CN115314035A - 一种按键触发控制方法、装置及用电设备 - Google Patents

一种按键触发控制方法、装置及用电设备 Download PDF

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CN115314035A CN202210848720.8A CN202210848720A CN115314035A CN 115314035 A CN115314035 A CN 115314035A CN 202210848720 A CN202210848720 A CN 202210848720A CN 115314035 A CN115314035 A CN 115314035A
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龙程程
李涛
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Abstract

本发明公开一种按键触发控制方法、装置及用电设备。其中,该方法包括:在常规模式下识别是否存在电磁干扰;当识别到电磁干扰时,进入抗干扰模式,根据所述抗干扰模式下的时间参数值判断按键是否被触发;其中,所述抗干扰模式与所述常规模式下的时间参数值不同。本发明在识别到电磁干扰时,从常规模式切换至抗干扰模式,在抗干扰模式下,使用与常规模式不同的时间参数值来判断按键是否被触发,能够过滤掉干扰,避免将干扰对按键的影响识别为用户操作按键,解决了电磁干扰环境下导致按键误动作的问题,确保触摸按键不受电磁环境干扰。

Description

一种按键触发控制方法、装置及用电设备
技术领域
本发明涉及控制技术领域,具体而言,涉及一种按键触发控制方法、装置及用电设备。
背景技术
当有人手靠近按键时,人手与大地构成的感应电容并联按键与大地构成的感应电容,会使总感应电容值增加。触摸芯片在检测到某个按键的感应电容值达到预设阈值后,得到按键信号。根据上述原理制成的按键称为电容式感应触摸按键,目前被广泛应用在控制装置中。
当检测到某按键的感应电容值超过预设阈值且持续一定时间,则认为该按键被触发,执行该按键对应的动作。但是对于处在复杂电磁干扰环境下的产品,有可能出现按键在无操作的时候误动作,比如,EMC(Electromagnetic Compatibility,电磁兼容)实验中电快速瞬变、静电测试;变频产品电源网络产生干扰;冬天人体带的静电等都可能引起误动作。
目前,针对上述问题,主要是通过调节按键阈值(即预设阈值)的方法来避免误动作,但这样并不能完全解决干扰较大的情况下按键误触的问题。
针对现有技术中电磁干扰环境下导致按键误动作的问题,目前尚未提出有效的解决方案。
发明内容
本发明实施例提供一种按键触发控制方法、装置及用电设备,以至少解决现有技术中电磁干扰环境下导致按键误动作的问题。
为解决上述技术问题,本发明实施例提供了一种按键触发控制方法,包括:在常规模式下识别是否存在电磁干扰;当识别到电磁干扰时,进入抗干扰模式,根据所述抗干扰模式下的时间参数值判断按键是否被触发;其中,所述抗干扰模式与所述常规模式下的时间参数值不同。
可选的,在常规模式下识别是否存在电磁干扰,包括:检测所述按键的感应电容值;若所述感应电容值达到预设阈值且持续时间小于第一预设时间,则计数次数加一;若在第二预设时间内的计数次数大于或等于预设次数,则确定存在电磁干扰。
可选的,进入抗干扰模式,包括:执行抗干扰模式持续第三预设时间后,回到所述常规模式,根据所述常规模式下的时间参数值判断所述按键是否被触发,并继续识别是否存在电磁干扰;或者,在执行抗干扰模式的过程中,识别是否存在电磁干扰,当不存在电磁干扰时,回到所述常规模式,根据所述常规模式下的时间参数值判断所述按键是否被触发,并继续识别是否存在电磁干扰。
