CN114744399A - 天线自动化调试系统及方法 - Google Patents

天线自动化调试系统及方法 Download PDF

Info

Publication number
CN114744399A
CN114744399A CN202210659159.9A CN202210659159A CN114744399A CN 114744399 A CN114744399 A CN 114744399A CN 202210659159 A CN202210659159 A CN 202210659159A CN 114744399 A CN114744399 A CN 114744399A
Authority
CN
China
Prior art keywords
antenna
debugged
debugging
computer
standard
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
CN202210659159.9A
Other languages
English (en)
Other versions
CN114744399B (zh
Inventor
孙中亮
黄嘉铖
王金燕
占兆昕
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Shenzhen Huada Beidou Technology Co ltd
Original Assignee
Shenzhen Huada Beidou Technology Co ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Shenzhen Huada Beidou Technology Co ltd filed Critical Shenzhen Huada Beidou Technology Co ltd
Priority to CN202210659159.9A priority Critical patent/CN114744399B/zh
Publication of CN114744399A publication Critical patent/CN114744399A/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN114744399B publication Critical patent/CN114744399B/zh
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01QANTENNAS, i.e. RADIO AERIALS
    • H01Q1/00Details of, or arrangements associated with, antennas
    • H01Q1/36Structural form of radiating elements, e.g. cone, spiral, umbrella; Particular materials used therewith
    • H01Q1/38Structural form of radiating elements, e.g. cone, spiral, umbrella; Particular materials used therewith formed by a conductive layer on an insulating support
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B23MACHINE TOOLS; METAL-WORKING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • B23KSOLDERING OR UNSOLDERING; WELDING; CLADDING OR PLATING BY SOLDERING OR WELDING; CUTTING BY APPLYING HEAT LOCALLY, e.g. FLAME CUTTING; WORKING BY LASER BEAM
    • B23K26/00Working by laser beam, e.g. welding, cutting or boring
    • B23K26/36Removing material
    • B23K26/362Laser etching
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06TIMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
    • G06T7/00Image analysis
    • G06T7/70Determining position or orientation of objects or cameras
    • G06T7/73Determining position or orientation of objects or cameras using feature-based methods
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K3/00Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
    • H05K3/02Apparatus or processes for manufacturing printed circuits in which the conductive material is applied to the surface of the insulating support and is thereafter removed from such areas of the surface which are not intended for current conducting or shielding
    • H05K3/027Apparatus or processes for manufacturing printed circuits in which the conductive material is applied to the surface of the insulating support and is thereafter removed from such areas of the surface which are not intended for current conducting or shielding the conductive material being removed by irradiation, e.g. by photons, alpha or beta particles

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Computer Vision & Pattern Recognition (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Plasma & Fusion (AREA)
  • Mechanical Engineering (AREA)
  • Variable-Direction Aerials And Aerial Arrays (AREA)

Abstract

本发明实施例公开了一种天线自动化调试系统及方法,所述系统包括调试治具、激光器、网络分析仪、CCD视觉系统和计算机,计算机连接激光器、网络分析仪、CCD视觉系统,计算机接收网络分析仪和CCD视觉系统的数据并对比标准天线数据判断当前待调试天线是否合格,若否则计算得到待调试天线的需要调试的位置的坐标信息,根据坐标信息控制激光器对待调试天线进行镭雕。本发明可量化良品指标范围,且全部有算法执行,产品一致性好,效率高,占用空间小。

