CN115326860A - 一种热缩套管回缩应力的测试系统 - Google Patents

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Abstract

本发明公开了一种热缩套管回缩应力的测试系统，涉及热缩套管技术领域，解决了未将对应的温度影响因素考虑在内，导致整体的测试准确度不高，会造成测试结果存在偏差的技术问题，对外部环境的测试温度以及热缩套管的表面张力进行获取，根据换算因子区间以及对应的测试温度，根据回缩力参数区间以及表面张力，得到对应的压力差值区间，将压力差值区间与阈值单元内部的预设区间进行比对，并生成若干个不同的测试信号，并将测试信号传输至外部显示终端内；获取属于不同温度状态下的换算因子，而不是采用一成不变的方式进行测试，便可充分提升测试过程中的准确性，同时也有效避免了温度对应力测试过程中的影响，再一步提升测试的整体准确度。

Description

一种热缩套管回缩应力的测试系统
技术领域
本发明属于热缩套管技术领域，具体是一种热缩套管回缩应力的测试系统。
背景技术
热缩管是一种特制的聚烯烃材质热收缩套管，外层采用优质柔软的交联聚烯烃材料及内层热熔胶复合加工而成的，外层材料有绝缘防蚀、耐磨等特点，内层有低熔点、防水密封和高粘接性等优点；
公开号为CN107782759A的发明公开了一种热缩套管回缩应力的测试装置，包括：封闭状温度控制箱，在测试过程中，所述温度控制箱内的测试温度处于恒温状态；至少一个链接端子，所述链接端子设置在所述温度控制箱的内侧壁上；套管收缩载体，所述套管收缩载体的一端连接于所述链接端子，所述套管收缩载体的另一端呈悬空状；应力感应装置，所述应力感应装置设置在所述套管收缩载体的外周侧；用于检测套装在所述套管收缩载体上的热缩套管管壁，在所述测试温度下发生的回缩应力。该申请通过控制温度控制箱内的温度处于测试温度，套装在套管收缩载体上的热缩产品受热回缩，通过应力感应装置检测热缩套管受热产生回缩应力，在不同条件下，测试回复力于温度和收缩比的关系；
该申请以及现有的测试系统在进行具体测试过程中，未将对应的温度影响因素考虑在内，故在具体测试时，因不同的测试温度均不同，故进行测试的应力参数也会进行改变，若采用原始的测试方式进行应力参数比对，会因温度参数的影响，导致整体的测试准确度不高，会造成测试结果存在偏差。
发明内容
本发明旨在至少解决现有技术中存在的技术问题之一；为此，本发明提出了一种热缩套管回缩应力的测试系统，用于解决未将对应的温度影响因素考虑在内，导致整体的测试准确度不高，会造成测试结果存在偏差的技术问题。
为实现上述目的，根据本发明的第一方面的实施例提出一种热缩套管回缩应力的测试系统，包括数据采集端、实验数据输入端、处理中心以及显示终端；
所述处理中心包括预设参数处理单元、存储单元、数据比对单元、数据处理单元和阈值单元；
所述实验数据输入端，将需要进行实验的参数数据输入至处理中心内，所述处理中心内部的预设参数处理单元对参数数据进行处理，其中参数数据包括温度参数以及所对应的回缩力参数区间；
所述预设参数处理单元，根据所输入的温度参数以及所对应的回缩力参数区间，获取属于不同温度参数所对应的换算因子区间，并将不同温度参数所对应的换算因子区间传输至存储单元内进行存储；
所述数据采集端，用于对外部环境的测试温度以及热缩套管的表面张力进行获取，并将所获取的测试温度以及热缩套管的表面张力传输至处理中心内；
所述数据比对单元，将所采集的测试温度传输至存储单元内，并将测试温度与存储单元内部的温度参数进行比对，获取所对应的换算因子区间；
所述数据处理单元，根据接收到的测试温度、换算因子区间以及热缩套管的表面张力，对热缩套管的回缩应力进行测试，并将获取的测试区间与阈值单元的预设区间进行比对，根据比对结果生成不同的测试信号，确认热缩套管的整体回缩应力是否符合规格。
优选的，所述预设参数处理单元将属于不同温度参数的换算因子区间进行获取的具体方式为：
将温度参数标记为WDk，其中k代表不同阶段的温度数值，每组阶段的温度数值间隔温度参数1℃，k=1、2、……、n，将回缩力参数区间标记为（X1k，X2k），因不同阶段的温度数值k所对应的回缩力参数区间不同，故将回缩力参数区间内部的回缩力参数采用同样的下标k进行下标处理；
采用
Figure 438407DEST_PATH_IMAGE001
得到对应的换算因子区间
Figure 87563DEST_PATH_IMAGE002
，并将属于不同阶段温度数值所对应的换算因子
