CN115079045A - 一种前工序图像自动检测短断路装置 - Google Patents

Abstract

本发明涉及一种前工序图像自动检测短断路装置，涉及显示设备监测技术领域，包括箱体，真空检测箱，其设置在所述箱体内中部，真空检测箱用以放置经前工序工艺流程制备完成的待检测件；紫外线光源，其设置在所述箱体内相对于所述真空检测箱体的下部，紫外线光源用以在对待检测件进行检测时，照射所述待检测件；电子显微镜，其设置在所述真空检测箱内，电子显微镜用以对经紫外线光源照射后的待检测件扫描；数据处理器，其设置在所述箱体底部并分别与所述真空泵、紫外线光源、高清摄像头、电子显微镜、显示器以及气压表连接，用以对待检测件的检测过程进行处理，提高了检测过程的检测精度，进一步提高了检测效率。

Description

一种前工序图像自动检测短断路装置

技术领域

本发明涉及显示设备监测技术领域，尤其涉及一种前工序图像自动检测短断路装置。

背景技术

传统的LCD蚀刻、脱膜后干净万用表方式由手工检测短断路；这种手工检测又慢、又没有效率，关键是效率、良率上很难在进一步突破。

现有技术也开发出了自动检测的装置，但对于LCD的缺陷检测精度不高，导致生产效率不高。

中国专利公开号CN111696106A。公开了一种显示设备的屏幕质量检测方法、装置及系统，显示设备包括信号源接口，显示设备的屏幕质量检测方法包括以下步骤：获取图像采集装置采集的显示在屏幕上的图像，所述显示在屏幕上的图像基于输入所述信号源接口的图像检测信号生成，所述图像检测信号为单色场图像信号；分析所述图像采集装置采集到的图像，以获得屏幕质量检测结果。与现有技术相比，本发明的有益效果体现在：实现电视机生产线上的屏幕质量全自动化检测，大大降低人力成本及错检漏检概率，固定生产节拍，提高生产效率；由此可见，所述显示设备的屏幕质量检测方法、装置及系统存在不能精确控制检测过程，导致检测效率低的问题。

发明内容

为此，本发明提供一种前工序图像自动检测短断路装置，用以克服现有技术中存在不能精确控制检测过程，导致检测效率低的问题。

为实现上述目的，本发明提供一种前工序图像自动检测短断路装置，包括箱体：

真空检测箱，其设置在所述箱体内中部，真空检测箱用以放置经前工序工艺流程制备完成的待检测件；

真空泵，其设置在所述箱体内部的一侧侧壁上且与所述真空检测箱经管道连接，真空泵用以在对待检测件进行检测时，将所述真空检测箱内抽至负压真空状态；

紫外线光源，其设置在所述箱体内相对于所述真空检测箱体的下部，紫外线光源用以在对待检测件进行检测时，照射所述待检测件；

高清摄像头，其设置在所述真空检测箱内上部，高清摄像头用以确定放置在所述真空检测箱内的待检测件的位置；

电子显微镜，其设置在所述真空检测箱内，电子显微镜用以对经紫外线光源照射后的待检测件扫描；

显示器，其设置在所述箱体内上部，显示器用以实时显示电子显微镜扫描的待检测件的扫描图像；

数据处理器，其设置在所述箱体底部并分别与所述真空泵、紫外线光源、高清摄像头、电子显微镜、显示器以及气压表连接，用以对待检测件的检测过程进行处理。

进一步地，所述数据处理器在所述真空检测箱内安放所述待检测件时，控制所述真空泵对所述真空检测箱抽真空至预设负压值W。

进一步地，所述数据处理器在所述真空检测箱内安放所述待检测件时，控制所述高清摄像头对所述待检测件进行拍摄，并将所述高清摄像头的拍摄图像进行分析，确定所述待检测件中的线路层数U，并根据该线路层数与预设线路层数的比对结果确定所述紫外线光源的亮度递减值，

其中，所述数据处理器中设置有第一预设线路层数U1、第二预设线路层数U2、第一亮度递减值R1、第二亮度递减值R2以及第三亮度递减值R3，其中U1＜U2，R1＜R2＜R3，

当U≤U1时，所述数据处理器将所述亮度递减值设置为R1；

当U1＜U≤U2时，所述数据处理器将所述亮度递减值设置为R2；

当U＞U2时，所述数据处理器将所述亮度递减值为R3。

进一步地，所述数据处理器在确定所述紫外线光源的亮度递减值完成时，以初始亮度值Ra照射所述待检测件，并在检测所述待检测件单层线路完成时，以确定的亮度递减值Ri递减进行下一层检测，其中i＝1，2，3。

进一步地，所述数据处理器在对各线路层进行检测时，将所述电子显微镜的扫描图像进行灰度处理，根据该灰度图像灰度差异确定所述扫描图像中的单层线路的轨迹，并在确定线路轨迹完成时确定在该线路轨迹上是否存在与该线路轨迹存在灰度差的缺陷点，所述数据处理模块在确定所述缺陷点时，计算线路轨迹的灰度值Rg和缺陷点的灰度值Rq的灰度差ΔR，设定ΔR＝|Rg-Rq|,并根据该灰度差和预设灰度差ΔR0的比对结果确定所述待检测件是否存在缺陷点，

若ΔR＜ΔR0，所述数据处理器判定所述待检测件不存在缺陷点；

若ΔR≥ΔR0，所述数据处理器判定所述待检测件存在缺陷点。

进一步地，所述数据处理器在判定所述待检测件存在缺陷点时，计算所述灰度差和预设灰度差的灰度差的差值C，并根据该灰度差的差值与预设差值的比对结果确定所述缺陷点的种类，

其中，所述数据处理器中还设有第一预设差值C1、第二预设差值C2以及第三预设差值C3，

当C≤C1时，所述数据处理器确定缺陷点为缺亮；

当C1＜C≤C2时，所述数据处理器确定所述缺陷点为短路；

当C＞C2时，所述数据处理器确定所述缺陷点为断路或亮点。

进一步地，所述数据处理器在确定所述缺陷点为断路或亮点时，确定所述扫描图像中灰度差异区域的面积S，并根据该面积S和预设面积S0的比对结果确定断路或亮点，

若S＜S0，所述数据处理器确定所述缺陷点为亮点，

若S≥S0，所述数据处理器确定所述缺陷点为断路。

进一步地，所述数据处理器在对扫描图像分析过程中，获取所述待检测件的扫描图像中出现缺陷点的数量D，并将该缺陷点数量和预设缺陷点数量D0的比对结果确定缺陷点数量是否合格，

若D≤D0，所述数据处理器判定所述缺陷点数量合格，

若D＞D0，所述数据处理器判定所述缺陷点数量不合格。

进一步地，所述数据处理器在判定所述缺陷点数量不合格时，计算所述缺陷点数量和预设缺陷点数量的数量差值ΔD，设定ΔD＝D-D0，并根据该数量差值和预设数量差值的比对结果选取对应的调节系数对所述亮度递减值进行调整，

其中，所述数据处理器中还设有第一预设数量差值ΔD1、第二预设数量差值ΔD2、第一调节系数K1、第二调节系数K2以及第三调节系数K3，其中ΔD1＜ΔD2，设定1＜K1＜K2＜K3＜1.5，

当ΔD≤ΔD1时，所述数据处理器选取第一调节系数K1对所述亮度递减值进行调节；

当ΔD1＜ΔD≤ΔD2时，所述数据处理器选取第二调节系数K2对所述亮度递减值进行调节；

当ΔD＞ΔD2时，所述数据处理器选取第三调节系数K3对所述亮度递减值进行调节；

当所述数据处理器选取第j调节系数Kj对所述亮度递减值进行调节时，设定j＝1，2，3，所述数据处理器将调节后的亮度递减值设置为R4，设定R4＝Ri×Kj。

与现有技术相比，本发明的有益效果在于，本发明通过设置真空检测箱，并在检测过程中对真空检测箱抽真空，使检测过程保持在一个洁净的环境下，从而保证检测过程不受外界因素影响，提高了检测过程的检测精度，通过在待检测件底部设置紫外线光源照射，从而使电子显微镜能够精准检测待检测件，通过数据处理器获取电子显微镜图像并和数据处理器中的预设图像数据进行比对，确定待检测件的缺陷点，提高了检测过程的检测精度，进一步提高了检测效率。

进一步地，本发明通过在检测过程中，获取高清摄像头的拍摄图像，并根据高清图像的分析结果确定待检测件的线路层数，从而根据线路层数确定亮度递减值，进一步提高了检测过程的检测精度，从而进一步提高了检测效率。

进一步地，本发明通过在检测过程中设置初始亮度值，在进行下层线路检测时，通过亮度递减值的递减，区分上下层线路，进一步提高了检测过程的检测精度，从而进一步提高了检测效率。

进一步地，本发明通过在检测过程中对扫描图像进行灰度处理，根据图像中的灰度差异的部分确定待检测件的缺陷点，并根据灰度差的差值和多个预设差值的比对结果确定待检测件的缺陷点，进一步提高了检测过程的检测精度，从而进一步提高了检测效率。

进一步地，本发明通过在检测过程中确定单个待检测件的单层线路中的缺陷点数量和预设数量的比对结果确定缺陷点是否合格，并在缺陷点不合格时，根据计算的缺陷点数量的差值与多个预设差值的比对结果选取对应的调节系数对亮度递减值进行调节，以进一步确定是否因亮度不合格导致的检测的缺陷点数量超标，进一步提高了检测过程的检测精度，从而进一步提高了检测效率。

附图说明

图1为本发明所述前工序图像自动检测短断路装置的结构示意图。

具体实施方式

为了使本发明的目的和优点更加清楚明白，下面结合实施例对本发明作进一步描述；应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用于解释本发明，并不用于限定本发明。

下面参照附图来描述本发明的优选实施方式。本领域技术人员应当理解的是，这些实施方式仅仅用于解释本发明的技术原理，并非在限制本发明的保护范围。

需要说明的是，在本发明的描述中，术语“上”、“下”、“左”、“右”、“内”、“外”等指示的方向或位置关系的术语是基于附图所示的方向或位置关系，这仅仅是为了便于描述，而不是指示或暗示所述装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本发明的限制。

此外，还需要说明的是，在本发明的描述中，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通。对于本领域技术人员而言，可根据具体情况理解上述术语在本发明中的具体含义。

请参阅图1所示，其为本发明所述前工序图像自动检测短断路装置的结构示意图。

本发明实施例前工序图像自动检测短断路装置，包括：

箱体1，

真空检测箱2，其设置在所述箱体内中部，真空检测箱用以放置经前工序工艺流程制备完成的待检测件；

真空泵3，其设置在所述箱体内部的一侧侧壁上且与所述真空检测箱经管道连接，真空泵用以在对待检测件进行检测时，将所述真空检测箱内抽至负压真空状态；

紫外线光源4，其设置在所述箱体内相对于所述真空检测箱体的下部，紫外线光源用以在对待检测件进行检测时，照射所述待检测件；

高清摄像头5，其设置在所述真空检测箱内上部，高清摄像头用以确定放置在所述真空检测箱内的待检测件的位置；

电子显微镜6，其设置在所述真空检测箱内，电子显微镜用以对经紫外线光源照射后的待检测件扫描；

显示器7，其设置在所述箱体内上部，显示器用以实时显示电子显微镜扫描的待检测件的扫描图像；

数据处理器8，其设置在所述箱体底部并分别与所述真空泵3、紫外线光源4、高清摄像头5、电子显微镜6、显示器7以及负压表9连接，用以对待检测件的检测过程进行处理；

具体而言，所述真空检测箱外部设置有与真空检测箱连接的用以检测真空检测箱内负压的负压表9；

本发明实施例前工序图像自动检测短断路装置，所述数据处理器在所述真空检测箱内安放所述待检测件时，控制所述真空泵对所述真空检测箱抽真空至预设负压值W。

本发明实施例前工序图像自动检测短断路装置，所述数据处理器在所述真空检测箱内安放所述待检测件时，控制所述高清摄像头对所述待检测件进行拍摄，并将所述高清摄像头的拍摄图像进行分析，确定所述待检测件中的线路层数U，并根据该线路层数与预设线路层数的比对结果确定所述紫外线光源的亮度递减值，

其中，所述数据处理器中设置有第一预设线路层数U1、第二预设线路层数U2、第一亮度递减值R1、第二亮度递减值R2以及第三亮度递减值R3，其中U1＜U2，R1＜R2＜R3，

当U≤U1时，所述数据处理器将所述亮度递减值设置为R1；

当U1＜U≤U2时，所述数据处理器将所述亮度递减值设置为R2；

当U＞U2时，所述数据处理器将所述亮度递减值为R3。

本发明实施例前工序图像自动检测短断路装置，所述数据处理器在确定所述紫外线光源的亮度递减值完成时，以初始亮度值Ra照射所述待检测件，并在检测所述待检测件单层线路完成时，以确定的亮度递减值Ri递减进行下一层检测，其中i＝1，2，3。

本发明实施例前工序图像自动检测短断路装置，所述数据处理器在对各线路层进行检测时，将所述电子显微镜的扫描图像进行灰度处理，根据该灰度图像灰度差异确定所述扫描图像中的单层线路的轨迹，并在确定线路轨迹完成时确定在该线路轨迹上是否存在与该线路轨迹存在灰度差的缺陷点，所述数据处理模块在确定所述缺陷点时，计算线路轨迹的灰度值Rg和缺陷点的灰度值Rq的灰度差ΔR，设定ΔR＝|Rg-Rq|，并根据该灰度差和预设灰度差ΔR0的比对结果确定所述待检测件是否存在缺陷点，

若ΔR＜ΔR0，所述数据处理器判定所述待检测件不存在缺陷点；

若ΔR≥ΔR0，所述数据处理器判定所述待检测件存在缺陷点。

具体而言，所述数据处理器在判定所述待检测件存在缺陷点时，计算所述灰度差和预设灰度差的灰度差的差值C，并根据该灰度差的差值与预设差值的比对结果确定所述缺陷点的种类，

其中，所述数据处理器中还设有第一预设差值C1、第二预设差值C2以及第三预设差值C3，

当C≤C1时，所述数据处理器确定缺陷点为缺亮；

当C1＜C≤C2时，所述数据处理器确定所述缺陷点为短路；

当C＞C2时，所述数据处理器确定所述缺陷点为断路或亮点。

具体而言，所述数据处理器在确定所述缺陷点为断路或亮点时，确定所述扫描图像中灰度差异区域的面积S，并根据该面积S和预设面积S0的比对结果确定断路或亮点，

若S＜S0，所述数据处理器确定所述缺陷点为亮点，

若S≥S0，所述数据处理器确定所述缺陷点为断路。

本发明实施例前工序图像自动检测短断路装置，所述数据处理器在对扫描图像分析过程中，获取所述待检测件的扫描图像中出现缺陷点的数量D，并将该缺陷点数量和预设缺陷点数量D0的比对结果确定缺陷点数量是否合格，

若D≤D0，所述数据处理器判定所述缺陷点数量合格，

若D＞D0，所述数据处理器判定所述缺陷点数量不合格。

具体而言，所述数据处理器在判定所述缺陷点数量不合格时，计算所述缺陷点数量和预设缺陷点数量的数量差值ΔD，设定ΔD＝D-D0，并根据该数量差值和预设数量差值的比对结果选取对应的调节系数对所述亮度递减值进行调整，

其中，所述数据处理器中还设有第一预设数量差值ΔD1、第二预设数量差值ΔD2、第一调节系数K1、第二调节系数K2以及第三调节系数K3，其中ΔD1＜ΔD2，设定1＜K1＜K2＜K3＜1.5，

当ΔD≤ΔD1时，所述数据处理器选取第一调节系数K1对所述亮度递减值进行调节；

当ΔD1＜ΔD≤ΔD2时，所述数据处理器选取第二调节系数K2对所述亮度递减值进行调节；

当ΔD＞ΔD2时，所述数据处理器选取第三调节系数K3对所述亮度递减值进行调节；

当所述数据处理器选取第j调节系数Kj对所述亮度递减值进行调节时，设定j＝1，2，3，所述数据处理器将调节后的亮度递减值设置为R4，设定R4＝Ri×Kj。

具体而言，所述数据处理器在对所述亮度递减值调节完成时，若所述缺陷点数量无变化，则所述数据处理器根据所述数量差值选取对应的补偿系数对所述初始亮度进行补偿，

其中，所述数据处理器中设置有第一补偿系数B1、第二补偿系数B2以及第三补偿系数B3，设定1＜B1＜B2＜B3＜1.2，

当ΔD≤ΔD1时，所述数据处理器选取第一补偿系数B1对所述初始亮度进行补偿；

当ΔD1＜ΔD≤ΔD2时，所述数据处理器选取第二补偿系数B2对所述初始亮度进行补偿；

当ΔD＞ΔD2时，所述数据处理器选取第三补偿系数B3对所述初始亮度进行补偿；

当所述数据处理器选取第e调节系数Be对所述初始亮度进行补偿时，设定e＝1，2，3，所述数据处理器将补偿后的亮度设置为Rb，设定Rb＝Ra×Bj。

具体而言，当所述数据处理器对所述初始亮度补偿完成时，以补偿后亮度照射待检测件，若待检测件上缺陷点数量无变化，则判定所述待检测件存在对应的缺陷，为不合格件。

至此，已经结合附图所示的优选实施方式描述了本发明的技术方案，但是，本领域技术人员容易理解的是，本发明的保护范围显然不局限于这些具体实施方式。在不偏离本发明的原理的前提下，本领域技术人员可以对相关技术特征做出等同的更改或替换，这些更改或替换之后的技术方案都将落入本发明的保护范围之内。

以上所述仅为本发明的优选实施例，并不用于限制本发明；对于本领域的技术人员来说，本发明可以有各种更改和变化。凡在本发明的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。

Claims (9)

1.一种前工序图像自动检测短断路装置，包括箱体，其特征在于，还包括：

真空检测箱，其设置在所述箱体内中部，真空检测箱用以放置经前工序工艺流程制备完成的待检测件；

真空泵，其设置在所述箱体内部的一侧侧壁上且与所述真空检测箱经管道连接，真空泵用以在对待检测件进行检测时，将所述真空检测箱内抽至负压真空状态；

紫外线光源，其设置在所述箱体内相对于所述真空检测箱体的下部，紫外线光源用以在对待检测件进行检测时，照射所述待检测件；

高清摄像头，其设置在所述真空检测箱内上部，高清摄像头用以确定放置在所述真空检测箱内的待检测件的位置；

电子显微镜，其设置在所述真空检测箱内，电子显微镜用以对经紫外线光源照射后的待检测件扫描；

显示器，其设置在所述箱体内上部，显示器用以实时显示电子显微镜扫描的待检测件的扫描图像；

数据处理器，其设置在所述箱体底部并分别与所述真空泵、紫外线光源、高清摄像头、电子显微镜、显示器以及气压表连接，用以对待检测件的检测过程进行处理。

2.根据权利要求1所述的前工序图像自动检测短断路装置，其特征在于，所述数据处理器在所述真空检测箱内安放所述待检测件时，控制所述真空泵对所述真空检测箱抽真空至预设负压值W。

3.根据权利要求2所述的前工序图像自动检测短断路装置，其特征在于，所述数据处理器在所述真空检测箱内安放所述待检测件时，控制所述高清摄像头对所述待检测件进行拍摄，并将所述高清摄像头的拍摄图像进行分析，确定所述待检测件中的线路层数U，并根据该线路层数与预设线路层数的比对结果确定所述紫外线光源的亮度递减值，

其中，所述数据处理器中设置有第一预设线路层数U1、第二预设线路层数U2、第一亮度递减值R1、第二亮度递减值R2以及第三亮度递减值R3，其中U1＜U2，R1＜R2＜R3，

当U≤U1时，所述数据处理器将所述亮度递减值设置为R1；

当U1＜U≤U2时，所述数据处理器将所述亮度递减值设置为R2；

当U＞U2时，所述数据处理器将所述亮度递减值为R3。

4.根据权利要求3所述的前工序图像自动检测短断路装置，其特征在于，所述数据处理器在确定所述紫外线光源的亮度递减值完成时，以初始亮度值Ra照射所述待检测件，并在检测所述待检测件单层线路完成时，以确定的亮度递减值Ri递减进行下一层检测，其中i＝1，2，3。

5.根据权利要求4所述的前工序图像自动检测短断路装置，其特征在于，所述数据处理器在对各线路层进行检测时，将所述电子显微镜的扫描图像进行灰度处理，根据该灰度图像灰度差异确定所述扫描图像中的单层线路的轨迹，并在确定线路轨迹完成时确定在该线路轨迹上是否存在与该线路轨迹存在灰度差的缺陷点，所述数据处理模块在确定所述缺陷点时，计算线路轨迹的灰度值Rg和缺陷点的灰度值Rq的灰度差ΔR，设定ΔR＝|Rg-Rq|，并根据该灰度差和预设灰度差ΔR0的比对结果确定所述待检测件是否存在缺陷点，

若ΔR＜ΔR0，所述数据处理器判定所述待检测件不存在缺陷点；

若ΔR≥ΔR0，所述数据处理器判定所述待检测件存在缺陷点。

6.根据权利要求5所述的前工序图像自动检测短断路装置，其特征在于，所述数据处理器在判定所述待检测件存在缺陷点时，计算所述灰度差和预设灰度差的灰度差的差值C，并根据该灰度差的差值与预设差值的比对结果确定所述缺陷点的种类，

其中，所述数据处理器中还设有第一预设差值C1、第二预设差值C2以及第三预设差值C3，

当C≤C1时，所述数据处理器确定缺陷点为缺亮；

当C1＜C≤C2时，所述数据处理器确定所述缺陷点为短路；

当C＞C2时，所述数据处理器确定所述缺陷点为断路或亮点。

7.根据权利要求6所述的前工序图像自动检测短断路装置，其特征在于，所述数据处理器在确定所述缺陷点为断路或亮点时，确定所述扫描图像中灰度差异区域的面积S，并根据该面积S和预设面积S0的比对结果确定断路或亮点，

若S＜S0，所述数据处理器确定所述缺陷点为亮点，

若S≥S0，所述数据处理器确定所述缺陷点为断路。

8.根据权利要求7所述的前工序图像自动检测短断路装置，其特征在于，所述数据处理器在对扫描图像分析过程中，获取所述待检测件的扫描图像中出现缺陷点的数量D，并将该缺陷点数量和预设缺陷点数量D0的比对结果确定缺陷点数量是否合格，

若D≤D0，所述数据处理器判定所述缺陷点数量合格，

若D＞D0，所述数据处理器判定所述缺陷点数量不合格。

9.根据权利要求8所述的前工序图像自动检测短断路装置，其特征在于，所述数据处理器在判定所述缺陷点数量不合格时，计算所述缺陷点数量和预设缺陷点数量的数量差值ΔD，设定ΔD＝D-D0，并根据该数量差值和预设数量差值的比对结果选取对应的调节系数对所述亮度递减值进行调整，

其中，所述数据处理器中还设有第一预设数量差值ΔD1、第二预设数量差值ΔD2、第一调节系数K1、第二调节系数K2以及第三调节系数K3，其中ΔD1＜ΔD2，设定1＜K1＜K2＜K3＜1.5，

当ΔD≤ΔD1时，所述数据处理器选取第一调节系数K1对所述亮度递减值进行调节；

当ΔD1＜ΔD≤ΔD2时，所述数据处理器选取第二调节系数K2对所述亮度递减值进行调节；

当ΔD＞ΔD2时，所述数据处理器选取第三调节系数K3对所述亮度递减值进行调节；

当所述数据处理器选取第j调节系数Kj对所述亮度递减值进行调节时，设定j＝1，2，3，所述数据处理器将调节后的亮度递减值设置为R4，设定R4＝Ri×Kj。

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