CN115270674A - 一种基于自动化的带时序裕量的lib提取方法和装置 - Google Patents

Abstract

本发明属于集成电路设计领域，本发明提供一种基于自动化的带时序裕量的LIB提取方法，包括：根据基准工艺角对应的基准索引值，建立信号输出模型；通过所述信号输出模型，输出每个待提取工艺角的信号跳变时间和输出负载；分析计算所述基准索引值、所述待提取工艺角的信号跳变时间和所述待提取工艺角的输出负载，得到每个所述待提取工艺角的索引值；根据所述待提取工艺角的索引值，利用自动化脚本对所述待提取工艺角下的LIB进行环境配置；在所述环境下，提取出工艺波动信息，所述工艺波动信息包括不带PVT波动信息的LIB和存在PVT波动信息的时序标准差；对所述工艺波动信息进行放大或缩小并集成于所述LIB中，得到带时序裕量的LIB。

Description

一种基于自动化的带时序裕量的LIB提取方法和装置

技术领域

本发明涉及集成电路设计技术领域，尤指一种基于自动化的带时序裕量的LIB提取方法和装置。

背景技术

现有LIB只包含在某个固定条件下的对单元的性能的描述，但在同一个芯片上，所有地方的工作条件不可能完全相同，也就是存在PVT波动，时序会存在一定的偏差，现有LIB缺乏对这部分信息的描述。

现有技术一般采用电路的寄生网表进行蒙特卡洛仿真获得PVT波动带来的影响，验证电路是否能够抗PVT波动，大规模电路进行蒙特卡洛仿真会消耗大量的机器资源和时间，甚至影响项目进度。

随着集成电路的发展和工艺尺寸的缩小，PVT波动越来越大，工艺角的数目也越来越多。不同的工艺角需要提取不同的LIB，不同的LIB的输入文件里面包含不同的设置，比如电压、温度、延时弧和约束弧，延时弧和约束弧通常为7X7或者8X8的的查找表，这就需要对应的14或16个索引值，索引值主要由信号跳变时间和输出负载决定。

现有技术手段一般通过对网表在不同工艺角下的仿真来获取各个索引值，每个索引值都需要单独的仿真来选定，先进工艺下则需进行上千甚至上万次仿真，然后通过手动修改LIB提取的输入文件，容易带来人为的错误。

发明内容

本发明提供一种基于自动化的带时序裕量的LIB提取方法和装置，克服先进工艺下工艺波动较大，工艺角较多，传统LIB的没有考虑到PVT波动的因素，导致最终的电路时序余量不足，抗PVT波动能力不强，需要进行大量的蒙特卡洛仿真进行验证的问题。此外也通过自动化的手段克服当前LIB提取流程需要过多的人工参与的问题。

本发明提供的技术方案如下：

一方面，本发明提供一种基于自动化的带时序裕量的LIB提取方法，包括：

根据基准工艺角对应的基准索引值，建立信号输出模型；

通过所述信号输出模型，输出每个待提取工艺角的信号跳变时间和输出负载；

分析计算所述基准索引值、所述待提取工艺角的信号跳变时间和所述待提取工艺角的输出负载，得到每个所述待提取工艺角的索引值；所述待提取工艺角的索引值包括信号跳变时间的索引值、所述输出负载的索引值；

