CN114859365A - 一种深度测量方法及装置、存储介质 - Google Patents

一种深度测量方法及装置、存储介质 Download PDF

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CN114859365A CN202210782900.0A CN202210782900A CN114859365A CN 114859365 A CN114859365 A CN 114859365A CN 202210782900 A CN202210782900 A CN 202210782900A CN 114859365 A CN114859365 A CN 114859365A
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吴昊
莫苏苏
王抒昂
汪峰
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Wuhan Silicon Integrated Co Ltd
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    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01S—RADIO DIRECTION-FINDING; RADIO NAVIGATION; DETERMINING DISTANCE OR VELOCITY BY USE OF RADIO WAVES; LOCATING OR PRESENCE-DETECTING BY USE OF THE REFLECTION OR RERADIATION OF RADIO WAVES; ANALOGOUS ARRANGEMENTS USING OTHER WAVES
    • G01S17/00—Systems using the reflection or reradiation of electromagnetic waves other than radio waves, e.g. lidar systems
    • G01S17/02—Systems using the reflection of electromagnetic waves other than radio waves
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Abstract

本申请实施例提供了一种深度测量方法及装置、存储介质，该方法包括：利用第一调制频率和第二调制频率对目标对象进行深度测量，得到第一深度测量值和第二深度测量值；确定第一调制频率和第二调制频率的多个周期延拓数组合，并根据多个周期延拓数组合，分别对第一深度测量值和第二深度测量值进行周期延拓，得第一深度值和第二深度值；从第一调制频率对应的第一预设深度误差集合中，获取各第一深度值对应的第一深度误差；从第二调制频率对应的第二预设深度误差集合中，获取各第二深度值对应的第二深度误差；分别基于第一深度值、第二深度值、第一深度误差和第二深度误差，计算多个融合误差值；并根据多个融合误差值确定距目标对象的距离。

Description

一种深度测量方法及装置、存储介质
技术领域
本申请涉及深度测量技术领域，尤其涉及一种深度测量方法及装置、存储介质。
背景技术
飞行时间（ToF，Time of Flight）技术是一种利用光的飞行时间来测距的技术，其中，间接飞行时间（indirect ToF，iToF）不直接测量光信号往返时间，而是通过调幅信号的相位变化，从而计算出目标距离。光信号幅度经过一定调制，常见的如正弦波调制和方波调制，信号经过往返距离延迟后，到达探测器的相位发生变化，经过一定的鉴相技术，计算出相位变化，从而得到目标距离。
但是，在实际使用TOF系统进行测距时，存在与测量深度值相关的摇摆Wiggling误差，Wiggling误差主要是由于调制过程的不规则性，导致实际产生的发射光信号与理想的正弦波信号或方波信号仍有一定差距，这种波形失真将导致测量的深度值存在深度偏差，使得利用ToF系统测得的距离不准确。
发明内容
本申请实施例提供一种深度测量方法及装置、存储介质，能够提高利用TOF系统进行测距时的准确性。
本申请的技术方案是这样实现的：
第一方面，本申请实施例提供一种深度测量方法，所述方法包括：
利用第一调制频率和第二调制频率对目标对象进行深度测量，得到第一深度测量值和第二深度测量值；
确定所述第一调制频率和所述第二调制频率对应的多个周期延拓数组合，并根据所述多个周期延拓数组合，分别对所述第一深度测量值和所述第二深度测量值进行周期延拓，得到各周期延拓数组合对应的第一深度值和第二深度值；
从所述第一调制频率对应的第一预设深度误差集合中，获取各所述第一深度值对应的第一深度误差；从所述第二调制频率对应的第二预设深度误差集合中，获取各所述第二深度值对应的第二深度误差；
分别基于所述各周期延拓数组合对应的所述第一深度值、所述第二深度值、所述第一深度误差和所述第二深度误差，计算所述多个周期延拓数组合对应的多个融合误差值；并根据所述多个融合误差值确定距所述目标对象的距离。
在上述深度测量方法中，所述确定所述第一调制频率和所述第二调制频率对应的多个周期延拓数组合，包括：
基于所述第一调制频率和最大公约数的比值，得到所述第一调制频率对应的第一最大周期延拓数；并基于所述第二调制频率和所述最大公约数的比值，得到所述第二调制频率对应的第二最大周期延拓数；所述最大公约数为所述第一调制频率和所述第二调制频率之间的最大公约数；
基于所述第一最大周期延拓数和所述第二最大周期延拓数，确定所述第一调制频率和所述第二调制频率对应的多个周期延拓数组合。
在上述深度测量方法中，所述确定所述第一调制频率和所述第二调制频率对应的多个周期延拓数组合，包括：
确定所述第一调制频率对应的第一最大无混叠深度值和所述第二调制频率对应的第二最大无混叠深度值；
将预设最大测量深度值和所述第一最大无混叠深度值的比值向下取整，得到第一数值，并基于所述第一调制频率和最大公约数的比值，得到第二数值，将所述第一数值与所述第二数值之间最小的数值确定为所述第一调制频率对应的第一最大周期延拓数；所述最大公约数为所述第一调制频率和所述第二调制频率之间的最大公约数；
将所述预设最大测量深度值和所述第二最大无混叠深度值的比值向下取整，得到第三数值，并基于所述第二调制频率和所述最大公约数的比值，得到第四数值，将所述第三数值与所述第四数值之间最小的数值确定为所述第二调制频率对应的第二最大周期延拓数；
基于所述第一最大周期延拓数和所述第二最大周期延拓数，确定所述第一调制频率和所述第二调制频率对应的多个周期延拓数组合。
在上述深度测量方法中，所述根据所述多个周期延拓数组合，分别对所述第一深度测量值和所述第二深度测量值进行周期延拓，得到各周期延拓数组合对应的第一深度值和第二深度值，包括：
