CN115047076A - 隔声箱性能测试方法 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种隔声箱性能测试方法。该方法包括：将声音收集装置放置到所述底壁的中心位置，获取所述测试声源所形成的噪声的第一噪声样本数据；将隔声箱放置到所述底壁的中心位置，将所述声音收集装置放置到所述隔声箱内，获取所述测试声源工作环境下所述隔声箱内的噪声的第二噪声样本数据；根据所述第一噪声样本数据和所述第二噪声样本数据的差值，得到所述隔声箱的隔声量随频率变化曲线。
Description
技术领域
本发明涉及扬声器技术领域，更具体地，涉及一种隔声箱性能测试方法。
背景技术
相关技术中，有很多厂家都在设计生产隔声箱，并且每个厂家都有自己的隔声箱测试方法，这就导致了不同厂家生产的隔声箱的隔声性能、测试指标存在很大的差异，无法对标。现有隔声箱的隔声性能测试通常采用单个全频音箱作为测试声源，其中，单个全频音箱仅仅能够放置于相对隔声箱的单一位置，不能够准确且全面的测试隔声箱整体的隔声性能。此外，现有的全频音箱在20Hz-100Hz的过低频率下，信噪比过低，因此不能准确地评价隔声箱在低频频率下的隔声性能，最终导致测试结果不准确的问题。
因此，需要提供一种新的技术方案，以解决上述技术问题。
发明内容
本发明的一个目的是提供一种隔声箱性能测试方法的新技术方案。
根据本发明的一个方面，提供了一种隔声箱性能测试方法。该方法包括：
提供密闭的测试腔室以及测试声源，所述测试腔室包括连接在一起的底壁、顶壁和侧壁，所述侧壁位于所述顶壁和所述底壁之间；所述测试声源包括低频音箱和多个全频音箱，多个所述全频音箱围绕所述底壁中心位置均匀设置，所述全频音箱到所述底壁、所述顶壁以及所述侧壁的距离均大于或等于1.2米，所述低频音箱被设置在所述侧壁与所述底壁形成的角部；
在未放置隔声箱的条件下，将声音收集装置放置到所述底壁的中心位置，获取所述测试声源所形成的噪声的第一噪声样本数据；
将隔声箱放置到所述底壁的中心位置，将所述声音收集装置放置到所述隔声箱内，获取所述测试声源工作环境下所述隔声箱内的噪声的第二噪声样本数据；
根据所述第一噪声样本数据和所述第二噪声样本数据的差值，得到所述隔声箱的隔声量随频率变化曲线。
可选地，所述将隔声箱放置到所述底壁的中心位置，将所述声音收集装置放置到所述隔声箱内中包括：
所述全频音箱到所述声音收集装置的距离为1.3m-2.5m。
可选地，所述测试腔室呈长方体结构，所述测试腔室包括四个侧壁，所述测试声源包括四个所述全频音箱，四个所述全频音箱的位置分别与四个所述侧壁相对应。
可选地，所述测试声源包括两个所述低频音箱，两个所述低频音箱分别设置在四个所述侧壁围成四边形的相对的两个角部。
可选地，所述隔声箱包括四个侧面，四个所述侧面分别与四个所述全频音箱相对设置。
可选地，四个所述全频音箱分别位于与所述全频音箱对应的侧壁的中垂线上。
可选地，在20Hz至20kHz频率范围内，所述测试声源在所述隔声箱内部的声压级与所述隔声箱内的本底噪声的声压级之差大于或等于6dB。
可选地，在20Hz-20kHz频率范围内，所述测试声源发出的噪声在所述底壁中心位置处1/3倍频程的声压级为87dB-93dB。
可选地，计所述测试腔室的长度为L，宽度为W，高度为H，满足以下公式：
W/H＜L/H＜(4.5W/H-4)
可选地，在所述提供密闭的测试腔室以及测试声源之前，还包括测量所述隔声箱内的本底噪声，其中，包括：
将所述隔声箱放置到所述底壁中心位置；
将所述声音收集装置放置到所述隔声箱内的设定位置，并封闭所述隔声箱；
在所述测试声源关闭的状态下，获取所述隔声箱内的噪声；
改变所述声音收集装置在所述隔声箱内的位置，并在所述隔声箱封闭以及测试声源关闭的状态下，获取所述隔声箱内的噪声；
根据所述隔声箱内不同位置的噪声，得到所述隔声箱内的本底噪声。
可选地，在所述提供密闭的测试腔室以及测试声源之后，或者在所述将隔声箱放置到所述底壁的中心位置，将所述声音收集装置放置到所述隔声箱内，获取所述测试声源工作环境下所述隔声箱内的噪声的第二噪声样本数据之后，还包括：
将声音收集装置放置到所述底壁的中心位置；
将所述测试声源的声压级调整至设定值；
所述声音收集装置获取第三噪声样本数据；
所述第三噪声样本数据与设定噪声样本数据作比较；
根据比较结果判断所述隔声箱的隔声性能；
或者，
在所述在未放置隔声箱的条件下，将声音收集装置放置到所述底壁的中心位置，获取所述测试声源所形成的噪声的第一噪声样本数据之后，还包括：
将所述测试声源的声压级调整至设定值；
所述声音收集装置获取第三噪声样本数据；
所述第三噪声样本数据与设定噪声样本数据作比较；
根据比较结果判断所述隔声箱的隔声性能。
在本公开实施例中，通过将多个全频音箱围绕底壁的中心位置均匀设置，进而使得测试声源的整体频谱以及信噪比能够显著提高，放置于底壁中心位置的隔声箱中的声音收集装置能够从多个位置全面的收集噪声样本数据，提高了隔声箱性能测试的准确性，避免了单一位置收集噪声样本数据导致的测试不准确的问题。此外，在顶壁与底壁形成的角部额外设置低频音箱，这样使得测试声源能够将低频性能测试延展至20Hz-100Hz，避免全频音箱在该低频范围内信噪比过低，导致的测试不准确的问题。
通过以下参照附图对本发明的示例性实施例的详细描述，本发明的其它特征及其优点将会变得清楚。
附图说明
被结合在说明书中并构成说明书的一部分的附图示出了本发明的实施例，并且连同其说明一起用于解释本发明的原理。
图1是根据本公开实施例测试声源的布置示意图。
图2是根据本公开实施例声音收集装置的布置示意图。
图3是根据本公开实施例声音收集装置与隔声箱的布置示意图。
图4是根据本公开实施例不同测试声源频谱对比图。
图5是根据本公开实施例隔声箱内接收不同测试声源频谱对比图。
图6是根据本公开实施例不同测试声源1/3倍频程隔声曲线对比图。
附图标记说明：
1、测试腔室； 2、测试声源；21、低频音箱；22、全频音箱；3、声音收集装置；4、隔声箱。
具体实施方式
现在将参照附图来详细描述本发明的各种示例性实施例。应注意到：除非另外具体说明，否则在这些实施例中阐述的部件和步骤的相对布置、数字表达式和数值不限制本发明的范围。
以下对至少一个示例性实施例的描述实际上仅仅是说明性的，决不作为对本发明及其应用或使用的任何限制。
对于相关领域普通技术人员已知的技术、方法和设备可能不作详细讨论，但在适当情况下，所述技术、方法和设备应当被视为说明书的一部分。
在这里示出和讨论的所有例子中，任何具体值应被解释为仅仅是示例性的，而不是作为限制。因此，示例性实施例的其它例子可以具有不同的值。
应注意到：相似的标号和字母在下面的附图中表示类似项，因此，一旦某一项在一个附图中被定义，则在随后的附图中不需要对其进行进一步讨论。
根据本公开的一个实施例，如图1所示，提供了一种隔声箱4性能测试方法。该方法包括：
提供密闭的测试腔室1以及测试声源2。测试腔室1包括连接在一起的底壁、顶壁和侧壁。侧壁位于顶壁和底壁之间。
测试声源2包括低频音箱21和多个全频音箱22。多个全频音箱22围绕底壁中心位置均匀设置。全频音箱22到底壁、顶壁以及侧壁的距离均大于或等于1.2米。低频音箱21被设置在侧壁与底壁形成的角部。
在未放置隔声箱的条件下，将声音收集装置3放置到底壁的中心位置。获取测试声源2所形成的噪声的第一噪声样本数据。
将隔声箱4放置到底壁的中心位置。将声音收集装置3放置到隔声箱4内。获取测试声源2工作环境下隔声箱4内的噪声的第二噪声样本数据。
根据第一噪声样本数据和第二噪声样本数据的差值，得到隔声箱4的隔声量随频率变化曲线。
需要说明的是，在对隔声箱4的隔声性能进行测试之前，还需要对隔声箱4的物理结构以及尺寸外观进行基本的检查，具体为：
隔声箱4箱体外部的结构尺寸是否符合设计要求；
隔声箱4箱体内部净空间的结构尺寸是否符合设计要求；
隔声箱4箱体采用的隔声隔振结构、吸声构件的结构尺寸是否符合设计要求；
隔声箱4箱体外观检验，比如是否破损、脏污、生锈、松动等。
对隔声箱4的物理结构以及尺寸外观进行基本的检查，这样能够使得在确保隔声箱4自身情况良好的前提下，对隔声箱4进行隔声性能的测试，进而能够得到准确的测试结果，避免了由于隔声箱4自身的破损或者尺寸不合格等外界因素导致的对隔声箱4性能测试的影响。
提供密闭的测试腔室1。测试腔室1包括连接在一起的底壁、顶壁和侧壁。侧壁位于顶壁和底壁之间。
需要说明的是，对测试腔室1的要求应满足：测试腔室1为接近于混响声场的房间，该房间具有较大的体积和较长的混响时间。例如，选用空旷的房间即可满足要求。密闭的测试腔室1能够准确全面的评价隔声箱4各个壁的隔声效果，进而能够提高隔声性能测试的准确性。
提供测试声源2。测试声源2包括低频音箱21和多个全频音箱22。多个全频音箱22围绕底壁中心位置均匀设置。
需要说明的是，对测试声源2的要求应满足；测试声源2产生的声音应该是稳定的，在测量频率范围内具有连续频谱的粉红噪声。此外，测试声源2发声时输出应足够大，具有足够的信噪比，使得隔声箱4内部的接收点处声压级在整个测量频率范围内均能够超过隔声箱4本底噪声至少6dB。优选地，隔声箱4内部的接收点处声压级在整个测量频率范围内均能够超过隔声箱4本底噪声至少12dB。
隔声箱4内部的接收点处例如是：隔声箱4放置于底壁的中心位置，声音收集装置3放置于隔声箱4内的中心处。
隔声箱4本底噪声例如是：在测试声源2关闭的状态下，隔声箱4放置于底壁的中心位置，声音收集装置3放置于隔声箱4内，并且封闭隔声箱4，此时，声音收集装置3感测到的噪声即为隔声箱4的本底噪声。
隔声箱4内部的接收点处声压级在整个测量频率范围内均能够超过隔声箱4本底噪声至少6dB，具体为：
在测试声源2打开的状态下，隔声箱4放置于底壁的中心位置，声音收集装置3放置于隔声箱4内，并且封闭隔声箱4，此时，声音收集装置3收集到的噪声的声压级需要超过隔声箱4本底噪声至少6dB。隔声箱4本底噪声如上述所述，在此不再赘述。
例如，测试声源2包括多个全频音箱22。多个全频音箱22围绕底壁中心位置均匀设置。这样使得测试声源2的整体频谱以及信噪比能够显著提高，而且在隔声箱4放置于底壁中心的位置的条件下，多个全频音箱22能够从多个位置发出噪声，进而能够测得隔声箱4各个壁的隔声性能，提高了测试结果的准确性，避免了单一位置收集噪声样本数据导致的测试不准确的问题。
测试声源2包括低频音箱21。低频音箱21被设置在侧壁与底壁形成的角部。例如，在顶壁与底壁形成的角部额外设置低频音箱21，这样使得测试声源2能够将低频性能测试延展至20Hz-100Hz，避免全频音箱22在该低频范围内信噪比过低，导致的测试不准确的问题。
在该例子中，测试声源2还包括分频器。分频器与低频音箱21和多个全频音箱22连接。通过分频器将不同频率的噪声分别通过低频音箱21和多个全频音箱22发出，从而拓宽了测试声源2的频率范围。例如，频率为20Hz-100Hz的噪声有低频音箱21发出。高于100Hz的噪声由多个全频音箱22发出。多个全频音箱22能够整体提升噪声的频谱，提升测试声源的信噪比。
全频音箱22到底壁、顶壁以及侧壁的距离均大于或等于1.2米。这样使得全频音箱22在放置于测试腔室1的条件下，能够与测试腔室1的底壁、顶壁以及侧壁保持一定的距离，避免了全频音箱22过于靠近底壁、顶壁以及侧壁中的至少一个，进而使得全频音箱22发出的噪声信号被其反射或吸收，提高了全频音箱22的信噪比。
将声音收集装置3放置到底壁的中心位置。获取测试声源2所形成的噪声的第一噪声样本数据。
