CN114964732A - 离轴反射式平行光管的校正方法、装置、电子设备和介质 - Google Patents

离轴反射式平行光管的校正方法、装置、电子设备和介质 Download PDF

Info

Publication number
CN114964732A
CN114964732A CN202210527549.0A CN202210527549A CN114964732A CN 114964732 A CN114964732 A CN 114964732A CN 202210527549 A CN202210527549 A CN 202210527549A CN 114964732 A CN114964732 A CN 114964732A
Authority
CN
China
Prior art keywords
axis
collimator
mirror
primary mirror
reflective collimator
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
CN202210527549.0A
Other languages
English (en)
Inventor
王胜
谢芳
杨龙
王艳
郑孟
刘文辉
李先贤
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Xiaogan Huazhong Precision Instrument Co ltd
Original Assignee
Xiaogan Huazhong Precision Instrument Co ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Xiaogan Huazhong Precision Instrument Co ltd filed Critical Xiaogan Huazhong Precision Instrument Co ltd
Priority to CN202210527549.0A priority Critical patent/CN114964732A/zh
Publication of CN114964732A publication Critical patent/CN114964732A/zh
Pending legal-status Critical Current

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01MTESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • G01M11/00Testing of optical apparatus; Testing structures by optical methods not otherwise provided for
    • G01M11/02Testing optical properties
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01MTESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • G01M11/00Testing of optical apparatus; Testing structures by optical methods not otherwise provided for
    • G01M11/02Testing optical properties
    • G01M11/0207Details of measuring devices
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B27/00Optical systems or apparatus not provided for by any of the groups G02B1/00 - G02B26/00, G02B30/00
    • G02B27/30Collimators

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)

Abstract

本申请提供了一种离轴反射式平行光管的校正方法、装置、电子设备和介质,其中方法包括步骤:将激光器的几何轴和大口径平行光管的几何轴调试重合,并根据激光器的几何轴和大口径平行光管的几何轴建立基准光轴;将离轴反射式平行光管镜管的几何轴和基准光轴调试重合,并在离轴反射式平行光管镜管的主镜位置安装主镜;测试主镜的像质是否满足分辨率要求;若主镜的像质满足分辨率要求,在离轴反射式平行光管镜管的次镜位置安装次镜;检测离轴反射式平行光管的系统波像差和射光平行性,当离轴反射式平行光管的系统波像差和射光平行性满足要求,校正完成。本申请能够有效降低离轴反射式平行光管的校正难度,提升校正效率和精确度。

