CN114741240A - 测试方法、装置、存储介质以及终端 - Google Patents

Abstract

本申请公开了一种测试方法、装置、存储介质以及终端，涉及自动化测试技术领域。首先接收针对被测设备的测试请求，测试请求至少包括快速开机测试请求以及完全开机测试请求；然后根据测试请求设置被测设备对应的测试参数，测试参数包括开机时间集合、关机时间、测试次数、检查次数、完全开机时间以及输入电压集合中的至少一种；最后基于测试参数对被测设备进行测试，并生成测试请求对应的测试日志。由于通过对测试参数中各种参数进行设置，可以模拟出被测设备处于频繁开关机的使用环境下，对被测设备的可靠性影响，大大提高了对被测设备进行开关机测试时的测试效果。

Description

测试方法、装置、存储介质以及终端

技术领域

本申请涉及自动化测试技术领域，尤其涉及一种测试方法、装置、存储介质以及终端。

背景技术

随着科学技术的发展，各种电子设备出现在人们的日常生活中，电子设备在研发或者出厂之前都需要进行测试，因此关于电子设备的测试方法也成为本领域技术人员研究重点之一。

在电子设备的广泛使用的同时，消费者对电子设备的可靠性要求也越来越高。在相关技术中，对电子设备的可靠性测试，一般通过对电子设备直接进行预设次数的开关机测试实现，但是该测试方法没有考虑电子设备的实际使用情况，对电子设备的可靠性影响，因此测试效果较差。

发明内容

本申请提供一种测试方法、装置、存储介质以及终端，可以解决相关技术中没有考虑电子设备的实际使用情况，对电子设备的可靠性影响，导致测试效果较差的技术问题。

第一方面，本申请实施例提供一种测试方法，该方法包括：

接收针对被测设备的测试请求，所述测试请求至少包括快速开机测试请求以及完全开机测试请求；

根据所述测试请求设置所述被测设备对应的测试参数，所述测试参数包括开机时间集合、关机时间、测试次数、检查次数、完全开机时间以及输入电压集合中的至少一种；

基于所述测试参数对所述被测设备进行测试，并生成所述测试请求对应的测试日志。

可选地，所述测试请求为快速开机测试请求，所述根据所述测试请求设置所述被测设备对应的测试参数，包括：

根据所述快速开机测试请求设置所述被测设备对应的第一测试参数，所述第一测试参数包括：开机时间集合、第一关机时间、第一测试次数、检查次数、第一完全开机时间以及第一输入电压集合；

其中所述开机时间集合中包括多个不同的开机时间，所述第一输入电压集合包括多个不同的第一输入电压。

可选地，所述基于所述测试参数对所述被测设备进行测试，包括：

基于所述开机时间集合中的各开机时间、所述第一输入电压集合中的各第一输入电压以及所述第一关机时间，分别对所述被测设备进行所述第一测试次数的快速开机测试，其中每隔所述检查次数的快速开机测试之后，基于所述第一完全开机时间以及所述第二关机时间对所述被测设备进行一次第一完全开机测试。

可选地，所述快速开机测试包括：

控制电源装置基于所述第一输入电压集合中的第一输入电压接通所述被测设备持续开机时间之后，控制所述电源装置断开所述被测设备持续所述第一关机时间；

所述第一完全开机测试包括：控制所述电源装置基于所述第一输入电压集合中的第一输入电压接通所述被测设备持续所述第一完全开机时间，在确定所述被测设备启动成功并控制所述电源装置断开所述被测设备持续所述第一关机时间之后，继续对所述被测设备进行所述快速开机测试。

可选地，所述生成所述测试请求对应的测试日志，包括：

在每进行一次所述快速开机测试之后，记录所述快速开机测试对应的快速开机测试日志，其中所述快速开机测试日志中至少包括每次进行所述快速开机测试对应的快速开机电压、快速开机时间以及快速开机次数；

在每进行一次所述第一完全开机测试之后，记录所述第一完全开机测试对应的第一完全开机测试日志，其中所述第一完全开机测试日志中至少包括每次进行所述第一完全开机测试对应的第一完全开机电压、第一完全开机时间、第一完全开机次数以及第一完全开机结果。

可选地，所述测试请求为完全开机测试，所述根据所述测试请求设置所述被测设备对应的测试参数，包括：

根据所述完全开机测试请求设置所述被测设备对应的第二测试参数，所述第二测试参数包括：第二完全开机时间、第二关机时间、第二测试次数以及第二输入电压集合；

其中所述第二输入电压集合中包括多个不同的第二输入电压。

可选地，所述基于所述测试参数对所述被测设备进行测试，包括：

基于所述第二输入电压集合中的各第二输入电压、所述第二完全开机时间、所述第二关机时间，分别对所述被测设备进行所述第二测试次数的第二完全开机测试。

可选地，所述第二完全开机测试包括：

控制所述电源装置基于所述第二输入电压集合中的第二输入电压接通所述被测设备持续所述第二完全开机时间，在确定所述被测设备启动成功并控制所述电源装置断开所述被测设备持续所述第二关机时间之后，继续对所述被测设备进行所述第二完全开机测试。

可选地，所述生成所述测试请求对应的测试日志，包括：

在每进行一次所述第二完全开机测试之后，记录所述第二完全开机测试对应的第二完全开机测试日志，其中所述第二完全开机测试日志中至少包括每次进行所述第二完全开机测试对应的第二完全开机电压、第二完全开机时间、第二完全开机次数以及第二完全开机结果。

第二方面，本申请实施例提供一种测试装置，该装置包括：

测试请求接收模块，用于接收针对被测设备的测试请求，所述测试请求至少包括快速开机测试请求以及完全开机测试请求；

测试参数设置模块，用于根据所述测试请求设置所述被测设备对应的测试参数，所述测试参数包括开机时间集合、关机时间、测试次数、检查次数、完全开机时间以及输入电压集合中的至少一种；

测试模块，用于基于所述测试参数对所述被测设备进行测试，并生成所述测试请求对应的测试日志。

可选地，所述测试请求为快速开机测试请求，所述测试参数设置模块包括：

第一测试参数设置模块，用于根据所述快速开机测试请求设置所述被测设备对应的第一测试参数，所述第一测试参数包括：开机时间集合、第一关机时间、第一测试次数、检查次数、第一完全开机时间以及第一输入电压集合；

其中所述开机时间集合中包括多个不同的开机时间，所述第一输入电压集合包括多个不同的第一输入电压。

可选地，所述测试模块包括：

快速开机测试模块，用于基于所述开机时间集合中的各开机时间、所述第一输入电压集合中的各第一输入电压以及所述第一关机时间，分别对所述被测设备进行所述第一测试次数的快速开机测试；