可选的,所述时间参数值包括:感应电容值采集周期、MCU读取按键信息的周期和有效按键持续时长;所述抗干扰模式下的感应电容值采集周期小于所述常规模式下的感应电容值采集周期;和/或,所述抗干扰模式下的MCU读取按键信息的周期小于所述常规模式下的MCU读取按键信息的周期;和/或,所述抗干扰模式下的有效按键持续时长大于所述常规模式下的有效按键持续时长。
可选的,在根据所述抗干扰模式下的时间参数值判断按键是否被触发之前,还包括:读取预先设置的固定值作为所述抗干扰模式下的时间参数值,或者,根据当前干扰强度自适应设定所述抗干扰模式下的时间参数值。
可选的,根据当前干扰强度自适应设定所述抗干扰模式下的时间参数值,包括:获取当前电磁干扰的干扰强度数据,其中,所述干扰强度数据包括:预设次数以及第二预设时间内所述按键的感应电容值达到预设阈值且持续时间小于第一预设时间的计数次数;根据所述干扰强度数据和所述常规模式下的时间参数值,计算得到所述抗干扰模式下的时间参数值。
可选的,按照以下公式计算得到所述抗干扰模式下的时间参数值:
t4=k1×T4/(n/N),和/或,
t5=k2×T5/(n/N),和/或,
m=k3×(n/N)×M+M,
其中,t4表示抗干扰模式下的感应电容值采集周期,t5表示抗干扰模式下的MCU读取按键信息的周期,m表示抗干扰模式下的有效按键持续时长对应的连续读取次数,T4表示常规模式下的感应电容值采集周期,T5表示常规模式下的MCU读取按键信息的周期,M表示常规模式下的有效按键持续时长对应的连续读取次数,n表示计数次数,N表示预设次数,k1、k2和k3为常数。
本发明实施例还提供了一种按键触发控制装置,包括:识别模块,用于在常规模式下识别是否存在电磁干扰;判断模块,用于当识别到电磁干扰时,进入抗干扰模式,根据所述抗干扰模式下的时间参数值判断按键是否被触发;其中,所述抗干扰模式与所述常规模式下的时间参数值不同。
本发明实施例还提供了一种用电设备,包括:按键以及本发明实施例所述的按键触发控制装置。
本发明实施例还提供了一种非易失性计算机可读存储介质,其上存储有计算机程序,所述计算机程序被处理器执行时实现本发明实施例所述方法的步骤。
应用本发明的技术方案,在识别到电磁干扰时,从常规模式切换至抗干扰模式,在抗干扰模式下,使用与常规模式不同的时间参数值来判断按键是否被触发,能够过滤掉干扰,避免将干扰对按键的影响识别为用户操作按键,解决了电磁干扰环境下导致按键误动作的问题,确保触摸按键不受电磁环境干扰。
附图说明
图1是本发明实施例提供的按键触发控制方法的流程图;
图2是本发明实施例提供的按键触发示意图;
图3是本发明实施例提供的按键触发控制装置的结构框图。
具体实施方式
为了使本发明的目的、技术方案和优点更加清楚,下面将结合附图对本发明作进一步地详细描述,显然,所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其它实施例,都属于本发明保护的范围。
需要说明的是,本发明的说明书和权利要求书及附图中的术语“第一”、“第二”等是用于区别类似的对象,而不必用于描述特定的顺序或先后次序。应该理解这样使用的数据在适当情况下可以互换,以便这里描述的本发明的实施例能够以除了在这里图示或描述的那些以外的顺序实施。此外,术语“包括”和“具有”以及他们的任何变形,意图在于覆盖不排他的包含,例如,包含了一系列步骤或单元的过程、方法、系统、产品或设备不必限于清楚地列出的那些步骤或单元,而是可包括没有清楚地列出的或对于这些过程、方法、产品或设备固有的其它步骤或单元。
需要说明的是,在附图的流程图示出的步骤可以在诸如一组计算机可执行指令的计算机系统中执行,并且,虽然在流程图中示出了逻辑顺序,但是在某些情况下,可以以不同于此处的顺序执行所示出或描述的步骤。
应当理解,本文中使用的术语“和/或”仅仅是一种描述关联对象的关联关系,表示可以存在三种关系,例如,A和/或B,可以表示:单独存在A,同时存在A和B,单独存在B这三种情况。另外,本文中字符“/”,一般表示前后关联对象是一种“或”的关系。