Description

天线自动化调试系统及方法
技术领域
本发明涉及天线技术领域,尤其涉及一种天线自动化调试系统及方法。
背景技术
微带天线的结构一般由介质基板、辐射体及接地板构成。介质基板的厚度远小于波长,基板底部的金属薄层与接地板相接,正面则通过光刻工艺制作具有特定形状的金属薄层作为辐射体。辐射片的形状根据要求可进行多种变化。带微天线在结构及物理性能等方面具有诸如方向图剖面低,尺寸小,天线性能多样化等特点。
微带天线基板的介电常数决定了天线的尺寸,所以如要减少天线尺寸,必须使用高介电常数的基板,而高介电常数基本往往带来介电常数存在偏差的问题,其原是因为基板是由多种混合物搅拌后烧结而成,其中混料的均匀度和烧结时的升温快慢均会对介电常数带来偏差,从而导致生产出的天线存在频偏现像,所以每家微带天线生产厂家都会有大量工人对天线进行人工调频。
目前天线调频存在以下缺陷和不足:
1、人工调频效率低、成本高,天线成品的一致性受工人专业度和熟练度的影响。
2、因为人工调频,生产无法数据化,无法明确知晓该批产品的调试前产品品质的离散性。
3、人工调频所占据场地较大。
发明内容
本发明实施例所要解决的技术问题在于,提供一种天线自动化调试系统及方法,以实现天线的自动化调试。
为了解决上述技术问题,本发明实施例提出了一种天线自动化调试系统,包括调试治具、激光器、网络分析仪、CCD视觉系统和计算机,计算机连接激光器、网络分析仪、CCD视觉系统,其中,
调试治具用于承载待调试天线,调试治具连接网络分析仪;
网络分析仪用于读取调试治具中待调试天线的数据,并将数据上传给计算机;
激光器用于接收计算机发送的坐标信息,根据坐标信息进行镭雕,镭雕完成后反馈给计算机;
CCD视觉系统用于将待调试天线的调试面转换成与激光器统一的坐标系;
计算机接收网络分析仪和CCD视觉系统的数据并对比标准天线数据判断当前待调试天线是否合格,若否则计算得到待调试天线的需要调试的位置的坐标信息,根据坐标信息控制激光器对待调试天线进行镭雕。
进一步地,所述计算机根据网络分析仪读取的数据计算待调试天线和标准天线的频率偏移程度、耦合点带宽的偏差程度、耦合点相角偏移程度,其中,若和标准天线的频率差为正,则对待调试天线的四边同时镭雕;若和标准天线的频率差为负,则对待调试天线的四角同时镭雕;若和标准天线的耦合带宽差为正,则对待调试天线的左上和右下同时镭雕;若和标准天线的耦合带宽差为负,则对待调试天线的右上和左下同时镭雕;若和标准天线的耦合点相角差为正,则对待调试天线的左右边同时镭雕;若和标准天线的耦合点相角差为负,则对待调试天线的上下边同时镭雕。
进一步地,还包括与计算机连接的自动上下料设备,自动上下料设备接收计算机的上下料指令,根据指令往调试治具填装待调试天线或取回完成调试的天线,并在指令执行完毕后反馈给计算机。
相应地,本发明实施例还提供了一种天线自动化调试方法,包括:
步骤1:将待调试天线填装入调试治具中,计算机通过网络分析仪读取待调试天线的数据,根据读取的数据判断当前的待调试天线是否合格,若是则取回所述天线,并保存读取的数据和判断结果至数据库;若否,则进入步骤2;
步骤2:计算机通过CCD视觉系统识别待调试天线的坐标信息;
步骤3:根据不合格的现象在数据库中寻找是否有类似现象的历史数据,若是,则将数据库中类似的历史数据中对应的调试的位置信息转成坐标信息;若否,则计算得到待调试天线的需要调试的位置的坐标信息;
步骤4:激光器根据坐标信息对待调试天线进行镭雕,完成对天线的调试。
进一步地,步骤1中通过计算待调试天线和标准天线的频率偏移程度、耦合点带宽的偏差程度、耦合点相角偏移程度是否在预设的范围内来判断当前的待调试天线是否合格,若是,则判断为合格,若否,则为不合格。
进一步地,步骤3中,先计算的待调试天线和标准天线的频率偏移程度、耦合点带宽的偏差程度、耦合点相角偏移程度,根据计算结果得到待调试天线的需要调试的位置的坐标信息,其中,若和标准天线的频率差为正,则对待调试天线的四边同时镭雕;若和标准天线的频率差为负,则对待调试天线的四角同时镭雕;若和标准天线的耦合带宽差为正,则对待调试天线的左上和右下同时镭雕;若和标准天线的耦合带宽差为负,则对待调试天线的右上和左下同时镭雕;若和标准天线的耦合点相角差为正,则对待调试天线的左右边同时镭雕;若和标准天线的耦合点相角差为负,则对待调试天线的上下边同时镭雕。
