CN114967643A - 一种航天发射场控制系统的测试方法、装置及存储介质 - Google Patents
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Abstract
本申请提供了一种航天发射场控制系统的测试方法、装置及存储介质,测试方法包括:总控机接收用户在目标测试子界面上执行的针对可编程逻辑控制器和测试程序的选择操作,确定用于测试的目标可编程逻辑控制器以及目标可编程逻辑控制器对应的目标测试程序;当目标测试子界面为用于针对虚拟设备执行测试的界面时,总控机产生第一运行指令,当目标测试子界面为用于针对实体设备执行测试的界面时,总控机产生切换指令和第二运行指令,以模拟航天发射场的航天发射塔设备的运行;总控机根据目标可编程逻辑控制器控制实体设备或虚拟设备时的测试程序执行信息,确定并展示目标可编程逻辑控制器的目标量化指标,以对可编程逻辑控制器进行测试。
Description
技术领域
本申请涉及航天技术领域,具体而言,涉及一种航天发射场控制系统的测试方法、装置及存储介质。
背景技术
现有技术中,航天发射研究中,通常使用火箭发射塔演练平台对运载火箭测试发射岗位人员进行训练、演练等。该演练平台至少支持但不限于运载火箭典型部段吊装、接地接口对接、发射阵地射前准备、燃料加注与配气、空调温湿度控制、塔架供水消防等典型场景的模拟。火箭发射塔演练平台通常包括可编程逻辑控制器(Programmable LogicController,PLC)控制系统、显示系统、仿真模型系统和功能模型系统。
现有的PLC控制系统中,大多使用的是进口PLC。但随着国内技术发展,国产PLC渐渐融入市场,但还处于推广阶段。为了更好的了解国产PLC的性能,需要一种测试方法能够测试出国产PLC和进口PLC的差距和优势,能够对国产PLC和进口PLC的性能进行测试。
发明内容
有鉴于此,本申请的目的在于提供一种航天发射场控制系统的测试方法、装置及存储介质,以对航天发射场控制系统中的可编程逻辑控制器进行测试。
第一方面,本申请实施例提供一种航天发射场控制系统的测试方法,航天发射场控制系统至少包括总控机、交换机、至少一台可编程逻辑控制器、切换装置和多个执行设备,多个执行设备包括实体设备和虚拟设备,总控机与交换机连接,交换机分别与各可编程逻辑控制器连接,每台可编程逻辑控制器分别与一个虚拟设备连接,每台可编程逻辑控制器分别与切换装置对应的一个第一端子连接,实体设备与切换装置对应的第二端子连接,测试方法包括:总控机接收用户在测试程序界面上执行的子界面选择操作,进入目标测试子界面;总控机接收用户在目标测试子界面上执行的针对可编程逻辑控制器和测试程序的选择操作,确定用于测试的目标可编程逻辑控制器以及目标可编程逻辑控制器对应的目标测试程序;当目标测试子界面为用于针对虚拟设备执行测试的界面时,总控机产生第一运行指令,并经由交换机发送给目标可编程逻辑控制器,以使目标可编程逻辑控制器根据第一运行指令运行目标测试程序来控制虚拟设备动作,以模拟航天发射场的航天发射塔设备的运行;当目标测试子界面为用于针对实体设备执行测试的界面时,总控机产生切换指令和第二运行指令,将切换指令发送给切换装置,以使切换装置根据切换指令将实体设备与目标可编程逻辑控制器建立连接,将第二运行指令经由交换机发送给目标可编程逻辑控制器,以使目标可编程逻辑控制器根据第二运行指令运行目标测试程序来控制实体设备动作,以模拟航天发射场的航天发射塔设备的运行;总控机根据目标可编程逻辑控制器控制实体设备或虚拟设备时的测试程序执行信息,确定并展示目标可编程逻辑控制器的目标量化指标。
优选地,目标测试子界面包括虚拟设备测试子界面,用于针对虚拟设备执行测试,虚拟设备测试子界面至少包括与每台可编程逻辑控制器对应的可编程逻辑控制器选项、与每台可编程逻辑控制器对应的测试程序选项以及运行选项,总控机通过以下方式确定目标可编程逻辑控制器以及目标可编程逻辑控制对应的测试程序:总控机响应用户在虚拟设备测试子界面上对至少一台可编程逻辑控制器选项的选择操作,以将至少一台可编程逻辑控制器选项对应的可编程逻辑控制器确定为目标可编程逻辑控制器;总控机响应用户在虚拟设备测试子界面上对目标可编程逻辑控制器中每台可编程逻辑控制器对应的测试程序选项的选择操作,以确定目标可编程逻辑控制器中每台可编程逻辑控制器对应的测试程序。
优选地,目标测试子界面包括实体设备测试子界面,用于针对实体设备执行测试,实体设备测试子界面至少包括与每台可编程逻辑控制器对应的可编程逻辑控制器选项、与每台可编程逻辑控制器对应的测试程序选项以及运行选项,总控机通过以下方式确定目标可编程逻辑控制器以及目标可编程逻辑控制对应的测试程序:总控机响应用户在实体设备测试子界面上对任一可编程逻辑控制器选项的选项操作,以将该可编程逻辑控制器选项对应的可编程逻辑控制器确定为目标可编程逻辑控制器;总控机响应用户在实体设备测试子界面上对目标可编程逻辑控制器对应的测试程序选项的选择操作,以确定目标可编程逻辑控制器对应的测试程序。
优选地,每个测试程序包括至少一个逻辑指令,每台可编程逻辑控制器包括数字量输出模块,量化指标包括数字输出响应时间,测试程序执行信息至少包括逻辑指令的第一下发时间和逻辑指令的第一完成时间,针对每台可编程逻辑控制器,总控机通过以下方式确定该可编程逻辑控制器的数字输出响应时间:针对每个逻辑指令,通过该可编程逻辑控制器的数字量输出模块获取该逻辑指令的第一完成时间与该逻辑指令的第一下发时间,并计算差值,以确定该逻辑指令对应的数字输出响应时间;将当前所有逻辑指令对应的数字输出响应时间的均值,作为该可编程逻辑控制器的数字输出响应时间。
优选地,量化指标还包括干扰环境下的数字输出响应时间,测试程序执行信息还包括逻辑指令的第二下发时间和逻辑指令的第二完成时间,针对每个在高频干扰环境下运行的可编程逻辑控制器,总控机通过以下方式确定干扰环境下该可编程逻辑控制器的数字输出响应时间:针对每个逻辑指令,通过该可编程逻辑控制器的数字量输出模块获取该逻辑指令的第二完成时间与该逻辑指令的第二下发时间,并计算差值,以确定该可编程逻辑控制器干扰环境下的数字输出响应时间;将当前所有逻辑指令对应的干扰环境下数字输出响应时间的均值,作为该可编程逻辑控制器干扰环境下的数字输出响应时间。
