CN114910756A - 一种低压母线槽的绝缘性能评估方法及系统 - Google Patents

Abstract

本发明提供了一种低压母线槽的绝缘性能评估方法及系统，应用于低压母线槽安全检测领域，该方法包括：获得第一目标母线槽的信息，根据第一目标母线槽的信息，获得设计结构数据和元件属性数据。根据设计结构数据和元件属性数据进行绝缘性能分析，输出第一绝缘性能参数。获得第一目标母线槽的应用集成环境和用电负荷环境输入绝缘衰减检测模型中，第一绝缘衰减检测模型对第一目标母线槽进行检测，输出第一衰减指数。根据第一衰减指数和第一绝缘性能参数，获得第二绝缘性能参数，根据第二绝缘性能参数，生成第一评估结果。解决了现有技术中存在由于使用条件的影响，无法对低压母线槽绝缘性能进行准确评估的技术问题。

Description

一种低压母线槽的绝缘性能评估方法及系统

技术领域

本发明涉及低压母线槽安全检测领域，具体涉及一种低压母线槽的绝缘性能评估方法及系统。

背景技术

母线槽是由金属板为保护外壳、导电排、绝缘材料及有关附件组成的母线系统。用于分散系统各个元件分配较大功率，与电缆相比，常用于大电流输送，同时由于采用了新技术、新工艺，大大降低的母线槽两端部连接处及分线口插接处的接触电阻和温升，并在母线槽中使用了高质量的绝缘材料，从而提高了母线槽的安全可靠性，使整个系统更加完善。

但是，在现有技术中由于母线槽实际的使用环境以及使用负载等使用条件的影响可能会造成母线槽的绝缘性能下降，无法对其绝缘性能进行准确评价。

因此，在现有技术中存在由于使用条件的影响，无法对低压母线槽绝缘性能进行准确评估的技术问题。

发明内容

本申请提供一种低压母线槽的绝缘性能评估方法及系统，用于针对解决现有技术中存在由于使用条件的影响，无法对低压母线槽绝缘性能进行准确评估的技术问题。

鉴于上述问题，本申请提供了一种低压母线槽的绝缘性能评估方法。

本申请的第一个方面，提供了一种低压母线槽的绝缘性能评估方法，所述方法包括：获得第一目标母线槽的信息，其中，所述第一目标母线槽为进行绝缘性能评估的实时低压母线槽；根据所述第一目标母线槽的信息，获得设计结构数据和元件属性数据；根据所述设计结构数据和所述元件属性数据进行绝缘性能分析，输出第一绝缘性能参数；根据数据采集装置，获得所述第一目标母线槽的应用集成环境和用电负荷环境；将所述应用集成环境和所述用电负荷环境输入绝缘衰减检测模型中，根据所述第一绝缘衰减检测模型对所述第一目标母线槽进行检测，输出第一衰减指数，其中，所述第一衰减指数为绝缘性能的实时使用产生的时序衰减；根据所述第一衰减指数和所述第一绝缘性能参数，获得第二绝缘性能参数；根据所述第二绝缘性能参数，生成第一评估结果。

本申请的第二个方面，提供了一种低压母线槽的绝缘性能评估系统，所述系统包括：第一获得单元，用于获得第一目标母线槽的信息，其中，所述第一目标母线槽为进行绝缘性能评估的实时低压母线槽；第二获得单元，用于根据所述第一目标母线槽的信息，获得设计结构数据和元件属性数据；第一处理单元，用于根据所述设计结构数据和所述元件属性数据进行绝缘性能分析，输出第一绝缘性能参数；第三获得单元，用于根据数据采集装置，获得所述第一目标母线槽的应用集成环境和用电负荷环境；第二处理单元，用于将所述应用集成环境和所述用电负荷环境输入绝缘衰减检测模型中，根据所述第一绝缘衰减检测模型对所述第一目标母线槽进行检测，输出第一衰减指数，其中，所述第一衰减指数为绝缘性能的实时使用产生的时序衰减；第四获得单元，用于根据所述第一衰减指数和所述第一绝缘性能参数，获得第二绝缘性能参数；第一生成单元，用于根据所述第二绝缘性能参数，生成第一评估结果。

本申请的第三个方面，提供了一种低压母线槽的绝缘性能评估系统，包括：处理器，所述处理器与存储器耦合，所述存储器用于存储程序，当所述程序被所述处理器执行时，使系统以执行如第一方面所述方法的步骤。

本申请的第四个方面，提供了一种计算机可读存储介质，所述存储介质上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现如第一方面所述方法的步骤。

本申请中提供的一个或多个技术方案，至少具有如下技术效果或优点：

本申请实施例提供的方法通过分析低压母线槽的绝缘材料和材料厚度、尺寸等参数，分析低压母线槽的理论绝缘性能参数，再在低压母线槽实际安装后结合分析，实现了低压母线槽绝缘性能评估准确性的技术效果。解决了现有技术中存在由于使用条件的影响，无法对低压母线槽绝缘性能进行准确评估的技术问题。

