CN114822380A - 像素电路的调试方法及调试设备 - Google Patents

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Abstract

本发明提供一种像素电路的调试方法及调试设备，用于调试像素电路，方法包括：获取第一参数，第一参数为第一驱动策略对应的高灰阶和第二驱动策略对应的低灰阶的交界灰阶；根据第一参数在第一驱动策略的驱动下，发光元件对应显示的亮度确定第二参数，第二参数为在第二驱动策略的驱动下发光元件对应的伽玛电压，本发明通过比对第一参数在第一驱动策略下和第二驱动策略下的亮度差异，调整第二驱动策略的第二参数，使得第一参数在第一驱动策略和第二驱动策略下亮度差异减小，使得两个驱动策略区域的Gamma曲线平滑衔接，使得采用两种驱动策略混合驱动的方式不影响显示效果。

Description

像素电路的调试方法及调试设备
技术领域
本发明涉及显示技术领域，尤其涉及一种像素电路的调试方法及调试设备。
背景技术
有机发光二极管(OLED Lighting Emitting Diode，OLED)显示装置具有自发光、驱动电压低、发光效率高、响应时间短以及使用温度范围宽等诸多优点。被公认为最具有发展潜力的显示装置。灰阶代表了由最暗到最亮之间不同亮度的层次级别。目前像素电路的驱动方式分为AM(Amplitude Modulation，脉冲振幅调制)和PWM(Pulse WidthModulation，脉宽调制法)，但是AM驱动方式在低灰阶状态下，驱动LED(Lighting EmittingDiode，发光二极管)的电流较小，导致LED发光波长不稳定，发生色偏，PWM的驱动方式要在每个子区内刷新完所有像素，PWM的每个子区(除最高子区)都存在LED不发光的时间，导致显示的亮度损失严重。因此，现有技术中采取AM和PWM混合驱动，根据像素电路的待显示灰阶数目来确定不同的目标驱动策略，驱动像素电路的发光元件进行发光，避免采取单一的AM驱动在低灰阶状态发生色偏，或者单一的PWM驱动高灰阶产生亮度损失的问题。
而由于两种驱动方式的特性不同，在交界处的亮度突变，两种驱动方式区域的Gamma(伽马)无法平滑衔接，整体Gamma异常，从而造成显示效果不均。
发明内容
本发明提供一种像素电路的调试方法，以解决于两种驱动方式的特性不同，在交界处的亮度突变，两种驱动方式区域的Gamma曲线无法平滑衔接，整体Gamma异常，从而造成显示效果不均的问题。
为解决上述问题，本发明提供的技术方案如下：
一种像素电路的调试方法，用于调试像素电路，当所述像素电路的发光元件显示高灰阶时，所述像素电路由所述第一驱动策略驱动，当所述像素电路的所述发光元件显示低灰阶时，所述像素电路由所述第二驱动策略驱动，所述方法包括：
获取第一参数，所述第一参数为所述第一驱动策略对应的所述高灰阶和所述第二驱动策略对应的所述低灰阶的交界灰阶；
根据所述第一参数在所述第一驱动策略的驱动下，所述发光元件对应显示的亮度确定第二参数，所述第二参数为在所述第二驱动策略的驱动下所述发光元件对应的伽玛电压。
根据本发明一实施例，所述像素电路还包括驱动晶体管和数据晶体管，所述数据晶体管用于响应第一扫描信号而传送数据电压，所述驱动晶体管用于响应所述数据电压而产生驱动电流以驱动所述发光元件发光，所述数据电压根据所述伽玛电压而产生；其中，当所述像素电路由所述第一驱动策略控制时，至少两不同的所述高灰阶对应的所述数据电压不同，当所述像素电路由所述第二驱动策略控制时，所述第一扫描信号控制所述数据晶体管在一帧内断续导通，所述数据电压为固定值。
根据本发明一实施例，还包括电容和初始化晶体管，所述电容用于存储所述数据电压，所述初始化晶体管用于响应第二扫描信号而传输初始化信号以初始化所述驱动晶体管的栅极和所述电容，其中，当所述像素电路由所述第一驱动策略控制时，所述初始化晶体管关闭，当所述像素电路由所述第二驱动策略控制时，所述第二扫描信号控制所述初始化晶体管在一帧内断续导通。
根据本发明一实施例，根据所述第一参数在所述第一驱动策略的驱动下，所述发光元件对应显示的亮度确定第二参数，包括：
获取所述第一参数在所述第一驱动策略下的第一归一化值；
计算所述第一参数在所述第二驱动策略下所述发光元件对应显示的亮度与所述第一参数在第一驱动策略下所述发光元件对应显示的亮度的比值；
根据所述比值和所述第一归一化值计算所述第二驱动策略的第二归一化值，所述第二归一化值为所述第二驱动策略的驱动灰阶所对应的归一化值；
根据所述驱动灰阶确定所述第二参数。
根据本发明一实施例，所述根据所述第一参数在所述第一驱动策略的驱动下，所述发光元件对应显示的亮度确定第二参数，包括：依次增大所述第二驱动策略的所述第一参数对应的伽玛电压，以得到所述第二参数。
根据本发明一实施例，根据所述第一参数在所述第一驱动策略的驱动下，所述发光元件对应显示的亮度确定第二参数之前还包括：对所述第一驱动策略对应的伽玛电压进行调试。
根据本发明一实施例，所述获取第一参数包括：采用光学测量设备依次测量各灰阶的亮度，发生突变时的亮度所对应的灰阶。
根据本发明一实施例，还包括：基于所述第二驱动策略对所述第二参数进行调试，从而获得第三参数。
本发明还提供一种调试设备，用于调试显示面板的像素电路，包括：存储器和处理器，存储器用于存储程序指令，所述处理器用于执行所述程序指令以实现上述任一项的方法。
本发明的有益效果为：本发明通过比对第一参数在第一驱动策略下和第二驱动策略下的亮度差异，调整所述第二驱动策略的第二参数，使得第一参数在第一驱动策略和第二驱动策略下亮度差异减小，使得两个驱动策略区域的Gamma曲线平滑衔接，使得采用两种驱动策略混合驱动的方式不影响显示效果。
附图说明
附图1为本发明一实施例中像素电路的结构示意图；
附图2为本发明一实施例中调试方法的流程示意图；
附图3为本发明一实施例中调试方法的流程示意图；
附图4为本发明两种驱动方式调试之前的Gamma曲线示意图；
附图5为本发明两种驱动方式调试之后的Gamma曲线示意图。
具体实施方式
下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述。显然，所描述的实施例仅仅是本申请一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例，本领域技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本申请保护的范围。
本发明提供一实施例，一种像素电路的调试方法，用于调试像素电路，本实施例应用于像素电路，但对像素电路的架构并不作具体限定，采用所述两种驱动方式驱动的像素电路均可采用本发明的方案。如可应用于图1所示的像素电路。
所述像素电路包括存储电容C、发光二极管LED、数据晶体管T1、初始化晶体管T2和驱动晶体管T3，其中，所述数据晶体管T1的控制端连接第一扫描信号线Scan1，所述第一扫描信号线Scan1用于提供第一扫描信号，所述数据晶体管T1的源极电性连接至第一数据信号线Vdata，所述第一数据信号线Vdata用于提供数据电压，可以知道的是，所述数据电压根据所述伽玛电压产生，所述数据晶体管T1的漏极连接至所述第一节点，所述初始化晶体管T2的控制端电性连接至第二扫描信号线Scan2，所述第二扫描信号线Scan2用于提供第二扫描信号，所述初始化晶体管T2的源极电性连接至第二数据信号线Vini，所述第二数据信号线Vini用于提供初始化信号，所述初始化晶体管T2的漏极电性连接至所述第一节点，所述驱动晶体管T3的控制端电性连接至第一节点，所述驱动晶体管T3的源极电性连接至第一电源信号线OVDD，所述驱动晶体管T3的漏极电性连接至第二节点，所述存储电容C的一端电性连接至所述第一节点，所述存储电容C的另一端电性连接至所述第二节点，所述发光二极管LED的阳极电性连接至所述第二节点，所述发光二极管LED的阴极电性连接至第二电源信号线OVSS。
当所述第一扫描信号线Scan1控制所述数据晶体管T1打开，所述第二扫描信号线Scan2控制所述初始化晶体管T2关闭时，所述第一数据信号线Vdata传输数据电压至所述第一节点，使得所述驱动晶体管T3打开，所述发光二极管LED发光，与此同时，所述存储电容C开始充电，可以知道的是，当所述数据晶体管T1关闭时，由于所述存储电容C存储了一定的电压，所述发光二极管LED将继续发光，当所述第二扫描信号线Scan2控制所述初始化晶体管T2打开时，所述第二数据信号线Vini传输初始化信号至所述第一节点，使得所述存储电容C开始放电，所述发光二极管LED停止发光。
所述第一驱动策略包括：调制所述像素电路的脉冲振幅，以通过控制所述像素电路的电流大小，调节所述像素电路的发光强度，所述第二驱动策略包括：调制所述像素电路的脉冲宽度，以通过控制所述像素电路的发光时间，调节所述像素电路的发光强度。
具体的，当上述像素电路采用所述第二驱动策略驱动时，通过所述第二扫描信号线Scan2控制所述初始化晶体管T2的打开和关断，如控制所述初始化晶体管T2在一帧内断续导通，以控制所述发光二极管LED的发光时间，从而调节所述像素电路的发光强度，当上述像素电路采用所述第一驱动策略驱动时，所述第二扫描线不施加信号，即所述初始化晶体管T2关闭，通过控制所述第一数据信号线Vdata的数据电压来控制通过所述像素电路的电路大小，以调节所述像素电路的发光强度。
当需要控制所述像素电路中的发光二极管LED发光时，首先获取所述像素电路所要显示的灰阶，其中，灰阶代表了由最暗到最亮之间不同亮度的层次级别，不同比特位的像素电路可以显示的灰阶数不同，所述像素电路中的发光二极管LED的发光程度对应于灰阶的数目。
为了更好的解释本发明，选用一实施例对两种驱动方式混合驱动及调试方法进行说明，在本申请一些实施例中，对于一个m比特位灰阶的像素电路，其从最暗到最亮划分成2m个灰阶，例如8bits的像素电路对应的从最暗到最亮划分成2^8＝256个灰阶来显示，并且由于第二驱动策略中的子场的发光比例以2的阶乘依次划分，因此交界灰阶设定为2n，而不能是3、5等类似的数目。其中，m＞n，且m、n均为正整数。
在本申请一些实施例中，所述交界灰阶通常为2n，所述像素电路为m比特位灰阶像素电路，m＞n，且m、n均为正整数，所述像素电路的每个显示周期划分为s+1个子场，所述第一驱动策略为一个子场的驱动策略，所述第二驱动策略为除所述第一驱动策略的子场之外的s个子场的驱动策略，为了确保第二驱动策略中每一个灰阶都能显示，没有遗漏，第二驱动策略中对应的子场的数量至少为n，因此，s≥n。可以知道的是，如果第二驱动策略的区域划分的子场数目过少，则多个子场对应的发光强度进行组合无法完全发出临界灰阶数目以下的灰阶，因此第二驱动策略的区域划分的子场数不少于交界灰阶数目的阶乘数目。
本发明一实施例，选用8bits的像素电路，即所述像素电路共显示2^8＝256灰阶，设所述第一参数为2^5＝32，将所述像素电路的每个显示周期(帧)划分为6个子场(帧)，其中第一驱动策略分为1个子场(第六子场)，第二驱动策略分为5个子场(第一至五子场)，第二驱动策略下每个子场的发光比例分别为1:21:22:23:24，其中，最小发光比例的子场对应的发光强度为1灰阶，当所述像素电路需要显示的灰阶小于所述第一参数时，所述第二驱动策略下的5个子场驱动，如要实现5灰阶，则第一子场和第三子场发光，要实现31灰阶，则第一子场至第五子场全部发光，当所述像素电路需要显示的灰阶大于或等于所述第一参数时，所述第一驱动策略下的第六子场发光，所述发光二极管LED显示的亮度通过数据电压控制。
如图4所示，以上驱动方式中，由于两种驱动方式的特性不同，即第二驱动方式由于每个子区都存在不发光的时间，存在亮度损失，如对于255灰阶，其实际发光的时间占一帧时间的255/1024≈25％，因此，在上述实施例中，在31灰阶和32灰阶处的亮度发生突变，两种驱动方式区域的Gamma曲线无法平滑衔接，整体Gamma异常，从而造成显示效果不均。因此，采用上述驱动方式时，需采用本申请所述方法进行调试。
如图2和图3所示，S100，获取第一参数，所述第一参数为所述第一驱动策略对应的所述高灰阶和所述第二驱动策略对应的所述低灰阶的交界灰阶；交界灰阶可以设定为像素电路中发光元件二极管波长不稳定的灰阶数，例如在8bits的像素电路，对应32灰阶以下所需伽马电压较低，发光元件发光波长不稳定，所以可以将32灰阶设为临界灰阶数目。在实际的驱动过程中，由于元件参数等因素，即便是同样架构的像素电路交界灰阶数目可能也并不相同，因此交界灰阶数目可以根据不同的设计需求自由设置。
S200，根据所述第一参数在所述第一驱动策略的驱动下，所述发光元件对应显示的亮度确定第二参数，所述第二参数为在所述第二驱动策略的驱动下所述发光元件对应的伽玛电压，如获取上述实施例中，32灰阶在第一驱动策略下的发光二极管LED的亮度，调整第二驱动策略的伽马电压，使得32灰阶在第二驱动策略下的发光二极管LED的亮度与32灰阶在第一驱动策略下的发光二极管LED的亮度相同或差异较小。
本发明通过比对第一参数在第一驱动策略下和第二驱动策略下的亮度差异，调整所述第二驱动策略的第二参数，使得第一参数在第一驱动策略和第二驱动策略下亮度差异减小，使得两个驱动策略区域得Gamma曲线平滑衔接，使得采用两种驱动策略混合驱动的方式不影响显示效果。
本发明一实施例，所述步骤S200之前还包括：
S101，对所述第一驱动策略对应的伽玛电压进行调试，如设定Gamma线性绑点电压，量测默认电压下0～255灰阶的灰阶与亮度的对应数据关系，通过Gamma计算软件设定目标Gamma值/色点和亮度等信息，记录下对应关系，并生成对照参数表，将对照表数据写入硬件系统中的存储模块(如存储器)，处理模块(如处理器)读取参数表信息，完成数字Gamma调试，此为本领域人员所掌握的常规技术手段，在此不做赘述。进行Gamma调试可以确定每个灰阶所对应的伽马电压。
本发明一实施例，所述步骤S200，根据所述第一参数在所述第一驱动策略的驱动下，所述发光元件对应显示的亮度确定第二参数，包括：
S201，获取所述第一参数在所述第一驱动策略下的第一归一化值2n/2mGamma，对应上实施例为32/255Gamma；
S202，计算所述第一参数在所述第二驱动策略下所述发光元件对应显示的亮度与所述第一参数在第一驱动策略下所述发光元件对应显示的亮度的比值，如上述计算255/1024≈25％；
S203，根据所述比值和所述第一归一化值计算所述第二驱动策略的第二归一化值，所述第二归一化值为所述第二驱动策略的驱动灰阶所对应的归一化值，设所述驱动灰阶为g，则所述第二归一化值为g/255Gamma，因此能够得到以下等式：
(255/1024)*(g/255Gamma)＝32/255Gamma
S204，根据所述驱动灰阶确定所述第二参数，由于上述已基于所述第一驱动策略对所述像素电路进行Gamma调试，因此灰阶与伽马电压的对应关系已经确定，故确定所述第二驱动策略的驱动灰阶后，能够直接得出对应的伽马电压，如此处设Gamma参数为2.2，即可求出驱动灰阶g，再根据上述Gamma调试过程中，驱动灰阶与对应的伽马电压的关系，即可得出第二参数。
可以知道的是，所述第二参数还可通过以下方式确定，依次增大所述第二驱动策略的所述第一参数对应的伽玛电压，以使所述第一参数在第二驱动策略驱动下的亮度与所述第一参数在所述第一驱动策略驱动下的亮度相同，此时的伽马电压即为第二参数。
可以知道的是，所述第一参数为相邻灰阶所对应亮度发生突变时的灰阶，因此，可通过光学测量个灰阶对应亮度的方式，确定所述交界灰阶，即第一参数。
为了使第二驱动策略驱动的灰阶区域的Gamma曲线更加平滑，还可对所述第二驱动策略驱动的灰阶区域进行优化调试，如步骤S300，基于所述第二驱动策略对所述第二参数进行调试，从而获得第三参数，所述第三参数包括Gamma值、目标灰阶的亮度以及色点等，调试步骤可参考步骤S101，调整后的Gamma曲线如图5所示。
本实施例还提供一种调试设备，用于调试显示面板的像素电路，包括：存储器和处理器，所述存储器用于存储程序指令，所述处理器用于执行所述程序指令以实现如上实施例的方法。
综上所述，虽然本发明已以优选实施例揭露如上，但上述优选实施例并非用以限制本发明，本领域的普通技术人员，在不脱离本发明的精神和范围内，均可作各种更动与润饰，因此本发明的保护范围以权利要求界定的范围为准。

Claims (9)

1.一种像素电路的调试方法，用于调试像素电路，当所述像素电路的发光元件显示高灰阶时，所述像素电路由第一驱动策略驱动，当所述像素电路的所述发光元件显示低灰阶时，所述像素电路由第二驱动策略驱动，其特征在于，所述方法包括：
获取第一参数，所述第一参数为所述第一驱动策略对应的所述高灰阶和所述第二驱动策略对应的所述低灰阶的交界灰阶；
根据所述第一参数在所述第一驱动策略的驱动下，所述发光元件对应显示的亮度确定第二参数，所述第二参数为在所述第二驱动策略的驱动下所述发光元件对应的伽玛电压。
2.根据权利要求1所述的像素电路的调试方法，其特征在于，所述像素电路还包括驱动晶体管和数据晶体管，所述数据晶体管用于响应第一扫描信号而传送数据电压，所述驱动晶体管用于响应所述数据电压而产生驱动电流以驱动所述发光元件发光，所述数据电压根据所述伽玛电压而产生；其中，当所述像素电路由所述第一驱动策略控制时，至少两不同的所述高灰阶对应的所述数据电压不同，当所述像素电路由所述第二驱动策略控制时，所述第一扫描信号控制所述数据晶体管在一帧内断续导通，所述数据电压为固定值。
3.根据权利要求2所述的像素电路的调试方法，其特征在于，还包括电容和初始化晶体管，所述电容用于存储所述数据电压，所述初始化晶体管用于响应第二扫描信号而传输初始化信号以初始化所述驱动晶体管的栅极和所述电容，其中，当所述像素电路由所述第一驱动策略控制时，所述初始化晶体管关闭，当所述像素电路由所述第二驱动策略控制时，所述第二扫描信号控制所述初始化晶体管在一帧内断续导通。
4.根据权利要求2所述的像素电路的调试方法，其特征在于，根据所述第一参数在所述第一驱动策略的驱动下，所述发光元件对应显示的亮度确定第二参数，包括：
获取所述第一参数在所述第一驱动策略下的第一归一化值；
计算所述第一参数在所述第二驱动策略下所述发光元件对应显示的亮度与所述第一参数在第一驱动策略下所述发光元件对应显示的亮度的比值；
根据所述比值和所述第一归一化值计算所述第二驱动策略的第二归一化值，所述第二归一化值为所述第二驱动策略的驱动灰阶所对应的归一化值；
根据所述驱动灰阶确定所述第二参数。
5.根据权利要求2所述的像素电路的调试方法，其特征在于，所述根据所述第一参数在所述第一驱动策略的驱动下，所述发光元件对应显示的亮度确定第二参数，包括：依次增大所述第二驱动策略的所述第一参数对应的伽玛电压，以得到所述第二参数。
6.根据权利要求1所述的像素电路的调试方法，其特征在于，根据所述第一参数在所述第一驱动策略的驱动下，所述发光元件对应显示的亮度确定第二参数之前还包括：对所述第一驱动策略对应的伽玛电压进行调试。
7.根据权利要求1所述的像素电路的调试方法，其特征在于，所述获取第一参数包括：采用光学测量设备依次测量各灰阶的亮度，发生突变时的亮度所对应的灰阶。
8.根据权利要求1所述的像素电路的调试方法，其特征在于，还包括：基于所述第二驱动策略对所述第二参数进行调试，从而获得第三参数。
9.一种调试设备，用于调试显示面板的像素电路，其特征在于，包括：存储器和处理器，存储器用于存储程序指令，所述处理器用于执行所述程序指令以实现如权利要求1-8任一项的方法。
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