Figure 841892DEST_PATH_IMAGE002
传输至存储单元内进行存储。
优选的，所述数据比对单元获取换算因子区间的具体方式为：
将测试温度标记为CS，并将测试温度CS与存储单元所对应的温度参数WDk进行匹配，得到匹配结果后，获取对应的换算因子区间，并将获取得到的换算因子区间传输至数据处理单元内。
优选的，所述数据处理单元对热缩套管的回缩应力进行测试的具体方式为：
S1、依次将测试温度CS、换算因子区间
Figure 578904DEST_PATH_IMAGE002
以及表面张力进行获取，并将表面张力标记为ZL；
S2、采用
Figure 367868DEST_PATH_IMAGE003
得到回缩力参数区间（HS1，HS2），其中ZC为预设的正常温度参数，且正常温度参数ZC的具体取值由外部人员根据经验拟定；
S3、采用
Figure 797713DEST_PATH_IMAGE004
得到对应的应力差值区间（P1，P2），并将计算所得应力差值区间（P1，P2）于阈值区间内部的区间参数进行比对处理；
S4、从阈值单元内获取对应的阈值区间（Y1，Y2），将阈值区间（Y1，Y2）与应力差值区间（P1，P2）进行比对的具体方式为：
S41、当P2＜Y1时，代表应力测试异常，并生成异常信号，将异常信号传输至显示终端内；
S42、当P1＜Y1＜P2＜Y2时，代表应力测试偏差较大，并生成偏差信号，将偏差信号传输至显示终端内；
S43、当Y1≤P1＜P2≤Y2时，代表应力测试正常，并生成正常信号，并将正常信号传输至显示终端内；
S44、当Y1＜P1＜Y2＜P2时，代表应力测试偏差较大，并生成偏差信号，将偏差信号传输至显示终端内；
S45、当Y2＜P1时，代表应力测试异常，并生成异常信号，并同时将异常信号传输至显示终端内。
优选的，所述显示终端，用于将测试过程中，所产生的测试信号进行显示，当接收到异常信号时，代表此回缩套管内部出现损伤或者外部出现割裂情况，此回缩套管属于坏品，当接收到偏差信号时，代表此回缩套管生产过程不符合规格，此回缩套管属于次品，当接收到正常信号时，代表此回缩套管应力测试正常，无需再次进行处理。
与现有技术相比，本发明的有益效果是：将需要进行实验的参数数据传输至处理中心内，预设参数处理单元根据所输入的实验参数，获取属于不同温度参数所对应的换算因子区间，并将不同温度参数所对应的换算因子区间传输至存储单元内进行存储，再通过数据采集端，对外部环境的测试温度以及热缩套管的表面张力进行获取，数据比对单元根据所采集的测试温度与存储单元内部的温度进行比对，获取对应的换算因子区间，根据换算因子区间以及对应的测试温度，获取对应的回缩力参数区间，根据回缩力参数区间以及表面张力，得到对应的压力差值区间，将压力差值区间与阈值单元内部的预设区间进行比对，并生成若干个不同的测试信号，并将测试信号传输至外部显示终端内；
预先根据实验数据，获取属于不同温度状态下的换算因子，而不是采用一成不变的方式进行测试，便可充分提升测试过程中的准确性，同时也有效避免了温度对应力测试过程中的影响，再一步提升测试的整体准确度。
附图说明
图1为本发明原理框架示意图。
具体实施方式
下面将结合实施例对本发明的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其它实施例，都属于本发明保护的范围。
请参阅图1，本申请提供了一种热缩套管回缩应力的测试系统，包括数据采集端、实验数据输入端、处理中心以及显示终端；
所述数据采集端输出端与处理中心输入端电性连接，所述实验数据输入端与处理中心的输入端电性连接，所述处理中心输出端与显示终端的输入端电性连接；
所述处理中心包括预设参数处理单元、存储单元、数据比对单元、数据处理单元和阈值单元；
所述预设参数处理单元输出端与数据处理单元输入端电性连接，所述数据处理单元与阈值单元之间双向连接，所述数据比对单元输出端与数据处理单元输入端电性连接，所述存储单元与数据比对单元之间双向连接，所述存储单元与预设参数处理单元之间双向连接；
所述实验数据输入端，供外部人员进行操作，将需要进行实验的参数数据输入至处理中心内，所述处理中心内部的预设参数处理单元对参数数据进行处理，其中参数数据包括温度参数以及所对应的回缩力参数区间；
所述预设参数处理单元，根据所输入的温度参数以及所对应的回缩力参数区间，获取属于不同温度参数所对应的换算因子区间，并将不同温度参数所对应的换算因子区间传输至存储单元内进行存储，其中进行具体换算的具体方式为：
将温度参数标记为WDk，其中k代表不同阶段的温度数值，每组阶段的温度数值间隔温度参数1℃，k=1、2、……、n，将回缩力参数区间标记为（X1k，X2k），因不同阶段的温度数值k所对应的回缩力参数区间不同，故将回缩力参数区间内部的回缩力参数采用同样的下标k进行下标处理；
采用
Figure 39338DEST_PATH_IMAGE001
得到对应的换算因子区间
Figure 517724DEST_PATH_IMAGE002
，并将属于不同阶段温度数值所对应的换算因子
Figure 161195DEST_PATH_IMAGE002
传输至存储单元内进行存储。
所述数据采集端，用于对外部环境的测试温度以及热缩套管的表面张力进行获取，并将所获取的测试温度以及热缩套管的表面张力传输至处理中心内；
所述数据比对单元，将所采集的测试温度传输至存储单元内，并将测试温度与存储单元内部的温度参数进行比对，获取所对应的换算因子区间，具体比对换算的方式为：
将测试温度标记为CS，并将测试温度CS与存储单元所对应的温度参数WDk进行匹配，得到匹配结果后，获取对应的换算因子区间，并将获取得到的换算因子区间传输至数据处理单元内。
所述数据处理单元，根据接收到的测试温度、换算因子区间以及热缩套管的表面张力，对热缩套管的回缩应力进行测试，并将获取的测试区间与阈值单元的预设区间进行比对，根据比对结果，确认热缩套管的整体回缩应力是否符合规格，其中进行具体测试的方式为：
S1、依次将测试温度CS、换算因子区间（
Figure 496361DEST_PATH_IMAGE006
，
Figure 881075DEST_PATH_IMAGE008
）以及表面张力进行获取，并将表面张力标记为ZL；
S2、采用
Figure 959890DEST_PATH_IMAGE003
得到回缩力参数区间（HS1，HS2），其中ZC为预设的正常温度参数，热缩套管在正常温度参数状态下，应力测试效果最准确，且正常温度参数ZC的具体取值由外部人员根据经验拟定；
S3、采用
Figure 457867DEST_PATH_IMAGE004
得到对应的应力差值区间（P1，P2），并将计算所得应力差值区间（P1，P2）于阈值区间内部的区间参数进行比对处理；
S4、从阈值单元内获取对应的阈值区间（Y1，Y2），将阈值区间（Y1，Y2）与应力差值区间（P1，P2）进行比对的具体方式为：
S41、当P2＜Y1时，代表应力测试异常，并生成异常信号，将异常信号传输至显示终端内；
S42、当P1＜Y1＜P2＜Y2时，代表应力测试偏差较大，并生成偏差信号，将偏差信号传输至显示终端内；
S43、当Y1≤P1＜P2≤Y2时，代表应力测试正常，并生成正常信号，并将正常信号传输至显示终端内；
S44、当Y1＜P1＜Y2＜P2时，代表应力测试偏差较大，并生成偏差信号，将偏差信号传输至显示终端内；
S45、当Y2＜P1时，代表应力测试异常，并生成异常信号，并同时将异常信号传输至显示终端内。
所述显示终端，用于将测试过程中，所产生的测试信号进行显示，并告诫对应的外部人员，获取对应回缩套管的测试结果，当接收到异常信号时，代表此回缩套管内部出现损伤或者外部出现割裂情况，此回缩套管属于坏品，通过应力测试得到此差值过大，当接收到偏差信号时，代表此回缩套管生产过程不符合规格，此回缩套管属于次品，当接收到正常信号时，代表此回缩套管应力测试正常，无需再次进行处理。
上述公式中的部分数据均是去除量纲取其数值计算，公式是由采集的大量数据经过软件模拟得到最接近真实情况的一个公式；公式中的预设参数和预设阈值由本领域的技术人员根据实际情况设定或者通过大量数据模拟获得。
本发明的工作原理：预先将需要进行实验的参数数据传输至处理中心内，预设参数处理单元根据所输入的实验参数，获取属于不同温度参数所对应的换算因子区间，并将不同温度参数所对应的换算因子区间传输至存储单元内进行存储，再通过数据采集端，对外部环境的测试温度以及热缩套管的表面张力进行获取，数据比对单元根据所采集的测试温度与存储单元内部的温度进行比对，获取对应的换算因子区间，根据换算因子区间以及对应的测试温度，获取对应的回缩力参数区间，根据回缩力参数区间以及表面张力，得到对应的压力差值区间，将压力差值区间与阈值单元内部的预设区间进行比对，并生成若干个不同的测试信号，并将测试信号传输至外部显示终端内；
预先根据实验数据，获取属于不同温度状态下的换算因子，而不是采用一成不变的方式进行测试，便可充分提升测试过程中的准确性，同时也有效避免了温度对应力测试过程中的影响，再一步提升测试的整体准确度。