确定所述第一调制频率对应的第一最大无混叠深度值和所述第二调制频率对应的第二最大无混叠深度值；
分别对所述第一深度测量值进行周期数为各第一周期延拓数、且周期深度为所述第一最大无混叠深度值的周期延拓，得到所述各第一周期延拓数对应的第一深度值；所述各第一周期延拓数为所述各周期延拓数组合中所述第一调制频率对应的周期延拓数；
分别对所述第二深度测量值进行周期数为各第二周期延拓数、且周期深度为所述第二最大无混叠深度值的周期延拓，得到所述各第二周期延拓数对应的第二深度值；所述各第二周期延拓数为所述各周期延拓数组合中所述第二调制频率对应的周期延拓数。
在上述深度测量方法中，所述分别基于所述各周期延拓数组合对应的所述第一深度值、所述第二深度值、所述第一深度误差和所述第二深度误差，计算所述多个周期延拓数组合对应的多个融合误差值，包括：
分别利用所述各周期延拓数组合对应的所述第一深度误差对所述第一深度值进行校正，得到所述各周期延拓数组合对应的校正后的第一深度值；
分别利用所述各周期延拓数组合对应的所述第二深度误差对所述第二深度值进行校正，得到所述各周期延拓数组合对应的校正后的第二深度值；
将所述多个周期延拓数组合对应的多个校正后的第一深度值和多个校正后的第二深度值之间的差值确定为所述多个周期延拓数组合对应的多个融合误差值。
在上述深度测量方法中，所述根据所述多个融合误差值确定距所述目标对象的距离，包括：
从所述多个融合误差值中确定出融合误差值最小的目标融合误差值，并从所述多个周期延拓数组合中确定出所述目标融合误差值对应的目标周期延拓数组合；
确定所述第一调制频率和所述第二调制频率中调制频率最大的目标调制频率；并从所述目标周期延拓数组合中确定所述目标调制频率对应的目标周期延拓数；
从所述各周期延拓数组合对应的所述第一深度值、所述第二深度值、所述第一深度误差和所述第二深度误差中，查找所述目标周期延拓数对应的目标深度值和目标深度误差；
利用所述目标深度误差对所述目标深度值进行校正，得到校正后的目标深度值；并将所述校正后的目标深度值确定为距所述目标对象的距离。
第二方面，本申请实施例提供一种深度测量装置，所述装置包括：
测量单元，用于利用第一调制频率和第二调制频率对目标对象进行深度测量，得到第一深度测量值和第二深度测量值；
确定单元，用于确定所述第一调制频率和所述第二调制频率对应的多个周期延拓数组合，并根据所述多个周期延拓数组合，分别对所述第一深度测量值和所述第二深度测量值进行周期延拓，得到各周期延拓数组合对应的第一深度值和第二深度值；
获取单元，用于从所述第一调制频率对应的第一预设深度误差集合中，获取各所述第一深度值对应的第一深度误差；从所述第二调制频率对应的第二预设深度误差集合中，获取各所述第二深度值对应的第二深度误差；
计算单元，用于分别基于所述各周期延拓数组合对应的所述第一深度值、所述第二深度值、所述第一深度误差和所述第二深度误差，计算所述多个周期延拓数组合对应的多个融合误差值；并根据所述多个融合误差值确定距所述目标对象的距离。
在上述深度测量装置中，所述计算单元，还用于基于所述第一调制频率和最大公约数的比值，得到所述第一调制频率对应的第一最大周期延拓数；并基于所述第二调制频率和所述最大公约数的比值，得到所述第二调制频率对应的第二最大周期延拓数；所述最大公约数为所述第一调制频率和所述第二调制频率之间的最大公约数；基于所述第一最大周期延拓数和所述第二最大周期延拓数，确定所述第一调制频率和所述第二调制频率对应的多个周期延拓数组合。
第三方面，本申请实施例提供一种深度测量设备，其特征在于，所述设备包括：处理器、存储器及通信总线；所述处理器执行存储器存储的运行程序时实现如上述任一项所述的深度测量方法。
第四方面，本申请实施例提供一种存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，该计算机程序被处理器执行时实现如上述任一项所述的深度测量方法。
本申请实施例提供了一种深度测量方法及装置、存储介质，该方法包括：利用第一调制频率和第二调制频率对目标对象进行深度测量，得到第一深度测量值和第二深度测量值；确定第一调制频率和第二调制频率对应的多个周期延拓数组合，并根据多个周期延拓数组合，分别对第一深度测量值和第二深度测量值进行周期延拓，得到各周期延拓数组合对应的第一深度值和第二深度值；从第一调制频率对应的第一预设深度误差集合中，获取各第一深度值对应的第一深度误差；从第二调制频率对应的第二预设深度误差集合中，获取各第二深度值对应的第二深度误差；分别基于各周期延拓数组合对应的第一深度值、第二深度值、第一深度误差和第二深度误差，计算多个周期延拓数组合对应的多个融合误差值；并根据多个融合误差值确定距目标对象的距离；采用上述实现方案，通过标定不同调制频率在不同深度值处产生的深度误差，并在多频融合的过程中除深度周期延拓外加入该深度误差项，来提高计算不同频率之间深度融合误差的精度，最终提升深度融合的准确率，使得利用TOF系统进行测距时的准确性提高。
附图说明
图1为本申请实施例提供的一种深度测量方法流程图；
图2为本申请实施例提供的一种示例性的计算深度值方法流程图；
图3为本申请实施例提供的一种示例性的计算融合误差值方法流程图；
图4为本申请实施例提供的一种示例性的确定距离方法流程图；
图5为本申请实施例提供的一种深度测量装置的组成结构示意图；
图6为本申请实施例提供的一种深度测量设备的组成结构示意图。
具体实施方式
应当理解，此处描述的具体实施例仅仅用以解释本申请。并不用于限定本申请。
本申请实施例提供一种深度测量方法，应用于深度测量装置，图1为本申请实施例提供的一种深度测量方法流程图，如图1所示，深度测量方法可以包括：
S101、利用第一调制频率和第二调制频率对目标对象进行深度测量，得到第一深度测量值和第二深度测量值。
本申请给出的一种深度测量方法适用于利用TOF对目标对象进行距离测量的场景下。
在本申请实施例中，深度测量装置利用第一调制频率和第二调制频率对目标对象进行深度测量，得到第一深度测量值和第二深度测量值。
需要说明的是，第一调制频率为测量目标对象时向目标对象发射的第一信号的调制频率；第二调制频率为测量目标对象时向目标对象发射的第二信号的调制频率；具体的第一调制频率和第二调制频率可以根据实际测量的情况选择，本申请实施例在此不做具体的限定。
需要说明的是，第一深度测量值为利用第一调制频率对目标对象进行测量时得到的，第二深度测量值为利用第二调制频率对目标对象进行测量时得到的，具体的深度测量值计算公式如下所示：
Figure 580975DEST_PATH_IMAGE001
（1）
在上式（1）中，
Figure 29274DEST_PATH_IMAGE002
为深度测量值，
Figure 74590DEST_PATH_IMAGE003
为光速，
Figure 486111DEST_PATH_IMAGE004
为飞行时间，
Figure 566062DEST_PATH_IMAGE005
为发射信号的调制频率，
Figure 919683DEST_PATH_IMAGE006
为发射光信号与接收光信号的相位差。
