CN115015026A - 新材料测试数据处理方法及装置 - Google Patents

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Abstract

本发明提供一种新材料测试数据处理方法及装置，提取新材料测试需求中的测试目标信息、测试温度信息以及测试时长信息；对所述测试温度信息中的多个测试温度点进行统计得到测试温度点集合，根据输入的精准度要求信息在所述测试温度点集合中选择多个温度实际测试点；按照所述温度实际测试点对测试目标进行测试，得到在所述测试时长信息下所对应的材料衰减函数；根据相邻的温度实际测试点的材料衰减函数，对未进行实际测试的温度补齐测试点进行材料衰减函数的补齐；统计所有温度实际测试点、温度补齐测试点分别对应的材料衰减函数生成新材料测试数据结果。

Description

新材料测试数据处理方法及装置
技术领域
本发明涉及数据处理技术领域，尤其涉及一种新材料测试数据处理方法及装置。
背景技术
新材料中所包含的新型塑料材料制品遍及多个技术领域，塑料中的水分含量是影响例如聚酰胺（PA）和聚碳酸酯（PC）等树脂的加工工艺、产品外观和产品特性的一个重要因素。
现有技术中，通常使用红外线水分测试仪，对新型塑料材料制品的含水量进行测试。但在测试过程中，需要采集新型塑料材料制品在不同温度区间内的多个温度点进行测试，此时会根据所选择的实际测试温度点进行测试，现有技术中，并无法根据材料的不同、测试温度区间的不同以及精准度要求的不同采取不同的处理策略，通过实际测试温度点对非实际温度点进行有效的补齐，导致测试效率低的同时，数据多样化较低。
发明内容
本发明实施例提供一种新材料测试数据处理方法及装置，通过对测试目标信息在多个温度实际测试点进行测试，根据多个温度实际测试点的材料衰减函数，将未进行实际测试的温度点所对应的材料衰减函数补齐，得到符合用户输入的精准度要求信息的测试数据。较为高效的对测试目标信息进行测试，有利于节省测试时长，提高测试效率，数据多样化较高。
本发明实施例的第一方面，提供一种新材料测试数据处理方法，包括：
提取新材料测试需求中的测试目标信息、测试温度信息以及测试时长信息；
对所述测试温度信息中的多个测试温度点进行统计得到测试温度点集合，根据输入的精准度要求信息在所述测试温度点集合中选择多个温度实际测试点；
按照所述温度实际测试点对测试目标进行测试，得到在所述测试时长信息下所对应的材料衰减函数；
根据相邻的温度实际测试点的材料衰减函数，对未进行实际测试的温度补齐测试点进行材料衰减函数的补齐；
统计所有温度实际测试点、温度补齐测试点分别对应的材料衰减函数生成新材料测试数据结果。
可选地，在第一方面的一种可能实现方式中，
接收预先输入的多个测试温度点，将所述多个测试温度点进行统计得到测试温度点集合，确定所有测试温度点的温度点总数量值；
获取所述测试温度点集合中最小测试温度点与最大测试温度点，根据所述最小测试温度点和所述最大测试温度点，得到测试温度区间；
接收所述测试目标信息对应输入的精准度要求信息，根据所述精准度要求信息、温度点总数量值生成对测试温度点的筛选策略；
根据所述筛选策略，以所述最小测试温度点为起始点，在所述测试温度区间内进行测试温度点的筛选，得到多个温度实际测试点。
可选地，在第一方面的一种可能实现方式中，
根据所述温度点总数量值确定最小间隔区间；
对所述一般精准指令、相对精准指令以及非常精准指令进行量化处理，生成对应的精准常数；
根据所述精准常数与所述最小间隔区间的乘积，确定筛选间隔点生成对应的筛选策略；
通过以下方式计算筛选策略中的筛选间隔点，
Figure 897955DEST_PATH_IMAGE001
其中，
Figure 59946DEST_PATH_IMAGE002
为筛选间隔点，
Figure 714918DEST_PATH_IMAGE003
为温度点总数量值，
Figure 796007DEST_PATH_IMAGE004
为温度点数量基准值，
Figure 628440DEST_PATH_IMAGE005
为温度点数量权重，
Figure 594122DEST_PATH_IMAGE006
为精准常数。
可选地，在第一方面的一种可能实现方式中，
以所述最小测试温度点为起始点，依次间隔筛选间隔点对测试温度区间进行筛选，将依次筛选的测试温度点作为温度实际测试点；
若判断所述最大测试温度点被筛选为温度实际测试点，则将最小测试温度点、所筛选的所有测试温度点以及最大测试温度点作为温度实际测试点；
若判断所述最大测试温度点未被筛选为温度实际测试点，将与最大测试温度点相邻的被筛选的测试温度点作为第一调整温度点，将与第一调整温度点相邻的被筛选的测试温度点作为第二调整温度点；
根据所述第二调整温度点、最大测试温度点确定变化调整温度点，将所述变化调整温度点作为温度实际测试点，将所述第一调整温度点作为非温度实际测试点；
将最小测试温度点、所筛选的第一调整温度点以外的其他所有测试温度点、变化调整温度点、以及最大测试温度点作为温度实际测试点。
可选地，在第一方面的一种可能实现方式中，
将所述测试温度区间内的测试温度点按照筛选间隔点进行标记，根据相邻的筛选间隔点生成多个第一区间，确定每个第一区间内的测试温度点数量；
若所有第一区间内的测试温度点数量相同，则将所有标记的测试温度点作为温度实际测试点；
若存在与其他第一区间内的测试温度点数量不同的第一区间，则将测试温度点数量少的第一区间作为异变区间；
将所述异变区间与相邻的第一区间合并为组合区间，提取所述组合区间内测试温度点的中间值，确定温度中间值，根据所述温度中间值将所述组合区间进行拆解，生成多个第二区间；
对所有第一区间、第二区间的区间边缘点所对应的测试温度点进行筛选，得到多个温度实际测试点，并去除重复的温度实际测试点，得到最终的温度实际测试点。
可选地，在第一方面的一种可能实现方式中，
将所述第二调整温度点的温度值与所述最大测试温度点的温度值进行差值运算，得到调整温度差值；
获取所述调整温度差值内的调整中间值，根据所述调整中间值得到调整补偿温度值，将所述调整补偿温度值与所述第二调整温度点求和，得到变化调整温度点；
通过以下公式计算变化调整温度点的温度值，
Figure 103601DEST_PATH_IMAGE007
其中，
Figure 247269DEST_PATH_IMAGE008
为变化调整温度点的温度值，
Figure 350354DEST_PATH_IMAGE009
为最大测试温度点的温度值，
Figure 368994DEST_PATH_IMAGE010
第二调整温度点的温度值；
若所述变化调整温度点的温度值为非整数，则对所述变化调整温度点的温度值进行整数化处理，得到最终的变化调整温度点；
将所述变化调整温度点作为温度实际测试点，并将所述第一调整温度点从被筛选的测试温度点中剔除。
可选地，在第一方面的一种可能实现方式中，
获取所述测试目标信息的衰减前质量，以及测试目标信息在多个温度实际测试点的多个测试数据，每个测试数据包括在每个温度实际测试点的衰减后质量和所述衰减后质量对应的衰减时间；
将所述衰减时间预设为衰减横坐标、所述衰减后质量预设为衰减纵坐标，根据所述衰减横坐标和所述衰减纵坐标确定多个衰减点；
将所述多个衰减点相连生成衰减曲线，根据所述衰减曲线确定在不同温度实际测试点分别对应的材料衰减函数。
可选地，在第一方面的一种可能实现方式中，
获取相邻的第一温度实际测试点与第二温度实际测试点之间未实际测试的温度点，将未进行实际测试的温度点作为第一温度补齐测试点；
分别获取所述第一温度实际测试点和第二温度实际测试点分别对应的第一材料衰减函数和第二材料衰减函数；
根据所述第一材料衰减函数与所述第二材料衰减函数，对所述第一温度补齐测试点的材料衰减函数进行补齐，生成第三材料衰减函数。
可选地，在第一方面的一种可能实现方式中，
获取相邻的第一材料衰减函数与第二材料衰减函数在测试时长信息中，每一个相同的测试时间点所对应的第一衰减后质量和第二衰减后质量，将所述第一衰减后质量和所述第二衰减后质量相减，得到多个测试时间点分别对应的衰减质量差值；
根据所述相邻的第一温度实际测试点与第二温度实际测试点之间，第一温度补齐测试点的数量生成多个补齐点区间段，将所述衰减质量差值与所述补齐点区间段相除，得到每个补齐点区间段对应的补齐区间值；
以与第二材料衰减函数相邻的第一温度补齐测试点为起始点，依次确定每个第一温度补齐测试点对应的补齐点区间段得到补齐区间段数量，根据第一温度补齐测试点对应的补齐区间段数量，对补齐区间值进行叠加，得到每个第一温度补齐测试点的补齐点衰减后质量；
统计第一温度补齐测试点在不同测试时间点所对应的补齐点衰减后质量，以多个补齐点衰减后质量、测试时间点确定第一温度补齐测试点的多个补齐坐标，将多个补齐坐标拟合得到第一温度补齐测试点相应的第三材料衰减函数。
本发明实施例的第二方面，提供一种新材料测试数据处理装置，包括：
提取模块，提取新材料测试需求中的测试目标信息、测试温度信息以及测试时长信息；
筛选模块，对所述测试温度信息中的多个测试温度点进行统计得到测试温度点集合，根据输入的精准度要求信息在所述测试温度点集合中选择多个温度实际测试点；
测试模块，按照所述温度实际测试点对测试目标进行测试，得到在所述测试时长信息下所对应的材料衰减函数；
补齐模块，根据相邻的温度实际测试点的材料衰减函数，对未进行实际测试的温度补齐测试点进行材料衰减函数的补齐；
统计模块，统计所有温度实际测试点、温度补齐测试点分别对应的材料衰减函数生成新材料测试数据结果。
本发明实施例的第三方面，提供一种存储介质，所述存储介质中存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时用于实现本发明第一方面及第二方面各种可能设计的所述方法。
本发明提供的技术方案，红外线水分测试仪接收用户预先输入的多个测试温度点，将输入的多个测试温度点进行统计得到测试温度点集合，输入的多个测试温度点为符合新型塑料材料制品在红外线水分测试仪内进行正常测试的任意温度，那么将这些输入的测试温度点进行统计，得到测试温度点集合，确定测试温度点集合内测试温度点的总数量值。用户在红外线水分测试仪内输入对应的精准度要求信息后，根据对应的精准度要求信息，可以确定在温度点总数量值对应的一定数量的测试温度点内，需要进行测试的测试温度点有哪些，因此生成相对应的筛选策略。一般精准指令，相对精准指令或非常精准指令是用户任意输入的一种精准度要求，用户可以根据对测试结果精准度的要求输入符合自己需求的精准度要求信息。从而便于用户最终得到符合自己测试需求的测试结果。
本发明提供的技术方案，将最小测试温度点、所筛选的第一调整温度点以外的其他所有测试温度点、变化调整温度点、以及最大测试温度点作为温度实际测试点。第一调整温度点已经从被筛选的测试温度点中剔除，因此，将所述根据最小间隔区间所筛选的，除第一调整温度点以外的其他测试温度点和变化调整温度点作为温度实际测试点，同时将测试温度区间内的最小测试温度点与最大测试温度点同样作为温度实际测试点。通过本方案筛选温度实际测试点，当温度点总数量值较大时，此时测试温度区间内的测试温度点数量较多，因此通过本方案根据第一调整温度点，第二调整温度点和最大测试温度点来确定变化调整温度点，从而对温度实际测试点进行筛选，使筛选的过程更加高效且较为便捷。同时本方案可以根据材料的不同、测试温度区间的不同以及精准度要求的不同采取不同的处理策略，通过实际测试温度点对非实际温度点进行有效的补齐，提高测试效率的同时，保证数据的多样化。
本发明提供的技术方案，确定所有第一区间、第二区间后，将所有第一区间内和第二区间内的第一个测试温度点作为起始点，最后一个测试温度点作为截止点，将起始点与截止点设定为区间边缘点，相邻区间的边缘点是相同的，每个区间只包括起始点的本体，不包括截止点的本体，最后一个区间包含截止点，因为最后一个区间的截止点为最大测试温度点，最大测试温度点也被选为温度实际测试点。然后将所有区间内选择的重复的温度实际测试点进行去除，得到最终的温度实际测试点。通过本方案筛选温度实际测试点，当温度点总数量值较小时，此时测试温度区间内的测试温度点数量较少，因此通过本方案根据第一区间，异变区间和合并后组合区间的温度中间值来确定第二区间与第一区间对应的测试温度点，从而对温度实际测试点进行筛选，使筛选的准确度符合温度点总数量值的客观实际情况，筛选过程更加高效且较为便捷。
本发明提供的技术方案，根据相邻的两个温度实际测试点相对应的两个材料衰减函数，对没有进行实际测试的温度补齐测试点所对应的材料衰减函数进行补齐。没有进行实际测试的温度补齐测试点位于两个相邻的温度实际测试点之间。在进行实际测试的时候，不是每个测试温度点都要进行测试，这样耗费的时长和测试的周期，以及产生的测试数据非常庞大，且处理起来非常影响测试效率，因此可以通过对温度实际测试点进行测试后，根据相邻温度实际测试点的材料衰减函数，对没有进行实际测试的温度补齐测试点所对应的材料衰减函数进行补齐。这样可以较为高效的对测试目标信息进行测试，有利于节省测试时长，提高测试效率。
附图说明
图1为一种新材料测试数据处理方法第一种实施方式的流程图；
图2为一种新材料测试数据处理方法第二种实施方式的流程图；
图3为一种新材料测试数据处理装置的结构示意图；
图4为一种材料衰减函数的示意图。
具体实施方式
为使本发明实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
本发明的说明书和权利要求书及上述附图中的术语“第一”、“第二”、“第三”“第四”等（如果存在）是用于区别类似的对象，而不必用于描述特定的顺序或先后次序。应该理解这样使用的数据在适当情况下可以互换，以便这里描述的本发明的实施例能够以除了在这里图示或描述的那些以外的顺序实施。
应当理解，在本发明的各种实施例中，各过程的序号的大小并不意味着执行顺序的先后，各过程的执行顺序应以其功能和内在逻辑确定，而不应对本发明实施例的实施过程构成任何限定。
应当理解，在本发明中，“包括”和“具有”以及他们的任何变形，意图在于覆盖不排他的包含，例如，包含了一系列步骤或单元的过程、方法、系统、产品或设备不必限于清楚地列出的那些步骤或单元，而是可包括没有清楚地列出的或对于这些过程、方法、产品或设备固有的其它步骤或单元。
应当理解，在本发明中，“多个”是指两个或两个以上。“和/或”仅仅是一种描述关联对象的关联关系，表示可以存在三种关系，例如，A和/或B，可以表示：单独存在A，同时存在A和B，单独存在B这三种情况。字符“/”一般表示前后关联对象是一种“或”的关系。“包含A、B和C”、“包含A、B、C”是指A、B、C三者都包含，“包含A、B或C”是指包含A、B、C三者之一，“包含A、B和/或C”是指包含A、B、C三者中任1个或任2个或3个。
应当理解，在本发明中，“与A对应的B”、“与A相对应的B”、“A与B相对应”或者“B与A相对应”，表示B与A相关联，根据A可以确定B。根据A确定B并不意味着仅仅根据A确定B，还可以根据A和/或其他信息确定B。A与B的匹配，是A与B的相似度大于或等于预设的阈值。
取决于语境，如在此所使用的“若”可以被解释成为“在……时”或“当……时”或“响应于确定”或“响应于检测”。
下面以具体地实施例对本发明的技术方案进行详细说明。下面这几个具体的实施例可以相互结合，对于相同或相似的概念或过程可能在某些实施例不再赘述。
本发明提供一种新材料测试数据处理方法，如图1所示，具体包括以下步骤：
步骤S1、提取新材料测试需求中的测试目标信息、测试温度信息以及测试时长信息；
本发明提供的技术方案，所述新材料测试需求，为用户将需要进行测试的新材料，根据相关测试仪器进行测试，同时按照需求输入对应的测试数据。所述测试目标信息，为需要进行测试的新材料的材料类型，本发明中以新型塑料材料制品为例。新型塑料材料制品中，塑料的水分含量是影响例如聚酰胺（PA）和聚碳酸酯（PC）等树脂的加工工艺、产品外观和产品特性的一个重要因素。如果使用水分含量过多的塑料粒子进行生产，则会产生一些加工问题，并最终影响成品质量，如：表面开裂、反光，以及抗冲击性能和拉伸强度等机械性能降低等。
因此需要将新型塑料材料制品放置在红外线水分测试仪中，利用红外加热法失重原理，对含水量进行测试后，将所得测试数据进行处理，得到符合用户需求的测试结果。其中，红外加热法失重原理主要是利用红外线加热物体的热效应和强穿透能力，被测物体的水分快速蒸发而失重，通过物体的初始质量和物体蒸发水分后的质量的数据，获得被测物体在某一特定温度下的含水量。
所述测试温度信息，为新型塑料材料制品在红外线水分测试仪内的多个测试温度点，例如在零度至一百度的温度区间内，需要在十度、二十度、三十度、四十度和五十度分别进行测试，十度、二十度、三十度、四十度和五十度这些测试温度点即为测试温度信息，测试温度信息的主要作用，就是为了便于了解新型塑料材料制品，在每个测试温度点上的水分蒸发量。
所述测试时长信息，为新型塑料材料制品在测试温度信息中每个温度点上对应的测试时长，例如，有可能在十度、二十度、三十度时分别测试了两个小时，也有可能在十度、二十度、三十度时分别测试了了四个小时。测试时长信息作用在于，根据用户对测试目标的测试需求，输入对应的测试时长信息，使测试目标信息在测试温度信息的每个测试温度点上，按照用户输入的测试时长信息进行测试。
步骤S2、对所述测试温度信息中的多个测试温度点进行统计得到测试温度点集合，根据输入的精准度要求信息在所述测试温度点集合中选择多个温度实际测试点；
本发明提供的技术方案，将测试温度信息中多个测试温度信息进行统计，统计后得到测试温度点集合，根据输入精准度要求信息在测试温度点集合中选择多个温度实际测试点。其中，所述精准度要求信息，为用户对新型塑料材料制品的测试精准要求，例如客户需要在测试温度信息内所有的测试温度点中，只挑选部分测试温度点中新型塑料材料制品对应的测试数据。例如，在零度到一百度内，用户不需要每个温度点都进行测试，只需要在十个温度点对新型塑料材料制品进行测试。因此，用户在红外线水分测试仪中输入对应的精准度要求信息，红外线水分测试仪接收到相应的精准度要求信息后，在测试温度信息内的测试温度点集合中选择多个测试温度点，对新型塑料材料制品进行测试，所选取的测试温度点为温度实际测试点。
本发明提供的技术方案，在一个可能的实施方式中，如图2所示，步骤S2具体包括：
步骤S2.1、接收预先输入的多个测试温度点，将所述多个测试温度点进行统计得到测试温度点集合，确定所有测试温度点的温度点总数量值；
本发明提供的技术方案，红外线水分测试仪接收用户预先输入的多个测试温度点，将输入的多个测试温度点进行统计得到测试温度点集合，所述输入的多个测试温度点为符合新型塑料材料制品在红外线水分测试仪内进行正常测试的任意温度，那么将这些输入的测试温度点进行统计，得到测试温度点集合，确定测试温度点集合内测试温度点的总数量值。例如，可能输入的多个测试温度点为一度、二度、三度、……一百度，因此确定该集合内包含一百个测试温度点，温度点总数量值为一百。
步骤S2.2、获取所述测试温度点集合中最小测试温度点与最大测试温度点，根据所述最小测试温度点和所述最大测试温度点，得到测试温度区间；
本发明提供的技术方案，将测试温度点集合内的最小测试温度点与最大测试温度点进行获取，根据最小测试温度点与最大测试温度点之间温度值的区间范围，确定一个测试温度区间。例如，测试温度点集合内的测试温度点为一度、二度、三度、……一百度，那么可以根据最小测试温度点一度和最大测试温度点一百度确定测试温度区间为{一度，一百度}。
步骤S2.3、接收所述测试目标信息对应输入的精准度要求信息，根据所述精准度要求信息、温度点总数量值生成对测试温度点的筛选策略；
本发明提供的技术方案，用户在红外线水分测试仪内输入对应的精准度要求信息后，根据对应的精准度要求信息，可以确定在温度点总数量值对应的一定数量的测试温度点内，需要进行测试的测试温度点有哪些，因此生成相对应的筛选策略。例如，当温度点总数量值为一百时，在一百个测试温度点内，客户仅需要五十个测试温度点的测试数据，因此在一百个测试温度点内仅挑选二度、四度、六度……一百度。所述的挑选方式即为与温度点数量总值对应的筛选策略。
本发明提供的技术方案，在一个可能的实施方式中，步骤S2.3、具体包括：
步骤S2.3.1、所述精准度要求信息为一般精准指令、相对精准指令或非常精准指令中的任意一种；
本发明提供的技术方案，所述精准度要求信息为一般精准指令、相对精准指令或非常精准指令中的任意一种。
所述一般精准指令为用户预先输入的精准度要求信息，所述一般精准指令在所述测试温度点区间内筛选的测试温度点数量较少，用户在所有需要测试的测试温度点内可能只需要较少的几个测试温度点，对测试结果的精准度要求不高，只需要大概的了解新型塑料材料制品在所述测试温度点内的测试结果。
所述相对精准指令为用户预先输入的精准度要求信息，所述相对精准指令在所述测试温度点区间内筛选的测试温度点的数量相比于一般精准指令较多，用户在所有需要测试的测试温度点内可能只需要相比与一般精准较多一些的温度实际测试点，对测试结果的精准度有一定的要求。
所述非常精准指令为用户预先输入的精准度要求信息，所述非常精准指令在所述测试温度点区间内将所有的测试温度点全部进行筛选，筛选后按照所有的测试温度点逐一进行测试，用户在所有需要进行测试的测试温度点内需要对每个测试温度点进行测试，对测试结果的进准度要求非常高，因此需要详细的了解新型塑料材料制品在每个测试温度点内的测试结果。
可以知道的是，一般精准指令，相对精准指令或非常精准指令是用户任意输入的一种精准度要求，用户可以根据对测试结果精准度的要求输入符合自己需求的精准度要求信息。
步骤S2.3.2、根据所述温度点总数量值确定最小间隔区间；
本发明提供的技术方案，根据测试温度点总数量值进行区间划分，生成相应的最小间隔区间。例如，当温度点总数量值为一百时，也就是说此时有一百个测试温度点，但实际测试中，由于测试温度点数量较大，不可能对每个测试温度点都进行测试，因此需要在所有的测试温度点内筛选出二十个测试温度点进行测试，所以用一百除以二十，便可以得到最小间隔区间为五，也就是说每个最小间隔区间内包含五个测试温度点。若温度点总数量值为十，也就是说此时有十个测试温度点，测试温度点数量较小，可以对十个测试温度点都进行测试，所以用十除以十，便可以得到最小间隔区间为一，也就是说每个最小间隔区间内包含一个测试温度点。因此，根据测试温度点的总数量值确定测试温度点的最小间隔区间，测试温度点的总数量值越大，相应的最小间隔区间内，测试温度点覆盖的范围越大。
步骤S2.3.3、对所述一般精准指令、相对精准指令以及非常精准指令进行量化处理，生成对应的精准常数；
本发明提供的技术方案，所述一般精准指令对温度点中数量值内的测试温度点进行筛选，可以知道的是，一般精准指令筛选的测试温度点数量较少，因此在所有的测试温度点内，仅筛选部分测试温度点，例如，筛选后的测试温度点的温度点总数量值为五十，输入一般精准指令后，仅需要对十个测试温度点进行测试，那么根据需要测试的十个温度点可以得出一般精准指令的精准常数为五。一般精准指令对应的精准常数的作用在于，便于后续与最小间隔区间相结合，确定对应的筛选策略。
