CN115290677B - 一种基材的留白检测方法及涂布系统 - Google Patents

一种基材的留白检测方法及涂布系统 Download PDF

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Abstract

本申请提供一种基材的留白检测方法及涂布系统，该留白检测方法包括：获取经过涂覆操作的目标基材的整体图像；对所述整体图像进行分析，将所述整体图像分为涂覆区域和未涂覆区域；获取未涂覆区域的面积；根据未涂覆区域的面积确定基材的留白区域是否满足涂覆要求。在本申请中，通过对未涂覆区域检测，将未涂覆区域与预设的留白区域进行面积对比，以确定留白区域是否满足要求，从而进行校正，避免出现漏涂或错涂，保证基材可以被充分利用。

Description

一种基材的留白检测方法及涂布系统
技术领域
本申请涉及缺陷检测领域，具体为一种基材的留白检测方法及涂布系统。
背景技术
涂布机在对基材进行涂覆的过程中，会出现基材缺陷、偏移等状态，这样进行涂覆时，很容易漏涂，或错涂覆，漏涂或错涂的基材不能继续使用的。
鉴于此，克服该现有技术产品所存在的不足是本技术领域亟待解决的问题。
发明内容
本申请主要解决的技术问题是提供一种基材的留白检测方法及涂布系统，通过对未涂覆区域检测，将未涂覆区域与预设的留白区域进行面积对比，以确定留白区域是否满足要求，从而进行校正，避免出现漏涂或错涂，保证基材可以被充分利用。
为解决上述技术问题，本申请采用的一个技术方案是：提供一种基材的留白检测方法，包括：
获取经过涂覆操作的目标基材的整体图像；
对所述整体图像进行分析，将所述整体图像分为涂覆区域和未涂覆区域；
获取未涂覆区域的面积；
根据未涂覆区域的面积确定基材的留白区域是否满足涂覆要求。
进一步地，所述根据未涂覆区域的面积确定基材的留白区域是否满足涂覆要求包括：
如果未涂覆区域的面积小于或大于设定的面积阈值，则基材的留白区域不满足涂覆要求。
进一步地，所述根据未涂覆区域的面积确定基材的留白区域是否满足涂覆要求包括：
如果未涂覆区域的面积等于设定的面积阈值，则继续获取位于涂覆区域两侧的第一未涂覆区域和第二未涂覆区域；
分别获取所述第一未涂覆区域的第一面积和所述第二未涂覆区域的第二面积；判断所述第一面积与预设的第一面积阈值是否相等，以及，所述第二面积与预设的第二面积阈值是否相等；
如果所述第一面积与预设的第一面积阈值相等，以及，所述第二面积与预设的第二面积阈值相等，则基材的留白区域满足涂覆要求。
进一步地，所述留白检测方法还包括：
如果所述第一面积与预设的第一面积阈值不相等和/或所述第二面积与预设的第二面积阈值不相等，则基材的留白区域不满足涂覆要求。
进一步地，所述留白检测方法还包括：
如果所述第一面积小于预设的第一面积阈值、所述第二面积大于预设的第二面积阈值，则当基材保持不动时，向靠近所述第二未涂覆区域的方向平移涂覆组件；或，
当涂覆组件保持不动时，沿第一方向平移基材，以使所述第一未涂覆区域的边界线远离所述涂覆组件。
进一步地，所述留白检测方法还包括：
如果所述第一面积大于预设的第一面积阈值、所述第二面积小于预设的第二面积阈值，则当基材保持不动时，向靠近所述第一未涂覆区域的方向平移涂覆组件；或，
当涂覆组件保持不动时，沿第一方向平移基材，以使所述第二未涂覆区域的边界线远离所述涂覆组件。
进一步地，在所述获取经过涂覆操作的目标基材的整体图像之前还包括：
检测所述目标基材的尺寸是否符合要求，当所述目标基材的尺寸不符合要求时，按照涂覆任务重新设置新的基材。
进一步地，所述检测所述目标基材的尺寸是否符合要求包括：
获取未经过涂覆操作的目标基材的基准图像；
基于涂覆任务在所述基准图像上绘制虚拟涂覆区域，获取所述基准图像的面积与所述虚拟涂覆区域的面积的差值；
如果所述差值与预设的面积阈值相等，则所述目标基材的尺寸符合要求。
进一步地，所述检测所述目标基材的尺寸是否符合要求还包括：
如果所述差值与预设的面积阈值不相等，则所述目标基材的尺寸不符合要求；
向用户发送需更换基材的提示信息。
为解决上述技术问题，本申请采用的一个技术方案是：提供一种涂布系统，所述涂布系统包括涂布机和上位机，所述涂布机和所述上位机相互配合能够实现如本实施例所述的留白检测方法。
本申请的有益效果是：本申请提供一种基材的留白检测方法及涂布系统，该留白检测方法包括：获取经过涂覆操作的目标基材的整体图像；对所述整体图像进行分析，将所述整体图像分为涂覆区域和未涂覆区域；获取未涂覆区域的面积；根据未涂覆区域的面积确定基材的留白区域是否满足涂覆要求。
在本申请中，通过对未涂覆区域检测，将未涂覆区域与预设的留白区域进行面积对比，以确定留白区域是否满足要求，从而进行校正，避免出现漏涂或错涂，保证基材可以被充分利用。