Description

离轴反射式平行光管的校正方法、装置、电子设备和介质
技术领域
本发明涉及平行光管校正技术领域,具体涉及离轴反射式平行光管的校正方法、装置、电子设备和介质。
背景技术
平行光管是装校调整光学仪器的重要工具,常用来模拟无穷远目标发射的平行光束。同时也是光学度量仪器中的重要组成部分,在平行光管的焦面上放置分划板、星点板、鉴别率板等焦平面组件,可检测和标定待测光学系统的各种参数和性能。
离轴反射式平行光管不存在中心遮拦,但反射面均为离轴非球面,所以导致离轴反射式平行光管校正过程较为困难。
发明内容
本发明的目的在于克服上述技术不足,提供一种离轴反射式平行光管的校正方法、装置、电子设备和介质,解决现有技术中离轴反射式平行光管校正过程较为困难的技术问题。
为达到上述技术目的,第一方面,本发明的技术方案提供一种离轴反射式平行光管的校正方法,包括以下步骤:
将激光器的几何轴和大口径平行光管的几何轴调试重合,并根据所述激光器的几何轴和所述大口径平行光管的几何轴建立基准光轴;
将离轴反射式平行光管镜管的几何轴和基准光轴调试重合,并在所述离轴反射式平行光管镜管的主镜位置安装主镜;
测试所述主镜的像质是否满足分辨率要求;
若所述主镜的像质满足分辨率要求,在所述离轴反射式平行光管镜管的次镜位置安装次镜;
检测所述离轴反射式平行光管的系统波像差和射光平行性,当所述离轴反射式平行光管的系统波像差和射光平行性满足要求,校正完成。
与现有技术相比,本发明的有益效果包括:
本发明提供的离轴反射式平行光管的校正方法,能够有效降低离轴反射式平行光管的校正难度,提升离轴反射式平行光管的校正效率和精确度,具有很好的实用价值。
根据本发明的一些实施例,将激光器的几何轴和大口径平行光管的几何轴调试重合,包括步骤:
使用同心孔靶纸将激光器的几何轴和大口径平行光管的几何轴调试重合。
根据本发明的一些实施例,将离轴反射式平行光管镜管的几何轴和基准光轴调试重合,包括步骤:
使用同心孔靶纸将离轴反射式平行光管镜管的几何轴和基准光轴调试重合。
根据本发明的一些实施例,在所述离轴反射式平行光管镜管的主镜位置安装主镜之后,包括步骤:
通过调整所述主镜的旋转角度、俯仰角度、偏摆角度,以使所述主镜的焦点位置和理论位置一致。
根据本发明的一些实施例,测试所述主镜的像质是否满足分辨率要求,包括步骤:
在所述主镜的焦点位置放置显微镜,通过所述显微镜观察所述主镜的像质是否满足分辨率要求,若所述主镜的像质的分辨率标准:
θ=(140/D)″,D为主镜有效口径。
根据本发明的一些实施例,在所述离轴反射式平行光管镜管的次镜位置安装次镜之后,包括步骤:
调节次镜俯仰角度、偏摆角度,使所述次镜的焦点处于理论位置,用显微镜测试次镜像质,直至所述次镜像质满足分辨率要求。
根据本发明的一些实施例,所述检测所述离轴反射式平行光管的系统波像差和射光平行性,包括步骤:
在所述主镜的一侧放置标准平面反射镜,在所述次镜的焦点位置放置干涉仪,使用所述标准平面反射镜和所述干涉仪检测系统波像差;
在所述大口径平行光管装上十字分划板,用所述大口径平行光管标定无穷远位置,用五棱镜法测试出射光平行性。
第二方面,本发明技术方案提供了一种离轴反射式平行光管的校正装置,包括:
基准光轴建立单元,用于将激光器的几何轴和大口径平行光管的几何轴调试重合,并根据所述激光器的几何轴和所述大口径平行光管的几何轴建立基准光轴;
调试单元,用于将离轴反射式平行光管镜管的几何轴和基准光轴调试重合,并在所述离轴反射式平行光管镜管的主镜位置安装主镜;
主镜像质测试单元,用于测试所述主镜的像质是否满足分辨率要求;
系统性能检测单元,若所述主镜的像质满足分辨率要求,在所述离轴反射式平行光管镜管的次镜位置安装次镜,检测所述离轴反射式平行光管的系统波像差和射光平行性,当所述离轴反射式平行光管的系统波像差和射光平行性满足要求,校正完成。
第三方面,本发明技术方案提供了一种电子设备,包括:
至少一个处理器;以及与所述至少一个处理器通信连接的存储器;其中,
所述存储器存储有可被所述至少一个处理器执行的指令,所述指令被所述至少一个处理器执行,以使所述至少一个处理器实现如第一方面中任一项所述的离轴反射式平行光管的校正方法。
第四方面,本发明技术方案提供了一种计算机可读存储介质,其中,所述计算机指令用于使所述计算机执行根据如第一方面中任一项所述的离轴反射式平行光管的校正方法。
本发明的附加方面和优点将在下面的描述中部分给出,部分将从下面的描述中变得明显,或通过本发明的实践了解到。
附图说明
本发明的上述和/或附加的方面和优点从结合下面附图对实施例的描述中将变得明显和容易理解,其中摘要附图要与说明书附图的其中一幅完全一致:
图1为本发明一个实施例提供的离轴反射式平行光管主镜装调光学布局图;
图2为本发明另一个实施例提供的离轴反射式平行光管系统装调图;
图3为本发明另一个实施例提供的离轴反射式平行光管系统波像差测试;
图4为本发明另一个实施例提供的离轴反射式平行光管的校正方法的流程图;
图5是用来实现本发明实施例的离轴反射式平行光管的校正方法的电子设备的框图。
具体实施方式
为了使本发明的目的、技术方案及优点更加清楚明白,以下结合附图及实施例,对本发明进行进一步详细说明。应当理解,此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本发明,并不用于限定本发明。
需要说明的是,虽然在系统示意图中进行了功能模块划分,在流程图中示出了逻辑顺序,但是在某些情况下,可以以不同于系统中的模块划分,或流程图中的顺序执行所示出或描述的步骤。说明书和权利要求书及上述附图中的术语“第一”、“第二”等是用于区别类似的对象,而不必用于描述特定的顺序或先后次序。
本发明提供了一种离轴反射式平行光管的校正方法,能够有效降低离轴反射式平行光管的校正难度,提升离轴反射式平行光管的校正效率和精确度,具有很好的实用价值。
下面结合附图,对本发明实施例作进一步阐述。
参照图1至图4,图1为本发明一个实施例提供的离轴反射式平行光管主镜装调光学布局图;图2为本发明另一个实施例提供的离轴反射式平行光管系统装调图;图3为本发明另一个实施例提供的离轴反射式平行光管系统波像差测试;图4为本发明另一个实施例提供的离轴反射式平行光管的校正方法的流程图。离轴反射式平行光管的校正方法包括但是不仅限于以下步骤:
步骤S110,将激光器的几何轴和大口径平行光管的几何轴调试重合,并根据激光器的几何轴和大口径平行光管的几何轴建立基准光轴;
步骤S120,将离轴反射式平行光管镜管的几何轴和基准光轴调试重合,并在离轴反射式平行光管镜管的主镜位置安装主镜;
步骤S130,测试主镜的像质是否满足分辨率要求;
步骤S140,若主镜的像质满足分辨率要求,在离轴反射式平行光管镜管的次镜位置安装次镜;
步骤S150,检测离轴反射式平行光管的系统波像差和射光平行性,当离轴反射式平行光管的系统波像差和射光平行性满足要求,校正完成。
在一实施例中,离轴反射式平行光管的校正方法包括步骤:将激光器的几何轴和大口径平行光管的几何轴调试重合,大口径平行光管可以是2米平行光管、2.5米平行光管或者3米平行光管,并根据激光器的几何轴和大口径平行光管的几何轴建立基准光轴;将离轴反射式平行光管镜管的几何轴和基准光轴调试重合,并在离轴反射式平行光管镜管的主镜位置安装主镜;测试主镜的像质是否满足分辨率要求;若主镜的像质满足分辨率要求,在离轴反射式平行光管镜管的次镜位置安装次镜;检测离轴反射式平行光管的系统波像差和射光平行性,当离轴反射式平行光管的系统波像差和射光平行性满足要求,校正完成。
在一实施例中,离轴反射式平行光管的校正方法包括步骤:
建立基准:用同心小孔靶纸将激光器和大口径平行光管几何轴调试重合;
利用靶纸将离轴反射式平行光管镜管和基准光轴调试重合;
装上带框主镜(保证主镜长短轴连线和系统对称面大致平行),调节主镜旋转、俯仰、偏摆角度,焦点和理论位置一致;
显微镜测试像质满足分辨率:θ=140/D(单位:″,D为主镜有效口径),且无双像。否则,反复调节主镜旋转、俯仰、偏摆角度,直至满足分辨率要求;
装上次镜,调节次镜俯仰、偏摆角度,保证焦点大致处于理论位置,再次用显微镜测试像质,分辨率满足140/D要求,否则反复调节次镜角度;
用干涉仪和标准平面反射镜检测系统波像差,RMS值优于λ/15即可。
为大口径平行光管装上十字分划板,用大口径平行光管标定无穷远位置,然后用五棱镜法测试出射光平行性,精细标定焦面位置,出射光平行性优于5″即满足要求。
在一实施例中,离轴反射式平行光管的校正方法包括步骤:将激光器的几何轴和大口径平行光管的几何轴调试重合,并根据激光器的几何轴和大口径平行光管的几何轴建立基准光轴;将离轴反射式平行光管镜管的几何轴和基准光轴调试重合,并在离轴反射式平行光管镜管的主镜位置安装主镜;测试主镜的像质是否满足分辨率要求;若主镜的像质满足分辨率要求,在离轴反射式平行光管镜管的次镜位置安装次镜;检测离轴反射式平行光管的系统波像差和射光平行性,当离轴反射式平行光管的系统波像差和射光平行性满足要求,校正完成。将激光器的几何轴和大口径平行光管的几何轴调试重合,包括步骤:使用同心孔靶纸将激光器的几何轴和大口径平行光管的几何轴调试重合。
在一实施例中,离轴反射式平行光管的校正方法包括步骤:将激光器的几何轴和大口径平行光管的几何轴调试重合,并根据激光器的几何轴和大口径平行光管的几何轴建立基准光轴;将离轴反射式平行光管镜管的几何轴和基准光轴调试重合,并在离轴反射式平行光管镜管的主镜位置安装主镜;测试主镜的像质是否满足分辨率要求;若主镜的像质满足分辨率要求,在离轴反射式平行光管镜管的次镜位置安装次镜;检测离轴反射式平行光管的系统波像差和射光平行性,当离轴反射式平行光管的系统波像差和射光平行性满足要求,校正完成。将离轴反射式平行光管镜管的几何轴和基准光轴调试重合,包括步骤:使用同心孔靶纸将离轴反射式平行光管镜管的几何轴和基准光轴调试重合。
