CN114895076A - 驱动装置及测试设备 - Google Patents

驱动装置及测试设备 Download PDF

Info

Publication number
CN114895076A
CN114895076A CN202210323550.1A CN202210323550A CN114895076A CN 114895076 A CN114895076 A CN 114895076A CN 202210323550 A CN202210323550 A CN 202210323550A CN 114895076 A CN114895076 A CN 114895076A
Authority
CN
China
Prior art keywords
mounting
test
stator
moving
guide
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
CN202210323550.1A
Other languages
English (en)
Inventor
汪兴友
金圆
刘龑
黄龙
黄亮
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Shenzhen Ioranges Automation Co ltd
Original Assignee
Shenzhen Ioranges Automation Co ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Shenzhen Ioranges Automation Co ltd filed Critical Shenzhen Ioranges Automation Co ltd
Priority to CN202210323550.1A priority Critical patent/CN114895076A/zh
Publication of CN114895076A publication Critical patent/CN114895076A/zh
Pending legal-status Critical Current

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R1/00Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
    • G01R1/02General constructional details
    • G01R1/04Housings; Supporting members; Arrangements of terminals
    • G01R1/0408Test fixtures or contact fields; Connectors or connecting adaptors; Test clips; Test sockets
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B21/00Measuring arrangements or details thereof, where the measuring technique is not covered by the other groups of this subclass, unspecified or not relevant
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R1/00Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
    • G01R1/02General constructional details
    • G01R1/06Measuring leads; Measuring probes
    • G01R1/067Measuring probes
    • G01R1/06705Apparatus for holding or moving single probes
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R1/00Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
    • G01R1/02General constructional details
    • G01R1/06Measuring leads; Measuring probes
    • G01R1/067Measuring probes
    • G01R1/073Multiple probes
    • G01R1/07307Multiple probes with individual probe elements, e.g. needles, cantilever beams or bump contacts, fixed in relation to each other, e.g. bed of nails fixture or probe card
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R1/00Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
    • G01R1/02General constructional details
    • G01R1/06Measuring leads; Measuring probes
    • G01R1/067Measuring probes
    • G01R1/073Multiple probes
    • G01R1/07392Multiple probes manipulating each probe element or tip individually
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/2801Testing of printed circuits, backplanes, motherboards, hybrid circuits or carriers for multichip packages [MCP]

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)

Abstract

本发明公开了一种驱动装置及测试设备,驱动装置包括定子、动子座、安装座及导向组,动子座能够沿定子移动,每一安装座均连接有读数头,每组导向组包括两个导轨,每一安装座的两端分别与同一导向组内的两个导轨滑动连接,并且,不同组的导向组内的导轨沿垂直于动子座移动的方向交替分布。本发明中,驱动装置能够同时驱动多个安装座移动,不同导向组内的导轨交替分布,使相邻的安装座在定子的延伸方向上相互交错,安装座沿导轨移动时能够相互避位,避免安装座发生相互干涉、碰撞,使测试模组能够平稳移动,并且不同安装座运动过程中能够较为紧凑的排布,多个测试模组同时对待测件进行测试,可以有效提高测试效率。