上述说明仅是本申请技术方案的概述，为了能够更清楚了解本申请的技术手段，而可依照说明书的内容予以实施，并且为了让本申请的上述和其它目的、特征和优点能够更明显易懂，以下特举本申请的具体实施方式。

附图说明

图1为本申请提供的一种低压母线槽的绝缘性能评估方法流程示意图；

图2为本申请提供的一种低压母线槽的绝缘性能评估方法中获得第一绝缘性能参数的流程示意图；

图3为本申请提供的一种低压母线槽的绝缘性能评估方法中获得第一衰减指数的流程示意图；

图4为本申请提供了一种低压母线槽的绝缘性能评估系统结构示意图；

图5为本申请示例性电子设备的结构示意图。

附图标记说明：第一获得单元11，第二获得单元12，第一处理单元13，第三获得单元14，第二处理单元15，第四获得单元16，第一生成单元17，存储器301，处理器302，通信接口303，总线架构304。

具体实施方式

本申请提供一种低压母线槽的绝缘性能评估方法及系统，用于针对解决现有技术中存在由于使用条件的影响，无法对低压母线槽绝缘性能进行准确评估的技术问题。

针对上述技术问题，本申请提供的技术方案总体思路如下：

本申请实施例提供的方法通过获得第一目标母线槽的信息，第一目标母线槽为进行绝缘性能评估的实时低压母线槽，根据第一目标母线槽的信息，获得设计结构数据和元件属性数据。根据设计结构数据和元件属性数据进行绝缘性能分析，输出第一绝缘性能参数。获得第一目标母线槽的应用集成环境和用电负荷环境输入绝缘衰减检测模型中，根据第一绝缘衰减检测模型对第一目标母线槽进行检测，输出第一衰减指数。根据第一衰减指数和第一绝缘性能参数，获得第二绝缘性能参数，根据第二绝缘性能参数，生成第一评估结果。解决了现有技术中存在由于使用条件的影响，无法对低压母线槽绝缘性能进行准确评估的技术问题。通过分析低压母线槽的绝缘材料和材料厚度、尺寸等参数，分析低压母线槽的理论绝缘性能参数，再在低压母线槽实际安装后结合分析，实现了低压母线槽绝缘性能评估准确性的技术效果。

在介绍了本申请基本原理后，下面，将参考附图对本申请中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅是本申请的一部分实施例，而不是本申请的全部实施例，应理解，本申请不受这里描述的示例实施例的限制。基于本申请的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本申请保护的范围。另外还需要说明的是，为了便于描述，附图中仅示出了与本申请相关的部分而非全部。

实施例一

如图1所示，本申请提供了一种低压母线槽的绝缘性能评估方法，所述方法包括：

S100：获得第一目标母线槽的信息，其中，所述第一目标母线槽为进行绝缘性能评估的实时低压母线槽；

具体的，母线槽是一种以铜或铝作为导体，在导体外部有非烯性绝缘层支撑，安装到金属槽中形成的导体。低压母线槽在安装之后，由于使用和安装的负荷，可能会导致绝缘性能逐渐衰减，当母线槽内部绝缘性能逐渐衰减时由于其存在较大的电流容量则会的造成较大的安全隐患。通过分析低压母线槽的绝缘材料和材料厚度、尺寸等参数，分析低压母线槽的理论绝缘性能参数，再根据低压母线槽实际安装后结合分析，从而实现对低压母线槽绝缘性能评估的针对性和评估准确性。

S200：根据所述第一目标母线槽的信息，获得设计结构数据和元件属性数据；

S300：根据所述设计结构数据和所述元件属性数据进行绝缘性能分析，输出第一绝缘性能参数；

具体的，母线槽存在多种不同的种类，根据其产品铭牌或产品说明书中标注的各类信息获取设计结构数据和元件属性数据，其中设计结构数据为母线槽的形状、内部结构，元件属性数据包括各内部元件材料、外壳材料、以及绝缘层材料信息。由于母线槽中绝缘层为非烯性绝缘层，该材料受到高温时会加速老化，最终造成绝缘性能下降。因此，在对进行绝缘性能分析时，通过获取与温升相关的指标与绝缘层耐高温的能力相关的指标，来对绝缘层绝缘性能参数进行输出。其中，对于温升指标包括散热以及导热，导热即为将母线槽内部的热量传导至外部，该能力越强其内部的温度滞留就较少，产生的升温也就越少。对于散热则可以根据外壳设计结构，例如在导体中间增加散热片等结构设计就可以增加母线槽内部的散热效率。最后根据设计结构数据和元件属性数据进行绝缘性能分析，输出第一绝缘性能参数。

S400：根据数据采集装置，获得所述第一目标母线槽的应用集成环境和用电负荷环境；

具体的，根据数据采集装置获取当前母线槽的工作环境，所述数据采集装置包括采集安装位置及过程的监控摄像头，以及采集安装环境和运行环境的采集传感器，其中所述采集传感器用于采集安装环境的温度、湿度，以及使用环境中各母线槽使用时流经的电压电流等相关使用信息。其中，所述应用集成环境为母线槽安装后的使用外界环境，所述用电负荷环境为母线槽安装后使用的用电负荷环境，其中用电负荷环境包括使用电压、使用电流等与用电相关的使用环境。