在一实施例中,离轴反射式平行光管的校正方法包括步骤:将激光器的几何轴和大口径平行光管的几何轴调试重合,并根据激光器的几何轴和大口径平行光管的几何轴建立基准光轴;将离轴反射式平行光管镜管的几何轴和基准光轴调试重合,并在离轴反射式平行光管镜管的主镜位置安装主镜;测试主镜的像质是否满足分辨率要求;若主镜的像质满足分辨率要求,在离轴反射式平行光管镜管的次镜位置安装次镜;检测离轴反射式平行光管的系统波像差和射光平行性,当离轴反射式平行光管的系统波像差和射光平行性满足要求,校正完成。在离轴反射式平行光管镜管的主镜位置安装主镜之后,包括步骤:通过调整主镜的旋转角度、俯仰角度、偏摆角度,以使主镜的焦点位置和理论位置一致。
在一实施例中,离轴反射式平行光管的校正方法包括步骤:将激光器的几何轴和大口径平行光管的几何轴调试重合,并根据激光器的几何轴和大口径平行光管的几何轴建立基准光轴;将离轴反射式平行光管镜管的几何轴和基准光轴调试重合,并在离轴反射式平行光管镜管的主镜位置安装主镜;测试主镜的像质是否满足分辨率要求;若主镜的像质满足分辨率要求,在离轴反射式平行光管镜管的次镜位置安装次镜;检测离轴反射式平行光管的系统波像差和射光平行性,当离轴反射式平行光管的系统波像差和射光平行性满足要求,校正完成。测试主镜的像质是否满足分辨率要求,包括步骤:在主镜的焦点位置放置显微镜,通过显微镜观察主镜的像质是否满足分辨率要求,若主镜的像质的分辨率标准:θ=(140/D)″,D为主镜有效口径。
在一实施例中,离轴反射式平行光管的校正方法包括步骤:将激光器的几何轴和大口径平行光管的几何轴调试重合,并根据激光器的几何轴和大口径平行光管的几何轴建立基准光轴;将离轴反射式平行光管镜管的几何轴和基准光轴调试重合,并在离轴反射式平行光管镜管的主镜位置安装主镜;测试主镜的像质是否满足分辨率要求;若主镜的像质满足分辨率要求,在离轴反射式平行光管镜管的次镜位置安装次镜;检测离轴反射式平行光管的系统波像差和射光平行性,当离轴反射式平行光管的系统波像差和射光平行性满足要求,校正完成。在离轴反射式平行光管镜管的次镜位置安装次镜之后,包括步骤:调节次镜俯仰角度、偏摆角度,使次镜的焦点处于理论位置,用显微镜测试次镜像质,直至次镜像质满足分辨率要求。
在一实施例中,离轴反射式平行光管的校正方法包括步骤:将激光器的几何轴和大口径平行光管的几何轴调试重合,并根据激光器的几何轴和大口径平行光管的几何轴建立基准光轴;将离轴反射式平行光管镜管的几何轴和基准光轴调试重合,并在离轴反射式平行光管镜管的主镜位置安装主镜;测试主镜的像质是否满足分辨率要求;若主镜的像质满足分辨率要求,在离轴反射式平行光管镜管的次镜位置安装次镜;检测离轴反射式平行光管的系统波像差和射光平行性,当离轴反射式平行光管的系统波像差和射光平行性满足要求,校正完成。检测离轴反射式平行光管的系统波像差和射光平行性,包括步骤:在主镜的一侧放置标准平面反射镜,在次镜的焦点位置放置干涉仪,使用标准平面反射镜和干涉仪检测系统波像差;在大口径平行光管装上十字分划板,用大口径平行光管标定无穷远位置,然后用五棱镜法测试出射光平行性。
本发明还提供了一种离轴反射式平行光管的校正装置,包括:基准光轴建立单元,用于将激光器的几何轴和大口径平行光管的几何轴调试重合,并根据激光器的几何轴和大口径平行光管的几何轴建立基准光轴;调试单元,用于将离轴反射式平行光管镜管的几何轴和基准光轴调试重合,并在离轴反射式平行光管镜管的主镜位置安装主镜;主镜像质测试单元,用于测试主镜的像质是否满足分辨率要求;系统性能检测单元,若主镜的像质满足分辨率要求,在离轴反射式平行光管镜管的次镜位置安装次镜,检测离轴反射式平行光管的系统波像差和射光平行性,当离轴反射式平行光管的系统波像差和射光平行性满足要求,校正完成。
下面参考图5,其示出了适于用来实现本发明实施例的电子设备900的结构图。电子设备旨在表示各种形式的数字计算机,诸如,膝上型计算机、台式计算机、工作台、个人数字助理、服务器、刀片式服务器、大型计算机、和其它适合的计算机。电子设备还可以表示各种形式的移动装置,诸如,个人数字处理、蜂窝电话、智能电话、可穿戴设备和其它类似的计算装置。本文所示的部件、它们的连接和关系、以及它们的功能仅仅作为示例,并且不意在限制本文中描述的和/或者要求的本发明的实现。
如图5所示,电子设备900可以包括处理装置901,其可以根据存储在只读存储器(ROM)902中的程序或者从存储装置908加载到随机访问存储器(RAM)903中的程序而执行各种适当的动作和处理。处理装置901可以是各种具有处理和计算能力的通用和/或专用处理组件。处理装置901的一些示例包括但不限于中央处理单元(CPU)、图形处理单元(GPU)、各种专用的人工智能(AI)计算芯片、各种运行机器学习模型算法的计算单元、数字信号处理器(DSP)、以及任何适当的处理器、控制器、微控制器等。处理装置901执行上文所描述的各个方法和处理。
在RAM 903中,还存储有电子设备900操作所需的各种程序和数据。处理装置901、ROM 902以及RAM 903通过总线904彼此相连。输入/输出(I/O)接口905也连接至总线904。