Description

驱动装置及测试设备
技术领域
本发明涉及自动化测试技术领域,尤其涉及一种驱动装置及测试设备。
背景技术
测试设备的测试精度直接影响产品的出厂良率,测试设备中,测试模组搭载于驱动装置,高平稳度的驱动,可使测试模组能够精确定位至待测件的不同位置进行检测,另外,为提高测试效率及满足测试,通常需要多个测试模组同时参与测试,并且当待测件的测试位置距离较近,如PCB、PCBA上的Mark点,或者不同测试模组需同时对同一位置进行检测时,不同测试模组之间极易发生干涉、碰撞,不能兼顾测试模组移动的平稳度及测试效率。
发明内容
本发明旨在至少解决现有技术中存在的技术问题之一。为此,本发明提出一种驱动装置,能够进行平稳驱动,并兼顾测试效率。
本发明还提出一种具有上述驱动装置的测试设备。
根据本发明的第一方面实施例的驱动装置,用于安装并驱动测试模组移动,包括:
定子;
动子座,至少设置有两个,所述动子座连接于所述定子,并沿所述定子的延伸方向依次分布,所述动子座能够沿所述定子移动;
安装座,至少设置有两个,每一所述动子座上均固定有一个所述安装座,每一所述安装座均连接有读数头,所述安装座用于供所述测试模组安装;
导向组,至少设置有两组,每组所述导向组包括两个导轨,且两个导轨分设于所述定子的两侧,每一所述安装座的两端分别与同一所述导向组内的两个导轨滑动连接,并且,不同组的所述导向组内的所述导轨沿垂直于所述动子座移动的方向交替分布。
根据本发明实施例的驱动装置,至少具有如下有益效果:
本发明实施例中的驱动装置,多个动子座共用一个定子,并均可沿定子移动,驱动装置能够同时驱动多个安装座移动,不同导向组内的导轨交替分布,使相邻的安装座在定子的延伸方向上相互交错,安装座沿导轨移动时能够相互避位,避免安装座发生相互干涉、碰撞,使测试模组能够平稳移动,并且不同安装座运动过程中能够较为紧凑的排布,多个测试模组同时对待测件进行测试,可以有效提高测试效率。
根据本发明的一些实施例,,所述安装座包括安装本体,所述安装本体的两端均连接有两个安装脚,两个所述安装脚分别连接于所述安装本体的两侧,两个所述安装脚均与同一所述导轨滑动连接,相邻所述安装座中的所述安装脚,沿垂直于所述动子座移动的方向交替分布。
根据本发明的一些实施例,所述安装本体的侧部具有避让空间,所述安装脚能够沿插入所述避让空间内。
根据本发明的一些实施例,所述安装脚朝靠近所述导轨的方向弯折,部分所述安装本体的侧部连接有外缘,所述避让空间位于所述外缘朝向所述导轨的一侧。
根据本发明的一些实施例,相邻所述安装座之间设有缓冲件,所述缓冲件连接于其中一个所述安装座的所述安装本体上。
根据本发明的第二方面实施例的测试设备,其特征在于,包括:
至少一个第一方面实施例中的驱动装置;
多个测试模组,每一所述安装座上均固定有一个所述测试模组。
根据本发明的一些实施例,沿所述动子座的移动方向将多个所述测试模组划分为多组,每组包括至少一个所述测试模组,相邻组的所述测试模组对称分布。
根据本发明的一些实施例,还包括移动装置,所述移动装置包括移动架,所述移动架连接于所述安装座,所述测试模组滑动连接于所述移动架,所述移动架沿垂直于所述动子座的移动方向设置。
根据本发明的一些实施例,沿所述动子座的移动方向将多个所述测试模组划分为多组,每组包括至少一个所述测试模组,所述测试模组包括测试架与测试件,所述测试架包括第一安装部与第二安装部,所述第一安装部与所述移动架连接,所述测试件连接于所述第二安装部,所述第二安装部连接于所述第一安装部的一侧,同组内相邻的所述测试模组,所述第二安装部相对于所述第一安装部的倾斜角度不同,且相邻的两个第一安装部朝向移动架的延伸方向的投影不重叠。
根据本发明的一些实施例,还包括机架及多个所述驱动装置,所述驱动装置安装于所述机架,且位于所述机架的不同侧。
本发明的附加方面和优点将在下面的描述中部分给出,部分将从下面的描述中变得明显,或通过本发明的实践了解到。
附图说明
下面结合附图和实施例对本发明做进一步的说明,其中:
图1为本发明驱动装置一个实施例的结构示意图;
图2为图1中A处的结构示意图;
图3为图1中安装座一个实施例的结构示意图;
图4为本发明测试设备一个实施例的结构示意图;
图5为图4中其中一侧的驱动装置一个实施例的结构示意图;
图6为图4中另一侧的驱动装置一个实施例的结构示意图;
图7为图5或图6中移动架与安装座一个实施例的配合示意图;
图8为图5中测试模组的配合示意图;
图9为图8中其中一侧的测试模组的配合示意图。
附图标记:
驱动装置100,定子110,动子座120,安装座130,安装本体131,中间段1311,边缘段1312,外缘1313,安装边1314,安装脚132,避让空间133,缓冲件134,导向组140,导轨141,读数头150,轨道160,挡板170,防撞胶柱180;测试模组200,测试架210,第一安装部211,第二安装部212,测试件220;机架300;输送装置400;移动装置500,移动架510,空腔520,移动体530,移动轨540。