第一完全开机测试模块，用于每隔所述检查次数的快速开机测试之后，基于所述第一完全开机时间以及所述第二关机时间对所述被测设备进行一次第一完全开机测试。

可选地，所述快速开机测试包括：

控制电源装置基于所述第一输入电压集合中的第一输入电压接通所述被测设备持续开机时间之后，控制所述电源装置断开所述被测设备持续所述第一关机时间；

所述第一完全开机测试包括：控制所述电源装置基于所述第一输入电压集合中的第一输入电压接通所述被测设备持续所述第一完全开机时间，在确定所述被测设备启动成功并控制所述电源装置断开所述被测设备持续所述第一关机时间之后，继续对所述被测设备进行所述快速开机测试。

可选地，所述测试模块还包括：

快速开机测试日志生成模块，用于在每进行一次所述快速开机测试之后，记录所述快速开机测试对应的快速开机测试日志，其中所述快速开机测试日志中至少包括每次进行所述快速开机测试对应的快速开机电压、快速开机时间以及快速开机次数；

第一完全开机测试日志生成模块，用于在每进行一次所述第一完全开机测试之后，记录所述第一完全开机测试对应的第一完全开机测试日志，其中所述第一完全开机测试日志中至少包括每次进行所述第一完全开机测试对应的第一完全开机电压、第一完全开机时间、第一完全开机次数以及第一完全开机结果。

可选地，所述测试请求为完全开机测试，所述测试参数设置模块包括：

第二测试参数设置模块，用于根据所述完全开机测试请求设置所述被测设备对应的第二测试参数，所述第二测试参数包括：第二完全开机时间、第二关机时间、第二测试次数以及第二输入电压集合；

其中所述第二输入电压集合中包括多个不同的第二输入电压。

可选地，所述测试模块包括：

第二完全开机测试模块，用于基于所述第二输入电压集合中的各第二输入电压、所述第二完全开机时间、所述第二关机时间，分别对所述被测设备进行所述第二测试次数的第二完全开机测试。

可选地，所述第二完全开机测试包括：

控制所述电源装置基于所述第二输入电压集合中的第二输入电压接通所述被测设备持续所述第二完全开机时间，在确定所述被测设备启动成功并控制所述电源装置断开所述被测设备持续所述第二关机时间之后，继续对所述被测设备进行所述第二完全开机测试。

可选地，所述测试模块还包括：

第二完全开机测试日志生成模块，用于在每进行一次所述第二完全开机测试之后，记录所述第二完全开机测试对应的第二完全开机测试日志，其中所述第二完全开机测试日志中至少包括每次进行所述第二完全开机测试对应的第二完全开机电压、第二完全开机时间、第二完全开机次数以及第二完全开机结果。

第三方面，本申请实施例提供一种计算机存储介质，所述计算机存储介质存储有多条指令，所述指令适于由处理器加载并执行上述的方法的步骤。

第四方面，本申请实施例提供一种终端，包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述程序时实现上述的方法的步骤。

本申请一些实施例提供的技术方案带来的有益效果至少包括：

本申请提供一种测试方法，首先接收针对被测设备的测试请求，测试请求至少包括快速开机测试请求以及完全开机测试请求；然后根据测试请求设置被测设备对应的测试参数，测试参数包括开机时间集合、关机时间、测试次数、检查次数、完全开机时间以及输入电压集合中的至少一种；最后基于测试参数对被测设备进行测试，并生成测试请求对应的测试日志。由于通过对测试参数中各种参数进行设置，可以模拟出被测设备处于频繁开关机的使用环境下，对被测设备的可靠性影响，大大提高了对被测设备进行开关机测试时的测试效果。

附图说明

为了更清楚地说明本申请实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例，对于本领域技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为本申请实施例提供的一种测试方法的示例性系统架构图；

图2为本申请实施例提供的一种测试方法的系统交互图；

图3为本申请另一实施例提供的一种测试方法的流程示意图；

图4为本申请另一实施例提供的一种测试方法的流程示意图；

图5为本申请另一实施例提供的一种测试方法的流程示意图；

图6为本申请另一实施例提供的一种测试装置的结构示意图；

图7为本申请另一实施例提供的一种测试装置的结构示意图；

图8为本申请另一实施例提供的一种测试装置的结构示意图；

图9为本申请实施例提供的一种终端的结构示意图。

具体实施方式

为使得本申请的特征和优点能够更加的明显和易懂，下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本申请一部分实施例，而非全部实施例。基于本申请中的实施例，本领域技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本申请保护的范围。

下面的描述涉及附图时，除非另有表示，不同附图中的相同数字表示相同或相似的要素。以下示例性实施例中所描述的实施方式并不代表与本申请相一致的所有实施方式。相反，它们仅是如所附权利要求书中所详述的、本申请的一些方面相一致的装置和方法的例子。

图1为本申请实施例提供的一种测试方法的示例性系统架构图。

如图1所示，系统架构可以包括测试终端101、电源装置102、被测设备103以及网络104。网络104用于在测试终端101、电源装置102之间，或者在电源装置102与被测设备103之间提供通信链路的介质。网络104可以包括各种类型的有线通信链路或无线通信链路，例如：有线通信链路包括光纤、双绞线或同轴电缆的，无线通信链路包括无线保真(Wireless-Fidelity，Wi-Fi)通信链路或微波通信链路等。

测试终端101可以通过网络104与电源装置102交互，以实现通过电源装置102控制被测设备103的开机以及关机，以进行被测设备103的开关机测试。测试终端101和被测设备103可以是硬件，也可以是软件。当测试终端101为硬件时，可以是各种电子设备，包括但不限于智能手表、智能手机、平板电脑、膝上型便携式计算机和台式计算机等。当测试终端101为软件时，可以是安装在上述所列举的电子设备中，其可以实现呈多个软件或软件模块(例如：用来提供分布式服务)，也可以实现成单个软件或软件模块，在此不作具体限定。