所述相对精准指令对温度点进行筛选，可以知道的是，相对精准指令筛选的测试温度点的数量，相比于一般精准指令所筛选的测试温度点的数量较多，因此在所有的测试温度点内，仅筛选相比于一般精准度较多的测试温度点，例如筛选后的测试温度点总数量值为五十，输入相对精准指令后，需要对二十五个测试温度点进行测试，那么根据需要测试的二十五个温度点可以得出相对精准指令的精准常数为二。相对精准指令对应的精准常数的作用在于，便于后续与最小间隔点相结合，确定对应的筛选策略。
所述非常精准指令对温度点进行筛选，可以知道的是，非常精准指令筛选的测试温度点的数量较多，因此在所有的测试温度点内，将所有测试温度点逐一筛选，例如，筛选后的测试温度点的温度点总数量值为五十，输入非常精准指令后，需要对所有的五十个测试温度点进行测试，那么根据需要测试的所有的五十个测试温度点可以得出非常精准指令的精准常数为一。非常精准指令对应的精准常数的作用在于，便于后续与最小间隔区间相结合，确定对应的筛选策略。
步骤S2.3.4、根据所述精准常数与所述最小间隔区间的乘积，确定筛选间隔点生成对应的筛选策略；
本发明提供的技术方案，将所述一般精准指令、相对精准指令或非常精准指令对应的精准常数，与最小间隔区间对应的测试温度点数量相乘，得到筛选间隔点对应的数量值，根据所述对应的筛选间隔点生成一般精准指令、相对精准指令或非常精准指令对应的筛选策略。
通过以下方式计算筛选策略中的筛选间隔点，
Figure 77187DEST_PATH_IMAGE001
其中，
Figure 382967DEST_PATH_IMAGE002
为筛选间隔点，
Figure 442190DEST_PATH_IMAGE003
为温度点总数量值，
Figure 733363DEST_PATH_IMAGE004
为温度点数量基准值，
Figure 92800DEST_PATH_IMAGE011
为温度点数量权重，
Figure 843850DEST_PATH_IMAGE012
为精准常数。
本发明提供的技术方案，温度点总数量值
Figure 655948DEST_PATH_IMAGE003
与温度点数量基准值
Figure 750812DEST_PATH_IMAGE004
相除，温度点数量基准值
Figure 853503DEST_PATH_IMAGE004
通过温度点数量权重
Figure 24722DEST_PATH_IMAGE011
进行调整，得到最小间隔区间
Figure 714329DEST_PATH_IMAGE013
。所述筛选间隔点
Figure 379928DEST_PATH_IMAGE002
与所述温度点总数量值
Figure 979536DEST_PATH_IMAGE003
成正比，若所述温度点总数量值
Figure 446290DEST_PATH_IMAGE003
越大，则最小间隔区间
Figure 721063DEST_PATH_IMAGE014
内测试温度点覆盖的范围越大，对应生成的筛选间隔点
Figure 705200DEST_PATH_IMAGE002
越大。同时所述温度点总数量值
Figure 877424DEST_PATH_IMAGE003
与温度点数量权重
Figure 16544DEST_PATH_IMAGE011
相互对应，当温度点总数量值
Figure 759372DEST_PATH_IMAGE003
越大时，相对应的温度点数量权重
Figure 265308DEST_PATH_IMAGE011
对温度点数量基准值
Figure 777192DEST_PATH_IMAGE004
调整越大。当温度点总数量值
Figure 208917DEST_PATH_IMAGE003
越小时，相对应的温度点数量权重
Figure 970200DEST_PATH_IMAGE011
对温度点数量基准值
Figure 155193DEST_PATH_IMAGE004
调整越小。
步骤S2.4、根据所述筛选策略，以所述最小测试温度点为起始点，在所述测试温度区间内进行测试温度点的筛选，得到多个温度实际测试点。
本发明提供的技术方案，根据所述一般精准指令、相对精准指令或非常精准指令中的任意一种对应的筛选策略，以所述最小的测试温度点为起始点，在每一种筛选策略所对应的测试温度点区间内，对测试温度点进行筛选，得到多个温度实际测试点。
本发明提供的技术方案，在一个可能的实施方式中，步骤S2.4具体包括：
步骤S2.4.1、以所述最小测试温度点为起始点，依次间隔筛选间隔点对测试温度区间进行筛选，将依次筛选的测试温度点作为温度实际测试点；
本发明提供的技术方案，以所述最小测试温度点为起始点，将筛选间隔点依次进行间隔，然后在对应的测试温度区间内，将筛选间隔点对应的测试温度点依次进行筛选，筛选后作为温度实际测试点。例如，温度测试区间为一度到一百度，温度点总数量值为一百，因此可以确定最小测试温度点为一度，且一度为起始点，假设筛选间隔点为十，也就是每间隔十个测试温度点挑选一个温度实际测试点，一直挑选到一百度。因此，以一度为起始点，根据筛选间隔点确定需要挑选的测试温度点为十度、二十度、三十度……一百度。将所挑选的测试温度点作为温度实际测试点。
步骤S2.4.2、若判断所述最大测试温度点被筛选为温度实际测试点，则将最小测试温度点、所筛选的所有测试温度点以及最大测试温度点作为温度实际测试点；
本发明提供的技术方案，若判断最大测试温度点被筛选为温度实际测试点，则说明测试温度区间内的所有的测试温度点可以被整除。每个最小间隔区间内的筛选间隔点的数量相等。因此根据最小间隔区间所筛选的最小测试温度点、所有测试温度点，以及最大测试温度点都作为温度实际测试点。
步骤S2.4.3、若判断所述最大测试温度点未被筛选为温度实际测试点，将与最大测试温度点相邻的被筛选的测试温度点作为第一调整温度点，将与第一调整温度点相邻的被筛选的测试温度点作为第二调整温度点；
本发明提供的技术方案，若判断所述最大测试温度点未被筛选为温度实际测试点，将与最大测试温度点相邻的被筛选的测试温度点作为第一调整温度点，将与第一调整温度点相邻的被筛选的测试温度点作为第二调整温度点，所述第一调整温度点为被筛选的温度实际测试点，第二调整温度点同样为被筛选的温度实际测试点，所述第一调整温度点和第二调整温度点之间相隔最小间隔区间的筛选间隔点，所述第一调整温度点与所述最大测试温度点之间间隔筛选间隔点的数量与其他最小间隔区间不同，此时温度点总数量值内的测试温度点不能被整除，因此需要确定所述第一调整温度点和所述第二调整温度点。
步骤S2.4.4、根据所述第二调整温度点、最大测试温度点确定变化调整温度点，将所述变化调整温度点作为温度实际测试点，将所述第一调整温度点作为非温度实际测试点；
本发明提供的技术方案，根据所述第二调整温度点，最大测试温度点确定变化调整温度点，将所述变化调整温度点作为温度实际测试点，将所述第一调整温度点作为非温度实际测试点。将所述最大测试温度点与所述第二调整温度点之间间隔的测试温度点的数量值除以二或者取中位值，可以得出变化调整温度点，所述变化调整温度点位于最大测试温度点和第二调整温度点的中间，最大测试温度点与变化调整温度点之间的温度点差值，和第二调整温度点与变化调整温度点之间的差值相同。得到所述变化调整温度点后，将变化调整温度点作为温度实际测试点，将之前根据最小间隔区间筛选的第一调整温度点作为非温度实际测试点。
本发明提供的技术方案，在一个可能的实施方式中，步骤S2.4.4、具体包括：
步骤S2.4.4.1、将所述第二调整温度点的温度值与所述最大测试温度点的温度值进行运算，得到调整温度差值；
本发明提供的技术方案，将所述最大测试温度点的温度值与所述第二调整温度点的温度值相减，所得差值为调整温度差值。例如，此时的最大测试温度点的温度值为十度，第二调整温度点的温度值为五度，相减后所得差值为五度，因此所得调整温度差值为五度。所述调整温度差值的作用在于，为后续得到变化调整温度点提供基础。
步骤S2.4.4.2、获取所述调整温度差值内的调整中间值，根据所述调整中间值得到调整补偿温度值，将所述调整补偿温度值与所述第二调整温度点求和，得到变化调整温度点；
本发明提供的技术方案，获取所述调整温度差值内的调整中间值，所述调整中间值位于调整温度差值内的二分之一处，例如此时的调整温度差值为五度，用调整温度差值五度除以二，那么此时的调整中间值为二点五度。将所述调整中间值二点五度设置为调整补偿温度值，所述调整补偿温度值与所述第二调整温度点的温度值进行求和，得到变化调整温度点的温度值。
通过以下公式计算变化调整温度点的温度值，
Figure 69054DEST_PATH_IMAGE007
其中，
Figure 189457DEST_PATH_IMAGE008
为变化调整温度点的温度值，
Figure 297090DEST_PATH_IMAGE015
为最大测试温度点的温度值，
Figure 660942DEST_PATH_IMAGE016
第二调整温度点的温度值；
本发明提供的技术方案，最大测试温度点的温度值
Figure 678577DEST_PATH_IMAGE015
与第二调整温度点的温度值
Figure 94515DEST_PATH_IMAGE016
相减，得到调整温度差值
Figure 581122DEST_PATH_IMAGE017
，将调整温度差值
Figure 373497DEST_PATH_IMAGE017
除以二，得到调整中间值
Figure 511218DEST_PATH_IMAGE018
，将调整中间值
Figure 455647DEST_PATH_IMAGE018
设置为调整补偿温度值。将所述调整补偿温度值
Figure 147659DEST_PATH_IMAGE018
与所述第二调整温度点的温度值
Figure 478146DEST_PATH_IMAGE016
相加，得到所述变化调整温度点的数值
Figure 689947DEST_PATH_IMAGE008
。
步骤S2.4.4.3、若所述变化调整温度点的温度值为非整数，则对所述变化调整温度点的温度值进行整数化处理，得到最终的变化调整温度点；
本发明提供的技术方案，在对变化调整温度点的温度值进行运算的过程中，可能会存在最大测试温度点与第二调整温度点的温度值相减，得到的调整温度差值为整数，但是除以二后所得到的调整中间值为非整数，相对应得到的变化调整温度点的温度值也为非整数，此时需要将变化调整温度点的温度值四舍五入为整数，便于后续对温度实际测试点进行筛选。例如，当最大测试温度点为九度，第二调整温度点的温度值为六度，相减后得到的调整温度差值为三度，除以二后所得到的调整中间值为一点五度，相对应得到的变化调整温度点的温度值为七点五度，将变化调整温度点的温度值七点五度四舍五入为八度，得到最终的变化调整温度点为八度。
步骤S2.4.4.4、将所述变化调整温度点作为温度实际测试点，并将所述第一调整温度点从被筛选的测试温度点中剔除。
本发明提供的技术方案，将所述变化调整温度点作为温度实际测试点，并将所述第一调整温度点从被筛选的测试温度点中剔除。变化调整温度点生成之前，所述第一调整温度点为被筛选的温度实际测试点，变化调整温度点生成之后，将所述第一调整温度点作为非温度实际测试点，从被筛选的测试温度点中剔除。
步骤S2.4.5、将最小测试温度点、所筛选的第一调整温度点以外的其他所有测试温度点、变化调整温度点、以及最大测试温度点作为温度实际测试点。
本发明提供的技术方案，将最小测试温度点、所筛选的第一调整温度点以外的其他所有测试温度点、变化调整温度点、以及最大测试温度点作为温度实际测试点。可以知道的是，所述第一调整温度点已经从被筛选的测试温度点中剔除，因此，将所述根据最小间隔区间所筛选的，除第一调整温度点以外的其他测试温度点和变化调整温度点作为温度实际测试点，同时将测试温度区间内的最小测试温度点与最大测试温度点同样作为温度实际测试点。
通过本方案筛选温度实际测试点，有一定的适用场景，例如，温度点总数量值较大时，此时测试温度区间内的测试温度点数量较多，计算量较大，因此通过本方案根据第一调整温度点，第二调整温度点和最大测试温度点来确定变化调整温度点，从而对温度实际测试点进行筛选，使筛选的过程更加高效且较为便捷，降低筛选温度实际测试点的计算量。
本发明提供的技术方案，在一个可能的实施方式中，步骤S2.4、还包括：
步骤S2.4.（1）、将所述测试温度区间内的测试温度点按照筛选间隔点进行标记，根据相邻的筛选间隔点生成多个第一区间，确定每个第一区间内的测试温度点数量；
本发明提供的技术方案，将所述测试温度区间内的测试温度点按照最小间隔区间内的筛选间隔点进行标记，例如，此时的最小间隔区间为五，说明此时每个最小间隔区间内有五个筛选间隔点，将所述测试温度区间内的测试温度点每五个一组，将每组内的测试温度点分别标记为五个筛选间隔点。将相邻的每组筛选间隔点标记为第一区间。因此测试温度区间内有多个第一区间。根据每组内有五个筛选间隔点，可以确定每个第一区间内的测试温度点数量为五个。
步骤S2.4.（2）、若所有第一区间内的测试温度点数量相同，则将所有标记的测试温度点作为温度实际测试点；
本发明提供的技术方案，遍历每个第一区间内的测试温度点的数量，若每个第一区间内的测试温度点数量相同，则将根据最小间隔区间所标记的测试温度点作为温度实际测试点。
步骤S2.4.（3）、若存在与其他第一区间内的测试温度点数量不同的第一区间，则将测试温度点数量少的第一区间作为异变区间；
本发明提供的技术方案，遍历每个第一区间内的测试温度点的数量，若存在有第一区间内的测试温度点数量，与其他第一区间内的测试温度点数量不同的情况，则将第一区间内测试温度点数量比其他第一区间内测试温度点数量少的第一区间作为异变区间，所述异变区间的作用在于，便于后续筛选有不同测试温度点数量的第一区间内所对应的温度实际测试点。
步骤S2.4.（4）、将所述异变区间与相邻的第一区间合并为组合区间，提取所述组合区间内测试温度点的中间值，确定温度中间值，根据所述温度中间值将所述组合区间进行拆解，生成多个第二区间；
可以知道的是，与异变区间相邻的第一区间内的测试温度点的数量，和其他第一区间内测试温度点的数量相同，因此将异变区间与相邻的第一区间合并为组合区间，合并为组合区间后，将异变区间内的测试温度点与相邻的第一区间内的测试温度点相加，得到组合区间内测试温度点的数量总值，提取组合区间内测试温度点数量总值的中间值，确定温度中间值，根据所述温度中间值，将合并后的组合区间拆解为两个区间，将拆解的两个区间标记为第二区间，所述两个第二区间内测试温度点的数量相等。
步骤S2.4.（5）、对所有第一区间、第二区间的区间边缘点所对应的测试温度点进行筛选，得到多个温度实际测试点，并去除重复的温度实际测试点，得到最终的温度实际测试点。
本发明提供的技术方案，确定所有第一区间、第二区间后，将所有第一区间内和第二区间内的第一个测试温度点作为起始点，最后一个测试温度点作为截止点，将所述起始点与所述截止点设定为区间边缘点，所述相邻区间的边缘点是相同的，每个区间只包括起始点的本体，不包括截止点的本体，最后一个区间包含截止点，因为最后一个区间的截止点为最大测试温度点，最大测试温度点也被选为温度实际测试点。然后将所有区间内选择的重复的温度实际测试点进行去除，得到最终的温度实际测试点。
通过本方案筛选温度实际测试点，有一定的适用场景，例如，温度点总数量值较小时，此时测试温度区间内的测试温度点数量较少，可以直接得到测试温度点对应的区间。因此本方案根据第一区间，异变区间和合并后组合区间的温度中间值来确定第二区间与第一区间对应的测试温度点，从而对温度实际测试点进行筛选，使筛选的准确度符合温度点总数量值的客观实际情况，筛选过程更加高效且较为便捷，降低了对温度实际测试点的筛选步骤。
步骤S3、按照所述温度实际测试点对测试目标进行测试，得到在所述测试时长信息下所对应的材料衰减函数；
本发明提供的技术方案，按照已经筛选出的多个温度实际测试点对测试目标依次进行测试，得到测试目标在每个温度实际测试点中对应的测试时长信息，所述对应的测试时长信息的作用在于，便于后续根据测试时长信息得到测试目标在每个温度实际测试点中衰减后质量。根据测试目标在每个温度实际测试点中对应的测试时长信息，可以得到与对应的测试时长信息相对应的材料衰减函数。
本发明提供的技术方案，在一个可能的实施方式中，步骤S3、具体包括：
步骤S3.1、获取所述测试目标信息的衰减前质量，以及测试目标信息在多个温度实际测试点的多个测试数据，每个测试数据包括在每个温度实际测试点的衰减后质量和所述衰减后质量对应的衰减时间；
本发明提供的技术方案，所述测试目标信息的衰减前质量，为新型塑料材料制品在放入红外线水分测试仪进行测试之前的初始质量。同时获取新型塑料材料制品在红外线水分测试仪内进行测试时，每个温度实际测试点的测试数据。所述测试数据包括，新型塑料材料制品在每个温度实际测试点进行测试时的衰减后质量，和新型塑料材料制品衰减后质量相对应的衰减时间。获取新型塑料材料制品，在每个温度实际测试点的衰减后质量与相对应的衰减时间的作用在于，便于后续得到新型塑料材料制品在每个温度实际测试点相对应的材料衰减函数。
步骤S3.2、将所述衰减时间预设为衰减横坐标、所述衰减后质量预设为衰减纵坐标，根据所述衰减横坐标和所述衰减纵坐标确定多个衰减点；
本发明提供的技术方案，将新型塑料材料制品，在每个温度实际测试点对应生成的衰减时间预先设置为衰减横坐标，将新型塑料材料制品，在每个温度实际测试点进行测试时的衰减后质量预先设置为衰减纵坐标，根据所述衰减横坐标和所述衰减纵坐标，确定新型塑料材料制品在进行测试时的多个衰减点。
步骤S3.3、将所述多个衰减点相连生成衰减曲线，根据所述衰减曲线确定在不同温度实际测试点分别对应的材料衰减函数。
本发明提供的技术方案，将新型塑料材料制品在进行测试时的多个衰减点相连生成衰减曲线，根据所述衰减曲线，确定新型塑料材料制品在不同温度实际测试点中分别对应的材料衰减函数。
步骤S4、根据相邻的温度实际测试点的材料衰减函数，对未进行实际测试的温度补齐测试点进行材料衰减函数的补齐；
本发明提供的技术方案，根据相邻的两个温度实际测试点相对应的两个材料衰减函数，对没有进行实际测试的温度补齐测试点所对应的材料衰减函数进行补齐。可以知道的是，没有进行实际测试的温度补齐测试点位于两个相邻的温度实际测试点之间。在进行实际测试的时候，不是每个测试温度点都要进行测试，这样耗费的时长和测试的周期，以及产生的测试数据非常庞大，且处理起来非常影响测试效率，因此可以通过对温度实际测试点进行测试后，根据相邻温度实际测试点的材料衰减函数，对没有进行实际测试的温度补齐测试点所对应的材料衰减函数进行补齐。
本发明提供的技术方案，在一个可能的实施方式中，步骤S4、具体包括：
步骤S4.1、获取相邻的第一温度实际测试点与第二温度实际测试点之间未实际测试的温度点，将未进行实际测试的温度点作为第一温度补齐测试点；
本发明提供的技术方案，新型塑料材料制品在进行测试时，根据筛选策略与最小间隔区间所确定的两个相邻的第一温度实际测试点与第二温度实际测试点，获取这两个温度实际测试点之间没有进行实际测试的温度点，将没有进行实际测试的温度点作为第一温度补齐测试点。
步骤S4.2、分别获取所述第一温度实际测试点和第二温度实际测试点分别对应的第一材料衰减函数和第二材料衰减函数；
本发明提供的技术方案，新型塑料材料制品在进行测试时，根据第一温度实际测试点的测试时长信息和衰减后质量，获取第一温度实际测试点对应的第一材料衰减函数。根据第二温度实际测试点的测试时长信息和衰减后质量，获取第二温度实际测试点对应的第二材料衰减函数。
步骤S4.3、根据所述第一材料衰减函数与所述第二材料衰减函数，对所述第一温度补齐测试点的材料衰减函数进行补齐，生成第三材料衰减函数。
本发明提供的技术方案，根据所述第一温度实际测试点对应的第一材料函数，和第二温度实际测试点对应的所述第二材料衰减函数，对所述第一温度补齐测试点的材料衰减函数进行补齐，生成第一温度补齐测试点所对应的第三材料衰减函数。
本发明提供的技术方案，在一个可能的实施方式中，步骤S4.3、具体包括：
步骤S4.3.1、获取相邻的第一材料衰减函数与第二材料衰减函数在测试时长信息中，每一个相同的测试时间点所对应的第一衰减后质量和第二衰减后质量，将所述第一衰减后质量和所述第二衰减后质量相减，得到多个测试时间点分别对应的衰减质量差值；
本发明提供的技术方案，测试时长信息中包含多个测试时间点，每个温度实际测试点有多个相对应的测试时间点。获取相邻的第一材料衰减函数与第二材料衰减函数，在相同的测试时间点上所对应的第一衰减后质量和第二衰减后质量。将第一材料衰减函数对应的第一衰减后质量，减去第二材料衰减函数对应的第二衰减后质量，得到相邻的第一材料衰减函数与第二材料衰减函数在多个测试时间点上分别对应的衰减质量差值。可以知道的是，若温度实际测试点的温度值越大，则相对应的衰减后质量越小。
例如，当第一温度实际测试点的温度值为十度，选取第一材料衰减函数中测试时间点为十分钟、二十分钟和三十分钟，相对应的第一衰减后质量分别为三十克、二十克和十克。当第二温度实际测试点的温度值为三十度，选取第二材料衰减函数中与第一材料衰减函数中相同的测试时间点十分钟、二十分钟和三十分钟，相对应的第二衰减后质量分别为十克、六克和三克。因此，在相同的多个测试时间点十分钟、二十分钟和三十分钟内，用第一材料衰减函数相对应的第一衰减后质量三十克、二十克和十克，减去第二材料衰减函数相对应的第二衰减后质量十克、六克和三克，得到相同的测试时间点十分钟、二十分钟和三十分钟内，分别对应的衰减质量差值二十克、十四克和七克。
步骤S4.3.2、根据所述相邻的第一温度实际测试点与第二温度实际测试点之间，第一温度补齐测试点的数量生成多个补齐点区间段，将所述衰减质量差值与所述补齐点区间段相除，得到每个补齐点区间段对应的补齐区间值；
本发明提供的技术方案，相邻的第一温度实际测试点与第二温度实际测试点之间，可能仅有一个第一温度补齐测试点，也可能有多个第一温度补齐测试点，因此需要确定相邻的第一温度实际测试点与第二温度实际测试点之间，第一温度补齐测试点的实际数量，根据第一温度补齐测试点的实际数量生成多个补齐点区间段。将第一温度实际测试点与第二温度实际测试点对应的衰减质量差值与补齐点区间段相除，得到每个补齐点区间段对应的补齐区间值。
例如，相邻的第一温度实际测试点与第二温度实际测试点之间，有三个第一温度补齐测试点，根据三个第一温度补齐测试点，可以确定共有四个补齐点区间段，假设第一温度实际测试点与第二温度实际测试点对应的衰减质量差值为四克，将第一温度实际测试点与第二温度实际测试点对应的衰减质量差值四克与四个补齐点区间段相除，得到每个补齐点区间段对应的补齐区间值为一克。
步骤S4.3.3、以与第二材料衰减函数相邻的第一温度补齐测试点为起始点，依次确定每个第一温度补齐测试点对应的补齐点区间段得到补齐区间段数量，根据第一温度补齐测试点对应的补齐区间段数量，对补齐区间值进行叠加，得到每个第一温度补齐测试点的补齐点衰减后质量；
本发明提供的技术方案，第二材料衰减函数对应的第二温度实际测试点的温度值，比第一材料衰减函数对应的第一温度实际测试点的温度值大，因此如图4所示，在坐标系中第二材料衰减函数的函数图像在第一材料衰减函数的下方，所以需要以与第二材料衰减函数相邻的第一温度补齐测试点作为起始点，从而以此来确定每个第一温度补齐测试点相对应的补齐点区间段，得到补齐区间段数量。根据第一温度补齐测试点对应的补齐区间段数量，将补齐区间值进行叠加。有几个补齐区间段数量就加几个补齐区间值，最终得到每个第一温度补齐测试点的补齐点衰减后质量。
例如，假设第二材料衰减函数对应的第二温度实际测试点的温度值为五度，相对应的在测试时间点为二十分钟时，第二衰减后质量为一克。第一材料衰减函数对应的第一温度实际测试点的温度值为一度，相对应的在测试时间点为二十分钟时，第一衰减后质量为五克。因此根据第二材料衰减函数对应的第二温度实际测试点的温度值五度，和第一材料衰减函数对应的第一温度实际测试点的温度值一度，可以确定中间有三个第一温度补齐测试点需要补齐。以第二材料衰减函数对应的第二温度实际测试点的温度值五度为起始点，可以确定三个第一温度补齐测试点分别是四度、三度、二度。因此可以算出共有第一补齐区间段五度到四度，第二补齐区间段四度到三度，第三补齐区间段三度到二度，第四补齐区间段二度到一度，一共四个补齐区间段。根据第二温度实际测试点温度值五度与第一温度实际测试点温度值一度相减，可得出第一温度实际测试点与第二温度实际测试点对应的衰减质量差值四克与四个补齐点区间段相除，得到每个补齐点区间段对应的补齐区间值为一克。根据第一温度补齐测试点对应的补齐区间段数量，将补齐区间值进行叠加。如第一补齐区间段加一个补齐区间值，即为第一温度补齐测试点四度时，在第二材料衰减函数对应的第二衰减后质量一克的基础上加一个补齐区间值一克，即可对第一温度补齐测试点四度时的衰减后质量补齐即为两克。相对应的将第二补齐区间加两个补齐区间值，将第三补齐区间加三个补齐区间值，将将第四补齐区间加四个补齐区间值。因此最终将四度、三度、二度这三个第一温度补齐测试点的衰减后质量补齐为二克、三克、四克。
步骤S4.3.4、统计第一温度补齐测试点在不同测试时间点所对应的补齐点衰减后质量，以多个补齐点衰减后质量、测试时间点确定第一温度补齐测试点的多个补齐坐标，将多个补齐坐标拟合得到第一温度补齐测试点相应的第三材料衰减函数。如图4所示为第一材料衰减函数、第二材料衰减函数以及第三材料衰减函数的示意图。
本发明提供的技术方案，将第一温度补齐测试点对应在不同测试时间点的衰减后质量进行统计，例如测试时长信息中测试时间点分别为十分钟、二十分钟和三十分钟，因此需要将测试时间点在十分钟、二十分钟和三十分钟时第一温度补齐测试点对应的多个衰减后质量进行统计，以多个测试时间点和多个衰减后质量作为第一温度补齐测试点的多个补齐坐标。将多个补齐坐标代表的点相连接成一条曲线，根据相连后的曲线得到第一温度补齐测试点相应的第三材料衰减函数。
步骤S5、统计所有温度实际测试点、温度补齐测试点分别对应的材料衰减函数生成新材料测试数据结果。
本发明提供的技术方案，将所有的温度实际测试点对应的材料衰减函数和温度补齐测试点对应的材料衰减函数进行统计，统计后根据温度实际测试点、温度补齐测试点分别对应的材料衰减函数，生成新型塑料材料制品对应的测试数据结果，用户可以根据该测试数据结果看到符合自己测试需求的相关测试信息。
为了实现本发明所提供的一种新材料测试数据处理方法，本发明还提供了一种新材料测试数据处理装置，如图3所示其装置的结构示意图，包括：
提取模块，提取新材料测试需求中的测试目标信息、测试温度信息以及测试时长信息；
筛选模块，对所述测试温度信息中的多个测试温度点进行统计得到测试温度点集合，根据输入的精准度要求信息在所述测试温度点集合中选择多个温度实际测试点；
测试模块，按照所述温度实际测试点对测试目标进行测试，得到在所述测试时长信息下所对应的材料衰减函数；
补齐模块，根据相邻的温度实际测试点的材料衰减函数，对未进行实际测试的温度补齐测试点进行材料衰减函数的补齐；
统计模块，统计所有温度实际测试点、温度补齐测试点分别对应的材料衰减函数生成新材料测试数据结果。
本发明还提供一种存储介质，所述存储介质中存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时用于实现上述的各种实施方式提供的方法。
其中，存储介质可以是计算机存储介质，也可以是通信介质。通信介质包括便于从一个地方向另一个地方传送计算机程序的任何介质。计算机存储介质可以是通用或专用计算机能够存取的任何可用介质。例如，存储介质耦合至处理器，从而使处理器能够从该存储介质读取信息，且可向该存储介质写入信息。当然，存储介质也可以是处理器的组成部分。处理器和存储介质可以位于专用集成电路(Application Specific IntegratedCircuits，简称：ASIC)中。另外，该ASIC可以位于用户设备中。当然，处理器和存储介质也可以作为分立组件存在于通信设备中。存储介质可以是只读存储器（ROM）、随机存取存储器（RAM）、CD-ROM、磁带、软盘和光数据存储设备等。
本发明还提供一种程序产品，该程序产品包括执行指令，该执行指令存储在存储介质中。设备的至少一个处理器可以从存储介质读取该执行指令，至少一个处理器执行该执行指令使得设备实施上述的各种实施方式提供的方法。
在上述终端或者服务器的实施例中，应理解，处理器可以是中央处理单元（英文：Central Processing Unit，简称：CPU），还可以是其他通用处理器、数字信号处理器（英文：Digital Signal Processor，简称：DSP）、专用集成电路（英文：Application SpecificIntegrated Circuit，简称：ASIC）等。通用处理器可以是微处理器或者该处理器也可以是任何常规的处理器等。结合本发明所公开的方法的步骤可以直接体现为硬件处理器执行完成，或者用处理器中的硬件及软件模块组合执行完成。
最后应说明的是：以上各实施例仅用以说明本发明的技术方案，而非对其限制；尽管参照前述各实施例对本发明进行了详细的说明，本领域的普通技术人员应当理解：其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分或者全部技术特征进行等同替换；而这些修改或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本发明各实施例技术方案的范围。

Claims (10)

1.一种新材料测试数据处理方法，其特征在于，包括：
提取新材料测试需求中的测试目标信息、测试温度信息以及测试时长信息；
对所述测试温度信息中的多个测试温度点进行统计得到测试温度点集合，根据输入的精准度要求信息在所述测试温度点集合中选择多个温度实际测试点；
按照所述温度实际测试点对测试目标进行测试，得到在所述测试时长信息下所对应的材料衰减函数；
根据相邻的温度实际测试点的材料衰减函数，对未进行实际测试的温度补齐测试点进行材料衰减函数的补齐；
统计所有温度实际测试点、温度补齐测试点分别对应的材料衰减函数生成新材料测试数据结果。
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，
在对所述测试温度信息中的多个测试温度点进行统计得到测试温度点集合，根据输入的精准度要求信息在所述测试温度点集合中选择多个温度实际测试点中，具体包括：
接收预先输入的多个测试温度点，将所述多个测试温度点进行统计得到测试温度点集合，确定所有测试温度点的温度点总数量值；
获取所述测试温度点集合中最小测试温度点与最大测试温度点，根据所述最小测试温度点和所述最大测试温度点，得到测试温度区间；
接收所述测试目标信息对应输入的精准度要求信息，根据所述精准度要求信息、温度点总数量值生成对测试温度点的筛选策略；
根据所述筛选策略，以所述最小测试温度点为起始点，在所述测试温度区间内进行测试温度点的筛选，得到多个温度实际测试点。
3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，
在所述接收所述测试目标信息对应输入的精准度要求信息，根据所述精准度要求信息、温度点总数量值生成对测试温度点的筛选策略中，具体包括：
所述精准度要求信息为一般精准指令、相对精准指令或非常精准指令中的任意一种；
根据所述温度点总数量值确定最小间隔区间；
对所述一般精准指令、相对精准指令以及非常精准指令进行量化处理，生成对应的精准常数；
根据所述精准常数与所述最小间隔区间的乘积，确定筛选间隔点生成对应的筛选策略；
通过以下方式计算筛选策略中的筛选间隔点，
Figure 57652DEST_PATH_IMAGE001
其中，
Figure 235824DEST_PATH_IMAGE002
为筛选间隔点，
Figure 137527DEST_PATH_IMAGE003
为温度点总数量值，
Figure 223295DEST_PATH_IMAGE004
为温度点数量基准值，
Figure 28309DEST_PATH_IMAGE005
为温度点数量权重，
Figure 534639DEST_PATH_IMAGE006
为精准常数。
4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，
在根据所述筛选策略，以所述最小测试温度点为起始点，在所述测试温度区间内进行测试温度点的筛选，得到多个温度实际测试点中，具体包括：
以所述最小测试温度点为起始点，依次间隔筛选间隔点对测试温度区间进行筛选，将依次筛选的测试温度点作为温度实际测试点；
若判断所述最大测试温度点被筛选为温度实际测试点，则将最小测试温度点、所筛选的所有测试温度点以及最大测试温度点作为温度实际测试点；
若判断所述最大测试温度点未被筛选为温度实际测试点，将与最大测试温度点相邻的被筛选的测试温度点作为第一调整温度点，将与第一调整温度点相邻的被筛选的测试温度点作为第二调整温度点；
根据所述第二调整温度点、最大测试温度点确定变化调整温度点，将所述变化调整温度点作为温度实际测试点，将所述第一调整温度点作为非温度实际测试点；
将最小测试温度点、所筛选的第一调整温度点以外的其他所有测试温度点、变化调整温度点、以及最大测试温度点作为温度实际测试点。
5.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，
在根据所述筛选策略，以所述最小测试温度点为起始点，在所述测试温度区间内进行测试温度点的筛选，得到多个温度实际测试点中，还包括：
将所述测试温度区间内的测试温度点按照筛选间隔点进行标记，根据相邻的筛选间隔点生成多个第一区间，确定每个第一区间内的测试温度点数量；
若所有第一区间内的测试温度点数量相同，则将所有标记的测试温度点作为温度实际测试点；
若存在与其他第一区间内的测试温度点数量不同的第一区间，则将测试温度点数量少的第一区间作为异变区间；
将所述异变区间与相邻的第一区间合并为组合区间，提取所述组合区间内测试温度点的中间值，确定温度中间值，根据所述温度中间值将所述组合区间进行拆解，生成多个第二区间；
对所有第一区间、第二区间的区间边缘点所对应的测试温度点进行筛选，得到多个温度实际测试点，并去除重复的温度实际测试点，得到最终的温度实际测试点。
6.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，
在根据所述第二调整温度点、最大测试温度点确定变化调整温度点，将所述变化调整温度点作为温度实际测试点，将所述第一调整温度点作为非温度实际测试点中，具体包括：
将所述第二调整温度点的温度值与所述最大测试温度点的温度值进行差值运算，得到调整温度差值；
获取所述调整温度差值内的调整中间值，根据所述调整中间值得到调整补偿温度值，将所述调整补偿温度值与所述第二调整温度点求和，得到变化调整温度点；
通过以下公式计算变化调整温度点的温度值，
Figure 769311DEST_PATH_IMAGE007
其中，
Figure 783403DEST_PATH_IMAGE008
为变化调整温度点的温度值，
Figure 928077DEST_PATH_IMAGE009
为最大测试温度点的温度值，
Figure 838264DEST_PATH_IMAGE010
第二调整温度点的温度值；
若所述变化调整温度点的温度值为非整数，则对所述变化调整温度点的温度值进行整数化处理，得到最终的变化调整温度点；
将所述变化调整温度点作为温度实际测试点，并将所述第一调整温度点从被筛选的测试温度点中剔除。
7.根据权利要求6所述的方法，其特征在于，
在按照所述温度实际测试点对测试目标进行测试，得到在所述测试时长信息下所对应的材料衰减函数中，具体包括：
获取所述测试目标信息的衰减前质量，以及测试目标信息在多个温度实际测试点的多个测试数据，每个测试数据包括在每个温度实际测试点的衰减后质量和所述衰减后质量对应的衰减时间；
将所述衰减时间预设为衰减横坐标、所述衰减后质量预设为衰减纵坐标，根据所述衰减横坐标和所述衰减纵坐标确定多个衰减点；
将所述多个衰减点相连生成衰减曲线，根据所述衰减曲线确定在不同温度实际测试点分别对应的材料衰减函数。
8.根据权利要求7所述的方法，其特征在于，
在根据相邻的温度实际测试点的材料衰减函数，对未进行实际测试的温度补齐测试点进行材料衰减函数的补齐中，具体包括：
获取相邻的第一温度实际测试点与第二温度实际测试点之间未实际测试的温度点，将未进行实际测试的温度点作为第一温度补齐测试点；
分别获取所述第一温度实际测试点和第二温度实际测试点分别对应的第一材料衰减函数和第二材料衰减函数；
根据所述第一材料衰减函数与所述第二材料衰减函数，对所述第一温度补齐测试点的材料衰减函数进行补齐，生成第三材料衰减函数。
9.根据权利要求8所述的方法，其特征在于，
在根据所述第一材料衰减函数与所述第二材料衰减函数，对所述第一温度补齐测试点的材料衰减函数进行补齐，生成第三材料衰减函数中，具体包括：
获取相邻的第一材料衰减函数与第二材料衰减函数在测试时长信息中，每一个相同的测试时间点所对应的第一衰减后质量和第二衰减后质量，将所述第一衰减后质量和所述第二衰减后质量相减，得到多个测试时间点分别对应的衰减质量差值；
根据所述相邻的第一温度实际测试点与第二温度实际测试点之间，第一温度补齐测试点的数量生成多个补齐点区间段，将所述衰减质量差值与所述补齐点区间段相除，得到每个补齐点区间段对应的补齐区间值；
以与第二材料衰减函数相邻的第一温度补齐测试点为起始点，依次确定每个第一温度补齐测试点对应的补齐点区间段得到补齐区间段数量，根据第一温度补齐测试点对应的补齐区间段数量，对补齐区间值进行叠加，得到每个第一温度补齐测试点的补齐点衰减后质量；
统计第一温度补齐测试点在不同测试时间点所对应的补齐点衰减后质量，以多个补齐点衰减后质量、测试时间点确定第一温度补齐测试点的多个补齐坐标，将多个补齐坐标拟合得到第一温度补齐测试点相应的第三材料衰减函数。
10.一种新材料测试数据处理装置，其特征在于，包括：
提取模块，提取新材料测试需求中的测试目标信息、测试温度信息以及测试时长信息；
筛选模块，对所述测试温度信息中的多个测试温度点进行统计得到测试温度点集合，根据输入的精准度要求信息在所述测试温度点集合中选择多个温度实际测试点；
测试模块，按照所述温度实际测试点对测试目标进行测试，得到在所述测试时长信息下所对应的材料衰减函数；
补齐模块，根据相邻的温度实际测试点的材料衰减函数，对未进行实际测试的温度补齐测试点进行材料衰减函数的补齐；
统计模块，统计所有温度实际测试点、温度补齐测试点分别对应的材料衰减函数生成新材料测试数据结果。
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