CN114764075A - X射线检测设备、系统、方法和装置 - Google Patents

Abstract

本申请涉及一种X射线检测设备、系统、方法和装置。其中，设备包括处理单元，以及均与处理单元连接的图像采集单元和导向定位单元；图像采集单元对待检测件进行图像采集，传输待检测件图像至处理单元；处理单元用于处理待检测件图像，得到特征点定位结果；处理单元还用于根据特征点定位结果、通过导向定位单元调整待检测件的当前位姿；设备还包括射线源单元，以及分别连接处理单元和射线源单元的射线捕获单元；射线源单元用于对待检测件发射X射线；射线捕获单元在捕获到X射线的情况下，输出检测数据；处理单元用于基于检测数据，确定待检测件的缺陷。本申请能够提高待检测件的缺陷检测效率。

Description

X射线检测设备、系统、方法和装置

技术领域

本申请涉及检测技术领域，特别是涉及一种X射线检测设备、系统、方法和装置。

背景技术

随着X射线技术的发展，出现了X射线数字成像技术。人眼看不见的射线具有使很多固体(亚铂氰化钡、闪锌矿等)发出可见的荧光，使照相机底片感光以及使空气电离等能力。它还具有很大的穿透性，能透过许多对可见光不透明的物质，如黑纸、木料等。因为这种射线是前所未闻的，所以称为X射线，也称伦琴射线。然而，目前的X射线检测方式，存在待检测件的缺陷检测效率低等问题。

发明内容

基于此，有必要针对上述技术问题，提供一种能够提高待检测件的缺陷检测效率的X射线检测设备、系统、方法和装置。

为了实现上述目的，第一方面，本申请实施例提供了一种X射线检测设备。所述设备包括处理单元，以及均与处理单元连接的图像采集单元和导向定位单元；其中：

图像采集单元对待检测件进行图像采集，传输待检测件图像至处理单元；处理单元用于处理待检测件图像，得到特征点定位结果；处理单元还用于根据特征点定位结果、通过导向定位单元调整待检测件的当前位姿；

设备还包括射线源单元，以及分别连接处理单元和射线源单元的射线捕获单元；

射线源单元用于对待检测件发射X射线；射线捕获单元在捕获到X射线的情况下，输出检测数据；处理单元用于基于检测数据，确定待检测件的缺陷。

在其中一个实施例中，射线源单元包括分析器光栅，以及连接分析器光栅的射线矩阵排列单元；其中：

分析器光栅用于光栅扫描及检测；

射线矩阵排列单元用于矩阵排列X射线。

在其中一个实施例中，射线捕获单元包括均连接处理单元的第一射线图像建立单元、第二射线图像建立单元；其中：

第一射线图像建立单元用于对待检测件的表面进行X射线图像建立；

第二射线图像建立单元用于对待检测件的缺失X射线检测处进行X射线图像建立。

在其中一个实施例中，处理单元用于根据特征点定位结果，输出针对待检测件的调整指令至导向定位单元；

导向定位单元包括多轴移动机械臂和检测位置捕捉单元；导向定位单元基于调整指令，通过多轴移动机械臂调整待检测件的当前位姿，通过检测位置捕捉单元对待检测件的检测部位进行捕捉定位。

第二方面，本申请实施例提供了一种X射线检测系统。所述系统包括权利要求1至4的X射线检测设备；系统还包括与处理单元连接的云端操作设备，云端操作设备用于远程监控、及控制处理单元。

第三方面，本申请实施例提供了一种X射线检测方法。所述方法应用于X射线检测设备的处理单元；X射线检测设备包括均与处理单元连接的图像采集单元和导向定位单元；X射线检测设备还包括射线源单元，以及分别连接处理单元和射线源单元的射线捕获单元；

方法包括：

处理待检测件图像，得到特征定位结果；待检测件图像为图像采集单元对待检测件进行图像采集并传输得到；

根据特征点定位结果、通过导向定位单元调整待检测件的当前位姿；

基于检测数据，确定待检测件的缺陷；检测数据为射线捕获单元在捕获到射线源单元对待检测件发射的X射线的情况下输出得到。

在其中一个实施例中，处理待检测件图像，得到特征定位结果的步骤包括：

处理待检测件图像，得到待检测件的坐标位置；

基于待检测件的坐标位置，对比待检测件图像和预设标准图像，得到特征定位结果。

在其中一个实施例中，根据所述特征点定位结果、通过所述导向定位单元调整所述待检测件的当前位姿的步骤包括：

根据特征点定位结果，得到待检测件的待调整位置和待调整角度，并输出相应的调整指令；调整指令用于指示导向定位单元调整待检测件的当前位姿。

在其中一个实施例中，基于检测数据，确定待检测件的缺陷的步骤包括：

对检测数据与模型图像数据进行缺陷对比检测，获取缺陷图像数据；模型图像数据为基于待检测件的合格标准模型得到；

对缺陷图像数据进行特征提取，得到待检测件的缺陷特征数据。

第四方面，本申请实施例提供了一种X射线检测装置。所述装置应用于X射线检测设备的处理单元；X射线检测设备包括均与处理单元连接的图像采集单元和位姿调整单元；X射线检测设备还包括射线源单元，以及分别连接处理单元和射线源单元的射线捕获单元；

装置包括：

图像处理模块，用于处理待检测件图像，得到特征定位结果；待检测件图像为图像采集单元对待检测件进行图像采集并传输得到；

位姿调整模块，用于根据特征点定位结果、通过导向定位单元调整待检测件的当前位姿；

缺陷检测模块，用于基于检测数据，确定待检测件的缺陷；检测数据为射线捕获单元在捕获到射线源单元对待检测件发射的X射线的情况下输出得到。

上述技术方案中的一个技术方案具有如下优点和有益效果：

通过图像采集单元获取待检测件图像，能够进一步通过处理单元得到用于精确检测的特征点定位结果；通过导向定位单元能够将待检测件的当前位姿调整为满足检测需要的位姿；通过射线源单元和射线捕获单元能够分别实现待检测件表面X射线的建立和捕获，以输出相应的检测数据，供处理单元识别待检测件的缺陷。通过在待检测件发生移动的情况下，能够对待检测件重新进行特征点定位并相应调整当前位姿，从而提高了检测的效率。

附图说明

为了更清楚地说明本申请实施例或传统技术中的技术方案，下面将对实施例或传统技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为一个实施例中X射线检测设备的结构框图；

图2为一个实施例中X射线检测设备的内部结构图；

图3为一个实施例中X射线检测系统的结构示意图；

图4为一个实施例中X射线检测方法的流程示意图；

图5为一个实施例中X射线检测装置的结构框图。

具体实施方式

为了便于理解本申请，下面将参照相关附图对本申请进行更全面的描述。附图中给出了本申请的实施例。但是，本申请可以以许多不同的形式来实现，并不限于本文所描述的实施例。相反地，提供这些实施例的目的是使本申请的公开内容更加透彻全面。

除非另有定义，本文所使用的所有的技术和科学术语与属于本申请的技术领域的技术人员通常理解的含义相同。本文中在本申请的说明书中所使用的术语只是为了描述具体的实施例的目的，不是旨在于限制本申请。

可以理解，本申请所使用的术语“第一”、“第二”等可在本文中用于描述各种元件，但这些元件不受这些术语限制。这些术语仅用于将第一个元件与另一个元件区分。

空间关系术语例如“在...下”、“在...下面”、“下面的”、“在...之下”、“在...之上”、“上面的”等，在这里可以用于描述图中所示的一个元件或特征与其它元件或特征的关系。应当明白，除了图中所示的取向以外，空间关系术语还包括使用和操作中的器件的不同取向。例如，如果附图中的器件翻转，描述为“在其它元件下面”或“在其之下”或“在其下”元件或特征将取向为在其它元件或特征“上”。因此，示例性术语“在...下面”和“在...下”可包括上和下两个取向。此外，器件也可以包括另外地取向(譬如，旋转90度或其它取向)，并且在此使用的空间描述语相应地被解释。

