CN115192061A - 一种可移动式偏置探头的spect检测方法 - Google Patents
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Abstract
一种可移动式偏置探头的spect检测方法，其利用一种SPECT系统(1)以实施，该SPECT系统包括一个或多个检测组(11)，每个检测组包括检测器(21)、符合电路(22)、计算机(23)各一个，(1)检测器将检测面对着检测区域布置，先位于第一位置，此时，检测面中心处的法线相对于感兴趣区域的中心点的一侧；(2)扫描一次，将首批检测信号传送至计算机；(3)将所有检测器相对于感兴趣区域平移到第二位置，此时，检测面中心处的法线相对于感兴趣区域的中心点的另一侧；第二位置的检测器的一边与位于第一位置时的一边相重合；(4)再次扫描，将第二批检测信号传送至计算机；(5)将首批检测信号和第二批检测信号作为同一批左右两部分得到的信号，合并为一次数据，由SPECT系统控制所有计算机完成图像重建。
Description
技术领域
本发明涉及SPECT检测探头技术改进的技术领域，尤其涉及一种可移动式偏置探头的spect检测方法。
背景技术
SPECT机是在γ照相机的基础上发展起来的核医学影像设备。它的基本构造由探头、旋转运动机架、计算机及其辅助设备等三大部分构成。SPECT设备的探头是SPECT成像核心。伽马相机成像主要组件是准直器、大面积NaI(Tl)闪烁晶体、光导和PM管阵列。与传统NaI(Tl)计数检测器不同的两个特征对于图像形成至关重要。第一个是成像准直器用于定义检测到的γ射线的方向。准直器最常见的由包含大量孔的铅板组成。通过控制接受哪些γ射线，准直仪在NaI(Tl)晶体表面形成γ射线分布的投影图像。第二个是NaI(Tl)晶体是通过PM管阵列而不是单个PM管来观察的。来自PM管的信号被馈送到电子或数字位置逻辑电路，当每个闪烁事件发生时，它们通过使用PM管信号的加权平均值来确定每个闪烁事件的XY位置。
每个光电倍增管的输出使用模数转换器(ADC)进行放大和数字化。在NaI(Tl)晶体中相互作用的每个伽马射线的XY位置是根据数字化信号计算的。伽马射线沉积的能量E与总测量脉冲幅度成正比，也是通过对各个PM管信号求和来计算的。如果E落在选定的能量窗口内，则接受该事件并将其放置在图像中的适当XY位置。
通过对来自所有PM管的信号求和，还可以分析单个事件的能量E。当事件的脉冲幅度落在选定的能量窗口内时，它被接受，并且X和Y值被合并到图像元素或像素的离散二维阵列中。图像由每个可能的XY位置的事件数量的直方图形成。需要大量事件来形成可解释的图像，因为每个像素必须具有足够数量的计数才能达到可接受的信噪比水平。
图像显示在计算机监视器上，其中可以控制图像亮度和对比度，并且可以使用不同的颜色表示。
但现有技术中存在的问题是，SPECT整机的价格很难缩减，以四探头旋转的方式为例，这是较为典型的一种图像质量较高的spect，一般而言，每个探头的检测面面积都要明显大于中心的感兴趣区域的截面积，例如人的腰部放在感兴趣区域，感兴趣区域至少是50cm*30cm*30cm这样的长方体区域，则探头一般至少要有60*60cm的面积，才能基本满足检测的需要，四个探头，各种成本要乘以4倍，尤其是闪烁晶体极为昂贵，按照此设置方式，SPECT整机的成本较高。
如何才能够有效缩减仪器的成本，缩减探头截面积是很直接的方式，但是如果缩减后还是以相同的方式，以探头对准感兴趣区域中心的位置去检测，会明显地减小有效的检测区域的范畴，即使探头边长减小10cm，有效的检测体积可能会降低1/3甚至更多，因为一般的探头面积缩减，相当于四边侧的检测面积均被缩减(对称分布的原因)。仅仅缩减探头面积的方式，虽然成本有所降低，但是对有效的检测体积削减过大。
现有技术并没有这样的技术，即虽然缩减了探头面积，但如何通过其他手段辅助，或者调整检测方式，使得探头面积缩减的不利影响能够被抵消或抵消一部分，从而能使对着同样的检测区域，用较低成本的仪器配置也能实现检测。
发明内容
本发明的目的是解决现有技术中所存在的没有在削减探头面积时以其他技术进行辅助，减轻探头面积削减的不利影响的问题，本申请的装置使得能使对着同样的检测区域，用较低成本的仪器配置和操作方式也能实现检测，就是即使探头的面积被缩减，也没有明显地降低检测图像质量，而这种方式并不需要增加仪器成本来完成，或者说，本申请能使只有一半成本的检测器能发挥完全的检测器的功能，并得到基本同样质量的图像。