需要说明的是，由于相位差
Figure 452296DEST_PATH_IMAGE007
是周期变化的，如果相位差超过
Figure 916775DEST_PATH_IMAGE008
，则相位差的值会重新混叠到[0，2π]区间内，示例性的，假设相位差
Figure 851233DEST_PATH_IMAGE009
为
Figure 110176DEST_PATH_IMAGE010
，则相位差的值会重新混叠为
Figure 644932DEST_PATH_IMAGE011
，因此，调制信号的最大相位差
Figure 647523DEST_PATH_IMAGE012
为
Figure 436487DEST_PATH_IMAGE013
，此时将
Figure 131911DEST_PATH_IMAGE014
带入公式（1）中，得到可测量的最大无混叠深度值如下所示：
Figure 639115DEST_PATH_IMAGE015
（2）
由上式（2）可知，当发射信号的调制频率
Figure 179818DEST_PATH_IMAGE005
为30MHz时，最大无混叠深度值为5m，而真实深度为1.25m和6.25m的物体测量的相位差均为π⁄2，对应的测量深度值均为1.25m，因此，测量值为
Figure 88868DEST_PATH_IMAGE016
的物体实际深度值
Figure 440346DEST_PATH_IMAGE017
为：
Figure 434847DEST_PATH_IMAGE018
（3）
在上式（3）中，n为非负整数，表示混叠周期数（也称为“周期延拓数”）。
需要说明的是，通过对同一目标对象分别利用两种调制频率的光信号得到单一频率下各自的测量结果
Figure 779241DEST_PATH_IMAGE019
和
Figure 808377DEST_PATH_IMAGE020
，那么真实的目标距离
Figure 845603DEST_PATH_IMAGE021
可以表示如下：
Figure 61821DEST_PATH_IMAGE022
（4）
在上式（4）中，
Figure 209905DEST_PATH_IMAGE023
和
Figure 77236DEST_PATH_IMAGE024
分别表示第一调制频率
Figure 285363DEST_PATH_IMAGE025
和第二调制频率
Figure 988877DEST_PATH_IMAGE026
的光信号对应的混叠周期数。
S102、确定第一调制频率和第二调制频率对应的多个周期延拓数组合，并根据多个周期延拓数组合，分别对第一深度测量值和第二深度测量值进行周期延拓，得到各周期延拓数组合对应的第一深度值和第二深度值。
在本申请实施例中，深度测量装置确定第一调制频率和第二调制频率对应的多个周期延拓数组合，并根据多个周期延拓数组合，分别对第一深度测量值和第二深度测量值进行周期延拓，得到各周期延拓数组合对应的第一深度值和第二深度值。
在本申请一种可选的实施例中，根据确定第一调制频率和第二调制频率对应的多个周期延拓数组合，具体的：基于第一调制频率和最大公约数的比值，得到第一调制频率对应的第一最大周期延拓数；并基于第二调制频率和最大公约数的比值，得到第二调制频率对应的第二最大周期延拓数；最大公约数为第一调制频率和第二调制频率之间的最大公约数；基于第一最大周期延拓数和第二最大周期延拓数，确定第一调制频率和第二调制频率对应的多个周期延拓数组合。
在本申请实施例中，第一调制频率
Figure 675073DEST_PATH_IMAGE027
和第二调制频率
Figure 413222DEST_PATH_IMAGE028
之间的最大公约数用
Figure 57830DEST_PATH_IMAGE029
进行表示；示例性的，假设第一调制频率
Figure 248640DEST_PATH_IMAGE030
为60MHz，第二调制频率
Figure 489260DEST_PATH_IMAGE031
为40MHz，则
Figure 816336DEST_PATH_IMAGE032
；具体的最大公约数可以根据实际情况确定，本申请实施例在此不做具体的限定。
需要说明的是，若采用最大公约数约束，则第一调制频率
Figure 366266DEST_PATH_IMAGE033
和第二调制频率
Figure 44372DEST_PATH_IMAGE034
的最大融合深度不超过
Figure 337950DEST_PATH_IMAGE035
，因此，具体公式如下所示：
Figure 785112DEST_PATH_IMAGE036
（5）
在上式（5）中，
Figure 240364DEST_PATH_IMAGE037
为第一最大周期延拓数，
Figure 405766DEST_PATH_IMAGE038
为第二最大周期延拓数。
在本申请另一种可选的实施例中，确定第一调制频率和第二调制频率对应的多个周期延拓数组合，具体的：确定第一调制频率对应的第一最大无混叠深度值和第二调制频率对应的第二最大无混叠深度值；将预设最大测量深度值和第一最大无混叠深度值的比值向下取整，得到第一数值，并基于第一调制频率和最大公约数的比值，得到第二数值，将第一数值与第二数值之间最小的数值确定为第一调制频率对应的第一最大周期延拓数；最大公约数为第一调制频率和第二调制频率之间的最大公约数；将预设最大测量深度值和第二最大无混叠深度值的比值向下取整，得到第三数值，并基于第二调制频率和最大公约数的比值，得到第四数值，将第三数值与第四数值之间最小的数值确定为第二调制频率对应的第二最大周期延拓数；基于第一最大周期延拓数和第二最大周期延拓数，确定第一调制频率和第二调制频率对应的多个周期延拓数组合。
需要说明的是，若采用预设最大测量深度值约束，则具体公式如下所示：
Figure 486723DEST_PATH_IMAGE039
（6）
在上式（6）中，
Figure 53971DEST_PATH_IMAGE040
为第一最大周期延拓数，
Figure 680124DEST_PATH_IMAGE041
为第二最大周期延拓数，
Figure 598402DEST_PATH_IMAGE042
为预设最大测量深度值，
Figure 233783DEST_PATH_IMAGE043
为第一预设频率的第一最大无混叠深度值，
Figure 389957DEST_PATH_IMAGE044
为第二预设频率的第二最大无混叠深度值。
在本申请实施例中，预设周期延拓数基准值设置为0，即预设周期延拓数基准值与第一最大周期延拓数
Figure 452591DEST_PATH_IMAGE045
可以组成
Figure 77739DEST_PATH_IMAGE046
区间，预设周期延拓数基准值与第二最大周期延拓数
Figure 516810DEST_PATH_IMAGE047
可以组成
Figure 58650DEST_PATH_IMAGE048
区间；具体的预设周期延拓数基准值可以根据实际情况确定，本申请实施例在此不做具体的限定。
需要说明的是，在本申请实施例中，确定多个周期延拓数组合时，是将
Figure 292185DEST_PATH_IMAGE046
区间和
Figure 653897DEST_PATH_IMAGE048
区间中的值进行排列组合，得到多个周期延拓数组合
Figure 631080DEST_PATH_IMAGE049
，其中，
Figure 761847DEST_PATH_IMAGE050
，
Figure 427270DEST_PATH_IMAGE051
，此时，多个周期延拓数组合中的每个周期延拓数组合中包括第一调制频率对应的一个第一周期延拓数
Figure 276277DEST_PATH_IMAGE052
和第二调制频率对应的一个第二周期延拓数
Figure 791572DEST_PATH_IMAGE024
。
需要说明的是，根据公式（3）确定每个第一周期延拓数
Figure 42425DEST_PATH_IMAGE052
对应的一个第一深度值
Figure 617763DEST_PATH_IMAGE053
和每个第二周期延拓数
Figure 219645DEST_PATH_IMAGE054
对应的一个第二深度值
Figure 273052DEST_PATH_IMAGE055
。
S103、从第一调制频率对应的第一预设深度误差集合中，获取各第一深度值对应的第一深度误差；从第二调制频率对应的第二预设深度误差集合中，获取各第二深度值对应的第二深度误差。
在本申请实施例中，深度测量装置从第一调制频率对应的第一预设深度误差集合中，获取各第一深度值对应的第一深度误差；从第二调制频率对应的第二预设深度误差集合中，获取各第二深度值对应的第二深度误差。
需要说明的是，从第一预设深度误差集合中查找多个第一深度值
Figure 378411DEST_PATH_IMAGE056
对应的多个第一深度误差
Figure 875383DEST_PATH_IMAGE057
和从第二预设深度误差集合中查找多个第二深度值
Figure 433403DEST_PATH_IMAGE058
对应的多个第二深度误差
Figure 556080DEST_PATH_IMAGE059
。
在本申请实施例中，第一预设深度误差集合和第二预设深度误差集合为使用第一调制频率和第二调制频率在进行深度检测时会产生的误差，其中包括第一调制频率在不同深度值处的测量误差和第二调制频率在不同深度值处的测量误差。
S104、分别基于各周期延拓数组合对应的第一深度值、第二深度值、第一深度误差和第二深度误差，计算多个周期延拓数组合对应的多个融合误差值；并根据多个融合误差值确定距目标对象的距离。
在本申请实施例中，深度测量装置分别基于各周期延拓数组合对应的第一深度值、第二深度值、第一深度误差和第二深度误差，计算多个周期延拓数组合对应的多个融合误差值；并根据多个融合误差值确定距目标对象的距离。
在本申请实施例中，图2为本申请实施例提供的一种示例性的计算深度值方法流程图，如图2所示，具体方法如下：
S201、确定第一调制频率对应的第一最大无混叠深度值和第二调制频率对应的第二最大无混叠深度值。
需要说明的是，根据公式（2）确定第一最大无混叠深度值
Figure 515946DEST_PATH_IMAGE060
和第二最大无混叠深度值
Figure 433086DEST_PATH_IMAGE061
。
S202、分别对第一深度测量值进行周期数为各第一周期延拓数、且周期深度为第一最大无混叠深度值的周期延拓，得到各第一周期延拓数对应的第一深度值；各第一周期延拓数为各周期延拓数组合中第一调制频率对应的周期延拓数。
需要说明的是，根据公式（3）确定每个第一周期延拓数
Figure 743982DEST_PATH_IMAGE062
对应的一个第一深度值
Figure 404770DEST_PATH_IMAGE053
。
S203、分别对第二深度测量值进行周期数为各第二周期延拓数、且周期深度为第二最大无混叠深度值的周期延拓，得到各第二周期延拓数对应的第二深度值；各第二周期延拓数为各周期延拓数组合中第二调制频率对应的周期延拓数。
需要说明的是，根据公式（3）确定每个第二周期延拓数
Figure 219142DEST_PATH_IMAGE063
对应的一个第二深度值
Figure 822031DEST_PATH_IMAGE064
。
在本申请实施例中，图3为本申请实施例提供的一种示例性的计算融合误差值方法流程图，如图3所示，具体方法如下：
S301、分别利用各周期延拓数组合对应的第一深度误差对第一深度值进行校正，得到各周期延拓数组合对应的校正后的第一深度值。
需要说明的是，根据第一深度误差对第一深度值进行校正，具体公式如下所示：
Figure 354643DEST_PATH_IMAGE065
（7）
在上式（7）中，
Figure 819123DEST_PATH_IMAGE066
为校正后的第一深度值，
Figure 488002DEST_PATH_IMAGE067
为第一深度值，
Figure 12524DEST_PATH_IMAGE068
为第一深度值对应的第一深度误差。
S302、分别利用各周期延拓数组合对应的第二深度误差对第二深度值进行校正，得到各周期延拓数组合对应的校正后的第二深度值。
需要说明的是，根据第二深度误差对第二深度值进行校正，具体公式如下所示：
Figure 32432DEST_PATH_IMAGE069
（8）
在上式（8）中，
Figure 35023DEST_PATH_IMAGE070
为校正后的第二深度值，
Figure 823988DEST_PATH_IMAGE071
为第二深度值，
Figure 270144DEST_PATH_IMAGE072
为第二深度值对应的第二深度误差。
S303、将多个周期延拓数组合对应的多个校正后的第一深度值和多个校正后的第二深度值之间的差值确定为多个周期延拓数组合对应的多个融合误差值。
需要说明的是，基于上述公式，融合误差值的计算方式如下式所示：
Figure 511769DEST_PATH_IMAGE073
（9）
在上式（9）中，
Figure 318051DEST_PATH_IMAGE074
为不同周期延拓数组合下的融合误差值，
Figure 227102DEST_PATH_IMAGE075
为第一深度值
Figure 827847DEST_PATH_IMAGE076
、
Figure 822348DEST_PATH_IMAGE077
为第一深度值对应的第一深度误差
Figure 901162DEST_PATH_IMAGE078
；
Figure 664719DEST_PATH_IMAGE079
为第二深度值
Figure 436366DEST_PATH_IMAGE080
、
Figure 167430DEST_PATH_IMAGE081
为第二深度值对应的第二深度误差
Figure 315515DEST_PATH_IMAGE082
。
在本申请实施例中，在得到多个周期延拓数组合对应的多个融合误差值之后，需要根据多个融合误差值确定距目标对象的距离，图4为本申请实施例提供的一种示例性的确定距离方法流程图，如图4所示，具体方法如下：
S401、从多个融合误差值中确定出融合误差值最小的目标融合误差值，并从多个周期延拓数组合中确定出目标融合误差值对应的目标周期延拓数组合。
需要说明的是，根据融合误差最小化的原则，确定最终融合后的第一目标周期延拓数
Figure 933578DEST_PATH_IMAGE083
和第二目标周期延拓数
Figure 141706DEST_PATH_IMAGE084
，计算公式如下：
Figure 845219DEST_PATH_IMAGE085
（10）
S402、确定第一调制频率和第二调制频率中调制频率最大的目标调制频率；并从目标周期延拓数组合中确定目标调制频率对应的目标周期延拓数。
需要说明的是，由于在实际情况中，使用调制频率较大的光信号进行深度测量时的结果更准确，因此，通常将调制频率最大的目标调制频率对应的校正深度值确定为距目标对象的距离。
S403、从各周期延拓数组合对应的第一深度值、第二深度值、第一深度误差和第二深度误差中，查找目标周期延拓数对应的目标深度值和目标深度误差。
需要说明的是，假设第一调制频率
Figure 531416DEST_PATH_IMAGE086
为目标调制频率，则查找
Figure 3985DEST_PATH_IMAGE087
在目标周期延拓数下对应的第一目标深度值
Figure 117435DEST_PATH_IMAGE088
和第一目标深度误差
Figure 308245DEST_PATH_IMAGE089
。
S404、利用目标深度误差对目标深度值进行校正，得到校正后的目标深度值；并将校正后的目标深度值确定为距目标对象的距离。
需要说明的是，在得到第一目标深度值
Figure 548864DEST_PATH_IMAGE090
和第一目标深度误差
Figure 141520DEST_PATH_IMAGE091
之后，通过如下公式计算校正深度值：
Figure 691450DEST_PATH_IMAGE092
（11）
在上式（11）中，理论上来讲，第一调制频率和第二调制频率都是用来测量目标对象的距离
Figure 103977DEST_PATH_IMAGE093
的，因此第一目标深度值和第一目标深度误差之和与第二目标深度值和第二目标深度误差之和相同，但是在实际情况中，两者会有些许差距。
本申请实施例提供了一种深度测量方法，该方法包括：利用第一调制频率和第二调制频率对目标对象进行深度测量，得到第一深度测量值和第二深度测量值；确定第一调制频率和第二调制频率对应的多个周期延拓数组合，并根据多个周期延拓数组合，分别对第一深度测量值和第二深度测量值进行周期延拓，得到各周期延拓数组合对应的第一深度值和第二深度值；从第一调制频率对应的第一预设深度误差集合中，获取各第一深度值对应的第一深度误差；从第二调制频率对应的第二预设深度误差集合中，获取各第二深度值对应的第二深度误差；分别基于各周期延拓数组合对应的第一深度值、第二深度值、第一深度误差和第二深度误差，计算多个周期延拓数组合对应的多个融合误差值；并根据多个融合误差值确定距目标对象的距离；采用上述实现方案，通过标定不同调制频率在不同深度值处产生的深度误差，并在多频融合的过程中除深度周期延拓外加入该深度误差项，来提高计算不同频率之间深度融合误差的精度，最终提升深度融合的准确率，使得利用TOF系统进行测距时的准确性提高。
基于上述实施例，本申请给出了一种示例性的实现方式，具体步骤如下：
1、分别标定第一调制频率
Figure 131975DEST_PATH_IMAGE094
和第二调制频率
Figure 579137DEST_PATH_IMAGE095
在不同深度测量值
Figure 299969DEST_PATH_IMAGE016
处的深度误差
Figure 465371DEST_PATH_IMAGE096
和
Figure 297060DEST_PATH_IMAGE097
；
2、根据本申请中的公式（2）分别计算第一调制频率
Figure 847996DEST_PATH_IMAGE025
和第二调制频率
Figure 739729DEST_PATH_IMAGE026
对应的最大无混叠深度值
Figure 126848DEST_PATH_IMAGE098
和
Figure 496650DEST_PATH_IMAGE099
；
3、根据第一调制频率
Figure 918404DEST_PATH_IMAGE094
和第二调制频率
Figure 981037DEST_PATH_IMAGE100
的最大公约数
Figure 855453DEST_PATH_IMAGE101
或者预设最大测量深度值
Figure 294524DEST_PATH_IMAGE102
，分别确定第一调制频率
Figure 570785DEST_PATH_IMAGE103
和第二调制频率
Figure 538741DEST_PATH_IMAGE031
对应的第一最大周期延拓数
Figure 651184DEST_PATH_IMAGE104
和第二最大周期延拓数
Figure 362788DEST_PATH_IMAGE105
：
（1）若采用最大公约数约束，则第一调制频率
Figure 759135DEST_PATH_IMAGE103
和第二调制频率
Figure 163571DEST_PATH_IMAGE031
的最大融合深度值不超过
Figure 12579DEST_PATH_IMAGE106
，假设
Figure 527874DEST_PATH_IMAGE025
=60MHz、
Figure 513147DEST_PATH_IMAGE026
=40MHz，则
Figure 88485DEST_PATH_IMAGE107
=20MHz，根据公式（2），最大融合深度值不超过7500mm。根据最大融合深度值和单一频率的最大无混叠深度值，最大周期延拓数
Figure 424788DEST_PATH_IMAGE108
和第二最大周期延拓数
Figure 993042DEST_PATH_IMAGE109
的计算公式如本申请中的公式（5）所示；
（2）若采用最大预置深度约束，最大周期延拓数
Figure 98401DEST_PATH_IMAGE037
和第二最大周期延拓数
Figure 844640DEST_PATH_IMAGE110
的计算公式如本申请中的公式（6）所示；
4、根据步骤1确定的深度误差
Figure 402660DEST_PATH_IMAGE111
和
Figure 525337DEST_PATH_IMAGE112
、步骤3确定的第一最大周期延拓数
Figure 485203DEST_PATH_IMAGE113
和第二最大周期延拓数
Figure 402343DEST_PATH_IMAGE114
、以及第一调制频率
Figure 713239DEST_PATH_IMAGE103
和第二调制频率
Figure 108448DEST_PATH_IMAGE031
的深度测量值
Figure 673553DEST_PATH_IMAGE115
和
Figure 27174DEST_PATH_IMAGE116
，计算第一周期延拓数和第二周期延拓数不同组合
Figure 559786DEST_PATH_IMAGE117
下的融合误差
Figure 758687DEST_PATH_IMAGE074
，如本申请中的公式（9）所示；
5、根据融合误差最小化的原则，确定最终融合后的第一目标周期延拓数
Figure 693145DEST_PATH_IMAGE083
和第二目标周期延拓数
Figure 217667DEST_PATH_IMAGE118
，其计算公式如本申请中的公式（10）所示；
6、根据步骤5确定的第一目标周期延拓数
Figure 706417DEST_PATH_IMAGE083
和第二目标周期延拓数
Figure 974587DEST_PATH_IMAGE119
，以及本申请中的公式（11）分别计算第一调制频率
Figure 763552DEST_PATH_IMAGE033
和第二调制频率
Figure 442664DEST_PATH_IMAGE120
对应的真实深度值
Figure 949868DEST_PATH_IMAGE121
和
Figure 756150DEST_PATH_IMAGE122
，通常采用频率较高的深度值作为最终融合深度值。
基于上述实施例，在本申请的另一实施例中，提供了一种深度测量装置1，图5为本申请提供的一种深度测量装置的组成结构示意图，如图5所示，该深度测量装置1包括：
测量单元10，用于利用第一调制频率和第二调制频率对目标对象进行深度测量，得到第一深度测量值和第二深度测量值；
确定单元11，用于确定所述第一调制频率和所述第二调制频率对应的多个周期延拓数组合，并根据所述多个周期延拓数组合，分别对所述第一深度测量值和所述第二深度测量值进行周期延拓，得到各周期延拓数组合对应的第一深度值和第二深度值；
获取单元12，用于从所述第一调制频率对应的第一预设深度误差集合中，获取各所述第一深度值对应的第一深度误差；从所述第二调制频率对应的第二预设深度误差集合中，获取各所述第二深度值对应的第二深度误差；
计算单元13，用于分别基于所述各周期延拓数组合对应的所述第一深度值、所述第二深度值、所述第一深度误差和所述第二深度误差，计算所述多个周期延拓数组合对应的多个融合误差值；并根据所述多个融合误差值确定距所述目标对象的距离。
可选的，所述计算单元13，还用于基于所述第一调制频率和最大公约数的比值，得到所述第一调制频率对应的第一最大周期延拓数；并基于所述第二调制频率和所述最大公约数的比值，得到所述第二调制频率对应的第二最大周期延拓数；所述最大公约数为所述第一调制频率和所述第二调制频率之间的最大公约数；基于所述第一最大周期延拓数和所述第二最大周期延拓数，确定所述第一调制频率和所述第二调制频率对应的多个周期延拓数组合。
可选的，深度测量装置1还包括：数据处理单元；
所述确定单元11，还用于确定所述第一调制频率对应的第一最大无混叠深度值和所述第二调制频率对应的第二最大无混叠深度值；
所述数据处理单元，用于将预设最大测量深度值和所述第一最大无混叠深度值的比值向下取整，得到第一数值，并基于所述第一调制频率和最大公约数的比值，得到第二数值，将所述第一数值与所述第二数值之间最小的数值确定为所述第一调制频率对应的第一最大周期延拓数；所述最大公约数为所述第一调制频率和所述第二调制频率之间的最大公约数；
所述数据处理单元，还用于将所述预设最大测量深度值和所述第二最大无混叠深度值的比值向下取整，得到第三数值，并基于所述第二调制频率和所述最大公约数的比值，得到第四数值，将所述第三数值与所述第四数值之间最小的数值确定为所述第二调制频率对应的第二最大周期延拓数；
所述确定单元11，还用于基于所述第一最大周期延拓数和所述第二最大周期延拓数，确定所述第一调制频率和所述第二调制频率对应的多个周期延拓数组合。
可选的，所述确定单元11，还用于确定所述第一调制频率对应的第一最大无混叠深度值和所述第二调制频率对应的第二最大无混叠深度值；
所述数据处理单元，还用于分别对所述第一深度测量值进行周期数为各第一周期延拓数、且周期深度为所述第一最大无混叠深度值的周期延拓，得到所述各第一周期延拓数对应的第一深度值；所述各第一周期延拓数为所述各周期延拓数组合中所述第一调制频率对应的周期延拓数；
所述数据处理单元，还用于分别对所述第二深度测量值进行周期数为各第二周期延拓数、且周期深度为所述第二最大无混叠深度值的周期延拓，得到所述各第二周期延拓数对应的第二深度值；所述各第二周期延拓数为所述各周期延拓数组合中所述第二调制频率对应的周期延拓数。
可选的，所述数据处理单元，还用于分别利用所述各周期延拓数组合对应的所述第一深度误差对所述第一深度值进行校正，得到所述各周期延拓数组合对应的校正后的第一深度值；
所述数据处理单元，还用于分别利用所述各周期延拓数组合对应的所述第二深度误差对所述第二深度值进行校正，得到所述各周期延拓数组合对应的校正后的第二深度值；
所述确定单元11，还用于将所述多个周期延拓数组合对应的多个校正后的第一深度值和多个校正后的第二深度值之间的差值确定为所述多个周期延拓数组合对应的多个融合误差值。
可选的，深度测量装置1还包括：查找单元；
所述确定单元11，还用于从所述多个融合误差值中确定出融合误差值最小的目标融合误差值，并从所述多个周期延拓数组合中确定出所述目标融合误差值对应的目标周期延拓数组合；
所述确定单元11，还用于确定所述第一调制频率和所述第二调制频率中调制频率最大的目标调制频率；并从所述目标周期延拓数组合中确定所述目标调制频率对应的目标周期延拓数；
所述查找单元，用于从所述各周期延拓数组合对应的所述第一深度值、所述第二深度值、所述第一深度误差和所述第二深度误差中，查找所述目标周期延拓数对应的目标深度值和目标深度误差；
所述数据处理单元，还用于利用所述目标深度误差对所述目标深度值进行校正，得到校正后的目标深度值；并将所述校正后的目标深度值确定为距所述目标对象的距离。
本申请实施例提供了一种深度测量装置，该装置包括：测量单元、确定单元、获取单元和计算单元，其中，测量单元，用于利用第一调制频率和第二调制频率对目标对象进行深度测量，得到第一深度测量值和第二深度测量值；确定单元，用于确定第一调制频率和第二调制频率对应的多个周期延拓数组合，并根据多个周期延拓数组合，分别对第一深度测量值和第二深度测量值进行周期延拓，得到各周期延拓数组合对应的第一深度值和第二深度值；获取单元，用于从第一调制频率对应的第一预设深度误差集合中，获取各第一深度值对应的第一深度误差；从第二调制频率对应的第二预设深度误差集合中，获取各第二深度值对应的第二深度误差；计算单元，用于分别基于各周期延拓数组合对应的第一深度值、第二深度值、第一深度误差和第二深度误差，计算多个周期延拓数组合对应的多个融合误差值；并根据多个融合误差值确定距目标对象的距离；采用上述实现方案，通过标定不同调制频率在不同深度值处产生的深度误差，并在多频融合的过程中除深度周期延拓外加入该深度误差项，来提高计算不同频率之间深度融合误差的精度，最终提升深度融合的准确率，使得利用TOF系统进行测距时的准确性提高。
图6为本申请实施例提供的一种深度测量设备的组成结构示意图，在实际应用中，基于上述实施例的同一公开构思下，如图6所示，本实施例的深度测量设备2包括：处理器20、存储器21及通信总线22。
在具体的实施例的过程中，上述测量单元10、确定单元11、获取单元12、计算单元13、数据处理单元和查找单元可由位于深度测量设备2上的处理器20实现，上述处理器20可以为特定用途集成电路（ASIC，Application Specific Integrated Circuit）、数字信号处理器（DSP，Digital Signal Processor）、数字信号处理图像处理装置（DSPD，DigitalSignal Processing Device）、可编程逻辑图像处理装置（PLD，Programmable LogicDevice）、现场可编程门阵列（FPGA，Field Programmable Gate Array）、CPU、控制器、微控制器、微处理器中的至少一种。可以理解地，对于不同的深度测量设备，用于实现上述处理器功能的电子器件还可以为其它，本实施例不作具体限定。
在本申请实施例中，上述通信总线22用于实现处理器20和存储器21之间的连接通信；上述处理器20执行存储器21中存储的运行程序时实现如下的深度测量方法：
利用第一调制频率和第二调制频率对目标对象进行深度测量，得到第一深度测量值和第二深度测量值；
确定所述第一调制频率和所述第二调制频率对应的多个周期延拓数组合，并根据所述多个周期延拓数组合，分别对所述第一深度测量值和所述第二深度测量值进行周期延拓，得到各周期延拓数组合对应的第一深度值和第二深度值；
从所述第一调制频率对应的第一预设深度误差集合中，获取各所述第一深度值对应的第一深度误差；从所述第二调制频率对应的第二预设深度误差集合中，获取各所述第二深度值对应的第二深度误差；
分别基于所述各周期延拓数组合对应的所述第一深度值、所述第二深度值、所述第一深度误差和所述第二深度误差，计算所述多个周期延拓数组合对应的多个融合误差值；并根据所述多个融合误差值确定距所述目标对象的距离。
可选的，所述处理器20，还用于基于所述第一调制频率和最大公约数的比值，得到所述第一调制频率对应的第一最大周期延拓数；并基于所述第二调制频率和所述最大公约数的比值，得到所述第二调制频率对应的第二最大周期延拓数；所述最大公约数为所述第一调制频率和所述第二调制频率之间的最大公约数；基于所述第一最大周期延拓数和所述第二最大周期延拓数，确定所述第一调制频率和所述第二调制频率对应的多个周期延拓数组合。
可选的，所述处理器20，还用于确定所述第一调制频率对应的第一最大无混叠深度值和所述第二调制频率对应的第二最大无混叠深度值；将预设最大测量深度值和所述第一最大无混叠深度值的比值向下取整，得到第一数值，并基于所述第一调制频率和最大公约数的比值，得到第二数值，将所述第一数值与所述第二数值之间最小的数值确定为所述第一调制频率对应的第一最大周期延拓数；所述最大公约数为所述第一调制频率和所述第二调制频率之间的最大公约数；将所述预设最大测量深度值和所述第二最大无混叠深度值的比值向下取整，得到第三数值，并基于所述第二调制频率和所述最大公约数的比值，得到第四数值，将所述第三数值与所述第四数值之间最小的数值确定为所述第二调制频率对应的第二最大周期延拓数；基于所述第一最大周期延拓数和所述第二最大周期延拓数，确定所述第一调制频率和所述第二调制频率对应的多个周期延拓数组合。
可选的，所述处理器20，还用于确定所述第一调制频率对应的第一最大无混叠深度值和所述第二调制频率对应的第二最大无混叠深度值；分别对所述第一深度测量值进行周期数为各第一周期延拓数、且周期深度为所述第一最大无混叠深度值的周期延拓，得到所述各第一周期延拓数对应的第一深度值；所述各第一周期延拓数为所述各周期延拓数组合中所述第一调制频率对应的周期延拓数；分别对所述第二深度测量值进行周期数为各第二周期延拓数、且周期深度为所述第二最大无混叠深度值的周期延拓，得到所述各第二周期延拓数对应的第二深度值；所述各第二周期延拓数为所述各周期延拓数组合中所述第二调制频率对应的周期延拓数。
可选的，所述处理器20，还用于分别利用所述各周期延拓数组合对应的所述第一深度误差对所述第一深度值进行校正，得到所述各周期延拓数组合对应的校正后的第一深度值；分别利用所述各周期延拓数组合对应的所述第二深度误差对所述第二深度值进行校正，得到所述各周期延拓数组合对应的校正后的第二深度值；将所述多个周期延拓数组合对应的多个校正后的第一深度值和多个校正后的第二深度值之间的差值确定为所述多个周期延拓数组合对应的多个融合误差值。
可选的，所述处理器20，还用于从所述多个融合误差值中确定出融合误差值最小的目标融合误差值，并从所述多个周期延拓数组合中确定出所述目标融合误差值对应的目标周期延拓数组合；确定所述第一调制频率和所述第二调制频率中调制频率最大的目标调制频率；并从所述目标周期延拓数组合中确定所述目标调制频率对应的目标周期延拓数；从所述各周期延拓数组合对应的所述第一深度值、所述第二深度值、所述第一深度误差和所述第二深度误差中，查找所述目标周期延拓数对应的目标深度值和目标深度误差；利用所述目标深度误差对所述目标深度值进行校正，得到校正后的目标深度值；并将所述校正后的目标深度值确定为距所述目标对象的距离。
本申请实施例提供一种存储介质，其上存储有计算机程序，上述计算机可读存储介质存储有一个或者多个程序，上述一个或者多个程序可被一个或者多个处理器执行，应用于深度测量装置中，该计算机程序实现如上述的深度测量方法。
需要说明的是，在本文中，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者装置不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者装置所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括一个……”限定的要素，并不排除在包括该要素的过程、方法、物品或者装置中还存在另外的相同要素。
通过以上的实施方式的描述，本领域的技术人员可以清楚地了解到上述实施例方法可借助软件加必需的通用硬件平台的方式来实现，当然也可以通过硬件，但很多情况下前者是更佳的实施方式。基于这样的理解，本公开的技术方案本质上或者说对相关技术做出贡献的部分可以以软件产品的形式体现出来，该计算机软件产品存储在一个存储介质（如ROM/RAM、磁碟、光盘）中，包括若干指令用以使得一台图像显示设备（可以是手机，计算机，服务器，空调器，或者网络设备等）执行本公开各个实施例所述的深度测量方法。
以上所述，仅为本申请的较佳实施例而已，并非用于限定本申请的保护范围。

Claims (10)

1.一种深度测量方法，其特征在于，所述方法包括：
利用第一调制频率和第二调制频率对目标对象进行深度测量，得到第一深度测量值和第二深度测量值；
确定所述第一调制频率和所述第二调制频率对应的多个周期延拓数组合，并根据所述多个周期延拓数组合，分别对所述第一深度测量值和所述第二深度测量值进行周期延拓，得到各周期延拓数组合对应的第一深度值和第二深度值；
从所述第一调制频率对应的第一预设深度误差集合中，获取各所述第一深度值对应的第一深度误差；从所述第二调制频率对应的第二预设深度误差集合中，获取各所述第二深度值对应的第二深度误差；
分别基于所述各周期延拓数组合对应的所述第一深度值、所述第二深度值、所述第一深度误差和所述第二深度误差，计算所述多个周期延拓数组合对应的多个融合误差值；并根据所述多个融合误差值确定距所述目标对象的距离。
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述确定所述第一调制频率和所述第二调制频率对应的多个周期延拓数组合，包括：
基于所述第一调制频率和最大公约数的比值，得到所述第一调制频率对应的第一最大周期延拓数；并基于所述第二调制频率和所述最大公约数的比值，得到所述第二调制频率对应的第二最大周期延拓数；所述最大公约数为所述第一调制频率和所述第二调制频率之间的最大公约数；
基于所述第一最大周期延拓数和所述第二最大周期延拓数，确定所述第一调制频率和所述第二调制频率对应的多个周期延拓数组合。
3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述确定所述第一调制频率和所述第二调制频率对应的多个周期延拓数组合，包括：
确定所述第一调制频率对应的第一最大无混叠深度值和所述第二调制频率对应的第二最大无混叠深度值；
将预设最大测量深度值和所述第一最大无混叠深度值的比值向下取整，得到第一数值，并基于所述第一调制频率和最大公约数的比值，得到第二数值，将所述第一数值与所述第二数值之间最小的数值确定为所述第一调制频率对应的第一最大周期延拓数；所述最大公约数为所述第一调制频率和所述第二调制频率之间的最大公约数；
将所述预设最大测量深度值和所述第二最大无混叠深度值的比值向下取整，得到第三数值，并基于所述第二调制频率和所述最大公约数的比值，得到第四数值，将所述第三数值与所述第四数值之间最小的数值确定为所述第二调制频率对应的第二最大周期延拓数；
基于所述第一最大周期延拓数和所述第二最大周期延拓数，确定所述第一调制频率和所述第二调制频率对应的多个周期延拓数组合。
4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述多个周期延拓数组合，分别对所述第一深度测量值和所述第二深度测量值进行周期延拓，得到各周期延拓数组合对应的第一深度值和第二深度值，包括：
确定所述第一调制频率对应的第一最大无混叠深度值和所述第二调制频率对应的第二最大无混叠深度值；
分别对所述第一深度测量值进行周期数为各第一周期延拓数、且周期深度为所述第一最大无混叠深度值的周期延拓，得到所述各第一周期延拓数对应的第一深度值；所述各第一周期延拓数为所述各周期延拓数组合中所述第一调制频率对应的周期延拓数；
分别对所述第二深度测量值进行周期数为各第二周期延拓数、且周期深度为所述第二最大无混叠深度值的周期延拓，得到所述各第二周期延拓数对应的第二深度值；所述各第二周期延拓数为所述各周期延拓数组合中所述第二调制频率对应的周期延拓数。
5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述分别基于所述各周期延拓数组合对应的所述第一深度值、所述第二深度值、所述第一深度误差和所述第二深度误差，计算所述多个周期延拓数组合对应的多个融合误差值，包括：
分别利用所述各周期延拓数组合对应的所述第一深度误差对所述第一深度值进行校正，得到所述各周期延拓数组合对应的校正后的第一深度值；
分别利用所述各周期延拓数组合对应的所述第二深度误差对所述第二深度值进行校正，得到所述各周期延拓数组合对应的校正后的第二深度值；
将所述多个周期延拓数组合对应的多个校正后的第一深度值和多个校正后的第二深度值之间的差值确定为所述多个周期延拓数组合对应的多个融合误差值。
6.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述多个融合误差值确定距所述目标对象的距离，包括：
从所述多个融合误差值中确定出融合误差值最小的目标融合误差值，并从所述多个周期延拓数组合中确定出所述目标融合误差值对应的目标周期延拓数组合；
确定所述第一调制频率和所述第二调制频率中调制频率最大的目标调制频率；并从所述目标周期延拓数组合中确定所述目标调制频率对应的目标周期延拓数；
从所述各周期延拓数组合对应的所述第一深度值、所述第二深度值、所述第一深度误差和所述第二深度误差中，查找所述目标周期延拓数对应的目标深度值和目标深度误差；
利用所述目标深度误差对所述目标深度值进行校正，得到校正后的目标深度值；并将所述校正后的目标深度值确定为距所述目标对象的距离。
7.一种深度测量装置，其特征在于，所述装置包括：
测量单元，用于利用第一调制频率和第二调制频率对目标对象进行深度测量，得到第一深度测量值和第二深度测量值；
确定单元，用于确定所述第一调制频率和所述第二调制频率对应的多个周期延拓数组合，并根据所述多个周期延拓数组合，分别对所述第一深度测量值和所述第二深度测量值进行周期延拓，得到各周期延拓数组合对应的第一深度值和第二深度值；
获取单元，用于从所述第一调制频率对应的第一预设深度误差集合中，获取各所述第一深度值对应的第一深度误差；从所述第二调制频率对应的第二预设深度误差集合中，获取各所述第二深度值对应的第二深度误差；
计算单元，用于分别基于所述各周期延拓数组合对应的所述第一深度值、所述第二深度值、所述第一深度误差和所述第二深度误差，计算所述多个周期延拓数组合对应的多个融合误差值；并根据所述多个融合误差值确定距所述目标对象的距离。
8.根据权利要求7所述的装置，其特征在于，所述计算单元，还用于基于所述第一调制频率和最大公约数的比值，得到所述第一调制频率对应的第一最大周期延拓数；并基于所述第二调制频率和所述最大公约数的比值，得到所述第二调制频率对应的第二最大周期延拓数；所述最大公约数为所述第一调制频率和所述第二调制频率之间的最大公约数；基于所述第一最大周期延拓数和所述第二最大周期延拓数，确定所述第一调制频率和所述第二调制频率对应的多个周期延拓数组合。
9.一种深度测量设备，其特征在于，所述设备包括：处理器、存储器及通信总线；所述处理器执行存储器存储的运行程序时实现如权利要求1-6任一项所述的方法。
10.一种存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，该计算机程序被处理器执行时实现如权利要求1-6任一项所述的方法。
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