进一步地，当留白面积和标准留白面积相同，但是单侧的留白面积有误时，与单侧标准留白面积进行对比，从而判断往左偏移，还是右偏移，后进行校正。
附图说明
为了更清楚地说明本申请实施例的技术方案，下面将对本申请实施例中所需要使用的附图作简单地介绍。显而易见地，下面所描述的附图仅仅是本申请的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1是本申请实施例一种基材的留白检测方法的流程示意图；
图2是本申请实施例的一种经过涂覆操作的目标基材的整体图像示意图；
图3是本申请实施例的另一种经过涂覆操作的目标基材的整体图像示意图；
图4是本申请实施例一种涂布系统的结构示意图；
图5是本申请实施例的基材各区域划分示意图。
具体实施方式
下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本申请一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例，本领域技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本申请保护的范围。
在本申请的描述中，需要理解的是，术语“中心”、“纵向”、“横向”、“长度”、“宽度”、“厚度”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本申请和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本申请的限制。此外，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多个特征。在本申请的描述中，“多个”的含义是两个或两个以上，除非另有明确具体的限定。
在本申请中，“示例性”一词用来表示“用作例子、例证或说明”。本申请中被描述为“示例性”的任何实施例不一定被解释为比其它实施例更优选或更具优势。为了使本领域任何技术人员能够实现和使用本申请，给出了以下描述。在以下描述中，为了解释的目的而列出了细节。应当明白的是，本领域普通技术人员可以认识到，在不使用这些特定细节的情况下也可以实现本申请。在其它实例中，不会对公知的结构和过程进行详细阐述，以避免不必要的细节使本申请的描述变得晦涩。因此，本申请并非旨在限于所示的实施例，而是与符合本申请所公开的原理和特征的最广范围相一致。
需要说明的是，本申请实施例方法由于是在电子设备中执行，各电子设备的处理对象均以数据或信息的形式存在，例如时间，实质为时间信息，可以理解的是，后续实施例中若提及尺寸、数量、位置等，均为对应的数据存在，以便电子设备进行处理，具体此处不作赘述。
实施例1：
参阅图1，本实施例提供一种基材的留白检测方法，包括：
S101：获取经过涂覆操作的目标基材的整体图像；
在本实施例中，所述留白检测方法应用于涂布机，所述涂布机包括导布辊1和过度导辊2，其中，导布辊1用于带动基材3转动，过度导辊2用于将基材拉展，以保证基材处于绷紧状态。
在本实施例中，采用CCD摄像头获取经过涂覆操作的目标基材的整体图像。
S102：对所述整体图像进行分析，将所述整体图像分为涂覆区域和未涂覆区域；
在本实施例中，对所述整体图像进行分析，将所述整体图像分为涂覆区域和未涂覆区域。
S103：获取未涂覆区域的面积；
在可选的实施例中，获取未涂覆区域的面积，例如，可以获取未涂覆区域的尺寸，以获取未涂覆区域的面积。
在另一个可选的实施例中，对已经整体识别的区域设置像素点，每个像素点不大于0.01平方毫米，直至布满整个拍照识别面积，通过识别像素点的数量，进行叠加计算，判断留白面积。
S104：根据未涂覆区域的面积确定基材的留白区域是否满足涂覆要求。
在可选的实施例中，如果未涂覆区域的面积小于或大于设定的面积阈值，则基材的留白区域不满足涂覆要求。
在另一个可选的实施例中，如果未涂覆区域的面积等于设定的面积阈值，则继续获取位于涂覆区域两侧的第一未涂覆区域和第二未涂覆区域；分别获取所述第一未涂覆区域的第一面积和所述第二未涂覆区域的第二面积；判断所述第一面积与预设的第一面积阈值是否相等，以及，所述第二面积与预设的第二面积阈值是否相等；如果所述第一面积与预设的第一面积阈值相等，以及，所述第二面积与预设的第二面积阈值相等，则基材的留白区域满足涂覆要求。
在实际应用场景下，如图2所示，当基材整体倾斜时，未涂覆区域的面积等于设定的面积阈值，但当单侧的面积并不相等时，基材的留白区域仍旧不满足要求，按照前述的方式，可以检测对基材的留白区域进行检测。
在具体应用场景下，所述留白检测方法还包括：如果所述第一面积与预设的第一面积阈值不相等和/或所述第二面积与预设的第二面积阈值不相等，则基材的留白区域不满足涂覆要求。即，如果未涂覆区域的面积等于设定的面积阈值，需要判断单侧面积是否相等，以确定留白区域是否满足要求。具体的，
针对于“未涂覆区域的面积等于设定的面积阈值，但单侧面积与预设的面积阈值不相等的情况”，可以按照下述方式进行校正：
在另一个具体的应用场景下，所述留白检测方法还包括：如果所述第一面积小于预设的第一面积阈值、所述第二面积大于预设的第二面积阈值，则当基材保持不动时，向靠近所述第二未涂覆区域的方向平移涂覆组件；或，当涂覆组件保持不动时，沿第一方向平移基材，以使所述第一未涂覆区域的边界线远离所述涂覆组件。
在本实施例中，所述留白检测方法还包括：如果所述第一面积大于预设的第一面积阈值、所述第二面积小于预设的第二面积阈值，则当基材保持不动时，向靠近所述第一未涂覆区域的方向平移涂覆组件；或，当涂覆组件保持不动时，沿第一方向平移基材，以使所述第二未涂覆区域的边界线远离所述涂覆组件。即，通过移动涂覆组件或基材的方式进行调整，以保证基材的留白区域满足要求。
在本实施例中，当留白面积和标准留白面积相同，但是单侧的留白面积有误时，与单侧标准留白面积进行对比，从而判断往左偏移，还是右偏移，后进行校正。
在优选的实施例中，在所述获取经过涂覆操作的目标基材的整体图像之前还包括：检测所述目标基材的尺寸是否符合要求，当所述目标基材的尺寸不符合要求时，按照涂覆任务重新设置新的基材。
具体地，可采用如下方式所述检测所述目标基材的尺寸是否符合要求包括：获取未经过涂覆操作的目标基材的基准图像(如图5的S2)；基于涂覆任务在所述基准图像上绘制虚拟涂覆区域(如图5的S3)，获取所述基准图像的面积与所述虚拟涂覆区域的面积的差值；如果所述差值与预设的面积阈值相等，则所述目标基材的尺寸符合要求。如果所述差值与预设的面积阈值不相等，则所述目标基材的尺寸不符合要求；向用户发送需更换基材的提示信息。
在本实施例中，如图4所示，CCD摄像机识别绑辊一侧整体图像，也就是a3'b3'b3a3范围内的整体图像S1，将识别的图像上传至上位机，上位机进行识别，a2'b2'b2a2范围，即S2；再进行识别a1'b1'b1a1范围，即S3；S2-S3得到的面积就是留白区域的总面积值，将得到的留白区域与参数既定的阀值St进行对比，如出现异常则发出警报，并进行修正，可以修正印刷绑辊或基材。
在本实施例中，通过对未涂覆区域检测，将未涂覆区域与预设的留白区域进行面积对比，以确定留白区域是否满足要求，从而进行校正，避免出现漏涂或错涂，保证基材可以被充分利用。进一步地，当留白面积和标准留白面积相同，但是单侧的留白面积有误时，与单侧标准留白面积进行对比，从而判断往左偏移，还是右偏移，后进行校正。
实施例2：
基于前述实施例1，本实施例还提供一种涂布系统，所述涂布系统包括涂布机和上位机，所述涂布机和所述上位机5相互配合能够实现如实施例1所述的留白检测方法。
如图5，所述涂布机包括导布辊1和过度导辊2，其中，导布辊1用于带动基材3转动，过度导辊2用于将基材拉展，以保证基材处于绷紧状态。所述涂布系统还包括图像采集装置4，通过所述图像采集装置获取图像。
在本实施例中，所述涂布机和所述上位机5相互配合能够实现如实施例1所述的留白检测方法，具体包括如下步骤：获取经过涂覆操作的目标基材的整体图像；对所述整体图像进行分析，将所述整体图像分为涂覆区域和未涂覆区域；获取未涂覆区域的面积；根据未涂覆区域的面积确定基材的留白区域是否满足涂覆要求。
在可选的实施例中后，如果未涂覆区域的面积小于或大于设定的面积阈值，则基材的留白区域不满足涂覆要求。
在另一个可选的实施例中，如果未涂覆区域的面积等于设定的面积阈值，则继续获取位于涂覆区域两侧的第一未涂覆区域和第二未涂覆区域；分别获取所述第一未涂覆区域的第一面积和所述第二未涂覆区域的第二面积；判断所述第一面积与预设的第一面积阈值是否相等，以及，所述第二面积与预设的第二面积阈值是否相等；如果所述第一面积与预设的第一面积阈值相等，以及，所述第二面积与预设的第二面积阈值相等，则基材的留白区域满足涂覆要求。
在本实施例中，通过对未涂覆区域检测，将未涂覆区域与预设的留白区域进行面积对比，以确定留白区域是否满足要求，从而进行校正，避免出现漏涂或错涂，保证基材可以被充分利用。进一步地，当留白面积和标准留白面积相同，但是单侧的留白面积有误时，与单侧标准留白面积进行对比，从而判断往左偏移，还是右偏移，后进行校正。
以上所述仅为本申请的实施方式，并非因此限制本申请的专利范围，凡是利用本申请说明书及附图内容所作的等效结构或等效流程变换，或直接或间接运用在其他相关的技术领域，均同理包括在本申请的专利保护范围内。

Claims (8)

1.一种基材的留白检测方法，其特征在于，包括：
获取经过涂覆操作的目标基材的整体图像；
对所述整体图像进行分析，将所述整体图像分为涂覆区域和未涂覆区域；
获取未涂覆区域的面积；
根据未涂覆区域的面积确定基材的留白区域是否满足涂覆要求；
所述根据未涂覆区域的面积确定基材的留白区域是否满足涂覆要求包括：
如果未涂覆区域的面积等于设定的面积阈值，则继续获取位于涂覆区域两侧的第一未涂覆区域和第二未涂覆区域；
分别获取所述第一未涂覆区域的第一面积和所述第二未涂覆区域的第二面积；判断所述第一面积与预设的第一面积阈值是否相等，以及，所述第二面积与预设的第二面积阈值是否相等；
如果所述第一面积与预设的第一面积阈值相等，以及，所述第二面积与预设的第二面积阈值相等，则基材的留白区域满足涂覆要求；
如果所述第一面积大于预设的第一面积阈值、所述第二面积小于预设的第二面积阈值，则当基材保持不动时，向靠近所述第一未涂覆区域的方向平移涂覆组件；或，
当涂覆组件保持不动时，沿第一方向平移基材，以使所述第二未涂覆区域的边界线远离所述涂覆组件。
2.根据权利要求1所述的留白检测方法，其特征在于，所述根据未涂覆区域的面积确定基材的留白区域是否满足涂覆要求包括：
如果未涂覆区域的面积小于或大于设定的面积阈值，则基材的留白区域不满足涂覆要求。
3.根据权利要求1所述的留白检测方法，其特征在于，所述留白检测方法还包括：
如果所述第一面积与预设的第一面积阈值不相等和/或所述第二面积与预设的第二面积阈值不相等，则基材的留白区域不满足涂覆要求。
4.根据权利要求1所述的留白检测方法，其特征在于，所述留白检测方法还包括：
如果所述第一面积小于预设的第一面积阈值、所述第二面积大于预设的第二面积阈值，则当基材保持不动时，向靠近所述第二未涂覆区域的方向平移涂覆组件；或，
当涂覆组件保持不动时，沿第一方向平移基材，以使所述第一未涂覆区域的边界线远离所述涂覆组件。
5.根据权利要求1～4任一项所述的留白检测方法，其特征在于，在所述获取经过涂覆操作的目标基材的整体图像之前还包括：
检测所述目标基材的尺寸是否符合要求，当所述目标基材的尺寸不符合要求时，按照涂覆任务重新设置新的基材。
6.根据权利要求5所述的留白检测方法，其特征在于，所述检测所述目标基材的尺寸是否符合要求包括：
获取未经过涂覆操作的目标基材的基准图像；
基于涂覆任务在所述基准图像上绘制虚拟涂覆区域，获取所述基准图像的面积与所述虚拟涂覆区域的面积的差值；
如果所述差值与预设的面积阈值相等，则所述目标基材的尺寸符合要求。
7.根据权利要求6所述的留白检测方法，其特征在于，所述检测所述目标基材的尺寸是否符合要求还包括：
如果所述差值与预设的面积阈值不相等，则所述目标基材的尺寸不符合要求；
向用户发送需更换基材的提示信息。
8.一种涂布系统，其特征在于，所述涂布系统包括涂布机和上位机，所述涂布机和所述上位机相互配合能够实现如权利要求1～7任一项所述的留白检测方法。
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