进一步地,步骤1之前还包括数据库构建步骤:构建不合格的天线的数据和对应的调试的位置信息的数据库。
本发明的有益效果为:
1、经过大量的调试后,本发明的数据库内会保留各种的不合格现象和相对应的调试过程,当再次扫描有不合格现象后会一次性执行之前的调试过程,大大节省了调试时间;本发明可以7*24小时工作,增加产能降低成本;本发明可量化良品指标范围,且全部有算法执行,故产品一致性好;
2、每次调试完后,调试前、调试过程和调试后结果数据会保存至数据库,可统计调试前品质的离散性,以便后续生产持续改进;
3、本发明的调试系统结构简单,所占用高度仅1.2米,因为全自动化,同样的空间,本发明的调试系统能够布置更多台。
附图说明
图1是本发明实施例的天线自动化调试系统的原理框图。
图2是本发明实施例的天线自动化调试系统的结构示意图。
图3是本发明实施例的天线自动化调试方法的流程示意图。
图4是本发明实施例的CCD视觉系统读取的天线表面的示意图。
图5是本发明实施例的CCD视觉系统通过图像识别上报的天线表面的坐标示意图。
附图标号说明
调试治具1,网络分析仪2,CCD视觉系统3,激光器4,计算机5,自动上下料设备6。
具体实施方式
需要说明的是,在不冲突的情况下,本申请中的实施例及实施例中的特征可以相互结合,下面结合附图和具体实施例对本发明作进一步详细说明。
本发明实施例中若有方向性指示(诸如上、下、左、右、前、后……)仅用于解释在某一特定姿态(如附图所示)下各部件之间的相对位置关系、运动情况等,如果该特定姿态发生改变时,则该方向性指示也相应地随之改变。
另外,在本发明中若涉及“第一”、“第二”等的描述仅用于描述目的,而不能理解为指示或暗示其相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此,限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括至少一个该特征。
请参照图1~图2,本发明实施例的天线自动化调试系统包括调试治具、激光器、网络分析仪、CCD视觉系统和计算机以及自动上下料设备。计算机连接激光器、网络分析仪、CCD视觉系统以及自动上下料设备。
自动上下料设备接收计算机的上下料指令,根据指令往调试治具填装待调试天线或取回完成调试的天线,并在指令执行完毕后反馈给计算机。
调试治具用于承载待调试天线,调试治具连接网络分析仪。
网络分析仪用于读取调试治具中待调试天线的数据,并将数据上传给计算机。
激光器用于接收计算机发送的坐标信息,根据坐标信息进行镭雕,镭雕完成后反馈给计算机。
CCD视觉系统用于将待调试天线的调试面转换成与激光器统一的坐标系。
计算机接收网络分析仪和CCD视觉系统的数据并对比标准天线数据判断当前待调试天线是否合格,若否则计算得到待调试天线的需要调试的位置的坐标信息,根据坐标信息控制激光器对待调试天线进行镭雕。
作为一种实施方式,计算机根据网络分析仪读取的数据计算待调试天线和标准天线的频率偏移程度、耦合点带宽的偏差程度、耦合点相角偏移程度。具体见表1:
Figure 815777DEST_PATH_IMAGE001
请参照图3,本发明实施例的天线自动化调试方法包括:
步骤1:将待调试天线填装入调试治具中,计算机通过网络分析仪读取待调试天线的数据,根据读取的数据判断当前的待调试天线是否合格,若是则取回所述天线,并保存读取的数据和判断结果至数据库;若否,则进入步骤2;
步骤2:计算机通过CCD视觉系统识别待调试天线的坐标信息;
步骤3:根据不合格的现象在数据库中寻找是否有类似现象的历史数据,若是,则将数据库中类似的历史数据中对应的调试的位置信息转成坐标信息;若否,则计算得到待调试天线的需要调试的位置的坐标信息;
步骤4:激光器根据坐标信息对待调试天线进行镭雕,完成对天线的调试。
作为一种实施方式,步骤1中通过计算待调试天线和标准天线的频率偏移程度、耦合点带宽的偏差程度、耦合点相角偏移程度是否在预设的范围内来判断当前的待调试天线是否合格,若是,则判断为合格,若否,则为不合格。
作为一种实施方式,步骤3中,先计算的待调试天线和标准天线的频率偏移程度、耦合点带宽的偏差程度、耦合点相角偏移程度,根据计算结果得到待调试天线的需要调试的位置的坐标信息,其中,若和标准天线的频率差为正,则对待调试天线的四边同时镭雕;若和标准天线的频率差为负,则对待调试天线的四角同时镭雕;若和标准天线的耦合带宽差为正,则对待调试天线的左上和右下同时镭雕;若和标准天线的耦合带宽差为负,则对待调试天线的右上和左下同时镭雕;若和标准天线的耦合点相角差为正,则对待调试天线的左右边同时镭雕;若和标准天线的耦合点相角差为负,则对待调试天线的上下边同时镭雕。
作为一种实施方式,步骤1之前还包括数据库构建步骤:构建不合格的天线的数据和对应的调试的位置信息的数据库。
实施例:图4为CCD读取的天线表面坐标参数,此时计算机读取网分数据分析的结果和镭雕的执行过程见表2,经过第二次镭雕后NG偏差维度均符合范围,故将初始状态1,1,10和第二次镭雕的结果(左(0,5.25) (0.6,5.25) (0,4.75) (0.6,5.25);右(9.4,5.25)(10,5.25) (9.4,4.75) (10,4.75);上(4.75,10) (4.75,9.4) (5.25,10) (5.25,9.4);下(4.75,0.6) (4.75,0) (5.25,0.6) (5.25,0))保存在数据库内,如下次碰到NG现象为1,1,10情况,则直接输出第二次镭雕的结果。
Figure 670601DEST_PATH_IMAGE002
实施例中数据公式如下(坐标系以直线X1X6为横坐标,Y1Y3为纵坐标):
CCD通过图像识别上报以下6点(X1,Y1); (X2,Y2); (X3,Y3); (X4,Y4); (X5,Y5); (X6,Y6)数据,具体见图5:
通过设置提供以下数据:最小镭雕深度L;镭雕宽度W。
则需要镭雕的八个区域(上,下,左,右,右上,右下,左上,左下)的坐标点如下:
上:XU1=(X5-X3)/2-W/2,YU1=Y3;
XU2=(X5-X3)/2+W/2,YU2= Y3;
XU3=(X5-X3)/2+W/2, YU3= Y3-L;
XU4=(X5-X3)/2-W/2,YU4= Y3-L;
下:XD1=(X6-X2)/2-W/2, YD1=Y1+L;
XD2=(X6-X2)/2+W/2,YD2= Y1+L;
XD3=(X6-X2)/2+W/2,YD3= Y1
XD4=(X6-X2)/2-W/2, YD4=Y1
左:XL1= X2, YL1=(Y3-Y1)/2+W/2;
XL2= L, YL2=(Y3-Y1)/2+W/2;
XL3= L, YL3=(Y3-Y1)/2-W/2;
XL4= X2, YL4=(Y3-Y1)/2-W/2;
右:XR1= X6-L, YR1=(Y4-Y6)/2+W/2;
XR2= X6, YR2=(Y4-Y6)/2+W/2;
XR3= X6, YR3=(Y4-Y6)/2-W/2;
XR4= X6-L,YR4=(Y4-Y6)/2-W/2;
右上:X4, Y4;
X5,Y5;
XuR1= X4-L,YuR1=Y4;
XuR2= X5,YuR2=Y4-L;
右下:X6, Y6;
X6,Y6;
XDR1= X6,YDR1=Y6+L;
XDR2= X6-L,YDR2=Y6;
左上:X3, Y3;
X3,Y3;
XuL1= X3,YuL1=Y3-L;
XuL2= X3+L,YuL2=Y3;
左下:X1, Y1;
X2,Y2;
XDL1= X2,YDL1=Y2+L;
XDL2= X1+L,YDL2=Y1;
本发明不但能调试天线产品,而且对于所有的射频无源器件均可调试,如滤波器、双工器等。
尽管已经示出和描述了本发明的实施例,对于本领域的普通技术人员而言,可以理解在不脱离本发明的原理和精神的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型,本发明的范围由所附权利要求及其等同范围限定。