根据所述待提取工艺角的索引值，利用自动化脚本对所述待提取工艺角下的LIB进行环境配置；

在所述环境下，提取出工艺波动信息，所述工艺波动信息包括不带PVT波动信息的LIB和存在PVT波动信息的时序标准差；

对所述工艺波动信息进行放大或缩小并集成于所述LIB中，得到带时序裕量的LIB。

在一些实施例中，所述通过所述信号输出模型，输出每个待提取工艺角的信号跳变时间和输出负载，包括：

设定所述信号输出模型的输入信号的最大跳变时间和最大输出负载电容，仿真得到输出信号的信号跳变时间和输出负载；

其中，所述输出信号的信号跳变时间为所述待提取工艺角的信号跳变时间，所述输出信号的输出负载为所述待提取工艺角的输出负载。

在一些实施例中，所述分析计算所述基准索引值、所述待提取工艺角的信号跳变时间和所述待提取工艺角的输出负载，得到每个所述待提取工艺角的索引值，具体包括：

将基于索引值与所述待提取工艺角的索引值进行对比运算，得到所述待提取工艺角的索引值。

在一些实施例中，在所述根据基准工艺角对应的基准索引值，建立信号输出模型之前，还包括：

选取任意一个工艺角作为基准工艺角；

对所述基准工艺角进行仿真，以得到所述基准工艺角的基准索引值。

在一些实施例中，还包括：

对所述带时序裕量的LIB进行静态时序分析，得到电路存在PVT波动下的时序，以评估所述电路的时序余量和抗PVT波动能力。

一种基于自动化的带时序裕量的LIB提取装置，包括：

建立模块，用于根据基准工艺角对应的基准索引值，建立信号输出模型；

输出模块，用于通过所述信号输出模型，输出每个待提取工艺角的信号跳变时间和输出负载；

获得模块，用于分析计算所述基准索引值、所述待提取工艺角的信号跳变时间和所述待提取工艺角的输出负载，得到每个所述待提取工艺角的索引值；所述待提取工艺角的索引值包括信号跳变时间的索引值、所述输出负载的索引值；

配置模块，用于根据所述待提取工艺角的索引值，利用自动化脚本对所述待提取工艺角下的LIB进行环境配置；

提取模块，用于在所述环境下，提取出工艺波动信息，所述工艺波动信息包括不带PVT波动信息的LIB和存在PVT波动信息的时序标准差；

集成模块，用于对所述工艺波动信息进行放大或缩小并集成于所述LIB中，得到带时序裕量的LIB。

在一些实施例中，所述输出模块，包括：

设定所述信号输出模型的输入信号的最大跳变时间和最大输出负载电容，仿真得到输出信号的信号跳变时间和输出负载；

其中，所述输出信号的信号跳变时间为所述待提取工艺角的信号跳变时间，所述输出信号的输出负载为所述待提取工艺角的输出负载。

在一些实施例中，所述获得模块，具体包括：

将基于索引值与所述待提取工艺角的索引值进行对比运算，得到所述待提取工艺角的索引值。

在一些实施例中，还包括：选取模块，用于：

选取任意一个工艺角作为基准工艺角；

对所述基准工艺角进行仿真，以得到所述基准工艺角的基准索引值。

在一些实施例中，还包括：评估模块，用于：

对所述带时序裕量的LIB进行静态时序分析，得到电路存在PVT波动下的时序，以评估所述电路的时序余量和抗PVT波动能力。

本发明提供的一种基于自动化的带时序裕量的LIB提取方法和装置至少具有以下一种有益效果：

本发明在抽取的LIB中加入由PVT(Process/Voltage/Temperature)波动带来时序偏差的信息，通过使用带时序裕量的LIB进行综合与物理实现，使得电路具有时序余量和更好的抗PVT波动的能力。

通过静态时序分析对电路的工艺波动进行衡量，减少蒙特卡洛仿真的需求。同时采用自动化的手段完成不同工艺角下的LIB的提取，减少人工操作。

附图说明

下面结合附图和具体实施方式对本发明作进一步详细说明：

图1是本发明的一种基于自动化的带时序裕量的LIB提取方法的一个实施例的示意图；

图2是本发明的一种基于自动化的带时序裕量的LIB提取方法的一种实施例的示意图；

图3是本发明建立的仿真模拟电路模型的示意图；

图4是本发明通过自动化脚本生成所需的各项专用的工作目录示意图。

图5是本发明根据所需的工艺角进行各项参数调整配置的示意图。

具体实施方式

为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

为使图面简洁，各图中只示意性地表示出了与本发明相关的部分，它们并不代表其作为产品的实际结构。另外，以使图面简洁便于理解，在有些图中具有相同结构或功能的部件，仅示意性地绘示了其中的一个，或仅标出了其中的一个。在本文中，“一个”不仅表示“仅此一个”，也可以表示“多于一个”的情形。

还应当进一步理解，在本申请说明书和所附权利要求书中使用的术语“和/或”是指相关联列出的项中的一个或多个的任何组合以及所有可能组合，并且包括这些组合。

在本文中，需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言，可以具体情况理解上述术语在本发明中的具体含义。

另外，在本申请的描述中，术语“第一”、“第二”等仅用于区分描述，而不能理解为指示或暗示相对重要性。

为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对照附图说明本发明的具体实施方式。显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图，并获得其他的实施方式。

在一个实施例中，如图1所示，一方面，本发明提供一种基于自动化的带时序裕量的LIB提取方法，包括：

S101根据基准工艺角对应的基准索引值，建立信号输出模型。

具体的，此模型为时序弧和约束弧的仿真模型，通过建立时序弧和约束弧的仿真模型，可以完成索引值的选取。

S102通过所述信号输出模型，输出每个待提取工艺角的信号跳变时间和输出负载。

在本实施例中，首先基于某个工艺角通过仿真分析，确定合适的索引值作为基准。然后通过建立仿真模拟信号跳变时间和输出负载随工艺角的变化。

S103分析计算所述基准索引值、所述待提取工艺角的信号跳变时间和所述待提取工艺角的输出负载，得到每个所述待提取工艺角的索引值。

其中，所述待提取工艺角的索引值包括信号跳变时间的索引值、所述输出负载的索引值。

具体的，利用自动化脚本将模拟得到信息与基准索引值运算，确定所有工艺角下的索引值。

S104根据所述待提取工艺角的索引值，利用自动化脚本对所述待提取工艺角下的LIB进行环境配置。

在本实施例中，采用python和shell、perl等脚本语言联合编程，可以一次性完成所有工艺角下的环境配置，使得整个流程自动化。

S105在所述环境下，提取出工艺波动信息，所述工艺波动信息包括不带PVT波动信息的LIB和存在PVT波动信息的时序标准差。

在本实施例中，通过提取包含对应工艺角下的时序信息描述的LIB，并且提取出在存在PVT波动时时序的偏差，将两者集成为一个包含PVT波动信息具有时序裕量的LIB，使用集成后的LIB完成综合和物理实现，使得电路具有一定余量和抗PVT波动的能力。S106对所述工艺波动信息进行放大或缩小并集成于所述LIB中，得到带时序裕量的LIB。

在本实施例中，在运行环境配置结束后，直接提取所有工艺角下的LIB和存在PVT波动时序发生变化导致的sigma(标准差)，对工艺波动信息进行放大或缩小集成于LIB中，得到带时序裕量的LIB。

利用集成的带时序裕量的LIB进行综合和物理实现，使电路具有时序裕量。进行静态时序仿真，就能看到在存在PVT波动的情况下电路的时序情况，而不需对电路进行蒙特卡洛仿真。

需要说明的是，通过使用具有时序裕量的LIB进行静态时序分析获得系统在存在PVT波动时的性能，从而减小大量的大规模的蒙特卡洛仿真。

通过本发明，可以使得最终实现的电路具有时序裕量和有抗PVT波动的能力，同时能通过静态时序分析查看PVT波动下的时序，减少了大规模蒙特卡洛仿真的需求，整个流程高度自动化，减少了人工的重复劳动和出错的概率。相比蒙特卡洛仿真，效率得到数百倍的提升。

