CN110186387A - 深度的检测方法、装置和系统 - Google Patents
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Abstract
本申请提供了一种深度的检测方法、装置和系统，该方法包括：控制依次发射多种调制光，任意两种调制光对应的发射时间段具有间隔，多种调制光的频率均不同，多种调制光中，频率较大的调制光的振幅小于频率较小的调制光的振幅；根据多种调制光获取多个相位差，相位差为调制光的相位和对应的反射光的相位的差，反射光为调制光经过被测对象反射形成的；根据多个相位差计算被测对象的深度。该方法利用多种频率不同且振幅不同调制光来获取被测对象的深度，被测对象的深度可能是多种调制光对应的深度的平均值，也有可能是多种调制光对应的深度中的相同值，因而得到的深度更加准确。
Description
技术领域
本申请涉及构建深度图像领域，具体而言，涉及一种深度的检测方法、装置和系统。
背景技术
飞行时间(Time of flight，简称TOF)测距是一种通过TOF传感器估算场景反射光返回成像镜头的时间或者相位变化从而构建深度图的技术。在当前手机领域中是用于AR、VR等虚拟现实体验以及人脸识别等生物识别应用的重要技术。
TOF装置一般包括光源和感测相机，其中，光源用于向场景发射脉冲光或者连续光。光源所发射的光从目标物体反射回到感测相机中。在这一过程中，光从光源到达目标物体再从目标物体返回感测相机的时间差或者相位变化，时间差或者相位差将反映目标物体中各个位置的距离，也就是深度信息。深度信息结合传统相机拍摄得到的图像就可以构建目标物体的 3D模型，或者用于生物识别的人脸模型等。
利用TOF构建深度图像的方法有着硬件成本和功耗较低，反应速度快的优点，但其还存在检测距离短，深度检测精度低以及分辨率低等缺陷。
在背景技术部分中公开的以上信息只是用来加强对本文所描述技术的背景技术的理解，因此，背景技术中可能包含某些信息，这些信息对于本领域技术人员来说并未形成在本国已知的现有技术。
发明内容
本申请的主要目的在于提供一种深度的检测方法、装置和系统，以解决现有技术中的利用TOF构建计算深度的准确性较差的问题。
为了实现所述目的，根据本申请的一种深度的检测方法，包括：控制依次发射多种调制光，任意两种所述调制光对应的发射时间段具有间隔，多种所述调制光的频率均不同，多种所述调制光中，频率较大的所述调制光的振幅小于频率较小的所述调制光的振幅；根据多种所述调制光获取多个相位差，所述相位差为所述调制光的相位和对应的反射光的相位的差，所述反射光为所述调制光经过被测对象反射形成的；根据多个所述相位差计算所述被测对象的深度。
进一步地，各种所述调制光的发射时间段大于或等于100T，其中，T为对应的所述调制光的周期，不同的所述调制光对应的T相同或者不同，获取各所述相位差包括：在所述反射光的每个周期内以预定时间间隔t接收各种所述反射光至少三次，T/4≤t≤T/3；根据接收的至少三次各种所述反射光计算所述相位差。
进一步地，根据多个所述相位差计算所述被测对象的深度，包括：根据各所述相位差计算对应的一组预测深度，得到多组所述预测深度，各组所述预测深度包括多个不同的预测深度，且任意两个所述预测深度之间的差值为nλ/2，其中，n为正整数；比较各组所述预测深度，将多组预测深度中相同预测深度作为所述被测对象的深度。
进一步地，在获取多个所述相位差之前，所述方法还包括：获取在时间上相邻的任意两种所述调制光的振幅的第一比值以及对应的两种所述反射光的振幅的第二比值，在所述第一比值与所述第二比值的差值在预定范围内的情况下，根据所述调制光和对应的所述反射光获取所述相位差。
进一步地，所述第一比值对应的两种所述调制光为第一调制光，在获取多个所述相位差之前，所述方法还包括：在所述第一比值与所述第二比值的差值不在所述预定范围内的情况下，控制发射多种第二调制光，所述第二调制光的振幅与所述第一调制光的振幅不同或所述第二调制光的频率与所述第一调制光的频率不同。
根据本申请的另一方面，提供了一种深度的检测装置，包括：控制单元，用于控制依次发射多种调制光，任意两种所述调制光对应的发射时间段具有间隔，多种所述调制光的频率均不同，多种所述调制光中，频率较大的所述调制光的振幅小于频率较小的所述调制光的振幅；获取单元，用于根据多种所述调制光获取多个相位差，所述相位差为所述调制光的相位和对应的反射光的相位的差，所述反射光为所述调制光经过被测对象反射形成的；计算单元，用于根据多个所述相位差计算所述被测对象的深度。
根据本申请的又一方面，提供了一种深度的检测系统，包括：光源装置，用于依次发射多种调制光，任意两种所述调制光对应的发射时间段具有间隔，多种所述调制光的频率均不同，多种所述调制光中，频率较大的所述调制光的振幅小于频率较小的所述调制光的振幅；接收装置，用于接收多种所述调制光经被测对象反射形成的反射光；处理装置，与所述接收装置电连接，所述处理装置用于根据多种所述调制光以及对应的所述反射光的相位差计算所述被测对象的深度。
进一步地，所述光源装置包括：光源，用于发射预定光；调制单元，位于所述光源的一侧，所述调制单元用于所述预定光进行调制，得到多种所述调制光。
进一步地，所述光源装置包括：定时器，与所述调制单元电连接，所述定时器用于控制所述调制单元的工作。
进一步地，所述光源为红外VCSEL激光器。
应用本申请的技术方案，所述深度的检测方法中，首先，控制依次发射多种调制光，任意两种所述调制光对应的发射时间段具有间隔，且多种所述调制光的频率均不同，频率越大的所述调制光的振幅小于频率小的所述调制光的振幅；然后，根据多种调制光获取多个相位差，相位差为调制光的相位和对应的反射光的相位的差，反射光为所述调制光经过被测对象反射形成的，多个相位差对应的多种调制光的频率和/或振幅不同，且多种调制光的发射时间间隔；最后，根据多个相位差计算被测对象的深度。