一种可移动式偏置探头的spect检测方法，其特征在于：其利用一种SPECT系统(1)以实施，该SPECT系统包括一个或多个检测组(11)，每一个检测组包括检测器(21)、符合电路(22)、计算机(23)各一个。
(1)所有的检测器以将检测面对着检测区域布置，先位于第一位置，位于第一位置时，检测面中心处的法线相对于感兴趣区域的中心点的一侧。
(2)进行一次扫描，将接收到的首批检测信号经过符合电路传送至计算机。
(3)将所有的检测器相对于感兴趣区域平移到第二位置，位于第二位置时，检测面中心处的法线相对于感兴趣区域的中心点的另一侧；第二位置的检测器的一边与位于第一位置时的一边相重合。
(4)再次进行图像扫描，将接收到的第二批检测信号经过符合电路传送至计算机。
(5)将首批检测信号和第二批检测信号认为是同一个检测器的左右两部分得到的信号，合并成为一次检测数据，由SPECT系统控制所有计算机完成图像重建。
进一步地，检测器依次由准直器层(211)、闪烁晶体层(212)、光导层(213)、PMT阵列层(214)组成；检测器的检测面是平面状，且均为形状相同的矩形。
检测组是1-4个，当检测组是一个时，检测器以平行于检测床表面的方式布置，当检测器是2-4个时，检测器以周向均匀分布的方式将检测面对着检测区域布置，相邻检测器的夹角对应地约为180°或120°或90°。
第一位置到第二位置的距离为25-70cm，或者第一位置到第二位置的距离与检测器的检测面宽度相同。
准直器层是孔均匀排布的平行孔准直器、针孔准直器、发散孔准直器或聚焦孔准直器。
闪烁晶体层的材质是NaI(Tl)或CsI(Tl)，PMT阵列层是SiPMT；PMT阵列层中的每一个PMT均接入符合电路。
进一步地，所有的检测器的检测面均为面积相同的正方形；当检测器是2-4个时，检测器以周向均匀分布的方式将检测面对着检测区域布置，具体是4个检测器周向均布布置，相邻检测器的夹角为90°；第一位置到第二位置的距离具体为45-55cm。
一种可移动式偏置探头的spect检测方法，其特征在于：其利用一种SPECT系统(1)以实施，该SPECT系统包括一个或多个检测组(11)，每一个检测组包括检测器(21)、符合电路(22)、计算机(23)各一个。
(1)所有的检测器以将检测面对着检测区域布置，先位于第一位置，位于第一位置时，检测面中心处的法线相对于感兴趣区域的中心点的一侧。
(2)进行一次扫描，将接收到的首批检测信号经过符合电路传送至计算机。
(3)将所有的检测器相对于感兴趣区域平移到第二位置，位于第二位置时，检测面中心处的法线相对于感兴趣区域的中心点的另一侧，且位于第二位置时，检测器中的A’列检测器与处于第一位置时的A列检测器位置重叠。
(4)再次进行图像扫描，将接收到的第二批检测信号经过符合电路传送至计算机。
(5)对于首批检测信号和第二批检测信号，将第一位置的A列检测器之外的检测器得到的信号以及第二位置的A’列检测器之外的检测器得到的信号，认为是同一个检测器的左右两部分得到的信号，将第一位置的A列检测器和第二位置的A’列检测器得到的信号合并作为中间部分信号，合并左右中部分信号成为一次检测数据，由SPECT系统控制所有计算机完成图像重建。
进一步地，检测器依次由准直器层(211)、闪烁晶体层(212)、光导层(213)、PMT阵列层(214)组成；检测器的检测面是平面状，且均为形状相同的矩形。
检测组是1-4个，当检测组是一个时，检测器以平行于检测床表面的方式布置，当检测器是2-4个时，检测器以周向均匀分布的方式将检测面对着检测区域布置，相邻检测器的夹角对应地约为180°或120°或90°。
第一位置到第二位置的距离为25-70cm，或者第一位置到第二位置的距离与检测器的检测面宽度相同。
准直器层是孔均匀排布的平行孔准直器、针孔准直器、发散孔准直器或聚焦孔准直器；闪烁晶体层的材质是NaI(Tl)或CsI(Tl)，PMT阵列层是SiPMT；PMT阵列层中的每一个PMT均接入符合电路。
进一步地，所有的检测器的检测面均为面积相同的正方形；当检测器是2-4个时，检测器以周向均匀分布的方式将检测面对着检测区域布置，具体是4个检测器周向均布布置，相邻检测器的夹角为90°。
第一位置到第二位置的距离具体为45-55cm。
一种可移动式偏置探头的spect检测方法，其特征在于：其利用一种SPECT系统(1)以实施，该SPECT系统包括一个或多个检测组(11)，每一个检测组包括检测器(21)、符合电路(22)、计算机(23)各一个。
(1)所有的检测器以将检测面对着检测区域布置，先位于第一位置，位于第一位置时，检测面中心处的法线相对于感兴趣区域的中心点的一侧；(2)进行一次扫描，将接收到的首批检测信号经过符合电路传送至计算机；(3)将所有的检测器相对于感兴趣区域平移到第二位置，位于第二位置时，检测面中心处的法线相对于感兴趣区域的中心点的另一侧，且位于第二位置时，检测器中的A’列检测器与处于第一位置时的A列检测器位置重叠；(4)再次进行图像扫描，将接收到的第二批检测信号经过符合电路传送至计算机；(5)对于首批检测信号和第二批检测信号，将第一位置的A列检测器之外的检测器得到的信号以及第二位置的A’列检测器之外的检测器得到的信号，认为是同一个检测器的左右两部分得到的信号，将第一位置的A列检测器和第二位置的A’列检测器得到的信号择一作为中间部分信号，合并左右中部分信号成为一次检测数据，由SPECT系统控制所有计算机完成图像重建。
进一步地，检测器依次由准直器层(211)、闪烁晶体层(212)、光导层(213)、PMT阵列层(214)组成；检测器的检测面是平面状，且均为形状相同的矩形。
检测组是1-4个，当检测组是一个时，检测器以平行于检测床表面的方式布置，当检测器是2-4个时，检测器以周向均匀分布的方式将检测面对着检测区域布置，相邻检测器的夹角对应地约为180°或120°或90°。
第一位置到第二位置的距离为25-70cm，或者第一位置到第二位置的距离与检测器的检测面宽度相同。
准直器层是孔均匀排布的平行孔准直器、针孔准直器、发散孔准直器或聚焦孔准直器。
闪烁晶体层的材质是NaI(Tl)或CsI(Tl)，PMT阵列层是SiPMT；PMT阵列层中的每一个PMT均接入符合电路。
进一步地，所有的检测器的检测面均为面积相同的正方形；当检测器是2-4个时，检测器以周向均匀分布的方式将检测面对着检测区域布置，具体是4个检测器周向均布布置，相邻检测器的夹角为90°；第一位置到第二位置的距离具体为45-55cm。
多个检测组均由一个整体的旋转机架(4)承载，对于每个检测组，旋转机架上具有一个定位框架(41)与之对应，定位框架呈长方形框形状，每个定位框架内侧具有一对相对设置的(42)滑槽，检测器可以在定位框架内左右滑动，权利要求1-9中的检测器的位置定位均是在定位框架内调节的。
本发明的优点是，主要可以分为以下几点，一是有效缩减了成本，对于所需要进行的SPECT检测，本申请的装置使得能使对着同样的检测区域，用一半或者60％成本的仪器配置也能实现检测，本申请的设置方式使得，图像清晰度没有降低，只是需要两次的检测时间，以及检测器的位置改变的操作；二是提出了一种不同于一般现有技术的解决问题的方式，现有技术一般不认为检测器面积可以大幅度削减，或者认为一旦面积大幅消减，其检测有效区域必然大幅度减小，甚至无法使用，因为其默认都是以中心对称的方式放置的，因此其没有如本申请这样设置的启示，本申请的设置方式是经过认真考虑和反复测试的，只需要一些算法上的配合，即可使得虽然成本削减了一半，但是检测效果并没有降低，有效的检测区域也没有减小(相较本申请两倍宽度的检测器的情况)。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1是一般SPECT的设置方式示意图。
图2是本发明的方法的第一和第二位置效果图。
图3是另一种的第一和第二位置效果图。
图4是本申请的检测组移动后便于固定的两种方式示意图。
附图标记：SPECT系统、1，检测组、11，检测器、21，符合电路、22，计算机、23，直器层、211，闪烁晶体层、212，光导层、213，PMT阵列层、214，检测对象、旋转机架、4，定位框架、41，滑槽、42，槽衬层，43，槽凹部，44，槽定位处，45，固定栓，5，感兴趣区域、6，第一位置、P1，第二位置P2，重叠部分P3，激光灯安置器、71，激光灯、72，检测床、73。
具体实施方式
下面结合附图对本发明的优选实施例进行详细阐述，以使本发明的优点和特征能更易于被本领域技术人员理解，从而对本发明的保护范围做出更为清楚明确的界定。
图1是示出了一般SPECT的设置方式，这是最常规也是一般的SPECT设置方式，首先设置一个立方体(或侧面看是正方形的感兴趣区域)，使得被检测对象基本处于感兴趣区域中心处。这里例如是四面四个检测组，感兴趣区域正好是一个正方体的区域，四个检测组的数据也按照对应于正方体区域的方式重建。这种方式检测效果有保证，但是仪器价格较贵，一方面，如果改成三探头或者双探头，如三探头间隔120°，两探头相隔180°，生成图像的质量降低特别多，如果缩减检测面的面积，以边长减少20％为例，则有效的监测面积要减少36％，对检测图像的清晰度影响也特别大，综上，现有技术中没有想过，如何能够较好地控制成本，并且使得图像探测面积或质量没有明显下降。
图2给出了本申请的一种典型的实施范例，所有的检测器以将检测面对着检测区域布置，先位于第一位置，位于第一位置时，检测面中心处的法线相对于感兴趣区域的中心点的一侧。进行一次扫描，将接收到的首批检测信号经过符合电路传送至计算机。将所有的检测器相对于感兴趣区域平移到第二位置，位于第二位置时，检测面中心处的法线相对于感兴趣区域的中心点的另一侧；第二位置的检测器的一边与位于第一位置时的一边相重合。再次进行图像扫描，将接收到的第二批检测信号经过符合电路传送至计算机。将首批检测信号和第二批检测信号认为是同一个检测器的左右两部分得到的信号，合并成为一次检测数据，由SPECT系统控制所有计算机完成图像重建，这样只用了一般价格的检测器，却完全实现了两倍价格或两倍面积的检测器的检测效果，可见本申请构思的积极价值。缺点是在于要扫描两边，时间是两倍，后续计算需要按照预先设定的算法先加合，但是算法上的影响小，这部分计算时间并不算长。这大致对应于实施例1。
图3给出了本申请的另一种典型的实施范例，与图2的主要区别在于，检测器的一部分可能前后是重叠的，这样有各种原因，比如是现场并不允许探头移动那么多，或者可以通过一部分信号的重叠，得到重合部分更强的信号和图像，在信号过于强的时候，也可以将其择一选用，这样保证了图像的强度和亮度均一。这分别对应了实施例2和实施例3。
实施例1
一种可移动式偏置探头的spect检测方法，其特征在于：其利用一种SPECT系统(1)以实施，该SPECT系统包括一个或多个检测组(11)，每一个检测组包括检测器(21)、符合电路(22)、计算机(23)各一个。
(1)所有的检测器以将检测面对着检测区域布置，先位于第一位置，位于第一位置时，检测面中心处的法线相对于感兴趣区域的中心点的一侧。
(2)进行一次扫描，将接收到的首批检测信号经过符合电路传送至计算机。
(3)将所有的检测器相对于感兴趣区域平移到第二位置，位于第二位置时，检测面中心处的法线相对于感兴趣区域的中心点的另一侧；第二位置的检测器的一边与位于第一位置时的一边相重合。
(4)再次进行图像扫描，将接收到的第二批检测信号经过符合电路传送至计算机。
(5)将首批检测信号和第二批检测信号认为是同一个检测器的左右两部分得到的信号，合并成为一次检测数据，由SPECT系统控制所有计算机完成图像重建。
进一步地，检测器依次由准直器层(211)、闪烁晶体层(212)、光导层(213)、PMT阵列层(214)组成；检测器的检测面是平面状，且均为形状相同的矩形。
检测组是1-4个，当检测组是一个时，检测器以平行于检测床表面的方式布置，当检测器是2-4个时，检测器以周向均匀分布的方式将检测面对着检测区域布置，相邻检测器的夹角对应地约为180°或120°或90°。
第一位置到第二位置的距离为25-70cm，或者第一位置到第二位置的距离与检测器的检测面宽度相同。
准直器层是孔均匀排布的平行孔准直器、针孔准直器、发散孔准直器或聚焦孔准直器。
闪烁晶体层的材质是NaI(Tl)或CsI(Tl)，PMT阵列层是SiPMT；PMT阵列层中的每一个PMT均接入符合电路。
进一步地，所有的检测器的检测面均为面积相同的正方形；当检测器是2-4个时，检测器以周向均匀分布的方式将检测面对着检测区域布置，具体是4个检测器周向均布布置，相邻检测器的夹角为90°；第一位置到第二位置的距离具体为45-55cm。
本实施例主要的设置原理是，通过位置切换，而且切换前后的位置正好相邻，这样一块检测器可以起到如同两倍面积的检测器同样的作用，只需要在位置上进行辅助，使其在第一和第二位置恰好得到如同两倍面积的检测器一样的检测结果即可，这样将两部分数据合并，当做一次检测的数据，即可得到两倍面积的检测器同样的检测结果和图像数据，缺点仅在于需要两次扫描和移动。
实施例2
一种可移动式偏置探头的spect检测方法，其特征在于：其利用一种SPECT系统(1)以实施，该SPECT系统包括一个或多个检测组(11)，每一个检测组包括检测器(21)、符合电路(22)、计算机(23)各一个。
(1)所有的检测器以将检测面对着检测区域布置，先位于第一位置，位于第一位置时，检测面中心处的法线相对于感兴趣区域的中心点的一侧。
(2)进行一次扫描，将接收到的首批检测信号经过符合电路传送至计算机。
(3)将所有的检测器相对于感兴趣区域平移到第二位置，位于第二位置时，检测面中心处的法线相对于感兴趣区域的中心点的另一侧，且位于第二位置时，检测器中的A’列检测器与处于第一位置时的A列检测器位置重叠。
(4)再次进行图像扫描，将接收到的第二批检测信号经过符合电路传送至计算机。
(5)对于首批检测信号和第二批检测信号，将第一位置的A列检测器之外的检测器得到的信号以及第二位置的A’列检测器之外的检测器得到的信号，认为是同一个检测器的左右两部分得到的信号，将第一位置的A列检测器和第二位置的A’列检测器得到的信号合并作为中间部分信号，合并左右中部分信号成为一次检测数据，由SPECT系统控制所有计算机完成图像重建。
进一步地，检测器依次由准直器层(211)、闪烁晶体层(212)、光导层(213)、PMT阵列层(214)组成；检测器的检测面是平面状，且均为形状相同的矩形。
检测组是1-4个，当检测组是一个时，检测器以平行于检测床表面的方式布置，当检测器是2-4个时，检测器以周向均匀分布的方式将检测面对着检测区域布置，相邻检测器的夹角对应地约为180°或120°或90°。
第一位置到第二位置的距离为25-70cm，或者第一位置到第二位置的距离与检测器的检测面宽度相同。
准直器层是孔均匀排布的平行孔准直器、针孔准直器、发散孔准直器或聚焦孔准直器；闪烁晶体层的材质是NaI(Tl)或CsI(Tl)，PMT阵列层是SiPMT；PMT阵列层中的每一个PMT均接入符合电路。
进一步地，所有的检测器的检测面均为面积相同的正方形；当检测器是2-4个时，检测器以周向均匀分布的方式将检测面对着检测区域布置，具体是4个检测器周向均布布置，相邻检测器的夹角为90°。
第一位置到第二位置的距离具体为45-55cm。
本实施例主要的设置原理是，通过位置切换，而且切换前后的位置有一部分重叠，这样一块检测器可以起到如同两倍面积的检测器同样的作用，只需要在位置上进行辅助，而且还有中间一部分信号特别强，可以体现更好的图像效果，这样将两部分数据合并，当做一次检测的数据，即可得到约是两倍面积的检测器同样的检测结果和图像数据，缺点仅在于需要两次扫描和移动，而且这样做中间部分的图像信号很强，显影非常清晰，可以看到更多信息。
实施例3
一种可移动式偏置探头的spect检测方法，其特征在于：其利用一种SPECT系统(1)以实施，该SPECT系统包括一个或多个检测组(11)，每一个检测组包括检测器(21)、符合电路(22)、计算机(23)各一个。
(1)所有的检测器以将检测面对着检测区域布置，先位于第一位置，位于第一位置时，检测面中心处的法线相对于感兴趣区域的中心点的一侧；(2)进行一次扫描，将接收到的首批检测信号经过符合电路传送至计算机；(3)将所有的检测器相对于感兴趣区域平移到第二位置，位于第二位置时，检测面中心处的法线相对于感兴趣区域的中心点的另一侧，且位于第二位置时，检测器中的A’列检测器与处于第一位置时的A列检测器位置重叠；(4)再次进行图像扫描，将接收到的第二批检测信号经过符合电路传送至计算机；(5)对于首批检测信号和第二批检测信号，将第一位置的A列检测器之外的检测器得到的信号以及第二位置的A’列检测器之外的检测器得到的信号，认为是同一个检测器的左右两部分得到的信号，将第一位置的A列检测器和第二位置的A’列检测器得到的信号择一作为中间部分信号，合并左右中部分信号成为一次检测数据，由SPECT系统控制所有计算机完成图像重建。
进一步地，检测器依次由准直器层(211)、闪烁晶体层(212)、光导层(213)、PMT阵列层(214)组成；检测器的检测面是平面状，且均为形状相同的矩形。
检测组是1-4个，当检测组是一个时，检测器以平行于检测床表面的方式布置，当检测器是2-4个时，检测器以周向均匀分布的方式将检测面对着检测区域布置，相邻检测器的夹角对应地约为180°或120°或90°。
第一位置到第二位置的距离为25-70cm，或者第一位置到第二位置的距离与检测器的检测面宽度相同。
准直器层是孔均匀排布的平行孔准直器、针孔准直器、发散孔准直器或聚焦孔准直器。
闪烁晶体层的材质是NaI(Tl)或CsI(Tl)，PMT阵列层是SiPMT；PMT阵列层中的每一个PMT均接入符合电路。
进一步地，所有的检测器的检测面均为面积相同的正方形；当检测器是2-4个时，检测器以周向均匀分布的方式将检测面对着检测区域布置，具体是4个检测器周向均布布置，相邻检测器的夹角为90°；第一位置到第二位置的距离具体为45-55cm。
多个检测组均由一个整体的旋转机架(4)承载，对于每个检测组，旋转机架上具有一个定位框架(41)与之对应，定位框架呈长方形框形状，每个定位框架内侧具有一对相对设置的(42)滑槽，检测器可以在定位框架内左右滑动，权利要求1-9中的检测器的位置定位均是在定位框架内调节的。
本实施例主要的设置原理是，通过位置切换，而且切换前后的位置有一部分重叠，这样一块检测器可以起到如同两倍面积的检测器同样的作用，只需要在位置上进行辅助，中间重叠的部分，可以择一选用，这样图像亮度和分辨率也不会变化，这样将两部分数据合并，当做一次检测的数据，即可得到约是两倍面积的检测器同样的检测结果和图像数据，缺点仅在于需要两次扫描和移动，相较实施例2，虽然中间部分信号不强，但是这样做算法上比较简单，容易操作。
实施例4
在检测方式上，本实施例可以择一和实施例1-3相同，主要叙述关于定位框架的位置固定问题。
多个检测组均由一个整体的旋转机架4承载，对于每个检测组，旋转机架上具有一个定位框架41与之对应，定位框架呈长方形框形状，每个定位框架内侧具有一对相对设置的42滑槽，检测器可以在定位框架内左右滑动，检测器的位置定位均是在定位框架内调节的。
本实施例中，检测组的定位可以由槽衬层42和槽凹部43共同配合完成，从而实现比较简便轻松的固定，本申请其实就需要确定的来回两个位置来回切换，即检测组向左移动到某固定位置，又向右移动到某固定位置，由槽衬层42和槽凹部43共同配合完成，是比较简便的，槽衬层是聚四氟乙烯或者聚氨酯，聚碳酸酯制作的，粘贴在滑槽内，将滑槽空隙限制的更窄，在大多数部分，槽衬层和滑柱配合的比较紧密，防止滑脱和晃动，而槽凹部43是左右各一对凹进的位置，在这两个位置，滑柱会和槽衬层抵接的相对不是太紧，天然地形成了一个容易定位的位置，这样在如实施例1-3的操作方法实行时，会非常简便。
实施例5
在检测方式上，本实施例可以择一和实施例1-3相同，主要叙述关于定位框架的位置固定问题。
多个检测组均由一个整体的旋转机架4承载，对于每个检测组，旋转机架上具有一个定位框架41与之对应，定位框架呈长方形框形状，每个定位框架内侧具有一对相对设置的42滑槽，检测器可以在定位框架内左右滑动，检测器的位置定位均是在定位框架内调节的。
本实施例中，检测组的定位可以由槽定位处44和固定栓45共同配合完成，从而实现比较简便轻松的固定，本申请其实就需要确定的来回两个位置来回切换，即检测组向左移动到某固定位置，又向右移动到某固定位置，由槽定位处44和固定栓45共同配合完成，是比较简便的，槽定位处44是滑槽上左右各一个的，该处滑槽会分别向上和向下凹进一部分，同时检测组的侧方会有一个或多个盲孔与其相配合，在某一个预定的盲孔移动到左侧或者右侧的槽定位处44时，用明显比滑槽宽，与槽定位处和盲孔适配的固定栓45穿过槽定位处并插入盲孔中，这样实现了左右两个预定位置的简便定位，在这两个位置，会正好对应检测组所需要移动到的位置，这样在如实施例1-3的操作方法实行时，会非常简便。
以上所述，仅为本发明的具体实施方式，但本发明的保护范围并不局限于此，任何不经过创造性劳动想到的变化或替换，都应涵盖在本发明的保护范围之内。因此，本发明的保护范围应该以权利要求书所限定的保护范围为准。
Claims (10)
1.一种可移动式偏置探头的spect检测方法，其特征在于：
其利用一种SPECT系统(1)以实施，该SPECT系统包括一个或多个检测组(11)，每一个检测组包括检测器(21)、符合电路(22)、计算机(23)各一个，
(1)所有的检测器以将检测面对着检测区域布置，先位于第一位置，位于第一位置时，检测面中心处的法线相对于感兴趣区域的中心点的一侧；
(2)进行一次扫描，将接收到的首批检测信号经过符合电路传送至计算机；
(3)将所有的检测器相对于感兴趣区域平移到第二位置，位于第二位置时，检测面中心处的法线相对于感兴趣区域的中心点的另一侧；第二位置的检测器的一边与位于第一位置时的一边相重合；
(4)再次进行图像扫描，将接收到的第二批检测信号经过符合电路传送至计算机；
(5)将首批检测信号和第二批检测信号认为是同一个检测器的左右两部分得到的信号，合并成为一次检测数据，由SPECT系统控制所有计算机完成图像重建。
2.如权利要求1所述的一种可移动式偏置探头的spect检测方法，其特征在于：
检测器依次由准直器层(211)、闪烁晶体层(212)、光导层(213)、PMT阵列层(214)组成；
检测器的检测面是平面状，且均为形状相同的矩形；
检测组是1-4个，当检测组是一个时，检测器以平行于检测床表面的方式布置，当检测器是2-4个时，检测器以周向均匀分布的方式将检测面对着检测区域布置，相邻检测器的夹角对应地约为180°或120°或90°；
第一位置到第二位置的距离为25-70cm，或者第一位置到第二位置的距离与检测器的检测面宽度相同；
准直器层是孔均匀排布的平行孔准直器、针孔准直器、发散孔准直器或聚焦孔准直器；
闪烁晶体层的材质是NaI(Tl)或CsI(Tl)，PMT阵列层是SiPMT；PMT阵列层中的每一个PMT均接入符合电路。
3.如权利要求2所述的一种可移动式偏置探头的spect检测方法，其特征在于：
所有的检测器的检测面均为面积相同的正方形；
当检测器是2-4个时，检测器以周向均匀分布的方式将检测面对着检测区域布置，具体是4个检测器周向均布布置，相邻检测器的夹角为90°；
第一位置到第二位置的距离具体为45-55cm。
4.一种可移动式偏置探头的spect检测方法，其特征在于：
其利用一种SPECT系统(1)以实施，该SPECT系统包括一个或多个检测组(11)，每一个检测组包括检测器(21)、符合电路(22)、计算机(23)各一个，
(1)所有的检测器以将检测面对着检测区域布置，先位于第一位置，位于第一位置时，检测面中心处的法线相对于感兴趣区域的中心点的一侧；
(2)进行一次扫描，将接收到的首批检测信号经过符合电路传送至计算机；
(3)将所有的检测器相对于感兴趣区域平移到第二位置，位于第二位置时，检测面中心处的法线相对于感兴趣区域的中心点的另一侧，且位于第二位置时，检测器中的A’列检测器与处于第一位置时的A列检测器位置重叠；
(4)再次进行图像扫描，将接收到的第二批检测信号经过符合电路传送至计算机；
(5)对于首批检测信号和第二批检测信号，将第一位置的A列检测器之外的检测器得到的信号以及第二位置的A’列检测器之外的检测器得到的信号，认为是同一个检测器的左右两部分得到的信号，将第一位置的A列检测器和第二位置的A’列检测器得到的信号合并作为中间部分信号，合并左右中部分信号成为一次检测数据，由SPECT系统控制所有计算机完成图像重建。
5.如权利要求4所述的一种可移动式偏置探头的spect检测方法，其特征在于：
检测器依次由准直器层(211)、闪烁晶体层(212)、光导层(213)、PMT阵列层(214)组成；
检测器的检测面是平面状，且均为形状相同的矩形；
检测组是1-4个，当检测组是一个时，检测器以平行于检测床表面的方式布置，当检测器是2-4个时，检测器以周向均匀分布的方式将检测面对着检测区域布置，相邻检测器的夹角对应地约为180°或120°或90°；
第一位置到第二位置的距离为25-70cm，或者第一位置到第二位置的距离与检测器的检测面宽度相同；
准直器层是孔均匀排布的平行孔准直器、针孔准直器、发散孔准直器或聚焦孔准直器；
闪烁晶体层的材质是NaI(Tl)或CsI(Tl)，PMT阵列层是SiPMT；PMT阵列层中的每一个PMT均接入符合电路。
6.如权利要求5所述的一种可移动式偏置探头的spect检测方法，其特征在于：
所有的检测器的检测面均为面积相同的正方形；
当检测器是2-4个时，检测器以周向均匀分布的方式将检测面对着检测区域布置，具体是4个检测器周向均布布置，相邻检测器的夹角为90°；
第一位置到第二位置的距离具体为45-55cm。
7.一种可移动式偏置探头的spect检测方法，其特征在于：
其利用一种SPECT系统(1)以实施，该SPECT系统包括一个或多个检测组(11)，每一个检测组包括检测器(21)、符合电路(22)、计算机(23)各一个，
(1)所有的检测器以将检测面对着检测区域布置，先位于第一位置，位于第一位置时，检测面中心处的法线相对于感兴趣区域的中心点的一侧；
(2)进行一次扫描，将接收到的首批检测信号经过符合电路传送至计算机；
(3)将所有的检测器相对于感兴趣区域平移到第二位置，位于第二位置时，检测面中心处的法线相对于感兴趣区域的中心点的另一侧，且位于第二位置时，检测器中的A’列检测器与处于第一位置时的A列检测器位置重叠；
(4)再次进行图像扫描，将接收到的第二批检测信号经过符合电路传送至计算机；
(5)对于首批检测信号和第二批检测信号，将第一位置的A列检测器之外的检测器得到的信号以及第二位置的A’列检测器之外的检测器得到的信号，认为是同一个检测器的左右两部分得到的信号，将第一位置的A列检测器和第二位置的A’列检测器得到的信号择一作为中间部分信号，合并左右中部分信号成为一次检测数据，由SPECT系统控制所有计算机完成图像重建。
8.如权利要求7所述的一种可移动式偏置探头的spect检测方法，其特征在于：
检测器依次由准直器层(211)、闪烁晶体层(212)、光导层(213)、PMT阵列层(214)组成；
检测器的检测面是平面状，且均为形状相同的矩形；
检测组是1-4个，当检测组是一个时，检测器以平行于检测床表面的方式布置，当检测器是2-4个时，检测器以周向均匀分布的方式将检测面对着检测区域布置，相邻检测器的夹角对应地约为180°或120°或90°；
第一位置到第二位置的距离为25-70cm，或者第一位置到第二位置的距离与检测器的检测面宽度相同；
准直器层是孔均匀排布的平行孔准直器、针孔准直器、发散孔准直器或聚焦孔准直器；
闪烁晶体层的材质是NaI(Tl)或CsI(Tl)，PMT阵列层是SiPMT；PMT阵列层中的每一个PMT均接入符合电路。
9.如权利要求8所述的一种可移动式偏置探头的spect检测方法，其特征在于：
所有的检测器的检测面均为面积相同的正方形；
当检测器是2-4个时，检测器以周向均匀分布的方式将检测面对着检测区域布置，具体是4个检测器周向均布布置，相邻检测器的夹角为90°；
第一位置到第二位置的距离具体为45-55cm。
10.如权利要求1-9所述的一种可移动式偏置探头的spect检测方法，其特征在于：
多个检测组均由一个整体的旋转机架(4)承载，对于每个检测组，旋转机架上具有一个定位框架(41)与之对应，定位框架呈长方形框形状，每个定位框架内侧具有一对相对设置的(42)滑槽，检测器可以在定位框架内左右滑动，权利要求1-9中的检测器的位置定位均是在定位框架内调节的。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN202210882775.0A CN115192061A (zh) | 2022-07-26 | 2022-07-26 | 一种可移动式偏置探头的spect检测方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN202210882775.0A CN115192061A (zh) | 2022-07-26 | 2022-07-26 | 一种可移动式偏置探头的spect检测方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| CN115192061A true CN115192061A (zh) | 2022-10-18 |
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ID=83584487
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| CN202210882775.0A Pending CN115192061A (zh) | 2022-07-26 | 2022-07-26 | 一种可移动式偏置探头的spect检测方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| CN (1) | CN115192061A (zh) |
-
2022
- 2022-07-26 CN CN202210882775.0A patent/CN115192061A/zh active Pending
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