具体实施方式
下面详细描述本发明的实施例,所述实施例的示例在附图中示出,其中自始至终相同或类似的标号表示相同或类似的元件或具有相同或类似功能的元件。下面通过参考附图描述的实施例是示例性的,仅用于解释本发明,而不能理解为对本发明的限制。
在本发明的描述中,需要理解的是,涉及到方位描述,例如上、下、前、后、左、右等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系,仅是为了便于描述本发明和简化描述,而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作,因此不能理解为对本发明的限制。
在本发明的描述中,若干的含义是一个以上,多个的含义是两个以上,大于、小于、超过等理解为不包括本数,以上、以下、以内等理解为包括本数。如果有描述到第一、第二只是用于区分技术特征为目的,而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量或者隐含指明所指示的技术特征的先后关系。
本发明的描述中,除非另有明确的限定,设置、安装、连接等词语应做广义理解,所属技术领域技术人员可以结合技术方案的具体内容合理确定上述词语在本发明中的具体含义。
本发明的描述中,参考术语“一个实施例”、“一些实施例”、“示意性实施例”、“示例”、“具体示例”、或“一些示例”等的描述意指结合该实施例或示例描述的具体特征、结构、材料或者特点包含于本发明的至少一个实施例或示例中。在本说明书中,对上述术语的示意性表述不一定指的是相同的实施例或示例。而且,描述的具体特征、结构、材料或者特点可以在任何的一个或多个实施例或示例中以合适的方式结合。
参照图1与图2,本发明的实施例中提供了一种驱动装置100,用于安装并驱动测试模组移动,驱动装置100包括定子110、动子座120、安装座130与导向组140,动子座120与安装座130均至少设置有两个,导向组140至少设置有两组,动子座120连接于定子110上,并且沿定子110的延伸方向依次分布,驱动装置100通电后,动子座120能够沿定子110移动;每一动子座120上均固定有一个安装座130,安装座130用于供测试模组安装,每一安装座130均连接有读数头150,安装座130与动子座120可以沿定子110做同步移动,并同时带动测试模组、读数头150移动,读数头150获取安装座130当前的位置信息并进行反馈,以供驱动装置100对测试模组移动距离进行闭环控制;每一导向组140均包括两个导轨141,两个导轨141分别位于定子110的两侧,每一安装座130的两端分别与同一导向组140内的两侧导轨141滑动连接,导轨141与定子110的延伸方向相同,导轨141对动子座120的移动导向,保证动子座120的移动精度及平稳度,另外,不同组的导向组140内的导轨141沿垂直于动子座120移动的方向交替分布,由于安装座130的两端分别与同组的导轨141连接,从而,安装座130沿定子110的延伸方向交错分布,便于安装座130沿导轨141移动时进行相互避位。
由此,本发明实施例中的驱动装置100,多个动子座120共用一个定子110,并均可沿定子110移动,驱动装置100能够同时驱动多个安装座130移动,相较于不同安装座130通过不同的驱动装置100进行单独驱动的方式,减少了零部件以及驱动装置100的数量,成本较低,并且由于不同导向组140内的导轨141交替分布,使相邻的安装座130在定子110的延伸方向上相互交错,安装座130沿导轨141移动时能够相互避位,避免安装座130发生相互干涉、碰撞,使测试模组能够平稳移动,并且不同安装座130运动过程中能够较为紧凑的排布,相邻安装座130之间相距较小,能够适用于测试件220的测试位置距离较近,以及不同测试模组对测试件220的同一位置进行检测的小空间测试环境,多个测试模组同时对待测件进行测试,可以有效提高测试效率。
需要说明的是,定子110可以是光栅尺或者磁栅尺,每一安装座130上均配备有一个读数头150,不同的读数头150可以连接于安装座130的同一端或两端,在一个实施例中,驱动装置100还包括轨道160,轨道160与定子110的延伸方向相同,不同读数头150均连接于安装座130的同一端,不同读数头150均与该轨道160滑动连接,轨道160对读数头150的移动导向,便于读数头150平稳移动,并精确安装座130的移动位置,并且通过设置一个轨道160即可实现对所有读数头150的导向,简化了驱动装置100结构。
另外,驱动装置100中应设置有驱动模块,驱动模块包括与动子座120、读数头150连接的线束以及程序控制器等,程序控制器用于使动子座120沿预先设定的移动路径运动,以带动测试模组移动至待测件的不同位置,通过不同读数头150对安装座130位置的实时反馈,使测试模组能够对准待测件的测试点进行测试,保证测试精度。
如图2与图3所示,安装座130包括安装本体131与安装脚132,安装本体131的两端均连接有两个安装脚132,两个安装脚132分别位于安装本体131的两侧,两个安装脚132均与导轨141滑动连接,使安装本体131连接于导轨141后保持平衡,且能提高安装座130移动的平稳度;另外,相邻的安装座130中的安装脚132,沿垂直于动子座120移动的方向交替分布,也即,相邻安装座130的安装脚132均相向延伸,从而其中一个安装座130的安装脚132通过移动能够插入另一安装座130的两个安装脚132之间,提高了安装座130之间连接的紧凑度,并实现了安装座130之间的相互避位。
另外,安装本体131具有中间段1311与两个边缘段1312,两个边缘段1312连接于中间段1311的两端,安装脚132连接于边缘段1312的两侧,安装脚132背向安装本体131伸出,两个安装脚132与中间段1311的外侧存在避让空间133,安装座130移动时,其安装脚132可以插入相邻安装座130的避让空间133内。
在一个实施例中,安装脚132朝靠近导轨141的方向弯折,安装脚132远离安装本体131的一端位于安装本体131朝向导轨141的一侧,中间段1311的侧部延伸出外缘1313,避让空间133位于外缘1313朝向导轨141的一侧。需要说明的是,安装座130用于供测试模组进行安装,因此安装座130上需设置平整及具有足够面积的安装面,本实施例中,中间段1311与外缘1313组合对测试模组进行安装,增大了安装座130的安装面积,并且安装脚132能够插入外缘1313与导轨141之间,使安装座130兼顾对测试模组的安装,以及相邻安装座130之间的避位。并且,中间段1311位于外缘1313朝向导轨141的部分可以相较于外缘1313段的外侧凹陷,也即,外缘1313段的外侧壁位于中间段1311外侧壁的外部,此设置可以增大避让空间133的范围,使相邻安装座130之间的间距进一步缩小,有利于对小空间测试环境内的待测件进行检测。
另外,为避免相邻安装座130之间过于靠近而碰撞,如图2所示,本发明实施例中的相邻安装座130之间还设有缓冲件134,缓冲件134可以连接于两个相邻的安装座130的其中一个的侧部;缓冲件134起到减缓安装座130之间冲击强度的目的,使安装座130的运动更为平稳,缓冲件134可以选择泡棉、橡胶、硅胶等材质。
进一步的,驱动装置100还包括两个挡板170,两个挡板170分别位于定子110的两端,每一挡板170上均连接有多个防撞胶柱180,防撞胶柱180朝向定子110伸出,防撞胶柱180对安装座130的极限位置进行限位,避免安装座130因意外脱离,提高驱动装置100的使用安全度。
如图4所示,本发明的实施例中还提供了一种测试设备,包括至少一个上述的驱动装置100,还包括多个测试模组200,驱动装置100的每一安装座130上均安装有一个测试模组200,驱动装置100对测试模组200进行驱动,使测试模组200对待测件的不同位置进行测试。
需要说明的是,测试模组200中应包括用于进行测试的测试件220,如当待测件为PCB、PCBA时,测试件220可以设置为探针,测试模组200中还可设置用于驱动测试件220转动、移动的驱动件,测试件220搭载于该驱动件上,以调整测试件220的位置并相对待测件伸出或退回。
不同驱动装置100可以沿同一水平面分布,或者沿竖直方向分布。如,在一个实施例中,不同驱动装置100均位于同一水平面内,不同驱动装置100可以驱动不同的测试模组200移动,并使测试模组200对待测件的同一侧进行测试;在另一实施例中,不同驱动装置100同时沿水平方向以及竖直方向分布,从而不同的驱动装置100位于待测件的不同侧,多个驱动装置100组合使用,可以对待测件不同侧的测试点进行测试;在另实施例中,如图4所示,不同驱动装置100沿竖直方向分布,不同驱动装置100分别朝向待测件的上下两侧,多个驱动装置100组合可使测试模组200对待测件的上下两面进行测试,待测件无需翻面,测试设备的测试效率较高。
检测设备还包括机架300,驱动装置100安装于机架300。机架300可以选用大理石制成,大理石具有较高的平行度及平面度,机架300可以为定子110、导轨141、轨道160等提供较为平整的安装平面,有利于提高驱动装置100的驱动精度。机架300可以设置为框架状,不同的驱动装置100安装于机架300的不同侧,待测件位于机架300的中心位置,多个驱动装置100组合对不同的测试模组200进行驱动,测试模组200能够对待测件的不同侧进行测试。另外,位于机架300不同的所述驱动装置100,可以包括不同数量的安装座130,以匹配测试件220不同侧的测试需求;如图5与图6所示,连接于机架300上侧的驱动装置100包括四个安装座130,并装有四个测试模组200,连接于机架300下侧的驱动装置100包括两个安装座130,并装有两个测试模组200,驱动装置100中安装座130的数量以及驱动装置100的安装位置根据测试件220的测试需求可进行灵活调整。
可以想到的是,测试设备还包括输送装置400,输送装置400用于对待测件进行输送,以供测试模组200对不同待测件进行连续的自动化测试。输送装置400可以采用皮带、滚筒等方式输送,输送装置400应包括对待测件进行定位、挡停的部件,以便于测试模组200定位待测件上的测试点。如图4所示,输送装置400位于上下两层驱动装置100之间,待测件从二者之间穿过,上下两层的测试模组200可以同时对待测件的上下两面进行测试。
如图8所示,沿动子座120的移动方向将多个测试模组200分别多组,每组包括至少一个测试模组200,相邻组的测试模组200对称分布。将不同测试模组200分别不同组,驱动装置100能够以组为单位驱动测试模组200移动,便于控制;如,对待测件的测试点进行区域划分,不同组的测试模组200分别负责不同区域的测试点测试,不同组的测试模组200相互独立,可防止测试模组200之间相互干涉;进一步的,相邻组的测试模组200对称分布,可以简化驱动装置100对安装座130的控制逻辑,控制精度高。
相邻组内的测试模组200的数量可相同或不同,在一个实施例中,如图7所示,上层的驱动装置100包括四个安装座130,每一安装座130均安装有一测试模组200,四个测试模组200两两一组,并相互对称设置;在其他实施例中,驱动装置100可包括三个安装座130,并安装三个测试模组200,三个测试模组200分别两组,且相向设置。
测试设备还包括移动装置500,移动装置500包括移动架510,移动架510连接于安装座130,测试模组200滑动连接于移动架510,移动架510沿垂直于动子座120移动的方向设置,从而测试模组200能够同时沿定子110延伸方向及与定子110延伸方向垂直的两个方向移动,测试模组200的移动范围较大,能够适应具有大面积测试区域的待测件。
参照图3与图7,移动架510安装于安装座130的外缘1313以及边缘段1312,安装座130的整个平面均与移动架510接触,可以对移动架510进行稳定接触及支撑。进一步的,外缘1313段的外侧突出设置有安装边1314,该安装边1314用于供移动架510安装,以进一步增大安装座130与移动架510的接触面积,以及移动架510的平稳度。
移动架510设置为镂空形式,具有减重作用,移动架510内部设置有空腔520,移动装置500还包括移动体530与移动轨540,移动轨540嵌设于该空腔520内,移动体530滑动连接与移动轨540,移动轨540与移动架510的延伸方向相同,移动轨540对移动体530的移动进行导向,测试模组200安装于移动体530,移动体530可通过直线电机、滚珠丝杆等部件驱动。
如图8与图9所示,测试模组200包括测试架210与测试件220,测试架210包括第一安装部211与第二安装部212,第一安装部211与移动架510连接,测试件220连接于第二安装部212,第二安装部212连接于第一安装部211的一侧,同组内相邻的测试模组200,第二安装部212相对于第一安装部211的倾斜角度不同,且相邻的第一安装部211朝向移动架510的移动方向的投影不重叠;因此,同组内的测试模组200,多个第一安装部211在移动架510移动方向上的投影具有间隙,多个第二安装部212在移动架510移动方向上的投影具有间隙,在测试模组200跟随移动架510移动时,相邻的测试架210可以相互避位,防止测试架210之间相互碰撞。
需要说明的是,本发明的实施例中,测试模组200沿定子110的延伸方向移动时,由于安装座130存在避让空间133,相邻安装座130之间可以相互避位,测试模组200沿移动架510的延伸方向移动时,由于测试架210在移动架510的移动方向上的投影有间隙,相邻的测试架210可以相互避位。从而,本发明的实施例中,能够同时使测试模组200在两个相互垂直的方向上移动,并能够避免测试模组200移动过程中碰撞,测试模组200的移动更为平稳,提高了测试设备测试的精度及测试范围;并且,同组内相邻的测试模组200,第二安装部212相对于第一安装部211的倾斜角度不同,不同的测试件220能够以不同的角度对待测件进行测试,避免测试件220在待测件上的扎点位置重合,造成测试件220之间相互干涉,并且不同测试件220可以同时测试待测件的同一Mark点,以表征待测件的不同参数。
上面结合附图对本发明实施例作了详细说明,但是本发明不限于上述实施例,在所属技术领域普通技术人员所具备的知识范围内,还可以在不脱离本发明宗旨的前提下作出各种变化。此外,在不冲突的情况下,本发明的实施例及实施例中的特征可以相互组合。

Claims (10)

1.驱动装置,用于安装并驱动测试模组移动,其特征在于,包括:
定子;
动子座,至少设置有两个,所述动子座连接于所述定子,并沿所述定子的延伸方向依次分布,所述动子座能够沿所述定子移动;
安装座,至少设置有两个,每一所述动子座上均固定有一个所述安装座,每一所述安装座均连接有读数头,所述安装座用于供所述测试模组安装;
导向组,至少设置有两组,每组所述导向组包括两个导轨,且两个导轨分设于所述定子的两侧,每一所述安装座的两端分别与同一所述导向组内的两个导轨滑动连接,并且,不同组的所述导向组内的所述导轨沿垂直于所述动子座移动的方向交替分布。
2.根据权利要求1所述的驱动装置,其特征在于,所述安装座包括安装本体,所述安装本体的两端均连接有两个安装脚,两个所述安装脚分别连接于所述安装本体的两侧,两个所述安装脚均与同一所述导轨滑动连接,相邻所述安装座中的所述安装脚,沿垂直于所述动子座移动的方向交替分布。
3.根据权利要求2所述的驱动装置,其特征在于,所述安装本体的侧部具有避让空间,所述安装脚能够沿插入所述避让空间内。
4.根据权利要求3所述的驱动装置,其特征在于,所述安装脚朝靠近所述导轨的方向弯折,部分所述安装本体的侧部连接有外缘,所述避让空间位于所述外缘朝向所述导轨的一侧。
5.根据权利要求2所述的驱动装置,其特征在于,相邻所述安装座之间设有缓冲件,所述缓冲件连接于其中一个所述安装座的所述安装本体上。
6.测试设备,其特征在于,包括:
至少一个权利要求1至5中任一项所述的驱动装置;
多个测试模组,每一所述安装座上均固定有一个所述测试模组。
7.根据权利要求6所述的测试设备,其特征在于,沿所述动子座的移动方向将多个所述测试模组划分为多组,每组包括至少一个所述测试模组,相邻组的所述测试模组对称分布。
8.根据权利要求6所述的测试设备,其特征在于,还包括移动装置,所述移动装置包括移动架,所述移动架连接于所述安装座,所述测试模组滑动连接于所述移动架,所述移动架沿垂直于所述动子座的移动方向设置。
9.根据权利要求8所述的测试设备,其特征在于,沿所述动子座的移动方向将多个所述测试模组划分为多组,每组包括至少一个所述测试模组,所述测试模组包括测试架与测试件,所述测试架包括第一安装部与第二安装部,所述第一安装部与所述移动架连接,所述测试件连接于所述第二安装部,所述第二安装部连接于所述第一安装部的一侧,同组内相邻的所述测试模组,所述第二安装部相对于所述第一安装部的倾斜角度不同,且相邻的两个第一安装部朝向移动架的延伸方向的投影不重叠。
10.根据权利要求6至9中任一项所述的测试设备,其特征在于,还包括机架及多个所述驱动装置,所述驱动装置安装于所述机架,且位于所述机架的不同侧。
CN202210323550.1A 2022-03-30 2022-03-30 驱动装置及测试设备 Pending CN114895076A (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN202210323550.1A CN114895076A (zh) 2022-03-30 2022-03-30 驱动装置及测试设备

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN202210323550.1A CN114895076A (zh) 2022-03-30 2022-03-30 驱动装置及测试设备

Publications (1)

Publication Number Publication Date
CN114895076A true CN114895076A (zh) 2022-08-12

Family

ID=82715965

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN202210323550.1A Pending CN114895076A (zh) 2022-03-30 2022-03-30 驱动装置及测试设备

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN114895076A (zh)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US5543726A (en) Open frame gantry probing system
CN106441170B (zh) 键盘平整度测试机
JP2016511410A5 (zh)
CN109581007B (zh) 双探针系统及印制电路板检测设备
CN110064783A (zh) 铣削加工机床
CN109099849A (zh) 对射激光测高机构及对射激光测高方法
CN217212837U (zh) 驱动装置及测试设备
CN114895076A (zh) 驱动装置及测试设备
CN106225738B (zh) 一种直线导轨精度检测装置及方法
CN208635730U (zh) 对射激光测高机构
CN208383116U (zh) 一种测量平面度的端差机
CN216955497U (zh) 钢筋测试装置
CN211236146U (zh) 电机固定机构及电机检测设备
CN212963275U (zh) 双头测厚装置
KR101249011B1 (ko) 번인 테스터의 보드 착탈장치
CN112542182B (zh) 一种适用多种类型磁头的磁头测试工装
CN108827223A (zh) 一种测量平面度的端差机
CN209840884U (zh) 一种抽屉导轨检测治具
CN209246964U (zh) 轮廓测量机
US6756778B2 (en) Measuring and/or calibrating a test head
CN219695258U (zh) 探针模组及检测装置
CN110631754B (zh) 一种直线电机推力与推力波动测试装置及测试系统
CN218298444U (zh) 一种直立检测飞针机叠合运动测试机构
CN221099539U (zh) 一种高速弹丸目标运动参数测量设备
CN221796112U (zh) 一种交替检测平台及检测设备

Legal Events

Date Code Title Description
PB01 Publication
PB01 Publication
SE01 Entry into force of request for substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination