CN114864764A - 一种颜色可控单片led及其制备方法和应用 - Google Patents

一种颜色可控单片led及其制备方法和应用 Download PDF

Info

Publication number
CN114864764A
CN114864764A CN202210378193.9A CN202210378193A CN114864764A CN 114864764 A CN114864764 A CN 114864764A CN 202210378193 A CN202210378193 A CN 202210378193A CN 114864764 A CN114864764 A CN 114864764A
Authority
CN
China
Prior art keywords
layer
type gan
quantum well
electrode
thickness
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
CN202210378193.9A
Other languages
English (en)
Inventor
李国强
雷蕾
姚书南
柴华卿
朱子赫
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
South China University of Technology SCUT
Original Assignee
South China University of Technology SCUT
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by South China University of Technology SCUT filed Critical South China University of Technology SCUT
Priority to CN202210378193.9A priority Critical patent/CN114864764A/zh
Publication of CN114864764A publication Critical patent/CN114864764A/zh
Priority to PCT/CN2022/118013 priority patent/WO2023197519A1/zh
Pending legal-status Critical Current

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L33/00Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L33/02Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the semiconductor bodies
    • H01L33/04Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the semiconductor bodies with a quantum effect structure or superlattice, e.g. tunnel junction
    • H01L33/06Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the semiconductor bodies with a quantum effect structure or superlattice, e.g. tunnel junction within the light emitting region, e.g. quantum confinement structure or tunnel barrier
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L33/00Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L33/005Processes
    • H01L33/0062Processes for devices with an active region comprising only III-V compounds
    • H01L33/0075Processes for devices with an active region comprising only III-V compounds comprising nitride compounds
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L33/00Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L33/02Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the semiconductor bodies
    • H01L33/14Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the semiconductor bodies with a carrier transport control structure, e.g. highly-doped semiconductor layer or current-blocking structure
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L33/00Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L33/02Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the semiconductor bodies
    • H01L33/26Materials of the light emitting region
    • H01L33/30Materials of the light emitting region containing only elements of Group III and Group V of the Periodic Table
    • H01L33/32Materials of the light emitting region containing only elements of Group III and Group V of the Periodic Table containing nitrogen
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L33/00Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L33/36Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the electrodes
    • H01L33/38Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the electrodes with a particular shape
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L33/00Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L33/44Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the coatings, e.g. passivation layer or anti-reflective coating
    • H01L33/46Reflective coating, e.g. dielectric Bragg reflector

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Led Devices (AREA)

Abstract

本发明公开了一种颜色可控单片LED及其制备方法和应用。本发明的颜色可控单片LED的组成包括衬底、金属键合层、第一绝缘层、反射镜金属层、第一p型GaN层、第一AlGaN电子阻挡层、第一InGaN/GaN多量子阱层、n型GaN层、第二InGaN/GaN多量子阱层、第二AlGaN电子阻挡层、第二p型GaN层、透明电流扩散层、第二绝缘层、第一p电极、n电极和第二p电极,第一和第二InGaN/GaN多量子阱层均独立地为红光量子阱层、绿光量子阱层、蓝光量子阱层、黄光量子阱层中的一种。本发明的单片LED可以实现多色可控发光,色彩均匀性好,器件的质量高。

