CN115167017A - 显示面板的检测方法、显示模组及显示装置 - Google Patents

显示面板的检测方法、显示模组及显示装置 Download PDF

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Abstract

本申请涉及一种显示面板的检测方法、显示模组及显示装置。显示面板的检测方法用于对显示面板补偿后进行显示检测，检测方法包括：获取显示面板的平面补偿数据和曲面补偿数据，根据平面补偿数据对显示面板进行补偿，并对经过补偿的显示面板进行平面质量检测，根据平面补偿数据和曲面补偿数据对显示面板进行补偿，并对经过补偿的显示面板进行平面点亮检测。在本申请的检测方法中，分步骤消除由于生产过程中的材料、工艺制程等因素出现的Mura和由于显示面板弯曲出现的Mura，从而避免了由于多种因素共同作用而导致的无法判断画面显示是否属于正常现象的问题，提高了检测显示面板是否合格的准确度和效率。

Description

显示面板的检测方法、显示模组及显示装置
技术领域
本申请涉及显示面板检测技术领域，尤其涉及一种显示面板的检测方法、显示模组及包括该显示模组的显示装置。
背景技术
液晶显示器(Liquid Crystal Display，LCD)是一种借助于薄膜晶体管驱动的有源矩阵液晶显示器，凭借机身薄、节省空间、功耗低、无辐射、画面柔和等特点，快速得到市场和消费者的认可并被广泛使用。液晶显示器的显示面板(Open Cell，OC)由于生产过程中的材料、工艺制程等因素在平面显示时会出现亮度不均(Mura)的缺陷。当前，市场中通常采用平面外部光学补偿(Demura)技术进行平面补偿，以提升画面显示的均匀性，使得显示面板正常进行平面显示。
当显示面板用于曲面显示时，显示面板又会由于被弯曲而产生Mura。此时，由于曲面弯曲带来的曲面Mura的位置和形态固定，一般通过对显示面板叠加进行平面补偿和曲面补偿，以消除显示面板被弯曲产生的Mura。但在实际应用中，当对显示面板叠加进行平面补偿和曲面补偿后，能够用于曲面显示的显示面板再进行平面显示时，平面显示的画面的两侧会出现泛白的现象。
市场中常见的显示面板的检测方法可以消除显示面板由于生产过程中的材料、工艺制程等因素出现的Mura和由于被弯曲而出现的Mura的补偿数据一并获取，并补偿至显示面板。然而，这种方式会导致产线工作人员在作业时将两种因素造成的Mura一并进行质量检测，进而导致无法判断出显示面板出现的泛白是否为正常现象，容易造成误判，进而提高显示面板的制造成本和显示面板的质量瑕疵。
发明内容
鉴于现有技术的不足，本申请的目的在于提供一种显示面板的检测方法、显示模组及显示装置，检测方法分步骤消除由于生产过程中的材料、工艺制程等因素出现的Mura和由于显示面板弯曲出现的Mura。避免了多种因素共同作用，导致无法判断画面显示是否属于正常现象的问题，提高了检测显示面板是否合格的准确度和效率。
第一方面，本申请实施例提供了一种显示面板的检测方法，用于对显示面板补偿后进行画面检测。所述检测方法包括：
步骤S10、获取所述显示面板的平面补偿数据和曲面补偿数据；
步骤S20、根据所述平面补偿数据对所述显示面板进行补偿，并对经过补偿的所述显示面板进行平面质量检测；
步骤S30、根据所述平面补偿数据和所述曲面补偿数据对所述显示面板进行补偿，并对经过补偿的所述显示面板进行平面点亮检测。
在一些实施方式中，所述对经过补偿的所述显示面板进行平面质量检测，包括：
若对经过补偿的所述显示面板进行所述平面质量检测的结果为合格，则进行步骤S30；
若对经过补偿的所述显示面板进行所述平面质量检测的结果为不合格，则清除补偿至所述显示面板的所述平面补偿数据，依次重复步骤S10和步骤S20。
在一些实施方式中，当所述显示面板进行N次所述平面质量检测时，所述显示面板的出货等级共降N-2级，其中，N为大于等于3的整数。
在一些实施方式中，所述对经过补偿的所述显示面板进行平面质量检测的结果包含表征所述平面补偿数据是否正确的信息，包括：
当对经过补偿的所述显示面板进行所述平面质量检测的结果为合格时，表征所述平面补偿数据正确；
当对经过补偿的所述显示面板进行所述平面质量检测的结果为不合格时，表征所述平面补偿数据不正确。
在一些实施方式中，所述对经过补偿的所述显示面板进行平面点亮检测，包括：
若对经过补偿的所述显示面板进行所述平面点亮检测的结果为合格，则结束对所述显示面板的检测；
若对经过补偿的所述显示面板进行所述平面点亮检测的结果为不合格，则清除补偿至所述显示面板的所述平面补偿数据和所述曲面补偿数据，重复步骤S30。
在一些实施方式中，当所述显示面板进行N次所述平面点亮检测时，所述显示面板的出货等级共降N-2级，其中，N为大于等于3的整数。
在一些实施方式中，所述平面质量检测包含对所述显示面板进行品味检测，所述平面点亮检测不包含对所述显示面板进行品味检测。
在一些实施方式中，所述平面补偿数据和所述曲面补偿数据通过外部光学补偿技术获得。
第二方面，本申请实施例提供了一种显示模组，所述显示模组包括背光模组以及经由前述的显示面板的检测方法检测的显示面板，所述显示面板设置于所述背光模组的出光侧。
第三方面，本申请实施例提供了一种显示装置，所述显示装置包括电源模组以及前述的显示模组，所述显示模组与所述电源模组电性连接，所述电源模组为所述显示模组进行画面显示供电。
综上所述，在本申请的显示面板的检测方法、显示模组及显示装置中，分步骤消除由于生产过程中的材料、工艺制程等因素出现的Mura和由于显示面板弯曲出现的Mura。进一步地，通过分步骤检测消除不同Mura的情况，避免了多种因素共同作用，导致无法判断画面显示是否属于正常现象，进一步地，提高了检测显示面板是否合格的准确度和效率。例如，通过所述平面补偿数据data1和所述曲面补偿数据data2进行补偿的显示面板，在平面显示时会出现两侧泛白，这是属于正常的现象。由于市场中通常对显示面板出现的Mura一并消除后进行平面检测是否合格，导致出现两侧泛白时无法确定这是正常现象还是由于所述平面补偿数据data1有误导致，进而使检测显示面板是否合格的结果容易出现误差，且效率明显下降。
附图说明
图1为本申请实施例公开的一种经过平面补偿的显示面板的平面显示示意图；
图2为图1所示的显示面板的曲面显示示意图；
图3为本申请实施例公开的一种叠加平面补偿和曲面补偿的显示面板的曲面显示示意图；
图4为图3所示的显示面板的平面显示示意图。
图5为本申请实施例公开的一种显示面板的检测方法的步骤示意图；
图6为本申请实施例公开的一种显示模组的结构示意图；
图7为本申请实施例公开的一种显示装置的结构示意图。
附图标记说明：
1000-显示装置；10-显示模组；17-背光模组；20-电源模组；30-支撑框架；100-显示面板；200-曲面Mura；S10～S30-显示面板的检测方法的步骤。
具体实施方式
为了便于理解本申请，下面将参照相关附图对本申请进行更全面的描述。附图中给出了本申请的较佳实施方式。但是，本申请可以以许多不同的形式来实现，并不限于本文所描述的实施方式。相反地，提供这些实施方式的目的是使对本申请的公开内容理解的更加透彻全面。
以下各实施例的说明是参考附加的图示，用以例示本申请可用以实施的特定实施例。本文中为部件所编序号本身，例如“第一”、“第二”等，仅用于区分所描述的对象，不具有任何顺序或技术含义。而本申请所说“连接”、“联接”，如无特别说明，均包括直接和间接连接(联接)。本申请中所提到的方向用语，例如，“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“内”、“外”、“侧面”等，仅是参考附加图式的方向，因此，使用的方向用语是为了更好、更清楚地说明及理解本申请，而不是指示或暗指所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本申请的限制。
在本申请的描述中，需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸地连接，或者一体地连接；可以是机械连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言，可以具体情况理解上述术语在本申请中的具体含义。需要说明的是，本申请的说明书和权利要求书及所述附图中的术语“步骤1”、“步骤2”等是用于区别不同对象，而不是用于描述特定顺序。
在显示技术领域，显示面板的显示不均(Mura)的产生是多种因素造成的，例如彩色滤光片(Color Filter，CF)制程、薄膜晶体管(Thin Film Transistor，TFT)制程，LCD显示模组(LCD Module，LCM)制程以及显示面板弯曲等等。显示面板根据画面显示方式，可分为平面显示面板和曲面显示面板，其中，平面显示面板用作平面显示，曲面显示面板用作曲面显示。而平面显示面板与曲面显示面板产生Mura的区别主要在于：曲面显示面板与曲面背光结构组装在一起，曲面显示面板会由于弯曲产生一部分Mura，而平面显示面板不用考虑显示面板由于弯曲造成Mura的问题。
为了更好地说明及理解本申请技术方案，为了清楚地区分显示面板由于弯曲产生的Mura，以及显示面板由于制程等其他原因造成的Mura。本申请将由于生产过程中的材料、工艺制程等因素出现的亮度不均(Mura)称为第一Mura，将显示面板由于弯曲产生的Mura称为第二Mura。相应地，将用于减轻或消除第一Mura的外部光学补偿的数据称为平面补偿数据data1，将用于减轻或消除第二Mura的外部光学补偿的数据称为曲面补偿数据data2。
请一并参阅图1至图4，图1为本申请实施例公开的一种经过平面补偿的显示面板的平面显示示意图。图2为图1所示的显示面板的曲面显示示意图。图3为本申请实施例公开的一种叠加平面补偿和曲面补偿的显示面板的曲面显示示意图。图4为图3所示的显示面板的平面显示示意图。
如图1所示，对显示面板100通过Demura技术平面补偿后，消除了由于生产过程中的材料、工艺制程等因素出现的亮度不均(Mura)，显示面板100画面显示均匀。如图2所示，显示面板100经过了平面补偿，已经消除了由于生产过程中的材料、工艺制程等因素出现的亮度不均(Mura)。但是，当显示面板100进行曲面显示时，会由于显示面板100的弯曲再次产生曲面Mura200。如图3所示，显示面板100经过叠加平面补偿和曲面补偿，也即为，在图1平面补偿的基础上，经过曲面补偿消除了由于显示面板弯曲造成的曲面Mura200。如图4所示，经过叠加平面补偿和曲面补偿的显示面板100在进行平面显示的时候，出现了两侧泛白的现象。
请一并参阅图5，图5为本申请实施例公开的一种显示面板的检测方法的步骤示意图。如图5所示，在本申请实施例中，所述显示面板的检测方法至少可以包括以下步骤。
步骤S10、获取显示面板的平面补偿数据data1和曲面补偿数据data2。
具体地，在本申请实施例中，可通过预设测试方案分别获取显示面板的平面补偿数据data1和曲面补偿数据data2，其中，所述预设测试方案是指通过平面外部光学补偿(Demura)技术获得显示面板补偿数据的测试方案。在实际实施时，可根据显示面板的具体参数进行设计。
步骤S20、根据所述平面补偿数据data1对所述显示面板进行补偿，并对经过补偿的所述显示面板进行平面质量检测。
具体地，在本申请实施例中，根据所述平面补偿数据data1对显示面板进行补偿可以是通过烧录的工艺制程实现，也可以是采用其他方式实现，本申请对此不做具体限制。
在本申请实施例中，对经过补偿的所述显示面板进行平面质量检测，并根据平面质量检测的结果做出相应措施，具体可包括：
若对所述显示面板进行平面质量检测的结果为合格，则进行步骤S30；
若对所述显示面板进行平面质量检测的结果为不合格，则清除补偿至所述显示面板的所述平面补偿数据data1，依次重复步骤S10和步骤S20。
也即为，若对所述显示面板进行平面质量检测的结果为不合格，则清除补偿至所述显示面板的所述平面补偿数据data1，重新获取显示面板的平面补偿数据data1和曲面补偿数据data2，并根据重新获取的所述平面补偿数据data1对所述显示面板进行补偿，并对经过补偿的所述显示面板进行平面质量检测。
在本申请实施例中，所述平面质量检测主要是通过人眼目视或设备自动光学检测(Automated Optical Inspection，AOI)，对需要检测的显示面板的显示问题进行核检。其中，显示问题主要可以包括异物、白点或其他Mura类的显示问题。可以理解的是，所述平面质量检测包括对显示面板显示品味进行检测。
若核检需要检测的显示面板没有显示问题，则说明平面质量检测结果为合格；若核检需要检测的显示面板出现显示问题，则说明平面质量检测结果为不合格。
在本申请实施例中，对经过补偿的所述显示面板进行平面质量检测的结果包含表征所述平面补偿数据data1是否正确的信息。具体为：
当对所述显示面板进行平面质量检测的结果为合格时，则表征所述平面补偿数据data1正确；
当对所述显示面板进行平面质量检测的结果为不合格时，则表征所述平面补偿数据data1不正确，即需要重新获取。
在本申请实施例中，通过步骤S10可以单独消除显示面板由于生产过程中的材料、工艺制程等因素出现的Mura，并通过平面质量检测来确定所述平面补偿数据data1是否正确。
其中，当对所述显示面板进行平面质量检测的结果为合格，即所述显示面板没有出现显示问题，则表明所述平面补偿数据data1正确。
当对所述显示面板进行平面质量检测的结果为不合格，即所述显示面板出现显示问题，则表明所述平面补偿数据data1不正确。可以理解的是，此时需要重复步骤S10对所述平面补偿数据data1进行校正。
在本申请实施例中，对所述平面补偿数据data1进行校正后，所述曲面补偿数据data2会有相应的变化，故平面质量检测结果为不合格后，需要通过步骤S10重新获取所述平面补偿数据data1和所述曲面补偿数据data2。
在本申请实施例中，按照显示面板进行平面质量检测的次数确定所述显示面板的出货等级。具体包括：
当显示面板进行N次平面质量检测时，显示面板的出货等级共降N-2级，其中，N为大于等于3的整数。
举例可为，当显示面板进行三次平面质量检测时，显示面板的出货等级降一级；当显示面板进行四次平面质量检测时，显示面板的出货等级再降一级，以此类推。
在本申请实施例中，在重复进行步骤S10和步骤S20的过程中，当所述平面质量检测结果第二次被判定为不合格时，即需要对显示面板进行第三次平面质量检测时，所述显示面板的出货等级降一级；当所述平面质量检测结果第三次被判定为不合格时，即需要对显示面板进行第四次平面质量检测时，所述显示面板的出货等级再降一级。依次类推。
步骤S30、根据所述平面补偿数据data1和所述曲面补偿数据data2对所述显示面板进行补偿，并对经过补偿的所述显示面板进行平面点亮检测。
具体地，在本申请实施例中，根据所述平面补偿数据data1和所述曲面补偿数据data2对所述显示面板进行补偿可以是通过烧录的工艺制程实现，也可以采用是其他方式实现，本申请对此不做具体限制。
在本申请实施例中，对经过补偿的所述显示面板进行平面点亮检测，并根据平面点亮检测的结果做出相应措施，具体为：
若对所述显示面板进行平面点亮检测的结果为合格，则检测结束；
若对所述显示面板进行平面点亮检测的结果为不合格，则清除补偿至所述显示面板的所述平面补偿数据data1和所述曲面补偿数据data2，重复步骤S30。
即就是，若对所述显示面板进行平面点亮检测的结果为不合格，则清除补偿至所述显示面板的所述平面补偿数据data1和所述曲面补偿数据data2，重新根据所述平面补偿数据data1和所述曲面补偿数据data2对所述显示面板进行补偿后，对所述显示面板进行平面点亮检测。
在本申请实施例中，所述平面点亮检测主要是指通过检测设备核检显示面板有无缺陷信息。所述显示面板的缺陷信息主要是指线类不良、色不均以及无法点亮等问题，例如，是否显示面板是否存在坏点。可以理解的是，由于步骤S20已经包含了对显示面板显示时的显示品味检测，此处的平面点亮检测不包括显示品味检测。
在本申请具体实施例中，若对所述显示面板核检的结果为没有缺陷信息，则说明所述平面点亮检测结果为合格；若对所述显示面板核检的结果为出现缺陷信息，则说明所述平面点亮检测结果为不合格。
在本申请实施例中，按照显示面板进行平面点亮检测的次数确定所述显示面板的出货等级。具体地：
当显示面板进行N次平面点亮检测时，显示面板的出货等级共降N-2级，其中，N为大于等于3的整数。
举例可为，当显示面板进行三次平面点亮检测时，显示面板的出货等级降一级；当显示面板进行四次平面点亮检测时，显示面板的出货等级再降一级，以此类推。
在本申请实施例中，在重复进行步骤S30的过程中，当平面点亮检测结果第二次被判定为不合格时，所述显示面板的出货等级降一级。平面点亮检测结果第三次被判定为不合格时，所述显示面板的出货等级再降一级。依次类推。
综上所述，在本申请的显示面板的检测方法中，分步骤消除由于生产过程中的材料、工艺制程等因素出现的Mura和由于显示面板弯曲出现的Mura。具体地，步骤S20可以消除由于生产过程中的材料、工艺制程等因素出现的Mura，步骤S30可以消除由于显示面板弯曲出现的Mura。进一步地，通过分步骤检测消除不同Mura的情况，避免了多种因素共同作用，导致无法判断画面显示是否属于正常现象，进一步地，提高了检测显示面板是否合格的准确度和效率。例如，通过所述平面补偿数据data1和所述曲面补偿数据data2进行补偿的显示面板，在平面显示时会出现两侧泛白，这是属于正常的现象。由于市场中通常对显示面板出现的Mura一并消除后进行平面检测是否合格，导致出现两侧泛白时无法确定这是正常现象还是由于所述平面补偿数据data1有误导致的现象，进而使检测显示面板是否合格的结果容易出现误差，且效率明显下降。
请一并参阅图6，图6为本申请实施例公开的一种显示模组的结构示意图。基于同一发明构思，本申请还提供了一种显示模组10，所述显示模组10包括背光模组17以及经由前述显示面板的检测方法检测合格的显示面板100，所述显示面板100设置于所述背光模组17的出光侧，所述背光模组17为所述显示面板100进行画面显示提供背光。
综上所述，在本申请的显示模组中，所述显示模组10包括背光模组17以及经由前述显示面板的检测方法检测合格的显示面板100，所述背光模组17为所述显示面板100进行画面显示提供背光。通过分步骤消除由于生产过程中的材料、工艺制程等因素出现的Mura和由于显示面板弯曲出现的Mura。进一步地，通过分步骤检测消除不同Mura的情况，避免了多种因素共同作用，导致无法判断画面显示是否属于正常现象，进一步地，提高了检测显示面板是否合格的准确度和效率。例如，通过所述平面补偿数据data1和所述曲面补偿数据data2进行补偿的显示面板，在平面显示时会出现两侧泛白，这是属于正常的现象。由于市场中通常对显示面板出现的Mura一并消除后进行平面检测是否合格，导致出现两侧泛白时无法确定这是正常现象还是由于所述平面补偿数据data1有误导致，进而使检测显示面板是否合格的结果容易出现误差，且效率明显下降。
请一并参阅图7，图7为本申请实施例公开的一种显示装置的结构示意图。基于同一发明构思，本申请还提供了一种显示装置1000，所述显示装置1000包括电源模组以及前述的显示模组10，所述显示模组10与所述电源模组20电性连接，所述电源模组20为所述显示模组10进行画面显示供电。
在本申请实施例中，所述显示装置1000还包括支撑框架30，所述支撑框架30用于为所述显示模组10和所述电源模组20提供支撑和保护。
综上所述，在本申请的显示装置中，所述显示装置1000包括电源模组以及前述的显示模组10，所述电源模组20为所述显示模组10供电。可以通过分步骤消除由于生产过程中的材料、工艺制程等因素出现的Mura和由于显示面板弯曲出现的Mura。进一步地，通过分步骤检测消除不同Mura的情况，避免了多种因素共同作用，导致无法判断画面显示是否属于正常现象，进一步地，提高了检测显示面板是否合格的准确度和效率。例如，通过所述平面补偿数据data1和所述曲面补偿数据data2进行补偿的显示面板，在平面显示时会出现两侧泛白，这是属于正常的现象。由于市场中通常对显示面板出现的Mura一并消除后进行平面检测是否合格，导致出现两侧泛白时无法确定这是正常现象还是由于所述平面补偿数据data1有误导致，进而使检测显示面板是否合格的结果容易出现误差，且效率明显下降。
对上述实施例中的各个技术特征所有可能的组合都进行描述，然而，只要这些技术特征的组合不存在矛盾，都应当认为是本说明书记载的范围。
以上所述实施例仅表达了本申请的几种实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对申请专利范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本申请构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本申请的保护范围。因此，本申请专利的保护范围应以所附权利要求为准。

Claims (10)

1.一种显示面板的检测方法，用于对显示面板补偿后进行显示检测，其特征在于，所述检测方法包括：
步骤S10、获取所述显示面板的平面补偿数据和曲面补偿数据；
步骤S20、根据所述平面补偿数据对所述显示面板进行补偿，并对经过补偿的所述显示面板进行平面质量检测；
步骤S30、根据所述平面补偿数据和所述曲面补偿数据对所述显示面板进行补偿，并对经过补偿的所述显示面板进行平面点亮检测。
2.如权利要求1所述的显示面板的检测方法，其特征在于，所述对经过补偿的所述显示面板进行平面质量检测，包括：
若对经过补偿的所述显示面板进行所述平面质量检测的结果为合格，进行步骤S30；
若对经过补偿的所述显示面板进行所述平面质量检测的结果为不合格，清除补偿至所述显示面板的所述平面补偿数据，依次重复步骤S10和步骤S20。
3.如权利要求2所述的显示面板的检测方法，其特征在于，当所述显示面板进行N次所述平面质量检测时，所述显示面板的出货等级共降N-2级，其中，N为大于等于3的整数。
4.如权利要求1所述的显示面板的检测方法，其特征在于，所述对经过补偿的所述显示面板进行平面质量检测的结果包含表征所述平面补偿数据是否正确的信息，包括：
当对经过补偿的所述显示面板进行所述平面质量检测的结果为合格时，表征所述平面补偿数据正确；
当对经过补偿的所述显示面板进行所述平面质量检测的结果为不合格时，表征所述平面补偿数据不正确。
5.如权利要求1所述的显示面板的检测方法，其特征在于，所述对经过补偿的所述显示面板进行平面点亮检测，包括：
若对经过补偿的所述显示面板进行所述平面点亮检测的结果为合格，结束对所述显示面板的检测；
若对经过补偿的所述显示面板进行所述平面点亮检测的结果为不合格，清除补偿至所述显示面板的所述平面补偿数据和所述曲面补偿数据，重复步骤S30。
6.如权利要求5所述的显示面板的检测方法，其特征在于，当所述显示面板进行N次所述平面点亮检测时，所述显示面板的出货等级共降N-2级，其中，N为大于等于3的整数。
7.如权利要求1所述的显示面板的检测方法，其特征在于，所述平面质量检测包含对所述显示面板进行品味检测，所述平面点亮检测不包含对所述显示面板进行品味检测。
8.如权利要求1-7任一项所述的显示面板的检测方法，其特征在于，所述平面补偿数据和所述曲面补偿数据通过外部光学补偿技术获得。
9.一种显示模组，其特征在于，所述显示模组包括背光模组以及经由如权利要求1-8任一项所述的显示面板的检测方法检测的显示面板，所述显示面板设置于所述背光模组的出光侧，所述背光模组为所述显示面板进行画面显示提供背光。
10.一种显示装置，其特征在于，所述显示装置包括电源模组以及如权利要求9所述的显示模组，所述显示模组与所述电源模组电性连接，所述电源模组为所述显示模组进行画面显示供电。
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