CN115325988A - 一种曲面测量方法、装置及系统 - Google Patents

Abstract

本申请公开了一种曲面测量方法、装置及系统，基于待测结构的理论数值绘制待测结构的三维数模，获得待测结构的三维数模的待测位置在三维数模所基于的基准坐标系下的理论矢量数据，基于理论矢量数据中的至少部分参数对应的数据确定固定于测量设备上的待测结构的待测位置上其他参数对应的数据，其他参数与至少部分参数组成理论矢量数据中的参数，将确定的固定于测量设备上的待测结构的待测位置上其他参数对应的数据确定为待测位置的实际矢量数据中的其他参数对应的数据。

Description

一种曲面测量方法、装置及系统

技术领域

本申请涉及测量领域，尤其涉及一种曲面测量方法、装置及系统。

背景技术

目前，对于上下方向非垂直的曲面零件的尺寸测量，通常利用五轴三坐标测量设备进行测量，五轴三坐标测量设备虽然测量精度高，但是会导致测量成本的提高，不利于曲面测量的广泛应用。

发明内容

有鉴于此，本申请提供一种曲面测量方法、装置及系统，其具体方案如下：

一种曲面测量方法，包括：

基于待测结构的理论数值绘制待测结构的三维数模；

获得所述待测结构的三维数模的待测位置在所述三维数模所基于的基准坐标系下的理论矢量数据；

基于所述理论矢量数据中的至少部分参数对应的数据确定固定于测量设备上的待测结构的待测位置上其他参数对应的数据，所述其他参数与所述至少部分参数组成所述理论矢量数据中的参数；

将确定的固定于所述测量设备上的所述待测结构的待测位置上其他参数对应的数据确定为待测位置的实际矢量数据中的其他参数对应的数据。

进一步的，所述获得所述待测结构的三维数模的待测位置在所述三维数模所基于的基准坐标系下的理论矢量数据，包括：

在所述待测结构的三维数模的待测位置按照所述测量设备的测量探头的尺寸绘制测量探头模型；

控制所述测量探头模型移动至所述待测结构的三维数模的待测位置处；

确定所述测量探头模型在所述三维数模及所述测量探头模型所基于的基准坐标系下的理论矢量数据。

进一步的，所述基于所述理论矢量数据中的至少部分参数对应的数据确定固定于测量设备上的待测结构的待测位置上其他参数对应的数据，包括：

将所述待测结构按照所述三维数模所基于的基准坐标系固定于所述测量设备上；

基于测量设备的测量探头检测固定于所述测量设备上的待测结构上待测位置的其他参数对应的数据，所述测量探头位于所述待测结构的基于理论矢量数据中的至少部分参数对应的数据确定的待测位置处。

进一步的，所述基于所述理论矢量数据中的至少部分参数对应的数据确定固定于测量设备上的待测结构的待测位置上其他参数对应的数据，包括：

基于所述待测结构的待测位置确定待测量的第一参数；

基于所述理论矢量数据中的第二参数组对应的数据确定固定于所述测量设备上的待测结构的待测位置上第一参数对应的数据，其中，所述第一参数与所述第二参数组组成所述理论矢量数据中的参数，所述第一参数是所述理论矢量数据中除所述第二参数组之外的参数。

进一步的，所述基于所述待测结构的待测位置确定待测量的第一参数，包括：

基于所述待测结构的待测位置确定所述待测结构的曲面所对应的坐标轴；

基于所述待测结构的曲面所对应的坐标轴确定待测量的第一参数。

进一步的，还包括：

比较所述实际矢量数据中的其他参数对应的数据与所述理论矢量数据中的其他参数对应的数据的差值是否满足公差要求。

一种曲面测量装置，包括：

绘制单元，用于基于待测结构的理论数值绘制待测结构的三维数模；

获得单元，用于获得所述待测结构的三维数模的待测位置在所述三维数模所基于的基准坐标系下的理论矢量数据；

第一确定单元，用于基于所述理论矢量数据中的至少部分参数对应的数据确定固定于测量设备上的待测结构的待测位置上其他参数对应的数据，所述其他参数与所述至少部分参数组成所述理论矢量数据中的参数；