应理解，图1中的测试终端、电源装置、被测设备以及网络的数目仅是示意性的，根据实现需要，可以是任意数量的测试终端、电源装置、被测设备以及网络。

请参阅图2，图2为本申请实施例提供的一种测试方法的系统交互图，下面将结合图1和图2介绍一种测试方法中系统交互过程。

S201、测试终端接收针对被测设备的测试请求，测试请求至少包括快速开机测试请求以及完全开机测试请求。

S202、测试终端根据测试请求设置被测设备对应的测试参数，测试参数包括开机时间集合、关机时间、测试次数、检查次数、完全开机时间以及输入电压集合中的至少一种。

S203、测试终端基于测试参数对被测设备进行测试，并生成测试请求对应的测试日志。

可选地，测试请求为快速开机测试请求，根据测试请求设置被测设备对应的测试参数，包括：

根据快速开机测试请求设置被测设备对应的第一测试参数，第一测试参数包括：开机时间集合、第一关机时间、第一测试次数、检查次数、第一完全开机时间以及第一输入电压集合；

其中开机时间集合中包括多个不同的开机时间，第一输入电压集合包括多个不同的第一输入电压。

可选地，基于测试参数对被测设备进行测试，包括：

基于开机时间集合中的各开机时间、第一输入电压集合中的各第一输入电压以及第一关机时间，分别对被测设备进行第一测试次数的快速开机测试；

每隔检查次数的快速开机测试之后，基于第一完全开机时间以及第二关机时间对被测设备进行一次第一完全开机测试。

可选地，快速开机测试包括：

控制电源装置基于第一输入电压集合中的第一输入电压接通被测设备持续开机时间之后，控制电源装置断开被测设备持续第一关机时间；

第一完全开机测试包括：控制电源装置基于第一输入电压集合中的第一输入电压接通被测设备持续第一完全开机时间，在确定被测设备启动成功并控制电源装置断开被测设备持续第一关机时间之后，继续对被测设备进行快速开机测试。

可选地，生成测试请求对应的测试日志，包括：

在每进行一次快速开机测试之后，记录快速开机测试对应的快速开机测试日志，其中快速开机测试日志中至少包括每次进行快速开机测试对应的快速开机电压、快速开机时间以及快速开机次数；

在每进行一次第一完全开机测试之后，记录第一完全开机测试对应的第一完全开机测试日志，其中第一完全开机测试日志中至少包括每次进行第一完全开机测试对应的第一完全开机电压、第一完全开机时间、第一完全开机次数以及第一完全开机结果。

可选地，测试请求为完全开机测试，根据测试请求设置被测设备对应的测试参数，包括：

根据完全开机测试请求设置被测设备对应的第二测试参数，第二测试参数包括：第二完全开机时间、第二关机时间、第二测试次数以及第二输入电压集合；

其中第二输入电压集合中包括多个不同的第二输入电压。

可选地，基于测试参数对被测设备进行测试，包括：

基于第二输入电压集合中的各第二输入电压、第二完全开机时间、第二关机时间，分别对被测设备进行第二测试次数的第二完全开机测试。

可选地，第二完全开机测试包括：

控制电源装置基于第二输入电压集合中的第二输入电压接通被测设备持续第二完全开机时间，在确定被测设备启动成功并控制电源装置断开被测设备持续第二关机时间之后，继续对被测设备进行第二完全开机测试。

可选地，生成测试请求对应的测试日志，包括：

在每进行一次第二完全开机测试之后，记录第二完全开机测试对应的第二完全开机测试日志，其中第二完全开机测试日志中至少包括每次进行第二完全开机测试对应的第二完全开机电压、第二完全开机时间、第二完全开机次数以及第二完全开机结果。

在本申请实施例中，首先接收针对被测设备的测试请求，测试请求至少包括快速开机测试请求以及完全开机测试请求；然后根据测试请求设置被测设备对应的测试参数，测试参数包括开机时间集合、关机时间、测试次数、检查次数、完全开机时间以及输入电压集合中的至少一种；最后基于测试参数对被测设备进行测试，并生成测试请求对应的测试日志。由于通过对测试参数中各种参数进行设置，可以模拟出被测设备处于频繁开关机的使用环境下，对被测设备的可靠性影响，大大提高了对被测设备进行开关机测试时的测试效果。

请参与图3，图3为本申请另一实施例提供的一种测试方法的流程示意图。

如图3所示，该方法包括：

S301、接收针对被测设备的测试请求，测试请求至少包括快速开机测试请求以及完全开机测试请求。

在本申请实施例中，执行主体为测试终端，测试终端中可以设置有显示模块以及输入模块，当测试人员需要对被测设备进行开关机测试时，可以通过输入模块向测试终端输入对应的测试请求，测试终端接收到该测试请求之后，可以在显示模块中显示该测试请求，以便于测试人员确定输入的测试请求是否正确。

在电子设备的实际使用过程中，由于电子设备的输入电压不稳定或者由于电子设备对应的电源接入设备的损坏，可能会导致电子设备在较短的时间或者正常时间内频繁开关机，因此需要在电子设备出厂之前，需要对电子设备进行开关机测试以判断电子设备的可靠性。

由于需要对被测设备进行在较短的时间或者正常时间内频繁开关机测试，那么可以将频繁开关机测试至少分为快速开机测试以及完全开机测试，其中快速开机测试对应在较短的时间内进行频繁开关机的测试，也即开关机的间隔较短；完全开机测试对应在正常时间内进行频繁开关机的测试，也即开关机的间隔较长。

当测试人员需要对被测设备进行快速开机测试时，可以通过输入模块向测试终端输入快速开机测试请求，以使得测试终端可以接收该快速开机测试请求，还可以在测试终端中的显示模块中显示该快速开机测试请求；当测试人员需要对被测设备进行完全开机测试时，可以通过输入模块向测试终端输入完全开机测试请求，以使得测试终端可以接收该完全开机测试请求，还可以在测试终端中的显示模块中显示该完全开机测试请求。

S302、根据测试请求设置被测设备对应的测试参数，测试参数包括开机时间集合、关机时间、测试次数、检查次数、完全开机时间以及输入电压集合中的至少一种。

在上述步骤中介绍了，测试请求至少包括快速开机测试请求以及完全开机测试请求，其中快速开机测试对应在较短的时间内进行频繁开关机的测试；完全开机测试对应在正常时间内进行频繁开关机的测试，那么在测试终端接收到测试请求之后，可以针对测试请求设置对应的测试参数，测试参数包括开机时间集合、关机时间、测试次数、检查次数、完全开机时间以及输入电压集合中的至少一种，以实现通过测试参数模拟出在较短的时间内进行频繁开关机，也即实现快速开机测试；或者在正常时间内进行频繁开关机，也即实现完全开机测试。

S303、基于测试参数对被测设备进行测试，并生成测试请求对应的测试日志。

在上述步骤中，针对快速开机测试请求以及完全开机测试请求分别设置了对应的测试参数，且通过电源装置可以控制被测设备的电源供给，也就可以实现对被测设备进行开关机，因此可以基于测试参数控制电源装置对被测设备进行测试请求对应的开关机测试，还可以在对被测设备进行开关机测试的过程中生成测试请求对应的测试日志，便于在测试过程中出现开关机失败等测试情况后，可以基于测试日志进行问题排查和故障修复。

在本申请实施例中，首先接收针对被测设备的测试请求，测试请求至少包括快速开机测试请求以及完全开机测试请求；然后根据测试请求设置被测设备对应的测试参数，测试参数包括开机时间集合、关机时间、测试次数、检查次数、完全开机时间以及输入电压集合中的至少一种；最后基于测试参数对被测设备进行测试，并生成测试请求对应的测试日志。由于通过对测试参数中各种参数进行设置，可以模拟出被测设备处于频繁开关机的使用环境下，对被测设备的可靠性影响，大大提高了对被测设备进行开关机测试时的测试效果。

请参与图4，图4为本申请另一实施例提供的一种测试方法的流程示意图。

如图4所示，该方法包括：

S401、接收针对被测设备的测试请求，测试请求为完全开机测试请求。

关于步骤S401，可以参阅步骤S301中的详细记载，此处不在赘述。

S402、根据快速开机测试请求设置被测设备对应的第一测试参数，第一测试参数包括：开机时间集合、第一关机时间、第一测试次数、检查次数、第一完全开机时间以及第一输入电压集合。

在本申请实施例中，测试终端接收到针对被测设备的测试请求为快速开机测试请求，那么需要根据快速开机测试请求设置被测设备对应的第一测试参数，由于对被测设备进行快速开机测试也即在较短的时间内对被测设备进行频繁开关机测试，其中对被测设备进行快速开机测试需要满足三个条件，第一个条件为开机时间条件，由于被测设备从接通电源到系统正常工作需要一定的时间才能完成，开机时间也即被测设备接入电源的时间，通过设置开机时间的长短，可以控制被测设备接通电源的时间长短。在被测设备的实际使用情况下，可能由于被测设备的输入电压不稳定或者由于被测设备对应的电源接入设备的损坏，使得被测设备进行不同开机时间的开机与关机，因此在本申请实施例中，开机时间可以是多个不同开机时间组成的开机时间集合，也即开机时间集合中包括多个不同的开机时间，以更加真实地模拟出被测设备的真实使用情况。例如，开机时间可以设置为较短的时间，开机时间集合可以是[10，20，50，100，200，500，1000，2000，5000]，其中开机时间集合中各开机时间的单位为毫秒。

第二个条件为关机时间，由于在开机之后，只有关机才能进行下一次开机，因此除了设置开机时间之外，还需要设置快速开机测试请求对应的第一关机时间，第一关机时间也即被测设备断开电源的时间，通过设置第一关机时间的长短，可以控制被测设备断开电源时间的长短，由于被测设备断开电源之后，可以快速恢复至不工作状态，因此第一关机时间可以仅设置一个固定时间。例如，第一关机时间可以是10毫秒。

第三个条件为输入电压，在对被测设备进行开机，也即终端设备通过控制电源装置向被测设备输入一定的电压以实现驱动被测设备的启动，而在被测设备的实际使用过程中，不同数值的电压对被测设备的工作也是有影响的，因此还可以设置快速开机测试对应的第一输入电压，通过设置第一输入电压的大小，控制输入被测设备的驱动电压，其中和开机时间类似，第一输入电压可以多个不同第一输入电压组成的第一输入电压集合，也即第一输入电压集合包括多个不同的第一输入电压，以更加真实地模拟出被测设备的真实使用情况。例如，第一输入电压集合可以是[90，220，264]，其中第一输入电压集合中的各第一输入电压的单位为伏特。

进一步地，在确定了开机时间集合、第一关机时间以及第一输入电压集合之后，就可以实现针对被测设备在较短的开机时间内进行一次快速开关机，因此若要实现在短时间内频繁的开关机，还需要针对快速开机测试请求设置对应的第一测试次数，第一测试次数也即针对一个开机时间以及一个第一输入电压进行快速开机测试的次数。例如，第一测试次数为500次，那么针对开机时间为10毫秒、第一输入电压90伏特进行快速开机测试的总次数为500次。

进一步地，还需要在被测设备进行短时间内频繁的开关机的过程中，验证待测终端是否可以正常启动，以便确定被测设备在进行一定次数的快速开机测试之后可靠性，一种可行的方式是，在被测设备进行短时间内频繁的开关机的过程中，多次确定被测设备是否可以正常开机，因此还可以设置快速开机测试请求对应的第一完全开机时间，相比较于开机时间集合中的各开机时间，第二完全开机的时间要大于开机时间集合中的任意一个开机时间，以保证被测设备在进行频繁的开关机之后，可以有足够的时间进行完全启动，例如，第一完全开机时间可以设置为90秒。还可以设置在进行快速开机测试的次数等于检查次数时，进行一次完全开机时间，其中检查次数小于第一测试次数。例如，第一测试次数为500次，检查次数为100次，那么每当进行快速开机测试的次数等于100次时，对被测设备进行一次完全开机测试。

S403、基于开机时间集合中的各开机时间、第一输入电压集合中的各第一输入电压以及第一关机时间，分别对被测设备进行第一测试次数的快速开机测试，其中每隔检查次数的快速开机测试之后，基于第一完全开机时间以及第二关机时间对被测设备进行一次第一完全开机测试。

在通过上述步骤获取到第一测试参数之后，可以基于第一测试参数对被测设备进行快速开机测试，也即基于开机时间集合、第一关机时间、第一测试次数、检查次数、第一完全开机时间以及第一输入电压集合对被测设备进行快速开机测试，其中由于开机时间集合和第一输入电压集合中均包括多个数据，因此需要开机时间集合和第一输入电压集合中各数据一一进行测试。

具体的，首先获取开机时间集合中的一个预设开机时间，其中开机时间集合中的各开机时间可以是没有规律的，此时可以获取开机时间集合中的任意一个开机时间作为预设开机时间；开机时间集合中的各开机时间还可以是按照时间长短进行排序的，此时可以获取开机时间集合中排序为第一的开机时间作为预设开机时间。还可以获取第一输入电压集合中的一个预设第一输入电压，类似的，第一输入电压集合中的各第一输入电压可以是没有规律的，此时可以获取第一输入电压集合中的任意一个第一输入电压作为预设第一输入电压；第一输入电压集合中的各第一输入电压还可以是按照电压大小进行排序的，此时可以获取第一输入电压集合中排序为第一的第一输入电压作为预设第一输入电压。

然后基于上述预设开机时间以及上述预设第一输入电压以及第一关机时间，对被测设备进行一次快速开机测试，其中快速开机测试包括：控制电源装置基于预设第一输入电压接通被测设备持续预设开机时间之后，控制电源装置断开被测设备持续第一关机时间，即完成一次快速开机测试，其中可以通过控制继电器上电与下电的方式，进而控制电源装置接通或者断开与被测设备之间的电源供给。

另外每进行一次快速开机测试之后，可以记录快速开机测试对应的快速开机测试日志，其中快速开机测试日志中至少包括每次进行快速开机测试对应的快速开机电压、快速开机时间以及快速开机次数，其中快速开机电压也即本次快速开机测试对应的预设第一输入电压，快速开机时间也即本次快速开机测试对应的预设开机时间，快速开机次数也即在预设第一输入电压以及预设开机时间的测试参数下累积的测试次数，例如如果本次快速开机测试为预设第一输入电压以及预设开机时间对应的第一次快速开机测试，那么快速开机次数为1。

在完成一次快速开机测试日志记录之后，还需要判断是继续进行快速开机测试还是进行第一完全开机测试，此时可以首先将快速开机次数与检测次数进行比较，以及将快速开机次数与第一测试次数进行比较，若快速开机次数小于第一测试次数，且快速开机次数不是检测次数的整数倍，则继续按照预设第一输入电压以及预设开机时间进行快速开机测试。

若快速开机次数小于第一测试次数，且快速开机次数是检测次数的整数倍，则进行一次第一完全开机测试，其中第一完全开机测试包括：控制电源装置基于预设第一输入电压接通被测设备持续第一完全开机时间，在确定被测设备启动成功并控制电源装置断开被测设备持续第一关机时间之后，继续对被测设备进行快速开机测试。其中确定被测设备启动成功的方式可以不做限定，可以根据被测设备的类型进行选择，例如，可以通过网口或RS232与被测设备通信，检查被测设备的状态是否是启动完成状态，具体的，可以根据不同的被测设备的产品类型，通过网络或RS232串口与被测设备通信检查被测装置的启动状态，例如被测设备的是无线路由器，则通过网口ping的方式与ping无线路由器地址，测试终端控制无线网卡连接无线路由器的无线网络，通过无线网卡ping无线路由器，例如ping192.168.0.1-S 192.168.0.2，若测试终端可以通过无线网卡接收无线路由器返回的信息，则可以确定被测设备启动成功。

另外，在每进行一次第一完全开机测试之后，记录第一完全开机测试对应的第一完全开机测试日志，其中第一完全开机测试日志中至少包括每次进行第一完全开机测试对应的第一完全开机电压、第一完全开机时间、第一完全开机次数以及第一完全开机结果。若在对待测进行完全开机测试的过程中，被测设备出现完全开机失败的情况，可以直接结束对被测设备快速开机测试。

若快速开机次数等于或者大于第一测试次数，则结束基于预设开机时间以及预设第一输入电压对被测设备进行快速开机测试，此时需要更换开机时间和/或第一输入电压，可以判断开机时间集合中的开机时间是否全部完成快速开机测试，若判断开机时间集合中的开机时间未全部完成快速开机测试，则获取开机时间集合中的下一个开机时间，基于该开机时间与预设第一输入电压进行快速开机测试；若判断开机时间集合中的开机时间全部完成快速开机测试，则判断第一输入电压集合中的第一输入电压是否全部完成快速开机测试，若第一输入电压集合中的第一输入电压未全部完成快速开机测试，则获取第一输入电压集合中的下一个第一输入电压，基于开机时间集合中的各开机时间以及该第一是输入电压重复上面的快速开机测试；若第一输入电压集合中的第一输入电压全部完成快速开机测试，则结束对被测设备的快速开机测试。

也即通过上述步骤的循环，可以实现基于开机时间集合中的各开机时间、第一输入电压集合中的各第一输入电压以及第一关机时间，分别对被测设备进行第一测试次数的快速开机测试，其中每隔检查次数的快速开机测试之后，基于第一完全开机时间以及第二关机时间对被测设备进行一次第一完全开机测试。

请参与图5，图5为本申请另一实施例提供的一种测试方法的流程示意图。

如图5所示，该方法包括：

S501、接收针对被测设备的测试请求，测试请求为完全开机测试请求。

关于步骤S501，可以参阅步骤S301中的详细记载，此处不在赘述。

S502、根据完全开机测试请求设置被测设备对应的第二测试参数，第二测试参数包括：第二完全开机时间、第二关机时间、第二测试次数以及第二输入电压集合；其中第二输入电压集合中包括多个不同的第二输入电压。

在本申请实施例中，测试终端接收到针对被测设备的测试请求为完全开机测试请求，那么需要根据完全开机测试请求设置被测设备对应的第二测试参数，由于对被测设备进行完全开机测试也即在正常时间内对被测设备进行频繁开关机测试，其中对被测设备进行完全开机测试也需要满足三个条件，第一个条件是第二完全开机时间，由于被测设备从接通电源到系统正常工作需要一定的时间才能完成，第二完全开机时间也即被测设备接入电源的时间，通过设置开机时间的长短，可以控制被测设备接通电源的时间长短，因此可以将第二完全开机时间设置的较长以实现被测设备具有足够的时间进行启动。由于对被测设备进行完全开机测试，更多是为了模拟被测设备在正常使用情况下，被测设备的开关机使用寿命，且只要被测设备可以在一个第二完全开机时间内进行完全开机，那么第二完全开机时间的长短不会对被测设备开关机寿命产生影响，因此只需要设置一个第二完全开机时间即可。

第二个条件是第二关机时间，由于在完全开机之后，只有关机才能进行下一次完全开机，因此除了设置第二完全开机时间之外，还需要设置快速开机测试请求对应的第二关机时间，第二关机时间也即被测设备断开电源的时间，通过设置第二关机时间的长短，可以控制被测设备断开电源时间的长短。

第三个条件是第二输入电压集合，在对被测设备进行开机，也即终端设备通过控制电源装置向被测设备输入一定的电压以实现驱动被测设备的启动，而在被测设备的实际使用过程中，不同数值的电压对被测设备的工作也是有影响的，因此还可以设置快速开机测试对应的第二输入电压，通过设置第二输入电压的大小，控制输入被测设备的驱动电压，第二输入电压可以多个不同第二输入电压组成的第二输入电压集合，也即第二输入电压集合包括多个不同的第二输入电压，以更加真实地模拟出被测设备的真实使用情况。

进一步地，在确定了第二完全开机时间、第二关机时间以及第二输入电压集合之后，就可以实现针对被测设备在正常时间内进行一次完全开关机，因此若要实现在正常时间内频繁的开关机，还需要针对完全开机测试请求设置对应的第二测试次数，第二测试次数也即针对第二完全开机时间以及一个第二输入电压进行快速开机测试的次数。

S503、基于第二输入电压集合中的各第二输入电压、第二完全开机时间、第二关机时间，分别对被测设备进行第二测试次数的第二完全开机测试。

在通过上述步骤获取到第二测试参数之后，可以基于第二测试参数对被测设备进行完全开机测试，也即基于第二输入电压集合中的各第二输入电压、第二完全开机时间、第二关机时间，分别对被测设备进行第二测试次数的第二完全开机测试。

具体的，由于第二输入电压集合中包括多个第一输入电压，因此需要对各第一输入电压一一进行第二完全开机测试，首先可以从第二输入电压集合中获取一个预设第二输入电压，基于预设第二输入电压、第二完全开机时间、第二关机时间，对被测设备进行一次第二完全开机测试，其中第二完全开机测试包括：控制电源装置基于预设第二输入电压接通被测设备持续第二完全开机时间，在确定被测设备启动成功并控制电源装置断开被测设备持续第二关机时间之后，继续对被测设备进行第二完全开机测试。

另外在每进行一次第二完全开机测试之后，记录第二完全开机测试对应的第二完全开机测试日志，其中第二完全开机测试日志中至少包括每次进行第二完全开机测试对应的第二完全开机电压、第二完全开机时间、第二完全开机次数以及第二完全开机结果。其中，第二完全开机电压也即本次第二完全开机测试对应的预设第二输入电压，第二完全开机时间也即本次第二完全开机测试对应的开机时间，第二完全开机次数也即在预设第二输入电压的测试参数下累积的测试次数，第二完全开机结果也即本次第二完全开机是否成功。

在完成一次第二完全开机测试之后，还需要判断是否继续进行第二完全开机测试，此时可以将第二完全开机次数与第二测试次数进行比较，若第二完全开机次数小于第二测试次数，则继续基于按照预设第二输入电压、第二完全开机时间、第二关机时间进行完全开机测试；若第二完全开机次数等于或者大于第二测试次数，则判断第二输入电压集合中的第二输入电压是否全部完成第二完全开机测试，若第二输入电压集合中的第二输入电压没有全部完成第二完全开机测试，则获取第二输入电压集合中的下一个未进行第二完全开机测试的第二输入电压，并基于该第二输入电压、第二完全开机时间、第二关机时间重复进行上述第二完全开机测试；若第二输入电压集合中的第二输入电压全部完成第二完全开机测试，则结束对被测设备的第二完全开机测试。

也即通过上述步骤的循环可以实现基于第二输入电压集合中的各第二输入电压、第二完全开机时间、第二关机时间，分别对被测设备进行第二测试次数的第二完全开机测试。

在本申请实施例中，对被测设备进行开关机测试可以实现自动化测试，还可以控制不同的输入电压，在不同的输入电压自动进行快速开关机和完全启动开关机测试，测试过程中可以记录记录详细的测试日志和结果，大大提高了对被测设备进行开关机测试时的测试效果。

请参阅图6，图6为本申请另一实施例提供的一种测试装置的结构示意图。

如图6所示，测试装置600包括：

测试请求接收模块610，用于接收针对被测设备的测试请求，测试请求至少包括快速开机测试请求以及完全开机测试请求。

测试参数设置模块620，用于根据测试请求设置被测设备对应的测试参数，测试参数包括开机时间集合、关机时间、测试次数、检查次数、完全开机时间以及输入电压集合中的至少一种。

测试模块630，用于基于测试参数对被测设备进行测试，并生成测试请求对应的测试日志。

请参阅图7，图7为本申请另一实施例提供的一种测试装置的结构示意图。

如图7所示，测试装置700包括：

测试请求接收模块710，用于接收针对被测设备的测试请求，测试请求至少包括快速开机测试请求以及完全开机测试请求。

第一测试参数设置模块720，用于根据快速开机测试请求设置被测设备对应的第一测试参数，第一测试参数包括：开机时间集合、第一关机时间、第一测试次数、检查次数、第一完全开机时间以及第一输入电压集合。

其中开机时间集合中包括多个不同的开机时间，第一输入电压集合包括多个不同的第一输入电压。

快速开机测试模块730，用于基于开机时间集合中的各开机时间、第一输入电压集合中的各第一输入电压以及第一关机时间，分别对被测设备进行第一测试次数的快速开机测试。

第一完全开机测试模块740，用于每隔检查次数的快速开机测试之后，基于第一完全开机时间以及第二关机时间对被测设备进行一次第一完全开机测试。

其中，快速开机测试包括：

控制电源装置基于第一输入电压集合中的第一输入电压接通被测设备持续开机时间之后，控制电源装置断开被测设备持续第一关机时间；

第一完全开机测试包括：控制电源装置基于第一输入电压集合中的第一输入电压接通被测设备持续第一完全开机时间，在确定被测设备启动成功并控制电源装置断开被测设备持续第一关机时间之后，继续对被测设备进行快速开机测试。

快速开机测试日志生成模块750，用于在每进行一次快速开机测试之后，记录快速开机测试对应的快速开机测试日志，其中快速开机测试日志中至少包括每次进行快速开机测试对应的快速开机电压、快速开机时间以及快速开机次数。

第一完全开机测试日志生成模块760，用于在每进行一次第一完全开机测试之后，记录第一完全开机测试对应的第一完全开机测试日志，其中第一完全开机测试日志中至少包括每次进行第一完全开机测试对应的第一完全开机电压、第一完全开机时间、第一完全开机次数以及第一完全开机结果。

请参阅图8，图8为本申请另一实施例提供的一种测试装置的结构示意图。

如图8所示，测试装置800包括：

测试请求接收模块810，用于接收针对被测设备的测试请求，测试请求至少包括快速开机测试请求以及完全开机测试请求。

第二测试参数设置模块820，用于根据完全开机测试请求设置被测设备对应的第二测试参数，第二测试参数包括：第二完全开机时间、第二关机时间、第二测试次数以及第二输入电压集合。

其中第二输入电压集合中包括多个不同的第二输入电压。

第二完全开机测试模块830，用于基于第二输入电压集合中的各第二输入电压、第二完全开机时间、第二关机时间，分别对被测设备进行第二测试次数的第二完全开机测试。

其中，第二完全开机测试包括：

控制电源装置基于第二输入电压集合中的第二输入电压接通被测设备持续第二完全开机时间，在确定被测设备启动成功并控制电源装置断开被测设备持续第二关机时间之后，继续对被测设备进行第二完全开机测试。

第二完全开机测试日志生成模块840，用于在每进行一次第二完全开机测试之后，记录第二完全开机测试对应的第二完全开机测试日志，其中第二完全开机测试日志中至少包括每次进行第二完全开机测试对应的第二完全开机电压、第二完全开机时间、第二完全开机次数以及第二完全开机结果。

在本申请实施例中，一种测试装置包括：测试请求接收模块，用于接收针对被测设备的测试请求，测试请求至少包括快速开机测试请求以及完全开机测试请求；测试参数设置模块，用于根据测试请求设置被测设备对应的测试参数，测试参数包括开机时间集合、关机时间、测试次数、检查次数、完全开机时间以及输入电压集合中的至少一种；测试模块，用于基于测试参数对被测设备进行测试，并生成测试请求对应的测试日志。由于通过对测试参数中各种参数进行设置，可以模拟出被测设备处于频繁开关机的使用环境下，对被测设备的可靠性影响，大大提高了对被测设备进行开关机测试时的测试效果。

本申请实施例还提供了一种计算机存储介质，计算机存储介质可以存储有多条指令，指令适于由处理器加载并执行如上述实施例中的任一项的方法的步骤。

请参见图9，图9为本申请实施例提供的一种终端的结构示意图。如图9所示，终端900可以包括：至少一个处理器901，至少一个网络接口904，用户接口903，存储器905，至少一个通信总线902。

其中，通信总线902用于实现这些组件之间的连接通信。

其中，用户接口903可以包括显示屏(Display)、摄像头(Camera)，可选用户接口903还可以包括标准的有线接口、无线接口。

其中，网络接口904可选的可以包括标准的有线接口、无线接口(如WI-FI接口)。

其中，处理器901可以包括一个或者多个处理核心。处理器901利用各种接口和线路连接整个终端900内的各个部分，通过运行或执行存储在存储器905内的指令、程序、代码集或指令集，以及调用存储在存储器905内的数据，执行终端900的各种功能和处理数据。可选的，处理器901可以采用数字信号处理(Digital Signal Processing，DSP)、现场可编程门阵列(Field-Programmable Gate Array，FPGA)、可编程逻辑阵列(Programmable LogicArray，PLA)中的至少一种硬件形式来实现。处理器901可集成中央处理器(CentralProcessing Unit，CPU)、图像处理器(Graphics Processing Unit，GPU)和调制解调器等中的一种或几种的组合。其中，CPU主要处理操作系统、用户界面和应用程序等；GPU用于负责显示屏所需要显示的内容的渲染和绘制；调制解调器用于处理无线通信。可以理解的是，上述调制解调器也可以不集成到处理器901中，单独通过一块芯片进行实现。

其中，存储器905可以包括随机存储器(Random Access Memory，RAM)，也可以包括只读存储器(Read-Only Memory，ROM)。可选的，该存储器905包括非瞬时性计算机可读介质(non-transitory computer-readable storage medium)。存储器905可用于存储指令、程序、代码、代码集或指令集。存储器905可包括存储程序区和存储数据区，其中，存储程序区可存储用于实现操作系统的指令、用于至少一个功能的指令(比如触控功能、声音播放功能、图像播放功能等)、用于实现上述各个方法实施例的指令等；存储数据区可存储上面各个方法实施例中涉及到的数据等。存储器905可选的还可以是至少一个位于远离前述处理器901的存储装置。如图9所示，作为一种计算机存储介质的存储器905中可以包括操作系统、网络通信模块、用户接口模块以及测试程序。

在图9所示的终端900中，用户接口903主要用于为用户提供输入的接口，获取用户输入的数据；而处理器901可以用于调用存储器905中存储的测试程序，并具体执行以下操作：

接收针对被测设备的测试请求，测试请求至少包括快速开机测试请求以及完全开机测试请求；

根据测试请求设置被测设备对应的测试参数，测试参数包括开机时间集合、关机时间、测试次数、检查次数、完全开机时间以及输入电压集合中的至少一种；

基于测试参数对被测设备进行测试，并生成测试请求对应的测试日志。

在一个实施例中，处理器901在执行测试请求为快速开机测试请求，根据测试请求设置被测设备对应的测试参数时，具体执行以下包括：根据快速开机测试请求设置被测设备对应的第一测试参数，第一测试参数包括：开机时间集合、第一关机时间、第一测试次数、检查次数、第一完全开机时间以及第一输入电压集合；其中开机时间集合中包括多个不同的开机时间，第一输入电压集合包括多个不同的第一输入电压。

在一个实施例中，处理器901在执行基于测试参数对被测设备进行测试时，具体执行以下包括：基于开机时间集合中的各开机时间、第一输入电压集合中的各第一输入电压以及第一关机时间，分别对被测设备进行第一测试次数的快速开机测试，其中每隔检查次数的快速开机测试之后，基于第一完全开机时间以及第二关机时间对被测设备进行一次第一完全开机测试。

其中，快速开机测试包括：控制电源装置基于第一输入电压集合中的第一输入电压接通被测设备持续开机时间之后，控制电源装置断开被测设备持续第一关机时间；第一完全开机测试包括：控制电源装置基于第一输入电压集合中的第一输入电压接通被测设备持续第一完全开机时间，在确定被测设备启动成功并控制电源装置断开被测设备持续第一关机时间之后，继续对被测设备进行快速开机测试。

在一个实施例中，处理器901在执行生成测试请求对应的测试日志时，具体执行以下步骤包括：在每进行一次快速开机测试之后，记录快速开机测试对应的快速开机测试日志，其中快速开机测试日志中至少包括每次进行快速开机测试对应的快速开机电压、快速开机时间以及快速开机次数；在每进行一次第一完全开机测试之后，记录第一完全开机测试对应的第一完全开机测试日志，其中第一完全开机测试日志中至少包括每次进行第一完全开机测试对应的第一完全开机电压、第一完全开机时间、第一完全开机次数以及第一完全开机结果。

在一个实施例中，处理器901在执行测试请求为完全开机测试，根据测试请求设置被测设备对应的测试参数时，具体执行以下步骤包括：根据完全开机测试请求设置被测设备对应的第二测试参数，第二测试参数包括：第二完全开机时间、第二关机时间、第二测试次数以及第二输入电压集合；其中第二输入电压集合中包括多个不同的第二输入电压。

在一个实施例中，处理器901在执行基于测试参数对被测设备进行测试时，具体执行以下步骤包括：基于第二输入电压集合中的各第二输入电压、第二完全开机时间、第二关机时间，分别对被测设备进行第二测试次数的第二完全开机测试。

其中，第二完全开机测试包括：控制电源装置基于第二输入电压集合中的第二输入电压接通被测设备持续第二完全开机时间，在确定被测设备启动成功并控制电源装置断开被测设备持续第二关机时间之后，继续对被测设备进行第二完全开机测试。

在一个实施例中，处理器901在执行生成测试请求对应的测试日志时，具体执行以下步骤包括：在每进行一次第二完全开机测试之后，记录第二完全开机测试对应的第二完全开机测试日志，其中第二完全开机测试日志中至少包括每次进行第二完全开机测试对应的第二完全开机电压、第二完全开机时间、第二完全开机次数以及第二完全开机结果。

在本申请所提供的几个实施例中，应该理解到，所揭露的装置和方法，可以通过其它的方式实现。例如，以上所描述的装置实施例仅仅是示意性的，例如，模块的划分，仅仅为一种逻辑功能划分，实际实现时可以有另外的划分方式，例如多个模块或组件可以结合或者可以集成到另一个系统，或一些特征可以忽略，或不执行。另一点，所显示或讨论的相互之间的耦合或直接耦合或通信连接可以是通过一些接口，装置或模块的间接耦合或通信连接，可以是电性，机械或其它的形式。

作为分离部件说明的模块可以是或者也可以不是物理上分开的，作为模块显示的部件可以是或者也可以不是物理模块，即可以位于一个地方，或者也可以分布到多个网络模块上。可以根据实际的需要选择其中的部分或者全部模块来实现本实施例方案的目的。

另外，在本申请各个实施例中的各功能模块可以集成在一个处理模块中，也可以是各个模块单独物理存在，也可以两个或两个以上模块集成在一个模块中。上述集成的模块既可以采用硬件的形式实现，也可以采用软件功能模块的形式实现。

集成的模块如果以软件功能模块的形式实现并作为独立的产品销售或使用时，可以存储在一个计算机可读取存储介质中。基于这样的理解，本申请的技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分或者该技术方案的全部或部分可以以软件产品的形式体现出来，该计算机软件产品存储在一个存储介质中，包括若干指令用以使得一台计算机设备(可以是个人计算机，服务器，或者网络设备等)执行本申请各个实施例方法的全部或部分步骤。而前述的存储介质包括：U盘、移动硬盘、只读存储器(ROM，Read-Only Memory)、随机存取存储器(RAM，Random Access Memory)、磁碟或者光盘等各种可以存储程序代码的介质。

需要说明的是，对于前述的各方法实施例，为了简便描述，故将其都表述为一系列的动作组合，但是本领域技术人员应该知悉，本申请并不受所描述的动作顺序的限制，因为依据本申请，某些步骤可以采用其它顺序或者同时进行。其次，本领域技术人员也应该知悉，说明书中所描述的实施例均属于优选实施例，所涉及的动作和模块并不一定都是本申请所必须的。

在上述实施例中，对各个实施例的描述都各有侧重，某个实施例中没有详述的部分，可以参见其它实施例的相关描述。

以上为对本申请所提供的一种测试方法、装置、存储介质以及终端的描述，对于本领域的技术人员，依据本申请实施例的思想，在具体实施方式及应用范围上均会有改变之处，综上，本说明书内容不应理解为对本申请的限制。

Claims (10)

1.一种测试方法，其特征在于，所述方法包括：

接收针对被测设备的测试请求，所述测试请求至少包括快速开机测试请求以及完全开机测试请求；

根据所述测试请求设置所述被测设备对应的测试参数，所述测试参数包括开机时间集合、关机时间、测试次数、检查次数、完全开机时间以及输入电压集合中的至少一种；

基于所述测试参数对所述被测设备进行测试，并生成所述测试请求对应的测试日志。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述测试请求为快速开机测试请求，所述根据所述测试请求设置所述被测设备对应的测试参数，包括：

根据所述快速开机测试请求设置所述被测设备对应的第一测试参数，所述第一测试参数包括：开机时间集合、第一关机时间、第一测试次数、检查次数、第一完全开机时间以及第一输入电压集合；

其中所述开机时间集合中包括多个不同的开机时间，所述第一输入电压集合包括多个不同的第一输入电压。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述基于所述测试参数对所述被测设备进行测试，包括：

基于所述开机时间集合中的各开机时间、所述第一输入电压集合中的各第一输入电压以及所述第一关机时间，分别对所述被测设备进行所述第一测试次数的快速开机测试，其中每隔所述检查次数的快速开机测试之后，基于所述第一完全开机时间以及所述第二关机时间对所述被测设备进行一次第一完全开机测试。

4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述快速开机测试包括：

控制电源装置基于所述第一输入电压集合中的第一输入电压接通所述被测设备持续开机时间之后，控制所述电源装置断开所述被测设备持续所述第一关机时间；

所述第一完全开机测试包括：控制所述电源装置基于所述第一输入电压集合中的第一输入电压接通所述被测设备持续所述第一完全开机时间，在确定所述被测设备启动成功并控制所述电源装置断开所述被测设备持续所述第一关机时间之后，继续对所述被测设备进行所述快速开机测试。

5.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述生成所述测试请求对应的测试日志，包括：

在每进行一次所述快速开机测试之后，记录所述快速开机测试对应的快速开机测试日志，其中所述快速开机测试日志中至少包括每次进行所述快速开机测试对应的快速开机电压、快速开机时间以及快速开机次数；

在每进行一次所述第一完全开机测试之后，记录所述第一完全开机测试对应的第一完全开机测试日志，其中所述第一完全开机测试日志中至少包括每次进行所述第一完全开机测试对应的第一完全开机电压、第一完全开机时间、第一完全开机次数以及第一完全开机结果。

6.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述测试请求为完全开机测试，所述根据所述测试请求设置所述被测设备对应的测试参数，包括：

根据所述完全开机测试请求设置所述被测设备对应的第二测试参数，所述第二测试参数包括：第二完全开机时间、第二关机时间、第二测试次数以及第二输入电压集合；

其中所述第二输入电压集合中包括多个不同的第二输入电压。

7.根据权利要求6所述的方法，其特征在于，所述基于所述测试参数对所述被测设备进行测试，包括：

基于所述第二输入电压集合中的各第二输入电压、所述第二完全开机时间、所述第二关机时间，分别对所述被测设备进行所述第二测试次数的第二完全开机测试。

8.一种测试装置，其特征在于，所述装置包括：

测试请求接收模块，用于接收针对被测设备的测试请求，所述测试请求至少包括快速开机测试请求以及完全开机测试请求；

测试参数设置模块，用于根据所述测试请求设置所述被测设备对应的测试参数，所述测试参数包括开机时间集合、关机时间、测试次数、检查次数、完全开机时间以及输入电压集合中的至少一种；

测试模块，用于基于所述测试参数对所述被测设备进行测试，并生成所述测试请求对应的测试日志。

9.一种计算机存储介质，其特征在于，所述计算机存储介质存储有多条指令，所述指令适于由处理器加载并执行如权利要求1～7任意一项的所述方法的步骤。

10.一种终端，其特征在于，包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述程序时实现如权利要求1～7任一项所述方法的步骤。

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