CN114744077A - N型tbc晶硅太阳能电池的制造方法 - Google Patents

N型tbc晶硅太阳能电池的制造方法 Download PDF

Info

Publication number
CN114744077A
CN114744077A CN202210389098.9A CN202210389098A CN114744077A CN 114744077 A CN114744077 A CN 114744077A CN 202210389098 A CN202210389098 A CN 202210389098A CN 114744077 A CN114744077 A CN 114744077A
Authority
CN
China
Prior art keywords
silicon wafer
silicon
depositing
type
type region
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
CN202210389098.9A
Other languages
English (en)
Inventor
丰明璋
赵文祥
蔡永梅
杜振星
杨金芳
何保杨
方灵新
何胜
徐伟智
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Chint New Energy Technology Co Ltd
Original Assignee
Chint New Energy Technology Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Chint New Energy Technology Co Ltd filed Critical Chint New Energy Technology Co Ltd
Priority to CN202210389098.9A priority Critical patent/CN114744077A/zh
Publication of CN114744077A publication Critical patent/CN114744077A/zh
Pending legal-status Critical Current

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L31/00Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L31/18Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment of these devices or of parts thereof
    • H01L31/1804Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment of these devices or of parts thereof comprising only elements of Group IV of the Periodic Table
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L31/00Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L31/02Details
    • H01L31/0224Electrodes
    • H01L31/022408Electrodes for devices characterised by at least one potential jump barrier or surface barrier
    • H01L31/022425Electrodes for devices characterised by at least one potential jump barrier or surface barrier for solar cells
    • H01L31/022433Particular geometry of the grid contacts
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L31/00Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L31/02Details
    • H01L31/0224Electrodes
    • H01L31/022408Electrodes for devices characterised by at least one potential jump barrier or surface barrier
    • H01L31/022425Electrodes for devices characterised by at least one potential jump barrier or surface barrier for solar cells
    • H01L31/022441Electrode arrangements specially adapted for back-contact solar cells
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L31/00Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L31/18Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment of these devices or of parts thereof
    • H01L31/186Particular post-treatment for the devices, e.g. annealing, impurity gettering, short-circuit elimination, recrystallisation
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L31/00Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L31/18Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment of these devices or of parts thereof
    • H01L31/186Particular post-treatment for the devices, e.g. annealing, impurity gettering, short-circuit elimination, recrystallisation
    • H01L31/1868Passivation
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y02TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
    • Y02PCLIMATE CHANGE MITIGATION TECHNOLOGIES IN THE PRODUCTION OR PROCESSING OF GOODS
    • Y02P70/00Climate change mitigation technologies in the production process for final industrial or consumer products
    • Y02P70/50Manufacturing or production processes characterised by the final manufactured product

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • Electromagnetism (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Sustainable Development (AREA)
  • Sustainable Energy (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Photovoltaic Devices (AREA)

Abstract

本发明提供了一种N型TBC晶硅太阳能电池的制造方法,包括:对硅片的正面进行清洗制绒及磷扩散,以形成N+前表面场;清洗去除硅片正面的硅磷玻璃;通过等离子体增强化学气相沉积法在硅片的背面依次沉积隧穿氧化层及P+多晶硅;利用激光消融分离硅片背面的P型区和N型区;利用碱性溶液清洗硅片;在硅片的正面沉积钝化减反射膜;在硅片的背面沉积钝化膜;在硅片的背面印刷电极并烧结。该方法与现有LPCVD方式沉积多晶硅相比,可以有效提升沉积速率,进而提升单台单管设备的产能。同时,采用激光消融方式对背面P型区和N型区进行分离,无需多次采用掩膜和光刻技术,因而可以有效简化生成过程中的工艺步骤,在保证良率的情况下进一步的提升生产效率。

Description

N型TBC晶硅太阳能电池的制造方法
技术领域
本发明涉及太阳能电池生产制造领域,特别是涉及一种N型TBC晶硅太阳能电池的制造方法。
背景技术
晶体硅太阳能光伏电池技术近年来发展迅速,而研发和制造出高效、稳定且低成本的太阳能电池是当下行业关注的重心。相对P型晶硅电池来说,N型晶硅电池的少子寿命高,无光致衰减,弱光效应好,温度系数小,是晶硅太阳能电池迈向理论最高效率的希望。
TBC(Tunneling oxide passivated Back Contact)太阳能电池是指正负金属电极呈叉指状方式排列在电池背光面的一种背结背接触的太阳电池结构,它的p-n结位于电池背面即用P+多晶硅作为发射极(Emitter),掺杂N++作为BSF,并在多晶硅与掺杂层之间沉积一层隧穿氧化层SiO2,使其具有更低的复合,更好的接触,更高的转化效率。
当前N型TBC晶硅太阳能电池采用LPCVD(Low Pressure Chemical VaporDeposition,低压力化学气相沉积法)的方式沉积多晶硅存在产能低,产出量为400-500pcs/H,由于沉积方式和设备载具,其绕镀严重,所用的石英舟和石英管等维护成本高;背面指交叉状的p区和n区在制作过程中,需要多次的掩膜和光刻技术,制作工序繁琐,制作成本高;由于TBC电池的正表面没有金属栅线的遮挡,电流密度大,导致在背面的接触电阻和栅线上外部串联电阻损失大,电池整体的串联电阻大于2.0mΩ。
采用LPCVD的方式生产N型TBC晶硅太阳能电池虽然存在以上产能低,去绕镀难,维护成本高等问题,却仍是沉积隧穿氧化层SiO2和掺杂多晶硅的主要方法。同时,硅片背面指交叉状的p型区和n型区在制作过程中,需要多次的掩膜和光刻技术,不仅制作工序繁琐,且制作成本高。
发明内容
本发明提供了一种N型TBC晶硅太阳能电池的制造方法,用以在提升生产效率的同时解决绕镀问题,以及降低电池片的生产成本,该N型TBC晶硅太阳能电池的制造方法包括:
对硅片的正面进行清洗制绒及磷扩散,以形成N+前表面场;
清洗去除硅片正面的硅磷玻璃;
通过等离子体增强化学气相沉积法在硅片的背面依次沉积隧穿氧化层及P+多晶硅;
利用激光消融分离硅片背面的P型区和N型区;
利用碱性溶液清洗硅片;
在硅片的正面沉积钝化减反射膜;
在硅片的背面沉积钝化膜;
在硅片的背面印刷电极并烧结。
具体实施中,所述通过等离子体增强化学气相沉积法在硅片的背面依次沉积隧穿氧化层及P+多晶硅,进一步包括:
通过等离子体增强化学气相沉积法在硅片的背面沉积氧化硅膜;
通过等离子体增强化学气相沉积法在硅片的背面沉积P+多晶硅。
具体实施中,所述在硅片的正面沉积钝化减反射膜,进一步包括:
在硅片的正面沉积氧化铝膜或氧化硅膜;
通过等离子体增强化学气相沉积法在硅片的正面沉积第二氮化硅膜。
具体实施中,所述在硅片的正面沉积氧化铝膜或氧化硅膜,进一步包括:
通过等离子体增强化学气相沉积法或原子层沉积法在硅片的正面沉积氧化铝膜或氧化硅膜。
具体实施中,所述利用激光消融分离硅片背面的P型区和N型区,进一步包括:
利用紫外激光消融分离硅片背面的P型区和N型区。
具体实施中,所述紫外激光的能量为0.01-5W、频率为100Khz-500Khz、光斑直径为10um-30um、少子寿命衰减值为0-10us及相对衰减为0%-0.9%。
具体实施中,所述在硅片的背面沉积钝化膜,进一步包括:
在硅片的背面沉积第一氮化硅膜。
具体实施中,所述在硅片的背面印刷电极并烧结,进一步包括:
使用铝浆在硅片背面的P型区印刷,以烧结形成P型区金属栅线电极;
使用银浆在硅片背面的N型区印刷,以烧结形成N型区金属栅线电极。
具体实施中,所述金属栅线电极呈H型。
具体实施中,所述P型区金属栅线电极包括5-20根主栅,80-300根细栅;所述细栅的宽度为100-200um、高度为10-40um。
具体实施中,所述N型区金属栅线电极包括5-20根主栅,80-200根细栅;所述细栅的宽度为15-50um、高度为10-25um。
具体实施中,其特征在于,所述P型区的接触电阻率为0.5-1.5mΩ·cm2,所述N型区的接触电阻率为0.5-1.5mΩ·cm2;串联电阻为0.5-1.5mΩ,中性区的反向饱和电流密度J01为10-25fA/cm2,空间电荷区的反向饱和电流密度J02为0.5-3nA/cm2
具体实施中,所述遂穿氧化层的厚度为1-8nm。
具体实施中,P+多晶硅的厚度为80-200nm,掺杂浓度为1E20-6E20atoms/cm3
具体实施中,所述等离子体增强化学气相沉积法采用的载具为石墨舟。
本发明提供的N型TBC晶硅太阳能电池的制造方法,包括:对硅片的正面进行清洗制绒及磷扩散,以形成N+前表面场;清洗去除硅片正面的硅磷玻璃;通过等离子体增强化学气相沉积法在硅片的背面依次沉积隧穿氧化层及P+多晶硅;利用激光消融分离硅片背面的P型区和N型区;利用碱性溶液清洗硅片;在硅片的正面沉积钝化减反射膜;在硅片的背面沉积钝化膜;在硅片的背面印刷电极并烧结。该N型TBC晶硅太阳能电池的制造方法与现有的LPCVD方式沉积多晶硅相比,可以有效提升沉积速率,进而提升单台单管设备的产能。同时,采用激光消融方式对背面P型区和N型区进行分离,无需多次采用掩膜和光刻技术,因而可以有效简化生成过程中的工艺步骤,在保证良率的情况下进一步的提升生产效率。
附图说明
为了更清楚地说明本发明具体实施方式或现有技术中的技术方案,下面将对具体实施方式或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本发明的一些具体实施方式,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。在附图中:
图1是根据本发明一个具体实施方式中N型TBC晶硅太阳能电池的制造方法流程示意图;
图2是根据本发明一个具体实施方式中硅片正面沉积钝化减反射膜的流程示意图;
图3是根据本发明一个具体实施方式中硅片背面印刷电极并烧结的流程示意图;
图4是根据本发明一个具体实施方式中N型TBC晶硅太阳能电池的结构示意图。
具体实施方式
为使本发明具体实施方式的目的、技术方案和优点更加清楚明白,下面结合附图对本发明具体实施方式做进一步详细说明。在此,本发明的示意性具体实施方式及其说明用于解释本发明,但并不作为对本发明的限定。
如图1及图4所示,本发明提供了一种N型TBC晶硅太阳能电池的制造方法,用以在提升生产效率的同时解决绕镀问题,以及降低电池片的生产成本,该N型TBC晶硅太阳能电池的制造方法包括:
101:对硅片的正面进行清洗制绒及磷扩散,以形成N+前表面场;
102:清洗去除硅片正面的硅磷玻璃;
103:通过等离子体增强化学气相沉积法在硅片的背面依次沉积隧穿氧化层及P+多晶硅;
104:利用激光消融分离硅片背面的P型区和N型区;
105:利用碱性溶液清洗硅片;
106:在硅片的正面沉积钝化减反射膜;
107:在硅片的背面沉积钝化膜;
108:在硅片的背面印刷电极并烧结。
具体实施中,与采用LPCVD方式相比,采用PECVD法在硅片的背面沉积隧穿氧化层和P+-Poly-Si,单台单管设备产能可以有效提升约200pcs/H。
具体实施中,所述步骤103:通过等离子体增强化学气相沉积法在硅片的背面依次沉积隧穿氧化层及P+多晶硅,可以进一步包括:
通过等离子体增强化学气相沉积法在硅片的背面沉积氧化硅膜;
通过等离子体增强化学气相沉积法在硅片的背面沉积P+多晶硅。
具体实施中,所述步骤106:在硅片的正面沉积钝化减反射膜,可以有多种实施方案,例如,如图2所示,所述步骤106可以进一步包括:
201:在硅片的正面沉积氧化铝膜或氧化硅膜;
202:通过等离子体增强化学气相沉积法在硅片的正面沉积第二氮化硅膜。
具体实施中,可以通过多种方式在规模的正面沉积氧化铝膜或是氧化硅膜,例如,所述步骤201:在硅片的正面沉积氧化铝膜或氧化硅膜,可以进一步包括:
通过等离子体增强化学气相沉积法或原子层沉积法在硅片的正面沉积氧化铝膜或氧化硅膜。
具体实施中,利用激光消融分离硅片背面的P型区和N型区,可以有多种实施方案。例如,由于,所述步骤104:利用激光消融分离硅片背面的P型区和N型区,可以进一步包括:利用紫外激光消融分离硅片背面的P型区和N型区。采用紫外激光直接取出部分多晶硅,可以高效、精准的实现硅片背面P型区与N型区的分离,且采用皮秒级UV激光进行消融,消融后少子寿命基本不受影响。具体的,消融前后少子寿命衰减值小于10us左右,少子寿命相对衰减小于0.9%;
具体实施中,紫外激光的设置在实施中可以有多种方案。例如,所述紫外激光的能量可以为0.01-5W、频率可以为100Khz-500Khz、光斑直径可以为10um-30um、少子寿命衰减值可以为0-10us及相对衰减可以为0%-0.9%。
具体实施中,硅片背面钝化膜的设置可以有多种实施方案。例如,所述步骤107:在硅片的背面沉积钝化膜,可以进一步包括:
在硅片的背面沉积第一氮化硅膜。
具体实施中,在硅片的背面印刷电极并烧结,可以有多种实施方案。例如,如图3所示,所述步骤:108在硅片的背面印刷电极并烧结,可以进一步包括:
301:使用铝浆在硅片背面的P型区印刷,以烧结形成P型区金属栅线电极;
302:使用银浆在硅片背面的N型区印刷,以烧结形成N型区金属栅线电极。
进一步的,上述烧结形成的P型区及N型区金属栅线电极均呈H型。
实施本申请的过程中,申请人考虑到常规的银浆制作的电极存在接触电阻高,金属复合大等诸多问题,因而本申请采用新型金属浆料,即用铝浆与P型区接触,从而使得铝浆与P型区的接触电阻较常规银浆与P型区的接触电阻降低,同时由于铝浆会形成P+-BSF层,降低P型区金属复合的同时增加场钝化效果;而采用银浆与N型区接触,通过形成N+-BSF层,从而降低接触电阻和增强场钝化效果;最终提升电池的Voc和FF,提高电池的转换效率,并降低电池片银浆耗量,进而降低电池非硅成本。
具体实施中,P型区金属栅线电的设置在印刷时可以有多种实施方案。例如,所述P型区金属栅线电极可以包括5-20根第一主栅,80-300根第一细栅;所述第一细栅的宽度可以为100-200um、高度可以为10-40um。
具体实施中,N型区金属栅线电的设置在印刷时可以有多种实施方案。例如,所述N型区金属栅线电极可以包括5-20根第二主栅,80-300根第二细栅;所述第二细栅的宽度可以为15-50um、高度可以为10-25um。
具体实施中,电极电阻的设置可以有多种实施方案。例如,所述P型区的接触电阻率为0.5-1.5mΩ·cm2,所述N型区的接触电阻率为0.5-1.5mΩ·cm2;串联电阻为0.5-1.5mΩ,中性区的反向饱和电流密度J01为10-25fA/cm2,J02为0.5-3nA/cm2。硅片背面P型区采用铝浆印刷,从而使得铝浆与P型区的接触电阻率可以降低0.5-1mΩ·cm2,同时由于铝浆会形成P+-BSF层,降低P型区金属复合的同时增加场钝化效果,J01降低5-20fA/cm2;采用银浆与N型区接触,通过形成N+-BSF层,从而使得接触电阻率降低0.5-1mΩ·cm2,场钝化效果增强,J01降低5-15fA/cm2
具体实施中,氧化硅膜与氧化铝的厚度在沉积时可以有多种实施方案。例如,所述氧化硅膜的厚度可以为1-5nm,所述氧化铝膜的厚度可以为2-15nm。
具体实施中,第二氮化硅膜的厚度在沉积时可以有多种实施方案,例如,所述第二氮化硅膜的厚度可以为50-100nm。
具体实施中,遂穿氧化层的厚度在沉积时可以有多种实施方案。例如,所述遂穿氧化层的厚度可以为1-8nm。
具体实施中,P+多晶硅的沉积在实施中可以有多种方案。例如,所述P+多晶硅的厚度可以为80-200nm,掺杂浓度为1E20-6E20atoms/cm3
具体实施中,采用等离子体增强化学气相沉积法生成电池片时,载具的选用可以有多种实施方案,例如,所述等离子体增强化学气相沉积法采用的载具可以为石墨舟。采用石墨舟作为PECVD法生成电池片的载具,可以有效解决严重绕镀的问题,且石墨舟的维护成本低,易于维护。
综上所述,本发明提供的N型TBC晶硅太阳能电池的制造方法,包括:对硅片的正面进行清洗制绒及磷扩散,以形成N+前表面场;清洗去除硅片正面的硅磷玻璃;通过等离子体增强化学气相沉积法在硅片的背面依次沉积隧穿氧化层及P+多晶硅;利用激光消融分离硅片背面的P型区和N型区;利用碱性溶液清洗硅片;在硅片的正面沉积钝化减反射膜;在硅片的背面沉积钝化膜;在硅片的背面印刷电极并烧结。该N型TBC晶硅太阳能电池的制造方法与现有的LPCVD方式沉积多晶硅相比,可以有效提升沉积速率,进而提升单台单管设备的产能。同时,采用激光消融方式对背面P型区和N型区进行分离,无需多次采用掩膜和光刻技术,因而可以有效简化生成过程中的工艺步骤,在保证良率的情况下进一步的提升生产效率。
以上所述的具体实施方式,对本发明的目的、技术方案和有益效果进行了进一步详细说明,所应理解的是,以上所述仅为本发明的具体实施方式而已,并不用于限定本发明的保护范围,凡在本发明的精神和原则之内,所做的任何修改、等同替换、改进等,均应包含在本发明的保护范围之内。

Claims (15)

1.一种N型TBC晶硅太阳能电池的制造方法,其特征在于,该N型TBC晶硅太阳能电池的制造方法包括:
对硅片的正面进行清洗制绒及磷扩散,以形成N+前表面场;
清洗去除硅片正面的硅磷玻璃;
通过等离子体增强化学气相沉积法在硅片的背面依次沉积隧穿氧化层及P+多晶硅;
利用激光消融分离硅片背面的P型区和N型区;
利用碱性溶液清洗硅片;
在硅片的正面沉积钝化减反射膜;
在硅片的背面沉积钝化膜;
在硅片的背面印刷电极并烧结。
2.如权利要求1所述的N型TBC晶硅太阳能电池的制造方法,其特征在于,所述通过等离子体增强化学气相沉积法在硅片的背面依次沉积隧穿氧化层及P+多晶硅,进一步包括:
通过等离子体增强化学气相沉积法在硅片的背面沉积氧化硅膜;
通过等离子体增强化学气相沉积法在硅片的背面沉积P+多晶硅。
3.如权利要求1所述的N型TBC晶硅太阳能电池的制造方法,其特征在于,所述在硅片的正面沉积钝化减反射膜,进一步包括:
在硅片的正面沉积氧化铝膜或氧化硅膜;
通过等离子体增强化学气相沉积法在硅片的正面沉积第二氮化硅膜。
4.如权利要求3所述的N型TBC晶硅太阳能电池的制造方法,其特征在于,所述在硅片的正面沉积氧化铝膜或氧化硅膜,进一步包括:
通过等离子体增强化学气相沉积法或原子层沉积法在硅片的正面沉积氧化铝膜或氧化硅膜。
5.如权利要求1所述的N型TBC晶硅太阳能电池的制造方法,其特征在于,所述利用激光消融分离硅片背面的P型区和N型区,进一步包括:
利用紫外激光消融分离硅片背面的P型区和N型区。
6.如权利要求5所述的N型TBC晶硅太阳能电池的制造方法,其特征在于,所述紫外激光的能量为0.01-5W、频率为100Khz-500Khz、光斑直径为10um-30um、少子寿命衰减值为0-10us及相对衰减为0%-0.9%。
7.如权利要求1所述的N型TBC晶硅太阳能电池的制造方法,其特征在于,所述在硅片的背面沉积钝化膜,进一步包括:
在硅片的背面沉积第一氮化硅膜。
8.如权利要求1所述的N型TBC晶硅太阳能电池的制造方法,其特征在于,所述在硅片的背面印刷电极并烧结,进一步包括:
使用铝浆在硅片背面的P型区印刷,以烧结形成P型区金属栅线电极;
使用银浆在硅片背面的N型区印刷,以烧结形成N型区金属栅线电极。
9.如权利要求8所述的N型TBC晶硅太阳能电池的制造方法,其特征在于,所述金属栅线电极呈H型。
10.如权利要求8所述的N型TBC晶硅太阳能电池的制造方法,其特征在于,所述P型区金属栅线电极包括5-20根主栅,80-300根细栅;所述细栅的宽度为100-200um、高度为10-40um。
11.如权利要求8所述的N型TBC晶硅太阳能电池的制造方法,其特征在于,所述N型区金属栅线电极包括5-20根主栅,80-200根细栅;所述细栅的宽度为15-50um、高度为10-25um。
12.如权利要求11所述的N型TBC晶硅太阳能电池的制造方法,其特征在于,所述P型区的接触电阻率为0.5-1.5mΩ·cm2,所述N型区的接触电阻率为0.5-1.5mΩ·cm2;串联电阻为0.5-1.5mΩ,中性区的反向饱和电流密度J01为10-25fA/cm2,空间电荷区的反向饱和电流密度J02为0.5-3nA/cm2
13.如权利要求1所述的N型TBC晶硅太阳能电池的制造方法,其特征在于,所述遂穿氧化层的厚度为1-8nm。
14.如权利要求1所述的N型TBC晶硅太阳能电池的制造方法,其特征在于,P+多晶硅的厚度为80-200nm,掺杂浓度为1E20-6E20atoms/cm3
15.如权利要求3所述的N型TBC晶硅太阳能电池的制造方法,其特征在于,所述等离子体增强化学气相沉积法采用的载具为石墨舟。
CN202210389098.9A 2022-04-14 2022-04-14 N型tbc晶硅太阳能电池的制造方法 Pending CN114744077A (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN202210389098.9A CN114744077A (zh) 2022-04-14 2022-04-14 N型tbc晶硅太阳能电池的制造方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN202210389098.9A CN114744077A (zh) 2022-04-14 2022-04-14 N型tbc晶硅太阳能电池的制造方法

Publications (1)

Publication Number Publication Date
CN114744077A true CN114744077A (zh) 2022-07-12

Family

ID=82281803

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN202210389098.9A Pending CN114744077A (zh) 2022-04-14 2022-04-14 N型tbc晶硅太阳能电池的制造方法

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN114744077A (zh)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN116387409A (zh) * 2023-06-06 2023-07-04 正泰新能科技有限公司 一种n型tbc太阳能电池及其制备方法

Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7468485B1 (en) * 2005-08-11 2008-12-23 Sunpower Corporation Back side contact solar cell with doped polysilicon regions
CN101894888A (zh) * 2010-07-16 2010-11-24 山东力诺太阳能电力股份有限公司 一种掩膜阻挡背面扩散的太阳能电池制作工艺
CN102222726A (zh) * 2011-05-13 2011-10-19 晶澳(扬州)太阳能科技有限公司 采用离子注入法制作交错背接触ibc晶体硅太阳能电池的工艺
KR101686663B1 (ko) * 2015-09-01 2016-12-14 금오공과대학교 산학협력단 후면 전극형 박막 솔라셀과 그의 제조방법
CN206595264U (zh) * 2017-03-10 2017-10-27 泰州隆基乐叶光伏科技有限公司 一种钝化接触全背电极太阳电池结构
CN111952408A (zh) * 2020-06-29 2020-11-17 泰州中来光电科技有限公司 一种钝化金属接触的背结太阳能电池及其制备方法
CN113921626A (zh) * 2021-09-30 2022-01-11 泰州隆基乐叶光伏科技有限公司 一种背接触电池的制作方法

Patent Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7468485B1 (en) * 2005-08-11 2008-12-23 Sunpower Corporation Back side contact solar cell with doped polysilicon regions
CN101894888A (zh) * 2010-07-16 2010-11-24 山东力诺太阳能电力股份有限公司 一种掩膜阻挡背面扩散的太阳能电池制作工艺
CN102222726A (zh) * 2011-05-13 2011-10-19 晶澳(扬州)太阳能科技有限公司 采用离子注入法制作交错背接触ibc晶体硅太阳能电池的工艺
KR101686663B1 (ko) * 2015-09-01 2016-12-14 금오공과대학교 산학협력단 후면 전극형 박막 솔라셀과 그의 제조방법
CN206595264U (zh) * 2017-03-10 2017-10-27 泰州隆基乐叶光伏科技有限公司 一种钝化接触全背电极太阳电池结构
CN111952408A (zh) * 2020-06-29 2020-11-17 泰州中来光电科技有限公司 一种钝化金属接触的背结太阳能电池及其制备方法
CN113921626A (zh) * 2021-09-30 2022-01-11 泰州隆基乐叶光伏科技有限公司 一种背接触电池的制作方法

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN116387409A (zh) * 2023-06-06 2023-07-04 正泰新能科技有限公司 一种n型tbc太阳能电池及其制备方法

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN115207137B (zh) 一种联合钝化背接触电池及其制备方法
CN109244194B (zh) 一种低成本p型全背电极晶硅太阳电池的制备方法
CN112490304A (zh) 一种高效太阳能电池的制备方法
EP2782146B1 (en) Method for manufacturing a solar cell with reduced potential induced degradation
CN109494261A (zh) 硅基太阳能电池及制备方法、光伏组件
CN111816727A (zh) 一种基于lpcvd的高效掺杂非晶硅技术的交叉指式背接触异质结太阳电池
CN113644142A (zh) 一种具有钝化接触的太阳能电池及其制备方法
CN114975691A (zh) 一种具有选择性发射极的钝化接触太阳电池及其制备方法、组件和系统
CN209183556U (zh) 硅基太阳能电池及光伏组件
CN115411151A (zh) 一种新型太阳能电池及其制作方法
CN112133774A (zh) 一种背结背接触太阳能电池及其制作方法
CN216597603U (zh) 一种提升绝缘隔离效果的背接触异质结太阳能电池
CN108461554A (zh) 全背接触式异质结太阳能电池及其制备方法
US20230361227A1 (en) Laminated passivation structure of solar cell and preparation method thereof
CN114744077A (zh) N型tbc晶硅太阳能电池的制造方法
CN113488555A (zh) 异质结电池及制备方法、太阳能电池组件
CN113224179A (zh) 晶体硅太阳能电池钝化层及其制备方法、电池
CN116130558B (zh) 一种新型全背电极钝化接触电池的制备方法及其产品
CN111463306A (zh) 一种新型异质结电池及其制备方法
CN115020533B (zh) 一种polo-ibc电池的制备方法
CN115985992A (zh) 一种n型单晶硅hbc太阳能电池结构及其制备方法
JP5645734B2 (ja) 太陽電池素子
JPH0823114A (ja) 太陽電池
US11996494B2 (en) Low-cost passivated contact full-back electrode solar cell and preparation method thereof
CN214753786U (zh) 一种具有钝化接触的太阳能电池

Legal Events

Date Code Title Description
PB01 Publication
PB01 Publication
SE01 Entry into force of request for substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
CB02 Change of applicant information
CB02 Change of applicant information

Address after: 314417 No. 1 Jisheng Road, Jiaxing City, Zhejiang Province

Applicant after: Zhengtai Xinneng Technology Co.,Ltd.

Address before: 314417 No. 1 Jisheng Road, Jiaxing City, Zhejiang Province

Applicant before: Zhengtai Xinneng Technology Co.,Ltd.