第二确定单元，用于将确定的固定于所述测量设备上的所述待测结构的待测位置上其他参数对应的数据确定为待测位置的实际矢量数据中的其他参数对应的数据。

进一步的，所述获得单元用于：

在所述待测结构的三维数模的待测位置按照测量设备的测量探头的尺寸绘制测量探头模型；控制所述测量探头模型移动至所述待测结构的三维数据的待测位置处；确定所述测量探头模型在所述三维数模及所述测量探头模型所基于的基准坐标系下的理论矢量数据。

进一步的，还包括：

比较单元，用于比较所述实际矢量数据中的其他参数对应的数据与所述理论矢量数据中的其他参数对应的数据的差值是否满足公差要求。

一种曲面测量系统，包括：

测量设备，用于待测结构固定；

曲面测量装置，用于基于待测结构的理论数值绘制待测结构的三维数模；获得所述待测结构的三维数模的待测位置在所述三维数模所基于的基准坐标系下的理论矢量数据；基于所述理论矢量数据中的至少部分参数对应的数据确定固定于测量设备上的待测结构的待测位置上其他参数对应的数据，所述其他参数与所述至少部分参数组成所述理论矢量数据中的参数；将确定的固定于所述测量设备上的所述待测结构的待测位置上其他参数对应的数据确定为待测位置的实际矢量数据中的其他参数对应的数据。

从上述技术方案可以看出，本申请公开的曲面测量方法、装置及系统，基于待测结构的理论数值绘制待测结构的三维数模，获得待测结构的三维数模的待测位置在三维数模所基于的基准坐标系下的理论矢量数据，基于理论矢量数据中的至少部分参数对应的数据确定固定于测量设备上的待测结构的待测位置上其他参数对应的数据，其他参数与至少部分参数组成理论矢量数据中的参数，将确定的固定于测量设备上的待测结构的待测位置上其他参数对应的数据确定为待测位置的实际矢量数据中的其他参数对应的数据。本方案基于三维数模确定待测结构的待测位置的理论矢量数据，之后在实际的测量设备上，基于理论矢量数据的至少部分参数对应的数据确定固定在测量设备上的其他参数对应的数据，从而确定该待测结构的待测位置的实际矢量数据，采用本方案使用三轴三坐标测量设备即可实现，无需利用五轴三坐标测量设备进行测量，降低了测量成本。

附图说明

为了更清楚地说明本申请实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为本申请实施例公开的一种曲面测量方法的流程图；

图2为本申请实施例公开的一种曲面测量方法的流程图；

图3为本申请实施例公开的一种三维数模及测量探头模型的示意图；

图4为本申请实施例公开的一种将待测结构固定于测量设备上的示意图；

图5为本申请实施例公开的一种曲面测量装置的结构示意图；

图6为本申请实施例公开的一种曲面测量系统的结构示意图。

具体实施方式

下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本申请一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本申请保护的范围。

本申请公开了一种曲面测量方法，其流程图如图1所示，包括：

步骤S11、基于待测结构的理论数值绘制待测结构的三维数模；

步骤S12、获得待测结构的三维数模的待测位置在三维数模所基于的基准坐标系下的理论矢量数据；

步骤S13、基于理论矢量数据中的至少部分参数对应的数据确定固定于测量设备上的待测结构的待测位置上其他参数对应的数据，其他参数与至少部分参数组成理论矢量数据中的参数；

步骤S14、将确定的固定于测量设备上的待测结构的待测位置上其他参数对应的数据确定为待测位置的实际矢量数据中的其他参数对应的数据。

对于上下方向非垂直的曲面零件的尺寸测量，主要是利用五轴三坐标测量设备或仿形样板进行测量。但是，五轴三坐标测量设备成本较高，仿形样本虽然成本低，但是其易磨损，且测量精度低。

基于此，本方案中通过对待测结构的三维数模的测量结合普通的三轴三坐标测量设备，实现对待测结构的曲面测量，通过三维数模实现曲面测量，在保证测量精度的前提下，仅需要三轴三坐标设备即可实现，降低了测量成本。

其中，三坐标测量设备是指在三个相互垂直的方向(x，y，z)上有导向机构、测长元件、数显装置，有一个能够放置工件的工作台，测量探头可以以手动或自动方式移动到工件被测点上，由读数设备和数显装置把被测点的坐标值显示出来的一种测量设备；