S500：将所述应用集成环境和所述用电负荷环境输入绝缘衰减检测模型中，根据所述第一绝缘衰减检测模型对所述第一目标母线槽进行检测，输出第一衰减指数，其中，所述第一衰减指数为绝缘性能的实时使用产生的时序衰减；

具体的，将历史应用集成环境和历史用电负荷环境以及上述历史环境对绝缘性能使用产生的历史时序衰减结果标识，输入神经网络模型中进行训练获得绝缘衰减检测模型。当训练的输出结果接近于历史时序衰减结果标识时完成对神经网络模型的训练，最终获得的训练模型即为第一绝缘衰减检测模型。其中，历史时序衰减结果标识可以通过耐久度测试平台获取，时序衰减为绝缘层使用寿命的衰减结果。所述神经网络模型用于通过应用集成环境和用电负荷环境，获得实时使用产生的时序衰减。将当前应用集成环境和当前用电负荷环境输入绝缘衰减检测模型中，根据所述第一绝缘衰减检测模型对第一目标母线槽进行检测，输出第一衰减指数，其中，所述第一衰减指数为绝缘性能的实时使用产生的时序衰减，时序衰减为绝缘层在当前运行环境下造成的性能衰减。

S600：根据所述第一衰减指数和所述第一绝缘性能参数，获得第二绝缘性能参数；

S700：根据所述第二绝缘性能参数，生成第一评估结果。

具体的，根据获取的第一衰减指数和第一绝缘性能参数，第一衰减指数为绝缘性能的实时使用产生的时序衰减，时序衰减为绝缘层在当前运行环境下造成的性能衰减。根据第一衰减指数即当前运行环境下造成的性能衰减和第一绝缘性能参数获得第二绝缘性能参数，其中第二绝缘性能参数为当前运行环境下对第一绝缘性能参数所产生的影响结果。根据第二绝缘性能参数，生成第一评估结果。第一评估结果可以通过专业人员或构建衰减数据库等方式进行获取，再此不做具体限定，例如，在构建衰减数据库时，可以通过衰减后的第二绝缘性能参数与第一绝缘性能参数之间的差值比例构建最终的衰减数据库，例如，第一绝缘性能参数在设计时其最大工作时间为5000小时，而衰减后的第二绝缘性能参数仅为第一绝缘性能参数的二分之一，因此第二绝缘性能参数条件下最大工作时间衰减为2500小时。通过分析低压母线槽的绝缘材料和材料厚度、尺寸等参数，分析低压母线槽的理论绝缘性能参数，再在低压母线槽实际安装后结合分析，实现了低压母线槽绝缘性能评估准确性的技术效果。

如图2所示，本申请实施例提供的方法中的步骤S300包括：

S310：根据所述设计结构数据和所述元件属性数据进行分析，获得第一内结构信息、第一外壳信息和第一材料属性信息；

S320：以所述第一内结构信息、所述第一外壳信息和所述第一材料属性信息作为信息库进行数据调取，输出第一散热指标、第一传导指标和第一耐热指标，其中，所述第一散热指标为所述第一目标母线槽的设计结构散热性，所述第一传导指标为金属外壳导热性，所述第一耐热指标为绝缘材料耐热性；

S330：根据所述第一散热指标、所述第一传导指标和所述第一耐热指标进行指标权重计算，输出所述第一绝缘性能参数。

具体的，通过设计结构数据和元件属性数据进行分析，获取第一内结构信息、第一外壳信息、第一材料属性信息，其中第一内结构信息为母线槽内部结构设计信息，包括散热结构设计以及内部元件结构设计等信息，第一外壳信息为母线槽外壳信息，第一材料属性信息为母线槽外壳材料、绝缘层材料、内部导体材料以及散热结构材料信息。将上述信息输入信息数据库中进行数据调取，其中信息数据库中记录各种类型母线槽的各项温升指标以及绝缘材料的耐热性指标，所述温升指标包括母线槽的散热指标以及导热指标，其中散热指标可以通过内部散热结构的设置以及外部散热面积进行评价，导热指标可以根据导热材料的导热性能进行评价，导热性能越好热传导的效率越高，热量堆积越少更容易将系统内部的热量传导至外部。绝缘材料的耐热性指标可以根据绝缘材料的耐热性能获取，耐热性能越好绝缘材料受到高温影响越小，耐热性能指标越高。根据信息数据库中记录的数据获取第一散热指标、第一传导指标和第一耐热指标，其中，第一散热指标为第一目标母线槽的设计结构散热性，第一传导指标为金属外壳导热性，第一耐热指标为绝缘材料耐热性，上述各指标可以通过设置评价等级进行计算，根据第一散热指标、所述第一传导指标和所述第一耐热指标进行指标权重计算，所述权重计算为对各指标进行加权计算，输出第一绝缘性能参数，其中各项指标的权重可以根据实际使用情况进行设定。根据上述设计结构数据和元件属性数据获取各项指标，通过指标数据进行权重计算完成对绝缘性能参数的输出，使得最终计算的绝缘性能参数更加接近于真实的绝缘性能。

本申请实施例提供的方法中的步骤S330包括：

S331：基于大数据，获得预设散热指标、预设传导指标和预设耐热指标；

S332：根据所述预设散热指标、所述预设传导指标和所述预设耐热指标，分别对所述第一散热指标、所述第一传导指标和所述第一耐热指标进行差向量计算，输出第一差向量、第二差向量、第三差向量；

S333：根据所述第一差向量、所述第二差向量、所述第三差向量进行权重优化配置，输出第一绝缘性能参数。

具体的，根据母线槽设计的大数据，获取母线槽设计的各项预设指标，所述预设指标为母线槽设计指标的平均评价等级，以预设传导指标为例，其中传导指标分为10个等级，等级越高性能越好，通过母线槽设计大数据获知，预设传导指标即母线槽设计预设传导指标的平均评价等级为4，此时预设传导指标即为获取的平均评价等级。根据获取的各项预设指标分别与本申请实施例中获取的第一散热指标、第一传导指标和所述第一耐热指标进行差向量计算，计算各对应指标之间的向量差值，分别输出散热指标、传导指标、耐热指标之间的向量差值即为第一差向量、第二差向量、第三差向量。当某一向量差越大时说明该向量对应的指标性能越好，由于绝缘性能参数是多个指标综合评价的数据，因此可以适当降低该向量差较大的指标的计算权重，以达到更接近于真实的绝缘性能参数。对应的当某一向量差越小时说明该向量对应的指标性能较差，由于绝缘性能参数是多个指标综合评价的数据，当某一指标参数较差时对总体的绝缘性能参数影响较大，因此可以适当提高该向量差较小的指标的计算权重，通过权重优化后，输出的第一绝缘性能参数使得计算的绝缘性能参数更接近于实际的绝缘性能参数。

本申请实施例提供的方法中的步骤S400包括：

S410：根据所述数据采集装置，对所述第一目标母线槽进行安装数据采集，获得实时安装数据；

S420：根据所述实时安装数据进行安全流程检验，获得第一检验结果，其中，所述第一检验结果包括第一结果和第二结果，所述第一结果为检验通过，所述第二结果为检验不通过；

S430：若所述第一检验结果为检验不通过，获得第一提醒信息，其中，所述第一提醒信息用于进行安装隐患提醒。

具体的，根据数据采集装置获得第一目标母线槽进行安装数据采集，获取实时安装数据，所述实时安装数据为母线槽安装时安装的流程步骤，安装过程等数据。对实时安装数据进行安全流程检验，获得第一检验结果，其中，所述第一检验结果包括第一结果和第二结果，所述第一结果为检验通过，所述第二结果为检验不通过。例如，在对母线槽进行安装时，应该严格按照安装流程进行安装，当安装人员未按照安装流程进行安装时母线槽的安装则会存在一定的安全隐患，当输出第二结果时检验不通过，获得提醒信息即第一提醒信息，第一提醒信息用于提醒母线槽安装存在安全隐患。通过获取第一提醒信息，实现了根据母线槽安装数据对母线槽安装存在安全隐患进行提醒。

如图3所示，本申请实施例提供的方法中的步骤S500包括：

S510：根据所述应用集成环境进行外环境绝缘性影响关联分析，获得外环境相关信息；

S520：根据所述用电负荷环境进行内环境绝缘性影响关联分析，获得内环境相关信息；

S530：将所述外环境相关信息和所述内环境相关信息输入所述第一绝缘衰减检测模型，输出第一衰减指数，其中，所述第一衰减指数用于标识外环境和内环境作用下绝缘性能的衰减程度。

具体的，应用集成环境进行外环境绝缘性影响关联分析，由于应用集成环境信息包含多个信息，通过对应用集成环境信息进行外环境绝缘性影响关联分析，获取外环境中对绝缘性能影响的关联信息，例如，安装环境的环境温度、湿度以及环境污染度等对绝缘性能影响的关联数据。用电负荷环境进行内环境绝缘性影响关联分析，由于电负荷环境信息包含多个信息，通过对应用电负荷环境信息进行内环境绝缘性影响关联分析，获取内环境中对绝缘性能影响的关联信息，例如，安装环境的电流、电压、负载端的设备数量，连接方式等具体使用环境等对绝缘性能影响的关联数据。将所述外环境相关信息和所述内环境相关信息输入第一绝缘衰减检测模型，获得第一衰减指数，其中第一衰减指数用于标识外环境和内环境作用下绝缘性能的衰减程度。通过将母线槽外环境和内环境相关信息输入第一绝缘衰减检测模型，得到当前外环境和内环境对母线槽绝缘性能的影响，进一步提高了对母线槽绝缘性能评估准确性。

本申请实施例提供的方法中的步骤S500还包括：

S540：获得所述第一目标母线槽的第一项目方案信息；

S550：根据所述第一项目方案信息进行设备分析，获得实时负荷设备和限值负荷设备；

S560：根据所述实时负荷设备和所述限值负荷设备对所述第一目标母线槽进行超负荷运行分析，获得负荷衰减曲线，其中，所述负荷衰减曲线为基于负荷设备扩充引起的绝缘性能衰减变化曲线；

S570：根据所述负荷衰减曲线进行线性关系拟合，生成第一拟合函数。

具体的，获取母线槽安装的项目方案信息，由于项目的负载不同因此选取的母线槽也不相同，通过对项目方案信息进行设备分析，获取正在使用的设备和未使用的设备，其中正在使用的设备为实时负荷设备，未使用的设备为限值负荷设备。通过实时负荷设备和限值负荷设备对第一目标母线槽进行超负荷运行分析，即通过逐步增加使用设备直到超出第一目标母线槽最大负载范围所能承受的设备数量，分析增加的设备数量或负载对绝缘性能衰减的影响，获取负荷衰减曲线，其中，负荷衰减曲线为基于负荷设备扩充引起的绝缘性能衰减变化曲线。根据负荷衰减曲线进行线性关系拟合，获取第一拟合函数。其中第一拟合函数可以更清楚的获取母线槽超出负载时，增加设备或增加负载对母线槽绝缘性能衰减的影响。通过对第一拟合函数的获取，实现了增加设备时可以准确的获取增加设备对绝缘性能衰减的影响。

本申请实施例提供的方法中的步骤S570还包括：

S571：当所述第一拟合函数拟合成功后，将所述第一拟合函数作为新增网络层对所述第一绝缘衰减检测模型中进行更新；

S572：将所述应用集成环境和所述用电负荷环境输入更新后的所述第一绝缘衰减检测模型中，所述第一绝缘衰减检测模型中作为新增网络层的所述第一拟合函数对输入的数据进行激励。

具体的，当第一拟合函数拟合成功后，将第一拟合函数作为新增网络层对第一绝缘衰减检测模型中进行更新，将应用集成环境和用电负荷环境输入更新后的所述第一绝缘衰减检测模型中，所述第一绝缘衰减检测模型中作为新增网络层的所述第一拟合函数对输入的数据进行激励。通过增加绝缘衰减检测模型中的网络层，使新获取的第一绝缘衰减检测模型具备可以根据超出负载时增加的设备数量获取对绝缘衰减的影响，进一步提高了绝缘衰减检测模型的训练效果，使得其可以针对性的对超出负载时增加的设备数量对绝缘衰减的影响进行准确输出。

综上所述，本申请实施例提供的方法通过获得第一目标母线槽的信息，第一目标母线槽为进行绝缘性能评估的实时低压母线槽，根据第一目标母线槽的信息，获得设计结构数据和元件属性数据。根据设计结构数据和元件属性数据进行绝缘性能分析，输出第一绝缘性能参数。获得第一目标母线槽的应用集成环境和用电负荷环境输入绝缘衰减检测模型中，根据第一绝缘衰减检测模型对第一目标母线槽进行检测，输出第一衰减指数。根据第一衰减指数和第一绝缘性能参数，获得第二绝缘性能参数，根据第二绝缘性能参数，生成第一评估结果。解决了现有技术中存在由于使用条件的影响，无法对低压母线槽绝缘性能进行准确评估的技术问题。通过分析低压母线槽的绝缘材料和材料厚度、尺寸等参数，分析低压母线槽的理论绝缘性能参数，再在低压母线槽实际安装后结合分析，实现了低压母线槽绝缘性能评估准确性的技术效果。

实施例二

基于与前述实施例中一种低压母线槽的绝缘性能评估方法相同的发明构思，如图4所示，本申请提供了一种低压母线槽的绝缘性能评估系统，其中，所述系统包括：

第一获得单元11，用于获得第一目标母线槽的信息，其中，所述第一目标母线槽为进行绝缘性能评估的实时低压母线槽；

第二获得单元12，用于根据所述第一目标母线槽的信息，获得设计结构数据和元件属性数据；

第一处理单元13，用于根据所述设计结构数据和所述元件属性数据进行绝缘性能分析，输出第一绝缘性能参数；

第三获得单元14，用于根据数据采集装置，获得所述第一目标母线槽的应用集成环境和用电负荷环境；

第二处理单元15，用于将所述应用集成环境和所述用电负荷环境输入绝缘衰减检测模型中，根据所述第一绝缘衰减检测模型对所述第一目标母线槽进行检测，输出第一衰减指数，其中，所述第一衰减指数为绝缘性能的实时使用产生的时序衰减；

第四获得单元16，用于根据所述第一衰减指数和所述第一绝缘性能参数，获得第二绝缘性能参数；

第一生成单元17，用于根据所述第二绝缘性能参数，生成第一评估结果。

进一步地，所述系统还包括：

第五获得单元，用于根据所述设计结构数据和所述元件属性数据进行分析，获得第一内结构信息、第一外壳信息和第一材料属性信息；

第一调取单元，用于以所述第一内结构信息、所述第一外壳信息和所述第一材料属性信息作为信息库进行数据调取，输出第一散热指标、第一传导指标和第一耐热指标，其中，所述第一散热指标为所述第一目标母线槽的设计结构散热性，所述第一传导指标为金属外壳导热性，所述第一耐热指标为绝缘材料耐热性；

第三处理单元，用于根据所述第一散热指标、所述第一传导指标和所述第一耐热指标进行指标权重计算，输出所述第一绝缘性能参数。

进一步地，所述系统还包括：

第六获得单元，用于基于大数据，获得预设散热指标、预设传导指标和预设耐热指标；

第四处理单元，用于根据所述预设散热指标、所述预设传导指标和所述预设耐热指标，分别对所述第一散热指标、所述第一传导指标和所述第一耐热指标进行差向量计算，输出第一差向量、第二差向量、第三差向量；

第五处理单元，用于根据所述第一差向量、所述第二差向量、所述第三差向量进行权重优化配置，输出第二绝缘性能参数。

进一步地，所述系统还包括：

第七获得单元，用于根据数据采集装置，对所述第一目标母线槽进行安装数据采集，获得实时安装数据；

第一检验单元，用于根据所述实时安装数据进行安全流程检验，获得第一检验结果，其中，所述第一检验结果包括第一结果和第二结果，所述第一结果为检验通过，所述第二结果为检验不通过；

第一提醒单元，用于若所述第一检验结果为检验不通过，获得第一提醒信息，其中，所述第一提醒信息用于进行安装隐患提醒。

进一步地，所述系统还包括：

第八获得单元，用于根据所述应用集成环境进行外环境绝缘性影响关联分析，获得外环境相关信息；

第九获得单元，用于根据所述用电负荷环境进行内环境绝缘性影响关联分析，获得内环境相关信息；

第五处理单元，用于将所述外环境相关信息和所述内环境相关信息输入所述第一绝缘衰减检测模型，输出第一衰减指数，其中，所述第一衰减指数用于标识外环境和内环境作用下绝缘性能的衰减程度。

进一步地，所述系统还包括：

第十获得单元，用于获得所述第一目标母线槽的第一项目方案信息；

第十一获得单元，用于根据所述第一项目方案信息进行设备分析，获得实时负荷设备和限值负荷设备；

第十二获得单元，用于根据所述实时负荷设备和所述限值负荷设备对所述第一目标母线槽进行超负荷运行分析，获得负荷衰减曲线，其中，所述负荷衰减曲线为基于负荷设备扩充引起的绝缘性能衰减变化曲线；

第一生成单元，用于根据所述负荷衰减曲线进行线性关系拟合，生成第一拟合函数。

进一步地，所述系统还包括：

第六处理单元，用于当所述第一拟合函数拟合成功后，将所述第一拟合函数作为新增网络层对所述第一绝缘衰减检测模型中进行更新；

第七处理单元，用于将所述应用集成环境和所述用电负荷环境输入更新后的所述第一绝缘衰减检测模型中，所述第一绝缘衰减检测模型中作为新增网络层的所述第一拟合函数对输入的数据进行激励。

实施例三

基于与前述实施例中一种低压母线槽的绝缘性能评估方法相同的发明构思，本申请还提供了一种计算机可读存储介质，所述存储介质上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现如实施例一内的方法。

示例性电子设备

下面参考图5来描述本申请的电子设备，

基于与前述实施例中一种低压母线槽的绝缘性能评估方法相同的发明构思，本申请还提供了一种低压母线槽的绝缘性能评估系统，包括：处理器，所述处理器与存储器耦合，所述存储器用于存储程序，当所述程序被所述处理器执行时，使得系统以执行实施例一所述方法的步骤。

该电子设备300包括：处理器302、通信接口303、存储器301。可选的，电子设备300还可以包括总线架构304。其中，通信接口303、处理器302以及存储器301可以通过总线架构304相互连接；总线架构304可以是外设部件互连标(peripheral componentinterconnect，简称PCI)总线或扩展工业标准结构(extended industry Standard architecture，简称EISA)总线等。所述总线架构304可以分为地址总线、数据总线、控制总线等。为便于表示，图5中仅用一条粗线表示，但并不表示仅有一根总线或一种类型的总线。

处理器302可以是一个CPU，微处理器，ASIC，或一个或多个用于控制本申请方案程序执行的集成电路。

通信接口303，使用任何收发器一类的装置，用于与其他设备或通信网络通信，如以太网，无线接入网(radio access network，RAN),无线局域网(wireless localareanetworks，WLAN)，有线接入网等。

存储器301可以是ROM或可存储静态信息和指令的其他类型的静态存储设备，RAM或者可存储信息和指令的其他类型的动态存储设备，也可以是电可擦可编程只读存储器(electrically erasable Programmable read-only memory，EEPROM)、只读光盘(compactdiscread-onlymemory，CD-ROM)或其他光盘存储、光碟存储(包括压缩光碟、激光碟、光碟、数字通用光碟、蓝光光碟等)、磁盘存储介质或者其他磁存储设备、或者能够用于携带或存储具有指令或数据结构形式的期望的程序代码并能够由计算机存取的任何其他介质，但不限于此。存储器可以是独立存在，通过总线架构304与处理器相连接。存储器也可以和处理器集成在一起。

其中，存储器301用于存储执行本申请方案的计算机执行指令，并由处理器302来控制执行。处理器302用于执行存储器301中存储的计算机执行指令，从而实现本申请上述实施例提供的一种低压母线槽的绝缘性能评估方法。

本领域普通技术人员可以理解：本申请中涉及的第一、第二等各种数字编号仅为描述方便进行的区分，并不用来限制本申请的范围，也不表示先后顺序。“和/或”，描述关联对象的关联关系，表示可以存在三种关系，例如，A和/或B，可以表示：单独存在A，同时存在A和B，单独存在B这三种情况。字符“/”一般表示前后关联对象是一种“或”的关系。“至少一个”是指一个或者多个。至少两个是指两个或者多个。“至少一个”、“任意一个”或其类似表达，是指的这些项中的任意组合，包括单项(个)或复数项(个)的任意组合。例如，a,b,或c中的至少一项(个、种)，可以表示：a,b,c,a-b,a-c,b-c,或a-b-c，其中a,b,c可以是单个，也可以是多个。

在上述实施例中，可以全部或部分地通过软件、硬件、固件或者其任意组合来实现。当使用软件实现时，可以全部或部分地以计算机程序产品的形式实现。所述计算机程序产品包括一个或多个计算机指令。在计算机上加载和执行所述计算机程序指令时，全部或部分地产生按照本申请所述的流程或功能。所述计算机可以是通用计算机、专用计算机、计算机网络、或者其他可编程装置。所述计算机指令可以存储在计算机可读存储介质中，或者从一个计算机可读存储介质向另一个计算机可读存储介质传输，例如，所述计算机指令可以从一个网站站点、计算机、服务器或数据中心通过有线(例如同轴电缆、光纤、数字用户线(DSL))或无线(例如红外、无线、微波等)方式向另一个网站站点、计算机、服务器或数据中心进行传输。所述计算机可读存储介质可以是计算机能够存取的任何可用介质或者是包括一个或多个可用介质集成的服务器、数据中心等数据存储设备。所述可用介质可以是磁性介质，(例如，软盘、硬盘、磁带)、光介质(例如，DVD)、或者半导体介质(例如固态硬盘(SolidState Disk，SSD))等。

本申请中所描述的各种说明性的逻辑单元和电路可以通过通用处理器，数字信号处理器，专用集成电路(ASIC)，现场可编程门阵列(FPGA)或其它可编程逻辑装置，离散门或晶体管逻辑，离散硬件部件，或上述任何组合的设计来实现或操作所描述的功能。通用处理器可以为微处理器，可选地，该通用处理器也可以为任何传统的处理器、控制器、微控制器或状态机。处理器也可以通过计算装置的组合来实现，例如数字信号处理器和微处理器，多个微处理器，一个或多个微处理器联合一个数字信号处理器核，或任何其它类似的配置来实现。

本申请中所描述的方法或算法的步骤可以直接嵌入硬件、处理器执行的软件单元、或者这两者的结合。软件单元可以存储于RAM存储器、闪存、ROM存储器、EPROM存储器、EEPROM存储器、寄存器、硬盘、可移动磁盘、CD-ROM或本领域中其它任意形式的存储媒介中。示例性地，存储媒介可以与处理器连接，以使得处理器可以从存储媒介中读取信息，并可以向存储媒介存写信息。可选地，存储媒介还可以集成到处理器中。处理器和存储媒介可以设置于ASIC中，ASIC可以设置于终端中。可选地，处理器和存储媒介也可以设置于终端中的不同的部件中。这些计算机程序指令也可装载到计算机或其他可编程数据处理设备上，使得在计算机或其他可编程设备上执行一系列操作步骤以产生计算机实现的处理，从而在计算机或其他可编程设备上执行的指令提供用于实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能的步骤。

尽管结合具体特征及其实施例对本申请进行了描述，显而易见的，在不脱离本申请的精神和范围的情况下，可对其进行各种修改和组合。相应地，本说明书和附图仅仅是本申请的示例性说明，且视为已覆盖本申请范围内的任意和所有修改、变化、组合或等同物。显然，本领域的技术人员可以对本申请进行各种改动和变型而不脱离本申请的范围。这样，倘若本申请的这些修改和变型属于本申请及其等同技术的范围之内，则本申请意图包括这些改动和变型在内。

Claims (10)

1.一种低压母线槽的绝缘性能评估方法，其特征在于，所述方法应用于一种低压母线槽的绝缘性能评估系统，所述系统与一数据采集装置通信连接，所述方法包括：

获得第一目标母线槽的信息，其中，所述第一目标母线槽为进行绝缘性能评估的实时低压母线槽；

根据所述第一目标母线槽的信息，获得设计结构数据和元件属性数据；

根据所述设计结构数据和所述元件属性数据进行绝缘性能分析，输出第一绝缘性能参数；

根据数据采集装置，获得所述第一目标母线槽的应用集成环境和用电负荷环境；

将所述应用集成环境和所述用电负荷环境输入绝缘衰减检测模型中，根据所述第一绝缘衰减检测模型对所述第一目标母线槽进行检测，输出第一衰减指数，其中，所述第一衰减指数为绝缘性能的实时使用产生的时序衰减；

根据所述第一衰减指数和所述第一绝缘性能参数，获得第二绝缘性能参数；

根据所述第二绝缘性能参数，生成第一评估结果。

2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述设计结构数据和所述元件属性数据进行绝缘性能分析，输出第一绝缘性能参数，所述方法还包括：

根据所述设计结构数据和所述元件属性数据进行分析，获得第一内结构信息、第一外壳信息和第一材料属性信息；

以所述第一内结构信息、所述第一外壳信息和所述第一材料属性信息作为信息库进行数据调取，输出第一散热指标、第一传导指标和第一耐热指标，其中，所述第一散热指标为所述第一目标母线槽的设计结构散热性，所述第一传导指标为金属外壳导热性，所述第一耐热指标为绝缘材料耐热性；

根据所述第一散热指标、所述第一传导指标和所述第一耐热指标进行指标权重计算，输出所述第一绝缘性能参数。

3.如权利要求2所述的方法，其特征在于，所述根据所述第一散热指标、所述第一传导指标和所述第一耐热指标进行指标权重计算，输出所述第一绝缘性能参数，所述方法还包括：

基于大数据，获得预设散热指标、预设传导指标和预设耐热指标；

根据所述预设散热指标、所述预设传导指标和所述预设耐热指标，分别对所述第一散热指标、所述第一传导指标和所述第一耐热指标进行差向量计算，输出第一差向量、第二差向量、第三差向量；

根据所述第一差向量、所述第二差向量、所述第三差向量进行权重优化配置，输出第一绝缘性能参数。

4.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：

根据所述数据采集装置，对所述第一目标母线槽进行安装数据采集，获得实时安装数据；

根据所述实时安装数据进行安全流程检验，获得第一检验结果，其中，所述第一检验结果包括第一结果和第二结果，所述第一结果为检验通过，所述第二结果为检验不通过；

若所述第一检验结果为检验不通过，获得第一提醒信息，其中，所述第一提醒信息用于进行安装隐患提醒。

5.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述将所述应用集成环境和所述用电负荷环境输入绝缘衰减检测模型中，根据所述第一绝缘衰减检测模型对所述第一目标母线槽进行检测，输出第一衰减指数，所述方法还包括：

根据所述应用集成环境进行外环境绝缘性影响关联分析，获得外环境相关信息；

根据所述用电负荷环境进行内环境绝缘性影响关联分析，获得内环境相关信息；

将所述外环境相关信息和所述内环境相关信息输入所述第一绝缘衰减检测模型，输出第一衰减指数，其中，所述第一衰减指数用于标识外环境和内环境作用下绝缘性能的衰减程度。

6.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：

获得所述第一目标母线槽的第一项目方案信息；

根据所述第一项目方案信息进行设备分析，获得实时负荷设备和限值负荷设备；

根据所述实时负荷设备和所述限值负荷设备对所述第一目标母线槽进行超负荷运行分析，获得负荷衰减曲线，其中，所述负荷衰减曲线为基于负荷设备扩充引起的绝缘性能衰减变化曲线；

根据所述负荷衰减曲线进行线性关系拟合，生成第一拟合函数。

7.如权利要求6所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：

当所述第一拟合函数拟合成功后，将所述第一拟合函数作为新增网络层对所述第一绝缘衰减检测模型中进行更新；

将所述应用集成环境和所述用电负荷环境输入更新后的所述第一绝缘衰减检测模型中，所述第一绝缘衰减检测模型中作为新增网络层的所述第一拟合函数对输入的数据进行激励。

8.一种低压母线槽的绝缘性能评估系统，其特征在于，所述系统包括：

第一获得单元，用于获得第一目标母线槽的信息，其中，所述第一目标母线槽为进行绝缘性能评估的实时低压母线槽；

第二获得单元，用于根据所述第一目标母线槽的信息，获得设计结构数据和元件属性数据；

第一处理单元，用于根据所述设计结构数据和所述元件属性数据进行绝缘性能分析，输出第一绝缘性能参数；

第三获得单元，用于根据数据采集装置，获得所述第一目标母线槽的应用集成环境和用电负荷环境；

第二处理单元，用于将所述应用集成环境和所述用电负荷环境输入绝缘衰减检测模型中，根据所述第一绝缘衰减检测模型对所述第一目标母线槽进行检测，输出第一衰减指数，其中，所述第一衰减指数为绝缘性能的实时使用产生的时序衰减；

第四获得单元，用于根据所述第一衰减指数和所述第一绝缘性能参数，获得第二绝缘性能参数；

第一生成单元，用于根据所述第二绝缘性能参数，生成第一评估结果。

9.一种低压母线槽的绝缘性能评估系统，其特征在于，包括：处理器，所述处理器与存储器耦合，所述存储器用于存储程序，当所述程序被所述处理器执行时，使系统以执行如权利要求1至7任一项所述方法的步骤。

10.一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述存储介质上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现权利要求1至7任一项所述方法的步骤。

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