Claims (7)

1.一种天线自动化调试系统,其特征在于,包括调试治具、激光器、网络分析仪、CCD视觉系统和计算机,计算机连接激光器、网络分析仪、CCD视觉系统,其中,
调试治具用于承载待调试天线,调试治具连接网络分析仪;
网络分析仪用于读取调试治具中待调试天线的数据,并将数据上传给计算机;
激光器用于接收计算机发送的坐标信息,根据坐标信息进行镭雕,镭雕完成后反馈给计算机;
CCD视觉系统用于将待调试天线的调试面转换成与激光器统一的坐标系;
计算机接收网络分析仪和CCD视觉系统的数据并对比标准天线数据判断当前待调试天线是否合格,若否则计算得到待调试天线的需要调试的位置的坐标信息,根据坐标信息控制激光器对待调试天线进行镭雕。
2.如权利要求1所述的天线自动化调试系统,其特征在于,所述计算机根据网络分析仪读取的数据计算待调试天线和标准天线的频率偏移程度、耦合点带宽的偏差程度、耦合点相角偏移程度,其中,若和标准天线的频率差为正,则对待调试天线的四边同时镭雕;若和标准天线的频率差为负,则对待调试天线的四角同时镭雕;若和标准天线的耦合带宽差为正,则对待调试天线的左上和右下同时镭雕;若和标准天线的耦合带宽差为负,则对待调试天线的右上和左下同时镭雕;若和标准天线的耦合点相角差为正,则对待调试天线的左右边同时镭雕;若和标准天线的耦合点相角差为负,则对待调试天线的上下边同时镭雕。
3.如权利要求1所述的天线自动化调试系统,其特征在于,还包括与计算机连接的自动上下料设备,自动上下料设备接收计算机的上下料指令,根据指令往调试治具填装待调试天线或取回完成调试的天线,并在指令执行完毕后反馈给计算机。
4.一种天线自动化调试方法,其特征在于,包括:
步骤1:将待调试天线填装入调试治具中,计算机通过网络分析仪读取待调试天线的数据,根据读取的数据判断当前的待调试天线是否合格,若是则取回所述天线,并保存读取的数据和判断结果至数据库;若否,则进入步骤2;
步骤2:计算机通过CCD视觉系统识别待调试天线的坐标信息;
步骤3:根据不合格的现象在数据库中寻找是否有类似现象的历史数据,若是,则将数据库中类似的历史数据中对应的调试的位置信息转成坐标信息;若否,则计算得到待调试天线的需要调试的位置的坐标信息;
步骤4:激光器根据坐标信息对待调试天线进行镭雕,完成对天线的调试。
5.如权利要求4所述的天线自动化调试方法,其特征在于,步骤1中通过计算待调试天线和标准天线的频率偏移程度、耦合点带宽的偏差程度、耦合点相角偏移程度是否在预设的范围内来判断当前的待调试天线是否合格,若是,则判断为合格,若否,则为不合格。
6.如权利要求5所述的天线自动化调试方法,其特征在于,步骤3中,先计算的待调试天线和标准天线的频率偏移程度、耦合点带宽的偏差程度、耦合点相角偏移程度,根据计算结果得到待调试天线的需要调试的位置的坐标信息,其中,若和标准天线的频率差为正,则对待调试天线的四边同时镭雕;若和标准天线的频率差为负,则对待调试天线的四角同时镭雕;若和标准天线的耦合带宽差为正,则对待调试天线的左上和右下同时镭雕;若和标准天线的耦合带宽差为负,则对待调试天线的右上和左下同时镭雕;若和标准天线的耦合点相角差为正,则对待调试天线的左右边同时镭雕;若和标准天线的耦合点相角差为负,则对待调试天线的上下边同时镭雕。
7.如权利要求4所述的天线自动化调试方法,其特征在于,步骤1之前还包括数据库构建步骤:构建不合格的天线的数据和对应的调试的位置信息的数据库。
CN202210659159.9A 2022-06-13 2022-06-13 天线自动化调试系统及方法 Active CN114744399B (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN202210659159.9A CN114744399B (zh) 2022-06-13 2022-06-13 天线自动化调试系统及方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN202210659159.9A CN114744399B (zh) 2022-06-13 2022-06-13 天线自动化调试系统及方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN114744399A true CN114744399A (zh) 2022-07-12
CN114744399B CN114744399B (zh) 2022-09-16

Family

ID=82287082

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN202210659159.9A Active CN114744399B (zh) 2022-06-13 2022-06-13 天线自动化调试系统及方法

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN114744399B (zh)

Citations (20)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2005259153A (ja) * 2005-03-25 2005-09-22 Mitsubishi Materials Corp Rfid用トランスポンダのアンテナコイルの構造及び該アンテナコイルを用いた共振周波数の調整方法
JP2006303946A (ja) * 2005-04-21 2006-11-02 Ngk Spark Plug Co Ltd アンテナ、アンテナ調整方法
CN101086530A (zh) * 2007-07-04 2007-12-12 中国航空工业第一集团公司第六一三研究所 1.064μm激光测距机发射天线调试方法及调试设备
US20070287500A1 (en) * 2006-06-12 2007-12-13 Philip Riley Tuned directional antennas
CN101443795A (zh) * 2005-03-07 2009-05-27 传感电子公司 Rfid标签的自动调谐方法
US20090146894A1 (en) * 2007-12-05 2009-06-11 Honeywell International Inc. Reconfigurable antenna steering patterns
US20100082023A1 (en) * 2008-09-30 2010-04-01 Brannan Joseph D Microwave system calibration apparatus, system and method of use
CN102170321A (zh) * 2011-04-20 2011-08-31 李英祥 一种基站天线参数监测仪及自动监测方法
CN105896034A (zh) * 2015-02-12 2016-08-24 三星电机株式会社 模内天线及其制造方法以及用于控制天线特性的装置
CN106130663A (zh) * 2016-05-31 2016-11-16 北京小米移动软件有限公司 调整天线状态的方法及装置、电子设备
CN106252857A (zh) * 2016-07-29 2016-12-21 讯创(天津)电子有限公司 一种新型超窄耦合缝隙天线的激光三维制作设备和制作方法
CN107632209A (zh) * 2017-08-17 2018-01-26 北京无线电计量测试研究所 一种位置姿态调整机构和天线测试的位置姿态调整方法
CN107831372A (zh) * 2016-09-16 2018-03-23 是德科技股份有限公司 检测天线阵列和/或与其耦合的设备的缺陷的系统和方法
CN108872723A (zh) * 2017-05-11 2018-11-23 安立股份有限公司 无线终端的天线指向特性测量系统及测量方法
CN109188083A (zh) * 2018-08-28 2019-01-11 深圳市信维通信股份有限公司 一种lds天线的rf一致性与线路阻抗检测系统及方法
CN111092295A (zh) * 2019-12-16 2020-05-01 闻泰通讯股份有限公司 天线、天线调节方法、终端及存储介质
CN111190059A (zh) * 2018-11-15 2020-05-22 铨鼎塑胶股份有限公司 用于量测及调整天线辐射场型的系统
US20210011142A1 (en) * 2019-07-08 2021-01-14 Commissariat A L'energie Atomique Et Aux Energies Alternatives Method for calibrating an acoustic antenna
CN113608036A (zh) * 2021-06-30 2021-11-05 西安空间无线电技术研究所 一种双反射面天线系统高效高精度校准方法
CN114421133A (zh) * 2022-01-12 2022-04-29 深圳华大北斗科技股份有限公司 低成本全频段高精度定位金属薄膜天线