三轴三坐标测量设备是指三坐标设备的测量探头只能在三个相互垂直的方向(x，y，z)上直线运动的三坐标测量设备；而五轴三坐标测量设备上指三坐标设备的测量探头不仅能够在三个相互垂直的方向(x，y，z)上直线运动，还能够分别绕三个垂直的方向(x，y，z)进行旋转。

本方案中，为了对待测结构进行测量，可首先进行三维数模的绘制，即在绘图软件上绘制出待测结构的三维数模。

绘图软件可以为Creo，也可以为其他绘图软件，只要能够绘制出三维数模即可，在此并不限定。在绘图软件上按照待测结构的理论数值进行绘制，在对待测结构进行制作之前确定的待测结构的尺寸即为待测结构的理论数值，按照理论数值绘制出的三维数模是完全符合制作标准的待测结构的模型，要测量待测结构的某个点的位置，通过该三维模型测出的该点的位置数据是理论数据，即完全符合制作标准的待测结构上该点的数据。

在对三维模型进行绘制时，其是基于一个基准坐标系完成的，即在该基准坐标系的基础上绘制的，在该坐标系中完全按照理论数值绘制待测结构的三维数模后，该待测结构的三维数模上的任意一个点的坐标都是可直接在该基准坐标系上确定的，因此，确定待测位置后，可直接在该基准坐标系的基础上获得待测结构上待测位置的三维坐标，即理论矢量数据，如：(x1,y1,z1)。

待测结构上待测位置的理论数据为通过三维数模直接获得，而对于制作完成的实体的待测结构的测量，可直接将该待测结构固定在测量设备上，其测量设备可直接为三轴三坐标测量设备，无需使用五轴三坐标测量设备。在将该待测结构按照基准坐标系固定后，待测结构上任意一点的位置的坐标应与三维数模上相应点的位置的坐标相同。

因此，将待测结构按照基准坐标系固定在测量设备上之后，可以基于理论矢量数据中的部分参数对应的数据为基础，测量其他参数的数据，如：确定待测结构上的(x1,y1)，确定待测结构上待测位置的z轴坐标对应的数据，该数据即为其他参数对应的数据，将其确定为实体的待测结构上待测位置处的实际矢量数据中z对应的数据z2，即可确定该待测结构上待测位置的实际三维坐标为(x1,y1,z2)。

通过本方案对待测位置的测量，无需采用五轴三坐标测量设备，可降低测量成本，并且，基于理论数据构建待测结构的三维数模，从而确定实体待测结构上任意一点的实际坐标，提高了测量精度，避免了采用仿形样板导致的精度低、易磨损的问题。

本实施例公开的曲面测量方法，基于待测结构的理论数值绘制待测结构的三维数模，获得待测结构的三维数模的待测位置在三维数模所基于的基准坐标系下的理论矢量数据，基于理论矢量数据中的至少部分参数对应的数据确定固定于测量设备上的待测结构的待测位置上其他参数对应的数据，其他参数与至少部分参数组成理论矢量数据中的参数，将确定的固定于测量设备上的待测结构的待测位置上其他参数对应的数据确定为待测位置的实际矢量数据中的其他参数对应的数据。本方案基于三维数模确定待测结构的待测位置的理论矢量数据，之后在实际的测量设备上，基于理论矢量数据的至少部分参数对应的数据确定固定在测量设备上的其他参数对应的数据，从而确定该待测结构的待测位置的实际矢量数据，采用本方案使用三轴三坐标测量设备即可实现，无需利用五轴三坐标测量设备进行测量，降低了测量成本。

本实施例公开了一种曲面测量方法，其流程图如图2所示，包括：

步骤S21、基于待测结构的理论数值绘制待测结构的三维数模；

步骤S22、在待测结构的三维数模的待测位置按照测量设备的测量探头的尺寸绘制测量探头模型；

步骤S23、控制测量探头模型移动至待测结构的三维数模的待测位置处；

步骤S24、确定测量探头模型在三维数模及测量探头模型所基于的基准坐标系下的理论矢量数据；

步骤S25、基于理论矢量数据中的至少部分参数对应的数据确定固定于测量设备上的待测结构的待测位置上其他参数对应的数据，其他参数与至少部分参数组成理论矢量数据中的参数；

步骤S26、将确定的固定于测量设备上的待测结构的待测位置上其他参数对应的数据确定为待测位置的实际矢量数据中的其他参数对应的数据。

在绘图软件上绘制待测结构的三维数模后，对该三维数模的某个特定点的坐标进行确定，即对三维数模的待测位置的坐标进行确定。

由于待测设备固定在测量设备上对待测位置进行坐标的确定时，其是通过测量设备上的测量探头进行测量的，因此，为了保证测量的精确性，在绘图软件上也同样绘制一个测量探头模型，该测量探头模型与测量设备上的测量探头完全相同，即按照测量设备上的测量探头的尺寸绘制，从而保证通过测量探头模型得到的数据与通过测量探头得到的数据之前的误差减小。

在绘制待测结构的基准坐标系下绘制一个测量探头模型，使该测量探头模型与待测结构的待测位置相切，即将该测量探头模型移动至待测结构的三维数模的待测位置处，从而得到测量探头模型的坐标，该测量探头模型的坐标即为该三维数模上待测位置处的坐标，从而得到该三维数模的待测位置处的理论矢量数据。

三维数模的待测位置的理论矢量数据与待测结构的待测位置的理论数值是不同的，由于三维数模的待测位置的理论矢量数据是将测量探头模型与三维数模的待测位置相切，则其得到的测量探头模型的坐标实际为测量探头模型的中心点的坐标，其并非为两者相切的位置的坐标，如图3所示，绘制三维数模及测量探头模型，其中，①为待测结构的三维数模，②为测量探头模型，③为基准坐标系的原点，对三维数模的待测位置进行测量得到的理论矢量数据实际为测量探头模型②的中心点的坐标，其与两者相切的位置之间相差为一个测量探头模型的半径。

进一步的，在得到理论矢量数据之后或同时，将待测结构基于三维数模的基准坐标系固定在测量设备上，基于测量设备的测量探头检测固定于测量设备上的待测结构上待测位置的其他参数对应的数据，测量探头位于待测结构的基于理论矢量数据中的至少部分参数对应的数据确定的待测位置处。

按照三维数模的基准坐标系固定待测结构于测量设备上，即测量设备所基于的基准坐标系与三维数模所基于的基准坐标系相同，并且，三维数模在基准坐标系上的位置及方向与待测结构在基准坐标系上的位置及方向相同，以保证理论矢量数据与实际矢量数据中数据能够对应，如图4所示，将待测结构固定于测量设备上，其中，④为测量设备，⑤为测量探头，⑥为待测结构。待测结构在测量设备上所基于的基准坐标系与三维数模在其所基于的基准坐标系上的位置相同，测量探头与测量探头模型的尺寸匹配。

在通过测量探头对待测设备的待测位置进行测量时，将测量探头移动至理论矢量数据中的两个参数的数据所对应的位置处，之后沿着另一个参数方向移动，从而得到y2，即实际矢量数据中其他参数对应的数据。如：将测量探头移动至(x1,z1)位置处，沿y方向移动测量探头，得到y2，从而得到实际矢量数据中y方向的数据，进一步得到该待测位置处的实际矢量数据为(x1,y2,z1)。

即：基于待测结构的待测位置确定待测量的第一参数，基于理论矢量数据中的第二参数组对应的数据确定固定于测量设备上的待测结构的待测位置上第一参数对应的数据，其中，第一参数与第二参数组组成理论矢量数据中的参数，第一参数是理论矢量数据中除第二参数组之外的参数。

理论矢量数据由第一参数与第二参数组组成，确定待测结构的待测位置待测的数据是第一参数，则理论矢量数据中剩余的参数即为第二参数组，第一参数并不限定为理论矢量数据中的哪一个具体的参数，而是基于待测结构的实际特征确定。

具体的，基于待测结构的待测位置确定待测结构的曲面所对应的坐标轴，基于待测结构的曲面所对应的坐标轴确定待测量的第一参数。

待测结构中的待测位置通常为待测结构的曲面上的点，因此，可直接基于待测结构的曲面所对应的坐标轴确定第一参数，如：待测结构的曲面所对应的坐标轴为x轴，则确定第一参数为x，则第二参数组为(y，z)。

若待测位置并未对应待测结构的曲面，则可基于用户的输入确定第一参数。

本实施例公开的曲面测量方法，基于待测结构的理论数值绘制待测结构的三维数模，获得待测结构的三维数模的待测位置在三维数模所基于的基准坐标系下的理论矢量数据，基于理论矢量数据中的至少部分参数对应的数据确定固定于测量设备上的待测结构的待测位置上其他参数对应的数据，其他参数与至少部分参数组成理论矢量数据中的参数，将确定的固定于测量设备上的待测结构的待测位置上其他参数对应的数据确定为待测位置的实际矢量数据中的其他参数对应的数据。本方案基于三维数模确定待测结构的待测位置的理论矢量数据，之后在实际的测量设备上，基于理论矢量数据的至少部分参数对应的数据确定固定在测量设备上的其他参数对应的数据，从而确定该待测结构的待测位置的实际矢量数据，采用本方案使用三轴三坐标测量设备即可实现，无需利用五轴三坐标测量设备进行测量，降低了测量成本。

进一步的，本实施例公开的曲面测量方法，还可以包括：

比较实际矢量数据中的其他参数对应的数据与理论矢量数据中的其他参数对应的数据的差值是否满足公差要求。

即将检测到的待测结构的待测位置的实际数值与理论数值进行比较，确定两者之间的差值是否满足公差要求，从而确定该待测结构中的待测位置是否合格。

若确定该待测结构中的该待测位置不合格，则无需进行后续检测，直接确定该待测结构不合格即可；

若确定该待测结构中的该待测位置合格，则继续依次基于当前实施例所公开的方法对待测结构中的其他待测位置进行测量，从而完成对该待测结构中不同待测位置的测量，进而达到对待测结构是否合格的检测。

通过本实施例公开的曲面测量方法对待测结构的待测位置进行测量，并在测量完成后确定该实际测量数值与理论数值之间的差值是否满足公差要求，从而确定该待测结构的待测位置是否合格，由于对待测位置的测量精度提高，使得对待测结构的待测位置是否合格的检测更精确，减少误判的发生。

本实施例公开了一种曲面测量装置，其结构示意图如图5所示，包括：

绘制单元51，获得单元52，第一确定单元53及第二确定单元54。

其中，绘制单元51用于基于待测结构的理论数值绘制待测结构的三维数模；

获得单元52用于获得待测结构的三维数模的待测位置在三维数模所基于的基准坐标系下的理论矢量数据；

第一确定单元53用于基于理论矢量数据中的至少部分参数对应的数据确定固定于测量设备上的待测结构的待测位置上其他参数对应的数据，其他参数与至少部分参数组成理论矢量数据中的参数；

第二确定单元54用于将确定的固定于测量设备上的待测结构的待测位置上其他参数对应的数据确定为待测位置的实际矢量数据中的其他参数对应的数据。

进一步的，获得单元用于：

在待测结构的三维数模的待测位置按照测量设备的测量探头的尺寸绘制测量探头模型；控制测量探头模型移动至待测结构的三维数模的待测位置处；确定测量探头模型在三维数模及测量探头模型所基于的基准坐标系下的理论矢量数据。

进一步的，第一确定单元用于：

将待测结构按照三维数模所基于的基准坐标系固定于测量设备上；基于测量设备的测量探头检测固定于测量设备上的待测结构上待测位置的其他参数对应的数据，测量探头位于待测结构的基于理论矢量数据中的至少部分参数对应的数据确定的待测位置处。

进一步的，第一确定单元用于：

基于待测结构的待测位置确定待测量的第一参数；基于理论矢量数据中的第二参数组对应的数据确定固定于测量设备上的待测结构的待测位置上第一参数对应的数据，其中，第一参数与第二参数组组成理论矢量数据中的参数，第一参数是理论矢量数据中除第二参数组之外的参数。