下面结合附图详细说明本发明的可选实施例。
本发明实施例提供一种按键触发控制方法,可适用于触摸按键,尤其是电容式感应触摸按键。
图1是本发明实施例提供的按键触发控制方法的流程图,如图1所示,该方法包括以下步骤:
S101,在常规模式下识别是否存在电磁干扰。
S102,当识别到电磁干扰时,进入抗干扰模式,根据抗干扰模式下的时间参数值判断按键是否被触发。其中,抗干扰模式与常规模式下的时间参数值不同。
其中,时间参数值是用于判断按键是否被触发的依据。本实施例的按键触发涉及到常规模式和抗干扰模式,抗干扰模式与常规模式使用的时间参数种类相同,但抗干扰模式与常规模式下的时间参数取值(即时间参数值)不同,例如,同一种时间参数在抗干扰模式和常规模式下的取值可能不同。若包括至少两种时间参数,抗干扰模式与常规模式下的这至少两种时间参数的取值可以全部不同或部分不同。在常规模式下,根据常规模式下的时间参数值判断按键是否被触发,在抗干扰模式下,根据抗干扰模式下的时间参数值判断按键是否被触发。
当未识别到电磁干扰时(即不存在电磁干扰时),继续执行常规模式,根据常规模式下的时间参数值判断按键是否被触发。
本实施例在识别到电磁干扰时,从常规模式切换至抗干扰模式,在抗干扰模式下,使用与常规模式不同的时间参数值来判断按键是否被触发,能够过滤掉干扰,避免将干扰对按键的影响识别为用户操作按键,解决了电磁干扰环境下导致按键误动作的问题,确保触摸按键不受电磁环境干扰。
识别是否存在电磁干扰,可以通过设置电磁干扰检测模块来进行识别,例如,当电磁干扰检测模块连续一定时间检测到大于预设频率的电磁信号时,认为存在电磁干扰。
在一个可选的实施方式中,也可以通过按键对电磁干扰的反应来识别,具体的,识别是否存在电磁干扰,包括:检测按键的感应电容值;若感应电容值达到预设阈值且持续时间小于第一预设时间,则计数次数加一;若在第二预设时间内的计数次数大于或等于预设次数,则确定存在电磁干扰。
其中,预设阈值、第一预设时间T1、第二预设时间T2和预设次数N都可以根据实际情况进行预先设置。T1<T2。按键触摸操作(短按)的停留时间一般在50ms~200ms,0<T1<50ms,例如,T1设置为20ms或30ms。例如,T2设置为1s、2s或者3s等。N为整数,N≥2。按键的感应电容值达到预设阈值且持续时间小于第一预设时间T1,则认为按下按键的时间过短,属于非正常操作按键。在第二预设时间T2内的计数次数n表示在第二预设时间T2内非正常操作按键的出现次数。第二预设时间T2内的计数次数n能够表示干扰强度,n越大,干扰越强。
本实施方式能够快速有效识别出电磁干扰环境,从而及时切换至抗干扰模式对按键进行触发,避免电磁干扰对按键触发的影响。
抗干扰模式的执行可以有以下两种情况,具体的,进入抗干扰模式,包括:
(1)执行抗干扰模式持续第三预设时间后,回到常规模式,根据常规模式下的时间参数值判断按键是否被触发,并在常规模式下继续识别是否存在电磁干扰;当再次识别出存在电磁干扰时,则再次执行第三预设时间的抗干扰模式;或者,
(2)在执行抗干扰模式的过程中,识别是否存在电磁干扰,当仍存在电磁干扰时,则继续执行抗干扰模式,当不存在电磁干扰时,回到常规模式,根据常规模式下的时间参数值判断按键是否被触发,并在常规模式下继续识别是否存在电磁干扰。
其中,第三预设时间T3可以根据实际情况进行预先设置,例如1分钟、2分钟、3分钟等。在方式(2)中,在抗干扰模式下,同样可采取前述方法来识别是否存在电磁干扰,例如,在每个第二预设时间T2内统计按键的感应电容值达到预设阈值且持续时间小于第一预设时间T1的计数次数n,若该计数次数n大于或等于预设次数N,则认为仍存在电磁干扰,继续执行抗干扰模式,若该计数次数n小于预设次数N,则认为不存在电磁干扰,立刻退出抗干扰模式,恢复常规模式。
本实施方式提供抗干扰模式的两种执行方式,一种是执行抗干扰模式持续第三预设时间后恢复常规模式,另一种是在抗干扰模式下继续识别电磁干扰且当不存在电磁干扰时恢复常规模式,由此能够更为灵活的退出抗干扰模式。
如图2所示,可以通过触控芯片和MCU(Microcontroller Unit,微控制单元)来实现按键的触发,在常规模式下,触控芯片20周期性(比如20ms)采集触摸按键10的感应电容值,若感应电容值达到预设阈值,则把对应按键放到触控芯片20自身的存储器中。MCU 30周期性(比如每隔20ms)读取触控芯片20里存储的按键信息,若MCU 30判断出连续读取M次(比如3次)的感应电容值都达到预设阈值,则认为满足有效按键持续时长(比如60ms),信息稳定,属于用户正常操作按键,按键被触发,执行该按键对应的动作。触控芯片和MCU也可以集成在一起。
上述时间参数值可以包括:感应电容值采集周期、MCU读取按键信息的周期和有效按键持续时长。感应电容值采集周期是指触控芯片采集按键的感应电容值的周期。MCU读取按键信息的周期是指MCU读取触控芯片里存储的按键信息的周期。有效按键持续时长是指按键的感应电容值达到预设阈值所持续的时间。
抗干扰模式下的感应电容值采集周期小于常规模式下的感应电容值采集周期;和/或,抗干扰模式下的MCU读取按键信息的周期小于常规模式下的MCU读取按键信息的周期;和/或,抗干扰模式下的有效按键持续时长大于常规模式下的有效按键持续时长。
也就是说,抗干扰模式下的感应电容值采集周期、MCU读取按键信息的周期和有效按键持续时长中,至少一个参数取值与常规模式下的参数取值不同,例如,抗干扰模式下的感应电容值采集周期小于常规模式下的感应电容值采集周期,抗干扰模式下的MCU读取按键信息的周期小于常规模式下的MCU读取按键信息的周期,且抗干扰模式下的有效按键持续时长等于常规模式下的有效按键持续时长;又如,抗干扰模式下的感应电容值采集周期等于常规模式下的感应电容值采集周期,抗干扰模式下的MCU读取按键信息的周期等于常规模式下的MCU读取按键信息的周期,且抗干扰模式下的有效按键持续时长大于常规模式下的有效按键持续时长;再如,抗干扰模式下的感应电容值采集周期小于常规模式下的感应电容值采集周期,抗干扰模式下的MCU读取按键信息的周期小于常规模式下的MCU读取按键信息的周期,且抗干扰模式下的有效按键持续时长大于常规模式下的有效按键持续时长。
抗干扰模式与常规模式相比,可以缩短触控芯片采集按键的感应电容值的周期,提高触控芯片采集频率,尽可能多采集数据,从而提高发现不稳定的概率;也可以缩短MCU读取按键信息的周期,从而提高发现不稳定的概率;也可以增大有效按键持续时长,有效按键持续较长时间才认为是正常操作,能够避免电磁干扰导致误动作。
示例性的,在常规模式下,触控芯片周期性(比如20ms)采集按键的感应电容值,若感应电容值达到预设阈值,则把对应按键放到触控芯片自身的存储器中;MCU周期性(比如每隔20ms)读取触控芯片里存储的按键信息,若连续读取M次(比如3次)的感应电容值都达到预设阈值,则认为满足有效按键持续时长(比如60ms),信息稳定,属于用户正常操作按键,按键被触发,执行该按键对应的动作。在抗干扰模式下,触控芯片每隔10ms采集一次按键的感应电容值,若感应电容值达到预设阈值,则把对应按键放到触控芯片自身的存储器中;MCU周期性(比如每隔10ms)读取触控芯片里存储的按键信息,若连续读取12次的感应电容值都达到预设阈值,则认为满足有效按键持续时长(即120ms),信息稳定,属于用户正常操作按键,按键被触发,执行该按键对应的动作,由此能够避免电磁干扰环境导致误动作。
需要说明的是,感应电容值采集周期小于MCU读取按键信息的周期,以避免在触控芯片不更新数据的情况下MCU频繁读取相同信息。
在一个实施方式中,在根据抗干扰模式下的时间参数值判断按键是否被触发之前,还包括:读取预先设置的固定值作为抗干扰模式下的时间参数值,或者,根据当前干扰强度自适应设定抗干扰模式下的时间参数值。也就是说,抗干扰模式下的时间参数值可以是预先设置的固定值,也可以根据当前干扰强度按照预设规则自适应设定,自适应设定参数值能够针对当前干扰情况更好地过滤干扰,避免将干扰对按键的影响识别为用户操作按键。
将预先设置的固定值作为抗干扰模式下的时间参数值,具体可以在常规模式下的时间参数值的基础上,执行以下至少之一的调整操作以得到抗干扰模式下的时间参数值:(1)缩短感应电容值采集周期,以提高发现不稳定的概率;(2)缩短MCU读取触控芯片按键信息的周期,以同步提高发现不稳定的概率;(3)增大有效按键持续时长对应的连续读取次数(即有效按键连续读取次数),有效按键持续较长时间才认为是正常操作,从而避免电磁干扰导致误动作。对于上述任意时间参数,若不执行相应调整操作,则在抗干扰模式下该时间参数的取值与常规模式下的取值相等。可以理解的是,若上述三种时间参数都做相应调整,则抗干扰的效果最优。
进一步的,根据当前干扰强度自适应设定抗干扰模式下的时间参数值,包括:获取当前电磁干扰的干扰强度数据,其中,干扰强度数据包括:预设次数以及第二预设时间内按键的感应电容值达到预设阈值且持续时间小于第一预设时间的计数次数(即第二预设时间内非正常操作按键的出现次数);根据干扰强度数据和常规模式下的时间参数值,计算得到抗干扰模式下的时间参数值。本实施方式在常规模式下的时间参数值的基础上,根据干扰强度数据自适应计算得到抗干扰模式下的时间参数值,能够更为合理地设定抗干扰模式下的时间参数值,以更加可靠有效地过滤干扰。
具体的,可以按照以下公式计算得到抗干扰模式下的时间参数值:
t4=k1×T4/(n/N),和/或,
t5=k2×T5/(n/N),和/或,
m=k3×(n/N)×M+M,
其中,t4表示抗干扰模式下的感应电容值采集周期,t5表示抗干扰模式下的MCU读取按键信息的周期,m表示抗干扰模式下的有效按键持续时长对应的连续读取次数,T4表示常规模式下的感应电容值采集周期,T5表示常规模式下的MCU读取按键信息的周期,M表示常规模式下的有效按键持续时长对应的连续读取次数,n表示计数次数,N表示预设次数,k1、k2和k3为常数,例如,0<k1<2,0<k2<2,0<k3<1。2ms<t4<T4,2ms<t5<T5,T5×M<t5×m<150ms。有效按键持续时长可以通过有效按键连续读取次数来体现,具体的,有效按键持续时长等于MCU读取按键信息的周期与有效按键连续读取次数的乘积。按键触摸操作(短按)的停留时间一般在50ms~200ms,若超过150ms才认为是正常按键操作的话,灵敏度太低,为了保证灵敏度,有效按键持续时长小于150ms。
通过上述计算公式,能够合理地根据干扰强度自动配置抗干扰模式下的时间参数值。
基于同一发明构思,本发明实施例还提供了一种按键触发控制装置,可以用于实现上述实施例所述的按键触发控制方法。该按键触发控制装置可以通过软件和/或硬件实现。
图3是本发明实施例提供的按键触发控制装置的结构框图,如图3所示,该按键触发控制装置包括:
识别模块31,用于在常规模式下识别是否存在电磁干扰;
判断模块32,用于当识别到电磁干扰时,进入抗干扰模式,根据所述抗干扰模式下的时间参数值判断按键是否被触发;
其中,所述抗干扰模式与所述常规模式下的时间参数值不同。
可选的,识别模块31包括:
检测单元,用于检测所述按键的感应电容值;
计数单元,用于若所述感应电容值达到预设阈值且持续时间小于第一预设时间,则计数次数加一;
确定单元,用于若在第二预设时间内的计数次数大于或等于预设次数,则确定存在电磁干扰。
可选的,判断模块32具体用于:执行抗干扰模式持续第三预设时间后,回到所述常规模式,根据所述常规模式下的时间参数值判断所述按键是否被触发,并继续识别是否存在电磁干扰;或者,在执行抗干扰模式的过程中,识别是否存在电磁干扰,当不存在电磁干扰时,回到所述常规模式,根据所述常规模式下的时间参数值判断所述按键是否被触发,并继续识别是否存在电磁干扰。
