CN115236578A - 传感器电性能测试夹具 - Google Patents
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Abstract
本申请适用于测试仪器技术领域,提供了一种传感器电性能测试夹具。传感器电性能测试夹具,用于对待测传感器进行测试,待测传感器包括传感器本体和第一引脚;传感器电性能测试夹具包括绝缘底座、测试供电部以及按压部,测试供电部设置于绝缘底座上;按压部设置于绝缘底座上,按压部包括按压本体和第一绝缘按压件,第一绝缘按压件设置于按压本体上;待测传感器放置于测试供电部上,并通过第一引脚抵接测试供电部,第一绝缘按压件按压在第一引脚上。本申请的这种设计提高了各第一引脚与测试供电部的接触面积,降低了各第一引脚与测试供电部之间的接触电阻,尽可能避免了待测传感器在大电流的条件下测试而造成夹具或者产品烧毁等这类问题的发生。
Description
技术领域
本申请属于测试仪器技术领域,更具体地说,是涉及一种传感器电性能测试夹具。
背景技术
芯片式霍尔电流传感器(以下简称霍尔电流传感器)是基于霍尔效应并采用半导体工艺在硅基上进行制备成型的一种传感器,其主要用来将被测电流信号按一定规律变换成符合一定标准需要的电信号或者其他所需形式的信号。
目前封装方式为SOP-8型的霍尔电流传感器最大的被测电流为50A,输出电压信号为4.5V,同时加上产品外形太小,该款霍尔电流传感器的尺寸为5.0mm*6.0mm*1.75mm,传统的传感器电性能测试夹具耐流能力不够,在大电流的条件下,霍尔电流传感器的引出端与测试夹具接触后会产生的大量热量,易出现夹具或者产品烧毁的现象。
发明内容
本申请实施例的目的在于提供一种传感器电性能测试夹具,旨在解决现有技术中传感器在大电流的条件下测试很容易造成夹具或者产品烧毁的技术问题。
为实现上述目的,根据本申请的一个方面,提供了一种传感器电性能测试夹具,用于对待测传感器进行测试,待测传感器包括传感器本体和第一引脚,第一引脚设置于传感器本体上,且与传感器本体电连接;传感器电性能测试夹具包括绝缘底座、测试供电部以及按压部,测试供电部设置于绝缘底座上,用于为待测传感器提供测试电流;按压部设置于绝缘底座上,按压部包括按压本体和第一绝缘按压件,第一绝缘按压件设置于按压本体上,按压本体设置于测试供电部远离绝缘底座的一侧;待测传感器放置于测试供电部上,并通过第一引脚抵接测试供电部,并与测试供电部电连接,第一绝缘按压件按压在第一引脚上。
可选地,测试供电部设置于绝缘底座上,传感器电性能测试夹具还包括罩设部,罩设部内部空心设置,且罩设在测试供电部上,罩设部的侧壁开设有多个第一散热孔。
可选地,绝缘底座的上表面开设有散热槽,测试供电部与散热槽对应设置,绝缘底座内部空心设置,且侧壁和底壁均开设有多个第二散热孔。
可选地,按压部还包括压紧组件,压紧组件可转动地设置于绝缘底座上,压紧组件的输出端具有初始位置以及朝向测试供电部的方向按压按压本体的按压位置。
可选地,压紧组件包括承载座、传动结构以及按压件,承载座设置于绝缘底座上,传动结构可转动地设置于承载座上,按压件与传动结构的输出端驱动连接,按压件为按压柱,按压柱形成压紧组件的输出端。
可选地,压紧组件还包括调节螺杆和调节螺帽,调节螺杆的第一端与按压柱固定连接,调节螺帽固定连接在传动结构的输出端上,调节螺杆的第二端与调节螺帽螺纹连接。
可选地,待测传感器还包括第二引脚,第二引脚设置于传感器本体上,且与传感器本体电连接;传感器电性能测试夹具还包括信号输出组件,信号输出组件包括PCB、第一接线柱、第二接线柱、第三接线柱以及第四接线柱,PCB设置于测试供电部的一侧,用于与待测传感器的第二引脚电连接;第一接线柱与PCB电连接,用于与外界电压源的正极电连接;第二接线柱与PCB电连接,用于与检测设备的输入端电连接;第三接线柱与PCB电连接,用于与滤波设备的输入端电连接;第四接线柱与PCB电连接,用于与外界电压源的负极、检测设备的输出端以及滤波设备的输出端电连接。
可选地,测试供电部包括依次间隔设置的第一供电体、第二供电体以及第三供电体,按压部设置有两个,两个按压部中的一个按压部与第一供电体和第二供电体对应设置,另一个按压部与第二供电体和第三供电体对应设置;传感器电性能测试夹具还包括第五接线柱,第五接线柱设置有三个,三个第五接线柱中的一个第五接线柱分别与第一供电体、第二供电体及第三供电体电连接。
可选地,传感器电性能测试夹具还包括限位部,限位部设置于罩设部上,限位部内开设有用于放置按压本体的第一放置槽,第一放置槽的槽底开设有用于限位第一引脚和第二引脚的限位通槽,以及用于放置传感器本体的第二放置槽,第一引脚能够放置于限位通槽内,且与测试供电部抵接,第二引脚能够放置于限位通槽内,且与PCB抵接;传感器电性能测试夹具还包括支撑柱,支撑柱设置于罩设部内,支撑柱远离绝缘底座的端面设置有用于隔离电磁场的隔离层。