需要说明的是，当一个元件被认为是“连接”另一个元件时，它可以是直接连接到另一个元件，或者通过居中元件连接另一个元件。此外，以下实施例中的“连接”，如果被连接的对象之间具有电信号或数据的传递，则应理解为“电连接”、“通信连接”等。

在此使用时，单数形式的“一”、“一个”和“所述/该”也可以包括复数形式，除非上下文清楚指出另外的方式。还应当理解的是，术语“包括/包含”或“具有”等指定所陈述的特征、整体、步骤、操作、组件、部分或它们的组合的存在，但是不排除存在或添加一个或更多个其他特征、整体、步骤、操作、组件、部分或它们的组合的可能性。同时，在本说明书中使用的术语“和/或”包括相关所列项目的任何及所有组合。

为了使本申请的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本申请进行进一步详细说明。应当理解，此处描述的具体实施例仅仅用以解释本申请，并不用于限定本申请。

在一个实施例中，如图1所示，提供了一种X射线检测设备。所述设备包括处理单元110，以及均与处理单元110连接的图像采集单元120和导向定位单元130；其中：

图像采集单元120对待检测件进行图像采集，传输待检测件图像至处理单元110；处理单元110用于处理待检测件图像，得到特征点定位结果；处理单元110还用于根据特征点定位结果、通过导向定位单元130调整待检测件的当前位姿；

设备还包括射线源单元140，以及分别连接处理单元110和射线源单元140的射线捕获单元150；

射线源单元140用于对待检测件发射X射线；射线捕获单元150在捕获到X射线的情况下，输出检测数据；处理单元110用于基于检测数据，确定待检测件的缺陷。

具体而言，图像采集单元120可以在检测前或检测过程中对待检测件进行图像采集，并将获取到的待检测件图像传输至处理单元110；处理单元110可以进行数据的集中处理并对检测过程进行操控；处理单元110可以根据特征点定位结果、通过导向定位单元130调整待检测件的当前位姿，实现在检测前或检测过程中对待检测件的当前位姿调整，以满足检测的需要；通过射线源单元140可以在待检测件的表面建立X射线，便于射线捕获单元150捕获到相应的X射线，输出检测数据；处理单元110用于基于检测数据，确定待检测件的缺陷，例如，缺陷特征、缺陷类型和缺陷定位等。

在一些示例中，处理单元110可以为中央处理器；图像采集单元120包括摄像头；图像采集单元120可以针对待检测件的检测部位进行图像拍摄和提取；处理单元110处理待检测件图像，可以得到待检测件的坐标位置；处理单元110基于待检测件的坐标位置，对比待检测件图像和预设标准图像，可以得到特征定位结果；进一步的，处理单元110通过得到特征点定位结果，可以实现在待检测件发生位移偏差、角度偏差的情况下，对待检测件进行跟踪定位；处理单元110根据特征点定位结果，可以得到待检测件的待调整位置和待调整角度，并输出相应的调整指令；导向定位单元130根据调整指令调整待检测件的当前位姿，以满足检测的需要，例如，在检测前导向定位单元130根据调整指令调整待检测件的当前位姿，以提高检测效率；进一步的，处理单元110可以通过将检测数据与模型图像数据进行缺陷对比检测，获取缺陷图像数据，其中模型图像数据为预设的待检测件的合格标准模型。通过处理单元110将检测数据与模型图像数据进行缺陷对比检测，能够提高检测效率。X射线检测设备还可以包括与处理单元110连接的检测报警单元，检测报警单元用于在处理单元110确定缺陷猴进行声光警报。处理单元110基于检测数据得到缺陷定位，可以将缺陷定位重新确定为待检测件需要检测的部位，进行进一步的X射线检测。