优选地,每个测试程序包括至少一个逻辑指令,每台可编程逻辑控制器还包括模拟量输出模块和模拟量输入模块,量化指标还包括模拟量误差率,测试程序执行信息还包括逻辑指令的目标模拟值和逻辑控制指令的采集模拟值,针对每台可编程逻辑控制器,总控机通过以下方式确定该可编程逻辑控制器的模拟量误差率:通过该可编程逻辑控制器的模拟量输出模块获取该逻辑指令的目标模拟值,以及通过该可编程逻辑控制器的模拟量输入模块获取该逻辑指令的采集模拟值,并计算每个逻辑指令的目标模拟值和采集模拟值的差值,以确定该逻辑指令对应的模拟量误差率;将当前所有逻辑指令对应的模拟量误差率的均值,作为该可编程逻辑控制器的模拟量误差率。
优选地,总控机通过以下方式展示目标可编程逻辑控制器的目标量化指标:总控机接收用户在指标分析界面上执行的子界面选择操作,进入目标指标分析子界面;总控机接收用户在目标指标分析子界面上执行的针对量化指标的选择操作,确定需要展示的目标量化指标。
第二方面,本申请实施例还提供一种航天发射场控制系统的测试装置,航天发射场控制系统至少包括总控机、交换机、至少一台可编程逻辑控制器、切换装置和多个执行设备,多个执行设备包括实体设备和虚拟设备,总控机与交换机连接,交换机分别与各可编程逻辑控制器连接,每台可编程逻辑控制器分别与一个虚拟设备连接,每台可编程逻辑控制器分别与切换装置对应的一个第一端子连接,实体设备与切换装置对应的第二端子连接,测试装置包括:
第一接收模块,用于接收用户在测试程序界面上执行的子界面选择操作,进入目标测试子界面;
第二接收模块,用于接收用户在目标测试子界面上执行的针对可编程逻辑控制器和测试程序的选择操作,确定用于测试的目标可编程逻辑控制器以及目标可编程逻辑控制器对应的目标测试程序;
第一指令生成模块,用于当目标测试子界面为用于针对虚拟设备执行测试的界面时,产生第一运行指令,并经由交换机发送给目标可编程逻辑控制器,以使目标可编程逻辑控制器根据第一运行指令运行目标测试程序来控制虚拟设备动作,以模拟航天发射场的航天发射塔设备的运行;
第二指令生成模块,用于当目标测试子界面为用于针对实体设备执行测试的界面时,产生切换指令和第二运行指令,将切换指令发送给切换装置,以使切换装置根据切换指令将实体设备与目标可编程逻辑控制器建立连接,将第二运行指令经由交换机发送给目标可编程逻辑控制器,以使目标可编程逻辑控制器根据第二运行指令运行目标测试程序来控制实体设备动作,以模拟航天发射场的航天发射塔设备的运行;
指标分析模块,用于根据目标可编程逻辑控制器控制实体设备或虚拟设备时的测试程序执行信息,确定并展示目标可编程逻辑控制器的目标量化指标。
第三方面,本申请实施例还提供一种电子设备,包括:处理器、存储器和总线,存储器存储有处理器可执行的机器可读指令,当电子设备运行时,处理器与存储器之间通过总线通信,处理器执行机器可读指令,以执行如上所述的航天发射场控制系统的测试方法的步骤。
第四方面,本申请实施例还提供一种计算机可读存储介质,存储介质上存储有计算机程序,计算机程序被处理器运行时执行如上所述的航天发射场控制系统的测试方法的步骤。
本申请实施例提供的一种航天发射场控制系统的测试方法,通过总控机接收用户在测试程序界面上执行的子界面选择操作,进入目标测试子界面;总控机接收用户在目标测试子界面上执行的针对可编程逻辑控制器和测试程序的选择操作,确定用于测试的目标可编程逻辑控制器以及目标可编程逻辑控制器对应的目标测试程序;当目标测试子界面为用于针对虚拟设备执行测试的界面时,总控机产生第一运行指令,并经由交换机发送给目标可编程逻辑控制器,以使目标可编程逻辑控制器根据第一运行指令运行目标测试程序来控制虚拟设备动作,以模拟航天发射场的航天发射塔设备的运行;当目标测试子界面为用于针对实体设备执行测试的界面时,总控机产生切换指令和第二运行指令,将切换指令发送给切换装置,以使切换装置根据切换指令将实体设备与目标可编程逻辑控制器建立连接,将第二运行指令经由交换机发送给目标可编程逻辑控制器,以使目标可编程逻辑控制器根据第二运行指令运行目标测试程序来控制实体设备动作,以模拟航天发射场的航天发射塔设备的运行;总控机根据目标可编程逻辑控制器控制实体设备或虚拟设备时的测试程序执行信息,确定并展示目标可编程逻辑控制器的目标量化指标,得到航天发射场控制系统中至少一稿可编程逻辑控制器的量化指标,从而能够测试出可编程逻辑控制器的性能。
为使本申请的上述目的、特征和优点能更明显易懂,下文特举较佳实施例,并配合所附附图,作详细说明如下。
附图说明
为了更清楚地说明本申请实施例的技术方案,下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍,应当理解,以下附图仅示出了本申请的某些实施例,因此不应被看作是对范围的限定,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他相关的附图。
图1为本申请实施例所提供的一种航天发射场控制系统的结构示意图;
图2为本申请实施例所提供的一种航天发射场控制系统的测试方法的流程图;
图3为本申请实施例所提供的一种测试程序界面的示意图;
图4为本申请实施例所提供的另一种测试程序界面的示意图;
图5为本申请实施例所提供的一种实体设备指标分析子界面的示意图;
图6为本申请实施例所提供的一种虚拟设备指标分析子界面的示意图;
图7为本申请实施例所提供的一种基本性能指标分析子界面的示意图;
图8为本申请实施例所提供的一种航天发射场控制系统的测试装置的结构示意图;
图9为本申请实施例所提供的电子设备的结构示意图。
具体实施方式
为使本申请实施例的目的、技术方案和优点更加清楚,下面将结合本申请实施例中的附图,对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,应当理解,本申请中的附图仅起到说明和描述的目的,并不用于限定本申请的保护范围。另外,应当理解,示意性的附图并未按实物比例绘制。本申请中使用的流程图示出了根据本申请的一些实施例实现的操作。应当理解,流程图的操作可以不按顺序实现,没有逻辑的上下文关系的步骤可以反转顺序或者同时实施。此外,本领域技术人员在本申请内容的指引下,可以向流程图添加一个或多个其他操作,也可以从流程图中移除一个或多个操作。
另外,所描述的实施例仅仅是本申请一部分实施例,而不是全部的实施例。通常在此处附图中描述和示出的本申请实施例的组件可以以各种不同的配置来布置和设计。因此,以下对在附图中提供的本申请的实施例的详细描述并非旨在限制要求保护的本申请的范围,而是仅仅表示本申请的选定实施例。基于本申请的实施例,本领域技术人员在没有做出创造性劳动的前提下所获得的全部其他实施例,都属于本申请保护的范围。
现有技术中,航天发射研究中,通常使用火箭发射塔演练平台对运载火箭测试发射岗位人员进行训练、演练等。该演练平台至少支持但不限于运载运载火箭典型部段吊装、箭地接口对接、发射阵地射前准备、燃料加注与配气、空调温湿度控制、塔架供水消防等典型场景的模拟。火箭发射塔演练平台通常包括PLC控制系统、显示系统、仿真模型系统和功能模型系统。现有的PLC控制系统中,大多使用的是进口PLC。但随着国内技术发展,国产PLC渐渐融入市场,但还处于推广阶段。为了更好的了解国产PLC的性能,需要一种测试方法能够测试出国产PLC和进口PLC的差距和优势,能够对国产PLC和进口PLC的性能进行测试。
针对上述问题,本申请实施例提供了一种航天发射场控制系统的测试方法、装置及存储介质,下面通过实施例进行描述。
为便于对本申请进行理解,下面结合具体实施例对本申请提供的技术方案进行详细说明。
如图1所示,为本申请实施例所提供的一种航天发射场控制系统的结构示意图。航天发射场控制系统至少包括第一上位机11、第二上位机12、第三上位机13、总控机20、交换机30、超御可编程逻辑控制器(第一PLC)41、南大傲拓可编程逻辑控制器(第二PLC)42、西门子可编程逻辑控制器(第三PLC)43、切换装置60和多个执行设备,多个执行设备包括实体设备70和第一虚拟设备51、第二虚拟设备52、第三虚拟设备53。
其中,总控机20与交换机30连接,交换机30分别与各可编程逻辑控制器连接,每台可编程逻辑控制器分别与一个虚拟设备连接,每台可编程逻辑控制器分别与切换装置60对应的一个第一端子连接,实体设备70与切换装置60对应的第二端子连接。每个上位机通过交换机30与对应的可编程逻辑控制器连接。
其中,在航天发射场控制系统中,通常采用的是大型可编程逻辑控制器,这里的大型可编程逻辑控制器可以是根据用户需要,按照设计好的方式由多个功能模块组合构成的。每台可编程逻辑控制器可以包括电源模块、CPU模块、多个接口模块、至少一个数字输入模块(DI)、至少一个数字输出模块(DO)、至少一个模拟输入模块(AI)以及至少一个模拟输出模块(AO)。
其中,每个虚拟设备至少包括信号调理电路、PCI板卡和工控机,工控机用于运行Labview测试软件。信号调理电路作用是将信号调整成PLC和PCI板卡均可识别的信号,进行信号的转换的同时可以抗干扰。PCI板卡可以为研华的I/O板卡,包括以下四类板卡:数字量输入板卡、数字量输出板卡、模拟量输入板卡和模拟量输出板卡,分别与PLC的数字量输出模块、数字量输入模块、模拟量输出模块和模拟量输入模块通过信号调理电路连接。基于Labview软件可以把实物不可代替的设备以仿真形式表现,用软件中的图形所代替,并可以编写简单逻辑与PLC交互,从而对发射塔的非标设备进行仿真,以及对发射塔的空调仿真系统以及加注仿真系统进行。
其中,实体设备70可以由阀门、传感器、电机、限位开关、开关按钮以及指示灯等常用设备组合构成,其中包含了数字量设备和模拟量的设备。可以通过PLC对实体设备70进行控制,用于构成发射塔的塔架平台模型、塔吊模型以及摆杆模型。
其中,切换装置60可以由三层端子、继电器、一分三隔离栅、24V电源、网络继电器等设备组成,输入信号由PLC通过硬接线方式接到切换装置三层端子上,通过总控软件对网络继电器的控制实现三套PLC的控制电源的切换,数字量信号通过继电器触点进行通断,模拟量信号通过一分三隔离栅进行信号分配。输出信号由切换柜接到实体设备70上,由总控软件通过PLC对其进行控制。
具体的,用户可以分别通过三台上位机对PLC进行逻辑组态和设备状态监控,通过总控机上运行的总控软件实现对虚实部分设备的监控。总控软件还具有测试功能可以对仿真设备和实体设备进行指标分析,指标类型分为两类,量化指标和基本性能指标,量化指标是通过PLC根据逻辑控制仿真设备或实体设备运行,实时采集分析出来的,以趋势图或柱状图动态形式展现,基本性能指标是根据用户手册编辑录入的。
请参阅图2,为本申请实施例提供的一种航天发射场控制系统的测试方法的流程图,用于对PLC的量化指标进行测试,可以通过总控机上运行的总控软件执行,总控软件包括测试程序界面和指标分析界面,该方法包括:
S2010、总控机接收用户在测试程序界面上执行的子界面选择操作,进入目标测试子界面。
如图3所示,为本申请实施例提供的一种测试程序界面的示意图。用户可以选中测试程序的选项,以在测试程序界面上对子界面进行选择。其中,测试程序界面包括实体设备测试子界面和虚拟设备测试子界面,通过子界面上设置的标签A或B可以对子界面进行选择,例如,当用户点击标签A时,则会显示实体设备测试子界面。如图4所示,为本申实施例提供的另一种测试程序界面的示意图。图4为用户点击标签B时,所显示的虚拟设备测试子界面。
S2020、总控机接收用户在目标测试子界面上执行的针对可编程逻辑控制器和测试程序的选择操作,确定用于测试的目标可编程逻辑控制器以及目标可编程逻辑控制器对应的目标测试程序。
具体的,目标测试子界面包括虚拟设备测试子界面,用于针对虚拟设备执行测试,虚拟设备测试子界面至少包括与每台可编程逻辑控制器对应的可编程逻辑控制器选项、与每台可编程逻辑控制器对应的测试程序选项以及运行选项,总控机通过以下方式确定目标可编程逻辑控制器以及目标可编程逻辑控制对应的测试程序:
总控机响应用户在虚拟设备测试子界面上对至少一台可编程逻辑控制器选项的选择操作,以将至少一台可编程逻辑控制器选项对应的可编程逻辑控制器确定为目标可编程逻辑控制器。总控机响应用户在虚拟设备测试子界面上对目标可编程逻辑控制器中每台可编程逻辑控制器对应的测试程序选项的选择操作,以确定目标可编程逻辑控制器中每台可编程逻辑控制器对应的测试程序。
目标测试子界面包括实体设备测试子界面,用于针对实体设备执行测试,实体设备测试子界面至少包括与每台可编程逻辑控制器对应的可编程逻辑控制器选项、与每台可编程逻辑控制器对应的测试程序选项以及运行选项,总控机通过以下方式确定目标可编程逻辑控制器以及目标可编程逻辑控制对应的测试程序:
总控机响应用户在实体设备测试子界面上对任一可编程逻辑控制器选项的选项操作,以将该可编程逻辑控制器选项对应的可编程逻辑控制器确定为目标可编程逻辑控制器。总控机响应用户在实体设备测试子界面上对目标可编程逻辑控制器对应的测试程序选项的选择操作,以确定目标可编程逻辑控制器对应的测试程序。
这里的目标测试子界面可以为实体设备测试子界面或虚拟设备测试子界面。这里的目标可编程逻辑控制器指代的是用户在目标测试子界面上所配置的想要用于测试的PLC。这里的目标测试程序指代的是用户为每个想要测试的PLC所配置的测试程序。例如用户可以选中超御PLC作为目标可编程逻辑控制器,并选择第一测试程序(相当于图4中的仿真程序1)为超御PLC的测试程序。这里的测试程序可以是预设通过上位机编辑好的。也可以通过上位机现场编辑测试程序,并下发给对应的PLC。这里的测试程序主要用户使PLC控制对应的执行设备,来模拟发射塔的运行,例如控制摆杆模型的水平杆摆开、摆回的动作等。需要说明的是,当执行设备为实体设备时,用户每次只能选择一个PLC通过切换装置与实体设备连接并运行,当执行设备为虚拟设备时,用户可以同时选择多个PLC运行。以及当控制实体设备运行的同时,虚拟设备可以同时运行。
S2030、当目标测试子界面为用于针对虚拟设备执行测试的界面时,总控机产生第一运行指令,并经由交换机发送给目标可编程逻辑控制器,以使目标可编程逻辑控制器根据第一运行指令运行目标测试程序来控制虚拟设备动作,以模拟航天发射场的航天发射塔设备的运行。
当用户在虚拟设备测试子界面点击运行后,总控机生成第一运行指令发送给交换机,交换机将第一运行指令转发给对应的PLC。示例性的,总控机通过网线与交换机和PLC连接,交换机与PLC之间的通讯协议为Modbus-TCP协议,交换机将第一运行指令通过Modbus-RTU接口转接到超御PLC的CPU,以使PLC按对应的测试程序向虚拟设备发送控制信号。超御PLC的数字量输出模块通过接线端子与信号调理电路用线缆连接,把控制信号通过调理电路转换成PLC和PCI板卡均可识别的信号,信号调理电路与工控机中安装的数字量输入PCI板卡用线缆连接,从而将控制信号传输到Labview测试软件中,通过虚拟设备模拟实体设备难以搭建的模型并按照控制信号运行。
S2030、当目标测试子界面为用于针对实体设备执行测试的界面时,总控机产生切换指令和第二运行指令,将切换指令发送给切换装置,以使切换装置根据切换指令将实体设备与目标可编程逻辑控制器建立连接,将第二运行指令经由交换机发送给目标可编程逻辑控制器,以使目标可编程逻辑控制器根据第二运行指令运行目标测试程序来控制实体设备动作,以模拟航天发射场的航天发射塔设备的运行。
当用户在实体设备测试子界面点击运行后,先根据用户在实体设备测试子界面上选择的目标PLC生成切换指令并发送给切换装置,通过切换装置将目标PLC与实体设备之间的控制信号接通,再将第二运行指令发送给交换机,通过交换机将第二运行指令转接到目标PLC的CPU。其中,目标PLC的数字量输出模块与切换装置用线缆连接,通过切换装置中的接线端子端子与实体设备连接,目标PLC通过传输控制信号到实体设备以对其进行控制。
S2040、总控机根据目标可编程逻辑控制器控制实体设备或虚拟设备时的测试程序执行信息,确定并展示目标可编程逻辑控制器的目标量化指标。
具体的,总控机通过以下方式展示目标可编程逻辑控制器的目标量化指标:
总控机接收用户在指标分析界面上执行的子界面选择操作,进入目标指标分析子界面。总控机接收用户在目标指标分析子界面上执行的针对量化指标的选择操作,确定需要展示的目标量化指标。
这里的目标指标分析子界面可以包括实体设备指标分析子界面、虚拟设备指标分析子界面以及基本性能指标分析子界面。如图5所示,用户可以在指标分析界面上通过选择标签C、标签D、标签E来显示实体设备指标分析子界面、虚拟设备指标分析子界面或基本性能指标分析子界面。其中,实体设备指标分析子界面和虚拟设备指标分析子界面上可以包括与量化指标对应的选项,例如用户选择了数字输出响应时间的选项后,则会根据用户选择的PLC,展示该PLC的数字输出响应时间。
具体的,测试程序包括至少一个逻辑指令,针对每个逻辑指令,目标PLC可以通过数字输出模块或模拟输出模块向执行设备发送数字控制信号或模拟控制信号给执行设备,执行设备接收到数字控制信号或模拟控制信号后,则将数字反馈信号或模拟反馈信号反馈给目标PLC对应的数字输入模块或模拟输入模块。目标PLC可以根据控制信号和反馈信号生成测试程序执行信息。
这里的测试程序执行信息可以包括每个逻辑指令的下发时间和完成时间、模拟控制信号的目标模拟值和模块反馈信号的采集模拟值。这里的量化指标可以包括数字输出响应时间、干扰环境下的数字输出响应时间、模拟量误差率、阶跃响应率、信号灵敏度等。
具体的,针对每台可编程逻辑控制器,总控机通过以下方式确定该可编程逻辑控制器的数字输出响应时间:
针对每个逻辑指令,通过该可编程逻辑控制器的数字量输出模块获取该逻辑指令的第一完成时间与该逻辑指令的第一下发时间,并计算差值,以确定该逻辑指令对应的数字输出响应时间。将当前所有逻辑指令对应的数字输出响应时间的均值,作为该可编程逻辑控制器的数字输出响应时间。
这里的数字输出响应时间指代的是PLC完成一个数字控制信号下发的响应时间,当逻辑指令控制的是数字量设备时(例如阀门),需要向该设备发送数字控制信号,此时该逻辑指令对应的数字控制信号的完成时间与下发时间的差值,这是该逻辑指令的数字输出响应时间。这里的下发时间指代的是PLC将数字控制信号发送的时间,完成时间指代的PLC接收到该数字控制信号对应的数字反馈信号的时间。具体的,下发时间可以通过PLC的数字输出模块的通道所对应的IO变量值获得,下发指令时作为开始的时间点,此时PLC的数字输出模块的通道所对应的IO变量值为0,点击下发的瞬间作为时间累计函数的开始值。完成时间为PLC数字输出模块的通道所对应的IO变量值由“0”变为“1”的时间点。通过时间累计函数可以直接得到每个信号下发到完成之间的时间。
这里的第一完成时间和第一下发时间,指代的是可编程逻辑控制器在正常运行场景下所采集到的时间。具体的,通过当前PLC以产生的所有数字输出响应时间的均值,作为该PLC的数字输出响应时间,若用户在指标分析子界面上选择了该量化指标,则可以将该PLC的数字输出响应时间的均值展示在指标分析界面上。也可以将所有数字输出响应时间展示在指标分析界面上。当通过虚拟设备进行测试时,还可以同时将多个PLC的数字输出响应时间的均值通过图表的方式,对比的展示在指标分析界面上,从而更容易比较出不同PLC之间的数字量性能好坏。
具体的,量化指标还包括干扰环境下的数字输出响应时间,测试程序执行信息还包括逻辑指令的第二下发时间和逻辑指令的第二完成时间,针对每个在高频干扰环境下运行的可编程逻辑控制器,总控机通过以下方式确定干扰环境下该可编程逻辑控制器的数字输出响应时间:
针对每个逻辑指令,通过该可编程逻辑控制器的数字量输出模块获取该逻辑指令的第二完成时间与该逻辑指令的第二下发时间,并计算差值,以确定该可编程逻辑控制器干扰环境下的数字输出响应时间。将当前所有逻辑指令对应的干扰环境下数字输出响应时间的均值,作为该可编程逻辑控制器干扰环境下的数字输出响应时间。
这里的干扰环境下的数字输出响应时间指代的是PLC在干扰的环境下,完成一个数字控制信号下发的响应时间,具体的,需要人工在被测试的PLC附近放置干扰设备。这里的干扰设备可以是高频对讲机或其他高频设备,用于对PLC进行电磁干扰。
可以理解的是,PLC产品运行过程中,势必受到电磁、电气等干扰,造成控制过程扰动执行设备也同时受到此种影响。目前PLC产品均增加了抗干扰手段,但是真实控制环境相对复杂,故PLC产品的抗干扰能力不能完全消除控制过程中干扰。因此,测试过程中,可以通过外加对讲机等高频设备人为模仿干扰源。通过对比PLC在干扰和无干扰的情况下,数字输出响应的快慢,可以考验PLC在电磁干扰环境下的稳定性,进而判断PLC产品的优劣。
具体的,每个测试程序包括至少一个逻辑指令,每台可编程逻辑控制器还包括模拟量输出模块和模拟量输入模块,量化指标还包括模拟量误差率,测试程序执行信息还包括逻辑指令的目标模拟值和逻辑控制指令的采集模拟值,针对每台可编程逻辑控制器,总控机通过以下方式确定该可编程逻辑控制器的模拟量误差率:
通过该可编程逻辑控制器的模拟量输出模块获取该逻辑指令的目标模拟值,以及通过该可编程逻辑控制器的模拟量输入模块获取该逻辑指令的采集模拟值,并计算每个逻辑指令的目标模拟值和采集模拟值的差值,以确定该逻辑指令对应的模拟量误差率。将当前所有逻辑指令对应的模拟量误差率的均值,作为该可编程逻辑控制器的模拟量误差率。
可以理解的是,当执行设备为模拟量控制的设备时,例如电调阀等,PLC需要向执行设备发送一个模拟控制信号,以指示电调阀的目标开度值(相当于目标模拟值),而电调阀会反馈一个模拟反馈信号,以指示电调阀当前的实际开度值(相当于采集模拟值)。
具体的,PLC的模拟输入模块和模拟输出模块的IO变量通道可以分别连接不同电调阀,模拟量输出模块对电调阀输出控制信号来给定电调阀的开度值,模拟量输入模块对电调阀开度反馈信号的数值进行采集,电调阀的开度值范围为0-100。以某个电调阀为例,进行单体操控,用户可以在总控软件的实体设备测试子界面设定该电调阀的目标开度值为50,下发指令到PLC后,由模拟量输出模块输出到电调阀设备进行控制,电调阀此时执行开度命令,开到50的位置,再将开度反馈数值反馈回传到PLC的模拟量输入模块采集,通过交换机反馈到软件,采集数值保留小数点后两位,再按公式进行计算误差率,也可以选择预设的测试程序由PLC执行。
PLC产品由于自身制造工艺、设计原理等的不同,造成对于控制对象的控制过程产生误差。例如PLC模拟量输入模块采集现场信号时,接收现场信号值并转换为标准量程值并进行显示,此时会出现与现场设备本体显示信息产生误差,但根据行业规定,误差在规定范围内即认可显示数值。一般PLC产品误差范围为满量程的1%~3%之间。不同PLC在误差范围内收集并显示,根据产品不同,误差范围也会存在差异,故模拟量误差率可作为量化依据,以体现PLC产品的模拟量性能。
如图5所示,为本申请实施例提供的一种实体设备指标分析子界面的示意图。其中,通过折线图展示了通过实体设备测试超御PLC的干扰环境下的数字输出响应时间(即图5中的干扰下响应时间),其中折线图的横坐标可以为运行时间,纵坐标可以为响应时间。
如图6所示,为本申请实施例提供的一种虚拟设备指标分析子界面的示意图。其中,通过折线图展示了通过虚拟设备测试三个不同品牌的PLC的干扰环境下的数字输出响应时间(即图6中的干扰下响应时间),其中折线图的横坐标可以为运行时间,纵坐标可以为响应时间。同时对比三个不同品牌的PLC的抗干扰性能,可以使用户更直观的看出每个PLC的性能优劣。
如图7所示,为本申请实施例提供的一种基本性能指标分析子界面的示意图。其中以列表的形式展示了三个不同品牌的PLC的基本性能指标。这里的基本性能指标指代的是PLC的硬件参数等,是需要工作人员预先输入的。具体的,基本性能指标包括但不仅限于CPU主频、CPU程序内存、位运算、字运算、掉电保持、系统电源、CPU冗余、I/O冗余、通讯接口、最大从站模块数量、站间通讯、备用电池、编程语言、尺寸、重量、材质等。
基于同一发明构思,本申请实施例中还提供了与航天发射场控制系统的测试方法对应的地图描述文件的航天发射场控制系统的测试装置,由于本申请实施例中的航天发射场控制系统的测试装置解决问题的原理与本申请实施例上述航天发射场控制系统的测试方法相似,因此航天发射场控制系统的测试装置的实施可以参见方法的实施,重复之处不再赘述。
请参阅图8,图8为本申请实施例所提供的一种航天发射场控制系统的测试装置的结构示意图。航天发射场控制系统至少包括总控机、交换机、至少一台可编程逻辑控制器、切换装置和多个执行设备,多个执行设备包括实体设备和虚拟设备,总控机与交换机连接,交换机分别与各可编程逻辑控制器连接,每台可编程逻辑控制器分别与一个虚拟设备连接,每台可编程逻辑控制器分别与切换装置对应的一个第一端子连接,实体设备与切换装置对应的第二端子连接,如图8中所示,航天发射场控制系统的测试装置800包括:
第一接收模块810,用于接收用户在测试程序界面上执行的子界面选择操作,进入目标测试子界面;
第二接收模块820,用于接收用户在目标测试子界面上执行的针对可编程逻辑控制器和测试程序的选择操作,确定用于测试的目标可编程逻辑控制器以及目标可编程逻辑控制器对应的目标测试程序;
第一指令生成模块830,用于当目标测试子界面为用于针对虚拟设备执行测试的界面时,产生第一运行指令,并经由交换机发送给目标可编程逻辑控制器,以使目标可编程逻辑控制器根据第一运行指令运行目标测试程序来控制虚拟设备动作,以模拟航天发射场的航天发射塔设备的运行;
第二指令生成模块840,用于当目标测试子界面为用于针对实体设备执行测试的界面时,产生切换指令和第二运行指令,将切换指令发送给切换装置,以使切换装置根据切换指令将实体设备与目标可编程逻辑控制器建立连接,将第二运行指令经由交换机发送给目标可编程逻辑控制器,以使目标可编程逻辑控制器根据第二运行指令运行目标测试程序来控制实体设备动作,以模拟航天发射场的航天发射塔设备的运行;
指标分析模块850,用于根据目标可编程逻辑控制器控制实体设备或虚拟设备时的测试程序执行信息,确定并展示目标可编程逻辑控制器的目标量化指标。
在一优选实施例中,目标测试子界面包括虚拟设备测试子界面,用于针对虚拟设备执行测试,虚拟设备测试子界面至少包括与每台可编程逻辑控制器对应的可编程逻辑控制器选项、与每台可编程逻辑控制器对应的测试程序选项以及运行选项,第二接收模块820具体用于通过以下方式确定目标可编程逻辑控制器以及目标可编程逻辑控制对应的测试程序:响应用户在虚拟设备测试子界面上对至少一台可编程逻辑控制器选项的选择操作,以将至少一台可编程逻辑控制器选项对应的可编程逻辑控制器确定为目标可编程逻辑控制器;响应用户在虚拟设备测试子界面上对目标可编程逻辑控制器中每台可编程逻辑控制器对应的测试程序选项的选择操作,以确定目标可编程逻辑控制器中每台可编程逻辑控制器对应的测试程序。。
在一优选实施例中,目标测试子界面包括实体设备测试子界面,用于针对实体设备执行测试,实体设备测试子界面至少包括与每台可编程逻辑控制器对应的可编程逻辑控制器选项、与每台可编程逻辑控制器对应的测试程序选项以及运行选项,第二接收模块820具体用于通过以下方式确定目标可编程逻辑控制器以及目标可编程逻辑控制对应的测试程序:响应用户在实体设备测试子界面上对任一可编程逻辑控制器选项的选项操作,以将该可编程逻辑控制器选项对应的可编程逻辑控制器确定为目标可编程逻辑控制器;响应用户在实体设备测试子界面上对目标可编程逻辑控制器对应的测试程序选项的选择操作,以确定目标可编程逻辑控制器对应的测试程序。
在一优选实施例中,每个测试程序包括至少一个逻辑指令,每台可编程逻辑控制器包括数字量输出模块,量化指标包括数字输出响应时间,测试程序执行信息至少包括逻辑指令的第一下发时间和逻辑指令的第一完成时间,针对每台可编程逻辑控制器,指标分析模块850具体用于通过以下方式确定该可编程逻辑控制器的数字输出响应时间:针对每个逻辑指令,通过该可编程逻辑控制器的数字量输出模块获取该逻辑指令的第一完成时间与该逻辑指令的第一下发时间,并计算差值,以确定该逻辑指令对应的数字输出响应时间;将当前所有逻辑指令对应的数字输出响应时间的均值,作为该可编程逻辑控制器的数字输出响应时间。
在一优选实施例中,量化指标还包括干扰环境下的数字输出响应时间,测试程序执行信息还包括逻辑指令的第二下发时间和逻辑指令的第二完成时间,针对每个在高频干扰环境下运行的可编程逻辑控制器,指标分析模块850具体用于通过以下方式确定干扰环境下该可编程逻辑控制器的数字输出响应时间:针对每个逻辑指令,通过该可编程逻辑控制器的数字量输出模块获取该逻辑指令的第二完成时间与该逻辑指令的第二下发时间,并计算差值,以确定该可编程逻辑控制器干扰环境下的数字输出响应时间;将当前所有逻辑指令对应的干扰环境下数字输出响应时间的均值,作为该可编程逻辑控制器干扰环境下的数字输出响应时间。
在一优选实施例中,每个测试程序包括至少一个逻辑指令,每台可编程逻辑控制器还包括模拟量输出模块,量化指标还包括模拟量误差率,测试程序执行信息还包括逻辑指令的目标模拟值和逻辑控制指令的采集模拟值,针对每台可编程逻辑控制器,指标分析模块850具体用于通过以下方式确定该可编程逻辑控制器的模拟量误差率:通过该可编程逻辑控制器的模拟量输出模块获取该逻辑指令的目标模拟值,以及通过该可编程逻辑控制器的模拟量输入模块获取该逻辑指令的采集模拟值,并计算每个逻辑指令的目标模拟值和采集模拟值的差值,以确定该逻辑指令对应的模拟量误差率;将当前所有逻辑指令对应的模拟量误差率的均值,作为该可编程逻辑控制器的模拟量误差率。
在一优选实施例中,指标分析模块850通过以下方式展示目标可编程逻辑控制器的目标量化指标:接收用户在指标分析界面上执行的子界面选择操作,进入目标指标分析子界面;接收用户在目标指标分析子界面上执行的针对量化指标的选择操作,确定需要展示的目标量化指标。
请参阅图9,图9为本申请实施例所提供的一种电子设备的结构示意图。如图9中所示,电子设备900包括处理器910、存储器920和总线930。
存储器920存储有处理器910可执行的机器可读指令,当电子设备900运行时,处理器910与存储器920之间通过总线930通信,机器可读指令被处理器910执行时,可以执行如上述实施例中的航天发射场控制系统的测试方法的步骤,具体实现方式可参见方法实施例,在此不再赘述。
本申请实施例还提供一种计算机可读存储介质,该存储介质上存储有计算机程序,该计算机程序被处理器运行时可以执行如上述航天发射场控制系统的测试方法的步骤,具体实现方式可参见方法实施例,在此不再赘述。
所属领域的技术人员可以清楚地了解到,为描述的方便和简洁,上述描述的系统、装置和单元的具体工作过程,可以参考前述方法实施例中的对应过程,在此不再赘述。
在本申请所提供的几个实施例中,应该理解到,所揭露的系统、装置和方法,可以通过其它的方式实现。以上所描述的装置实施例仅仅是示意性的,例如,单元的划分,仅仅为一种逻辑功能划分,实际实现时可以有另外的划分方式,又例如,多个单元或组件可以结合或者可以集成到另一个系统,或一些特征可以忽略,或不执行。另一点,所显示或讨论的相互之间的耦合或直接耦合或通信连接可以是通过一些通信接口,装置或单元的间接耦合或通信连接,可以是电性,机械或其它的形式。
作为分离部件说明的单元可以是或者也可以不是物理上分开的,作为单元显示的部件可以是或者也可以不是物理单元,即可以位于一个地方,或者也可以分布到多个网络单元上。可以根据实际的需要选择其中的部分或者全部单元来实现本实施例方案的目的。
另外,在本申请各个实施例中的各功能单元可以集成在一个处理单元中,也可以是各个单元单独物理存在,也可以两个或两个以上单元集成在一个单元中。
功能如果以软件功能单元的形式实现并作为独立的产品销售或使用时,可以存储在一个处理器可执行的非易失的计算机可读取存储器中。基于这样的理解,本申请的技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分或者该技术方案的部分可以以软件产品的形式体现出来,该计算机软件产品存储在一个存储器中,包括若干指令用以使得一台计算机设备(可以是个人计算机,服务器,或者网络设备等)执行本申请各个实施例方法的全部或部分步骤。而前述的存储器包括:U盘、移动硬盘、只读存储器(Read-Only Memory,ROM)、随机存取存储器(Random Access Memory,RAM)、磁碟或者光盘等各种可以存储程序代码的介质。
最后应说明的是:以上所述实施例,仅为本申请的具体实施方式,用以说明本申请的技术方案,而非对其限制,本申请的保护范围并不局限于此,尽管参照前述实施例对本申请进行了详细的说明,本领域的普通技术人员应当理解:任何熟悉本技术领域的技术人员在本申请揭露的技术范围内,其依然可以对前述实施例所记载的技术方案进行修改或可轻易想到变化,或者对其中部分技术特征进行等同替换;而这些修改、变化或者替换,并不使相应技术方案的本质脱离本申请实施例技术方案的精神和范围,都应涵盖在本申请的保护范围之内。因此,本申请的保护范围应以权利要求的保护范围为准。
Claims (10)
1.一种航天发射场控制系统的测试方法,其特征在于,所述航天发射场控制系统至少包括总控机、交换机、至少一台可编程逻辑控制器、切换装置和多个执行设备,所述多个执行设备包括实体设备和虚拟设备,
所述总控机与所述交换机连接,所述交换机分别与各可编程逻辑控制器连接,每台可编程逻辑控制器分别与一个虚拟设备连接,每台可编程逻辑控制器分别与所述切换装置对应的一个第一端子连接,实体设备与所述切换装置对应的第二端子连接,所述测试方法包括:
所述总控机接收用户在测试程序界面上执行的子界面选择操作,进入目标测试子界面;
所述总控机接收用户在目标测试子界面上执行的针对可编程逻辑控制器和测试程序的选择操作,确定用于测试的目标可编程逻辑控制器以及目标可编程逻辑控制器对应的目标测试程序;
当目标测试子界面为用于针对虚拟设备执行测试的界面时,所述总控机产生第一运行指令,并经由所述交换机发送给目标可编程逻辑控制器,以使目标可编程逻辑控制器根据第一运行指令运行目标测试程序来控制虚拟设备动作,以模拟所述航天发射场的航天发射塔设备的运行;
当目标测试子界面为用于针对实体设备执行测试的界面时,所述总控机产生切换指令和第二运行指令,将切换指令发送给所述切换装置,以使所述切换装置根据切换指令将实体设备与目标可编程逻辑控制器建立连接,将第二运行指令经由所述交换机发送给目标可编程逻辑控制器,以使目标可编程逻辑控制器根据第二运行指令运行目标测试程序来控制实体设备动作,以模拟所述航天发射场的航天发射塔设备的运行;
所述总控机根据目标可编程逻辑控制器控制实体设备或虚拟设备时的测试程序执行信息,确定并展示目标可编程逻辑控制器的目标量化指标。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,目标测试子界面包括虚拟设备测试子界面,用于针对虚拟设备执行测试,虚拟设备测试子界面至少包括与每台可编程逻辑控制器对应的可编程逻辑控制器选项、与每台可编程逻辑控制器对应的测试程序选项以及运行选项,所述总控机通过以下方式确定目标可编程逻辑控制器以及目标可编程逻辑控制对应的测试程序:
所述总控机响应用户在虚拟设备测试子界面上对至少一台可编程逻辑控制器选项的选择操作,以将至少一台可编程逻辑控制器选项对应的可编程逻辑控制器确定为目标可编程逻辑控制器;
所述总控机响应用户在虚拟设备测试子界面上对目标可编程逻辑控制器中每台可编程逻辑控制器对应的测试程序选项的选择操作,以确定目标可编程逻辑控制器中每台可编程逻辑控制器对应的测试程序。
3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述目标测试子界面包括实体设备测试子界面,用于针对实体设备执行测试,实体设备测试子界面至少包括与每台可编程逻辑控制器对应的可编程逻辑控制器选项、与每台可编程逻辑控制器对应的测试程序选项以及运行选项,所述总控机通过以下方式确定目标可编程逻辑控制器以及目标可编程逻辑控制对应的测试程序:
所述总控机响应用户在实体设备测试子界面上对任一可编程逻辑控制器选项的选项操作,以将该可编程逻辑控制器选项对应的可编程逻辑控制器确定为目标可编程逻辑控制器;
所述总控机响应用户在实体设备测试子界面上对目标可编程逻辑控制器对应的测试程序选项的选择操作,以确定目标可编程逻辑控制器对应的测试程序。
4.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,每个测试程序包括至少一个逻辑指令,每台可编程逻辑控制器包括数字量输出模块,量化指标包括数字输出响应时间,所述测试程序执行信息至少包括逻辑指令的第一下发时间和逻辑指令的第一完成时间,针对每台可编程逻辑控制器,所述总控机通过以下方式确定该可编程逻辑控制器的数字输出响应时间:
针对每个逻辑指令,通过该可编程逻辑控制器的数字量输出模块获取该逻辑指令的第一完成时间与该逻辑指令的第一下发时间,并计算差值,以确定该逻辑指令对应的数字输出响应时间;
将当前所有逻辑指令对应的数字输出响应时间的均值,作为该可编程逻辑控制器的数字输出响应时间。
5.根据权利要求4所述的方法,其特征在于,量化指标还包括干扰环境下的数字输出响应时间,所述测试程序执行信息还包括逻辑指令的第二下发时间和逻辑指令的第二完成时间,针对每个在高频干扰环境下运行的可编程逻辑控制器,所述总控机通过以下方式确定干扰环境下该可编程逻辑控制器的数字输出响应时间:
针对每个逻辑指令,通过该可编程逻辑控制器的数字量输出模块获取该逻辑指令的第二完成时间与该逻辑指令的第二下发时间,并计算差值,以确定该可编程逻辑控制器干扰环境下的数字输出响应时间;
将当前所有逻辑指令对应的干扰环境下数字输出响应时间的均值,作为该可编程逻辑控制器干扰环境下的数字输出响应时间。
6.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,每个测试程序包括至少一个逻辑指令,每台可编程逻辑控制器还包括模拟量输出模块和模拟量输入模块,量化指标还包括模拟量误差率,所述测试程序执行信息还包括逻辑指令的目标模拟值和逻辑控制指令的采集模拟值,针对每台可编程逻辑控制器,所述总控机通过以下方式确定该可编程逻辑控制器的模拟量误差率:
通过该可编程逻辑控制器的模拟量输出模块获取该逻辑指令的目标模拟值,以及通过该可编程逻辑控制器的模拟量输入模块获取该逻辑指令的采集模拟值,并计算每个逻辑指令的目标模拟值和采集模拟值的差值,以确定该逻辑指令对应的模拟量误差率;
将当前所有逻辑指令对应的模拟量误差率的均值,作为该可编程逻辑控制器的模拟量误差率。
7.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述总控机通过以下方式展示目标可编程逻辑控制器的目标量化指标:
所述总控机接收用户在指标分析界面上执行的子界面选择操作,进入目标指标分析子界面;
所述总控机接收用户在目标指标分析子界面上执行的针对量化指标的选择操作,确定需要展示的目标量化指标。
8.一种航天发射场控制系统的测试装置,其特征在于,所述航天发射场控制系统至少包括总控机、交换机、至少一台可编程逻辑控制器、切换装置和多个执行设备,所述多个执行设备包括实体设备和虚拟设备,
所述总控机与所述交换机连接,所述交换机分别与各可编程逻辑控制器连接,每台可编程逻辑控制器分别与一个虚拟设备连接,每台可编程逻辑控制器分别与所述切换装置对应的一个第一端子连接,实体设备与所述切换装置对应的第二端子连接,所述测试装置包括:
第一接收模块,用于接收用户在测试程序界面上执行的子界面选择操作,进入目标测试子界面;
第二接收模块,用于接收用户在目标测试子界面上执行的针对可编程逻辑控制器和测试程序的选择操作,确定用于测试的目标可编程逻辑控制器以及目标可编程逻辑控制器对应的目标测试程序;
第一指令生成模块,用于当目标测试子界面为用于针对虚拟设备执行测试的界面时,产生第一运行指令,并经由所述交换机发送给目标可编程逻辑控制器,以使目标可编程逻辑控制器根据第一运行指令运行目标测试程序来控制虚拟设备动作,以模拟所述航天发射场的航天发射塔设备的运行;
第二指令生成模块,用于当目标测试子界面为用于针对实体设备执行测试的界面时,产生切换指令和第二运行指令,将切换指令发送给所述切换装置,以使所述切换装置根据切换指令将实体设备与目标可编程逻辑控制器建立连接,将第二运行指令经由所述交换机发送给目标可编程逻辑控制器,以使目标可编程逻辑控制器根据第二运行指令运行目标测试程序来控制实体设备动作,以模拟所述航天发射场的航天发射塔设备的运行;
指标分析模块,用于根据目标可编程逻辑控制器控制实体设备或虚拟设备时的测试程序执行信息,确定并展示目标可编程逻辑控制器的目标量化指标。
9.一种电子设备,其特征在于,包括:处理器、存储器和总线,所述存储器存储有所述处理器可执行的机器可读指令,当电子设备运行时,所述处理器与所述存储器之间通过总线通信,所述处理器执行所述机器可读指令,以执行如权利要求1至7任一所述的航天发射场控制系统的测试方法的步骤。
10.一种计算机可读存储介质,其特征在于,所述存储介质上存储有计算机程序,所述计算机程序被处理器运行时执行如权利要求1至7任一所述的航天发射场控制系统的测试方法的步骤。
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