例如，将声音收集装置3放置到底壁的中心位置，打开测试声源2，获取测试声源2所形成的第一噪声样本数据。第一噪声样本数据为设定频率下的声压级数据。此时获取到的是未放置隔声箱4时，测试声源2在测试腔室1内的第一噪声样本数据。
将隔声箱4放置到底壁的中心位置。将声音收集装置3放置到隔声箱4内。获取测试声源2工作环境下隔声箱4内的噪声的第二噪声样本数据。
例如，将隔声箱4放置到底壁的中心位置，将声音收集装置3放置到隔声箱4内，打开测试声源2，获取测试声源2工作环境下隔声箱4内的第二噪声样本数据。此时获取到的是放置隔声箱4时，测试声源2在隔声箱4内的第二噪声样本数据。第二噪声样本数据为设定频率下的声压级数据。
例如，声音收集装置3可以是传声器。在每次测量之前，需要对声音收集装置3在测量频率范围内的1个或多个频率上加以校验，以确保声音收集装置3自身的准确性。
需要说明的是，为了保证测量的准确性，在获取第一噪声样本数据和第二噪声样本数据的过程中，仅仅改变隔声箱4是否放置于底壁中心位置这一个变量，其余测试腔室1、测试声源2在测试腔室1内的摆放位置以及声音收集装置3在底壁的摆放位置均不做任何改变。
获取第一噪声样本数据和获取第二噪声样本数据的顺序在此不做限定。可以是，先获取第一噪声样本数据，再获取第二噪声样本数据；也可以是，先获取第二噪声样本数据，再获取第一噪声样本数据。
根据第一噪声样本数据和第二噪声样本数据的差值，得到隔声箱4的隔声量随频率变化曲线。
例如，第一噪声样本数据是未放置隔声箱4时，测试腔室1内的噪声数据。
第二噪声样本数据是将隔声箱4放置于测试腔室1内，隔声箱4内的噪声数据。
在设定频率下，第一噪声的声压级为XdB，第二噪声的声压级为YdB,则，在该设定频率下，隔声箱4的隔声量为XdB-YdB=ZdB。
进一步地，可以根据第一噪声样本数据和第二噪声样本数据的差值，得到隔声箱4的隔声量随频率变化曲线。
需要说明的是，第一噪声样本数据和第二噪声样本数据的差值越大，则隔声箱4的隔声量越大，隔声箱4的隔声效果越好。
第一噪声样本数据和第二噪声样本数据的差值越小，则隔声箱4的隔声量越小，隔声箱4的隔声效果越差。
在本实施例中，通过多个全频音箱22和低频音箱21的相互配合，提高了测试声源2的整体频谱以及信噪比，并能够将低频性能测试延展到20Hz-100Hz，进而使得隔声箱4的隔声性能测试更为准确。
此外，测试声源2在测试腔室1中的布置方式能够形成混响声场。混响声场能够测试隔声箱多个壁的隔声效果，提高了隔声箱4性能测试的准确性。
在一个例子中，如图2-图3所示，将隔声箱4放置到底壁的中心位置，将声音收集装置3放置到隔声箱4内中包括：
全频音箱22到声音收集装置3的距离为1.3m-2.5m。
例如，全频音箱22到声音收集装置3的距离为1.3m-2.5m。需要说明的是，若将全频音箱22放置于距离声音收集装置3的更远位置，这样会使得声音收集装置3收集到的噪声样本数据声压级过低，无法作为隔声箱4隔声量判断的依据，最终使得测试结果不准确。若是将全频音箱22放置于距离声音收集装置3的更近位置，这样会使得声音收集装置3收集到的噪声样本数据声压级过高，同样无法客观的评价隔声箱4的隔声性能。将全频音箱22与声音收集装置之间的距离控制在上述范围内，这样能够使得声音收集装置3能够在有效的收集到噪声样本数据的前提下，同时，也避免了全频音箱22过于靠近声音收集装置3，而导致的声音收集装置3收集到的噪声声压级过高的问题，提高了隔声箱4隔声性能测试样本收集过程中的准确性，进而能够得到准确的测试结果。
优选地，全频音箱22到声音收集装置3的距离为1.5m。
在一个例子中，测试腔室1呈长方体结构。测试腔室1包括四个侧壁。测试声源2包括四个全频音箱22。四个全频音箱22的位置分别与四个侧壁相对应。
例如，四个全频音箱22的位置分别与四个侧壁相对应。这样能够使得四个全频音箱22在打开时，能够在测试腔室1内形成一个良好的混响声场，进而使得声音收集装置3能够收集到更为准确的噪声样本数据。四个全频音箱22相对于单个全频音箱22的测试方式，可以同时评估隔声箱4各个壁面的整体隔声效果，提高了隔声性能测试的准确性。
在一个例子中，测试声源2包括两个低频音箱21。两个低频音箱21分别设置在四个侧壁围成四边形的相对的两个角部。
例如，两个低频音箱21分别设置在四个侧壁围成四边形的相对的两个角部，低频音箱21可以将低频性能测试延展到20Hz-100Hz，进而使得隔声箱4的隔声性能测试更为准确。
在一个例子中，隔声箱4包括四个侧面。四个侧面分别与四个全频音箱22相对设置。
例如，隔声箱4放置于底壁的中心位置，声音收集装置3放置于隔声箱4内，隔声箱4的四个侧面分别与四个全频音箱22相对设置，四个全频音箱22的位置分别与四个侧壁相对应。这样的设置方式使得全频音箱22在提供一个良好的混响声场的前提下，声音收集装置3能够有效的收集噪声样本数据，将隔声箱4的四个侧面与全频音箱22相对设置，这样能够更加准确对隔声箱4每一个壁面的隔声性能进行准确的测试，提高了测试的准确性。
在一个例子中，四个全频音箱22分别位于与全频音箱22对应的侧壁的中垂线上。这样使得四个全频音箱22在打开时，能够在测试腔室1内形成一个良好的混响声场，进而使得声音收集装置3能够收集到更为准确的噪声样本数据。
在一个例子中，在20Hz至20kHz频率范围内。测试声源2在隔声箱4内部的声压级与隔声箱4内的本底噪声的声压级之差大于或等于6dB。
例如，在设定噪声频率下，即20Hz至20kHz频率范围内，测试声源2在隔声箱4内部的声压级与隔声箱4内的本底噪声的声压级之差大于或等于6dB。
在测试声源2打开的状态下，隔声箱4放置于底壁的中心位置，声音收集装置3放置于隔声箱4内，并且封闭隔声箱4，此时，声音收集装置3收集到的噪声的声压级需要超过隔声箱4本底噪声至少6dB。隔声箱4本底噪声如上述所述，在此不再赘述。这样使得隔声箱4的隔声性能测试具有足够的信噪比。
在一个例子中，在20Hz-20kHz频率范围内。测试声源2发出的噪声在底壁中心位置处1/3倍频程的声压级为87dB-93dB。
例如，在设定噪声频率下，即20Hz至20kHz频率范围内，测试声源2发出的噪声在底壁中心位置处1/3倍频程的声压级为87dB-93dB。
在测试声源2打开的状态下，隔声箱4放置于底壁的中心位置，声音收集装置3放置于隔声箱4内，并且封闭隔声箱4，此时，测试声源2发出的噪声在底壁中心位置处1/3倍频程的声压级为87dB-93dB。这样使得隔声箱4的隔声性能测试具有足够的信噪比。
在一个例子中，计测试腔室1的长度为L。宽度为W。高度为H。满足以下公式：
W/H＜L/H＜(4.5W/H-4)
例如，测试腔室1的尺寸具体可以为：长度7m,宽度5.3m,高度2.7m。测试腔室1的尺寸满足上述公式时，测试腔室1能够提供一个良好的混响声场，有利于提高测试的准确性和有效性。
在一个例子中，在提供密闭的测试腔室1以及测试声源2之前，还包括测量隔声箱4内的本底噪声，其中，包括：
将隔声箱4放置到底壁中心位置。
将声音收集装置3放置到隔声箱4内的设定位置。并封闭隔声箱4。
在测试声源2关闭的状态下。获取隔声箱4内的噪声。
改变声音收集装置3在隔声箱4内的位置。并在隔声箱4封闭以及测试声源2关闭的状态下。获取隔声箱4内的噪声。
根据隔声箱4内不同位置的噪声，得到隔声箱4内的本底噪声。
例如，在隔声箱4内选取三个不同的位置，将声音收集装置3分别放置于三个位置得到三个噪声数据值，分别为AdB，BdB，CdB，取三个噪声数据值的算术平均值作为该隔声箱4的本底噪声。
在本实施例中，通过改变声音收集装置3在隔声箱4内的位置，进而获得隔声箱4内不同位置的噪声数据，最终能够获得更为准确的隔声箱4的本底噪声。根据该本底噪声值，进而能够控制测试声源2在隔声箱4内部的声压级与隔声箱4内的本底噪声的声压级之差大于或等于6dB。
在一个例子中，在所述提供密闭的测试腔室以及测试声源之后，或者在所述将隔声箱放置到所述底壁的中心位置，将所述声音收集装置放置到所述隔声箱内，获取所述测试声源工作环境下所述隔声箱内的噪声的第二噪声样本数据之后，还包括：
将声音收集装置放置到所述底壁的中心位置；
将所述测试声源的声压级调整至设定值；
所述声音收集装置获取第三噪声样本数据；
所述第三噪声样本数据与设定噪声样本数据作比较；
根据比较结果判断所述隔声箱的隔声性能；
或者，
在所述在未放置隔声箱的条件下，将声音收集装置放置到所述底壁的中心位置，获取所述测试声源所形成的噪声的第一噪声样本数据之后，还包括：
将所述测试声源的声压级调整至设定值；
所述声音收集装置获取第三噪声样本数据；
所述第三噪声样本数据与设定噪声样本数据作比较；
根据比较结果判断所述隔声箱的隔声性能。
例如，将测试声源2的声压级调整至设定值，例如设定值为70dB。
将隔声箱4放置于底壁的中心位置，将声音收集装置3放置于隔声箱4内，打开测试声源2，获取第三噪声样本数据。
第三噪声样本数据与设定噪声样本数据作比较。需要说明的是，设定噪声样本数据可以是，根据使用隔声箱进行测试的实际产品需要设置的样本数据；也可以是，根据多个隔声箱的隔声性能评价结果选取的符合隔声性能要求的样本数据。第三噪声样本数据和设定噪声样本数据为多个频率下的声压级数据。
根据比较结果判断隔声箱4的隔声性能。具体为，如果第三噪声样本数据大于或等于设定噪声样本数据，则隔声箱4的隔声效果良好。该差值越大，则隔声箱4的隔声量越大，隔声箱4的隔声效果越好。
如果第三噪声样本数据小于设定噪声样本数据，则隔声箱4的隔声效果不良。设定噪声样本数据与第三噪声样本数据的差值越大，则隔声箱4的隔声量越小，隔声箱4的隔声效果越差。
下面将通过具体的试验数据以及根据试验数据绘制的曲线对本发明进行详细的描述。
<实施例一>
测试声源2包括有四个全频音箱22和两个低频音箱21。
该测试腔室1的尺寸具体可以为：长度7m,宽度5.3m,高度2.7m。
将声音收集装置3放置于底壁的中心位置，具体为：在测试腔室1的长度方向上，声音收集装置3放置于测试腔室1的长度方向的中心处，测试腔室1的长度为7m，故，声音收集装置3放置于测试腔室1长度方向距离侧壁3.5m处。
在测试腔室1的宽度方向上，声音收集装置3放置于测试腔室1的宽度方向的中心处，测试腔室1的宽度为5.3m，故，声音收集装置3放置于测试腔室1宽度方向距离侧壁2.65m处。
四个全频音箱22到底壁、顶壁以及侧壁的距离为1.2米，满足全频音箱22到底壁、顶壁以及侧壁的距离均大于或等于1.2米的要求，保证了隔声性能测试的准确性。
两个低频音箱21分别设置在四个侧壁围成四边形的相对的两个角部。
在声音收集装置3放置于测试腔室1长度方向距离侧壁3.5m处，以及测试腔室1宽度方向距离侧壁2.65m处的条件下：
可以计算得出，全频音箱22与声音收集装置3之间的距离，具体为：
在测试腔室1的长度方向上，全频音箱22距离侧壁1.2米，声音收集装置3距离侧壁3.5m，故，全频音箱22与声音收集装置3之间的距离为：
3.5m-1.2m=2.3m,满足全频音箱22到声音收集装置3的距离为1.3m-2.5m的条件。
在测试腔室1的宽度方向上，全频音箱22距离侧壁1.2米，声音收集装置3距离侧壁2.65m，故，全频音箱22与声音收集装置3之间的距离为：
2.65m-1.2m=1.45m,满足全频音箱22到声音收集装置3的距离为1.3m-2.5m的条件。
全频音箱22与声音收集装置3无论是在长度方向上，还是宽度方向上，均满足上述距离范围，保证了隔声性能测试的准确性。
<对比例一>
测试声源2包括单个全频音箱22。
该测试腔室1的尺寸具体可以为：长度7m,宽度5.3m,高度2.7m。
将声音收集装置3放置于底壁的中心位置，具体为：在测试腔室1的长度方向上，声音收集装置3放置于测试腔室1的长度方向的中心处，测试腔室1的长度为7m，故，声音收集装置3放置于测试腔室1长度方向距离侧壁3.5m处。
在测试腔室1的宽度方向上，声音收集装置3放置于测试腔室1的宽度方向的中心处，测试腔室1的宽度为5.3m，故，声音收集装置3放置于测试腔室1宽度方向距离侧壁2.65m处。
全频音箱22到底壁、顶壁以及侧壁的距离为1.2米，满足全频音箱22到底壁、顶壁以及侧壁的距离均大于或等于1.2米的要求，保证了隔声性能测试的准确性。
在声音收集装置3放置于测试腔室1长度方向距离侧壁3.5m处，以及测试腔室1宽度方向距离侧壁2.65m处的条件下：
可以计算得出，全频音箱22与声音收集装置3之间的距离，具体为：
将单个全频音箱22放置于测试腔室1的长度方向上，则，在测试腔室1的长度方向上，全频音箱22距离侧壁1.2米，声音收集装置3距离侧壁3.5m，故，全频音箱22与声音收集装置3之间的距离为：3.5m-1.2m=2.3m。全频音箱22与声音收集装置3在长度方向上满足上述距离范围，保证了隔声性能测试的准确性。
在上述实施例一和对比例一的预设条件下，测试20Hz-20000Hz频率范围内，测试声源2的声压级，具体实验数据如下表所示：
如图4-图6所示，根据表中的试验数据绘制测试声源2频谱、隔声箱4内接收频谱以及1/3倍频程隔声曲线。
如图4所示，根据测试声源2频谱可以明显得出如下结论：
结论一：在20Hz-20000Hz频率范围内，对比例一中单个全频音箱22的声压级完全低于实施例一中四个全频音箱22和两个低频音箱21的声压级，多个全频音箱22和两个低频音箱21能够提高噪声源的整体的频谱以及信噪比，例如声压级达到90dB左右。
结论二：在20Hz-100Hz频率范围内，对比例一中单个全频音箱22的声压级在66.74dB以下。该声压级接近于测试腔室1内的本底噪音，进而使得在低频范围内，单个全频音箱22的信噪比过低，这样使得单个全频音箱22在低频频率范围内，测得的隔声箱4的隔声性能是不准确的。相比之下，实施例一中，采用四个全频音箱22和两个低频音箱21能够在20Hz-100Hz频率范围内，将测试声源2的声压级均控制在90dB左右，提高了隔声箱4的隔声性能测试的准确性。
如图5所示，示出了实施例一中四个全频音箱22以及两个低频音箱21在放置隔声箱4后，隔声箱4内接收的噪声的声压级；以及
对比例一中单个全频音箱22在放置隔声箱4后，隔声箱4内接收的噪声的声压级。显然可以得出：在20Hz-20000Hz频率范围内，对比例一中单个全频音箱22的声压级完全低于实施例一中四个全频音箱22和两个低频音箱21的声压级，多个全频音箱22和两个低频音箱21能够提高噪声源的整体的频谱以及信噪比。
如图6所示，据测试声源2频谱和隔声箱4内接收频谱，得到1/3倍频程隔声曲线。显然可以得出：在20Hz-20000Hz频率范围内，对比例一中单个全频音箱22的声压级完全低于实施例一中四个全频音箱22和两个低频音箱21的声压级，多个全频音箱22和两个低频音箱21能够提高噪声源的整体的频谱以及信噪比。实施例一中的四个全频音箱22和两个低频音箱21作为测试声源2的条件下，提高了测试声源2的信噪比，进而使得测试结果更为准确客观。
上文实施例中重点描述的是各个实施例之间的不同，各个实施例之间不同的优化特征只要不矛盾，均可以组合形成更优的实施例，考虑到行文简洁，在此则不再赘述。虽然已经通过例子对本发明的一些特定实施例进行了详细说明，但是本领域的技术人员应该理解，以上例子仅是为了进行说明，而不是为了限制本发明的范围。本领域的技术人员应该理解，可在不脱离本发明的范围和精神的情况下，对以上实施例进行修改。本发明的范围由所附权利要求来限定。
Claims (11)
1.一种隔声箱性能测试方法，其特征在于，包括：
提供密闭的测试腔室以及测试声源，所述测试腔室包括连接在一起的底壁、顶壁和侧壁，所述侧壁位于所述顶壁和所述底壁之间；所述测试声源包括低频音箱和多个全频音箱，多个所述全频音箱围绕所述底壁中心位置均匀设置，所述全频音箱到所述底壁、所述顶壁以及所述侧壁的距离均大于或等于1.2米，所述低频音箱被设置在所述侧壁与所述底壁形成的角部；
在未放置隔声箱的条件下，将声音收集装置放置到所述底壁的中心位置，获取所述测试声源所形成的噪声的第一噪声样本数据；
将隔声箱放置到所述底壁的中心位置，将所述声音收集装置放置到所述隔声箱内，获取所述测试声源工作环境下所述隔声箱内的噪声的第二噪声样本数据；
根据所述第一噪声样本数据和所述第二噪声样本数据的差值，得到所述隔声箱的隔声量随频率变化曲线。
2.根据权利要求1所述的隔声箱性能测试方法，其特征在于，所述将隔声箱放置到所述底壁的中心位置，将所述声音收集装置放置到所述隔声箱内中包括：
所述全频音箱到所述声音收集装置的距离为1.3m-2.5m。
3.根据权利要求1所述的隔声箱性能测试方法，其特征在于，所述测试腔室呈长方体结构，所述测试腔室包括四个侧壁，所述测试声源包括四个所述全频音箱，四个所述全频音箱的位置分别与四个所述侧壁相对应。
4.根据权利要求3所述的隔声箱性能测试方法，其特征在于，所述测试声源包括两个所述低频音箱，两个所述低频音箱分别设置在四个所述侧壁围成四边形的相对的两个角部。
5.根据权利要求3所述的隔声箱性能测试方法，其特征在于，所述隔声箱包括四个侧面，四个所述侧面分别与四个所述全频音箱相对设置。
6.根据权利要求3所述的隔声箱性能测试方法，其特征在于，四个所述全频音箱分别位于与所述全频音箱对应的侧壁的中垂线上。
7.根据权利要求1所述的隔声箱性能测试方法，其特征在于，在20Hz至20kHz频率范围内，所述测试声源在所述隔声箱内部的声压级与所述隔声箱内的本底噪声的声压级之差大于或等于6dB。
8.根据权利要求1所述的隔声箱性能测试方法，其特征在于，在20Hz-20kHz频率范围内，所述测试声源发出的噪声在所述底壁中心位置处1/3倍频程的声压级为87dB-93dB。
9.根据权利要求2所述的隔声箱性能测试方法，其特征在于，计所述测试腔室的长度为L，宽度为W，高度为H，满足以下公式：
W/H＜L/H＜(4.5W/H-4)。
10.根据权利要求1所述的隔声箱性能测试方法，其特征在于，在所述提供密闭的测试腔室以及测试声源之前，还包括测量所述隔声箱内的本底噪声，其中，包括：
将所述隔声箱放置到所述底壁中心位置；
将所述声音收集装置放置到所述隔声箱内的设定位置，并封闭所述隔声箱；
在所述测试声源关闭的状态下，获取所述隔声箱内的噪声；
改变所述声音收集装置在所述隔声箱内的位置，并在所述隔声箱封闭以及测试声源关闭的状态下，获取所述隔声箱内的噪声；
根据所述隔声箱内不同位置的噪声，得到所述隔声箱内的本底噪声。
11.根据权利要求1-10中的任意一项所述的隔声箱性能测试方法，其特征在于，在所述提供密闭的测试腔室以及测试声源之后，或者在所述将隔声箱放置到所述底壁的中心位置，将所述声音收集装置放置到所述隔声箱内，获取所述测试声源工作环境下所述隔声箱内的噪声的第二噪声样本数据之后，还包括：
将声音收集装置放置到所述底壁的中心位置；
将所述测试声源的声压级调整至设定值；
所述声音收集装置获取第三噪声样本数据；
所述第三噪声样本数据与设定噪声样本数据作比较；
根据比较结果判断所述隔声箱的隔声性能；
或者，
在所述在未放置隔声箱的条件下，将声音收集装置放置到所述底壁的中心位置，获取所述测试声源所形成的噪声的第一噪声样本数据之后，还包括：
将所述测试声源的声压级调整至设定值；
所述声音收集装置获取第三噪声样本数据；
所述第三噪声样本数据与设定噪声样本数据作比较；
根据比较结果判断所述隔声箱的隔声性能。
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