反向散射X射線影像品質分析經最佳化。掃描器10可具有在300 mm × 300 mm至5000 mm × 12000 mm空間解析度之範圍內的一視場。掃描器10可具有線性反向散射掃描系統100，其中掃描速度係在0.01 m/s至20 km/h的範圍內。經掃描影像可具有在0.5 mm至20 mm之範圍內的影像解析度。
測試件1100可包括基底面板1100A，前述基底面板具有縱向軸線1102L及沿著縱向軸線1102L樞轉連接至基底面板1100A的可旋轉面板1100B，使得可旋轉面板1100B為圍繞縱向軸線1102L可旋轉的。基底面板1100A可包括用於測試掃描器10之掃描品質的第一複數個測試元件1100E。可旋轉面板1100B可包括用於測試掃描器10之掃描品質的第二複數個測試元件1100E。第一複數個測試元件1100E可相同於第二複數個測試元件1100E。當自俯視圖檢視時，可旋轉面板1100B的第二複數個測試元件1100E相較於基底面板1100A之第一複數個測試元件1100E的定向經反向。基底面板1100A可包括一或多個測試元件1100E。如圖11A中所顯示，基底面板1100A可包括六個測試元件1100E。測試件1100可包括殼體1120，前述殼體經調適以在其中含有前述測試件。殼體1120可包括經調適以包封基底面板1100A之第一部分1120A及經調適以包封可旋轉面板1100B的第二部分1120B。殼體1120可包括把手1120H，前述把手包括連接至第一部分1120A之第一半及連接至第二部分1120B的第二半。具有第一複數個測試元件1100E之測試件1100允許多個測試在單一掃描中予以執行。
參看圖11A，可旋轉面板1100B可沿著側向軸線1102M樞轉地連接至基板面板1100A。側向軸線1102M可垂直於縱向軸線1102L。側向軸線1102M可在與縱向軸線1102L相同之平面中。如圖11A中所顯示，基底面板1100A可具有頂側1100AT、與頂側1100AT相對的底側1100AB、自頂側1100AT延伸至底側1100AB的左側1100AL及右側1100AR，且可旋轉面板1100B可具有頂側1100BT、與頂側1100BT相對的底側1100BB，自頂側1100BT延伸至底側1100BB的左側1100BL及右側1100BR。測試件1100可包括鉸鏈1120H，前述鉸鏈附接至基底面板1100A之右側1100AR及可旋轉面板1100B的左側1100BL以使得可旋轉面板1100B能夠圍繞側向軸線1102M旋轉。鉸鏈1120H可經調適以允許可旋轉面板1100B圍繞縱向軸線1102L旋轉。
圖11B顯示處於旋轉位置之測試件1100的正視圖。殼體1120之部分已經移除以顯示基底面板1100A及可旋轉面板1100B的橫截面圖。可旋轉面板1100B可圍繞縱向軸線1102L旋轉達經旋轉位置。可旋轉面板1100B可圍繞鉸鏈1100H旋轉。可旋轉面板1100B可經旋轉以形成可旋轉面板1100B與基底面板1100A之間的角度。可旋轉面板1100B可經旋轉，使得角度可自1°至90°。
圖11C顯示處於關閉位置時測試件1100的正視圖。殼體1120之部分已經移除以顯示基底面板1100A及可旋轉面板1100B的橫截面圖。可旋轉面板1100B可圍繞縱向軸線1102M (在圖11C中未顯示)可旋轉，以在如下兩者之間旋轉：關閉位置，其中可旋轉面板1100B經旋轉以面向基底面板1100A (如圖11C中所顯示)；及打開位置，其中可旋轉面板1100B可處於與基底面板1100A相同的平面中(如圖11A中所顯示)。圖11中之測試件1100可已知為處於攜載模式，在前述模式中，使用者可藉由把手1120H攜載測試件1100。
圖11D顯示處於打開位置的圖11A中之測試件1100的正視圖。殼體1120之部分已經移除以顯示基底面板1100A及可旋轉面板1100B的橫截面圖。基底面板1100A可安裝至殼體1120之第一部分1120A上，且可旋轉面板1100B可安裝至殼體1120的第二部分1120B上。
圖11E顯示用於雙重視圖掃描器1020中測試件1100的正視圖。測試件1100允許藉由單一視圖或雙重視圖掃描器，例如X射線掃描器來進行的單一掃描以產生2D經掃描影像。歸因於圍繞縱向軸線1102L旋轉的靈活性，測試件1100能夠經調整以適合於任何位置處雙重視圖掃描器之視圖的方位。如圖11E中的兩個圖中所顯示，雖然雙重視圖掃描器1020中視圖1020C的方位可不同，但測試件1100可藉由以下操作來定向：旋轉可旋轉面板1100B且根據雙重視圖掃描器1020中視圖1020C的方位置放基底面板1100A，以使得測試件1100正交於掃描器10的光束。與被需要以根據每一視圖被置放且在雙重視圖掃描器1020中掃描兩次的習知測試件相比較，本發明之測試件1100允許單次掃描以在雙重視圖掃描器1020中測試視圖兩次。另外，測試件1100為緊湊且輕型的。因此，測試件1100為攜帶型的且易於使用。如上文所提及，測試件1100可運用把手1120H在殼體1120中隨身攜載。當在使用中時，殼體1120可經打開，使得殼體1120之第二部分1120B與可旋轉面板1100B一起可圍繞側向軸線1102M自關閉位置至打開位置旋轉。當在殼體1120之第一部分1120A中與基底面板1100A一起覆疊於掃描器10上時，殼體1120之第二部分1120B與可旋轉面板1100B一起可根據掃描器10之視圖成角度。因此，掃描器10可藉由使測試件1100通過一次來獲得經掃描影像而進行測試，亦即，測試件1100允許通過雙重視圖掃描器1020單一遍次。掃描器10之每一視圖可包括X射線產生器及複數個X射線偵測元件。
圖12顯示基底面板1100A及/或可旋轉面板1100B之基底板1200P的例示性實施例之透視圖。基底面板1100A可包括經調適以在上面安裝測試元件1100E的基底板1200P。基底板1200P可包括頂側1200PT及與頂側1100AT相對的底側1100AB (圖12中未顯示)。基底板1200P可包括複數個凹座1200PR，前述複數個凹座經調適以將複數個測試元件1100E收納於其中。
圖13A顯示複數個測試元件1100E之第一測試元件1310的例示性實施例之俯視圖的示意圖。第一測試元件1310可適合於測試掃描器10之穿透位準。第一測試元件1310可包括具有不同高度的複數個區塊1310B。舉例而言，複數個區塊1310B可包括八個區塊1310B，每一區塊具有不同高度，例如2  mm、4 mm、6 mm、8 mm、10 mm、12 mm、14 mm、16 mm。複數個區塊1310B可按高度以降序配置。複數個區塊1310B可形成步階，前述步階在一個末端處具有最高區塊且在與一個末端相對的另一末端處具有最低區塊。複數個區塊1310B中之每一者可為楔形，使得複數個區塊1310B可經配置以形成圓形區塊，如圖13A中所顯示。複數個區塊1310B可由鋼製成。複數個區塊1310B可安裝於基底板1200P之頂側1200PT (圖13A中未顯示)上。第一測試元件1310可包括在複數個區塊1310B下方的中心區塊1310C。中心區塊1310C可具有不同於複數個區塊1310B的材料。中心區塊1310C可由鉛製成。當前區塊1310C可嵌入於基底板1200P中。參看圖12，基底板1200P可包括經調適以收納中心區塊1310C的第一凹座1200PR1。當前區塊1310C可為圓形。
圖13B顯示圖13A中第一測試件1100之橫截面視圖的示意圖。第一測試元件1310可包括在複數個區塊1310B下方的底部區塊1310M。底部區塊1310M可安置於中心區塊1310C下方，使得中心區塊1310C可安置於複數個區塊1310B與底部區塊1310M之間。底部區塊1310M可安裝至基底板1200P的底側。底部區塊1310M可為22 mm厚。如圖13B中所顯示，複數個區塊1310B可具有不同高度。底部區塊1310M可為圓形。
圖13C顯示針對測試件1100之使用者評估介面1312的例示性實施例。使用者評估介面1312可為針對第一測試元件1310的評分表。評分表可包括複數個ROI，例如步階1、步階2等，及針對複數個ROI中每一者的得分值，例如分數。處理器100P可接收第一測試元件1310的經掃描影像，且評估經掃描影像。對於主觀評估，第一測試元件1310之模板可藉由處理器100P擷取，且將前述模板映射至第一測試元件1310的經掃描影像上。經掃描影像之複數個ROI可基於模板來判定。舉例而言，一或多個ROI可在有或無中心區塊1310C的情況下在複數個區塊1310B中的每一者中予以判定。處理器100P可經組態以計算複數個ROI的平均值及標準偏差。若具有中心區塊1310C之區塊的ROI中之平均值與無中心區塊1310C之區塊的ROI之間的差大於一個標準偏差，則處理器100P可將步階之狀態指派為「可見的」。處理器100P可經組態以基於評分表將對應得分值指派至ROI。對於主觀評估，使用者可經由多媒體模組100U藉由系統100提示以區分具有中心區塊1310C之區塊之部分與無中心區塊1310C之區塊之部分之間的清楚步階。處理器100P可經由多媒體模組100U或I/O模組接收步階為可見的一輸入，且基於評分表1312指派對應評分表。處理器100P可基於評分表將對應得分值指派至ROI。相同步階可針對其他複數個區塊1310B採用。一旦完成了評分表，系統100便可產生針對掃描器10之每一效能特性的第一得分值及第二得分值，亦即，穿透位準以評估掃描器10的掃描品質。
圖14A顯示複數個測試元件1100E之第二測試元件1410的例示性實施例之俯視圖的示意圖。第二測試元件1410可適合於測試掃描器10對在不同複合物之材料之間進行辨別的能力。第二測試元件1410可適合於測試對有效核電荷(Zeffective )進行測試的能力。第二測試元件1410可包括複數個區塊1410B，前述複數個區塊由不同材料製成，使得複數個區塊1410B具有不同密度。複數個區塊1410B中之每一者可為楔形，使得複數個區塊1410B可經配置以形成圓形區塊，如圖14A中所顯示。複數個區塊1410B可安裝於基底板之頂側1200PT (圖14A中未顯示)上。複數個區塊1410B可具有相同高度。複數個區塊1410B之材料可選自在有機範圍內的密度範圍，使得可測試前述範圍內的掃描器10之掃描品質及敏感度。舉例而言，材料可包括聚丙烯、聚醯胺12或聚丙烯10%玻璃、聚丙烯30%玻璃、聚醚醚酮、縮醛類均聚物(例如，DelrinTM )、氯化PVC、聚偏二氟乙烯、聚四氟乙烯(例如，TeflonTM )。基底可由丙烯酸系(例如，PerspexTM )製成。
圖14B顯示針對測試件1100之使用者評估介面1412的例示性實施例。使用者評估介面1412可為針對第二測試元件1410的評分表。評分表可包括複數個ROI，例如測試區1、測試區2等，及針對複數個ROI中每一者的得分值，例如分數。處理器100P可接收第二測試元件1410的經掃描影像，且評估經掃描影像。對於主觀評估，第二測試元件1410之模板可藉由處理器100P擷取，且將前述模板映射至第二測試元件1410的經掃描影像。經掃描影像之複數個ROI可基於模板來判定。舉例而言，一或多個ROI可在複數個區塊1410B中的每一者中予以判定。處理器100P可經組態以自掃描器10接收針對複數個ROI中每一者的Zeffective 值。處理器100P可經組態以計算複數個ROI中每一者的Zeffective 值的平均值及標準偏差。若一個區塊，例如測試區1的ROI之平均值相較於下一區塊，例如測試區2的平均值大於一個標準偏差且基於評分表1312指派對應得分值，則處理器100P可經組態以指派「是」狀態。處理器100P可經組態以基於評分表指派ROI的對應得分值。相同步階可針對其他複數個區塊1410B採用。對於主觀評估，系統100可提示使用者以基於複數個區塊1410B的材料類型(Zeffective 值)而設定掃描器10以著色。系統100可提示使用者判定一個區塊是否自相鄰區塊可區分。系統100可經組態以接收一個區塊是否自相鄰區塊可區分的一輸入且基於使用者評估介面1412指派針對兩個區塊1410B的對應得分值。處理器100P可經組態以基於評分表指派ROI的對應得分值。一旦完成了評分表，系統100便可產生針對掃描器10之每一效能特性的第一得分值及第二得分值，亦即，穿透位準以評估掃描器10的掃描品質。
圖15顯示複數個測試元件1100E中第三測試元件1510的例示性實施例之俯視圖。第三測試元件1510可適合於測試掃描器10之空間解析度。第三測試元件1510可包括板1510D及前述板上的複數個條帶1510S。複數個條帶1510S中的每一者可經楔形塑形，使得每一條帶具有寬闊末端及與前述寬闊末端相對的鋒利尖端。複數個條帶1510S之鋒利尖端可彙聚於中心點1510C處，且複數個條帶的寬闊末端可彼此隔開。複數個條帶1510S可形成截頭風扇。第三測試元件1510可安裝於基底板之頂側1200PT (圖15中未顯示)上。複數個條帶1510S可由鋼製成。
圖15A顯示測試件1100之使用者評估介面1512的例示性實施例。使用者評估介面1512可為第三測試元件1510的評分表。評分表可包括複數個ROI，例如05 mm測試區、1.0 mm測試區等，及針對複數個ROI中每一者的得分值，例如分數。處理器100P可接收第三測試元件1510的經掃描影像，且評估經掃描影像。對於主觀評估，第三測試元件1510之模板可藉由處理器100P擷取，且將前述模板映射至第三測試元件1510的經掃描影像。經掃描影像之複數個ROI可基於模板來判定。舉例而言，ROI可為距中心點1510C處於各種半徑的複數個圓形線條1510R。處理器100P可經組態以越過複數個條帶1510S，亦即超出截頭風扇的一側至超出另一側投影距中心點1510C之恆定半徑的圓形線條1510R (參見圖15)。處理器100P可經組態而以距中心點1510C的半徑(例如，1 mm、2 mm等)的預定間隔沿著每一圓形線條1510R計算強度輪廓。對於強度輪廓中之每一者，處理器100P可經組態以計算峰與谷之間的調變。舉例而言，處理器100P可經組態以計算峰與谷之間的平均值及標準偏差。若峰與谷之平均值上的差為至少一個偏差、上捨入至最近的0.5 mm半徑且基於使用者評估介面1512指派對應得分值，則處理器100P可經組態以指派「可見」狀態。處理器100P可經組態以基於評分表指派ROI的對應得分值。相同步階可如使用者評估介面1512中所顯示針對其他預定半徑採用。對於主觀評估，系統100可提示使用者識別複數個條帶1510S彼此融合的點與前述複數個條帶不再可區分的點。基於在複數個條帶1510S之側處指派的半徑，系統100可經由多媒體模組100U或I/O介面100N模組自使用者接收輸入，複數個條帶1510S可見所在的半徑。舉例而言，若複數個條帶1510S在2.0 mm的半徑可見，則使用者可鍵入2.5 mm及3.0 mm的半徑。處理器100P可基於評分表指派對應得分值。一旦完成了評分表，系統100便可產生針對掃描器10之每一效能特性的第一得分值及第二得分值，亦即，空間解析度以評估掃描器10的掃描品質。
圖16顯示複數個測試元件1100E中第四測試元件1610的例示性實施例之俯視圖。第四測試元件1610可適合於測試掃描器10之網格解析度。第四測試元件1610可包括板1610D及前述板上的具有不同寬度的複數個條1610S。複數個條1610S可經分組成具有不同寬度的條1610S的複數個群組。條1610S之每一群組中的複數個條1610S可具有相同長度。條1610S之每一群組中的複數個條1610S可藉由具有與複數個條1610S相同的寬度之間隙彼此隔開。複數個條1610S可由鋼製成。複數個條1610S可具有範圍為0.5 mm至3.0 mm的寬度。條1610S之複數個群組可按0.5 mm、1.0 mm、1.5 mm、2.0 mm、2.5 mm、3.0 mm的寬度分組。條1610S之複數個群組可按升序根據寬度配置。複數個條1610S可配置成兩個區段，使得一個區段中複數個條1610S垂直於另一區段中的複數個條1610S。
圖16A顯示針對測試件1100之使用者評估介面1612的例示性實施例。使用者評估介面1612可為針對第四測試元件1610的評分表。評分表可包括複數個ROI，例如0.5 mm測試區、1.0 mm測試區等，及針對複數個ROI中每一者的得分值，例如分數。處理器100P可接收第四測試元件1610的經掃描影像，且評估經掃描影像。對於主觀評估，第四測試元件1610之模板可藉由處理器100P擷取，且將前述模板映射至第四測試元件1610的經掃描影像上。經掃描影像之複數個ROI可基於模板來判定。舉例而言，ROI可為越過條1610S之每一群組的複數個線性線條1610R。處理器100P可經組態以越過條1610S的每一群組投影線性線條1610R (參見圖16)。處理器100P可經組態以沿著每一線性線條1610R提取輪廓。對於複數個輪廓中之每一者，處理器100P可經組態以計算輪廓中峰與谷的平均值及標準偏差。處理器100P可經組態以在峰與谷之平均值上的差為至少一個標準偏差的情況下指派「可見」狀態，且基於評分表指派對應得分值。相同步階可針對條1610S的數個群組採用。僅在兩個區段中條1610S之兩個群組為「可見」的情況下，處理器100P可指派對應得分值。對於主觀評估，系統100可提示使用者以在經由多媒體模組100U或I/O介面100N模組將「可見」狀態輸入至系統100之前識別條1610S之每一群組中的所有條1610S。處理器100P可接收輸入，且基於使用者評估介面1512指派對應得分值。僅在兩個區段中條1610S之兩個群組為「可見」的情況下，處理器100P可指派對應得分值。一旦完成了評分表，系統100便可產生針對掃描器10之每一效能特性的第一得分值及第二得分值，亦即，網格解析度以評估掃描器10的掃描品質。
圖17顯示複數個測試元件1100E中第五測試元件1710的例示性實施例之透視圖。第五測試元件1710可適合於測試掃描器10之網格解析度。第五測試元件1710可包括基底層1710B，前述基底層具有具不同直徑的複數個導線1710W；及基底層1710B上的複數個層1710Y。底層1710Y之頂部上的複數個層1710Y中的每一者相較於底層1710Y可具有較小面積，使得底層1710Y可被暴露。複數個層1710Y的最低層1710Y相較於基底層1710B可具有較小區域，使得基底層1710B被暴露。基底層1710B可為圓形，且複數個層1710Y中的每一者可為圓的扇區。舉例而言，最底層1710Y可為具有320°之內角的扇區，最底層頂部上的下一層1710Y可為具有280°內角的扇區，下一層頂部上的下一層1710Y可為具有240°內角的扇區，下一層頂部上的下一層1710Y可為具有200°內角的扇區，下一層頂部上的下一層1710Y可為具有160°內角的扇區，下一層頂部上的下一層1710Y可為具有120°內角的扇區，下一層頂部上的下一層1710Y可為具有80°內角的扇區，且下一層頂部上的下一層1710Y可為具有40°內角的扇區。複數個層1710Y可沿著其一側對準，從而形成平坦表面。如圖17中所顯示，複數個層1710Y可形成具有不同高度的複數個扇區。複數個導線1710W可配置成彼此隔開的同心圓。複數個導線1710W可按導線1710W之直徑之厚薄指數的次序配置，使得最粗導線1710W可為最外圓，且最細導線1710W可為最內圓。複數個導線1710W可具有30AWG、34AWG、36AWG及40AWG的線規。第五測試元件1710可安裝於基底板1200P之頂側1100AT上。基底層可由丙烯酸系製成。
圖17A顯示圖17中複數個層1710Y的正視圖。如圖17A中所顯示，第五測試元件1710可包括複數個層1710Y。
圖17B顯示針對測試件1100之使用者評估介面1712的例示性實施例。使用者評估介面1712可為針對第五測試元件1710的評分表。評分表可包括複數個ROI，例如測試區1、測試區2等。
圖17C顯示用於計算第五測試元件1710之第一得分值及第二得分值之矩陣1712M。系統100可包括針對測試元件1100E之具有一個以上維度的矩陣1712M。舉例而言，第五測試元件1710可具有複數個層1710Y之厚度的第一維度，及複數個導線1710W之線規的第二維度。矩陣1712M可包括兩個維度及維度的對應得分值。如矩陣1712M中所顯示，最厚層之得分值及最高線規，例如40AWG及7 mm可具有最高權重或得分值。
對於主觀評估，第五測試元件1710之模板可藉由處理器100P擷取，且將前述模板映射至第五測試元件1710的經掃描影像上。經掃描影像之複數個ROI可基於模板來判定。舉例而言，ROI可為越過複數個扇區中每一者中的複數個導線1710W的複數個線性線條。處理器100P可經組態以越過複數個扇區中的每一者投影線性線條。處理器100P可經組態以沿著每一線性線條提取輪廓。對於複數個輪廓中之每一者，處理器100P可經組態以計算導線的平均值及導線之背景的平均值，前述導線藉由複數個層1710Y提供。處理器100P可經組態以在導線之平均值與背景之平均值的差為至少一個標準偏差情況下指派「可見」狀態，且基於矩陣1712M指派對應得分值。處理器100P可經組態以基於評分表指派ROI的對應得分值。相同步階可針對複數個扇區中之每一者中的複數個導線1710W中的每一者採用。對於主觀評估，系統100可提示使用者以識別複數個扇區中之每一者中可見的導線1710W之數目，且經由多媒體模組100U及/或I/O介面100N輸入至系統100中。處理器100P可經組態以接收輸入、基於矩陣1712M指派對應得分值。一旦完成了評分表，系統100便可產生針對掃描器10之每一效能特性的第一得分值及第二得分值，亦即，導線解析度以評估掃描器10的掃描品質。
圖18顯示複數個測試元件1100E中第六測試元件1810的例示性實施例之透視圖。第六測試元件1810可適合於測試掃描器10之導線解析度。第六測試元件1810可包括基底層1810B，前述基底層具有具不同寬度的複數個孔1810H；及基底層1810B上的複數個層1810Y。底層1810Y頂部上複數個層1810Y中的每一者相較於底層1810Y可具有較小面積，使得底層1810Y可被暴露。複數個層1810Y中的最低層1810Y相較於基底層1810B可具有較小面積，使得基底層1810B被暴露。基底層1810B可為圓形，且複數個層1810Y中的每一者可為圓的扇區。舉例而言，最低層1810Y可為具有320°之內角的扇區，最低層頂部上的下一層1810Y可為具有280°度內角的扇區，前述下一層頂部上的下一層1810Y可為具有240°內角的扇區，前述下一層頂部上的下一層1810Y可為具有200°內角的扇區，前述下一層頂部上的下一層1810Y可為具有160°內角的扇區，前述下一層頂部上的下一層1810Y可為具有120°內角的扇區，前述下一層頂部上的下一層1810Y可為具有80°內角的扇區，且前述下一層頂部上的下一層1810Y可為具有40°內角的扇區。複數個層1810Y可沿著其一側對準，從而形成平坦表面。如圖18中所顯示，複數個層1810Y可形成具有不同高度的複數個扇區。基底層可由丙烯酸系製成。
圖18A顯示圖18中基底層1810之俯視圖的示意圖。複數個孔1810H可配置成列，其中孔1810H之寬度係呈降序，使得具有最寬寬度之孔係在列的一個末端處，且具有最窄寬度的孔係在列之另一末端處。複數個孔1810H可為通孔。基底層1810B可包括孔1810H複數個的列。孔1810H的複數個列可自基底層1810B的中心徑向延伸，且彼此相等地隔開。複數個孔1810H可為圓形。複數個孔1810H可具有範圍為1 mm至3 mm的寬度。複數個孔1810H之寬度可為0.5 mm、1.0 mm、2.0 mm、3.0 mm。
圖18B顯示針對測試件1100之使用者評估介面1812的例示性實施例。使用者評估介面1812可為針對第六測試元件1810的評分表。評分表可包括複數個ROI，例如測試區1、測試區2等。
圖18C顯示用於計算第五測試元件之第一得分值及第二得分值之矩陣1812M。系統100可包括針對測試元件1100E之具有一個以上維度的矩陣1812M。舉例而言，第六測試元件1810可具有複數個孔1810H之寬度的第一維度，及複數個扇區之厚度的第二維度。矩陣1812M可包括兩個維度及維度的對應得分值。如矩陣1812M中所顯示，最厚層1810Y及最寬寬度，例如7 mm及3.0 mm之得分值可具有最高權重或得分值。
對於主觀評估，第六測試元件1810之模板可藉由處理器100P擷取，且將前述模板映射至第六測試元件1810的經掃描影像上。經掃描影像之複數個ROI可基於模板來判定。舉例而言，ROI可為複數個扇區中之每一者中的複數個孔1810H及每一孔周圍的區。處理器100P可經組態以計算複數個孔1810H中之每一者中像素的平均值及複數個孔1810H中每一者的背景之平均值，前述背景藉由複數個層1810Y提供。處理器100P可經組態以在孔之平均值與背景之平均值的差為至少一個標準偏差情況下指派「可見」狀態，且基於矩陣1812M指派對應得分值。處理器100P可經組態以基於評分表指派ROI的對應得分值。相同步階可針對複數個扇區中之每一者中複數個孔1810H的每一者採用。對於主觀評估，系統100可提示使用者以識別複數個扇區中之每一者中可見的孔1810H之數目且經由多媒體模組100U及/或I/O介面100N輸入至系統100中。處理器100P可經組態以接收輸入、基於矩陣1812M指派對應得分值。一旦完成了評分表，系統100便可產生針對掃描器10之每一效能特性的第一得分值及第二得分值，亦即，導線解析度以評估掃描器10的掃描品質。
圖19顯示總評分概述表1912的例示性實施例。當複數個測試元件1100E之經掃描影像已經評估時，系統100可基於如圖19中所顯示的複數個測試元件1100E之個別第一得分值及個別第二得分值來產生測試件的總第一得分值及總第二得分值。
系統100可適合於用於在測試件之以上實施例中的任一者。第一得分值及第二得分值可經正規化，使得自每一測試件獲得的評分經標準化。
系統100可包括行動裝置，例如行動電話、平板電腦、膝上型電腦、電腦等。
處理器100P通常控制系統100之總體操作，諸如與顯示、電話呼叫、資料通訊、檢視操作及記錄操作相關聯的操作。處理器100P可包括一或多個處理器以執行指令，從而執行上述方法中步驟的所有或部分。此外，處理器100P可包括促進處理器100P與其他模組之間的互動之一或多個模組。舉例而言，處理器100P可包括多媒體模組以促進多媒體模組100U與處理器100P之間的互動。系統100可經由網路與伺服器通訊。
記憶體100M可經組態以儲存各種類型之資料從而支援系統100的操作。舉例而言，資料可包括在系統上操作之任何應用程式或以上方法的指令、連絡人資料、電話簿資料、訊息、圖片、視訊等。記憶體100M可使用任何類型之揮發性或非揮發性記憶體裝置或其組合來實施，前述記憶體裝置係諸如靜態隨機存取記憶體(static random access memory；SRAM)、電可抹除可程式化唯讀記憶體(electrically erasable programmable read-only memory；EEPROM)、可抹除可程式化唯讀記憶體(erasable programmable read-only memory；EPROM)、可程式化唯讀記憶體(programmable read-only memory；PROM)、唯讀記憶體(read-only memory；ROM)、磁性記憶體、快閃記憶體、磁碟或光碟。
多媒體模組100U可包括螢幕，從而提供系統100與使用者之間的輸出介面。在一些實施例中，螢幕可包括液晶顯示器(liquid crystal display；LCD)、有機發光二極體(organic light-emitting diode；OLED)、觸控式螢幕等。若螢幕包括觸控式面板，則螢幕可實施為觸控式螢幕以接收來自使用者的輸入訊號。觸控式面板可包括一或多個觸控感測器以感測觸控、掃過及觸控式面板上的示意動作。觸控感測器可不僅感測觸控的邊界或掃過動作，而且感測與觸控或掃過動作相關聯的時段及壓力。
音訊模組100A可經組態以輸出及/或輸入音訊訊號。舉例而言，音訊模組100A可包括麥克風(「MIC」)，前述麥克風經組態以在系統100處於操作模式，諸如呼叫模式、錄音模式及語音辨識模式時接收外部音訊訊號。所接收音訊訊號可進一步儲存於記憶體100M中或經由通訊模組100C傳輸。在一些實施例中，音訊模組100A進一步包括揚聲器以輸出音訊訊號。
I/O介面100N提供處理器100P與周邊介面模組，諸如鍵盤、滾輪、按鈕及類似者之間的介面。
通訊模組100C可經組態以促進系統100與其他裝置或伺服器之間的有線或無線通訊。系統100可基於通訊標準，諸如WiFi、2G或3G、LTE及4G蜂巢式技術或其組合來存取無線網路。在一個例示性實施例中，通訊模組100C可經由廣播通道自外部廣播管理系統接收廣播訊號或廣播關聯資訊。在一個例示性實施例中，通訊模組100C可進一步包括一近場通訊(near field communication；NFC)模組以促進短程通訊。舉例而言，NFC模組可基於如下各者來實施：射頻識別(radio frequency identification；RFID)技術、紅外線資料關聯(infrared data association；IrDA)技術、超寬頻(ultra-wideband；UWB)技術、藍芽(Bluetooth；BT)技術，及其他技術。
熟習此項技術者將瞭解，一個實例中描述之特徵可能並不約束至前述實例，且可與其他實例中之任一者組合。
本發明係關於一種用於關於測試件評估掃描器之掃描品質的系統及其方法，前述系統及方法大體如本文中參看隨附諸圖所描述及/或在隨附圖式中所圖示。
10:掃描器 100:系統 100A:音訊模組 100C:通訊模組 100M:記憶體 100N:輸入/輸出(I/O)介面 100P:處理器 100U:多媒體模組 202:區塊 204:區塊 206:區塊 208:區塊 210:區塊 300:測試件 300L:縱向軸線 310:測試面板 410:第一測試面板 410B:基底 410BB:底側 410BT:頂側 410E:狹長元件 410E1:第一狹長元件群組 410E2:第二狹長元件群組 410L:中心軸線 410P:基底板 412:使用者評估介面 510:第二測試面板 510A:頂板 510L:中心軸線 510P:基底板 510T:三角板 510TB:基底部分 512:使用者評估介面 610:第三測試面板 610L:中心軸線 610B、610P:基底板 610R:隆起 610R1:第一隆起群組 610R2:第二隆起群組 610R3:第三隆起群組 610R4:第四隆起群組 612:使用者評估介面 612M:矩陣 710:第四測試面板 710P:基底板 710B:基底 710BT:頂側 710H:孔 710H1:孔群組 710L:中心軸線 712:使用者評估介面 810:第五測試面板 810B:基底 810BT:頂側 810E:狹長元件 810E1:第一狹長元件群組 810E2:第二狹長元件群組 810E3:第三狹長元件群組 810E4:第四狹長元件群組 810L:中心軸線 810P:基底板 812:使用者評估介面 910:第六測試面板 910B:基底 910BT:頂側 910G:間隙 910L:中心軸線 910S:槽 910S1:(第一)槽群組 910S2:(第二)槽群組 910S3:(第三)槽群組 910S4:(第四)槽群組 910S5:(第五)槽群組 910W:縱向導線 912:使用者評估介面 1010:第七測試面板 1010B:基底 1010BP:基底面板 1010F:參考線 1010H:孔 1010L:中心軸線 1012:使用者評估介面 1014:總評分概述表 1020:雙重視圖掃描器 1020C:視圖 1100:測試件 1100A:基底面板 1100AB:底側 1100AL:左側 1100AR:右側 1100AT:頂側 1100B:可旋轉面板 1100BT:頂側 1100BB:底側 1100BL:左側 1100BR:右側 1100E:測試元件 1100H:鉸鏈 1102L:縱向軸線 1102M:側向軸線 1120:殼體 1120A:第一部分 1120B:第二部分 1120H:鉸鏈 1200P:基底板 1200PR:凹座 1200PR1:第一凹座 1200PT:頂側 1310:第一測試元件 1310B:區塊 1310C:中心區塊 1310M:底部區塊 1312:使用者評估介面 1410:第二測試元件 1410B:區塊 1412:使用者評估介面 1510:第三測試元件 1510C:中心點 1510D:板 1510R:圓形線條 1510S:條帶 1512:使用者評估介面 1610:第四測試元件 1610D:板 1610S:條 1610R:線性線條 1612:使用者評估介面 1710:第五測試元件 1710B:基底層 1710W:導線 1710Y:層 1712:使用者評估介面 1712M:矩陣 1810:第六測試元件 1810B:基底層 1810H:孔 1810Y:層 1812:使用者評估介面 1812M:矩陣 1912:總評分概述
圖1顯示用於關於測試件評估掃描器之掃描品質的系統之例示性實施例。
圖2顯示用於關於測試件評估掃描器之掃描品質的電腦實施方法之流程圖。
圖3顯示用於測試掃描器之掃描品質之測試件的例示性實施例之透視圖。
圖3A顯示圖3中測試件的正視圖。
圖3B顯示圖3中測試件的俯視圖。
圖4顯示複數個測試面板中之第一測試面板的例示性實施例之透視圖。
圖4A顯示針對測試件之使用者評估介面的例示性實施例。
圖5顯示複數個測試面板中之第二測試面板的例示性實施例之透視圖。
圖5A顯示圖5中第二測試面板之俯視圖的示意圖。
圖5B顯示針對測試件之使用者評估介面的例示性實施例。
圖6顯示複數個測試面板中之第三測試面板的例示性實施例之透視圖。
圖6A顯示圖6中第三測試面板之俯視圖。
圖6B顯示圖6中第三測試面板之正視圖。
圖6C顯示第三測試面板之一區段之俯視圖的示意圖。
圖6D顯示用於計算第三測試面板之第一得分值及第二得分值之矩陣的例示性實例。
圖6E顯示針對測試件之使用者評估介面的例示性實施例。
圖7顯示複數個測試面板中之第四測試面板的例示性實施例之透視圖。
圖7A顯示圖7中第四測試面板之俯視圖。
圖7B顯示圖7中複數個孔的一區段及ROI的示意圖。
圖7C顯示針對測試件之使用者評估介面的例示性實施例。
圖8顯示複數個測試面板中之第五測試面板的例示性實施例之透視圖。
圖8A顯示複數個狹長元件的俯視圖。
圖8B顯示針對測試件之使用者評估介面的例示性實施例。
圖9顯示複數個測試面板中之第六測試面板的例示性實施例之透視圖。
圖9A顯示圖9中第六測試面板之俯視圖。
圖9B顯示針對測試件之使用者評估介面的例示性實施例。
圖10顯示複數個測試面板中之第七測試面板的例示性實施例之透視圖。
圖10A及圖10B顯示圖10中基底之上部基底面板及下部基底面板的俯視圖。
圖10C顯示針對測試件之使用者評估介面的例示性實施例。
圖10D顯示總體評分概述表的例示性實施例。
圖11A顯示測試件之例示性實施例的俯視圖。
圖11B顯示處於旋轉位置之測試件的正視圖。
圖11C顯示測試件處於關閉位置時的正視圖。
圖11D顯示圖11A中之測試件處於打開位置的正視圖。
圖11E顯示測試件用於雙重掃描器中的正視圖。
圖12顯示基底面板之基底板及/或可旋轉面板的例示性實施例之透視圖。
圖13A顯示複數個測試元件中之第一測試元件的例示性實施例之俯視圖的示意圖。
圖13B顯示圖13A中第一測試件之橫截面視圖的示意圖。
圖13C顯示針對測試件之使用者評估介面的例示性實施例。
圖14A顯示複數個測試元件中之第二測試元件的例示性實施例之俯視圖的示意圖。
圖14B顯示針對測試件之使用者評估介面的例示性實施例。
圖15顯示複數個測試元件中之第三測試元件的例示性實施例之俯視圖。
圖15A顯示使用針對測試件之使用者評估介面的例示性實施例。
圖16顯示複數個測試元件中之第四測試元件的例示性實施例之俯視圖。
圖16A顯示針對測試件之使用者評估介面的例示性實施例。
圖17顯示複數個測試元件中之第五測試元件的例示性實施例之透視圖。
圖17A顯示圖17中複數個層的正視圖。
圖17B顯示針對測試件之使用者評估介面的例示性實施例。
圖17C顯示用於計算第五測試元件之第一得分值及第二得分值之矩陣。
圖18顯示複數個測試元件中之第六測試元件的例示性實施例之透視圖。
圖18A顯示圖18中基底板之俯視圖的示意圖。
圖18B顯示針對測試件之使用者評估介面的例示性實施例。
圖18C顯示用於計算第五測試元件之第一得分值及第二得分值之矩陣。
圖19顯示總體評分概述表的例示性實施例。
10:掃描器
100:掃描品質的系統
100A:音訊模組
100C:通訊模組
100M:記憶體
100N:輸入/輸出(I/O)介面
100P:處理器
100U:多媒體模組

Claims (27)

  1. 一種用於評估測試件上掃描器之掃描品質的系統，前述系統包含： 處理器；及 與前述處理器通訊之記憶體，前述記憶體用於儲存藉由前述處理器可執行的指令， 其中前述處理器經組態以： 自前述掃描器接收前述測試件的經掃描影像， 顯示前述經掃描影像， 基於前述經掃描影像產生第一得分值， 顯示評估輸入介面，前述評估輸入介面經組態以基於前述經掃描影像之評估接收使用者評估輸入，及 基於前述使用者評估輸入來產生第二得分值， 其中前述第一得分值及前述第二得分值用以評估前述掃描器的前述掃描品質。
  2. 如請求項1所述之系統，其中前述處理器經組態以判定前述經掃描影像中的至少一個關注區(ROI)，及分析前述至少一個ROI以產生前述第一得分值。
  3. 如請求項2所述之系統，其中前述處理器經組態以擷取模板，前述模板包含至少一個預定ROI，將前述模板映射於前述經掃描影像上以判定前述經掃描影像中的前述至少一個ROI。
  4. 如請求項2或3所述之系統，其中前述處理器經組態以自前述經掃描影像之前述至少一個ROI提取影像資料，及自前述經提取影像資料產生統計資料以分析前述至少一個ROI的前述影像資料。
  5. 如請求項2至4中任一項所述之系統，其中前述至少一個ROI係基於前述測試件來判定。
  6. 如請求項3至5中任一項所述之系統，其中前述模板係基於前述測試件來判定。
  7. 如請求項1至6中任一項所述之系統，其中前述測試件係針對CT影像品質分析來最佳化。
  8. 如請求項7所述之系統，其中前述掃描器具有在100 mm × 100 mm至2000 mm × 2000 mm之範圍內的視場。
  9. 如請求項7或8所述之系統，其中前述經掃描影像具有在0.5 mm至10.0 mm重建構立體像素之範圍內的影像解析度。
  10. 如請求項7至9中任一項所述之系統，其中前述掃描器具有螺旋掃描系統，其中掃描速度係在0.01 m/s至10.00 m/s的範圍內。
  11. 如請求項1至6中任一項所述之系統，其中前述測試件係針對透射X射線影像品質分析來最佳化。
  12. 如請求項11所述之系統，其中前述掃描器具有在300 mm × 300 mm至4500 mm × 6000 mm之範圍內的視場。
  13. 如請求項11或12所述之系統，其中前述經掃描影像具有在0.3 mm至10 mm空間解析度之範圍內的影像解析度。
  14. 如請求項11至13中任一項所述之系統，其中前述掃描器具有線性X射線系統，其中掃描速度係在0.01 m/s至100 km/h的範圍內。
  15. 如請求項1至6中任一項所述之系統，其中前述測試件係針對反向散射X射線影像品質分析來最佳化。
  16. 如請求項15所述之系統，其中前述掃描器具有在300 mm × 300 mm至5000 mm × 12000 mm空間解析度之範圍內的視場。
  17. 如請求項15或16所述之系統，其中前述掃描器具有線性反向散射掃描系統，其中掃描速度係在0.01 m/s至20 km/h的範圍內。
  18. 如請求項15至17中任一項所述之系統，其中前述經掃描影像具有在0.5 mm至20 mm之範圍內的影像解析度。
  19. 如請求項11至18中任一項所述之系統，其中前述掃描器為X射線掃描器。
  20. 一種用於評估測試件上掃描器之掃描品質的電腦實施方法，前述方法包含以下步驟： 自前述掃描器接收前述測試件的經掃描影像； 顯示前述經掃描影像； 產生前述經掃描影像的第一得分值； 顯示評估輸入介面，前述評估輸入介面經組態以基於前述經掃描影像之評估接收使用者評估輸入；及 基於前述使用者評估輸入來產生第二得分值； 其中前述第一得分值及前述第二得分值用以評估前述掃描器的前述掃描品質。
  21. 如請求項20所述之方法，其進一步包含：判定前述經掃描影像中的至少一個關注區(ROI)，及分析前述至少一個ROI以產生前述第一得分值。
  22. 如請求項21或22所述之方法，其進一步包含：擷取模板，前述模板包含至少一個預定ROI；將前述模板映射於前述經掃描影像上以判定前述經掃描影像中的前述至少一個ROI。
  23. 如請求項20至22中任一項所述之方法，其進一步包含：自前述經掃描影像之前述至少一個ROI提取影像資料，及自前述經提取影像資料產生統計資料以分析前述至少一個ROI的前述影像資料。
  24. 一種包含指令之非暫時性電腦可讀儲存媒體，其中前述指令在藉由系統中之處理器執行時，使得前述系統執行以下操作： 自掃描器接收測試件的經掃描影像； 顯示前述經掃描影像； 基於前述經掃描影像產生第一得分值； 顯示評分輸入介面，前述評分輸入介面經組態以接收使用者輸入；及 經由前述評分輸入介面接收第二得分值； 其中前述第一得分值及前述第二得分值用以評估前述掃描器的掃描品質。
  25. 一種測試系統，包含如請求項1至19中任一項所述之系統；及用於評估掃描器之掃描品質的測試件。
  26. 如請求項25所述之測試系統，其中前述測試件包含沿著縱向軸線彼此隔開的複數個測試面板，其中前述複數個測試面板中之每一者垂直於前述縱向軸線。
  27. 如請求項25所述之測試系統，其中前述測試件包含：基底面板，前述基底面板包含第一複數個測試元件及縱向軸線；可旋轉面板，前述可旋轉面板包含第二複數個測試元件且沿著前述縱向軸線樞轉連接至前述基底面板，其中前述可旋轉面板可圍繞前述縱向軸線旋轉。
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