本申请实施例通过图像采集单元120获取待检测件图像，能够进一步通过处理单元110得到用于精确检测的特征点定位结果；通过导向定位单元130能够将待检测件的当前位姿调整为满足检测需要的位姿；通过射线源单元140和射线捕获单元150能够分别实现待检测件表面X射线的建立和捕获，以输出相应的检测数据，供处理单元110识别待检测件的缺陷。通过在待检测件发生移动的情况下，能够对待检测件重新进行特征点定位并相应调整当前位姿，从而提高了检测的效率。

在其中一个实施例中，如图2所示，射线源单元140包括分析器光栅142，以及连接分析器光栅142的射线矩阵排列单元144；其中：

分析器光栅142用于光栅扫描及检测；

射线矩阵排列单元144用于矩阵排列X射线。

具体而言，分析器光栅142通过电子束逐行水平扫描，以完成对待检测件的光栅扫描；射线矩阵排列单元144用于对X射线进行矩阵式排列，还用于对X射线矩阵检测。通过矩阵式排列X射线用于检测，能够提高X射线检测效率和X射线检测准确性。

在一些示例中，分析器光栅142的输出端与射线矩阵排列单元144的输入端电连接；分析器光栅142的光栅扫描仪可以先将待检测件的左上角作为第一行扫描的起点，向右扫第一条水平线，然后回到上一次水平扫描的起点偏下一点的位置，再通过电子束对待检测件扫描第二条水平线，以这个固定的路径和顺序进行扫描以整个待检测件进行光栅扫描。

在其中一个实施例中，如图2所示，射线捕获单元150包括均连接处理单元110的第一射线图像建立单元152、第二射线图像建立单元154；其中：

第一射线图像建立单元152用于对待检测件的表面进行X射线图像建立；

第二射线图像建立单元154用于对待检测件的缺失X射线检测处进行X射线图像建立。

具体而言，通过第一射线图像建立单元152对待检测件的表面进行X射线图像建立，第二射线图像建立单元154对待检测件的缺失X射线检测处进行X射线图像建立，通过将矩阵用于X射线的建立，通过第一射线图像建立单元152矩阵式发射X射线、第二射线图像建立单元154相应捕获X射线，能够实现X射线的全面覆盖，获取的检测数据更加准确，使得检测更加高效，实现对待检测的表面进行全面的矩阵X射线检测。

在一些示例中，第二射线图像建立单元154为相对于第一射线图像建立单元152的侧面设置，以实现对待检测件的表面进行矩阵X射线的全面建立。

在其中一个实施例中，处理单元110用于根据特征点定位结果，输出针对待检测件的调整指令至导向定位单元130；

如图2所示，导向定位单元130包括多轴移动机械臂132和检测位置捕捉单元134；导向定位单元130基于调整指令，通过多轴移动机械臂132调整待检测件的当前位姿，通过检测位置捕捉单元134对待检测件的检测部位进行捕捉定位。

具体而言，导向定位单元130能够对待检测件进行定位、调整；待检测件的检测部位即待检测件需要检测的部位；检测位置捕捉单元134能够记录需要检测的部位的位置，并对待检测件的检测部位进行快速捕捉定位，以实现对待检测件的精确检测；通过多轴移动机械臂132和检测位置捕捉单元134在待检测件发生移动的情况下，进行精准定位和调节，提高了定位效率和检测的稳定性。

在一个实施例中，如图3所示，提供了一种X射线检测系统。所述系统包括权利要求1至4的X射线检测设备；系统还包括与处理单元110连接的云端操作设备310，云端操作设备310用于远程监控、及控制处理单元110。

具体而言，云端操作设备310可以对处理单元110内的信息进行远程监控，同时对处理单元110内的信息进行云端更改操控。

在一个实施例中，如图4所示，提供了一种X射线检测方法。所述方法应用于X射线检测设备的处理单元110；X射线检测设备包括均与处理单元110连接的图像采集单元120和导向定位单元130；X射线检测设备还包括射线源单元140，以及分别连接处理单元110和射线源单元140的射线捕获单元150；

方法包括：

步骤410，处理待检测件图像，得到特征定位结果；待检测件图像为图像采集单元120对待检测件进行图像采集并传输得到；

步骤420，根据特征点定位结果、通过导向定位单元130调整待检测件的当前位姿；

步骤430，基于检测数据，确定待检测件的缺陷；检测数据为射线捕获单元150在捕获到射线源单元140对待检测件发射的X射线的情况下输出得到。

具体而言，待检测件图像可以为待检测件的整体图像，也可以为待检测件的检测部位的图像；特征点定位结果可以为待检测件各特征点与预设位置的偏差，通过得到特征定位结果，可以实现对待检测件移动的情况下的跟踪定位，以及对于待检测件的特征处的优先检测；检测数据可以为待检测件表面建立的矩阵式X射线的捕获数据；待检测件的缺陷可以包括待检测件的缺陷特征、待检测件的缺陷类型和待检测件的缺陷定位。

在一些示例中，由于待检测件的当前姿态可以调整为满足条件的位置和角度，通过直接将检测数据与预设标准的模型图像数据进行缺陷对比检测，能够高效、准确的确定待检测件的缺陷位置，并基于缺陷位置，提取缺陷特征，并进一步进行分类、导入模型图像数据作为可能出现的缺陷以便辅助检测，特别是应用于同批待检测件的X射线检测中，以提高检测效率。

在其中一个实施例中，处理待检测件图像，得到特征定位结果的步骤包括：

处理待检测件图像，得到待检测件的坐标位置；

基于待检测件的坐标位置，对比待检测件图像和预设标准图像，得到特征定位结果。

具体而言，通过处理待检测件图像，得到待检测件的坐标位置，能够得到待检测件的位置并对坐标位置进行记录；预设标准图像包括检测部位的核定图像特性，通过对比待检测件图像和预设标准图像，能够确定待检测件图像的特征、以及各特征的相应定位，例如A为预设标准图像，B为检测件图像，通过对比预设标准图像A和检测件图像B，能够将预设标准图像A上的A1点与检测件图像B上的B1点对应，从而得到特征定位结果。

在其中一个实施例中，根据所述特征点定位结果、通过所述导向定位单元130调整所述待检测件的当前位姿的步骤包括：

根据特征点定位结果，得到待检测件的待调整位置和待调整角度，并输出相应的调整指令；调整指令用于指示导向定位单元130调整待检测件的当前位姿。

具体而言，基于上述特征定位结果，能够确定预设标准图像A的A1点和检测件图像B上的B1点之间的位移，如此确定预设标准图像A和检测件图像B的各个特征点之间的位移，能够得到待检测件的待调整位置和待调整角度，进而输出用于指示导向定位单元130调整待检测件的当前位姿的调整指令。

在其中一个实施例中，基于检测数据，确定待检测件的缺陷的步骤包括：

对检测数据与模型图像数据进行缺陷对比检测，获取缺陷图像数据；模型图像数据为基于待检测件的合格标准模型得到；

对缺陷图像数据进行特征提取，得到待检测件的缺陷特征数据。

具体而言，对检测数据与模型图像数据进行缺陷对比检测，获取缺陷图像数据并记录；进一步的，对待检测件的各检测部位的缺陷图像数据进行特征提取，得到待检测件的缺陷特征数据并导入存储，以便于对缺陷特征进行学习，便于提高后续检测效率。

在一些示例中，待检测件的合格标准模型可以通过获取合格标准的待检测件的检测数据、进一步生成待检测件的合格标准图像数据以导入并存储以得到。可以通过对待检测件的缺陷特征数据进行分类，确定待检测件的缺陷类型。

应该理解的是，虽然图4的流程图中的各个步骤按照箭头的指示依次显示，但是这些步骤并不是必然按照箭头指示的顺序依次执行。除非本文中有明确的说明，这些步骤的执行并没有严格的顺序限制，这些步骤可以以其它的顺序执行。而且，图4中的至少一部分步骤可以包括多个子步骤或者多个阶段，这些子步骤或者阶段并不必然是在同一时刻执行完成，而是可以在不同的时刻执行，这些子步骤或者阶段的执行顺序也不必然是依次进行，而是可以与其它步骤或者其它步骤的子步骤或者阶段的至少一部分轮流或者交替地执行。

基于同样的发明构思，本申请实施例还提供了一种用于实现上述所涉及的X射线检测方法的X射线检测装置。该装置所提供的解决问题的实现方案与上述方法中所记载的实现方案相似，故下面所提供的一个或多个X射线检测装置实施例中的具体限定可以参见上文中对于X射线检测方法的限定，在此不再赘述。

在一个实施例中，如图5所示，提供了一种X射线检测装置。所述装置应用于X射线检测设备的处理单元110；X射线检测设备包括均与处理单元110连接的图像采集单元120和位姿调整单元；X射线检测设备还包括射线源单元140，以及分别连接处理单元110和射线源单元140的射线捕获单元150；

装置包括：

图像处理模块510，用于处理待检测件图像，得到特征定位结果；待检测件图像为图像采集单元120对待检测件进行图像采集并传输得到；

位姿调整模块520，用于根据特征点定位结果、通过导向定位单元130调整待检测件的当前位姿；

缺陷检测模块530，用于基于检测数据，确定待检测件的缺陷；检测数据为射线捕获单元150在捕获到射线源单元140对待检测件发射的X射线的情况下输出得到。

在其中一个实施例中，图像处理模块510还用于处理待检测件图像，得到待检测件的坐标位置；基于待检测件的坐标位置，对比待检测件图像和预设标准图像，得到特征定位结果。

在其中一个实施例中，位姿调整模块520还用于根据特征点定位结果，得到待检测件的待调整位置和待调整角度，并输出相应的调整指令；调整指令用于指示导向定位单元130调整待检测件的当前位姿。

在其中一个实施例中，缺陷检测模块530还用于对检测数据与模型图像数据进行缺陷对比检测，获取缺陷图像数据；模型图像数据为基于待检测件的合格标准模型得到；对缺陷图像数据进行特征提取，得到待检测件的缺陷特征数据。

关于X射线检测装置的具体限定可以参见上文中对于X射线检测方法的限定，在此不再赘述。上述X射线检测装置中的各个模块可全部或部分通过软件、硬件及其组合来实现。上述各模块可以硬件形式内嵌于或独立于计算机设备中的处理器中，也可以以软件形式存储于计算机设备中的存储器中，以便于处理器调用执行以上各个模块对应的操作。需要说明的是，本申请实施例中对模块的划分是示意性的，仅仅为一种逻辑功能划分，实际实现时可以有另外的划分方式。

在本说明书的描述中，参考术语“有些实施例”、“其他实施例”、“理想实施例”等的描述意指结合该实施例或示例描述的具体特征、结构、材料或者特征包含于本申请的至少一个实施例或示例中。在本说明书中，对上述术语的示意性描述不一定指的是相同的实施例或示例。

以上实施例的各技术特征可以进行任意的组合，为使描述简洁，未对上述实施例中的各个技术特征所有可能的组合都进行描述，然而，只要这些技术特征的组合不存在矛盾，都应当认为是本说明书记载的范围。

以上所述实施例仅表达了本申请的几种实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对发明专利范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本申请构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本申请的保护范围。因此，本申请专利的保护范围应以所附权利要求为准。

Claims (10)

1.一种X射线检测设备，其特征在于，所述设备包括处理单元，以及均与所述处理单元连接的图像采集单元和导向定位单元；其中：

所述图像采集单元对待检测件进行图像采集，传输待检测件图像至所述处理单元；所述处理单元用于处理所述待检测件图像，得到特征点定位结果；所述处理单元还用于根据所述特征点定位结果、通过所述导向定位单元调整所述待检测件的当前位姿；

所述设备还包括射线源单元，以及分别连接所述处理单元和所述射线源单元的射线捕获单元；

所述射线源单元用于对所述待检测件发射X射线；所述射线捕获单元在捕获到所述X射线的情况下，输出检测数据；所述处理单元用于基于所述检测数据，确定所述待检测件的缺陷。

2.根据权利要求1所述的设备，其特征在于，所述射线源单元包括分析器光栅，以及连接所述分析器光栅的射线矩阵排列单元；其中：

所述分析器光栅用于光栅扫描及检测；

所述射线矩阵排列单元用于矩阵排列所述X射线。

3.根据权利要求2所述的设备，其特征在于，所述射线捕获单元包括均连接所述处理单元的第一射线图像建立单元、第二射线图像建立单元；其中：

所述第一射线图像建立单元用于对所述待检测件的表面进行X射线图像建立；

所述第二射线图像建立单元用于对所述待检测件的缺失X射线检测处进行X射线图像建立。

4.根据权利要求1所述的设备，其特征在于，所述处理单元用于根据所述特征点定位结果，输出针对所述待检测件的调整指令至所述导向定位单元；

所述导向定位单元包括多轴移动机械臂和检测位置捕捉单元；所述导向定位单元基于所述调整指令，通过所述多轴移动机械臂调整所述待检测件的当前位姿，通过所述检测位置捕捉单元对所述待检测件的检测部位进行捕捉定位。

5.一种X射线检测系统，其特征在于，所述系统包括权利要求1至4所述的X射线检测设备；所述系统还包括与所述处理单元连接的云端操作设备，所述云端操作设备用于远程监控、及控制所述处理单元。

6.一种X射线检测方法，其特征在于，所述方法应用于X射线检测设备的处理单元；所述X射线检测设备包括均与所述处理单元连接的图像采集单元和导向定位单元；所述X射线检测设备还包括射线源单元，以及分别连接所述处理单元和所述射线源单元的射线捕获单元；

所述方法包括：

处理待检测件图像，得到特征定位结果；所述待检测件图像为所述图像采集单元对待检测件进行图像采集并传输得到；

根据所述特征点定位结果、通过所述导向定位单元调整所述待检测件的当前位姿；

基于检测数据，确定所述待检测件的缺陷；所述检测数据为所述射线捕获单元在捕获到所述射线源单元对所述待检测件发射的X射线的情况下输出得到。

7.根据权利要求6所述的方法，其特征在于，所述处理待检测件图像，得到特征定位结果的步骤包括：

处理所述待检测件图像，得到所述待检测件的坐标位置；

基于所述待检测件的坐标位置，对比所述待检测件图像和预设标准图像，得到所述特征定位结果。

8.根据权利要求6或7所述的方法，其特征在于，所述根据所述特征点定位结果、通过所述导向定位单元调整所述待检测件的当前位姿的步骤包括：

根据所述特征点定位结果，得到所述待检测件的待调整位置和待调整角度，并输出相应的调整指令；所述调整指令用于指示所述导向定位单元调整所述待检测件的当前位姿。

9.根据权利要求6所述的方法，其特征在于，所述基于检测数据，确定所述待检测件的缺陷的步骤包括：

对所述检测数据与模型图像数据进行缺陷对比检测，获取缺陷图像数据；所述模型图像数据为基于所述待检测件的合格标准模型得到；

对所述缺陷图像数据进行特征提取，得到所述待检测件的缺陷特征数据。

10.一种X射线检测装置，其特征在于，所述装置应用于X射线检测设备的处理单元；所述X射线检测设备包括均与所述处理单元连接的图像采集单元和位姿调整单元；所述X射线检测设备还包括射线源单元，以及分别连接所述处理单元和所述射线源单元的射线捕获单元；

所述装置包括：

图像处理模块，用于处理待检测件图像，得到特征定位结果；所述待检测件图像为所述图像采集单元对待检测件进行图像采集并传输得到；

位姿调整模块，用于根据所述特征点定位结果、通过所述导向定位单元调整所述待检测件的当前位姿；

缺陷检测模块，用于基于检测数据，确定所述待检测件的缺陷；所述检测数据为所述射线捕获单元在捕获到所述射线源单元对所述待检测件发射的X射线的情况下输出得到。

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