进一步的，第一确定单元基于待测结构的待测位置确定待测量的第一参数，包括：

基于待测结构的待测位置确定待测结构的曲面所对应的坐标轴；基于待测结构的曲面所对应的坐标轴确定待测量的第一参数。

进一步的，本实施例公开的曲面测量装置，还可以包括：

比较单元，用于比较实际矢量数据中的其他参数对应的数据与理论矢量数据中的其他参数对应的数据的差值是否满足公差要求。

本实施例公开的曲面测量装置是基于上述实施例公开的曲面测量方法实现的，在此不再赘述。

本实施例公开的曲面测量装置，基于待测结构的理论数值绘制待测结构的三维数模，获得待测结构的三维数模的待测位置在三维数模所基于的基准坐标系下的理论矢量数据，基于理论矢量数据中的至少部分参数对应的数据确定固定于测量设备上的待测结构的待测位置上其他参数对应的数据，其他参数与至少部分参数组成理论矢量数据中的参数，将确定的固定于测量设备上的待测结构的待测位置上其他参数对应的数据确定为待测位置的实际矢量数据中的其他参数对应的数据。本方案基于三维数模确定待测结构的待测位置的理论矢量数据，之后在实际的测量设备上，基于理论矢量数据的至少部分参数对应的数据确定固定在测量设备上的其他参数对应的数据，从而确定该待测结构的待测位置的实际矢量数据，采用本方案使用三轴三坐标测量设备即可实现，无需利用五轴三坐标测量设备进行测量，降低了测量成本。

本实施例公开了一种曲面测量系统，其结构示意图如图6所示，包括：

测量设备61及曲面测量装置62。

测量设备61用于待测结构固定；

曲面测量装置62用于基于待测结构的理论数值绘制待测结构的三维数模；获得待测结构的三维数模的待测位置在三维数模所基于的基准坐标系下的理论矢量数据；基于理论矢量数据中的至少部分参数对应的数据确定固定于测量设备上的待测结构的待测位置上其他参数对应的数据，其他参数与至少部分参数组成理论矢量数据中的参数；将确定的固定于测量设备上的待测结构的待测位置上其他参数对应的数据确定为待测位置的实际矢量数据中的其他参数对应的数据。

本实施例公开的曲面测量系统是基于上述实施例公开的曲面测量方法实现的，在此不再赘述。

本实施例公开的曲面测量系统，基于待测结构的理论数值绘制待测结构的三维数模，获得待测结构的三维数模的待测位置在三维数模所基于的基准坐标系下的理论矢量数据，基于理论矢量数据中的至少部分参数对应的数据确定固定于测量设备上的待测结构的待测位置上其他参数对应的数据，其他参数与至少部分参数组成理论矢量数据中的参数，将确定的固定于测量设备上的待测结构的待测位置上其他参数对应的数据确定为待测位置的实际矢量数据中的其他参数对应的数据。本方案基于三维数模确定待测结构的待测位置的理论矢量数据，之后在实际的测量设备上，基于理论矢量数据的至少部分参数对应的数据确定固定在测量设备上的其他参数对应的数据，从而确定该待测结构的待测位置的实际矢量数据，采用本方案使用三轴三坐标测量设备即可实现，无需利用五轴三坐标测量设备进行测量，降低了测量成本。

本说明书中各个实施例采用递进的方式描述，每个实施例重点说明的都是与其他实施例的不同之处，各个实施例之间相同相似部分互相参见即可。对于实施例公开的装置而言，由于其与实施例公开的方法相对应，所以描述的比较简单，相关之处参见方法部分说明即可。

专业人员还可以进一步意识到，结合本文中所公开的实施例描述的各示例的单元及算法步骤，能够以电子硬件、计算机软件或者二者的结合来实现，为了清楚地说明硬件和软件的可互换性，在上述说明中已经按照功能一般性地描述了各示例的组成及步骤。这些功能究竟以硬件还是软件方式来执行，取决于技术方案的特定应用和设计约束条件。专业技术人员可以对每个特定的应用来使用不同方法来实现所描述的功能，但是这种实现不应认为超出本申请的范围。

结合本文中所公开的实施例描述的方法或算法的步骤可以直接用硬件、处理器执行的软件模块，或者二者的结合来实施。软件模块可以置于随机存储器(RAM)、内存、只读存储器(ROM)、电可编程ROM、电可擦除可编程ROM、寄存器、硬盘、可移动磁盘、CD-ROM、或技术领域内所公知的任意其它形式的存储介质中。

对所公开的实施例的上述说明，使本领域专业技术人员能够实现或使用本申请。对这些实施例的多种修改对本领域的专业技术人员来说将是显而易见的，本文中所定义的一般原理可以在不脱离本申请的精神或范围的情况下，在其它实施例中实现。因此，本申请将不会被限制于本文所示的这些实施例，而是要符合与本文所公开的原理和新颖特点相一致的最宽的范围。

Claims (10)

1.一种曲面测量方法，其特征在于，包括：

基于待测结构的理论数值绘制待测结构的三维数模；

获得所述待测结构的三维数模的待测位置在所述三维数模所基于的基准坐标系下的理论矢量数据；

基于所述理论矢量数据中的至少部分参数对应的数据确定固定于测量设备上的待测结构的待测位置上其他参数对应的数据，所述其他参数与所述至少部分参数组成所述理论矢量数据中的参数；

将确定的固定于所述测量设备上的所述待测结构的待测位置上其他参数对应的数据确定为待测位置的实际矢量数据中的其他参数对应的数据。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述获得所述待测结构的三维数模的待测位置在所述三维数模所基于的基准坐标系下的理论矢量数据，包括：

在所述待测结构的三维数模的待测位置按照所述测量设备的测量探头的尺寸绘制测量探头模型；

控制所述测量探头模型移动至所述待测结构的三维数模的待测位置处；

确定所述测量探头模型在所述三维数模及所述测量探头模型所基于的基准坐标系下的理论矢量数据。

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述基于所述理论矢量数据中的至少部分参数对应的数据确定固定于测量设备上的待测结构的待测位置上其他参数对应的数据，包括：

将所述待测结构按照所述三维数模所基于的基准坐标系固定于所述测量设备上；

基于所述测量设备的测量探头检测固定于所述测量设备上的待测结构上待测位置的其他参数对应的数据，所述测量探头位于所述待测结构的基于理论矢量数据中的至少部分参数对应的数据确定的待测位置处。

4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述基于所述理论矢量数据中的至少部分参数对应的数据确定固定于测量设备上的待测结构的待测位置上其他参数对应的数据，包括：

基于所述待测结构的待测位置确定待测量的第一参数；

基于所述理论矢量数据中的第二参数组对应的数据确定固定于所述测量设备上的待测结构的待测位置上第一参数对应的数据，其中，所述第一参数与所述第二参数组组成所述理论矢量数据中的参数，所述第一参数是所述理论矢量数据中除所述第二参数组之外的参数。

5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述基于所述待测结构的待测位置确定待测量的第一参数，包括：

基于所述待测结构的待测位置确定所述待测结构的曲面所对应的坐标轴；

基于所述待测结构的曲面所对应的坐标轴确定待测量的第一参数。

6.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，还包括：

比较所述实际矢量数据中的其他参数对应的数据与所述理论矢量数据中的其他参数对应的数据的差值是否满足公差要求。

7.一种曲面测量装置，其特征在于，包括：

绘制单元，用于基于待测结构的理论数值绘制待测结构的三维数模；

获得单元，用于获得所述待测结构的三维数模的待测位置在所述三维数模所基于的基准坐标系下的理论矢量数据；

第一确定单元，用于基于所述理论矢量数据中的至少部分参数对应的数据确定固定于测量设备上的待测结构的待测位置上其他参数对应的数据，所述其他参数与所述至少部分参数组成所述理论矢量数据中的参数；

第二确定单元，用于将确定的固定于所述测量设备上的所述待测结构的待测位置上其他参数对应的数据确定为待测位置的实际矢量数据中的其他参数对应的数据。

8.根据权利要求7所述的装置，其特征在于，所述获得单元用于：

在所述待测结构的三维数模的待测位置按照测量设备的测量探头的尺寸绘制测量探头模型；控制所述测量探头模型移动至所述待测结构的三维数据的待测位置处；确定所述测量探头模型在所述三维数模及所述测量探头模型所基于的基准坐标系下的理论矢量数据。

9.根据权利要求7所述的装置，其特征在于，还包括：

比较单元，用于比较所述实际矢量数据中的其他参数对应的数据与所述理论矢量数据中的其他参数对应的数据的差值是否满足公差要求。

10.一种曲面测量系统，其特征在于，包括：

测量设备，用于待测结构固定；

曲面测量装置，用于基于待测结构的理论数值绘制待测结构的三维数模；获得所述待测结构的三维数模的待测位置在所述三维数模所基于的基准坐标系下的理论矢量数据；基于所述理论矢量数据中的至少部分参数对应的数据确定固定于测量设备上的待测结构的待测位置上其他参数对应的数据，所述其他参数与所述至少部分参数组成所述理论矢量数据中的参数；将确定的固定于所述测量设备上的所述待测结构的待测位置上其他参数对应的数据确定为待测位置的实际矢量数据中的其他参数对应的数据。

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