Description

一种颜色可控单片LED及其制备方法和应用
技术领域
本发明涉及半导体器件技术领域,具体涉及一种颜色可控单片LED及其制备方法和应用。
背景技术
发光二极管(LED)是典型的单色光源,在可见光谱中理想的加色混合,使其非常适合用于情绪照明、面板显示和可见光通信中的颜色可调光源。目前,在实现多色调控及白光的过程中,多采用红-绿-蓝(RGB)光的LED芯片并联,但由于并联设备的发射锥彼此并不完全重叠,空间内颜色变化会导致不理想的颜色混合。光学混合方法(例如:插入额外的漫射器)可以促进来自离散发射器的辐射图案的重叠,但又不可避免地会引入光学损耗以及色彩锐度和丰富度的损失。综上可知,现有的LED并不能完全满足实际应用的需求。
因此,开发一种满足高均匀性要求的单片LED具有十分重要的意义。
发明内容
本发明的目的在于提供一种颜色可控单片LED及其制备方法和应用。
本发明所采取的技术方案是:
一种颜色可控单片LED,其组成包括依次层叠设置的衬底、金属键合层、第一绝缘层、反射镜金属层、第一p型GaN层、第一AlGaN电子阻挡层、第一InGaN/GaN多量子阱层、n型GaN层、第二InGaN/GaN多量子阱层、第二AlGaN电子阻挡层、第二p型GaN层、透明电流扩散层和第二绝缘层,还包括第一p电极、n电极和第二p电极;所述第一p电极与第一p型GaN层形成欧姆接触;所述n电极与n型GaN层形成欧姆接触;所述第二p电极与第二p型GaN层形成欧姆接触;所述第一InGaN/GaN多量子阱层和第二InGaN/GaN多量子阱层均独立地为红光量子阱层、绿光量子阱层、蓝光量子阱层、黄光量子阱层中的一种。
优选的,所述衬底为Si衬底,厚度为50μm~500μm。
优选的,所述金属键合层的组成成分为Ni、Au、Sn、Ti中的至少一种,厚度为0.5μm~5μm。
优选的,所述第一绝缘层为SiO2层,厚度为100nm~2000nm。
优选的,所述反射镜金属层的组成包括交替排布的多个SiO2层和多个TiO2层,厚度为0.5μm~4μm。
优选的,所述第一p型GaN层的厚度为10nm~300nm。
优选的,所述第一AlGaN电子阻挡层的厚度为20nm~40nm。
优选的,所述第一InGaN/GaN多量子阱层的厚度为20nm~100nm。
优选的,所述n型GaN层的厚度为0.5μm~5μm。
优选的,所述第二InGaN/GaN多量子阱层的厚度为20nm~100nm。
优选的,所述第二AlGaN电子阻挡层的厚度为20nm~40nm。
优选的,所述第二p型GaN层的厚度为10nm~300nm。
优选的,所述透明电流扩散层为透明In氧化物导电薄膜、透明Sb氧化物导电薄膜、透明Zn氧化物导电薄膜、透明Sn氧化物导电薄膜中的一种,厚度为10nm~800nm。
优选的,所述第二绝缘层为SiO2层,厚度为100nm~2000nm。
优选的,所述第一p电极的组成成分为Cr、Pt、Au中的至少一种。
优选的,所述n电极的组成成分为Cr、Pt、Au中的至少一种。
优选的,所述第二p电极的组成成分为Cr、Pt、Au中的至少一种。
上述颜色可控单片LED的制备方法包括以下步骤:
1)在外延衬底上依次生长缓冲层、n型GaN层、第一InGaN/GaN多量子阱层、第一AlGaN电子阻挡层和第一p型GaN层;
2)剥离外延衬底和缓冲层,暴露出n型GaN层;
3)在n型GaN层上生长第二InGaN/GaN多量子阱层、第二AlGaN电子阻挡层、第二p型GaN层,再在第二p型GaN层上制备透明电流扩散层;
4)制备径向贯穿至第一p型GaN层的通孔和径向贯穿至n型GaN层的通孔;
