CN115116389A - 一种显示面板及显示装置 - Google Patents
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Abstract
本申请实施例提供一种显示面板及显示装置，显示面板包括多个检测电容、第一端子、第二端子、多个控制开关以及多个移位寄存器；检测电容包括第一极板与第二极板，第一端子用于向第一极板传输探测信号，第二端子用于接收第二极板的感测信号；第一端子与第一极板之间串联控制开关，和/或，第二端子与第二极板之间串联控制开关；且控制开关的控制端与移位寄存器的输出端电连接；通过移位寄存器的输出端的信号可以依次控制与其电连接的控制开关的开断状态，从而控制显示面板中的多个检测电容依次工作，即依次对显示面板是否存在的裂纹、微裂纹及一些缺陷进行探测，本申请可以解决无法检测显示面板是否存在裂纹、微裂纹及一些缺陷的问题。
Description
【技术领域】
本申请涉及显示技术领域，其特别涉及一种显示面板及显示装置。
【背景技术】
有机发光二极管(organic light-emitting diode，OLED)显示面板，由于具有薄、轻、宽视角、主动发光等优点，已得到广泛的应用。此外，有机发光二极管显示面板可以用于柔性显示屏。在有机发光二极管显示面板复杂的生产过程中，尤其是在对OLED显示面板进行切割、曲面生成和弯折造型时，显示面板中极易出现裂纹，严重影响产品的显示效果。
因此，如何检测出显示面板是否存在裂纹、微裂纹及微小缺陷的问题亟需解决。
【申请内容】
有鉴于此，本申请实施例提供了一种显示面板及显示装置。
第一方面，本申请提供一种显示面板，包括：
多个检测电容，所述检测电容包括第一极板与第二极板；
第一端子和第二端子，所述第一端子用于向所述第一极板传输探测信号，所述第二端子用于接收第二极板的感测信号；
多个控制开关，所述第一端子与所述第一极板之间串联所述控制开关，和/或，所述第二端子与所述第二极板之间串联所述控制开关；
多个移位寄存器，所述控制开关的控制端与所述移位寄存器的输出端电连接。
在第一方面的一种实现方式中，所述第一端子与所述第一极板之间串联所述控制开关，且所述第二端子与所述第二极板之间串联所述控制开关；
其中，同一所述检测电容的所述第一极板与所述第二极板所分别电连接的控制开关中，各所述控制开关的控制端与同一所述移位寄存器的输出端电连接。
在第一方面的一种实现方式中，所述第一端子与所述第一极板之间串联所述控制开关，且至少两个所述检测电容的第一极板与同一所述第一端子电连接。
在第一方面的一种实现方式中，所述第二端子与所述第二极板之间串联所述控制开关，且至少两个所述检测电容的第二极板与同一所述第二端子电连接。
在第一方面的一种实现方式中，所述显示面板还包括：
沿行方向、沿列方向阵列排布的多个像素电路，所述像素电路中包括第一晶体管；
多条第一扫描线，所述第一扫描线与同行设置的多个所述像素电路中所述第一晶体管的栅极电连接；
其中，所述多个移位寄存器中包括级联的多个垂直移位寄存器，所述垂直移位寄存器的输出端与所述第一扫描线电连接，且至少部分所述控制开关的控制端与所述垂直移位寄存器的输出端电连接。
在第一方面的一种实现方式中，所述像素电路中还包括驱动晶体管，所述第一晶体管用于将数据电压写入所述驱动晶体管。
在第一方面的一种实现方式中，所述级联的多个垂直移位寄存器中，各所述垂直移位寄存器的输出端分别与不同的所述检测电容所电连接的所述控制开关的控制端电连接。
在第一方面的一种实现方式中，所述级联的多个垂直移位寄存器中，部分所述垂直移位寄存器的输出端与所述检测电容所电连接的所述控制开关的控制端电连接。
在第一方面的一种实现方式中，所述显示面板还包括：
沿行方向、沿列方向阵列排布的多个像素电路，所述像素电路中包括第一晶体管；
多条第一信号线，所述第一信号线与同列设置的多个所述像素电路中所述第一晶体管的输入端电连接；
所述多个移位寄存器中包括级联的多个水平移位寄存器，所述水平移位寄存器位于所述第一信号线的一端。
在第一方面的一种实现方式中，所述级联的多个水平移位寄存器中，各所述水平移位寄存器的输出端分别与不同的所述检测电容所电连接的所述控制开关的控制端电连接。
在第一方面的一种实现方式中，至少部分所述检测电容设置在所述显示面板的非显示区。
在第一方面的一种实现方式中，设置在所述非显示区的至少部分所述检测电容位于所述移位寄存器所在区域与所述显示区之间。
在第一方面的一种实现方式中，设置在所述非显示区的至少部分所述检测电容位于所述移位寄存器所在区域远离所述显示区的一侧。
在第一方面的一种实现方式中，至少部分所述检测电容设置在所述显示面板的显示区。
在第一方面的一种实现方式中，所述显示区包括多个子像素，所述检测电容设置在相邻的所述子像素之间的区域。
在第一方面的一种实现方式中，所述显示面板包括多个晶体管，所述晶体管包括栅极及有源层；
所述第一极板与所述第二极板中，一者与所述栅极同层设置，另一者与所述有源层同层设置。
第二方面，本申请提供一种显示装置包括如第一方面提供的显示面板。
本申请实施例提供的显示面板及显示装置，通过设置检测电容、第一端子、第二端子、控制开关及与控制开关的控制端电连接的移位寄存器，得到检测电容的C-V曲线，将该C-V曲线与预设保存的显示面板正常工作的C-V曲线进行比较，通过检测电容的C-V曲线变化对显示面板出现的情况进行分析，可精确检测出显示面板是否存在裂纹、微裂纹及一些缺陷等问题，有效的提高对显示面板的检测精度，从而可提高产品良率。
【附图说明】
为了更清楚地说明本申请实施例的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其它的附图。
图1为本发明实施例提供的一种显示面板的结构示意图；
图2为图1中显示面板的一种局部放大图；
图3为图1中显示面板的另一种局部放大图；
图4为图1中显示面板的再一种局部放大图；
图5为图1中显示面板的还一种局部放大图；
图6为图1中显示面板的一种局部放大图；
图7为图1中显示面板的一种局部放大图；
图8为本发明实施例提供的一种显示面板的结构示意图；
图9为本发明实施例提供的另一种显示面板的结构示意图；
图10为本发明实施例提供的一种像素电路的示意图；
图11为本发明实施例提供的再一种显示面板的结构示意图；
图12为本发明实施例提供的还一种显示面板的结构示意图；
图13为本发明实施例提供的还一种显示面板的结构示意图；
图14为本发明实施例提供的又一种显示面板的结构示意图；
图15为本发明实施例提供的又一种显示面板的结构示意图；
图16为本发明实施例提供的又一种显示面板的结构示意图；
图17为本发明实施例提供的又一种显示面板的结构示意图；
图18为本发明实施例提供的又一种显示面板的结构示意图；
图19为本发明实施例提供的一种显示面板的局部剖面图；
图20为本发明实施例提供的一种显示装置的示意图。
【具体实施方式】
为了更好的理解本申请的技术方案，下面结合附图对本申请实施例进行详细描述。
应当明确，所描述的实施例仅仅是本申请一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其它实施例，都属于本申请保护的范围。
在本申请实施例中使用的术语是仅仅出于描述特定实施例的目的，而非旨在限制本申请。在本申请实施例和所附权利要求书中所使用的单数形式的“一种”、“所述”和“该”也旨在包括多数形式，除非上下文清楚地表示其他含义。
应当理解，本文中使用的术语“和/或”仅仅是一种描述关联对象的关联关系，表示可以存在三种关系，例如，A和/或B，可以表示：单独存在A，同时存在A和B，单独存在B这三种情况。另外，本文中字符“/”，一般表示前后关联对象是一种“或”的关系。
本说明书的描述中，需要理解的是，本申请权利要求及实施例所描述的“基本上”、“近似”、“大约”、“约”、“大致”“大体上”等词语，是指在合理的工艺操作范围内或者公差范围内，可以大体上认同的，而不是一个精确值。
应当理解，尽管在本申请实施例中可能采用术语第一、第二、第三等来描述极板、端子等，但这些方向等不应限于这些术语。这些术语仅用来将方向等彼此区分开。例如，在不脱离本申请实施例范围的情况下，第一极板也可以被称为第二极板，类似地，第二极板也可以被称为第一极板。
本案申请人通过细致深入研究，对于现有技术中所存在的问题，而提供了一种解决方案。
图1为本发明实施例提供的一种显示面板的结构示意图。
如图1所示，本发明实施例提供的显示面板100包括多个检测电容10，检测电容10用于检测显示面板100中出现的裂纹、微裂纹及一些缺陷，从而提升显示面板的良率。检测电容10可设置在显示面板100的边框区域，可用于检测显示面板100的边缘出现的裂纹、微裂纹及一些缺陷；检测电容10也可设置在显示面板100的中间区域，可用于检测显示面板100在中间区域出现的裂纹、微裂纹及一些缺陷。
图2为显示面板中的一种检测电容的连接示意图，图3为显示面板中的一种检测电容的连接示意图，图4为显示面板中的一种检测电容的连接示意图。
如图2-图4所示，检测电容10包括相对设置的第一极板101与第二极板102；第一极板101与第二极板102在沿显示面板100的厚度方向上有交叠，交叠的部分形成了检测电容10。第一极板101可为金属材料，也可为半导体材料；第二极板102可为金属材料，也可为半导体材料。
可选地，在本申请实施例中，检测电容10可以为金属-绝缘层-半导体(metalinsulator semi-conductor，MIS)结构，其第一极板101可以为半导体多晶硅，第二极板102为金属钼(Mo)层，两极板共同构成了本申请实施例中的检测电容10。
继续参考图2-图4，本发明实施例提供的显示面板100还包括第一端子01、第二端子02、多个控制开关03以及多个移位寄存器04。
第一端子01用于向第一极板101传输探测信号，第二端子02用于接收第二极板102的感测信号。
第一端子01与第一极板101之间串联控制开关03，和/或，第二端子02与第二极板102之间串联控制开关03。即第一极板101与第二极板102中的至少一者与其对应的端子之间设置有控制极板同端子导通及断开的控制开关03。
为更好描述检测电容10以及检测电容10所连接的结构，将第一端子01与第一极板101之间串联的控制开关03称为第一控制开关031，第二端子02与第二极板102之间串联的控制开关03称为第二控制开关032。则在本申请的实施例中，如图2-图4所示，第一端子01与第一极板101之间串联第一控制开关031，和/或，第二端子02与第二极板102之间串联第二控制开关032。
例如，如图2所示，第一端子01与第一极板101之间串联第一控制开关031，且第二端子02与第二极板102之间串联第二控制开关032。此时，第一控制开关031控制第一端子01与第一极板101的连接状态，即第一控制开关031控制第一端子01向第一极板101传输探测信号；第二控制开关032控制第二端子02与第二极板102的连接状态，即第二控制开关032控制第二端子02接收第二极板102的感测信号。
例如，如图3所示，第一端子01与第一极板101之间串联第一控制开关031，第二端子02与第二极板102之间直接电连接。此时，第一控制开关031控制第一端子01与第一极板101的连接状态，即第一控制开关031控制第一端子01向第一极板101传输探测信号；第二端子02与第二极板102之间直接电连接，第二端子02可直接接收第二极板102的感测信号。
例如，如图4所示，第一端子01与第一极板101之间直接电连接，第二端子02与第二极板102之间串联第二控制开关032。此时，第一端子01与第一极板101之间直接电连接，第一端子01可直接向第一极板101传输探测信号；第二控制开关032控制第二端子02与第二极板102的连接状态，即第二控制开关032控制第二端子02接收第二极板102的感测信号。
需要说明的是，控制开关03可以如图2-图4所示为P型晶体管，也可以为N型晶体管或者其他类型的开关，这里不作具体限定。
如图2-图4所示，在本发明的一个实施例中，显示面板100中的检测电容10所电连接的控制开关03的控制端与移位寄存器04的输出端电连接，则控制开关03的开关状态由移位寄存器04的输出端的信号控制，即，检测电容10与其对应的至少部分端子之间是否电连接的状态是由移位寄存器04的输出端的信号控制。
以控制开关03为P型晶体管为例进行说明，当多个移位寄存器04的输出端依次输出低电位信号时，多个控制开关03将依次开启，显示面板100中的多个检测电容10可以依次工作。即，本申请的技术方案可以依次对显示面板100是否存在的裂纹、微裂纹及一些缺陷进行探测。
本技术方案，设置控制开关03的控制端与移位寄存器04的输出端电连接。不仅可以减少与控制开关03控制端连接的信号线的数量，还可以依次对显示面板100是否存在的裂纹、微裂纹及一些缺陷进行探测，从而提高产品良率。
具体的，以图2所示为例，对检测过程进行具体分析。移位寄存器04的输出端信号控制第一控制开关031开启时，第一端子01通过开启的第一控制开关031向检测电容10的第一极板101传输探测信号；移位寄存器04的输出端信号控制第二控制开关032开启，第二端子02可接收第二极板102上的感测信号。将第二端子02接收到的感测信号形成的C-V曲线与预设保存的正常工作的C-V曲线进行比较，即可通过检测电容10的C-V曲线变化对显示面板100出现的情况进行分析，可精确检测出显示面板100是否存在裂纹、微裂纹及一些缺陷等问题，有效的提高对显示面板100的检测精度，从而可提高产品良率。
需要说明的是，本发明实施例提供的裂纹检测方法既可以应用于液晶显示面板，也可以应用于有机发光二极管显示面板。随着显示技术的发展，柔性显示面板也投入市场，而柔性面板在其弯折部位很容易产生裂纹，因此本发明实施例提供的上述裂纹检测结构也推荐应用于柔性显示面板，利用该裂纹检测结构既可以检测出显示面板100中的常规裂纹，也可以检测到显示面板100中存在的微小裂纹，提高了显示面板100裂纹检测的可靠性。
图5为图1中显示面板的还一种局部放大图。
如图5所示，在本发明的一个实施例中，显示面板100的第一端子01与第一极板101之间串联第一控制开关031，且第二端子02与第二极板102之间串联第二控制开关032。其中，同一检测电容10的第一极板101与第二极板102所分别电连接的第一控制开关031与第二控制开关032中，第一控制开关031与第二控制开关032的控制端与同一移位寄存器04的输出端电连接。
此时，在同一检测电容10中，由同一移位寄存器04同时控制同一检测电容10所对应的第一控制开关031与第二控制开关032。另外，第一控制开关031与第二控制开关032可以为沟道类型相同的晶体管，则第一极板101与第二极板102所分别电连接的第一控制开关031与第二控制开关032可以同时开启或者关断，也可以理解为，当第一端子01向第一极板101传输探测信号时，第二端子02也可接收第二极板102的感测信号。
图6为图1中显示面板的另一种局部放大图。
如图6所示，第一端子01与第一极板101之间串联控制开关03，且至少两个检测电容10的第一极板101与同一第一端子01电连接。可以理解为，不同的检测电容10的第一极板101分别通过不同的控制开关03与同一第一端子01电连接，即多个检测电容10的第一极板101共用第一端子01。此时，多个控制开关03在不同移位寄存器04的控制下可以依次开启，则检测电容10的第一极板101可以依次接收探测信号。
在一种实现方式中，不同检测电容10的第二极板102可以分别与不同的第二端子02电连接，则一个第一端子01的探测信号可以通过依次开启的移位寄存器04依次传输至不同检测电容10的第一极板101，且不同的第二端子02可以同时接收各自对应的检测电容10的第二极板102上的感测信号。
图7为图1中显示面板的另一种局部放大图。
如图7所示，第二端子02与第二极板102之间串联控制开关03，且至少两个检测电容10的第二极板102与同一第二端子02电连接。可以理解为，不同的检测电容10的第二极板102分别通过不同的控制开关03与同一第二端子02电连接，即多个检测电容10的第二极板102共用第二端子02。此时，多个控制开关03在不同移位寄存器04的控制下可以依次开启，则检测电容10的第二极板102可以依次输出感测信号。
在一种实现方式中，不同检测电容10的第一极板101可以分别与不同的第一端子01电连接，则不同的第一端子01可以同时向各自对应的检测电容10的第一极板101传输探测信号，且一个第二端子02可以通过依次开启的移位寄存器04分时接收不同检测电容10的第二极板102上的感测信号。
此外，当第一端子01与第一极板101之间串联控制开关03且第二端子02与第二极板102之间串联控制开关03时，至少两个检测电容10的第一极板101与同一第一端子01电连接且至少两个检测电容10的第二极板102与同一第二端子02电连接。则一个第一端子01的探测信号可以通过依次开启的移位寄存器04依次传输至不同检测电容10的第一极板101，且一个第二端子02可以通过依次开启的移位寄存器04分时接收不同检测电容10的第二极板102上的感测信号。
图8为本发明实施例提供的一种显示面板的结构示意图，图9为本发明实施例提供的另一种显示面板的结构示意图。
如图8及图9所示，在本发明的一个实施例中，显示面板100还包括多个像素电路11、多个发光器件12及多条第一扫描线41。
多个像素电路11和多个发光器件12可以在显示面板100中沿行、沿列方向呈阵列排布，且像素电路11为发光器件12提供发光驱动电流。
图10为本发明实施例提供的一种像素电路的示意图。
如图10所示，本发明实施例提供的像素电路11包括第一晶体管M1。结合图10与图8、图9，在本申请提供的实施例中，第一扫描线41与同行设置的多个像素电路11中第一晶体管M1的栅极电连接，即第一扫描线41控制同行设置的多个像素电路11中第一晶体管M1同时开启或者关闭。
在本实施例中，多个移位寄存器04中包括级联的多个垂直移位寄存器041。其中，垂直移位寄存器041的输出端与第一扫描线41电连接，且至少部分控制开关03的控制端与垂直移位寄存器041的输出端电连接。
在本实施例中，与至少部分控制开关03的控制端电连接的垂直移位寄存器041的输出端不仅与该部分控制开关03的控制端电连接，也与第一扫描线41电连接。则该部分垂直移位寄存器041不仅控制着与检测电容10所电连接的控制开关03的开断状态，还控制着与第一扫描线41所电连接的多个像素电路11中的控制信号端S2的开断状态。
在本实施例的一个技术方案中，如图8所示，显示面板100设置的检测电容10所电连接的所有控制开关03的控制端均与垂直移位寄存器041的输出端电连接，此时，检测电容10所电连接的所有控制开关03的开断由垂直移位寄存器041输出端的信号控制。即，垂直移位寄存器041的输出端的信号可以控制控制开关03的开关状态，也可以理解为，垂直移位寄存器041输出端的信号可以控制第一端子01向第一极板101传输探测信号以及第二端子02接收第二极板102的感测信号。
在本实施例的一个技术方案中，如图9所示，显示面板100设置的检测电容10所电连接的部分控制开关03的控制端与垂直移位寄存器041的输出端电连接，其他部分的控制开关03与除垂直移位寄存器041外的其他元件05或信号线电连接。
在本实施例的一种实现方式中，如图10所示，显示面板100中的像素电路11包括数据写入晶体管T1、驱动晶体管T2、复位晶体管T0、T3、阈值抓取晶体管T4、电源电压写入晶体管T5、发光控制晶体管T6及存储电容C0。像素电路11的输出端与发光器件12电连接。
其中，复位晶体管T0、T3的第一极均可以接受复位电压Vref，复位晶体管T0的第二极与驱动晶体管T2的栅极电连接，用于对驱动晶体管T2的栅极进行复位；复位晶体管T3的第二极与像素电路11的输出端电连接，用于对发光器件12进行复位。数据写入晶体管T1的第一极与数据信号端Data电连接、第二极与驱动晶体管T2的第一极电连接；阈值抓取晶体管T4的第一极与驱动晶体管T2的第二极电连接、第二极与驱动晶体管T2的栅极电连接，数据写入晶体管T1与阈值抓取晶体管T4配合将数据信号端Data的数据电压写入驱动晶体管T2的栅极。电源电压写入晶体管T5的第一极接收电源电压PVDD、第二极与驱动晶体管T2的第一极电连接；发光控制晶体管T6的第一极与驱动晶体管T2的第二极电连接、第二极与发光器件12电连接。存储电容C0的一个极板接收电源电压，且另一个极板与驱动晶体管T2的栅极电连接。
结合图8-图10，在本申请实施例中，垂直移位寄存器041的输出端可以为像素电路11中的第一晶体管M1提供控制信号。
第一晶体管M1可以为用于将数据电压写入驱动晶体管T2的数据写入晶体管，也就是说，第一晶体管M1可以为数据电压写入晶体管T1或者阈值抓取晶体管T4。则垂直移位寄存器041可以控制像素电路11中的第一晶体管M1开启，将数据电压写入驱动晶体管T2。
则在本实现方式中，多个检测电容10所分别连接的多个控制开关03中，至少部分控制开关03的控制端与数据电压写入晶体管T1和/或控制阈值抓取晶体管T4的控制端电连接，即该至少部分控制开关03的控制端与为数据电压写入晶体管T1和/或控制阈值抓取晶体管T4提供控制信号的垂直移位寄存器041的输出端所电连接。
如图8所示，本发明实施例提供了一种显示面板100，显示面板100中包括级联的多个垂直移位寄存器041，各垂直移位寄存器041的输出端分别与不同的检测电容10所电连接的控制开关03的控制端电连接。则各个垂直移位寄存器041分别对应着不同的检测电容10。可选的，垂直移位寄存器041与检测电容10可以如图8所示为一一对应的关系。此时，每个垂直移位寄存器041的输出端既电连接第一扫描线41，又电连接控制开关03的控制端。
图11为本发明实施例提供的再一种显示面板的结构示意图。
如图11所示，本发明实施例提供了一种显示面板100，显示面板100中包括级联的多个垂直移位寄存器041。其中，部分垂直移位寄存器041的输出端与检测电容10所电连接的控制开关03的控制端电连接。垂直移位寄存器041与检测电容10如图11所示不是一一对应的关系，此时，一部分垂直移位寄存器041的输出端既电连接第一扫描线41又电连接控制开关03的控制端；其他的垂直移位寄存器041的输出端可以只与第一扫描线41电连接。
图12为本发明实施例提供的还一种显示面板的结构示意图。
如图12所示，本发明实施例提供的显示面板100还包括多个像素电路11、多个发光器件12及多条第一信号线42。
多个像素电路11和多个发光器件12在显示面板100中沿行、沿列方向呈阵列排布，且像素电路11为发光器件12提供发光驱动电流。
具体的，结合图10所示的像素电路11为例，本发明实施例提供的像素电路11包括数据电压写入晶体管T1。参考图10及图12，在本申请提供的实施例中，多条第一信号线42与同列设置的多个像素电路11中数据电压写入晶体管T1的输入端电连接；即第一信号线42与同列设置的多个像素电路11中的数据信号端Data电连接。
在本申请的一个实施例中，多个移位寄存器04中包括级联的多个水平移位寄存器042，其中，水平移位寄存器042位于第一信号线42的一端。需要说明的是，因显示面板100下边框结构特殊，水平移位寄存器042一般设置于如图12所示的第一信号线42的上端，即水平移位寄存器042设置在显示面板的上边框。
如图12所示，本发明实施例提供了一种显示面板100，显示面板100中包括级联的多个水平移位寄存器042，各水平移位寄存器042的输出端分别与不同的检测电容10所电连接的控制开关03的控制端电连接。则各个水平移位寄存器042分别对应着不同的检测电容10。
可选的，水平移位寄存器042与检测电容10可以如图12所示为一一对应的关系。此时，各个水平移位寄存器042的输出端均电连接控制开关03的控制端，各个水平移位寄存器042的输出端的电位信号分别控制与其自身电连接的控制开关03的开关状态。
以控制开关03为P型晶体管为例进行说明，当水平移位寄存器042的输出端依次输出低电位信号时，与其电连接的控制开关03将依次开启，显示面板100中的多个检测电容10可以依次工作。即，依次对显示面板100是否存在的裂纹、微裂纹及一些缺陷进行探测，从而提高产品良率。
在本实施例的一种实现方式中，如图12所示，所有的控制开关03的控制端均可以与水平移位寄存器042的输出端电连接。
图13为本发明实施例提供的还一种显示面板的结构示意图。
在本实施例的一种实现方式中，如图13所示，部分控制开关03的控制端均可以与水平移位寄存器042的输出端电连接，且部分控制开关03的控制端可以与垂直移位寄存器041的输出端电连接。
图14为本发明实施例提供的又一种显示面板的结构示意图。图15为本发明实施例提供的又一种显示面板的结构示意图，图16为本发明实施例提供的又一种显示面板的结构示意图。
如图14-图16所示，在本申请的一个实施例中至少部分检测电容10设置在显示面板100的非显示区NA。
在本实施例的一个实现方式中，如图14所示，所有检测电容10均设置在显示面板100的非显示区NA。在本技术方案中，将所有的检测电容10都设置在显示面板100的非显示区NA，可以通过检测电容10检测显示面板100在非显示区NA中是否存在裂纹、微裂纹及一些缺陷，从而提高应用该显示面板100的显示屏的产品良率。
在本实施例的一个实现方式中，如图15及图16所示，部分检测电容10设置在显示面板100的非显示区NA。在本技术方案中，将部分检测电容10设置在显示面板100的非显示区NA，可以通过该部分检测电容10检测显示面板100在非显示区NA中是否有裂纹、微裂纹及一些缺陷，从而提高应用该显示面板100的显示屏的产品良率。
在本实施例对应的一种技术方案中，设置在非显示区NA的至少部分检测电容10位于移位寄存器04所在区域与显示区AA之间。如图15所示，显示面板100的非显示区NA设置部分检测电容10与移位寄存器04，且该些检测电容10中的至少部分位于移位寄存器04所在区域与显示区AA之间。
在本实施例对应的一种技术方案中，设置在非显示区NA的至少部分检测电容10位于移位寄存器04所在区域远离显示区AA的一侧。如图16所示，显示面板100的非显示区NA设置检测电容10与移位寄存器04，且该些检测电容10中的至少部分位于移位寄存器04所在区域远离显示区AA的一侧。
图17为本发明实施例提供的又一种显示面板的结构示意图。
在本申请的一种实施例中，如图15-图17所示，至少部分检测电容10设置在显示面板100的显示区AA。
在本实施例的一个实现方式中，如图15及图16所示，部分检测电容10设置在显示面板100的显示区AA。在本技术方案中，将部分检测电容10设置在显示面板100的显示区AA，可以通过该部分检测电容10检测显示面板100在显示区AA中是否存在裂纹、微裂纹及一些缺陷，从而提高应用该显示面板100的显示屏的产品良率。
在本实施例的一个实现方式中，如图17所示，所有检测电容10均设置在显示面板100的显示区AA。在本技术方案中，将所有的检测电容10都设置在显示面板100的显示区AA，可以通过检测电容10检测显示面板100在显示区AA中是否存在裂纹、微裂纹及一些缺陷，从而提高应用该显示面板100的显示屏的产品良率。
图18为本发明实施例提供的又一种显示面板的结构示意图。
如图18所示，本发明实施例提供的显示面板100的显示区AA包括多个子像素13，子像素13包括像素电路11及发光器件12。检测电容10设置在相邻的子像素13之间的区域。
在本技术方案中，在显示面板100的显示区AA设置至少部分的检测电容10，且检测电容10设置在相邻的子像素13之间的区域。具体的，显示面板100的显示区AA中有多个子像素13，多个子像素13之间会有一些空白区域，可以将检测电容10设置在这些空白区域，用于检测显示面板100在显示区AA是否存在裂纹、微裂纹以及一些其他缺陷，从而提高应用该显示面板100的显示屏的产品良率。
需要说明的是，当至少部分检测电容10设置在显示面板100的显示区AA内时，该些检测电容10电连接的控制开关03的控制端所电连接的移位寄存器04设置在非显示区NA。
图19为本发明实施例提供的一种显示面板的局部剖面图。
如图19所示，本发明实施例提供的显示面板100包括多个晶体管44，晶体管44包括栅极g及有源层16。显示面板100中的检测电容10包括第一极板101与第二极板102，在第一极板101与第二极板102中，一者与栅极g同层设置，另一者与有源层16同层设置。
例如，如图19所示，第一极板101可以与晶体管44的栅极g同层设置，且第二极板102可以与晶体管44的有源层16同层设置。此外，第一极板101可以与晶体管44的有源层16同层设置，且第二极板102可以与晶体管44的栅极g同层设置。
以图19所示为例，第一极板101与第二极板102在沿显示面板100的厚度方向上有交叠，交叠的部分形成了检测电容10。测试检测电容10的C-V曲线并将检测电容10的C-V曲线与预设保存的正常工作的C-V曲线进行比较，即可通过检测电容10的C-V曲线变化对显示面板100出现的情况进行分析，可精确检测出显示面板100是否存在裂纹、微裂纹及一些缺陷等问题，有效的提高对显示面板100的检测精度，从而可提高产品良率。
图20为本发明实施例提供的一种显示装置的示意图。
如图20所示，本申请实施例还提供了一种显示装置，包括如上述任意一个实施例提供的显示面板100以及壳体，其中，壳体形成容置空间，用于容纳显示面板，壳体可以是硬质的，也可以是柔性的，本发明对此不作具体限制。可以理解的是，本发明实施例提供的显示装置，可以是电脑、电视、车载显示装置等其他具有显示功能的显示装置，本发明对此不作具体限制。
本发明实施例提供的显示装置，通过在显示面板100上设置检测电容10、第一端子01、第二端子02、控制开关03及与控制开关03的控制端电连接的移位寄存器04，得到检测电容10的C-V曲线，将该C-V曲线与预设保存的显示面板100正常工作的C-V曲线进行比较，通过检测电容10的C-V曲线变化对显示面板100出现的情况进行分析，可精确检测出显示面板100是否存在裂纹、微裂纹及一些缺陷等问题，有效的提高对显示面板100的检测精度，从而可提高产品良率。
以上所述仅为本申请的较佳实施例而已，并不用以限制本申请，凡在本申请的精神和原则之内，所做的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本申请保护的范围之内。
Claims (17)
1.一种显示面板，其特征在于，包括：
多个检测电容，所述检测电容包括第一极板与第二极板；
第一端子和第二端子，所述第一端子用于向所述第一极板传输探测信号，所述第二端子用于接收所述第二极板的感测信号；
多个控制开关，所述第一端子与所述第一极板之间串联所述控制开关，和/或，所述第二端子与所述第二极板之间串联所述控制开关；
多个移位寄存器，所述控制开关的控制端与所述移位寄存器的输出端电连接。
2.根据权利要求1所述的显示面板，其特征在于，所述第一端子与所述第一极板之间串联所述控制开关，且所述第二端子与所述第二极板之间串联所述控制开关；
其中，同一所述检测电容的所述第一极板与所述第二极板所分别电连接的控制开关中，各所述控制开关的控制端与同一所述移位寄存器的输出端电连接。
3.根据权利要求1所述的显示面板，其特征在于，所述第一端子与所述第一极板之间串联所述控制开关，且至少两个所述检测电容的第一极板与同一所述第一端子电连接。
4.根据权利要求1所述的显示面板，其特征在于，所述第二端子与所述第二极板之间串联所述控制开关，且至少两个所述检测电容的第二极板与同一所述第二端子电连接。
5.根据权利要求1所述的显示面板，其特征在于，所述显示面板还包括：
沿行方向、沿列方向阵列排布的多个像素电路，所述像素电路中包括第一晶体管；
多条第一扫描线，所述第一扫描线与同行设置的多个所述像素电路中所述第一晶体管的栅极电连接；
其中，所述多个移位寄存器中包括级联的多个垂直移位寄存器，所述垂直移位寄存器的输出端与所述第一扫描线电连接，且至少部分所述控制开关的控制端与所述垂直移位寄存器的输出端电连接。
6.根据权利要求5所述的显示面板，其特征在于，所述像素电路中还包括驱动晶体管，所述第一晶体管用于将数据电压写入所述驱动晶体管。
7.根据权利要求5所述的显示面板，其特征在于，所述级联的多个垂直移位寄存器中，各所述垂直移位寄存器的输出端分别与不同的所述检测电容所电连接的所述控制开关的控制端电连接。
8.根据权利要求5所述的显示面板，其特征在于，所述级联的多个垂直移位寄存器中，部分所述垂直移位寄存器的输出端与所述检测电容所电连接的所述控制开关的控制端电连接。
9.根据权利要求1所述的显示面板，其特征在于，所述显示面板还包括：
沿行方向、沿列方向阵列排布的多个像素电路，所述像素电路中包括第一晶体管；
多条第一信号线，所述第一信号线与同列设置的多个所述像素电路中所述第一晶体管的输入端电连接；
所述多个移位寄存器中包括级联的多个水平移位寄存器，所述水平移位寄存器位于所述第一信号线的一端。
10.根据权利要求1所述的显示面板，其特征在于，所述级联的多个水平移位寄存器中，各所述水平移位寄存器的输出端分别与不同的所述检测电容所电连接的所述控制开关的控制端电连接。
11.根据权利要求1所述的显示面板，其特征在于，至少部分所述检测电容设置在所述显示面板的非显示区。
12.根据权利要求11所述的显示面板，其特征在于，设置在所述非显示区的至少部分所述检测电容位于所述移位寄存器所在区域与所述显示区之间。
13.根据权利要求11所述的显示面板，其特征在于，设置在所述非显示区的至少部分所述检测电容位于所述移位寄存器所在区域远离所述显示区的一侧。
14.根据权利要求1所述的显示面板，其特征在于，至少部分所述检测电容设置在所述显示面板的显示区。
15.根据权利要求14所述的显示面板，其特征在于，所述显示区包括多个子像素，所述检测电容设置在相邻的所述子像素之间的区域。
16.根据权利要求1所述的显示面板，其特征在于，所述显示面板包括多个晶体管，所述晶体管包括栅极及有源层；
所述第一极板与所述第二极板中，一者与所述栅极同层设置，另一者与所述有源层同层设置。
17.一种显示装置，其特征在于，包括如权利要求1-16任意一项所述的显示面板。
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| CN202210743363.9A CN115116389A (zh) | 2022-06-27 | 2022-06-27 | 一种显示面板及显示装置 |
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| Publication Number | Publication Date |
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- 2022-06-27 CN CN202210743363.9A patent/CN115116389A/zh active Pending
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