在一个实施例中，所述通过所述信号输出模型，输出每个待提取工艺角的信号跳变时间和输出负载，包括：

设定所述信号输出模型的输入信号的最大跳变时间和最大输出负载电容，仿真得到输出信号的信号跳变时间和输出负载。

其中，所述输出信号的信号跳变时间为所述待提取工艺角的信号跳变时间，所述输出信号的输出负载为所述待提取工艺角的输出负载。

在一个实施例中，所述分析计算所述基准索引值、所述待提取工艺角的信号跳变时间和所述待提取工艺角的输出负载，得到每个所述待提取工艺角的索引值，具体包括：

将基于索引值与所述待提取工艺角的索引值进行对比运算，得到所述待提取工艺角的索引值。

在一个实施例中，在所述根据基准工艺角对应的基准索引值，建立信号输出模型之前，还包括：

选取任意一个工艺角作为基准工艺角；

对所述基准工艺角进行仿真，以得到所述基准工艺角的基准索引值。

在一个实施例中，还包括：

对所述带时序裕量的LIB进行静态时序分析，得到电路存在PVT波动下的时序，以评估所述电路的时序余量和抗PVT波动能力。

在一个实施例中，如图2所示，本发明提供一种基于自动化的带时序裕量的LIB提取方法，包括：

步骤S201：首先任意选取一个工艺角，进行较为准确细致地仿真，确定该工艺下的索引值并作为其他工艺角的参考对象。

步骤S202：相比较传统的在每个工艺角下对每个索引值都进行仿真分析来选取，我们以步骤S201所选定的工艺角为基准，通过建立模型模拟不同工艺角下的最大信号跳变时间和最大输出负载来选取，所以要建立一个能反映出最大跳变时间和最大输出负载随电压、温度等条件的变化而变化的模型。该模型为一简单的电路结构，如图3所示，使用标准单元库里的基本反相器单元，通过通过简单地设定输入信号的最大跳变时间和最大输出负载电容，仿真得到分别随着温度和电压变化的输出信号最大跳变时间。

步骤S203：模型一次会输出所有工艺角下的信号跳变时间和输出负载，还有一些无效信息例如信号跳变的起始时间，通过perl脚本完成有效信息的摘取。

步骤S204：利用步骤S201以及S203的信息，利用python脚本完成所有工艺角下的索引值的选取。

在本实施例中，选取方法如下：以S201的索引值为基准，通过两个工艺角下仿真模型的信号跳变时间的比值，与基准的索引值进行运算获得另一个工艺角下信号跳变时间的索引值。输出负载也类似，不需要对索引值的每一项都进行单独的仿真来确定。

步骤S205：提取LIB的环境，除了要配置各个单元的索引值，还需要配置电压、温度、阈值类型等，配置的索引值也不止一种类型，不同的工艺也不一样，所以先要对当工艺角变化时需要修改的选项进行分析统计。

步骤S206：利用pyhton和shell脚本语言联合完成整个环境的配置。shell语言主要完成所有工艺角下提取LIB所需的各级目录还有运行脚本的建立，如图4所示，这些目录包括表征工具所必须的配置文件存放目录、工艺厂商提供的标准LIB格式文件存放目录以及用于进行电流、静态功耗、动态功耗等仿真所需要的激励定义文件存放目录。Python脚本主要完成步骤S204所描述的针对所有不同工艺角对配置的修改。因为不用的工艺角对应的电压、温度、器件阈值类型、操作环境、仿真模型都是不同的，都需要根据选定的工艺角做对应的修改，如图5所示。

步骤S207(a)：在S206描述的环境中运行脚本提取出不带PVT波动信息的LIB。

步骤S208(b.1)：提取工艺波动给时序带来的标准差sigma信息，提取工艺波动带来的标准差的流程与不带工艺波动信息的流程一致，也需完成S201-S206,只是两者需用不同的工具和配置。

步骤S207(b.2)：不同的系统对电路的时序余量要求不同，可以根据实际需要对对sigma进行放大或缩小，例如：想要电路在正态分布的3sigma区间收敛，则对sigma放大三倍，使得电路时序收敛之后具有不同的余量和抗PVT波动的能力。

步骤S208：将不带工艺波动信息的LIB与工艺波动带来的时序的偏差进行集成，只需根据时序弧的类型进行简单的运算。例如时序弧如果是电路的保持时间和延时，想要使得有更大的时序余量，则需要将原有的时序弧和工艺波动带来的sigma放大之后的值做加法，如果是建立时间的时序弧，则是做减法。集成的LIB的时序已经考虑了PVT波动带来的影响，对时序的要求更加严格，也就是使收敛后电路具有了一定的时序余量。

步骤S209：不同于以往采用传统的LIB进行综合和物理实现，采用集成PVT波动信息的带时序裕量的LIB完成对电路的综合和物理实现，使电路抗PVT波动能力更强。

步骤S210：相比较传统通过蒙特卡洛仿真才能查看电路在PVT波动下的时序，只需利用集成后的LIB进行静态时序分析，即可观察到电路在存在PVT波动下的时序，完成对电路的时序余量，抗PVT波动能力的评估。

在一个实施例中，如图3所示，本发明还提供一种基于自动化的带时序裕量的LIB提取装置，包括：

建立模块，用于根据基准工艺角对应的基准索引值，建立信号输出模型；

输出模块，用于通过所述信号输出模型，输出每个待提取工艺角的信号跳变时间和输出负载；

获得模块，用于分析计算所述基准索引值、所述待提取工艺角的信号跳变时间和所述待提取工艺角的输出负载，得到每个所述待提取工艺角的索引值；所述待提取工艺角的索引值包括信号跳变时间的索引值、所述输出负载的索引值；

配置模块，用于根据所述待提取工艺角的索引值，利用自动化脚本对所述待提取工艺角下的LIB进行环境配置；

提取模块，用于在所述环境下，提取出工艺波动信息，所述工艺波动信息包括不带PVT波动信息的LIB和存在PVT波动信息的时序标准差；

集成模块，用于对所述工艺波动信息进行放大或缩小并集成于所述LIB中，得到带时序裕量的LIB。

在一些实施例中，所述输出模块，包括：

设定所述信号输出模型的输入信号的最大跳变时间和最大输出负载电容，仿真得到输出信号的信号跳变时间和输出负载；

其中，所述输出信号的信号跳变时间为所述待提取工艺角的信号跳变时间，所述输出信号的输出负载为所述待提取工艺角的输出负载。

在一些实施例中，所述获得模块，具体包括：

将基于索引值与所述待提取工艺角的索引值进行对比运算，得到所述待提取工艺角的索引值。

在一些实施例中，还包括：选取模块，用于：

选取任意一个工艺角作为基准工艺角；

对所述基准工艺角进行仿真，以得到所述基准工艺角的基准索引值。

在一些实施例中，还包括：评估模块，用于：

对所述带时序裕量的LIB进行静态时序分析，得到电路存在PVT波动下的时序，以评估所述电路的时序余量和抗PVT波动能力。

本发明在抽取的LIB中加入由PVT(Process/Voltage/Temperature)波动带来时序偏差的信息，通过使用带时序裕量的LIB进行综合与物理实现，使得电路具有时序余量和更好的抗PVT波动的能力。

通过静态时序分析对电路的工艺波动进行衡量，减少蒙特卡洛仿真的需求。同时采用自动化的手段完成不同工艺角下的LIB的提取，减少人工操作。

本领域普通技术人员可以意识到，结合本文中所公开的实施例描述的各示例的单元及算法步骤，能够以电子硬件、或者计算机软件和电子硬件的结合来实现。这些功能究竟以硬件还是软件来执行，取决于技术方案的特定应用和设计约束条件。专业技术人员可以对每个特定的应用来使用不同方法来实现所描述的功能，但是这种实现不应认为超出本申请的范围。

在本申请所提供的实施例中，应该理解到，所揭露的装置和方法，可以通过其他的方式实现。示例性的，以上所描述的系统实施例仅仅是示意性的，示例性的，所述模块或单元的划分，仅仅为一种逻辑功能划分，实际实现时可以有另外的划分方式，示例性的，多个单元或组件可以结合或者可以集成到另一个系统，或一些特征可以忽略，或不执行。另一点，所显示或讨论的相互之间的耦合或直接耦合或通讯连接可以是通过一些接口，装置或单元的间接耦合或通讯连接，可以是电性、机械或其他的形式。

所述作为分离部件说明的单元可以是或者也可以不是物理上分开的，作为单元显示的部件可以是或者也可以不是物理单元，即可以位于一个地方，或者也可以分布到多个网络单元上。可以根据实际的需要选择其中的部分或者全部单元来实现本实施例方案的目的。

另外，在本申请各个实施例中的各功能单元可能集成在一个处理单元中，也可以是各个单元单独物理存在，也可以两个或两个以上单元集成在一个单元中。上述集成的单元既可以采用硬件的形式实现，也可以采用软件功能单元的形式实现。

应当说明的是，上述实施例均可根据需要自由组合。以上所述仅是本发明的优选实施方式，应当指出，对于本技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明原理的前提下，还可以做出若干改进和润饰，这些改进和润饰也应视为本发明的保护范围。

Claims (10)

1.一种基于自动化的带时序裕量的LIB提取方法，其特征在于，包括：

根据基准工艺角对应的基准索引值，建立信号输出模型；

通过所述信号输出模型，输出每个待提取工艺角的信号跳变时间和输出负载；

分析计算所述基准索引值、所述待提取工艺角的信号跳变时间和所述待提取工艺角的输出负载，得到每个所述待提取工艺角的索引值；所述待提取工艺角的索引值包括信号跳变时间的索引值、所述输出负载的索引值；

根据所述待提取工艺角的索引值，利用自动化脚本对所述待提取工艺角下的LIB进行环境配置；

在所述环境下，提取出工艺波动信息，所述工艺波动信息包括不带PVT波动信息的LIB和存在PVT波动信息的时序标准差；

对所述工艺波动信息进行放大或缩小并集成于所述LIB中，得到带时序裕量的LIB。

2.根据权利要求1所述基于自动化的带时序裕量的LIB提取方法，其特征在于，所述通过所述信号输出模型，输出每个待提取工艺角的信号跳变时间和输出负载，包括：

设定所述信号输出模型的输入信号的最大跳变时间和最大输出负载电容，仿真得到输出信号的信号跳变时间和输出负载；

其中，所述输出信号的信号跳变时间为所述待提取工艺角的信号跳变时间，所述输出信号的输出负载为所述待提取工艺角的输出负载。

3.根据权利要求1所述基于自动化的带时序裕量的LIB提取方法，其特征在于，所述分析计算所述基准索引值、所述待提取工艺角的信号跳变时间和所述待提取工艺角的输出负载，得到每个所述待提取工艺角的索引值，具体包括：

将基于索引值与所述待提取工艺角的索引值进行对比运算，得到所述待提取工艺角的索引值。

4.根据权利要求1～3中任一项所述基于自动化的带时序裕量的LIB提取方法，其特征在于，在所述根据基准工艺角对应的基准索引值，建立信号输出模型之前，还包括：

选取任意一个工艺角作为基准工艺角；

对所述基准工艺角进行仿真，以得到所述基准工艺角的基准索引值。

5.根据权利要求4所述基于自动化的带时序裕量的LIB提取方法，其特征在于，还包括：

对所述带时序裕量的LIB进行静态时序分析，得到电路存在PVT波动下的时序，以评估所述电路的时序余量和抗PVT波动能力。

6.一种基于自动化的带时序裕量的LIB提取装置，其特征在于，包括：

建立模块，用于根据基准工艺角对应的基准索引值，建立信号输出模型；

输出模块，用于通过所述信号输出模型，输出每个待提取工艺角的信号跳变时间和输出负载；

获得模块，用于分析计算所述基准索引值、所述待提取工艺角的信号跳变时间和所述待提取工艺角的输出负载，得到每个所述待提取工艺角的索引值；所述待提取工艺角的索引值包括信号跳变时间的索引值、所述输出负载的索引值；

配置模块，用于根据所述待提取工艺角的索引值，利用自动化脚本对所述待提取工艺角下的LIB进行环境配置；

提取模块，用于在所述环境下，提取出工艺波动信息，所述工艺波动信息包括不带PVT波动信息的LIB和存在PVT波动信息的时序标准差；

集成模块，用于对所述工艺波动信息进行放大或缩小并集成于所述LIB中，得到带时序裕量的LIB。

7.根据权利要求6所述基于自动化的带时序裕量的LIB提取装置，其特征在于，所述输出模块，包括：

设定所述信号输出模型的输入信号的最大跳变时间和最大输出负载电容，仿真得到输出信号的信号跳变时间和输出负载；

其中，所述输出信号的信号跳变时间为所述待提取工艺角的信号跳变时间，所述输出信号的输出负载为所述待提取工艺角的输出负载。

8.根据权利要求6所述基于自动化的带时序裕量的LIB提取装置，其特征在于，所述获得模块，具体包括：

将基于索引值与所述待提取工艺角的索引值进行对比运算，得到所述待提取工艺角的索引值。

9.根据权利要求6～8任一项所述基于自动化的带时序裕量的LIB提取装置，其特征在于，还包括：选取模块，用于：

选取任意一个工艺角作为基准工艺角；

对所述基准工艺角进行仿真，以得到所述基准工艺角的基准索引值。

10.根据权利要求9所述基于自动化的带时序裕量的LIB提取装置，其特征在于，还包括：评估模块，用于：

对所述带时序裕量的LIB进行静态时序分析，得到电路存在PVT波动下的时序，以评估所述电路的时序余量和抗PVT波动能力。

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