5)在透明电流扩散层的上表面以及通孔结构的内壁上生长第二绝缘层,内壁不包括通孔底面;
6)在第二绝缘层上设置贯穿至第二p型GaN层的凹槽状结构,再在通孔结构和凹槽状结构内沉积第一p电极、n电极和第二p电极;
7)在第一p型GaN层上沉积反射镜金属层、第一绝缘层和金属键合层,再将金属键合层与衬底键合,即得颜色可控单片LED。
优选的,步骤2)中外延衬底的剥离采用的方法为机械减薄、化学抛光、激光剥离中的一种。
优选的,步骤2)中缓冲层的剥离采用的方法为ICP干法刻蚀。
优选的,步骤3)所述透明电流扩散层的制备方法为脉冲激光沉积工艺。
优选的,步骤4)所述通孔的制备方法为光刻剥离或ICP干法刻蚀。
一种光源,其组成包括上述颜色可控单片LED。
本发明的有益效果是:本发明的单片LED可以实现多色可控发光,色彩均匀性好,器件的质量高。
具体来说:
1)本发明的单片LED采用垂直结构替代并联结构,可以解决并联设备中发射锥彼此不完全重叠的问题,保证了色彩的均匀性;
2)本发明的单片LED可以实现多色可控发光,且通过设置隔离层减小了多发光单元间的应力,提高了器件的质量。
附图说明
图1为实施例1的颜色可控单片LED的横截面的结构示意图。
图2为实施例1的颜色可控单片LED的俯视图。
附图标识说明:10、Si衬底;20、金属键合层;30、第一绝缘层;40、反射镜金属层;50、第一p型GaN层;60、第一AlGaN电子阻挡层;70、第一InGaN/GaN多量子阱层;80、n型GaN层;90、第二InGaN/GaN多量子阱层;100、第二AlGaN电子阻挡层;110、第二p型GaN层;120、透明电流扩散层;130、第二绝缘层;140、第一p电极;150、n电极;160、第二p电极。
具体实施方式
下面结合具体实施例对本发明作进一步的解释和说明。
实施例1:
一种颜色可控单片LED(横截面的结构示意图如图1所示,俯视图如图2所示),其组成包括依次层叠设置的Si衬底10、金属键合层20、第一绝缘层30、反射镜金属层40、第一p型GaN层50、第一AlGaN电子阻挡层60、第一InGaN/GaN多量子阱层70、n型GaN层80、第二InGaN/GaN多量子阱层90、第二AlGaN电子阻挡层100、第二p型GaN层110、透明电流扩散层120和第二绝缘层130,还包括第一p电极140、n电极150和第二p电极160;
第一p电极140依次贯穿第二绝缘层130、透明电流扩散层120、第二p型GaN层110、第二AlGaN电子阻挡层100、第二InGaN/GaN多量子阱层90、n型GaN层80、第一InGaN/GaN多量子阱层70和第一电子阻挡层60,其底部与第一p型GaN层50形成欧姆接触;
n电极150依次贯穿第二绝缘层130、透明电流扩散层120、第二p型GaN层110、第二AlGaN电子阻挡层100和第二InGaN/GaN多量子阱层90,其底部与n型GaN层80形成欧姆接触;
第二p电极160依次贯穿第二绝缘层130和透明电流扩散层120,其底部与第二p型GaN层110形成欧姆接触。
上述颜色可控单片LED的制备方法包括以下步骤:
1)通过有机金属化学气相沉积(MOCVD)法在Si衬底上依次生长1μm厚的AlGaN缓冲层、2μm厚的n型GaN层、50nm厚的第一InGaN/GaN多量子阱层(红光量子阱层)、20nm厚的第一AlGaN电子阻挡层和200nm厚的第一p型GaN层;
2)通过氢氟酸、冰乙酸和硝酸的混合液剥离Si衬底,并通过ICP干法刻蚀剥离AlGaN缓冲层,暴露出n型GaN层;
3)在n型GaN层上生长50nm厚的第二InGaN/GaN多量子阱层(蓝光量子阱层)、30nm厚的第二AlGaN电子阻挡层、200nm厚的第二p型GaN层,再在第二p型GaN层上制备10nm厚的透明电流扩散层(由石墨烯层和ITO层构成);
4)通过ICP干法刻蚀制备径向贯穿至第一p型GaN层的通孔和径向贯穿至n型GaN层的通孔;
5)通过等离子体增强化学的气相沉积(PECVD)法在透明电流扩散层的上表面以及通孔结构的内壁上生长400nm厚的第二绝缘层(SiO2层),内壁不包括通孔底面;
6)在第二绝缘层上设置贯穿至第二p型GaN层的凹槽状结构,再在通孔结构和凹槽状结构内沉积第一p电极(Cr/Pt/Au复合电极)、n电极(Cr/Pt复合电极)和第二p电极(Cr/Pt/Au复合电极);
7)在第一p型GaN层上沉积600nm厚的反射镜金属层(由5层70nm厚的SiO2层和5层50nm厚的TiO2层交替层叠而成)、400nm厚的第一绝缘层(SiO2层)和厚度为600nm的金属键合层(Ni/Au复合层),再将金属键合层与厚度为400μm的Si衬底键合,键合在压力为2MPa、温度为300℃的条件下进行,键合时间为2h,再200℃下退火30min,即得颜色可控单片LED。
经测试,本实施例的颜色可控单片LED结合电路控制可分别实现红光、蓝光和紫光等三色光的发射,色彩均匀性较好。
实施例2:
一种颜色可控单片LED,其制备方法包括以下步骤:
1)通过有机金属化学气相沉积(MOCVD)法在Si衬底上依次生长1μm厚的AlGaN缓冲层、2μm厚的n型GaN层、50nm厚的第一InGaN/GaN多量子阱层(黄光量子阱层)、20nm厚的第一AlGaN电子阻挡层和200nm厚的第一p型GaN层;
2)通过氢氟酸、冰乙酸和硝酸的混合液剥离Si衬底,并通过ICP干法刻蚀剥离AlGaN缓冲层,暴露出n型GaN层;
3)在n型GaN层上生长50nm厚的第二InGaN/GaN多量子阱层(蓝光量子阱层)、30nm厚的第二AlGaN电子阻挡层和200nm厚的第二p型GaN层;
4)在第二p型GaN层上沉积600nm厚的反射镜金属层(由5层70nm厚的SiO2层和5层50nm厚的TiO2层交替层叠而成)和400nm厚的第一绝缘层(SiO2层);
5)通过ICP干法刻蚀制备径向贯穿至n型GaN层的通孔,并于其上沉积n电极层;
6)在n电极层上制备厚度为600nm的金属键合层(Ni/Au复合层),再将金属键合层与厚度为400μm的Si衬底键合,键合在压力为2MPa、温度为300℃的条件下进行,键合时间为2h,再200℃下退火30min;
7)翻转180°后,通过ICP干法刻蚀制备径向贯穿至第二p型GaN层的台面,并在此基础上沉积10nm厚的透明电流扩散层(由石墨烯层和ITO层构成)和400nm厚的第二绝缘层(SiO2层);
8)在第二绝缘层上设置贯穿至第二p型GaN层和第一p型GaN层的凹槽状结构,再在凹槽状结构内沉积第一p电极(Cr/Pt/Au复合电极)和第二p电极(Cr/Pt/Au复合电极),即得颜色可控单片LED。
经测试,本实施例的颜色可控单片LED结合电路控制可分别实现黄光、蓝光和白光等三色光的发射,色彩均匀性较好,相较于传统横向串联LED,其在3000K~8000K的色温范围内的白光发光效率提高了5%。
上述实施例为本发明较佳的实施方式,但本发明的实施方式并不受上述实施例的限制,其他的任何未背离本发明的精神实质与原理下所作的改变、修饰、替代、组合、简化,均应为等效的置换方式,都包含在本发明的保护范围之内。

Claims (10)

1.一种颜色可控单片LED,其特征在于,组成包括依次层叠设置的衬底、金属键合层、第一绝缘层、反射镜金属层、第一p型GaN层、第一AlGaN电子阻挡层、第一InGaN/GaN多量子阱层、n型GaN层、第二InGaN/GaN多量子阱层、第二AlGaN电子阻挡层、第二p型GaN层、透明电流扩散层和第二绝缘层,还包括第一p电极、n电极和第二p电极;所述第一p电极与第一p型GaN层形成欧姆接触;所述n电极与n型GaN层形成欧姆接触;所述第二p电极与第二p型GaN层形成欧姆接触;所述第一InGaN/GaN多量子阱层和第二InGaN/GaN多量子阱层均独立地为红光量子阱层、绿光量子阱层、蓝光量子阱层、黄光量子阱层中的一种。
2.根据权利要求1所述的颜色可控单片LED,其特征在于:所述衬底为Si衬底,厚度为50μm~500μm;所述金属键合层的组成成分为Ni、Au、Sn、Ti中的至少一种,厚度为0.5μm~5μm。
3.根据权利要求1所述的颜色可控单片LED,其特征在于:所述第一绝缘层为SiO2层,厚度为100nm~2000nm;所述第二绝缘层为SiO2层,厚度为100nm~2000nm。
4.根据权利要求1~3中任意一项所述的颜色可控单片LED,其特征在于:所述反射镜金属层的组成包括交替排布的多个SiO2层和多个TiO2层,厚度为0.5μm~4μm。
5.根据权利要求1~3中任意一项所述的颜色可控单片LED,其特征在于:所述第一p型GaN层的厚度为10nm~300nm;所述第二p型GaN层的厚度为10nm~300nm。
6.根据权利要求1~3中任意一项所述的颜色可控单片LED,其特征在于:所述第一AlGaN电子阻挡层的厚度为20nm~40nm;所述第二AlGaN电子阻挡层的厚度为20nm~40nm;所述第一InGaN/GaN多量子阱层的厚度为20nm~100nm;所述第二InGaN/GaN多量子阱层的厚度为20nm~100nm。
7.根据权利要求1~3中任意一项所述的颜色可控单片LED,其特征在于:所述n型GaN层的厚度为0.5μm~5μm;所述透明电流扩散层为透明In氧化物导电薄膜、透明Sb氧化物导电薄膜、透明Zn氧化物导电薄膜、透明Sn氧化物导电薄膜中的一种,厚度为10nm~800nm。
8.根据权利要求1~3中任意一项所述的颜色可控单片LED,其特征在于:所述第一p电极的组成成分为Cr、Pt、Au中的至少一种;所述n电极的组成成分为Cr、Pt、Au中的至少一种;所述第二p电极的组成成分为Cr、Pt、Au中的至少一种。
9.权利要求1~8中任意一项所述的颜色可控单片LED的制备方法,其特征在于,包括以下步骤:
1)在外延衬底上依次生长缓冲层、n型GaN层、第一InGaN/GaN多量子阱层、第一AlGaN电子阻挡层和第一p型GaN层;
2)剥离外延衬底和缓冲层,暴露出n型GaN层;
3)在n型GaN层上生长第二InGaN/GaN多量子阱层、第二AlGaN电子阻挡层、第二p型GaN层,再在第二p型GaN层上制备透明电流扩散层;
4)制备径向贯穿至第一p型GaN层的通孔和径向贯穿至n型GaN层的通孔;
5)在透明电流扩散层的上表面以及通孔结构的内壁上生长第二绝缘层,内壁不包括通孔底面;
6)在第二绝缘层上设置贯穿至第二p型GaN层的凹槽状结构,再在通孔结构和凹槽状结构内沉积第一p电极、n电极和第二p电极;
7)在第一p型GaN层上沉积反射镜金属层、第一绝缘层和金属键合层,再将金属键合层与衬底键合,即得颜色可控单片LED。
10.一种光源,其特征在于,组成包括权利要求1~8中任意一项所述的颜色可控单片LED。
CN202210378193.9A 2022-04-12 2022-04-12 一种颜色可控单片led及其制备方法和应用 Pending CN114864764A (zh)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN202210378193.9A CN114864764A (zh) 2022-04-12 2022-04-12 一种颜色可控单片led及其制备方法和应用
PCT/CN2022/118013 WO2023197519A1 (zh) 2022-04-12 2022-09-09 一种颜色可控单片led及其制备方法和应用

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN202210378193.9A CN114864764A (zh) 2022-04-12 2022-04-12 一种颜色可控单片led及其制备方法和应用

Publications (1)

Publication Number Publication Date
CN114864764A true CN114864764A (zh) 2022-08-05

Family

ID=82629125

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN202210378193.9A Pending CN114864764A (zh) 2022-04-12 2022-04-12 一种颜色可控单片led及其制备方法和应用

Country Status (2)

Country Link
CN (1) CN114864764A (zh)
WO (1) WO2023197519A1 (zh)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2023197519A1 (zh) * 2022-04-12 2023-10-19 华南理工大学 一种颜色可控单片led及其制备方法和应用

Family Cites Families (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7271420B2 (en) * 2004-07-07 2007-09-18 Cao Group, Inc. Monolitholic LED chip to emit multiple colors
CN100505352C (zh) * 2007-12-10 2009-06-24 华中科技大学 一种led芯片及其制备方法
CN101281945A (zh) * 2008-05-13 2008-10-08 华南师范大学 可同时发射不同波长光的GaN基LED外延片及其制备方法
CN104051585A (zh) * 2013-03-14 2014-09-17 江苏汉莱科技有限公司 一种led双色光外延片及其制备方法
CN111599910A (zh) * 2020-05-22 2020-08-28 河源市天和第三代半导体产业技术研究院 一种垂直结构led芯片及其制备方法
CN112968086A (zh) * 2021-01-29 2021-06-15 上海显耀显示科技有限公司 一种同轴生长pnp双色外延micro-led结构
CN114864764A (zh) * 2022-04-12 2022-08-05 华南理工大学 一种颜色可控单片led及其制备方法和应用

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2023197519A1 (zh) * 2022-04-12 2023-10-19 华南理工大学 一种颜色可控单片led及其制备方法和应用

Also Published As

Publication number Publication date
WO2023197519A1 (zh) 2023-10-19

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN210403762U (zh) 发光元件
US7592633B2 (en) Semiconductor light emitting device
KR102170243B1 (ko) 공융 금속-합금 본딩을 이용한 다중 접합 발광 다이오드 및 이의 제조방법
CN110911537B (zh) 共阴极led芯片及其制作方法
CN105122475B (zh) 单片发光器件
WO2021119906A1 (zh) 一种发光二极管
CN101728462A (zh) 多波长发光二极管及其制造方法
KR101737981B1 (ko) 마이크로 어레이 형태의 질화물 발광 소자 및 그 제조 방법
CN101740559A (zh) 一种白光发光二极管
CN114864764A (zh) 一种颜色可控单片led及其制备方法和应用
TWI826771B (zh) 多色發光結構及其形成方法
US20230261031A1 (en) Semiconductor light-emitting device and preparation method thereof
WO2021148895A1 (en) Light processing device array and method for manufacturing thereof
JP2012060061A (ja) 半導体発光装置の製造方法及び半導体発光装置
CN113206176B (zh) 选区刻蚀外延Micro-LED芯片及其设计、制备方法
CN112786750B (zh) 一种薄膜型AlGaInP发光二极管结构及其制备方法
CN113451465B (zh) 发光二极管及其制作方法以及显示屏
US11876154B2 (en) Light emitting diode device and method for manufacturing the same
KR20040005270A (ko) 발광다이오드 및 그 제조방법
US20190027652A1 (en) Light Emitting Diode and Fabrication Method Thereof
US20220052224A1 (en) Light-emitting diode, manufacturing method thereof and display
CN110931520B (zh) 一种Micro-LED制备方法
TWI780564B (zh) 半導體結構及其基板、半導體結構及其基板的製作方法
CN116885076A (zh) 发光二极管器件及其制备方法、显示装置
CN211858673U (zh) 一种倒装Micro LED全彩量子点芯片

Legal Events

Date Code Title Description
PB01 Publication
PB01 Publication
SE01 Entry into force of request for substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination