CN115078844A - Y电容的测试方法、测试设备、存储介质及处理器 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种Y电容的测试方法、测试设备、存储介质及处理器。Y电容的测试方法包括控制放电电路上的第一开关闭合,检测放电电路上的放电电阻的第一输出电压、程控电源的第二输出电压,判断第一输出电压、第二输出电压是否满足预设条件,如果是,生成测试指令,其中,测试指令用于测量并记录程控电源在不同工作模式下的多个电压值、充电电路上的充电电阻的电压值,基于程控电源在不同工作模式下的多个电压值、充电电阻的电压值,确定Y电容的电容值。采用本申请的技术方案,通过放电电路保证了初始状态Y电容两端的电压为零,而且用测量充电电阻的电压值来代替测量Y电容的电压,可以更加精确计算Y电容的数值。
Description
技术领域
本发明涉及燃料电池空气供应设备技术领域,具体而言,涉及一种Y电容的测试方法、测试设备、存储介质及处理器。
背景技术
随着环境保护意识的不断加强,电动汽车得到了快速的发展,高压系统作为电动汽车标志之一,其安全性和可靠性受到越来越多的重视。为了避免高压触电保护人员安全,大多数电动汽车的高压系统与低压系统采用隔离的设计方式,但是由于电磁干扰、客观环境等因素会导致高压系统与低压系统之间存在电容,即Y电容。因此,需要有效手段能够检测Y电容,确保Y电容储存的能量不会导致人员触电风险。
Y电容测试方法分为RESS和非RESS两类,非RESS类测试方法主要针对电动汽车内部的非RESS高压总成及电动汽车内部不包括RESS的高压系统。现有的非RESS类的Y电容测试,主要是搭建包含外部电源、开关、电阻和Y电容的回路,借助外部电源输出跳变的电压信号,观察记录Y电容的电压变化特性,分析计算Y电容的具体数值。这种测试方法存在两个缺陷:一是没有考虑测试时的初始状态,即开始测试时Y电容的电压状态,Y电容的电压变化无法体现真实特性,分析计算的Y电容数值偏小;二是测试时没有考虑整个测量回路的电阻值,会对Y电容数值产生影响。
发明内容
本发明实施例提供了一种Y电容的测试方法、测试设备、存储介质及处理器,以至少解决非RESS类的Y电容测试中Y电容数值测量结果不准确的技术问题。
根据本发明实施例的一个方面,提供了一种Y电容的测试方法,包括:控制放电电路上的第一开关闭合;检测放电电路上的放电电阻的第一输出电压、程控电源的第二输出电压;判断第一输出电压、第二输出电压是否满足预设条件;如果是,生成测试指令,其中,测试指令用于测量并记录程控电源在不同工作模式下的多个电压值、充电电路上的充电电阻的电压值;基于程控电源在不同工作模式下的多个电压值、充电电阻的电压值,确定Y电容的电容值。
可选地,生成测试指令包括:控制第一开关断开、第二开关、第三开关闭合;检测第一开关、第二开关、第三开关的工作状态;在第一开关为正常断开、第二开关、第三开关均为正常闭合的情况下,生成测试指令中的第一测试指令,第一测试指令用于测量并记录程控电源在第一工作模式下的第一电压值、充电电路上的第一充电电路中的第一充电电阻的第三电压值。
可选地,Y电容的测试方法还包括:控制第二开关、第三开关断开、第一开关闭合;检测放电电阻的第一输出电压、程控电源的第二输出电压;判断第一输出电压、第二输出电压是否满足预设条件;如果是,生成测试指令中的第二测试指令,第二测试指令用于测量并记录程控电源在第二工作模式下的第二电压值、充电电路上的第二充电电路中的第二充电电阻的第四电压值。
可选地,生成测试指令中的第二测试指令,包括:控制第一开关断开、第三开关、第四开关闭合;检测第一开关、第三开关、第四开关的工作状态;在第一开关为正常断开、第三开关、第四开关均为正常闭合的情况下,生成第二测试指令。
可选地,Y电容的测试方法还包括:控制第三开关、第四开关断开、第一开关闭合,检测放电电阻的第一输出电压、程控电源的第二输出电压;判断第一输出电压、第二输出电压是否满足预设条件;在第一输出电压、第二输出电压满足预设条件的情况下,控制第一开关断开,并生成停止测试信息。
可选地,Y电容的测试方法还包括:在第一输出电压、第二输出电压不满足预设条件的情况下,生成停止测试信息及报错信息。
可选地,基于程控电源在不同工作模式下的多个电压值、充电电阻的电压值,确定Y电容的电容值,包括:基于第三电压值、第一充电电阻的第一电阻值,确定第一充电电路的第一充电电流;基于第四电压值、第二充电电阻的第二电阻值,确定第二充电电路的第二充电电流;基于第一充电电流、第一电阻值、第一电压值、第二充电电流、第二电阻值及第二电压值确定Y电容的电容值。
根据本发明实施例的另一方面,提供了一种Y电容的测试设备,包括:控制单元,用于控制放电电路上的第一开关闭合;检测单元,用于检测放电电路上的放电电阻的第一输出电压、程控电源的第二输出电压;判断单元,用于判断第一输出电压、第二输出电压是否满足预设条件;生成单元,用于生成测试指令,其中,测试指令用于测量并记录程控电源在不同工作模式下的多个电压值、充电电路上的充电电阻的电压值;确定单元,基于程控电源在不同工作模式下的多个电压值、充电电阻的电压值,确定Y电容的电容值。
根据本发明实施例的另一方面,提供了一种计算机可读存储介质,计算机可读存储介质包括存储的程序,其中,该计算机程序被设置为运行时控制执行上述的控制方法。
根据本发明实施例的另一方面,提供了一种处理器,处理器用于运行程序,其中,处理器通过计算机程序执行上述的控制方法。
在本发明实施例中,Y电容的测试方法包括控制放电电路上的第一开关闭合,检测放电电路上的放电电阻的第一输出电压、程控电源的第二输出电压,判断第一输出电压、第二输出电压是否满足预设条件,如果是,生成测试指令,其中,测试指令用于测量并记录程控电源在不同工作模式下的多个电压值、充电电路上的充电电阻的电压值,基于程控电源在不同工作模式下的多个电压值、充电电阻的电压值,确定Y电容的电容值。采用本申请的技术方案,在Y电容的测试过程中,通过放电电路保证了初始状态Y电容两端的电压为零,而且用测量充电电阻的电压值来代替测量Y电容的电压,并估算整个充电电路、放电电路的电阻,可以更加精确计算Y电容的数值,解决了非RESS类的Y电容测试中Y电容数值测量结果不准确的技术问题。
附图说明
此处所说明的附图用来提供对本发明的进一步理解,构成本申请的一部分,本发明的示意性实施例及其说明用于解释本发明,并不构成对本发明的不当限定。在附图中:
图1是根据本发明其中一可选实施例的Y电容的测试方法的流程图;
图2是根据本发明其中一可选实施例的程控电源、Y电容测试装置以及被测高压总成之间的电路图;
图3是根据本发明其中一可选实施例的Y电容测试系统的结构框图;
图4是根据本发明其中一可选实施例的Y电容的测试设备的结构框图。
具体实施方式
为了使本技术领域的人员更好地理解本发明方案,下面将结合本发明实施例中的附图,对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本发明一部分的实施例,而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都应当属于本发明保护的范围。
需要说明的是,本发明的说明书和权利要求书及上述附图中的术语“第一”、“第二”等是用于区别类似的对象,而不必用于描述特定的顺序或先后次序。应该理解这样使用的数据在适当情况下可以互换,以便这里描述的本发明的实施例能够以除了在这里图示或描述的那些以外的顺序实施。此外,术语“包括”和“具有”以及他们的任何变形,意图在于覆盖不排他的包含,例如,包含了一系列步骤或单元的过程、方法、系统、产品或设备不必限于清楚地列出的那些步骤或单元,而是可包括没有清楚地列出的或对于这些过程、方法、产品或设备固有的其它步骤或单元。
根据本发明实施例,提供了一种Y电容的测试方法的方法实施例,需要说明的是,在附图的流程图示出的步骤可以在诸如一组计算机可执行指令的计算机系统中执行,并且,虽然在流程图中示出了逻辑顺序,但是在某些情况下,可以以不同于此处的顺序执行所示出或描述的步骤。
如图1所示是根据本申请的其中一实施例的Y电容的测试方法的流程图,如图1所示,Y电容的测试方法包括以下步骤:
S101,控制放电电路上的第一开关闭合;
S102,检测放电电路上的放电电阻的第一输出电压、程控电源的第二输出电压;
S103,判断第一输出电压、第二输出电压是否满足预设条件;
S104,如果是,生成测试指令,其中,测试指令用于测量并记录程控电源在不同工作模式下的多个电压值、充电电路上的充电电阻的电压值;
S105,基于程控电源在不同工作模式下的多个电压值、充电电阻的电压值,确定Y电容的电容值。
通过上述步骤,在Y电容的测试过程中,通过放电电路保证了初始状态Y电容两端的电压为零,而且用测量充电电阻的电压值来代替测量Y电容的电压,并估算整个充电电路、放电电路的电阻,可以更加精确计算Y电容的数值,解决了非RESS类的Y电容测试中Y电容数值测量结果不准确的技术问题。在本实施例中,预设条件被设置为在时间阈值内,第一输出电压、第二输出电压的电压均小于电压阈值1,电压阈值1根据实际情况设置,具体地,在第一输出电压、第二输出电压满足该预设条件的情况下,第一输出电压、第二输出电压的数值应为无限趋近于0,从而保证放电电路将Y电容可能存在的电压释放掉,进而保证初始状态Y电容两端的电压为零。
可选地,生成测试指令包括:控制第一开关断开、第二开关、第三开关闭合,检测第一开关、第二开关、第三开关的工作状态,在第一开关为正常断开、第二开关、第三开关均为正常闭合的情况下,生成测试指令中的第一测试指令,第一测试指令用于测量并记录程控电源在第一工作模式下的第一电压值、充电电路上的第一充电电路中的第一充电电阻的第三电压值。在本实施例中,第一开关与第三开关串联设置,且第二开关与第三开关串联设置,当第一开关断开、第二开关、第三开关闭合时,第一充电电路处于工作状态,程控电源处在第一工作模式下。在第一开关为正常断开、第二开关、第三开关均为正常闭合的情况下,再对程控电源在第一工作模式下的第一电压值、第一充电电路中的第一充电电阻的第三电压值进行测量和记录,能够保证Y电容测试结果的准确性。
可选地,Y电容的测试方法还包括:控制第二开关、第三开关断开、第一开关闭合,检测放电电阻的第一输出电压、程控电源的第二输出电压,判断第一输出电压、第二输出电压是否满足预设条件,如果是,生成测试指令中的第二测试指令,第二测试指令用于测量并记录程控电源在第二工作模式下的第二电压值、充电电路上的第二充电电路中的第二充电电阻的第四电压值。在本实施例中,在完成第一电压值、第三电压值的测量和记录以后,控制第二开关、第三开关断开、第一开关闭合,再次通过放电电路将Y电容可能存在的电压释放掉,进而保证执行第二测试指令时,初始状态下Y电容两端的电压为零,进一步保证了Y电容测试结果的准确性。
可选地,生成测试指令中的第二测试指令,包括:控制第一开关断开、第三开关、第四开关闭合,检测第一开关、第三开关、第四开关的工作状态,在第一开关为正常断开、第三开关、第四开关均为正常闭合的情况下,生成第二测试指令。其中,第四开关与第二开关并联设置。在第一开关断开、第三开关、第四开关闭合时,第二充电电路处于工作状态,程控电源处在第二工作模式下。在第一开关为正常断开、第三开关、第四开关均为正常闭合的情况下,再对程控电源在第二工作模式下的第二电压值、第二充电电路中的第二充电电阻的第四电压值进行测量和记录,进一步保证了Y电容测试结果的准确性。
可选地,Y电容的测试方法还包括:控制第四开关断开、第一开关闭合,检测放电电阻的第一输出电压、程控电源的第二输出电压,判断第一输出电压、第二输出电压是否满足预设条件,在第一输出电压、第二输出电压满足预设条件的情况下,控制第一开关断开,并生成停止测试信息。在完成第二电压值、第四电压值的测量和记录后,控制第三开关、第四开关断开、第一开关闭合,此时放电电路处于工作状态,再次通过放电电路将Y电容可能存在的电压释放掉,能够防止Y电容可能存在的电压会对人员造成触电危险,保证了测试过程的安全性。
可选地,Y电容的测试方法还包括:在第一输出电压、第二输出电压不满足预设条件的情况下,生成停止测试信息及报错信息。这样能够保证测试结果的准确性及可靠性。
可选地,基于程控电源在不同工作模式下的多个电压值、充电电阻的电压值,确定Y电容的电容值,包括:基于第三电压值、第一充电电阻的第一电阻值,确定第一充电电路的第一充电电流,基于第四电压值、第二充电电阻的第二电阻值,确定第二充电电路的第二充电电流;基于第一充电电流、第一电阻值、第一电压值、第二充电电流、第二电阻值及第二电压值确定Y电容的电容值。在本实施例中,第一电阻值、第二电阻值均为已知数值。当第一充电电路处于工作状态时,流过第一充电电阻和Y电容的电流均为第一充电电流,当第二充电电路处于工作状态时,流过第二充电电阻和Y电容的电流均为第二充电电流,基于第一充电电流、第一电阻值、第一电压值、第二充电电流、第二电阻值及第二电压值确定Y电容的电容值,而非直接测量Y电容两端的电压来确定Y电容的电容值,充分地考虑了整个Y电容测量回路的电阻值对Y电容的电容值产生的影响,从而保证了测试得到的Y电容的数值的结果更精确。
根据本申请的另一个具体实施例,还提供了一种Y电容的测试设备,如图4所示,测试设备包括控制单元41、检测单元42、判断单元43、生成单元44和确定单元45,控制单元41用于控制放电电路上的第一开关闭合,检测单元42用于检测放电电路上的放电电阻的第一输出电压、程控电源的第二输出电压,判断单元43用于判断第一输出电压、第二输出电压是否满足预设条件,生成单元44用于生成测试指令,其中,测试指令用于测量并记录程控电源在不同工作模式下的多个电压值、充电电路上的充电电阻的电压值。确定单元45则基于程控电源在不同工作模式下的多个电压值、充电电阻的电压值,确定Y电容的电容值。
在本实施例中,通过放电电路保证了初始状态Y电容两端的电压为零,而且用测量充电电阻的电压值来代替测量Y电容的电压,并估算整个充电电路、放电电路的电阻,可以更加精确计算Y电容的数值,解决了非RESS类的Y电容测试中Y电容数值测量结果不准确的技术问题。
根据本申请的另一个具体实施例,还提供了一种计算机可读存储介质,计算机可读存储介质包括存储的程序,其中,在程序运行时控制计算机可读存储介质所在设备执行上述实施例中的测试方法的步骤。
根据本申请的另一个具体实施例,还提供了一种处理器,处理器用于运行程序,其中,程序运行时执行上述实施例中的测试方法的步骤。
根据本申请的另一个具体实施例,还提供了一种Y电容测试系统,如图3所示为Y电容测试系统的结构框图。Y电容测试系统包括上位机、程控电源、Y电容测试装置及被测高压总成。其中,上位机用于控制整个Y电容测试过程,且上位机与程控电源的通讯接口连接并交互信息、与Y电容测试装置的通讯接口连接并交互信息。程控电源用于向外部输出能量,通过通讯接口与上位机连接,通过电源输出接口与Y电容测试装置连接。Y电容测试装置用于实现Y电容测试过程,分别与上位机、程控电源以及被测高压总成连接。而被测高压总成则作为Y电容测试对象,与Y电容测试装置连接。
在本申请的其中一个具体实施例中,在高压总成与低压系统之间形成有Y电容,通过测试高压总成以测量Y电容的电容值,如图2所示为程控电源、Y电容测试装置以及被测高压总成之间的电路图。其中Uc表示被测高压总成两端的电压,Us表示程控电源两端的电压。Y电容测试装置包括输入电源正、输入电源地、开关S1、电阻R1、开关S2、电阻R2、开关S3、电阻R3、输出正、输出地及通讯接口。输入电源正用于将辅助电源(本申请中的辅助电源为程控电源)正连接至Y电容测试装置。输入电源地用于将辅助电源地连接至Y电容测试装置。开关S1与电阻R1一起将输入电源正连接至输出正,由上位机控制开关S1闭合或断开,实现输入电源正与输出正之间的通断。开关S2与电阻R2一起将输入电源正连接至输出正,由上位机控制开关S2闭合或断开,实现输入电源正与输出正之间的通断。开关S3与电阻R3一起将输入电源正连接至输出正,由上位机控制开关S3闭合或断开,实现输出正与输出地之间的通断。开关S4用于将输入电源地连接至输出地,由上位机控制开关S4闭合或断开,实现输入电源地与输出地之间的通断。输出正用于将Y电容测试装置连接至被测高压总成高压带电部分。输出地用于将Y电容测试装置连接至被测高压总成外壳。通讯接口则用于上位机与Y电容测试装置之间交互信息。具体地,通讯接口包括低压供电接口、开关S1驱动接口、开关S2驱动接口、开关S3驱动接口、开关S4驱动接口、电阻R1电压信号接口、电阻R2电压信号接口和电阻R3电压信号接口。低压供电接口用于开关控制供电,包括12V电源和GND。开关S1驱动接口、用于驱动开关S1,包括开关S1两个引脚。开关S2驱动接口用于驱动开关S2,包括开关S2两个引脚。开关S3驱动接口,用于驱动开关S3,包括开关S3两个引脚。开关S4驱动接口用于驱动开关S4,包括开关S4两个引脚。电阻R1电压信号接口用于采集电阻R1电压,包括电阻R1两个引脚。电阻R2电压信号接口,用于采集电阻R2电压,包括电阻R2两个引脚。电阻R3电压信号接口用于采集电阻R3电压,包括电阻R3两个引脚。
上述Y电容测试系统用于测试Y电容的电容值,Y电容测试系统在测试过程中采用上述方法实施例中的Y电容的测试方法。用Y电容测试系统测试Y电容的电容值的步骤可以概括如下:控制闭合开关S3进行Y电容放电,Y电容电压小于电压阈值1时断开开关S3,吸合开关S1和开关S4,程控电源输出后记录电压值,程控电源停止输出并断开开关S1和开关S4,闭合开关S3进行Y电容放电,Y电容电压小于电压阈值1时断开开关S3,吸合开关S2和开关S4,程控电源输出后记录电压值,程控电源停止输出并断开开关S2和开关S4,闭合开关S3进行Y电容放电,Y电容电压小于电压阈值1时断开开关S3,Y电容测试过程结束。根据相应的记录值计算Y电容值。
具体地,上述Y电容测试系统在测试Y电容的电容值的过程中,采用上述方法实施例中的Y电容的测试方法的详细过程步骤如下:
步骤S1,启动Y电容测试;
步骤S2,检测程控电源状态,
步骤S3,检测开关S1、开关S2、开关S3、开关S4状态;
步骤S4,检测Y电容测试装置输入电压;
步骤S5,检测电阻R1电压、电阻R2电压、电阻R3电压;
步骤S6,检测Y电容测试装置输出电压;
步骤S7,闭合开关S3,并检查开关S3状态,如果开关S3正常闭合,则继续进行,否则结束测试过程并报错;
步骤S8,持续检测电阻R3电压及Y电容测试装置输出电压,若时间阈值内,电阻R3电压及Y电容测试装置输出电压小于电压阈值1,则断开开关S3,否则持续一段时间后,结束测试电过程并报错,如果开关S3正常断开,则继续进行,否则结束测试过程并报错;
步骤S9,闭合开关S1,并检查开关S1状态,如果开关S1正常闭合,则继续进行,否则结束测试过程并报错;
步骤S10、闭合开关S4,并检查开关S1状态,如果开关S4正常闭合,则继续进行,否则结束测试过程并报错;
步骤S11,发出程控电源输出跳变电压命令,记录Y电容测试装置输入电压及R1两端电压;
步骤S12,发出程控电源输出停止命令;
步骤S13,断开开关S1,并检查开关S1状态,如果开关S1正常断开,则继续进行,否则结束测试过程并报错;
步骤S14,断开开关S4,并检查开关S1状态,如果开关S4正常断开,则继续进行,否则结束测试过程并报错;
步骤S15,闭合开关S3,并检查开关S3状态,如果开关S3正常闭合,则继续进行,否则结束测试过程并报错;
步骤S16,持续检测电阻R3电压及Y电容测试装置输出电压,若时间阈值内,电阻R3电压及Y电容测试装置输出电压小于电压阈值1,则断开开关S3,否则持续一段时间后,结束测试电过程并报错,如果开关S3正常断开,则继续进行,否则结束测试过程并报错;
步骤S17,闭合开关S2,并检查开关S2状态,如果开关S2正常闭合,则继续进行,否则结束测试过程并报错;
步骤S18,闭合开关S4,并检查开关S1状态,如果开关S4正常闭合,则继续进行,否则结束测试过程并报错;
步骤S19,发出程控电源输出跳变电压命令,记录Y电容测试装置输入电压及R1两端电压;
步骤S20,发出程控电源输出停止命令;
步骤S21,断开开关S2,并检查开关S2状态,如果开关S2正常断开,则继续进行,否则结束测试过程并报错;
步骤S22,断开开关S4,并检查开关S1状态,如果开关S4正常断开,则继续进行,否则结束测试过程并报错;
步骤S23,闭合开关S3,并检查开关S3状态,如果开关S3正常闭合,则继续进行,否则结束测试过程并报错;
步骤S24,持续检测电阻R3电压及Y电容测试装置输出电压,若时间阈值内,电阻R3电压及Y电容测试装置输出电压小于电压阈值1,则断开开关S3,否则持续一段时间后,结束测试电过程并报错。至此,测试过程执行完成。
其中,开关S3为上述实施例中的第一开关,开关S1为上述实施例中的第二开关,开关S2为上述实施例中的第四开关,开关S4为上述实施例中的第三开关。电阻R1为上述实施例中的第一充电电阻,电阻R2为上述实施例中的第二充电电阻,电阻R3为上述实施例中的放电电阻。Y电容的电容值的具体计算如下:
1)某一时刻充电电阻两端电压值:
UR(t)=UR1(t)
2)某一时刻充电电阻电流:
I(t)=(UR(t))/(R1)=UR1(t)/R1
3)某一时刻电容两端电压:
Uc(t)=US(1-e-t/RC)
4)某一时刻Y电容充电电流:
I(t)=C(du)/(dt)=CUSd(1-e-t/RC)/dt=CUSe-t/RC
5)某一时刻闭合开关S1和开关S4:
I(t)=UR1(t)/R1=CUS1e-t/RC=CUS1e-t/(R1+Ri)C
6)某一时刻闭合开关S2和开关S4:
I(t)=UR2(t)/R2=CUS2e-t/RC=CUS2e-t/(R2+Ri)C
其中:R1,R2为已知电阻,某一时刻t为已知时间,US1和US2为两组时刻t程控电源输出电压值,US1也即为程控电源在第一工作模式下的第一电压值,US2也即为程控电源在第二工作模式下的第三电压值。UR1(t)为时刻t电阻R1电压值,也即为第一充电电路处于工作状态时,第一充电电阻的第三电压值。UR2(t)为时刻t电阻R2电压值,UR2(t)也即为第二充电电路处于工作状态时,第二充电电阻的第四电压值。US1和US2、UR1(t)和UR2(t)均为已知数值,由5)和6)中的公式即可以计算出电容的具体数值,即为Y电容的电容值。
上述本发明实施例序号仅仅为了描述,不代表实施例的优劣。
在本发明的上述实施例中,对各个实施例的描述都各有侧重,某个实施例中没有详述的部分,可以参见其他实施例的相关描述。
在本申请所提供的几个实施例中,应该理解到,所揭露的技术内容,可通过其它的方式实现。其中,以上所描述的装置实施例仅仅是示意性的,例如所述单元的划分,可以为一种逻辑功能划分,实际实现时可以有另外的划分方式,例如多个单元或组件可以结合或者可以集成到另一个系统,或一些特征可以忽略,或不执行。另一点,所显示或讨论的相互之间的耦合或直接耦合或通信连接可以是通过一些接口,单元或模块的间接耦合或通信连接,可以是电性或其它的形式。
所述作为分离部件说明的单元可以是或者也可以不是物理上分开的,作为单元显示的部件可以是或者也可以不是物理单元,即可以位于一个地方,或者也可以分布到多个单元上。可以根据实际的需要选择其中的部分或者全部单元来实现本实施例方案的目的。
另外,在本发明各个实施例中的各功能单元可以集成在一个处理单元中,也可以是各个单元单独物理存在,也可以两个或两个以上单元集成在一个单元中。上述集成的单元既可以采用硬件的形式实现,也可以采用软件功能单元的形式实现。
所述集成的单元如果以软件功能单元的形式实现并作为独立的产品销售或使用时,可以存储在一个计算机可读取存储介质中。基于这样的理解,本发明的技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分或者该技术方案的全部或部分可以以软件产品的形式体现出来,该计算机软件产品存储在一个存储介质中,包括若干指令用以使得一台计算机设备(可为个人计算机、服务器或者网络设备等)执行本发明各个实施例所述方法的全部或部分步骤。而前述的存储介质包括:U盘、只读存储器(ROM,Read-Only Memory)、随机存取存储器(RAM,Random Access Memory)、移动硬盘、磁碟或者光盘等各种可以存储程序代码的介质。
以上所述仅是本发明的优选实施方式,应当指出,对于本技术领域的普通技术人员来说,在不脱离本发明原理的前提下,还可以做出若干改进和润饰,这些改进和润饰也应视为本发明的保护范围。
Claims (10)
1.一种Y电容的测试方法,其特征在于,包括:
控制放电电路上的第一开关闭合;
检测所述放电电路上的放电电阻的第一输出电压、程控电源的第二输出电压;
判断所述第一输出电压、所述第二输出电压是否满足预设条件;
如果是,生成测试指令,其中,所述测试指令用于测量并记录所述程控电源在不同工作模式下的多个电压值、充电电路上的充电电阻的电压值;
基于所述程控电源在不同工作模式下的多个所述电压值、所述充电电阻的电压值,确定Y电容的电容值。
2.根据权利要求1所述的Y电容的测试方法,其特征在于,生成测试指令包括:
控制所述第一开关断开、第二开关、第三开关闭合;
检测所述第一开关、所述第二开关、所述第三开关的工作状态;
在所述第一开关为正常断开、所述第二开关、所述第三开关均为正常闭合的情况下,生成所述测试指令中的第一测试指令,所述第一测试指令用于测量并记录所述程控电源在第一工作模式下的第一电压值、所述充电电路上的第一充电电路中的第一充电电阻的第三电压值。
3.根据权利要求2所述的Y电容的测试方法,其特征在于,所述Y电容的测试方法还包括:
控制所述第二开关、所述第三开关断开、所述第一开关闭合;
检测所述放电电阻的所述第一输出电压、所述程控电源的所述第二输出电压;
判断所述第一输出电压、所述第二输出电压是否满足预设条件;
如果是,生成所述测试指令中的第二测试指令,所述第二测试指令用于测量并记录所述程控电源在第二工作模式下的第二电压值、所述充电电路上的第二充电电路中的第二充电电阻的第四电压值。
4.根据权利要求3所述的Y电容的测试方法,其特征在于,生成所述测试指令中的第二测试指令,包括:
控制所述第一开关断开、所述第三开关、第四开关闭合;
检测所述第一开关、所述第三开关、所述第四开关的工作状态;
在所述第一开关为正常断开、所述第三开关、所述第四开关均为正常闭合的情况下,生成所述第二测试指令。
5.根据权利要求4所述的Y电容的测试方法,其特征在于,所述Y电容的测试方法还包括:
控制所述第三开关、所述第四开关断开、所述第一开关闭合,
检测所述放电电阻的所述第一输出电压、所述程控电源的所述第二输出电压;
判断所述第一输出电压、所述第二输出电压是否满足所述预设条件;
在所述第一输出电压、所述第二输出电压满足所述预设条件的情况下,控制所述第一开关断开,并生成停止测试信息。
6.根据权利要求5所述的Y电容的测试方法,其特征在于,所述Y电容的测试方法还包括:
在所述第一输出电压、所述第二输出电压不满足所述预设条件的情况下,生成所述停止测试信息及报错信息。
7.根据权利要求3所述的Y电容的测试方法,其特征在于,基于所述程控电源在不同工作模式下的多个所述电压值、所述充电电阻的电压值,确定Y电容的电容值,包括:
基于所述第三电压值、所述第一充电电阻的第一电阻值,确定所述第一充电电路的第一充电电流;
基于所述第四电压值、所述第二充电电阻的第二电阻值,确定所述第二充电电路的第二充电电流;
基于所述第一充电电流、所述第一电阻值、所述第一电压值、所述第二充电电流、所述第二电阻值及所述第二电压值确定所述Y电容的所述电容值。
8.一种Y电容的测试设备,其特征在于,包括:
控制单元,用于控制放电电路上的第一开关闭合;
检测单元,用于检测所述放电电路上的放电电阻的第一输出电压、程控电源的第二输出电压;
判断单元,用于判断所述第一输出电压、所述第二输出电压是否满足预设条件;
生成单元,用于生成测试指令,其中,所述测试指令用于测量并记录所述程控电源在不同工作模式下的多个电压值、充电电路上的充电电阻的电压值;
确定单元,基于所述程控电源在不同工作模式下的多个所述电压值、所述充电电阻的电压值,确定Y电容的电容值。
9.一种计算机可读存储介质,其特征在于,所述计算机可读存储介质包括存储的程序,其中,在所述程序运行时控制所述计算机可读存储介质所在设备执行权利要求1至7中任意一项所述的测试方法。
10.一种处理器,其特征在于,所述处理器用于运行程序,其中,所述程序运行时执行权利要求1至7中任意一项所述的测试方法。
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