CN115292757A - 磁共振协议的参数校验方法、装置、系统、设备和介质 - Google Patents

Abstract

本申请涉及磁共振成像技术领域，特别是涉及一种磁共振协议的参数校验方法、装置、系统、计算机设备和存储介质。所述方法包括：基于磁共振协议中的至少一个待校验参数，确定对应的至少一个待校验项；基于所述至少一个待校验项以及至少一个预设校验条件，确定所述至少一个待校验项是否满足对应的预设校验条件，生成对应的校验结果。本申请提高了磁共振系统工作的安全性，提高了磁共振系统的使用寿命。

Description

磁共振协议的参数校验方法、装置、系统、设备和介质

技术领域

本申请涉及磁共振成像技术领域，特别是涉及一种磁共振协议的参数校验方法、装置、系统、计算机设备和存储介质。

背景技术

在磁共振系统中，磁共振协议中所涉及的参数对磁共振系统的安全性产生较大影响，例如磁共振协议中所涉及的某一部件的参数超过其正常工作的极限值，又例如磁共振协议中所涉及的某一部件的工作频率与共振频率相同等。上述情况均会在扫描过程中对磁共振系统产生负面作用。

发明内容

基于此，有必要针对上述技术问题，提供一种磁共振协议的参数校验方法、装置、系统、计算机设备和存储介质。

第一方面，本发明实施例提出一种磁共振协议的参数校验方法，应用于磁共振系统，所述方法包括：

基于磁共振协议中的至少一个待校验参数，确定对应的至少一个待校验项；

基于所述至少一个待校验项以及至少一个预设校验条件，确定所述至少一个待校验项是否满足对应的预设校验条件，生成对应的校验结果。

在一实施例中，所述至少一个预设校验条件中包括对应待校验项的极限阈值；

所述基于所述至少一个待校验项以及至少一个预设校验条件，确定所述至少一个待校验项是否满足对应的预设校验条件包括：

确定所述至少一个待校验项是否大于极限阈值；其中，所述极限阈值基于对应待校验项的极限值所确定；

若大于对应的极限阈值，则确定对应的待校验项不满足对应的预设校验条件；

若小于或等于对应的极限阈值，则确定对应的待校验项满足对应的预设校验条件。

在一实施例中，所述至少一个预设校验条件中包括对应待校验项的参数值；

所述基于所述至少一个待校验项以及至少一个预设校验条件，确定所述至少一个待校验项是否满足对应的预设校验条件包括：

确定所述至少一个待校验项是否等于参数值；

若等于对应的参数值，则确定对应的待校验项不满足对应的预设校验条件；

若不等于对应的参数值，则确定对应的待校验项满足对应的预设校验条件。

在一实施例中，所述方法还包括：

对于不满足对应的预设校验条件的待校验项，基于对应的预设校验条件，确定该待校验项所对应的待校验参数的调节信息；

基于所述调节信息，对所述磁共振协议中对应的待校验参数进行调节。

在一实施例中，所述方法还包括：

基于调节后的待校验参数，确定对应的调节后的待校验项；

基于调节后的待校验项以及对应的预设校验条件，确定所述调节后的待校验项是否满足对应的预设校验条件；

在不满足对应的预设校验条件的情况下，对所述调节后的待校验参数进行再次调节，直到满足对应的预设校验条件。

在一实施例中，在所述基于磁共振协议中的至少一个待校验参数，确定对应的至少一个待校验项之前，所述方法还包括：

确定所述磁共振协议的校验等级，所述校验等级基于所述待校验项以及对应的预设校验条件所确定；

基于所述校验等级，确定所述待校验项以及对应的预设校验条件。

第二方面，本发明实施例提出一种磁共振协议的参数校验装置，应用于磁共振系统，所述装置包括：

第一确定模块，用于基于磁共振协议中的至少一个待校验参数，确定对应的至少一个待校验项；

第二确定模块，用于基于所述至少一个待校验项以及至少一个预设校验条件，确定所述至少一个待校验项是否满足对应的预设校验条件，生成对应的校验结果。

第三方面，本发明实施例提出一种磁共振系统，所述系统包括用于多圈扫描获得扫描生数据的扫描设备，以及与所述扫描设备连接的如第二方面所述的磁共振协议的参数校验装置。

第四方面，本发明实施例提出一种计算机设备，包括存储器和处理器，所述存储器存储有计算机程序，所述处理器执行第一方面所述的步骤。

第五方面，本发明实施例提出一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现第一方面所述的步骤。

相比于现有技术，上述方法、装置、系统、计算机设备和存储介质，基于磁共振协议中的至少一个待校验参数，确定对应的至少一个待校验项，基于所述至少一个待校验项以及至少一个预设校验条件，确定所述至少一个待校验项是否满足对应的预设校验条件，生成对应的校验结果。本发明实现磁共振协议待校验参数的校验从而提高了磁共振系统工作的安全性，提高了磁共振系统的使用寿命。

附图说明

图1为一实施例中磁共振系统的结构示意图；

图2为一实施例中磁共振协议的参数校验方法的流程示意图；

图3为一实施例中确定是否满足预设校验条件的流程示意图；

图4为另一实施例中确定是否满足预设校验条件的流程示意图；

图5为一实施例中确定调节信息的流程示意图；

图6为一实施例中再次调节待校验参数的的流程示意图；

图7为一实施例中确定校验等级的流程示意图；

图8为一实施例中磁共振协议的参数校验方法的具体流程示意图；

图9为一实施例中磁共振协议的参数校验装置的模块连接示意图；

图10为一实施例中计算机设备的结构示意图。

具体实施方式

为了更清楚地说明本发明的实施例的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单的介绍。显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些示例或实施例，对于本领域的普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图将本发明应用于其他类似情景。除非从语言环境中显而易见或另做说明，图中相同标号代表相同结构或操作。

如本发明和权利要求书中所示，除非上下文明确提示例外情形，“一”、“一个”、“一种”和/或“该”等词并非特指单数，也可包括复数。一般说来，术语“包括”与“包含”仅提示包括已明确标识的步骤和元素，而这些步骤和元素不构成一个排它性的罗列，方法或者设备也可能包含其他的步骤或元素。

虽然本发明对根据本发明的实施例的系统中的某些模块做出了各种引用，然而，任何数量的不同模块可以被使用并运行在计算设备和/或处理器上。模块仅是说明性的，并且系统和方法的不同方面可以使用不同模块。

应当理解的是，当单元或模块被描述为“连接”、“耦接”其它单元、模块或块时，其可以指直接连接或耦接，或者与其它单元、模块或块通信，或者可以存在中间的单元、模块或块，除非上下文明确指明其它方式。本文所使用的术语“和/或”可包括一个或多个相关列出项目的任意与所有组合。

如图1所示，磁共振系统可以包括扫描设备110、处理装置120、存储设备140和显示设备150。所述处理装置120中包括磁共振协议的参数校验装置。所述磁共振系统中各设备可以通过网络130互相连接或通信。

扫描设备110可以对一个对象进行扫描。所述对象可以是物体、人体、器官、组织等。所述扫描设备可以是一个医学图像设备。在一些实施例中，所述扫描设备110可以是磁共振成像仪(magneticresonanceimaging,MRI)、电子计算机断层扫描仪(computedtomography,CT)、正电子发射型计算机断层显像仪(positronemissioncomputedtomography,PET)等。在一些实施例中，所述扫描设备110也可以是上述多种设备的结合，如PET-CT扫描仪，PET-MRI扫描仪等。扫描设备110可以在扫描后产生与该对象对应的扫描生数据。进一步地，扫描设备110可以将获取的扫描生数据通过网络130发送至处理装置120、存储设备140或显示设备150。

处理装置120可以对扫描生数据进行处理。所述扫描生数据可以通过扫描设备110扫描获得，也可以从存储设备140中获得。在一些实施例中，扫描生数据可以是表示扫描对象的解剖和/或功能信息的二维或三维扫描生数据。所述处理可以包括对扫描生数据进行重建以生成图像。所述重建的方法可以包括但不限于滤波反投影(filteredbackprojection,FBP)、迭代重建、深度学习的重建、多平面重建(multiplanarreformatting,MPR)、容积再现(volumerendering,VR)、多平面容积再现(multiplanarvolumereformation,MPVR)、曲面重建(curvedplanarreformatting,CPR)、最大密度投影(maximumintensityprojection,MIP)、表面遮盖法(shadedsurfacedisplay,SSD)等中的一种或多种的组合。所述处理也可以包括对磁共振协议的参数校验。处理装置120可以将均值图像发送至存储设备140进行存储。

网络130可以是任何连接两个或多个设备的连接方式。例如，网络130可以是有线网络或者无线网络。在一些实施例中，网络130可以是单一网络，也可以是多种网络的组合。例如，所述网络130可以包括局域网、广域网、公用网络、专用网络、无线局域网、虚拟网络、公用电话网络等中的一种或几种的组合。磁共振系统中的各模块可以通过连接网络130，实现信息的交互。

存储设备140可以存储数据和/或信息。例如，存储设备140可以存储扫描设备110生成的扫描生数据，也可以存储处理装置120所得到的图像，也可以存储显示设备150所接收的用户输入或指令。在一些实施例中，存储设备140可以是本地的存储，外接的存储，云存储等。

显示设备150可以用于将图像进行显示。所述显示设备150可以包括显示屏、触摸屏等。在一些实施例中，所述显示设备150可以包括一个交互界面，该交互界面可以接收用户或医生的输入。在一些实施例中，所述显示设备150可以包括一个输入设备，如触摸板、触摸屏、鼠标、键盘、麦克风等。显示设备150可以将用户的输入发送至处理装置120进行处理或者发送至存储设备140进行存储。

图2是本发明一实施例提供的一种磁共振协议的参数校验的流程图。在一些实施例中，流程可以通过磁共振协议的参数校验装置实现。在一个实施例中，如图2所示，提出一种磁共振协议的参数校验方法，包括以下步骤：

S201：基于磁共振协议中的至少一个待校验参数，确定对应的至少一个待校验项。

通常，磁共振协议并不对待校验项进行直接设定，而是通过设定对应的待校验参数来设定待校验项。例如，当待校验项为射频功率放大器的功率时，则根据磁共振协议中的翻转角和TR值(RepetitionTime,重复时间)等参数来确定射频功率放大器的功率。

待校验项还可以是射频放大器电流、射频频率、梯度放大器电流和梯度频率等，都由磁共振协议中对应的待校验参数所确定。

S202：基于所述至少一个待校验项以及至少一个预设校验条件，确定所述至少一个待校验项是否满足对应的预设校验条件，生成对应的校验结果。

预设校验条件存储在存储设备140的数据库中，可以根据待校验项进行设定。

需要说明的是，不同类型的待校验项对应不同类型的预设校验条件。若待校验项为电流、功率等参数，则需要考虑这类参数是否超过对应的极限阈值，设定对应的预设校验条件。若待校验项为某一部件的工作频率，例如梯度频率或射频频率，则需要考虑该工作频率与对应部件的固有频率的共振影响，设定对应的预设校验条件。

若所有待校验项均满足对应的预设校验条件，则对应的校验结果为磁共振协议中的待校验参数校验通过；若存在待校验项不满足对应的预设校验条件，则对应的校验结果为该待校验项所对应的待校验参数校验不通过。

基于上述步骤S201-S203，基于磁共振协议中的至少一个待校验参数，确定对应的至少一个待校验项，基于所述至少一个待校验项以及至少一个预设校验条件，确定所述至少一个待校验项是否满足对应的预设校验条件，生成对应的校验结果。。本发明实现磁共振协议待校验参数的校验从而提高了磁共振系统工作的安全性，提高了磁共振系统的使用寿命。

在一实施例中，磁共振系统推送校验结果以提示使用者。

在一实施例中，所述至少一个预设校验条件中包括对应待校验项的极限阈值。如图3所示，所述基于所述至少一个待校验项以及至少一个预设校验条件，确定所述至少一个待校验项是否满足对应的预设校验条件包括以下步骤：

S301：确定所述至少一个待校验项是否大于极限阈值。

其中，所述极限阈值基于对应待校验项的极限值所确定。

可以理解的是，磁共振系统的部件的参数需要在其极限值以下以保证磁共振系统正常工作。极限阈值可以根据校验需求进行设定，例如极限值的90％。

S302：若大于对应的极限阈值，则确定对应的待校验项不满足对应的预设校验条件；若小于或等于对应的极限阈值，则确定对应的待校验项满足对应的预设校验条件。

基于上述步骤S301-S302，调节待校验项在极限阈值以下，避免由于待校验项超过极限阈值，而导致磁共振系统工作异常的情况。

在一实施例中，所述至少一个预设校验条件中包括对应待校验项的参数值。如图4所示，所述基于所述至少一个待校验项以及至少一个预设校验条件，确定所述至少一个待校验项是否满足对应的预设校验条件包括以下步骤：

S401：确定所述至少一个待校验项是否等于参数值；

S402：若等于对应的参数值，则确定对应的待校验项不满足对应的预设校验条件；

S403：若不等于对应的参数值，则确定对应的待校验项满足对应的预设校验条件。

基于步骤S401-S403，以避免共振对磁共振系统的影响，这里的共振包括磁共振系统中各部件的共振，也包括磁共振系统整体的共振。

在一实施例中，如图5所示，所述方法还包括以下步骤：

S501：对于不满足对应的预设校验条件的待校验项，基于对应的预设校验条件，确定该待校验项所对应的待校验参数的调节信息；

S502：基于所述调节信息，对所述磁共振协议中对应的待校验参数进行调节。

在该实施例中，对于不满足对应的预设校验条件的待校验项，基于对应的预设校验条件，确定该待校验项所对应的待校验参数的调节信息，例如射频功率放大器的功率大于极限阈值，则可以减小翻转角，增大TR值，具体可以通过计算确定需要减小多少翻转角，增大多少TR值，以使得射频功率放大器的功率小于等于极限阈值。

基于步骤S501-S502，自动确定所述待校验参数的调节信息，便于使用者对对应待校验参数的调节。

调节信息可以通过磁共振系统显示，以提示使用者对对应待校验参数的调节。

在一实施例中，如图6所示，所述方法还包括：

S601：基于调节后的待校验参数，确定对应的调节后的待校验项；

S602：基于调节后的待校验项以及对应的预设校验条件，确定所述调节后的待校验项是否满足对应的预设校验条件；

S603：在不满足对应的预设校验条件的情况下，对所述调节后的待校验参数进行再次调节，直到满足对应的预设校验条件。

考虑到调节后的待校验参数仍然有可能不满足对应的预设校验条件，在该实施例中，再次或多次对待校验参数进行调节，以满足对应的预设校验条件。

在一实施例中，如图7所示，在所述基于磁共振协议中的至少一个待校验参数，确定对应的至少一个待校验项之前，所述方法还包括：

S701：确定所述磁共振协议的校验等级，所述校验等级基于所述待校验项以及对应的预设校验条件所确定；

S702：基于所述校验等级，确定所述待校验项以及对应的预设校验条件。

在该实施例中，设定磁共振协议的不同校验等级，安全监控等级越高，会越全面的进行校验。例如，校验等级越高，待校验项的项数越多，对应的极限阈值越小。例如，校验等级等于为1级时，极限阈值为极限值的95％，校验等级等于为2级时，极限阈值为极限值的90％。

基于步骤S701-S702，通过设定不同的校验等级，来满足使用者不同的校验需求。

在一实施例中，磁共振协议的参数校验方法的整体流程如图8所示，具体的，确定磁共振协议的校验等级，基于所述校验等级，确定所述待校验项以及对应的预设校验条件。基于磁共振协议中的至少一个待校验参数，确定对应的至少一个待校验项，基于所述至少一个待校验项以及至少一个预设校验条件，确定所述至少一个待校验项是否满足对应的预设校验条件，生成对应的校验结果。对于不满足对应的预设校验条件的待校验项，基于对应的预设校验条件，确定该待校验项所对应的待校验参数的调节信息，基于所述调节信息对所述磁共振协议中对应的待校验参数进行调节，基于调节后的待校验参数确定对应的调节后的待校验项，再次确定所述调节后的待校验项是否满足对应的预设校验条件，直到满足对应的预设校验条件。在用户没有对待校验参数确认的情况下，重复校验的步骤直到用户确认。

应该理解的是，虽然上述流程图中的各个步骤按照箭头的指示依次显示，但是这些步骤并不是必然按照箭头指示的顺序依次执行。除非本文中有明确的说明，这些步骤的执行并没有严格的顺序限制，这些步骤可以以其它的顺序执行。而且，上述流程图中的至少一部分步骤可以包括多个步骤或者多个阶段，这些步骤或者阶段并不必然是在同一时刻执行完成，而是可以在不同的时刻执行，这些步骤或者阶段的执行顺序也不必然是依次进行，而是可以与其它步骤或者其它步骤中的步骤或者阶段的至少一部分轮流或者交替地执行。

在一些实施例中，如图9所示，本发明提供了一种磁共振协议的参数校验装置，所述装置包括：

第一确定模块901，用于基于磁共振协议中的至少一个待校验参数，确定对应的至少一个待校验项；

第二确定模块902，用于基于所述至少一个待校验项以及至少一个预设校验条件，确定所述至少一个待校验项是否满足对应的预设校验条件，生成对应的校验结果。

在本实施例中，基于磁共振协议中的至少一个待校验参数，确定对应的至少一个待校验项，基于所述至少一个待校验项以及至少一个预设校验条件，确定所述至少一个待校验项是否满足对应的预设校验条件，生成对应的校验结果。。本发明实现磁共振协议待校验参数的校验从而提高了磁共振系统工作的安全性，提高了磁共振系统的使用寿命。

在一实施例中，所述至少一个预设校验条件中包括对应待校验项的极限阈值；所述第二确定模块具体用于：确定所述至少一个待校验项是否大于极限阈值；其中，所述极限阈值基于对应待校验项的极限值所确定；若大于对应的极限阈值，则确定对应的待校验项不满足对应的预设校验条件；若小于或等于对应的极限阈值，则确定对应的待校验项满足对应的预设校验条件。

在一实施例中，所述至少一个预设校验条件中包括对应待校验项的参数值；所述第二确定模块具体用于：确定所述至少一个待校验项是否等于参数值；若等于对应的参数值，则确定对应的待校验项不满足对应的预设校验条件；若不等于对应的参数值，则确定对应的待校验项满足对应的预设校验条件。

在一实施例中，所述装置还包括：

第三确定模块，用于对于不满足对应的预设校验条件的待校验项，基于对应的预设校验条件，确定该待校验项所对应的待校验参数的调节信息；

参数调节模块，用于基于所述调节信息，对所述磁共振协议中对应的待校验参数进行调节。

在一实施例中，所述装置还包括：

第四确定模块，用于确定所述磁共振协议的校验等级，所述校验等级基于所述待校验项以及对应的预设校验条件所确定；

第五确定模块，用于基于所述校验等级，确定所述待校验项以及对应的预设校验条件。

关于磁共振协议的参数校验装置的具体限定可以参见上文中对于磁共振协议的参数校验方法的限定，在此不再赘述。上述装置中的各个模块可全部或部分通过软件、硬件及其组合来实现。上述各模块可以硬件形式内嵌于或独立于计算机设备中的处理器中，也可以以软件形式存储于计算机设备中的存储器中，以便于处理器调用执行以上各个模块对应的操作。

在一个实施例中，提供了一种计算机设备，该计算机设备可以是服务器，其内部结构图可以如图10所示。该计算机设备包括通过系统总线连接的处理器、存储器和网络接口。其中，该计算机设备的处理器用于提供计算和控制能力。该计算机设备的存储器包括非易失性存储介质、内存储器。该非易失性存储介质存储有操作系统、计算机程序和数据库。该内存储器为非易失性存储介质中的操作系统和计算机程序的运行提供环境。该计算机设备的数据库用于存储动作检测数据。该计算机设备的网络接口用于与外部的终端通过网络连接通信。该计算机程序被处理器执行时以实现上述任一项磁共振协议的参数校验方法实施例中的步骤。

本领域技术人员可以理解，图10中示出的结构，仅仅是与本申请方案相关的部分结构的框图，并不构成对本申请方案所应用于其上的计算机设备的限定，具体的计算机设备可以包括比图中所示更多或更少的部件，或者组合某些部件，或者具有不同的部件布置。

在一个实施例中，提供了一种计算机设备，包括存储器和处理器，存储器中存储有计算机程序，该处理器执行计算机程序时实现上述任一项磁共振协议的参数校验方法实施例中的步骤。

在一个实施例中，提供了一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，计算机程序被处理器执行时实现上述任一项磁共振协议的参数校验方法实施例中的步骤。

本领域普通技术人员可以理解实现上述实施例方法中的全部或部分流程，是可以通过计算机程序来指令相关的硬件来完成，的计算机程序可存储于一非易失性计算机可读取存储介质中，该计算机程序在执行时，可包括如上述各方法的实施例的流程。其中，本申请所提供的各实施例中所使用的对存储器、存储、数据库或其它介质的任何引用，均可包括非易失性和易失性存储器中的至少一种。非易失性存储器可包括只读存储器(Read-OnlyMemory，ROM)、磁带、软盘、闪存或光存储器等。易失性存储器可包括随机存取存储器(RandomAccessMemory，RAM)或外部高速缓冲存储器。作为说明而非局限，RAM可以是多种形式，比如静态随机存取存储器(StaticRandomAccessMemory，SRAM)或动态随机存取存储器(DynamicRandomAccessMemory，DRAM)等。

以上实施例的各技术特征可以进行任意的组合，为使描述简洁，未对上述实施例中的各个技术特征所有可能的组合都进行描述，然而，只要这些技术特征的组合不存在矛盾，都应当认为是本说明书记载的范围。

以上实施例仅表达了本申请的几种实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对发明专利范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本申请构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本申请的保护范围。因此，本申请专利的保护范围应以所附权利要求为准。

Claims (10)

1.一种磁共振协议的参数校验方法，应用于磁共振系统，其特征在于，所述方法包括：

基于磁共振协议中的至少一个待校验参数，确定对应的至少一个待校验项；

基于所述至少一个待校验项以及至少一个预设校验条件，确定所述至少一个待校验项是否满足对应的预设校验条件，生成对应的校验结果。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述至少一个预设校验条件中包括对应待校验项的极限阈值；

所述基于所述至少一个待校验项以及至少一个预设校验条件，确定所述至少一个待校验项是否满足对应的预设校验条件包括：

确定所述至少一个待校验项是否大于极限阈值；其中，所述极限阈值基于对应待校验项的极限值所确定；

若大于对应的极限阈值，则确定对应的待校验项不满足对应的预设校验条件；

若小于或等于对应的极限阈值，则确定对应的待校验项满足对应的预设校验条件。

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述至少一个预设校验条件中包括对应待校验项的参数值；

所述基于所述至少一个待校验项以及至少一个预设校验条件，确定所述至少一个待校验项是否满足对应的预设校验条件包括：

确定所述至少一个待校验项是否等于参数值；

若等于对应的参数值，则确定对应的待校验项不满足对应的预设校验条件；

若不等于对应的参数值，则确定对应的待校验项满足对应的预设校验条件。

4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：

对于不满足对应的预设校验条件的待校验项，基于对应的预设校验条件，确定该待校验项所对应的待校验参数的调节信息；

基于所述调节信息，对所述磁共振协议中对应的待校验参数进行调节。

5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：

基于调节后的待校验参数，确定对应的调节后的待校验项；

基于调节后的待校验项以及对应的预设校验条件，确定所述调节后的待校验项是否满足对应的预设校验条件；

在不满足对应的预设校验条件的情况下，对所述调节后的待校验参数进行再次调节，直到满足对应的预设校验条件。

6.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在所述基于磁共振协议中的至少一个待校验参数，确定对应的至少一个待校验项之前，所述方法还包括：

确定所述磁共振协议的校验等级，所述校验等级基于所述待校验项以及对应的预设校验条件所确定；

基于所述校验等级，确定所述待校验项以及对应的预设校验条件。

7.一种磁共振协议的参数校验装置，应用于磁共振系统，其特征在于，所述装置包括：

第一确定模块，用于基于磁共振协议中的至少一个待校验参数，确定对应的至少一个待校验项；

第二确定模块，用于基于所述至少一个待校验项以及至少一个预设校验条件，确定所述至少一个待校验项是否满足对应的预设校验条件，生成对应的校验结果。

8.一种磁共振系统，其特征在于，所述系统包括用于多圈扫描获得扫描生数据的扫描设备，以及与所述扫描设备连接的如权利要求7所述的磁共振协议的参数校验装置。

9.一种计算机设备，包括存储器和处理器，所述存储器存储有计算机程序，其特征在于，所述处理器执行所述计算机程序时，实现权利要求1至6中任一项所述的方法的步骤。

10.一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，所述计算机程序被处理器执行时，实现权利要求1至6中任一项所述的方法的步骤。

Images