CN114923442A - 基于超声Lamb波零群速度共振测量双层薄板各层厚度的方法及装置 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种基于超声Lamb波零群速度共振测量双层薄板各层厚度的方法及装置,该方法利用Lamb波S1模态中存在一个波数不为零但频率最小的特殊位置,在该位置上能量不传播,在频域形成一个尖锐的共振峰,称为ZGVLamb波;该模式对板状材料的厚度非常敏感,在某一确定频厚积处具有尖锐的共振峰,利用共振峰频率与层板厚度的关系对双层薄板各层厚度进行表征;当测得ZGV频率时,找到对应的厚度比,便可求出各层厚度。本发明克服了传统超声脉冲回波法,在板厚小于波长量级时,回波信号互相混叠无法测量的缺点。
Description
技术领域
本发明涉及超声领域,具体涉及一种基于超声Lamb波零群速度共振测量双层薄板各层厚度的方法及装置。
背景技术
双层薄板材料在建筑业、航空航天、医药、压力容器制造、镀膜技术等方面都有非常广泛的应用。厚度是板状材料的重要参数,因此对厚度进行表征具有重要意义。超声波测量方法具有对被测结构要求低、空间分辨率高、受测试环境影响小等优点,广泛用于物体厚度的测量。目前,常用的超声波测量方法有脉冲回波法等。脉冲回波法通过测量超声脉冲在样品中的传播时间,然后根据传播速度求样品厚度。如文献1(Zheng Wei Lei,Man Ke Niuand Xiang Hua.Multilayer Ultrasonic Echo Structured Sparse Model and itsApplication[J].Advanced Materials Research,2013,2438(718-720):1043-1048.)。当薄层厚度小于波长量级时,被测样品上下表面、交界面处的反射回波混叠在一起,导致薄层测厚无法实现。
因此,需要一种当双层薄板厚度在波长量级甚至小于波长时,也能很好地测量各层厚度的方法以解决上述问题。
发明内容
本发明的目的在于提供一种基于超声Lamb波零群速度共振测量双层薄板各层厚度的方法及装置,利用Lamb波S1模态中存在一个波数不为零但频率最小的特殊位置,该位置能量不传播,在频域形成一个尖锐的共振峰,利用共振峰频率值与双层板厚度比之间的关系,对双层薄板各层厚度进行表征。
实现本发明目的的技术解决方案为:第一方面,本发明提供一种基于超声Lamb波零群速度共振测量双层薄板各层厚度的方法,双层薄板Lamb波零群速度频率与两板厚度比有关,理论推导出双层薄板Lamb波波数k和频率f与薄板厚度比之间的关系式,作不同厚度比下的Lamb波频散曲线,频散曲线上斜率为零但波数不为零的点的频率称为ZGV频率,其中各层厚度用两板厚度比和总厚度描述;实验测得零群速度频率,确定对应的厚度比,求出各层厚度。
在其中一个实施例中,采用激光激发,激光多普勒测振仪探测的方式进行Lamb波ZGV共振模式的激发探测实验,得到待测样品的ZGV频率,再对照理论ZGV频率随厚度比变化曲线,找到对应的厚度比,从而得到各层厚度。
在其中一个实施例中,假定两板密度为ρi,纵波速度为cLi,横波速度为cTi,厚度比为r,i表示在第几层,i=1、2,总厚度为d,于是可得到双层薄板Lamb波频率f与厚度比r满足以下行列式值为零的矩阵:
在其中一个实施例中,在材料密度、横波速度和总厚度已知的情况下,通过值为零的矩阵行列式,得到不同厚度比r下Lamb波频散曲线,ZGV频率对应曲线上斜率为零,但波数k≠0的点,作ZGV频率随厚度比r变化的曲线。
第二方面,本发明提供一种基于超声Lamb波零群速度共振测量双层薄板各层厚度的装置,包括Nd:YAG激光器、衰减片、凸透镜、激光多普勒测振仪、示波器和计算机;所述Nd:YAG激光器出射脉冲激光,透过衰减片入射到凸透镜上,通过调节衰减片控制入射激光的能量,光束经凸透镜聚焦成为圆形光斑辐照在样品前表面;激光多普勒测振仪出射激光,并经系统自聚焦成微小光点垂直入射在样品后表面,探测光与激发光对心;超声信号转换为电信号显示在示波器中,时域信号经傅里叶变换后得到频谱,将频谱共振峰频率值对照ZGV频率随厚度比变化的曲线,找到相应的厚度比r,求出双层薄板第一层厚度h1为:第二层厚度h2为:其中d为总厚度。
在其中一个实施例中,所述Nd:YAG激光器的波长为1060nm,脉宽为7ns。
第三方面,本发明提供一种计算机设备,包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序,所述处理器执行所述程序时实现第一方面所述的方法的步骤。
第四方面,本发明提供一种计算机可读存储介质,其上存储有计算机程序,该程序被处理器执行时实现第一方面所述的方法的步骤。
第五方面,本发明提供一种计算机程序产品,包括计算机程序,该计算机程序被处理器执行时实现第一方面所述的方法的步骤。
与现有技术相比,本发明的有益特点是:Lamb波是一种板波,当双层薄板厚度为波长量级甚至小于波长时,可通过检测双层薄板Lamb波ZGV频率来确定各层厚度,与传统脉冲回波法相比,不存在上下表面和交界面处回波混叠,无法测量层板厚度的情况。
下面结合附图对本发明作进一步详细描述。
附图说明
图1是铝/锡双层薄板的几何描述示意图。
图2是铝/锡双层薄板Lamb波S1模态ZGV频率随厚度比r变化的曲线。
图3是实现此方法的实验装置示意图。
具体实施方式
本发明提出一种测量双层薄板各层厚度的Lamb波零群速度方法,双层薄板Lamb波零群速度(Zero-Group-Velocity,ZGV)频率与两板厚度比有关,理论推导出双层薄板Lamb波波数k和频率f与薄板厚度比之间的关系式,作不同厚度比下的Lamb波频散曲线,频散曲线上斜率为零但波数不为零的点的频率称为ZGV频率,其中各层厚度用两板厚度比和总厚度描述。
假定两板密度为ρi,纵波速度为cLi,横波速度为cTi,厚度比为r,i表示在第几层,i=1、2,总厚度为d,于是可得到双层薄板Lamb波频率f与厚度比r满足以下行列式值为零的矩阵:
通过上式作已知材料的双层薄板在不同厚度比下Lamb波频散曲线,求出ZGV频率,作ZGV频率随厚度比变化的曲线;进行Lamb波ZGV共振模式的激发探测实验,得到样品的ZGV频率,再对照理论ZGV频率随双层薄板厚度比变化的曲线,找到对应的厚度比,从而得到各层厚度。
该方法具体实施方式如下:
第一步,在材料密度、横波速度和双层薄板总厚度已知的情况下,得到不同厚度比r下的Lamb波频散曲线,频散曲线上斜率为零但波数不为零的点的频率为ZGV频率;
第二步,作ZGV频率随两板厚度比r变化的曲线;
第三步,采用激光激发,激光多普勒测振仪探测的方式进行Lamb波ZGV共振模式的激发探测实验,得到样品的ZGV频率;
波长1060nm,脉宽7ns的Nd:YAG激光器出射脉冲激光,透过衰减片入射到凸透镜上,通过调节衰减片可以控制入射激光的能量,光束经凸透镜聚焦成圆形光斑辐照在样品前表面。激光多普勒测振仪出射激光,并经系统自聚焦成微小光点在样品后表面,探测光与激发光对心。超声信号转换为电信号显示在示波器中,时域信号经傅里叶变换后得到频谱,读取频谱中共振峰频率值。
下面结合附图和实施例对本发明进行详细说明。
实施例
本发明测量双层薄板各层厚度的Lamb波零群速度方法,以铝/锡双层薄板为例,铝板和锡板的密度、横波速度已知,两板各自的厚度待测,图1为该双层薄板的几何示意图。
第一步,通过Lamb波波数k和频率f满足的方程,计算得到不同厚度比r下的铝/锡双层薄板Lamb波频散曲线,在频散曲线上找到S1模态ZGV频率,ZGV频率对应频散曲线上斜率为零但波数不为零的点的频率,其中r表示为铝层厚度与锡层厚度的比值,其变化范围为[1/9,9];
第二步,作铝/锡双层薄板Lamb波S1模态ZGV频率随两板厚度比r变化的曲线,见图2,从图中可以发现,这两种材料组成的双层薄板Lamb波S1模态ZGV频率随两板厚度比r单调递增,两者是一一对应的关系;
第三步,采用激光激发,激光多普勒测振仪探测的方式进行Lamb波ZGV共振模式的激发探测实验,图3为实验装置图。通过探测得到铝/铜双层薄板样品S1模态ZGV频率,其中双层薄板中铝层和锡层的厚度未知,总厚度可由游标卡尺读出;
波长1060nm,脉宽7ns的Nd:YAG激光器出射脉冲激光,透过衰减片入射到凸透镜上,通过调节衰减片可以控制入射激光的能量,光束经凸透镜聚焦成圆形光斑辐照在样品前表面。激光多普勒测振仪出射激光,并经系统自聚焦成微小光点在样品后表面,探测光与激发光对心。超声信号转换为电信号显示在示波器中,时域信号经傅里叶变换后得到频谱,读取频谱中共振峰频率值。
Claims (10)
1.一种基于超声Lamb波零群速度共振测量双层薄板各层厚度的方法,其特征在于,双层薄板Lamb波零群速度频率与两板厚度比有关,推导出双层薄板Lamb波波数k和频率f与薄板厚度比之间的关系式,作不同厚度比下的Lamb波频散曲线,频散曲线上斜率为零但波数不为零的点的频率称为ZGV频率,其中各层厚度用两板厚度比和总厚度描述;实验测得零群速度频率,确定对应的厚度比,求出各层厚度。
2.根据权利要求1所述的基于超声Lamb波零群速度共振测量双层薄板各层厚度的方法,其特征在于,采用激光激发,激光多普勒测振仪探测的方式进行Lamb波ZGV共振模式的激发探测实验,得到待测样品的ZGV频率,再对照理论ZGV频率随厚度比变化曲线,找到对应的厚度比,从而得到各层厚度。
4.根据权利要求3所述的基于超声Lamb波零群速度共振测量双层薄板各层厚度的方法,其特征在于,在材料密度、横波速度和总厚度已知的情况下,通过值为零的矩阵行列式,得到不同厚度比r下Lamb波频散曲线,ZGV频率对应曲线上斜率为零,但波数k≠0的点,作ZGV频率随厚度比r变化的曲线。
7.根据权利要求6所述的基于超声Lamb波零群速度共振测量双层薄板各层厚度的装置,其特征在于,所述Nd:YAG激光器的波长为1060nm,脉宽为7ns。
8.一种计算机设备,包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序,其特征在于,所述处理器执行所述程序时实现权利要求1-5中任一所述的方法的步骤。
9.一种计算机可读存储介质,其上存储有计算机程序,其特征在于,该程序被处理器执行时实现权利要求1-5中任一所述的方法的步骤。
10.一种计算机程序产品,包括计算机程序,其特征在于,该计算机程序被处理器执行时实现权利要求1-5中任一所述的方法的步骤。
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