可选的,所述时间参数值包括:感应电容值采集周期、MCU读取按键信息的周期和有效按键持续时长;所述抗干扰模式下的感应电容值采集周期小于所述常规模式下的感应电容值采集周期;和/或,所述抗干扰模式下的MCU读取按键信息的周期小于所述常规模式下的MCU读取按键信息的周期;和/或,所述抗干扰模式下的有效按键持续时长大于所述常规模式下的有效按键持续时长。
可选的,上述按键触发控制装置还包括:处理模块,用于在根据所述抗干扰模式下的时间参数值判断按键是否被触发之前,读取预先设置的固定值作为所述抗干扰模式下的时间参数值,或者,根据当前干扰强度自适应设定所述抗干扰模式下的时间参数值。
可选的,处理模块包括:
获取单元,用于获取当前电磁干扰的干扰强度数据,其中,所述干扰强度数据包括:预设次数以及第二预设时间内所述按键的感应电容值达到预设阈值且持续时间小于第一预设时间的计数次数;
计算单元,用于根据所述干扰强度数据和所述常规模式下的时间参数值,计算得到所述抗干扰模式下的时间参数值。
可选的,计算单元按照以下公式计算得到所述抗干扰模式下的时间参数值:
t4=k1×T4/(n/N),和/或,
t5=k2×T5/(n/N),和/或,
m=k3×(n/N)×M+M,
其中,t4表示抗干扰模式下的感应电容值采集周期,t5表示抗干扰模式下的MCU读取按键信息的周期,m表示抗干扰模式下的有效按键持续时长对应的连续读取次数,T4表示常规模式下的感应电容值采集周期,T5表示常规模式下的MCU读取按键信息的周期,M表示常规模式下的有效按键持续时长对应的连续读取次数,n表示计数次数,N表示预设次数,k1、k2和k3为常数。
上述按键触发控制装置可执行本发明实施例所提供的按键触发控制方法,具备执行方法相应的功能模块和有益效果。未在本实施例中详尽描述的技术细节,可参见本发明实施例提供的按键触发控制方法。
本发明实施例还提供一种用电设备,包括:按键以及上述实施例所述的按键触发控制装置。该用电设备可以是空调温控器或线控器、电饭煲、冰箱、洗衣机等带有触摸按键输入功能的设备。
本发明实施例还提供一种计算机设备,包括:存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序,所述处理器执行所述计算机程序时实现上述实施例所述方法的步骤。
本发明实施例还提供一种非易失性计算机可读存储介质,其上存储有计算机程序,所述计算机程序被处理器执行时实现上述实施例所述方法的步骤。
以上所描述的装置实施例仅仅是示意性的,其中所述作为分离部件说明的单元可以是或者也可以不是物理上分开的,作为单元显示的部件可以是或者也可以不是物理单元,即可以位于一个地方,或者也可以分布到多个网络单元上。可以根据实际的需要选择其中的部分或者全部模块来实现本实施例方案的目的。
通过以上的实施方式的描述,本领域的技术人员可以清楚地了解到各实施方式可借助软件加必需的通用硬件平台的方式来实现,当然也可以通过硬件。基于这样的理解,上述技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分可以以软件产品的形式体现出来,该计算机软件产品可以存储在计算机可读存储介质中,如ROM/RAM、磁碟、光盘等,包括若干指令用以使得一台计算机设备(可以是个人计算机,服务器,或者网络设备等)执行各个实施例或者实施例的某些部分所述的方法。
最后应说明的是:以上实施例仅用以说明本发明的技术方案,而非对其限制;尽管参照前述实施例对本发明进行了详细的说明,本领域的普通技术人员应当理解:其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改,或者对其中部分技术特征进行等同替换;而这些修改或者替换,并不使相应技术方案的本质脱离本发明各实施例技术方案的精神和范围。

Claims (10)

1.一种按键触发控制方法,其特征在于,包括:
在常规模式下识别是否存在电磁干扰;
当识别到电磁干扰时,进入抗干扰模式,根据所述抗干扰模式下的时间参数值判断按键是否被触发;
其中,所述抗干扰模式与所述常规模式下的时间参数值不同。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,在常规模式下识别是否存在电磁干扰,包括:
检测所述按键的感应电容值;
若所述感应电容值达到预设阈值且持续时间小于第一预设时间,则计数次数加一;
若在第二预设时间内的计数次数大于或等于预设次数,则确定存在电磁干扰。
3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,进入抗干扰模式,包括:
执行抗干扰模式持续第三预设时间后,回到所述常规模式,根据所述常规模式下的时间参数值判断所述按键是否被触发,并继续识别是否存在电磁干扰;或者,
在执行抗干扰模式的过程中,识别是否存在电磁干扰,当不存在电磁干扰时,回到所述常规模式,根据所述常规模式下的时间参数值判断所述按键是否被触发,并继续识别是否存在电磁干扰。
4.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述时间参数值包括:感应电容值采集周期、MCU读取按键信息的周期和有效按键持续时长;
所述抗干扰模式下的感应电容值采集周期小于所述常规模式下的感应电容值采集周期;和/或,
所述抗干扰模式下的MCU读取按键信息的周期小于所述常规模式下的MCU读取按键信息的周期;和/或,
所述抗干扰模式下的有效按键持续时长大于所述常规模式下的有效按键持续时长。
5.根据权利要求1至4中任一项所述的方法,其特征在于,在根据所述抗干扰模式下的时间参数值判断按键是否被触发之前,还包括:
读取预先设置的固定值作为所述抗干扰模式下的时间参数值,或者,根据当前干扰强度自适应设定所述抗干扰模式下的时间参数值。
6.根据权利要求5所述的方法,其特征在于,根据当前干扰强度自适应设定所述抗干扰模式下的时间参数值,包括:
获取当前电磁干扰的干扰强度数据,其中,所述干扰强度数据包括:预设次数以及第二预设时间内所述按键的感应电容值达到预设阈值且持续时间小于第一预设时间的计数次数;
根据所述干扰强度数据和所述常规模式下的时间参数值,计算得到所述抗干扰模式下的时间参数值。
7.根据权利要求6所述的方法,其特征在于,按照以下公式计算得到所述抗干扰模式下的时间参数值:
t4=k1×T4/(n/N),和/或,
t5=k2×T5/(n/N),和/或,
m=k3×(n/N)×M+M,
其中,t4表示抗干扰模式下的感应电容值采集周期,t5表示抗干扰模式下的MCU读取按键信息的周期,m表示抗干扰模式下的有效按键持续时长对应的连续读取次数,T4表示常规模式下的感应电容值采集周期,T5表示常规模式下的MCU读取按键信息的周期,M表示常规模式下的有效按键持续时长对应的连续读取次数,n表示计数次数,N表示预设次数,k1、k2和k3为常数。
8.一种按键触发控制装置,其特征在于,包括:
识别模块,用于在常规模式下识别是否存在电磁干扰;
判断模块,用于当识别到电磁干扰时,进入抗干扰模式,根据所述抗干扰模式下的时间参数值判断按键是否被触发;
其中,所述抗干扰模式与所述常规模式下的时间参数值不同。
9.一种用电设备,其特征在于,包括:按键以及权利要求8所述的按键触发控制装置。
10.一种非易失性计算机可读存储介质,其上存储有计算机程序,其特征在于,所述计算机程序被处理器执行时实现权利要求1至7中任一项所述方法的步骤。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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CN115718555A (zh) * 2022-11-16 2023-02-28 河南翔宇医疗设备股份有限公司 人机交互的控制方法及相关组件

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