通常,以下装置可以连接至I/O接口905:包括例如触摸屏、触摸板、键盘、鼠标、摄像头、麦克风、加速度计、陀螺仪等的输入装置906;包括例如液晶显示器(LCD)、扬声器、振动器等的输出装置907;包括例如磁带、硬盘等的存储装置908;以及通信装置909。通信装置909可以允许电子设备900与其他设备进行无线或有线通信以交换数据。虽然图5示出了具有各种装置的电子设备900,但是应理解的是,并不要求实施或具备所有示出的装置。可以替代地实施或具备更多或更少的装置。
特别地,根据本发明的实施例,上文参考流程图描述的过程可以被实现为计算机软件程序。例如,本发明的实施例包括一种计算机程序产品,其包括承载在非暂态计算机可读介质上的计算机程序,该计算机程序包含用于执行流程图所示的方法的程序代码。在这样的实施例中,该计算机程序可以通过通信装置909从网络上被下载和安装,或者从存储装置908被安装,或者从ROM 902被安装。在该计算机程序被处理装置901执行时,执行本发明实施例的方法中限定的上述功能。备选地,在其他实施例中,处理装置901可以通过其他任何适当的方式(例如,借助于固件)而被配置为执行方法XXX。
本发明上述的计算机可读介质可以是计算机可读信号介质或者计算机可读存储介质或者是上述两者的任意组合。计算机可读存储介质例如可以是——但不限于——电、磁、光、电磁、红外线或半导体的系统、装置或器件,或者任意以上的组合。计算机可读存储介质的更具体的例子可以包括但不限于:具有一个或多个导线的电连接、便携式计算机磁盘、硬盘、随机访问存储器(RAM)、只读存储器(ROM)、可擦式可编程只读存储器(EPROM或闪存)、光纤、便携式紧凑磁盘只读存储器(CD-ROM)、光存储器件、磁存储器件或者上述的任意合适的组合。在本发明中,计算机可读存储介质可以是任何包含或存储程序的有形介质,该程序可以被指令执行系统、装置或者器件使用或者与其结合使用。而在本发明中,计算机可读信号介质可以包括在基带中或者作为载波一部分传播的数据信号,其中承载了计算机可读的程序代码。这种传播的数据信号可以采用多种形式,包括但不限于电磁信号、光信号或上述的任意合适的组合。计算机可读信号介质还可以是计算机可读存储介质以外的任何计算机可读介质,该计算机可读信号介质可以发送、传播或者传输用于由指令执行系统、装置或者器件使用或者与其结合使用的程序。计算机可读介质上包含的程序代码可以用任何适当的介质传输,包括但不限于:电线、光缆、RF(射频)等等,或者上述的任意合适的组合。
在一些实施方式中,客户端、服务器可以利用诸如HTTP(HyperText TransferProtocol,超文本传输协议)之类的任何当前已知或未来研发的网络协议进行通信,并且可以与任意形式或介质的数字数据通信(例如,通信网络)互连。通信网络的示例包括局域网(“LAN”),广域网(“WAN”),网际网(例如,互联网)以及端对端网络(例如,ad hoc端对端网络),以及任何当前已知或未来研发的网络。
上述计算机可读介质可以是上述电子设备中所包含的;也可以是单独存在,而未装配入该电子设备中。
上述计算机可读介质承载有一个或者多个程序,当上述一个或者多个程序被该电子设备执行时,使得该电子设备:将激光器的几何轴和大口径平行光管的几何轴调试重合,并根据激光器的几何轴和大口径平行光管的几何轴建立基准光轴;
将离轴反射式平行光管镜管的几何轴和基准光轴调试重合,并在离轴反射式平行光管镜管的主镜位置安装主镜;
测试主镜的像质是否满足分辨率要求;
若主镜的像质满足分辨率要求,在离轴反射式平行光管镜管的次镜位置安装次镜;
检测离轴反射式平行光管的系统波像差和射光平行性,当离轴反射式平行光管的系统波像差和射光平行性满足要求,校正完成。
可以以一种或多种程序设计语言或其组合来编写用于执行本发明的操作的计算机程序代码,上述程序设计语言包括但不限于面向对象的程序设计语言—诸如Java、Smalltalk、C++,还包括常规的过程式程序设计语言—诸如“C”语言或类似的程序设计语言。程序代码可以完全地在用户计算机上执行、部分地在用户计算机上执行、作为一个独立的软件包执行、部分在用户计算机上部分在远程计算机上执行或者完全在远程计算机或服务器上执行。在涉及远程计算机的情形中,远程计算机可以通过任意种类的网络——包括局域网(LAN)或广域网(WAN)—连接到用户计算机,或者,可以连接到外部计算机(例如利用因特网服务提供商来通过因特网连接)。
附图中的流程图和框图,图示了按照本发明各种实施例的系统、方法和计算机程序产品的可能实现的体系架构、功能和操作。在这点上,流程图或框图中的每个方框可以代表一个模块、程序段或代码的一部分,该模块、程序段或代码的一部分包含一个或多个用于实现规定的逻辑功能的可执行指令。也应当注意,在有些作为替换的实现中,方框中所标注的功能也可以以不同于附图中所标注的顺序发生。例如,两个接连地表示的方框实际上可以基本并行地执行,它们有时也可以按相反的顺序执行,这依所涉及的功能而定。也要注意的是,框图和/或流程图中的每个方框、以及框图和/或流程图中的方框的组合,可以用执行规定的功能或操作的专用的基于硬件的系统来实现,或者可以用专用硬件与计算机指令的组合来实现。