Patent Citations (20)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN101443795A (zh) * 2005-03-07 2009-05-27 传感电子公司 Rfid标签的自动调谐方法
JP2005259153A (ja) * 2005-03-25 2005-09-22 Mitsubishi Materials Corp Rfid用トランスポンダのアンテナコイルの構造及び該アンテナコイルを用いた共振周波数の調整方法
JP2006303946A (ja) * 2005-04-21 2006-11-02 Ngk Spark Plug Co Ltd アンテナ、アンテナ調整方法
US20070287500A1 (en) * 2006-06-12 2007-12-13 Philip Riley Tuned directional antennas
CN101086530A (zh) * 2007-07-04 2007-12-12 中国航空工业第一集团公司第六一三研究所 1.064μm激光测距机发射天线调试方法及调试设备
US20090146894A1 (en) * 2007-12-05 2009-06-11 Honeywell International Inc. Reconfigurable antenna steering patterns
US20100082023A1 (en) * 2008-09-30 2010-04-01 Brannan Joseph D Microwave system calibration apparatus, system and method of use
CN102170321A (zh) * 2011-04-20 2011-08-31 李英祥 一种基站天线参数监测仪及自动监测方法
CN105896034A (zh) * 2015-02-12 2016-08-24 三星电机株式会社 模内天线及其制造方法以及用于控制天线特性的装置
CN106130663A (zh) * 2016-05-31 2016-11-16 北京小米移动软件有限公司 调整天线状态的方法及装置、电子设备
CN106252857A (zh) * 2016-07-29 2016-12-21 讯创(天津)电子有限公司 一种新型超窄耦合缝隙天线的激光三维制作设备和制作方法
CN107831372A (zh) * 2016-09-16 2018-03-23 是德科技股份有限公司 检测天线阵列和/或与其耦合的设备的缺陷的系统和方法
CN108872723A (zh) * 2017-05-11 2018-11-23 安立股份有限公司 无线终端的天线指向特性测量系统及测量方法
CN107632209A (zh) * 2017-08-17 2018-01-26 北京无线电计量测试研究所 一种位置姿态调整机构和天线测试的位置姿态调整方法
CN109188083A (zh) * 2018-08-28 2019-01-11 深圳市信维通信股份有限公司 一种lds天线的rf一致性与线路阻抗检测系统及方法
CN111190059A (zh) * 2018-11-15 2020-05-22 铨鼎塑胶股份有限公司 用于量测及调整天线辐射场型的系统
US20210011142A1 (en) * 2019-07-08 2021-01-14 Commissariat A L'energie Atomique Et Aux Energies Alternatives Method for calibrating an acoustic antenna
CN111092295A (zh) * 2019-12-16 2020-05-01 闻泰通讯股份有限公司 天线、天线调节方法、终端及存储介质
CN113608036A (zh) * 2021-06-30 2021-11-05 西安空间无线电技术研究所 一种双反射面天线系统高效高精度校准方法
CN114421133A (zh) * 2022-01-12 2022-04-29 深圳华大北斗科技股份有限公司 低成本全频段高精度定位金属薄膜天线

Also Published As

Publication number Publication date
CN114744399B (zh) 2022-09-16

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN105657101A (zh) 一种壳体的净空区域的加工方法、壳体和移动终端
CN106211541A (zh) 一种提高电路板切割精度的定位基准点及方法
CN114218888B (zh) 一种集成电路版图电流密度超标区域标定方法及系统
CN210954326U (zh) 一种用于毫米波雷达的标定系统
CN114744399B (zh) 天线自动化调试系统及方法
EP4262330A1 (en) Secondary drilling process
CN113034435A (zh) 一种缺陷检测方法
CN107885939B (zh) 一种提高监控图形监控精度的方法
CN113587990A (zh) 基于微带天线传感器的参数检测方法、装置及设备
CN110640397B (zh) 操控面板制作方法、操控面板以及电子设备
CN113334032B (zh) 一种电路固定板的加工工艺及其加工系统
CN113987824B (zh) 基于发射天线和接收天线线端口的天线隔离度全波计算方法
CN107552638B (zh) 加工板材的方法、制备手机中框的方法、手机中框及手机
CN115921686A (zh) 一种改善冲压模具后工序符型问题的工艺方法
CN114187349B (zh) 产品加工方法、装置、终端设备以及存储介质
CN215965766U (zh) 一种高频微波射频板的高精度冲压模具
CN114966633A (zh) 一种准确稳定的多激光雷达外参标定方法、装置、设备以及介质
CN111273520B (zh) 一种改善蚀刻均匀性的曝光方法
CN114309976A (zh) 一种激光加工方法、激光加工设备及存储介质
CN115047438A (zh) 数据校正方法、装置、电子设备和存储介质
CN112506135A (zh) 一种可快速定义任意放置工件的工件坐标的方法
CN113641078A (zh) 凹槽掩模版的制作方法
CN115100131B (zh) 一种高精度视觉对位方法和系统
CN116242249B (zh) 酒甑视觉纠偏系统及其控制方法、装置
CN217506576U (zh) 相机标定工装

Legal Events

Date Code Title Description
PB01 Publication
PB01 Publication
SE01 Entry into force of request for substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
GR01 Patent grant
GR01 Patent grant