相比现有技术中的只利用一种调制光来获取被测对象的深度的方法来说，该方法利用多种频率不同且振幅不同调制光来获取被测对象的深度，被测对象的深度可能是多种调制光对应的深度的平均值，也有可能是多种调制光对应的深度中的相同值，因而得到的深度更加准确。并且，该方法中，多种调制光依次发射，且发射的时间段不重合，保证了不同的调制光之间互不影响，从而进一步保证了得到的对应的相位差的准确性进一步保证了检测得到的深度的准确性；另外，多种调制光中，频率较小的调制光对应的振幅较大频率较小的调制光对应的振幅较大，这样能够保证多种调制光能够适用于不同深度的被测对象的检测，保证了该测试方法可以适用于多个不同深度的被测对象的检测，使得该方法能够广泛地应用于多种场景中。
附图说明
构成本申请的一部分的说明书附图用来提供对本申请的进一步理解，本申请的示意性实施例及其说明用于解释本申请，并不构成对本申请的不当限定。在附图中：
图1示出了根据本申请的第一实施例的深度的检测方法的流程示意图；
图2示出了根据本申请的第十一实施例的深度的检测方法的结构示意图；以及
图3示出了根据本申请的第二十一实施例的深度的检测系统的结构示意图。
具体实施方式
需要说明的是，在不冲突的情况下，本申请中的实施例及实施例中的特征可以相互组合。下面将参考附图并结合实施例来详细说明本申请。
为了使本技术领域的人员更好地理解本申请方案，下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本申请一部分的实施例，而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都应当属于本申请保护的范围。
需要说明的是，本申请的说明书和权利要求书及上述附图中的术语“第一”、“第二”等是用于区别类似的对象，而不必用于描述特定的顺序或先后次序。应该理解这样使用的数据在适当情况下可以互换，以便这里描述的本申请的实施例。此外，术语“包括”和“具有”以及他们的任何变形，意图在于覆盖不排他的包含，例如，包含了一系列步骤或单元的过程、方法、系统、产品或设备不必限于清楚地列出的那些步骤或单元，而是可包括没有清楚地列出的或对于这些过程、方法、产品或设备固有的其它步骤或单元。
应该理解的是，当元件(诸如层、膜、区域、或衬底)描述为在另一元件“上”时，该元件可直接在该另一元件上，或者也可存在中间元件。而且，在说明书以及权利要求书中，当描述有元件“连接”至另一元件时，该元件可“直接连接”至该另一元件，或者通过第三元件“连接”至该另一元件。
正如背景技术所介绍的，现有技术中利用TOF构建计算深度的准确性较差，为了解决这一问题，根据本申请的第一实施例，提供了一种深度的检测方法。
图1是根据本申请第一实施例的深度的检测方法的流程图。如图1所示，该方法包括以下步骤：
步骤S101，控制依次发射多种调制光，任意两种上述调制光对应的发射时间段具有间隔，多种上述调制光的频率均不同，多种上述调制光中，频率较大的上述调制光的振幅小于频率较小的上述调制光的振幅；
步骤S102，根据多种上述调制光获取多个相位差，上述相位差为调制光的相位和对应的反射光的相位的差，上述反射光为上述调制光经过被测对象反射形成的，多个上述相位差对应的多种上述调制光的频率和/或振幅不同，即多个相位差的对应的多种调制光仅频率不同，或者对应的多种调制光仅振幅不同，又或者对应的调制光的频率和振幅均不同，且多种上述调制光的发射时间间隔；
步骤S103，根据多个上述相位差计算上述被测对象的深度。
上述深度的检测方法中，首先，控制依次发射多种调制光，任意两种上述调制光对应的发射时间段具有间隔，多种上述调制光的频率均不同，多种上述调制光中，频率较大的上述调制光的振幅小于频率较小的上述调制光的振幅；然后，根据多种调制光获取多个相位差，相位差为调制光的相位和对应的反射光的相位的差，反射光为上述调制光经过被测对象反射形成的，多个相位差对应的多种调制光的频率和/或振幅不同，且多种调制光的发射时间间隔；最后，根据多个相位差计算被测对象的深度。
相比现有技术中的只利用一种调制光来获取被测对象的深度的方法来说，该方法利用多种频率不同且振幅不同调制光来获取被测对象的深度，被测对象的深度可能是多种调制光对应的深度的平均值，也有可能是多种调制光对应的深度中的相同值，因而得到的深度更加准确。并且，该方法中，多种调制光依次发射，且发射的时间段不重合，保证了不同的调制光之间互不影响，从而进一步保证了得到的对应的相位差的准确性进一步保证了检测得到的深度的准确性，缓解了现有技术中的利用TOF构建计算深度方法的准确性较差的问题；另外，多种调制光中，频率较小的调制光对应的振幅较大频率较小的调制光对应的振幅较大，这样能够保证多种调制光能够适用于不同深度的被测对象的检测，保证了该测试方法可以适用于多个不同深度的被测对象的检测，使得该方法能够广泛地应用于多种场景中。
需要说明的是，在附图的流程图示出的步骤可以在诸如一组计算机可执行指令的计算机系统中执行，并且，虽然在流程图中示出了逻辑顺序，但是在某些情况下，可以以不同于此处的顺序执行所示出或描述的步骤。
还需要说明的是，本申请的不同频率且不同振幅的调制光可以是同一频率和振幅的光经过调制得到的，当然，不同频率且振幅的调制光也并不限于上述的获取方法，还可以是多个激光器发出的多种不同频率和振幅的光，即发出多种不同的调制光，本领域技术人员也可以根据实际情况选择合适的方法。
在实际的检测过程中，为了准确地计算得到多个相位差，本申请的第二实施例中，各种上述调制光的发射时间段大于或等于100T，其中，T为对应的上述调制光的周期，不同的上述调制光对应的T相同或者不同，获取各上述相位差包括：在上述反射光的每个周期内以预定时间间隔t接收各种反射光至少三次，T/4≤t≤T/3；根据接收的至少三次各种上述反射光计算上述相位差。一般来说，调制光的波形函数是已知的，即调制光的相位是已知的，假设调制光的波形函数的公式为r(x)＝sin2πfx，θ为相位差，则反射光的波形函数的公式可以为 r(x)＝C1+C2sin(2πfx+θ)，其中，x表示自变量时间，未知变量为C1，C2，θ，因此，可以通过至少三次测量来求解未知量C1，C2，θ，从而计算得出相位差θ。
上述的方案中，预定时间间隔t小于等于调制光的波形函数的周期T的1/3可以保证在发射时长内接收反射光至少三次，预定时间间隔t大于等于调制光的波形函数的周期T的1/4可以保证接收的反射光的光强r(x)都不相同，避免接收的反射光的光强r(x)相同或相近，提高相位差计算的准确度。将至少三次接收的反射光的波形函数进行分析，可以获得至少三组的时间点x和其对应的光强r(x)的值，代入公式r(x)＝C1+C2sin(2πfx+θ)中，计算得到相位差θ。
当然，如果多种调制光的频率不同，那么对应的周期不同，对应的预定时间间隔也可能不同。
在实际的检测过程中，获取多个相位差的方法不仅仅限于上述实施方式，本申请的第三实施例中，获取各上述相位差包括：获取各种上述调制光的相位；获取各种上述调制光经过被测对象的反射光的相位；根据各种上述调制光的相位和对应的反射光的相位计算各上述相位差。
为了提高检测的效率，本申请的第四实施例中，该方法中，获取两个相位差，后续根据两个相位差来计算被测对象的深度。
为了进一步保证获得准确的被测对象的深度，从而提高深度检测的精确度，本申请的第五实施例中，根据多个上述相位差计算上述被测对象的深度，包括：根据各上述相位差计算对应的一组预测深度，得到多组上述预测深度，各组上述预测深度包括多个不同的预测深度，且任意两个上述预测深度之间的差值为nλ/2，其中，n为正整数；比较各组上述预测深度，将多组预测深度中相同预测深度作为上述被测对象的深度。
具体地，每种调制光和其反射光对应一个相位差，每个相位差对应一组预测深度，被测对象经过多种调制光进行深度检测可以得到多组预测深度，比较各组预测深度，将多组预测深度中相同预测深度作为被测对象的深度。其中，预测深度的公式如下，例如，当λ＝2m，θ＝π时，预测深度可以为0.5m、1.5m、2.5m、…，当λ＝3m，θ＝2π时，预测深度可以为1.5m、3m、4.5m、…，比较得到相同预测深度有1.5m、4.5m和7.5m等等，为了减少被测对象的预测深度的相同值，还应该增加一种或者两种调制光，以确定被测对象的深度。
本申请的第六实施例中，在获取多个上述相位差之前，上述方法还包括：获取时间上相邻的两种上述调制光的振幅的第一比值以及对应的两种上述反射光的振幅的第二比值，在上述第一比值与上述第二比值的差值在预定范围内的情况下，根据上述调制光和对应的上述反射光获取上述相位差。第一比值与第二比值的差值在预定的范围内就说明外界的环境光较弱，且调制光并未发生抖动等情况，这样能够进一步保证该检测方法得到的检测结果的准确性。
需要说明的是，本申请的第一比值和第二比值的差值就是指第一比值减去第二比值得到的计算结果。
在实际的应用过程中，第一比值和第二比值的差值可能不在预定范围内，为了保证这种情况也能得到准确的检测结果，本申请的第七实施例中，在上述第一比值与上述第二比值的差值不在上述预定范围内的情况下，调节上述调制光的频率和振幅中的一个。
当然，在实际的应用过程中，有时候会出现环境光过强的情况，这时候对应的第一比值和第二比值的差值较大，大于预定范围的最大值，即大于第一预定阈值，为了在这种情况下，保证检测结果的准确定，本申请的第八实施例中，调节上述调制光的频率和振幅中的一个包括：增大上述调制光的振幅，保持上述调制光的频率不变。这样通过保持频率不变，增大振幅的方式来提高反射信号相对于背景的强度，从而降低误差，保证检测结果的准确性。
当然，有时候第一比值和第二比值的差值也有可能小于预定范围的最小值，即小于第二预定阈值，这种情况可能是由于发出调制光的设备发生了抖动或者被测对象发生移动等情况，为了进一步保证这种情况下的检测的准确性，本申请的第九实施例中，调节上述调制光的频率和振幅中的一个包括：增大上述调制光的频率，保持上述调制光的振幅不变。这样可以通过频率更高的调制光来降低抖动等造成的误差，进一步保证了检测的准确性。
当然，调节后的上述调制光对应的第一比值和第二比值的差值仍大于第一预定阈值的情况中，继续增大调制光的振幅，直到第一比值和第二比值的差值在预定范围内。在调节后的调制光对应的第一比值和第二比值的差值仍小于第二预定阈值的情况中，继续增大调制光的频率，直到第一比值和第二比值的差值在预定范围内。
为了进一步保证检测结果的准确性，本申请的第十实施例中，在控制依次发出多种调制光之前，上述方法还包括：预测上述被检测对象的深度，得到预测深度；根据预测深度确定多种上述调制光的频率和振幅。根据待测物体的预测深度的不同，即与调制光的发出位置的距离不同，对应的检测深度的调制光的频率和振幅也不同，一般来说，待测物体的深度越大，需要用于检测的调制光的频率越低且振幅越大，待测物体的深度越小，需要用于检测的调制光的频率越高且振幅越小。
本申请的第十一实施例还提供了一种深度的检测装置，需要说明的是，本申请实施例的深度的检测装置可以用于执行本申请实施例所提供的深度的检测方法。以下对本申请的第十一实施例提供的深度的检测装置进行介绍。
图2是根据本申请的第十一实施例的深度的检测装置的示意图。如图2所示，该装置包括：
控制单元10，用于控制依次发射多种调制光，任意两种上述调制光对应的发射时间段具有间隔，多种上述调制光的频率均不同，多种上述调制光中，频率较大的上述调制光的振幅小于频率较小的上述调制光的振幅；
获取单元20，用于根据多种上述调制光获取多个相位差，各上述相位差为调制光的相位和对应的反射光的相位的差，上述反射光为上述调制光经过被测对象反射形成的；
计算单元30，用于根据多个上述相位差计算上述被测对象的深度。
上述深度的检测装置中，控制单元控制依次发射多种调制光，任意两种上述调制光对应的发射时间段具有间隔，多种上述调制光的频率均不同，多种上述调制光中，频率较大的上述调制光的振幅小于频率较小的上述调制光的振幅；获取单元获取多种调制光的相位和对应的反射光的相位的差，即获取多个相位差，这多个相位差的对应的多种调制光的频率和/或振幅不同；计算单元根据多个相位差计算被测对象的深度。
相比现有技术中的只利用一种调制光来获取被测对象的深度的装置来说，该装置利用多种频率不同且振幅不同调制光来获取被测对象的深度，被测对象的深度可能是多种调制光对应的深度的平均值，也有可能是多种调制光对应的深度中的相同值，因而得到的深度更加准确。并且，该装置中，多种调制光依次发射，且发射的时间段不重合，保证了不同的调制光之间互不影响，从而进一步保证了得到的对应的相位差的准确性进一步保证了检测得到的深度的准确性；另外，多种调制光中，频率较小的调制光对应的振幅较大频率较小的调制光对应的振幅较大，这样能够保证多种调制光能够适用于不同深度的被测对象的检测，保证了该测试装置可以适用于多个不同深度的被测对象的检测，使得该装置能够广泛地应用于多种场景中。
还需要说明的是，本申请的不同频率且不同振幅的调制光可以是同一频率和振幅的光经过调制得到的，当然，不同频率且振幅的调制光也并不限于上述的获取方法，还可以是多个激光器发出的多种不同频率和振幅的光，即发出多种不同的调制光，本领域技术人员也可以根据实际情况选择合适的方法。
在实际的检测过程中，为了准确地计算得到多个相位差，本申请的第十二实施例中，各种上述调制光的发射时间段大于或等于100T，其中，T为对应的上述调制光的周期，不同的上述调制光对应的T相同或者不同，获取单元包括接收模块和第一计算模块，其中，接收模块用于在上述反射光的每个周期内以预定时间间隔t接收各种反射光至少三次，T/4≤t≤T/3；第一计算模块用于根据接收的至少三次各种上述反射光计算上述相位差。一般来说，调制光的波形函数是已知的，即调制光的相位是已知的，假设调制光的波形函数的公式为r(x)＝sin2πfx，θ为相位差，则反射光的波形函数的公式可以为r(x)＝C1+C2sin(2πfxθ)，其中，x表示自变量时间，未知变量为C1，C2，θ，因此，可以通过至少三次测量来求解未知量C1，C2，θ，从而计算得出相位差θ。
上述的方案中，预定时间间隔t小于等于调制光的波形函数的周期T的1/3可以保证在发射时长内接收反射光至少三次，预定时间间隔t大于或者等于调制光的波形函数的周期T的 1/4可以保证接收的反射光的光强r(x)都不相同，避免接收的反射光的光强r(x)相同或相近，提高相位差计算的准确度。将至少三次接收的反射光的波形函数进行分析，可以获得至少三组的时间点x和其对应的光强r(x)的值，代入公式r(x)＝C1+C2sin(2πfx+θ)中，计算得到相位差θ。
当然，如果多种调制光的频率不同，那么对应的周期不同，对应的预定时间间隔也可能不同。
在实际的检测过程中，获取单元并不限于包括获取模块和第一计算模块，本申请的第十三实施例中，获取单元包括获取模块和第二计算模块，其中，获取模块用于获取各种上述调制光的相位；获取模块还用于获取各种上述调制光经过被测对象的反射光的相位；第二计算模块用于根据各种上述调制光的相位和对应的反射光的相位计算各上述相位差。
为了提高检测的效率，本申请的第十四实施例中，上述装置中，获取单元用于获取两个相位差，后续根据两个相位差来计算被测对象的深度。
为了进一步保证获得准确的被测对象的深度，从而提高深度检测的精确度，本申请的第十五实施例中，计算单元包括第三计算模块和确定模块，其中，第三计算模块用于根据各上述相位差计算对应的一组预测深度，得到多组上述预测深度，各组上述预测深度包括多个不同的预测深度，且任意两个上述预测深度之间的差值为nλ/2，其中，n为正整数；确定模块用于比较各组上述预测深度，将多组预测深度中相同预测深度作为上述被测对象的深度。
具体地，每种调制光和其反射光对应一个相位差，每个相位差对应一组预测深度，被测对象经过多种调制光进行深度检测可以得到多组预测深度，比较各组预测深度，将多组预测深度中相同预测深度作为被测对象的深度。其中，预测深度的公式如下，例如，当λ＝2m，θ＝π时，预测深度可以为0.5m、1.5m、2.5m、…，当λ＝3m，θ＝2π时，预测深度可以为1.5m、3m、4.5m、…，比较得到相同预测深度有1.5m、4.5m和7.5m等等，为了减少被测对象的预测深度的相同值，还应该增加一种或者两种调制光，以确定被测对象的深度。
为了将环境造成的误差控制在正常范围内，从而使得检测得到的深度更加准确，本申请的第十六实施例中，上述计算单元还包括第四计算模块，第四计算模块用于计算时间上相邻的两种上述调制光的振幅的第一比值以及对应的两种上述反射光的振幅的第二比值，在上述第一比值与上述第二比值的差值在预定范围内的情况下，获取单元根据上述调制光和对应的上述反射光获取上述相位差。第一比值与第二比值的差值在预定的范围内就说明外界的环境光较弱，且调制光并未发生抖动等情况，这样能够进一步保证该检测装置得到的检测结果的准确性。
需要说明的是，本申请的第一比值和第二比值的差值就是指第一比值减去第二比值得到的计算结果。
在实际的应用过程中，第一比值和第二比值的差值可能不在预定范围内，为了保证这种情况也能得到准确的检测结果，本申请的第十七实施例中，上述控制单元还用于在上述第一比值与上述第二比值的差值不在上述预定范围内的情况下，调节上述调制光的频率和振幅中的一个。
当然，在实际的应用过程中，有时候会出现环境光过强的情况，这时候对应的第一比值和第二比值的差值较大，大于预定范围的最大值，即大于第一预定阈值，为了在这种情况下，保证检测结果的准确定，本申请的第十八实施例中，上述控制单元还用于调节上述调制光的频率和振幅中的一个包括：增大上述调制光的振幅，保持上述调制光的频率不变。这样通过保持频率不变，增大振幅的方式来提高反射信号相对于背景的强度，从而降低误差，保证检测结果的准确性。
当然，有时候第一比值和第二比值的差值也有可能小于预定范围的最小值，即小于第二预定阈值，这种情况可能是由于发出调制光的设备发生了抖动或者被测对象发生移动等情况，为了进一步保证这种情况下的检测的准确性，本申请的第十九实施例中，上述装置中的控制单元还用于调节上述调制光的频率和振幅中的一个包括：增大上述调制光的频率，保持上述调制光的振幅不变。这样可以通过频率更高的调制光来降低抖动等造成的误差，进一步保证了检测的准确性。
当然，调节后的上述调制光对应的第一比值和第二比值的差值仍大于第一预定阈值的情况中，控制单元继续增大调制光的振幅，直到第一比值和第二比值的差值在预定范围内。在调节后的调制光对应的第一比值和第二比值的差值仍小于第二预定阈值的情况中，控制单元继续增大调制光的频率，直到第一比值和第二比值的差值在预定范围内。
为了进一步保证检测结果的准确性，本申请的第二十实施例中，上述装置还包括预测单元和确定单元，其中，预测单元用于在控制依次发出多种调制光之前，预测上述被检测对象的深度，得到预测深度；确定单元用于根据预测深度确定多种上述调制光的频率和振幅。根据待测物体的预测深度的不同，即与调制光的发出位置的距离不同，对应的检测深度的调制光的频率和振幅也不同，一般来说，待测物体的深度越大，需要用于检测的调制光的频率越低且振幅越大，待测物体的深度越小，需要用于检测的调制光的频率越高且振幅越小。
本申请的第二十一实施例还提供了一种深度的检测系统，需要说明的是，本申请实施例的深度的检测系统可以用于执行本申请的上述实施例所提供的深度的检测方法。以下对本申请的第二十一实施例提供的深度的检测系统进行介绍。
图3是根据本申请的第二十一实施例的深度的检测系统的流程示意图。如图3所示，该系统包括：
光源装置40，依次发射多种调制光，任意两种上述调制光对应的发射时间段具有间隔，多种上述调制光的频率均不同，多种上述调制光中，频率较大的上述调制光的振幅小于频率较小的上述调制光的振幅；
接收装置50，用于接收多种上述调制光经被测对象反射形成的反射光；
处理装置60，与上述接收装置电连接，上述处理装置用于根据多种上述调制光以及对应的上述反射光的相位差计算上述被测对象01的深度。
上述深度的检测系统中，光源装置依次发射多种调制光，任意两种上述调制光对应的发射时间段具有间隔，多种上述调制光的频率均不同，多种上述调制光中，频率较大的上述调制光的振幅小于频率较小的上述调制光的振幅，接收装置接收各种调制光经被测对象反射形成的反射光，处理装置获取各种调制光和对应的反射光的相位差，得到多个上述相位差获取多个相位差，并根据多个相位差计算被测对象的深度。
相比现有技术中的只利用一种调制光来获取被测对象的深度的系统来说，该系统利用多种频率不同且振幅不同调制光来获取被测对象的深度，被测对象的深度可能是多种调制光对应的深度的平均值，也有可能是多种调制光对应的深度中的相同值，因而得到的深度更加准确。并且，该系统中，多种调制光依次发射，且发射的时间段不重合，保证了不同的调制光之间互不影响，从而进一步保证了得到的对应的相位差的准确性进一步保证了检测得到的深度的准确性；另外，多种调制光中，频率较小的调制光对应的振幅较大频率较小的调制光对应的振幅较大，这样能够保证多种调制光能够适用于不同深度的被测对象的检测，保证了该测试系统可以适用于多个不同深度的被测对象的检测，使得该系统能够广泛地应用于多种场景中。
该检测系统可以为手机、PAD或者电脑等设备。当然，并不限于这些系统，还可以为任意包括上述三个装置的系统。
本申请的第二十二实施例中，上述光源装置包括光源和调制单元，其中，光源用于发射预定光；调制单元位于上述光源的一侧，用于对上述预定光进行调制，得到多种上述调制光。
当然，光源装置也并不限于上述的结构，还可以包括多个激光器，多个激光器发出不同的调制光，即到频率不同且振幅不同。
本申请的第二十三实施例中，上述光源装置还包括定时器，定时器与上述调制单元电连接，上述定时器用于控制上述调制单元的工作，上述定时器用于控制上述调制单元对不同时间发出的上述预定光进行调制。定时器可以通过控制上述调制单元的工作来控制调制光的发射时长，即控制调制光的发射时间段，保证调制光的发射时长大于或者等于100T。
为了进一步提高检测的准确性，本申请的第二十四实施例中，上述光源为红外VCSEL激光器，该光源发出的光为红外光。
本申请的第二十五实施例中，上述光源装置发射的上述调制光的时长大于或者等于100T，其中，T为上述调制光的周期，不同的上述调制光对应的T相同或者不同；上述接收装置以预定时间间隔t接收各种上述调制光的反射光至少三次，T/4≤t≤T/3。
需要说明的是，预定时间间隔t小于等于调制光的波形函数的周期T的1/3可以保证在发射时长内接收反射光至少三次，预定时间间隔t大于或者等于调制光的波形函数的周期T的 1/4可以保证接收的反射光的光强都不相同，避免接收的反射光的光强相同或相近，提高相位差计算的准确度。
本申请的第二十六实施例中，上述处理装置包括获取单元和计算单元，其中，获取单元用于根据多种上述调制光获取多个相位差，各上述相位差为调制光的相位和对应的反射光的相位的差，上述反射光为上述调制光经过被测对象反射形成的；计算单元用于根据多个上述相位差计算上述被测对象的深度。
在实际的检测过程中，为了准确地计算得到多个相位差，本申请的第二十七实施例中，各种上述调制光的发射时间段大于或等于100T，其中，T为对应的上述调制光的周期，不同的上述调制光对应的T相同或者不同，获取单元包括接收模块和第一计算模块，其中，接收模块用于在上述反射光的每个周期内以预定时间间隔t接收各种反射光至少三次，T/4≤t≤ T/3；第一计算模块用于根据接收的至少三次各种上述反射光计算上述相位差。一般来说，调制光的波形函数是已知的，即调制光的相位是已知的，假设调制光的波形函数的公式为 r(x)＝sin2πfx，θ为相位差，则反射光的波形函数的公式可以为r(x)＝C1+C2sin(2πfxθ)，其中，x表示自变量时间，未知变量为C1，C2，θ，因此，可以通过至少三次测量来求解未知量C1，C2，θ，从而计算得出相位差θ。
上述的方案中，预定时间间隔t小于等于调制光的波形函数的周期T的1/3可以保证在发射时长内接收反射光至少三次，预定时间间隔t大于或者等于调制光的波形函数的周期T的 1/4可以保证接收的反射光的光强r(x)都不相同，避免接收的反射光的光强r(x)相同或相近，提高相位差计算的准确度。将至少三次接收的反射光的波形函数进行分析，可以获得至少三组的时间点x和其对应的光强r(x)的值，代入公式r(x)＝C1+C2sin(2πfx+θ)中，计算得到相位差θ。
当然，如果多种调制光的频率不同，那么对应的周期不同，对应的预定时间间隔也可能不同。
在实际的检测过程中，获取单元并不限于包括获取模块和第一计算模块，本申请的第二十八实施例中，获取单元包括获取模块和第二计算模块，其中，获取模块用于获取各种上述调制光的相位；获取模块还用于获取各种上述调制光经过被测对象的反射光的相位；第二计算模块用于根据各种上述调制光的相位和对应的反射光的相位计算各上述相位差。
为了提高检测的效率，本申请的第二十九实施例中，上述处理装置中，获取单元用于获取两个相位差，后续根据两个相位差来计算被测对象的深度。
为了进一步保证获得准确的被测对象的深度，从而提高深度检测的精确度，本申请的第三十实施例中，计算单元包括第三计算模块和确定模块，其中，第三计算模块用于根据各上述相位差计算对应的一组预测深度，得到多组上述预测深度，各组上述预测深度包括多个不同的预测深度，且任意两个上述预测深度之间的差值为nλ/2，其中，n为正整数；确定模块用于比较各组上述预测深度，将多组预测深度中相同预测深度作为上述被测对象的深度。
具体地，每种调制光和其反射光对应一个相位差，每个相位差对应一组预测深度，被测对象经过多种调制光进行深度检测可以得到多组预测深度，比较各组预测深度，将多组预测深度中相同预测深度作为被测对象的深度。其中，预测深度的公式如下，例如，当λ＝2m，θ＝π时，预测深度可以为0.5m、1.5m、2.5m、…，当λ＝3m，θ＝2π时，预测深度可以为1.5m、3m、4.5m、…，比较得到相同预测深度有1.5m、4.5m和7.5m等等，为了减少被测对象的预测深度的相同值，还应该增加一种或者两种调制光，以确定被测对象的深度。
为了将环境造成的误差控制在正常范围内，从而使得检测得到的深度更加准确，本申请的第三十一实施例中，上述计算单元还包括第四计算模块，第四计算模块用于计算时间上相邻的两种上述调制光的振幅的第一比值以及对应的两种上述反射光的振幅的第二比值，在上述第一比值与上述第二比值的差值在预定范围内的情况下，获取单元根据上述调制光和对应的上述反射光获取上述相位差。第一比值与第二比值的差值在预定的范围内就说明外界的环境光较弱，且调制光并未发生抖动等情况，这样能够进一步保证该检测装置得到的检测结果的准确性。
需要说明的是，本申请的第一比值和第二比值的差值就是指第一比值减去第二比值得到的计算结果。
在实际的应用过程中，第一比值和第二比值的差值可能不在预定范围内，为了保证这种情况也能得到准确的检测结果，本申请的第三十二实施例中，上述处理装置还包括控制单元，上述控制单元还用于在上述第一比值与上述第二比值的差值不在上述预定范围内的情况下，调节上述调制光的频率和振幅中的一个。
当然，在实际的应用过程中，有时候会出现环境光过强的情况，这时候对应的第一比值和第二比值的差值较大，大于预定范围的最大值，即大于第一预定阈值，为了在这种情况下，保证检测结果的准确定，本申请的第三十三实施例中，上述控制单元还用于调节上述调制光的频率和振幅中的一个包括：增大上述调制光的振幅，保持上述调制光的频率不变。这样通过保持频率不变，增大振幅的方式来提高反射信号相对于背景的强度，从而降低误差，保证检测结果的准确性。
当然，有时候第一比值和第二比值的差值也有可能小于预定范围的最小值，即小于第二预定阈值，这种情况可能是由于发出调制光的设备发生了抖动或者被测对象发生移动等情况，为了进一步保证这种情况下的检测的准确性，本申请的第三十四实施例中，上述装置中的控制单元还用于调节上述调制光的频率和振幅中的一个包括：增大上述调制光的频率，保持上述调制光的振幅不变。这样可以通过频率更高的调制光来降低抖动等造成的误差，进一步保证了检测的准确性。
当然，调节后的上述调制光对应的第一比值和第二比值的差值仍大于第一预定阈值的情况中，控制单元继续增大调制光的振幅，直到第一比值和第二比值的差值在预定范围内。在调节后的调制光对应的第一比值和第二比值的差值仍小于第二预定阈值的情况中，控制单元继续增大调制光的频率，直到第一比值和第二比值的差值在预定范围内。
为了进一步保证检测结果的准确性，本申请的第三十五实施例中，上述处理装置还包括预测单元和确定单元，其中，预测单元用于在控制依次发出多种调制光之前，预测上述被检测对象的深度，得到预测深度；确定单元用于根据预测深度确定多种上述调制光的频率和振幅。根据待测物体的预测深度的不同，即与调制光的发出位置的距离不同，对应的检测深度的调制光的频率和振幅也不同，一般来说，待测物体的深度越大，需要用于检测的调制光的频率越低且振幅越大，待测物体的深度越小，需要用于检测的调制光的频率越高且振幅越小。
为了减少环境噪声的影响，提高信噪比，从而提高深度检测的精确度，本申请的第三十六实施例中，上述检测系统还包括滤光片，上述滤光片位于上述接收装置的反射光入射一侧，上述滤光片用于滤除至少部分除红外光之外的光。
为了减少环境噪声的影响，消除多径反射干扰，进一步提高信噪比，从而进一步提高深度检测的精确度，本申请的第三十七实施例中，上述检测系统还包括至少一个偏振片，上述偏振片设置在上述光源装置的光出射一侧或上述接收装置的反射光的入射一侧。在调制光为偏振光的情况下，上述偏振片的偏振方向与调制光的偏振方向一致，这样可以减少其他偏振方向的环境光通过该偏振片，从而减小环境光对整个检测过程的影响，从而进一步提高该检测装置的检测的精准性；在调制光为非偏振光的情况下，该偏振片的偏振方向应该与调制光的最大光强的方向一致，这样能够将保证更多的反射光进入到接收装置，同时还能够减少环境光的影响，从而进一步提高该检测系统的检测的精准性。
本申请的第三十八实施例中，上述检测系统还包括第一偏振片和第二偏振片，上述第一偏振片设置在上述光源装置的光出射一侧，上述第二偏振片设置在上述接收装置的反射光的入射一侧。第一偏振片和第二偏振片可以过滤环境中的杂散光，消除环境光的影响，从而提高深度检测的精确度。
本申请的第三十九实施例中，上述检测装置还包括相位比较器，相位比较器分别与上述接收装置以及上述处理装置电连接，上述相位比较器用于检测各种上述反射光的相位。具体地，上述相位比较器与处理装置中的获取单元电连接，获取单元根据相位比较器获取的反射光的相位和对应调制光的相位得到相位差。
上述深度的检测装置包括处理器和存储器，上述获取单元和计算单元等均作为程序单元存储在存储器中，由处理器执行存储在存储器中的上述程序单元来实现相应的功能。
处理器中包含内核，由内核去存储器中调取相应的程序单元。内核可以设置一个或以上，通过调整内核参数来解决现有技术中的利用TOF构建计算深度的准确性较差的问题。
存储器可能包括计算机可读介质中的非永久性存储器，随机存取存储器(RAM)和/或非易失性内存等形式，如只读存储器(ROM)或闪存(flash RAM)，存储器包括至少一个存储芯片。
本发明的第四十实施例提供了一种存储介质，其上存储有程序，该程序被处理器执行时实现上述深度的检测方法。
本发明的第四十一实施例提供了一种处理器，上述处理器用于运行程序，其中，上述程序运行时执行上述深度的检测方法。
本发明的第四十二实施例提供了一种设备，设备包括处理器、存储器及存储在存储器上并可在处理器上运行的程序，处理器执行程序时实现至少以下步骤：
步骤S101，控制依次发射多种调制光，任意两种上述调制光对应的发射时间段具有间隔，多种上述调制光的频率均不同，多种上述调制光中，频率较大的上述调制光的振幅小于频率较小的上述调制光的振幅；
步骤S102，根据多种上述调制光获取多个相位差，上述相位差为调制光的相位和对应的反射光的相位的差，上述反射光为上述调制光经过被测对象反射形成的，多个上述相位差对应的多种上述调制光的频率和/或振幅不同，即多个相位差的对应的多种调制光仅频率不同，或者对应的多种调制光仅振幅不同，又或者对应的调制光的频率和振幅均不同，且多种上述调制光的发射时间间隔；
步骤S103，根据多个上述相位差计算上述被测对象的深度。
本文中的设备可以是服务器、PC、PAD、手机等。
本申请还提供了一种计算机程序产品，当在数据处理设备上执行时，适于执行初始化有至少如下方法步骤的程序：
步骤S101，控制依次发射多种调制光，任意两种上述调制光对应的发射时间段具有间隔，多种上述调制光的频率均不同，多种上述调制光中，频率较大的上述调制光的振幅小于频率较小的上述调制光的振幅；
步骤S102，根据多种上述调制光获取多个相位差，上述相位差为调制光的相位和对应的反射光的相位的差，上述反射光为上述调制光经过被测对象反射形成的，多个上述相位差对应的多种上述调制光的频率和/或振幅不同，即多个相位差的对应的多种调制光仅频率不同，或者对应的多种调制光仅振幅不同，又或者对应的调制光的频率和振幅均不同，且多种上述调制光的发射时间间隔；
步骤S103，根据多个上述相位差计算上述被测对象的深度。
本领域内的技术人员应明白，本申请的实施例可提供为方法、系统、或计算机程序产品。因此，本申请可采用完全硬件实施例、完全软件实施例、或结合软件和硬件方面的实施例的形式。而且，本申请可采用在一个或多个其中包含有计算机可用程序代码的计算机可用存储介质(包括但不限于磁盘存储器、CD-ROM、光学存储器等)上实施的计算机程序产品的形式。
本申请是参照根据本申请实施例的方法、设备(系统)、和计算机程序产品的流程图和/ 或方框图来描述的。应理解可由计算机程序指令实现流程图和/或方框图中的每一流程和/ 或方框、以及流程图和/或方框图中的流程和/或方框的结合。可提供这些计算机程序指令到通用计算机、专用计算机、嵌入式处理机或其他可编程数据处理设备的处理器以产生一个机器，使得通过计算机或其他可编程数据处理设备的处理器执行的指令产生用于实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能的装置。
这些计算机程序指令也可存储在能引导计算机或其他可编程数据处理设备以特定方式工作的计算机可读存储器中，使得存储在该计算机可读存储器中的指令产生包括指令装置的制造品，该指令装置实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能。
这些计算机程序指令也可装载到计算机或其他可编程数据处理设备上，使得在计算机或其他可编程设备上执行一系列操作步骤以产生计算机实现的处理，从而在计算机或其他可编程设备上执行的指令提供用于实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能的步骤。
在一个典型的配置中，计算设备包括一个或多个处理器(CPU)、输入/输出接口、网络接口和内存。
存储器可能包括计算机可读介质中的非永久性存储器，随机存取存储器(RAM)和/或非易失性内存等形式，如只读存储器(ROM)或闪存(flash RAM)。存储器是计算机可读介质的示例。
计算机可读介质包括永久性和非永久性、可移动和非可移动媒体可以由任何方法或技术来实现信息存储。信息可以是计算机可读指令、数据结构、程序的模块或其他数据。计算机的存储介质的例子包括，但不限于相变内存(PRAM)、静态随机存取存储器(SRAM)、动态随机存取存储器(DRAM)、其他类型的随机存取存储器(RAM)、只读存储器(ROM)、电可擦除可编程只读存储器(EEPROM)、快闪记忆体或其他内存技术、只读光盘只读存储器 (CD-ROM)、数字多功能光盘(DVD)或其他光学存储、磁盒式磁带，磁带磁磁盘存储或其他磁性存储设备或任何其他非传输介质，可用于存储可以被计算设备访问的信息。按照本文中的界定，计算机可读介质不包括暂存电脑可读媒体(transitory media)，如调制的数据信号和载波。
还需要说明的是，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、商品或者设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、商品或者设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括一个……”限定的要素，并不排除在包括要素的过程、方法、商品或者设备中还存在另外的相同要素。
本领域技术人员应明白，本申请的实施例可提供为方法、系统或计算机程序产品。因此，本申请可采用完全硬件实施例、完全软件实施例或结合软件和硬件方面的实施例的形式。而且，本申请可采用在一个或多个其中包含有计算机可用程序代码的计算机可用存储介质(包括但不限于磁盘存储器、CD-ROM、光学存储器等)上实施的计算机程序产品的形式。
从以上的描述中，可以看出，本申请上述的实施例实现了如下技术效果：
1)、本申请的深度的检测方法相比现有技术中的只利用一种调制光来获取被测对象的深度的方法来说，该方法利用多种频率不同且振幅不同调制光来获取被测对象的深度，被测对象的深度可能是多种调制光对应的深度的平均值，也有可能是多种调制光对应的深度中的相同值，因而得到的深度更加准确。并且，该方法中，多种调制光依次发射，且发射的时间段不重合，保证了不同的调制光之间互不影响，从而进一步保证了得到的对应的相位差的准确性进一步保证了检测得到的深度的准确性，缓解了现有技术中的利用TOF构建计算深度方法的准确性较差的问题；另外，多种调制光中，频率较小的调制光对应的振幅较大频率较小的调制光对应的振幅较大，这样能够保证多种调制光能够适用于不同深度的被测对象的检测，保证了该测试方法可以适用于多个不同深度的被测对象的检测，使得该方法能够广泛地应用于多种场景中。
2)、本申请的深度的检测装置相比现有技术中的只利用一种调制光来获取被测对象的深度的装置来说，该装置利用多种频率不同且振幅不同调制光来获取被测对象的深度，被测对象的深度可能是多种调制光对应的深度的平均值，也有可能是多种调制光对应的深度中的相同值，因而得到的深度更加准确。并且，该装置中，多种调制光依次发射，且发射的时间段不重合，保证了不同的调制光之间互不影响，从而进一步保证了得到的对应的相位差的准确性进一步保证了检测得到的深度的准确性；另外，多种调制光中，频率较小的调制光对应的振幅较大频率较小的调制光对应的振幅较大，这样能够保证多种调制光能够适用于不同深度的被测对象的检测，保证了该测试装置可以适用于多个不同深度的被测对象的检测，使得该装置能够广泛地应用于多种场景中。
3)、本申请的深度的检测系统中，光源装置依次发射多种调制光，任意两种上述调制光对应的发射时间段具有间隔，多种上述调制光的频率均不同，多种上述调制光中，频率较大的上述调制光的振幅小于频率较小的上述调制光的振幅，接收装置接收各种调制光经被测对象反射形成的反射光，处理装置获取各种调制光和对应的反射光的相位差，得到多个上述相位差获取多个相位差，并根据多个相位差计算被测对象的深度。相比现有技术中的只利用一种调制光来获取被测对象的深度的系统来说，该系统得到的深度更加准确。
以上上述仅为本申请的优选实施例而已，并不用于限制本申请，对于本领域的技术人员来说，本申请可以有各种更改和变化。凡在本申请的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本申请的保护范围之内。
Claims (10)
1.一种深度的检测方法，其特征在于，包括：
控制依次发射多种调制光，任意两种所述调制光对应的发射时间段具有间隔，多种所述调制光的频率均不同，多种所述调制光中，频率较大的所述调制光的振幅小于频率较小的所述调制光的振幅；
根据多种所述调制光获取多个相位差，所述相位差为所述调制光的相位和对应的反射光的相位的差，所述反射光为所述调制光经过被测对象反射形成的；
根据多个所述相位差计算所述被测对象的深度。
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，各种所述调制光的发射时间段大于或等于100T，其中，T为对应的所述调制光的周期，不同的所述调制光对应的T相同或者不同，获取各所述相位差包括：
在所述反射光的每个周期内以预定时间间隔t接收各种所述反射光至少三次，T/4≤t≤T/3；
根据接收的至少三次各种所述反射光计算所述相位差。
3.根据权利要求1或2中所述的方法，其特征在于，根据多个所述相位差计算所述被测对象的深度，包括：
根据各所述相位差计算对应的一组预测深度，得到多组所述预测深度，各组所述预测深度包括多个不同的预测深度，且任意两个所述预测深度之间的差值为nλ/2，其中，n为正整数；
比较各组所述预测深度，将多组预测深度中相同预测深度作为所述被测对象的深度。
4.根据权利要求1或2中所述的方法，其特征在于，
在获取多个所述相位差之前，所述方法还包括：获取在时间上相邻的任意两种所述调制光的振幅的第一比值以及对应的两种所述反射光的振幅的第二比值，
在所述第一比值与所述第二比值的差值在预定范围内的情况下，根据所述调制光和对应的所述反射光获取所述相位差。
5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，
在获取多个所述相位差之前，所述方法还包括：
在所述第一比值与所述第二比值的差值不在所述预定范围内的情况下，调节所述调制光的频率和振幅中的一个。
6.一种深度的检测装置，其特征在于，包括：
控制单元，用于控制依次发射多种调制光，任意两种所述调制光对应的发射时间段具有间隔，多种所述调制光的频率均不同，多种所述调制光中，频率较大的所述调制光的振幅小于频率较小的所述调制光的振幅；
获取单元，用于根据多种所述调制光获取多个相位差，所述相位差为所述调制光的相位和对应的反射光的相位的差，所述反射光为所述调制光经过被测对象反射形成的；
计算单元，用于根据多个所述相位差计算所述被测对象的深度。
7.一种深度的检测系统，其特征在于，包括：
光源装置，用于依次发射多种调制光，任意两种所述调制光对应的发射时间段具有间隔，多种所述调制光的频率均不同，多种所述调制光中，频率较大的所述调制光的振幅小于频率较小的所述调制光的振幅；
接收装置，用于接收多种所述调制光经被测对象反射形成的反射光；
处理装置，与所述接收装置电连接，所述处理装置用于根据多种所述调制光以及对应的所述反射光的相位差计算所述被测对象的深度。
8.根据权利要求7所述的系统，其特征在于，所述光源装置包括：
光源，用于发射预定光；
调制单元，位于所述光源的一侧，所述调制单元用于所述预定光进行调制，得到多种所述调制光。
9.根据权利要求8所述的系统，其特征在于，所述光源装置还包括：
定时器，与所述调制单元电连接，所述定时器用于控制所述调制单元的工作。
10.根据权利要求8所述的系统，其特征在于，所述光源为红外VCSEL激光器。
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|---|---|---|---|
| CN201910482295.3A CN110186387A (zh) | 2019-06-04 | 2019-06-04 | 深度的检测方法、装置和系统 |
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