可选地,传感器电性能测试夹具还包括调节组件,调节组件设置于按压柱上,调节组件包括齿条、齿轮、驱动杆、棘轮、棘爪以及驱动手轮,齿条沿按压柱的长度方向可滑动地设置于按压柱上,按压柱上开设有供齿条滑动的滑动槽,齿条的第一端设置于按压柱的内部,齿条的第二端设置于按压柱的外部,且与按压本体可拆卸连接;齿轮可转动地设置于按压柱内,且与齿条相啮合;驱动杆的第一端与齿轮固定连接,驱动杆的第二端设置于按压柱的外部;棘轮设置于按压柱的外部,棘轮套设在驱动杆的外周,且与驱动杆固定连接;棘爪可转动地设置于按压柱的外壁上,驱动杆通过棘轮和棘爪的配合保持静止;驱动手轮套设在驱动杆的第二端,且与驱动杆的第二端固定连接;
传感器电性能测试夹具还包括固定组件,固定组件包括固定杆、复位弹簧以及牵引绳,按压本体上开设有用于容纳齿条第二端的容纳槽,容纳槽的槽壁开设有安装槽,固定杆设置于安装槽内,固定杆的长度方向与齿条的长度方向相垂直,齿条第二端的外壁开设有供固定杆插入的固定槽,齿条与按压本体通过固定杆和固定槽的配合连接;复位弹簧设置于固定杆与安装槽的槽底之间,复位弹簧的第一端与固定杆固定连接,复位弹簧的第二端与安装槽的槽底固定连接;牵引绳的第一端与固定杆靠近复位弹簧的一端固定连接,按压本体上开设有供牵引绳向外穿出的穿设孔,牵引绳的第二端通过穿设孔到达按压本体的外部。
本申请提供的传感器电性能测试夹具的有益效果在于:与现有技术相比,在待测传感器测试的情况下,第一绝缘按压件与第一引脚一一对应设置,使每个第一引脚均能够接收到对应的第一绝缘按压件施加的按压力,从而使每个第一引脚均能够与测试供电部实现良好的接触,本申请的这种设计提高了各第一引脚与测试供电部的接触面积,降低了各第一引脚与测试供电部之间的接触电阻,减少了待测传感器与测试供电部在导通有测试电流的条件下产生的热量,尽可能避免了待测传感器在大电流的条件下测试而造成夹具或者产品烧毁等这类问题的发生。
附图说明
为了更清楚地说明本申请实施例中的技术方案,下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动性的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1为本申请实施例提供的传感器电性能测试夹具一个视角下的结构示意图;
图2为本申请实施例提供的传感器电性能测试夹具另一个视角下的结构示意图;
图3为本申请实施例提供的压紧组件的结构示意图;
图4为本申请实施例提供的传感器电性能测试夹具的正视局部剖视示意图图;
图5为图4中A处的放大示意图;
图6为本申请实施例提供的按压本体、第一绝缘按压件以及第二绝缘按压件的结构示意图;
图7为本申请实施例提供的测试供电部、第一绝缘按压件、PCB以及待测传感器的位置示意图;
图8为本申请实施例提供的调节组件和固定组件的结构示意图;
图9为图8中B处的放大示意图。
上述附图所涉及的标号明细如下:
100、绝缘底座;110、第二散热孔;200、罩设部;210、第一散热孔;300、测试供电部;310、第一供电体;320、第二供电体;330、第三供电体;400、按压部;410、按压本体;420、第一绝缘按压件;430、压紧组件;431、承载座;432、第一转动件;433、按压柱;434、第二转动件;435、连接件;436、限位件;437、调节螺杆;438、调节螺帽;500、信号输出组件;510、PCB;520、第一接线柱;530、第二接线柱;540、第三接线柱;550、第四接线柱;600、第五接线柱;700、限位部;800、支撑柱;900、调节组件;910、齿条;920、齿轮;930、驱动杆;940、棘轮;950、棘爪;960、驱动手轮;1000、固定组件;1010、固定杆;1020、复位弹簧;1030、牵引绳;1100、待测传感器;1110、传感器本体;1120、第一引脚。
具体实施方式
为了使本申请所要解决的技术问题、技术方案及有益效果更加清楚明白,以下结合附图及实施例,对本申请进行进一步详细说明。应当理解,此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本申请,并不用于限定本申请。
需要说明的是,当元件被称为“固定于”或“设置于”另一个元件,它可以直接在另一个元件上或者间接在该另一个元件上。当一个元件被称为是“连接于”另一个元件,它可以是直接连接到另一个元件或间接连接至该另一个元件上。在不冲突的情况下,本申请中的实施例及实施例中的特征可以相互组合。下面将参考附图并结合实施例来详细说明本申请。
需要理解的是,术语“长度”、“宽度”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系,仅是为了便于描述本申请和简化描述,而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作,因此不能理解为对本申请的限制。
此外,术语“第一”、“第二”仅用于描述目的,而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此,限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多个该特征。在本申请的描述中,“多个”的含义是两个或两个以上,除非另有明确具体的限定。
正如背景技术中所记载的,目前,封装方式为SOP-8型的霍尔电流传感器最大的被测电流为50A,输出电压信号为4.5V,同时加上产品外形太小,该款霍尔电流传感器的尺寸为5.0mm*6.0mm*1.75mm,传统的传感器电性能测试夹具耐流能力不够,在大电流的条件下,霍尔电流传感器的引出端与测试夹具接触后会产生的大量热量,易出现夹具或者产品烧毁的现象。
参照图1至图7,为了解决上述问题,根据本申请的一个方面,本申请的实施例提供了一种传感器电性能测试夹具,用于对待测传感器1100进行测试,待测传感器1100包括传感器本体1110和第一引脚1120,第一引脚1120设置于传感器本体1110上,且与传感器本体1110电连接。传感器电性能测试夹具包括绝缘底座100、测试供电部300以及按压部400,其中,测试供电部300设置于绝缘底座100上,用于为待测传感器1100提供测试电流;按压部400设置于绝缘底座100上,按压部400包括按压本体410以及第一绝缘按压件420,第一绝缘按压件420设置于按压本体410上,按压本体410设置于测试供电部300远离绝缘底座100的一侧。测试时,待测传感器1100设置于测试供电部300上,并通过第一引脚1120抵接测试供电部300,并与测试供电部300电连接,第一绝缘按压件420按压在第一引脚1120上。
在本申请实施例中,绝缘底座100采用电木材质制成,测试供电部300采用导电材料制成,本申请中采用黄铜制成;第一引脚1120设置有四个,当然在其他实例中,第一引脚1120还可以设置为两个,三个或者其他个数;第一绝缘按压件420采用绝缘材料制成,本申请中采用橡胶材质,第一绝缘按压件420的个数与第一引脚1120的个数相同。
具体应用中,在待测传感器1100测试的情况下,第一绝缘按压件420与第一引脚1120一一对应设置,使每个第一引脚1120均能够接收到对应的第一绝缘按压件420施加的按压力,从而使每个第一引脚1120均能够与测试供电部300实现良好的接触,本申请的这种设计提高了各第一引脚1120与测试供电部300的接触面积,降低了各第一引脚1120与测试供电部300之间的接触电阻,减少了待测传感器1100与测试供电部300在导通有测试电流的条件下产生的热量,尽可能避免了待测传感器1100在大电流的条件下测试而造成夹具或者产品烧毁等这类问题的发生。
参照图1、图2和图4,本实施例中测试供电部300设置于绝缘底座100上,传感器电性能测试夹具还包括罩设部200,罩设部200内部空心设置,且罩设在测试供电部300上,罩设部200的侧壁开设有多个第一散热孔210。
在本申请实施例中,测试供电部300设置于绝缘底座100的上表面,罩设部200为罩设块,其采用电木材质制成,测试供电部300位于罩设部200内部,在待测传感器1100测试的情况下,待测传感器1100的第一引脚1120与测试供电部300之间产生的热量能够通过第一散热孔210向外排出,从而加快热量的散发,大大提升了传感器电性能测试夹具的散热性能,同时设置的罩设部200对测试供电部300起到了保护作用。此外,罩设部200固定连接在绝缘底座100上。
参照图1,作为本申请实施例中的一种可选方式,绝缘底座100的上表面开设有散热槽,测试供电部300与散热槽对应设置,绝缘底座100内部空心设置,绝缘底座100的侧壁和底壁均开设有第二散热孔110。
在本可选方式中,测试供电部300通过螺栓与罩设部200连接,测试供电部300的一部分位于散热槽的上方,另一部分位于绝缘底座100的上方。在待测传感器1100测试的情况下,待测传感器1100的第一引脚1120与测试供电部300之间产生的热量能够通过散热槽和第二散热孔110向外排出,此外由于测试供电部300位于绝缘底座100的上方,测试供电部300与第二散热孔110之间存在较大的高度差,这种高度差更加便于热量的散发。
作为本申请实施例中的另一种可选方式,测试供电部300的外表面包裹有金层,如此设计可以进一步降低第一引脚1120与测试供电部300之间的接触电阻,进而减少待测传感器1100与测试供电部300在导通有测试电流的条件下产生的热量。
参照图6,此外,按压本体410靠近绝缘底座100的侧面开设有放置空间,在第一绝缘按压件420按压在第一引脚1120的情况下,传感器本体1110位于放置空间内。
参照图1至图4,本实施例中的按压部400还包括压紧组件430,压紧组件430可转动地设置于绝缘底座100上,压紧组件430的输出端具有初始位置以及朝向测试供电部300的方向按压按压本体410的按压位置。
本申请实施例中,压紧组件430包括承载座、传动结构以及按压件,承载座431设置于绝缘底座100上,传动结构可转动地设置于承载座431上,按压件与传动结构的输出端驱动连接,按压件为按压柱433,按压柱433形成压紧组件430的输出端。
其中,传动结构包括第一转动件432、第二转动件434以及连接件435,第一转动件432的第一端转动地设置于承载座431上;按压柱433设置于第一转动件432的第二端,按压柱433能够朝向测试供电部300的方向按压按压本体410,按压柱433既可以与按压本体410分离设置,也可以相互连接在一起。第二转动件434的第一端可转动地设置于承载座431上;连接件435设置于第一转动件432和第二转动件434之间,连接件435的第一端可转动地设置于第一转动件432上,连接件435的第二端可转动地设置于第二转动件434上。在按压柱433处于按压位置的情况下,第一转动件432水平设置,第二转动件434竖直设置,连接件435竖直设置,按压柱433竖直设置,且用于按压在按压本体410上。
在本申请实施例中,第一转动件432为两个第一转动板,两个第一转动板通过连接销转动设置于承载座431上,具体的,两个第一转动板设置于承载座431之间,连接销依次穿过承载座431的第一端面、两个第一转动板以及承载座431的第二端面,第一端面与第二端面相对设置,连接销与两个第一转动板固定连接,连接销的两端分别与承载座431转动连接。第一转动件432形成为传动结构的输出端。
第二转动件434为两个第二转动板,两个第二转动板通过连接销和轴承座转动设置于承载座431上,具体的,两个第二转动板设置于承载座431的两侧,轴承座设置于承载座431之间,且与承载座431固定连接,连接销依次穿过一个第二转动板、承载座431的第一端面、轴承座、承载座431的第二端面以及另一个第二转动板,第一端面与第二端面相对设置,连接销与两个第二转动板固定连接,连接销转动设置于承载座431和轴承座内。
按压柱433的直径沿着从远离到靠近第一转动件432的方向逐渐增大。连接件435为两个连接板,两个连接板通过两个连接销转动设置于第一转动件432和第二转动件434上,具体的,两个连接板分别位于两个第一转动板的两侧,同时位于两个第二转动板之间,一个连接销依次穿过一个连接板、两个第一转动板以及另一个连接板,其中该连接销转动设置于两个连接板上,且与两个第一转定板固定连接,另一个连接销依次穿过一个第二转动板、两个连接板以及另一个第二转动板,其中该连接销转动设置于两个连接板上,且与两个第二转动板固定连接。
通过采用上述设计,在按压柱433处于按压位置的情况下,第一转动件432水平设置,第二转动件434、连接件435以及按压柱433均竖直设置,同时按压柱433按压在按压本体410上,这种情况下压紧组件430能够给予按压本体410和第一绝缘按压件420一个沿竖直方向的压紧力,从而进一步增大了第一引脚1120与测试供电部300的接触面积,降低了第一引脚1120与测试供电部300之间的接触电阻,减小了待测传感器1100与测试供电部300在导通有测试电流的条件下产生的热量。
参照图1,作为本申请实施例中的一种可选方式,传动结构还包括限位件436,限位件436固定连接于连接件435靠近按压柱433的一侧,限位件436的长度方向与连接件435的长度方向相平行;在按压柱433处于按压位置的情况下,限位件436靠近第一转动件432的端面用于与第一转动件432抵接。
在本可选方式中,限位件436为限位板,限位件436与连接件435为一体成型设计。在按压柱433处于按压位置的情况下,第一转动件432处于水平状态,第二转动件434和连接件435均处于竖直状态,此时在连接件435的作用下,限位件436也将处于竖直状态,限位件436靠近第一转动件432的端面也将与第一转动件432抵接,在这种情况下,第二转动件434将无法继续朝向靠近按压柱433的方向转动,同时也提醒了操作者无需继续带动第二转动件434转动。
参照图2和图7,本实施例中的待测传感器1100还包括第二引脚,第二引脚设置于传感器本体1110上,且与传感器本体1110电连接,第二引脚设置有四个,第一引脚1120与第二引脚相对设置。
传感器电性能测试夹具还包括信号输出组件500,信号输出组件500包括PCB510(Printed Circuit Board),中文名称为印刷电路板、第一接线柱520、第二接线柱530、第三接线柱540以及第四接线柱550,PCB510设置于测试供电部300的一侧,用于与待测传感器1100的第二引脚电连接;第一接线柱520与PCB510电连接,用于与外界电压源的正极电连接;第二接线柱530与PCB510电连接,用于与检测设备的输入端电连接;第三接线柱540与PCB510电连接,用于与滤波设备的输入端电连接,第四接线柱550与PCB510电连接,用于与外界电压源的负极、检测设备的输出端以及滤波设备的输出端电连接。
在本申请实施例中,PCB510上设置有连接片,连接片与PCB510电连接,第二引脚能够与连接片抵接,此时第二引脚将与PCB510实现电连接,PCB510的耐燃等级为FR-4,检测设备采用数字万用表,滤波设备采用滤波电容。
具体应用中,第一接线柱520与外界电压源的正极连接,第二接线柱530与数字万用表的输入端电连接,第三接线柱540与滤波电容的输入端电连接,第四接线柱550不仅与外界电压源的负极电连接,以形成一个闭合的电路,同时还与数字万用表的输出端和滤波电容的输出端电连接,从而使数字万用表和滤波电容串联在闭合电路内,设置的滤波电容用于对输出信号进行滤波处理,以便于得到一个相对准确的电信号。在待测传感器1100测试的情况下,通过测试供电部300为待测传感器1100提供测试电流,通过PCB510为待测传感器1100提供工作电压,并根据数字万用表上的数据判读待测传感器1100是否合格以及判断第一引脚1120与测试供电部300接触是否良好。
参照图7,作为本申请实施例中的一种可选方式,按压部400还包括第二绝缘按压件,第二绝缘按压件固定连接于按压本体410上,第二绝缘按压件与第一绝缘按压件420对应设置,第二绝缘按压件与第一绝缘按压件420的形状和尺寸均相同,第二绝缘按压件设置有四个,且分别与第二引脚一一对应设置。设置的第二绝缘按压件不仅便于使第二引脚与PCB510实现良好的接触,同时在第一绝缘按压件420按压第一引脚1120的情况下,使第一绝缘按压件420能够施加良好的按压力,尽可能避免第一绝缘按压件420发生倾斜的可能性。
参照图2和图3,本实施例中的压紧组件430还包括调节螺杆437和调节螺帽438,调节螺帽438固定连接在传动结构的输出端上,调节螺杆437的第二端与调节螺帽438螺纹连接。
在本申请实施例中,调节螺帽438设置有两个,两个调节螺帽438分别设置于传动结构的两侧,调节螺杆437分别与两个调节螺帽438螺纹连接,其中远离按压柱433设置的调节螺帽438与传动结构固定连接,靠近按压柱433设置的调节螺帽438未与传动结构连接,只与调节螺杆437螺纹连接,此时调节螺杆437穿过传动结构的输出端,即第一转动件432。
在本申请实施例中,调节螺杆437的长度方向与第一转动件432的长度方向相垂直,两个调节螺帽438分别固定连接在第一转动件432第二端相对的两侧面上,调节螺杆437的第一端依次穿过一个调节螺帽438、第一转动件432的第二端以及另一个调节螺帽438。
在本申请实施例中,两个第一转动板之间形成有供调节螺杆437穿设的穿设空间。当待测传感器1100接通外界电压源后,若数字万用表显示的数值并不是标准数值时,此时判断为第一引脚1120未与测试供电部300实现良好接触,此时旋转靠近按压柱433设置的调节螺帽438,使调节螺杆437的第一端能够朝向测试供电部300的方向移动,从而使按压柱433也能够朝向测试供电部300的方向移动,从而加强第一引脚1120与测试供电部300的接触,提高第一引脚1120与测试供电部300的接触面积,降低第一引脚1120与测试供电部300之间的接触电阻,直至数字万用表显示的数值与标准数值大致相同为止。设置的调节螺杆437以及调节螺帽438能够使第一引脚1120与测试供电部300实现更加良好的接触。
此外,在本申请实施例中,两个调节螺帽438之间设置有两个连接板,其中一个连接板位于第一转动件432与远离按压柱433设置的调节螺帽438之间,且分别与第一转动件432和该调节螺帽438固定连接,另一个连接板位于第一转动件432与靠近按压柱433设置的调节螺帽438之间,且与第一转动件432固定连接。
当然在其他实例中,两个调节螺帽438均可以固定连接在第一转动件432的两侧,两个连接板也均与调节螺帽438固定连接。当待测传感器1100接通外界电压源后,若数字万用表显示的数值并不是标准数值时,此时旋转调节螺杆437带动按压柱433朝向测试供电部300的方向移动。
参照图8,作为本申请实施例中的一种可选方式,传感器电性能测试夹具还包括调节组件900,调节组件900设置于按压柱433上,调节组件900包括齿条910、齿轮920、驱动杆930、棘轮940、棘爪950以及驱动手轮960,其中,齿条910沿按压柱433的长度方向滑动设置于按压柱433上,按压柱433内开设有供齿条910滑动的滑动槽,齿条910的第一端设置于按压柱433的内部,齿条910的第二端设置于按压柱433的外部,且与按压本体410可拆卸连接;齿轮920可转动地设置于按压柱433内,且与齿条910相啮合,按压柱433内开设有供齿轮920转动的转动空间;驱动杆930的第一端与齿轮920固定连接,驱动杆930的第二端设置于按压柱433的外部,按压柱433内开设有供驱动杆930向外延伸的延伸槽;棘轮940设置于按压柱433的外部,棘轮940套设在驱动杆930的外周,且与驱动杆930固定连接;棘爪950可转动地设置于按压柱433的外壁上,驱动杆930通过棘轮940和棘爪950的配合保持静止;驱动手轮960套设在驱动杆930的第二端,且与驱动杆930的第二端固定连接。
在本可选方式中,按压柱433为长方体,当然在其他实例中,按压柱433还可以为其他形状,齿条910的长度方向与按压柱433的长度方向相平行,驱动杆930的长度方向与齿条910的长度方向相垂直。具体应用中,当第一引脚1120未与测试供电部300实现良好接触时,首先旋转调节螺杆437实现大致调节,加强第一引脚1120与测试供电部300的接触,当数字万用表显示的数值接近标准值时,旋转驱动杆930,带动齿轮920旋转,齿轮920带动齿条910朝向测试供电部300的方向移动,直至数字万用表显示的数值与标准值大致相同为止,此时利用棘轮940和棘爪950使驱动杆930保持静止。设置的调节组件900起到了微调作用,进一步加强了第一引脚1120与测试供电部300的接触,提高了第一引脚1120与测试供电部300的接触面积,降低了第一引脚1120与测试供电部300之间的接触电阻,提升了传感器电性能测试夹具测试操作的准确性。
参照图9,此外,传感器电性能测试夹具还包括固定组件1000,固定组件1000包括固定杆1010、复位弹簧1020以及牵引绳1030,按压本体410上开设有用于容纳齿条910第二端的容纳槽,容纳槽的槽壁开设有安装槽,固定杆1010设置于安装槽内,固定杆1010的长度方向与齿条910的长度方向相垂直,齿条910第二端的外壁开设有供固定杆1010插入的固定槽,齿条910与按压本体410通过固定杆1010和固定槽的配合连接;复位弹簧1020设置于固定杆1010与安装槽的槽底之间,复位弹簧1020的第一端与固定杆1010固定连接,复位弹簧1020的第二端与安装槽的槽底固定连接;牵引绳1030的第一端与固定杆1010靠近复位弹簧1020的一端固定连接,按压本体410上开设有供牵引绳1030向外穿出的穿设孔,牵引绳1030的第二端通过穿设孔到达按压本体410的外部。
具体的,当齿条910需与按压本体410连接时,首先拉动牵引绳1030向远离按压本体410的方向移动,从而使固定杆1010远离复位弹簧1020的一端移动至安装槽内,此时将齿条910的第二端放置于容纳槽内,然后松开牵引绳1030,在复位弹簧1020的作用下固定杆1010将直接插到固定槽内,以使齿条910与按压本体410实现连接。设置的固定组件1000使齿条910与按压本体410成为可拆卸连接,既便于按压本体410单独使用,也便于与调节组件900共同使用。
在本可选方式中,固定组件1000设置有两组,两组固定组件1000相对设置于按压本体410上。
参照图4,作为本申请实施例中的一种可选方式,测试供电部300包括依次间隔设置的第一供电体310、第二供电体320以及第三供电体330,按压部400设置有两个,两个按压部400中的一个按压部400与第一供电体310和第二供电体320对应设置,另一个按压部400与第二供电体320和第三供电体330对应设置。传感器电性能测试夹具还包括第五接线柱600,第五接线柱600设置有三个,三个第五接线柱600分别与第一供电体310、第二供电体320及第三供电体330电连接,同时每个第五接线柱600上均设置有两个外接端口。
在本可选方式中,罩设部200也设置有两个,且与按压部400对应设置。信号输出组件500也设置有两个,且与按压部400对应设置。第一供电体310、第二供电体320以及第三供电体330均采用黄铜制成,其中第一供电体310和第二供电体320大小相同,第二供电体320的大小是第一供电体310的两倍。本申请的这种设计既便于同时测试两个待测传感器1100,也便于单独测试单个待测传感器1100。
参照图4和图5,作为本申请实施例中的一种可选方式,传感器电性能测试夹具还包括限位部700,限位部700设置于罩设部200上,限位部700内开设有用于放置按压本体410的第一放置槽,第一放置槽的槽底开设有用于限位第一引脚1120和第二引脚的限位通槽,以及用于放置传感器本体1110的第二放置槽,第一引脚1120能够放置于限位通槽内,且与测试供电部300抵接,第二引脚能够放置于限位通槽内,且与PCB510抵接。
参照图7,传感器电性能测试夹具还包括支撑柱800,支撑柱800设置于罩设部200内,支撑柱800远离绝缘底座100的端面设置有用于隔离电磁场的隔离层;在待测传感器1100测试的情况下,传感器本体1110与支撑柱800远离绝缘底座100的端面抵接。
在本可选方式中,限位通槽开设有八个,其中四个开设在同一侧的限位通槽的槽底延伸至测试供电部300的上表面,另外四个开设在同一侧的限位通槽的槽底延伸至PCB510的连接片上。设置的限位通槽对待测传感器1100起到了限位作用,避免了待测传感器1100在测试过程中发生偏移的可能性,提升了测试结果的准确性。隔离层采用锡箔纸、铜箔纸或者铝箔纸中的一种制成,尽可能减少外界其他物体产生的电磁场对正在测试的传感器的影响,保证传感器在测试的情况下能够正常运行。
综上,实施本实施例提供的传感器电性能测试夹具,至少具有以下有益技术效果:在待测传感器1100测试的情况下,第一绝缘按压件420与第一引脚1120一一对应设置,使每个第一引脚1120均能够接收到对应的第一绝缘按压件420施加的按压力,从而使每个第一引脚1120均能够与测试供电部300实现良好的接触,本申请的这种设计提高了各第一引脚1120与测试供电部300的接触面积,降低了各第一引脚1120与测试供电部300之间的接触电阻,减少了待测传感器1100与测试供电部300在导通有测试电流的条件下产生的热量,尽可能避免了待测传感器1100在大电流的条件下测试而造成夹具或者产品烧毁等这类问题的发生。
以上仅为本申请的较佳实施例而已,并不用以限制本申请,凡在本申请的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等,均应包含在本申请的保护范围之内。
Claims (10)
1.一种传感器电性能测试夹具,用于对待测传感器(1100)进行测试,所述待测传感器(1100)包括传感器本体(1110)和第一引脚(1120),所述第一引脚(1120)设置于所述传感器本体(1110)上,且与所述传感器本体(1110)电连接,其特征在于,所述传感器电性能测试夹具包括:
绝缘底座(100);
测试供电部(300),所述测试供电部(300)设置于所述绝缘底座(100)上,用于为待测传感器(1100)提供测试电流;以及,
按压部(400),所述按压部(400)设置于所述绝缘底座(100)上,所述按压部(400)包括按压本体(410)和第一绝缘按压件(420),所述第一绝缘按压件(420)设置于所述按压本体(410)上,所述按压本体(410)设置于所述测试供电部(300)远离所述绝缘底座(100)的一侧;
所述待测传感器(1100)放置于所述测试供电部(300)上,并通过所述第一引脚(1120)抵接所述测试供电部(300),并与所述测试供电部(300)电连接,所述第一绝缘按压件(420)按压在所述第一引脚(1120)上。
2.根据权利要求1所述的传感器电性能测试夹具,其特征在于,所述测试供电部(300)设置于所述绝缘底座(100)上,所述传感器电性能测试夹具还包括罩设部(200),所述罩设部(200)内部空心设置,且罩设在所述测试供电部(300)上,所述罩设部(200)的侧壁开设有多个第一散热孔(210)。
3.根据权利要求1所述的传感器电性能测试夹具,其特征在于,所述绝缘底座(100)的上表面开设有散热槽,所述测试供电部(300)与所述散热槽对应设置,所述绝缘底座(100)内部空心设置,且侧壁和底壁均开设有多个第二散热孔(110)。
4.根据权利要求2所述的传感器电性能测试夹具,其特征在于,所述按压部(400)还包括压紧组件(430),所述压紧组件(430)可转动地设置于所述绝缘底座(100)上,所述压紧组件(430)的输出端具有初始位置以及朝向所述测试供电部(300)的方向按压所述按压本体(410)的按压位置。
5.根据权利要求4所述的传感器电性能测试夹具,其特征在于,所述压紧组件(430)包括承载座(431)、传动结构以及按压件,所述承载座(431)设置于所述绝缘底座(100)上,所述传动结构可转动地设置于所述承载座(431)上,所述按压件与所述传动结构的输出端驱动连接,所述按压件为按压柱(433),所述按压柱(433)形成所述压紧组件(430)的输出端。
6.根据权利要求5所述的传感器电性能测试夹具,其特征在于,所述压紧组件(430)还包括调节螺杆(437)和调节螺帽(438),所述调节螺杆(437)的第一端与所述按压柱(433)固定连接,所述调节螺帽(438)固定连接在所述传动结构的输出端上,所述调节螺杆(437)的第二端与所述调节螺帽(438)螺纹连接。
7.根据权利要求2、4、5以及6中任一项所述的传感器电性能测试夹具,其特征在于,所述待测传感器(1100)还包括第二引脚,所述第二引脚设置于所述传感器本体(1110)上,且与所述传感器本体(1110)电连接;
所述传感器电性能测试夹具还包括信号输出组件(500),所述信号输出组件(500)包括:
PCB(510),所述PCB(510)设置于所述测试供电部(300)的一侧,用于与所述待测传感器(1100)的所述第二引脚电连接;
第一接线柱(520),所述第一接线柱(520)与所述PCB(510)电连接,用于与外界电压源的正极电连接;
第二接线柱(530),所述第二接线柱(530)与所述PCB(510)电连接,用于与检测设备的输入端电连接;
第三接线柱(540),所述第三接线柱(540)与所述PCB(510)电连接,用于与滤波设备的输入端电连接;
第四接线柱(550),所述第四接线柱(550)与所述PCB(510)电连接,用于与所述外界电压源的负极、所述检测设备的输出端以及所述滤波设备的输出端电连接。
8.根据权利要求1至6中任一项所述的传感器电性能测试夹具,其特征在于,所述测试供电部(300)包括依次间隔设置的第一供电体(310)、第二供电体(320)以及第三供电体(330),所述按压部(400)设置有两个,两个所述按压部(400)中的一个所述按压部(400)与所述第一供电体(310)和所述第二供电体(320)对应设置,另一个所述按压部(400)与所述第二供电体(320)和所述第三供电体(330)对应设置;
所述传感器电性能测试夹具还包括第五接线柱(600),所述第五接线柱(600)设置有三个,三个所述第五接线柱(600)分别与所述第一供电体(310)、所述第二供电体(320)及所述第三供电体(330)电连接。
9.根据权利要求7所述的传感器电性能测试夹具,其特征在于,所述传感器电性能测试夹具还包括限位部(700),所述限位部(700)设置于所述罩设部(200)上,所述限位部(700)内开设有用于放置所述按压本体(410)的第一放置槽,所述第一放置槽的槽底开设有用于限位所述第一引脚(1120)和所述第二引脚的限位通槽,以及用于放置所述传感器本体(1110)的第二放置槽,所述第一引脚(1120)能够放置于所述限位通槽内,且与所述测试供电部(300)抵接,所述第二引脚能够放置于所述限位通槽内,且与所述PCB(510)抵接;
所述传感器电性能测试夹具还包括支撑柱(800),所述支撑柱(800)设置于所述罩设部(200)内,所述支撑柱(800)远离所述绝缘底座(100)的端面设置有用于隔离电磁场的隔离层。
10.根据权利要求5或6中任一项所述的传感器电性能测试夹具,其特征在于,所述传感器电性能测试夹具还包括调节组件(900),所述调节组件(900)设置于所述按压柱(433)上,所述调节组件(900)包括:
齿条(910),所述齿条(910)沿所述按压柱(433)的长度方向可滑动地设置于所述按压柱(433)上,所述按压柱(433)上开设有供所述齿条(910)滑动的滑动槽,所述齿条(910)的第一端设置于所述按压柱(433)的内部,所述齿条(910)的第二端设置于所述按压柱(433)的外部,且与所述按压本体(410)可拆卸连接;
齿轮(920),所述齿轮(920)可转动地设置于所述按压柱(433)内,且与所述齿条(910)相啮合;
驱动杆(930),所述驱动杆(930)的第一端与所述齿轮(920)固定连接,所述驱动杆(930)的第二端设置于所述按压柱(433)的外部;
棘轮(940),所述棘轮(940)设置于所述按压柱(433)的外部,所述棘轮(940)套设在所述驱动杆(930)的外周,且与所述驱动杆(930)固定连接;
棘爪(950),所述棘爪(950)可转动地设置于所述按压柱(433)的外壁上,所述驱动杆(930)通过所述棘轮(940)和所述棘爪(950)的配合保持静止;
驱动手轮(960),所述驱动手轮(960)套设在所述驱动杆(930)的第二端,且与所述驱动杆(930)的第二端固定连接;
所述传感器电性能测试夹具还包括固定组件(1000),所述固定组件(1000)包括固定杆(1010)、复位弹簧(1020)以及牵引绳(1030),所述按压本体(410)上开设有用于容纳所述齿条(910)第二端的容纳槽,所述容纳槽的槽壁开设有安装槽,所述固定杆(1010)设置于所述安装槽内,所述固定杆(1010)的长度方向与所述齿条(910)的长度方向相垂直,所述齿条(910)第二端的外壁开设有供所述固定杆(1010)插入的固定槽,所述齿条(910)与所述按压本体(410)通过所述固定杆(1010)和所述固定槽的配合连接;
所述复位弹簧(1020)设置于所述固定杆(1010)与所述安装槽的槽底之间,所述复位弹簧(1020)的第一端与所述固定杆(1010)固定连接,所述复位弹簧(1020)的第二端与所述安装槽的槽底固定连接;
所述牵引绳(1030)的第一端与所述固定杆(1010)靠近所述复位弹簧(1020)的一端固定连接,所述按压本体(410)上开设有供所述牵引绳(1030)向外穿出的穿设孔,所述牵引绳(1030)的第二端通过所述穿设孔到达所述按压本体(410)的外部。
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