以上实施例仅用以说明本发明的技术方法而非限制，尽管参照较佳实施例对本发明进行了详细说明，本领域的普通技术人员应当理解，可以对本发明的技术方法进行修改或等同替换，而不脱离本发明技术方法的精神和范围。

Claims (5)

1.一种热缩套管回缩应力的测试系统，其特征在于，包括数据采集端、实验数据输入端、处理中心以及显示终端；
所述处理中心包括预设参数处理单元、存储单元、数据比对单元、数据处理单元和阈值单元；
所述实验数据输入端，将需要进行实验的参数数据输入至处理中心内，所述处理中心内部的预设参数处理单元对参数数据进行处理，其中参数数据包括温度参数以及所对应的回缩力参数区间；
所述预设参数处理单元，根据所输入的温度参数以及所对应的回缩力参数区间，获取属于不同温度参数所对应的换算因子区间，并将不同温度参数所对应的换算因子区间传输至存储单元内进行存储；
所述数据采集端，用于对外部环境的测试温度以及热缩套管的表面张力进行获取，并将所获取的测试温度以及热缩套管的表面张力传输至处理中心内；
所述数据比对单元，将所采集的测试温度传输至存储单元内，并将测试温度与存储单元内部的温度参数进行比对，获取所对应的换算因子区间；
所述数据处理单元，根据接收到的测试温度、换算因子区间以及热缩套管的表面张力，对热缩套管的回缩应力进行测试，并将获取的测试区间与阈值单元的预设区间进行比对，根据比对结果生成不同的测试信号，确认热缩套管的整体回缩应力是否符合规格。
2.根据权利要求1所述的一种热缩套管回缩应力的测试系统，其特征在于，所述预设参数处理单元将属于不同温度参数的换算因子区间进行获取的具体方式为：
将温度参数标记为WDk，其中k代表不同阶段的温度数值，每组阶段的温度数值间隔温度参数1℃，k=1、2、……、n，将回缩力参数区间标记为（X1k，X2k），因不同阶段的温度数值k所对应的回缩力参数区间不同，故将回缩力参数区间内部的回缩力参数采用同样的下标k进行下标处理；
采用
Figure DEST_PATH_IMAGE001
得到对应的换算因子区间
Figure DEST_PATH_IMAGE002
，并将属于不同阶段温度数值所对应的换算因子
Figure 671185DEST_PATH_IMAGE002
传输至存储单元内进行存储。
3.根据权利要求2所述的一种热缩套管回缩应力的测试系统，其特征在于，所述数据比对单元获取换算因子区间的具体方式为：
将测试温度标记为CS，并将测试温度CS与存储单元所对应的温度参数WDk进行匹配，得到匹配结果后，获取对应的换算因子区间，并将获取得到的换算因子区间传输至数据处理单元内。
4.根据权利要求3所述的一种热缩套管回缩应力的测试系统，其特征在于，所述数据处理单元对热缩套管的回缩应力进行测试的具体方式为：
S1、依次将测试温度CS、换算因子区间（
Figure DEST_PATH_IMAGE004
，
Figure DEST_PATH_IMAGE006
）以及表面张力进行获取，并将表面张力标记为ZL；
S2、采用
Figure DEST_PATH_IMAGE007
得到回缩力参数区间（HS1，HS2），其中ZC为预设的正常温度参数；
S3、采用
Figure DEST_PATH_IMAGE008
得到对应的应力差值区间（P1，P2），并将计算所得应力差值区间（P1，P2）于阈值区间内部的区间参数进行比对处理；
S4、从阈值单元内获取对应的阈值区间（Y1，Y2），将阈值区间（Y1，Y2）与应力差值区间（P1，P2）进行比对的具体方式为：
S41、当P2＜Y1时，代表应力测试异常，并生成异常信号，将异常信号传输至显示终端内；
S42、当P1＜Y1＜P2＜Y2时，代表应力测试偏差较大，并生成偏差信号，将偏差信号传输至显示终端内；
S43、当Y1≤P1＜P2≤Y2时，代表应力测试正常，并生成正常信号，并将正常信号传输至显示终端内；
S44、当Y1＜P1＜Y2＜P2时，代表应力测试偏差较大，并生成偏差信号，将偏差信号传输至显示终端内；
S45、当Y2＜P1时，代表应力测试异常，并生成异常信号，并同时将异常信号传输至显示终端内。
5.根据权利要求4所述的一种热缩套管回缩应力的测试系统，其特征在于，所述显示终端用于将测试过程中，所产生的测试信号进行显示，当接收到异常信号时，代表此回缩套管内部出现损伤或者外部出现割裂情况，此回缩套管属于坏品，当接收到偏差信号时，代表此回缩套管生产过程不符合规格，此回缩套管属于次品，当接收到正常信号时，代表此回缩套管应力测试正常，无需再次进行处理。
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