描述于本发明实施例中所涉及到的模块可以通过软件的方式实现,也可以通过硬件的方式来实现。其中,模块的名称在某种情况下并不构成对该模块本身的限定。
本文中以上描述的功能可以至少部分地由一个或多个硬件逻辑部件来执行。例如,非限制性地,可以使用的示范类型的硬件逻辑部件包括:数字电子电路系统、集成电路系统、现场可编程门阵列(FPGA)、专用集成电路(ASIC)、专用标准产品(ASSP)、芯片上系统的系统(SOC)、复杂可编程逻辑设备(CPLD)、计算机硬件、固件、软件、和/或它们的组合等等。
用于实施本发明的方法的程序代码可以采用一个或多个编程语言的任何组合来编写。这些程序代码可以提供给通用计算机、专用计算机或其他可编程数据处理装置的处理器或控制器,使得程序代码当由处理器或控制器执行时使流程图和/或框图中所规定的功能/操作被实施。程序代码可以完全在机器上执行、部分地在机器上执行,作为独立软件包部分地在机器上执行且部分地在远程机器上执行或完全在远程机器或服务器上执行。
在本发明的上下文中,机器可读介质可以是有形的介质,其可以包含或存储以供指令执行系统、装置或设备使用或与指令执行系统、装置或设备结合地使用的程序。机器可读介质可以是机器可读信号介质或机器可读储存介质。机器可读介质可以包括但不限于电子的、磁性的、光学的、电磁的、红外的或半导体系统、装置或设备,或者上述内容的任何合适组合。机器可读存储介质的更具体示例会包括基于一个或多个线的电气连接、便携式计算机盘、硬盘、随机存取存储器(RAM)、只读存储器(ROM)、可擦除可编程只读存储器(EPROM或快闪存储器)、光纤、便捷式紧凑盘只读存储器(CD-ROM)、光学储存设备、磁储存设备或上述内容的任何合适组合。
为了提供与用户的交互,可以在计算机上实施此处描述的系统和技术,该计算机具有:用于向用户显示信息的显示装置(例如,CRT(阴极射线管)或者LCD(液晶显示器)监视器);以及键盘和指向装置(例如,鼠标或者轨迹球),用户可以通过该键盘和该指向装置来将输入提供给计算机。其它种类的装置还可以用于提供与用户的交互;例如,提供给用户的反馈可以是任何形式的传感反馈(例如,视觉反馈、听觉反馈或者触觉反馈);并且可以用任何形式(包括声输入、语音输入或者、触觉输入)来接收来自用户的输入。
可以将此处描述的系统和技术实施在包括后台部件的计算系统(例如,作为数据服务器)或者包括中间件部件的计算系统(例如,应用服务器)或者包括前端部件的计算系统(例如,具有图形用户界面或者网络浏览器的用户计算机,用户可以通过该图形用户界面或者该网络浏览器来与此处描述的系统和技术的实施方式交互)或者包括这种后台部件、中间件部件或者前端部件的任何组合的计算系统中。可以通过任何形式或者介质的数字数据通信(例如,通信网络)来将系统的部件相互连接。通信网络的示例包括:局域网(LAN)、广域网(WAN)区块链网络和互联网。
计算机系统可以包括客户端和服务器。客户端和服务器一般远离彼此并且通常通过通信网络进行交互。通过在相应的计算机上运行并且彼此具有客户端-服务器关系的计算机程序来产生客户端和服务器的关系。服务器可以是云服务器,又称为云计算服务器或云主机,是云计算服务体系中的一项主机产品,以解决了传统物理主机与VPS服务中,存在的管理难度大,业务扩展性弱的缺陷。服务器也可以为分布式系统的服务器,或者是结合了区块链的服务器。
人工智能是研究使计算机来模拟人的某些思维过程和智能行为(如学习、推理、思考、规划等)的学科,既有硬件层面的技术也有软件层面的技术。人工智能硬件技术一般包括如传感器、专用人工智能芯片、云计算、分布式存储、大数据处理等技术;人工智能软件技术主要包括计算机视觉技术、语音识别技术、自然语言处理技术及机器学习/深度学习技术、大数据处理技术、知识图谱技术等几大方向。
云计算(cloud computing),指的是通过网络接入弹性可扩展的共享物理或虚拟资源池,资源可以包括服务器、操作系统、网络、软件、应用和存储设备等,并可以按需、自服务的方式对资源进行部署和管理的技术体系。通过云计算技术,可以为人工智能、区块链等技术应用、模型训练提供高效强大的数据处理能力。
应该理解,可以使用上面所示的各种形式的流程,重新排序、增加或删除步骤。例如,本发发明中记载的各步骤可以并行地执行也可以顺序地执行也可以不同的次序执行,只要能够实现本发明提供的技术方案所期望的结果,本文在此不进行限制。
上述具体实施方式,并不构成对本发明保护范围的限制。本领域技术人员应该明白的是,根据设计要求和其他因素,可以进行各种修改、组合、子组合和替代。任何在本发明的精神和原则之内所作的修改、等同替换和改进等,均应包含在本发明保护范围之内。

Claims (10)

1.一种离轴反射式平行光管的校正方法,其特征在于,包括以下步骤:
将激光器的几何轴和大口径平行光管的几何轴调试重合,并根据所述激光器的几何轴和所述大口径平行光管的几何轴建立基准光轴;
将离轴反射式平行光管镜管的几何轴和基准光轴调试重合,并在所述离轴反射式平行光管镜管的主镜位置安装主镜;
测试所述主镜的像质是否满足分辨率要求;
若所述主镜的像质满足分辨率要求,在所述离轴反射式平行光管镜管的次镜位置安装次镜;
检测所述离轴反射式平行光管的系统波像差和射光平行性,当所述离轴反射式平行光管的系统波像差和射光平行性满足要求,校正完成。
2.根据权利要求1所述的一种离轴反射式平行光管的校正方法,其特征在于,将激光器的几何轴和大口径平行光管的几何轴调试重合,包括步骤:
使用同心孔靶纸将激光器的几何轴和大口径平行光管的几何轴调试重合。
3.根据权利要求1所述的一种离轴反射式平行光管的校正方法,其特征在于,将离轴反射式平行光管镜管的几何轴和基准光轴调试重合,包括步骤:
使用同心孔靶纸将离轴反射式平行光管镜管的几何轴和基准光轴调试重合。
4.根据权利要求1所述的一种离轴反射式平行光管的校正方法,其特征在于,在所述离轴反射式平行光管镜管的主镜位置安装主镜之后,包括步骤:
通过调整所述主镜的旋转角度、俯仰角度、偏摆角度,以使所述主镜的焦点位置和理论位置一致。
5.根据权利要求1所述的一种离轴反射式平行光管的校正方法,其特征在于,测试所述主镜的像质是否满足分辨率要求,包括步骤:
在所述主镜的焦点位置放置显微镜,通过所述显微镜观察所述主镜的像质是否满足分辨率要求,若所述主镜的像质的分辨率标准:
θ=(140/D)″,D为主镜有效口径。
6.根据权利要求1所述的一种离轴反射式平行光管的校正方法,其特征在于,在所述离轴反射式平行光管镜管的次镜位置安装次镜之后,包括步骤:
调节次镜俯仰角度、偏摆角度,使所述次镜的焦点处于理论位置,用显微镜测试次镜像质,直至所述次镜像质满足分辨率要求。
7.根据权利要求1所述的一种离轴反射式平行光管的校正方法,其特征在于,所述检测所述离轴反射式平行光管的系统波像差和射光平行性,包括步骤:
在所述主镜的一侧放置标准平面反射镜,在所述次镜的焦点位置放置干涉仪,使用所述标准平面反射镜和所述干涉仪检测系统波像差;
在所述大口径平行光管装上十字分划板,用所述大口径平行光管标定无穷远位置,用五棱镜法测试出射光平行性。
8.一种离轴反射式平行光管的校正装置,其特征在于,包括:
基准光轴建立单元,用于将激光器的几何轴和大口径平行光管的几何轴调试重合,并根据所述激光器的几何轴和所述大口径平行光管的几何轴建立基准光轴;
调试单元,用于将离轴反射式平行光管镜管的几何轴和基准光轴调试重合,并在所述离轴反射式平行光管镜管的主镜位置安装主镜;
主镜像质测试单元,用于测试所述主镜的像质是否满足分辨率要求;
系统性能检测单元,若所述主镜的像质满足分辨率要求,在所述离轴反射式平行光管镜管的次镜位置安装次镜,检测所述离轴反射式平行光管的系统波像差和射光平行性,当所述离轴反射式平行光管的系统波像差和射光平行性满足要求,校正完成。
9.一种电子设备,其特征在于,包括:
至少一个处理器;以及
与所述至少一个处理器通信连接的存储器;其中,
所述存储器存储有可被所述至少一个处理器执行的指令,所述指令被所述至少一个处理器执行,以使所述至少一个处理器实现如权利要求1-7中任一项所述的离轴反射式平行光管的校正方法。
10.一种计算机可读存储介质,其中,所述计算机指令用于使所述计算机执行根据权利要求1-7中任一项所述的离轴反射式平行光管的校正方法。
CN202210527549.0A 2022-05-16 2022-05-16 离轴反射式平行光管的校正方法、装置、电子设备和介质 Pending CN114964732A (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN202210527549.0A CN114964732A (zh) 2022-05-16 2022-05-16 离轴反射式平行光管的校正方法、装置、电子设备和介质

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN202210527549.0A CN114964732A (zh) 2022-05-16 2022-05-16 离轴反射式平行光管的校正方法、装置、电子设备和介质

Publications (1)

Publication Number Publication Date
CN114964732A true CN114964732A (zh) 2022-08-30

Family

ID=82982411

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN202210527549.0A Pending CN114964732A (zh) 2022-05-16 2022-05-16 离轴反射式平行光管的校正方法、装置、电子设备和介质

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN114964732A (zh)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN116699864A (zh) * 2023-07-31 2023-09-05 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 空基大型光学系统无基准装调方法、装置、设备及介质

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN116699864A (zh) * 2023-07-31 2023-09-05 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 空基大型光学系统无基准装调方法、装置、设备及介质
CN116699864B (zh) * 2023-07-31 2023-10-20 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 空基大型光学系统无基准装调方法、装置、设备及介质

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US9946633B2 (en) Assessing risk of software commits to prioritize verification resources
US8935573B2 (en) Reliable unit testing through cached mocking
CN107992791A (zh) 目标跟踪失效重检方法及装置、存储介质、电子设备
CN105630683A (zh) 一种云测试体系架构
CN114964732A (zh) 离轴反射式平行光管的校正方法、装置、电子设备和介质
CN113705362A (zh) 图像检测模型的训练方法、装置、电子设备及存储介质
CN115373888A (zh) 故障定位方法、装置、电子设备和存储介质
CN112985867B (zh) 舵机测试方法、装置、设备及存储介质
CN114417780A (zh) 状态同步方法、装置、电子设备及存储介质
CN115329597A (zh) 用于仿真检测高精地图质量的方法、装置和设备
CN112102417A (zh) 确定世界坐标的方法和装置及用于车路协同路侧相机的外参标定方法
CN115575931A (zh) 标定方法、装置、电子设备及存储介质
CN116257226A (zh) 数据校验方法、装置、电子设备及存储介质
CN114813057A (zh) 卡式平行光管的校正方法、系统和存储介质
CN111538656B (zh) 梯度检查的监控方法、装置、设备及存储介质
US11176026B2 (en) Assignment of test case priorities based on combinatorial test design model analysis
CN111062920B (zh) 用于生成半导体检测报告的方法及装置
CN114741294A (zh) 一种页面的调试方法、装置、设备及存储介质
CN114327802A (zh) 区块链访问链外数据的方法、装置、设备和介质
CN115481594A (zh) 计分板实现方法、计分板、电子设备及存储介质
CN113836712B (zh) 车道级导航的室内仿真方法、装置、设备和介质
CN117393451B (zh) 一种晶圆表面平均曲率半径的测量方法和系统
CN113654415A (zh) 半主动激光导引头标定方法、装置及存储介质
CN114721895B (zh) 待测设计的验证方法、平台、设备和介质
CN113642612B (zh) 样本图像生成方法、装置、电子设备及存储介质

Legal Events

Date Code Title Description
PB01 Publication
PB01 Publication
SE01 Entry into force of request for substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination