CN114739107A - 制冷设备控制方法、装置、制冷设备及存储介质 - Google Patents
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Abstract
本申请提供一种制冷设备控制方法、装置、制冷设备及存储介质,方法包括:控制重量检测模块获取放置于冷冻室的食品的重量;控制温度检测模块获取冷冻室内的温度;建立食品冷冻后产生的冰晶的当量直径与重量、温度及食品的储藏时长的模型,并根据模型预测冰晶在预设时长后的冰晶当量直径;根据冰晶当量直径控制磁场发生装置产生的磁场。基于此,制冷设备控制方法根据模型来预设冰晶成核后的大小,冰晶大小的预测方式更简单,更利于操作。
Description
技术领域
本申请涉及家用电器技术领域,具体涉及一种制冷设备控制方法、装置、制冷设备及存储介质。
背景技术
食品在冰箱、冰柜等制冷设备中冷冻储藏的过程中会产生冰晶,冰晶会刺破食品的细胞而导致营养物质的流失。
相关技术中,往往通过光学显微镜、电子显微镜、X射线等方式观察冰晶的大小。但是,相关技术观察冰晶大小的方法操作复杂,不易观察,制冷设备并不能灵活地控制冰晶的大小,从而导致食品的营养物质流失。
发明内容
本申请提供一种制冷设备控制方法、装置、制冷设备及存储介质,该制冷设备控制方法能够预测冰晶的大小,冷设备控制方法的操作更简单。
第一方面,本申请提供一种制冷设备控制方法,应用于制冷设备,所述制冷设备包括冷冻室、重量检测模块、温度检测模块和磁场发生装置;所述方法包括:
控制所述重量检测模块获取放置于所述冷冻室的食品的重量;
控制所述温度检测模块获取所述冷冻室内的温度;
建立所述食品冷冻后产生的冰晶的当量直径与所述重量、所述温度以及所述食品的储藏时长的模型,并根据所述模型预测所述冰晶在预设时长后的冰晶当量直径;
根据所述冰晶当量直径控制所述磁场发生装置产生的磁场。
在一些实施例中,所述建立所述食品冷冻后产生的冰晶的当量直径与所述重量、所述温度以及所述食品的储藏时长的模型之前,还包括:
确定放置于所述冷冻室内的食品的类别;
所述建立所述食品冷冻后产生的冰晶的当量直径与所述重量、所述温度以及所述食品的储藏时长的模型,包括:
建立所述食品冷冻后产生的冰晶的当量直径与所述类别、所述重量、所述温度以及所述食品的储藏时长的模型。
在一些实施例中,所述根据所述模型预测所述冰晶在预设时长后的冰晶当量直径之后,还包括:
获取用户在所述预设时长内打开所述冷冻室的时长以及冷冻室内外温差;
根据所述时长和所述温差对所述冰晶当量直径进行补偿;
所述根据所述冰晶当量直径控制所述磁场发生装置产生的磁场,包括:
根据补偿后的所述冰晶当量直径控制所述磁场发生装置产生的磁场。
在一些实施例中,所述根据所述冰晶当量直径控制所述磁场发生装置产生的磁场,包括:
在所述冰晶当量直径符合直径阈值范围时,关闭所述磁场发生装置;
在所述冰晶当量直径不符合直径阈值范围时,控制所述磁场发生装置产生磁场。
在一些实施例中,所述在所述冰晶当量直径不符合直径阈值范围时,控制所述磁场发生装置产生磁场,包括:
在所述冰晶当量直径处于第一范围时,控制所述磁场发生装置产生的磁场的强度处于第一磁场强度范围;
在所述冰晶当量直径处于第二范围时,控制所述磁场发生装置产生的磁场的强度处于第二磁场强度范围;其中,
所述第一范围大于所述第二范围,所述第一磁场强度范围大于所述第二磁场强度范围。
在一些实施例中,所述根据所述冰晶当量直径控制所述磁场发生装置产生的磁场,包括:
根据所述冰晶当量直径通过调节所述磁场发生装置产生的磁场的通断比、调整流过磁场发生装置的线圈的电流值或者改变所述线圈的匝数来控制所述磁场发生装置的磁场强度。
第二方面,本申请还提供一种制冷设备控制装置,应用于制冷设备,所述制冷设备包括冷冻室、重量检测模块、温度检测模块和磁场发生装置;所述装置包括:
重量确定模块,用于控制所述重量检测模块获取放置于所述冷冻室的食品的重量;
温度确定模块,用于控制所述温度检测模块获取所述冷冻室内的温度;
模型建立模块,用于建立所述食品冷冻后产生的冰晶的当量直径与所述重量、所述温度以及所述食品的储藏时长的模型,并根据所述模型预测所述冰晶在预设时长后的冰晶当量直径;及
磁场控制模块,用于根据所述冰晶当量直径控制所述磁场发生装置产生的磁场。
在一些实施例中,所述装置还包括:
类别检测模块,用于确定放置于所述冷冻室内的食品的类别;
所述模型建立模块还用于:
建立所述食品冷冻后产生的冰晶的当量直径与所述类别、所述重量、所述温度以及所述食品的储藏时长的模型。
第三方面,本申请还提供一种制冷设备,包括冷冻室及处理器,所述冷冻室内设置有重量检测模块、温度检测模块和磁场发生装置,所述重量检测模块、所述温度检测模块和所述磁场发生装置均与所述处理器电连接,所述处理器用于执行如上所述的制冷设备控制方法。
第四方面,本申请还提供一种计算机可读存储介质,所述计算机可读存储介质存储有计算机程序,所述计算机程序适于处理器进行加载,以执行如上所述的制冷设备控制方法中的步骤。
本申请的制冷设备控制方法、装置、制冷设备及存储介质,制冷设备控制方法通过控制重量检测模块获取放置于冷冻室的食品的重量;控制温度检测模块获取冷冻室内的温度;建立食品冷冻后产生的冰晶的当量直径与重量、温度以及食品的储藏时长的模型,并根据模型预测所述冰晶在预设时长后的冰晶当量直径;根据冰晶当量直径控制磁场发生装置产生的磁场。由于冰晶的大小直接影响食品的营养流失程度,而相关技术中观察冰晶大小的方式操作复杂,不易观察;而本申请的制冷设备控制方法可以解决相关技术中不易获取冰晶大小的问题。本申请的制冷设备控制方法根据检测的食品重量、冷冻室温度以及储藏时长建立食品冷冻后产生的冰晶的当量直径,并可以预测预设时长后的冰晶当量直径,本申请的制冷设备控制方法不需要利用复杂的工具观察冰晶大小就可以直接利用模型预测出冰晶的大小,本申请冰晶大小的预测方式更简单,更利于操作;并且,本申请还可以根据预设的冰晶大小来控制磁场发生装置产生的磁场的大小,以使得预设时长后的冰晶当量直径较小,冷冻后的食品可以产生小而均匀的冰晶,冰晶不易刺破食品细胞,可以最大限度地减少食品营养的流失。
附图说明
为了更清楚地说明本申请实施例中的技术方案,下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单的介绍。显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例,对本领域技术人员来说,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。
为了更完整地理解本申请及其有益效果,下面将结合附图来进行说明。其中,在下面的描述中相同的附图标号表示相同部分。
图1为本申请实施例提供的制冷设备的第一种结构示意图。
图2为本申请实施例提供的制冷设备的第二种结构示意图。
图3为本申请实施例提供的制冷设备控制方法的第一流程示意图。
图4为本申请实施例提供的制冷设备控制方法的第二流程示意图。
图5为本申请实施例提供的制冷设备控制装置的第一种结构示意图。
图6为本申请实施例提供的制冷设备控制装置的第二种结构示意图。
图7为本申请实施例提供的制冷设备的第三种结构示意图。
具体实施方式
下面将结合本申请实施例中的附图1至7,对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述。显然,所描述的实施例仅仅是本申请一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例,本领域技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本申请保护的范围。
本申请实施例提供一种制冷设备控制方法、装置、制冷设备100及存储介质。其中,制冷设备控制方法可以由制冷设备控制装置200执行,也可以由制冷设备100执行。该制冷设备100可以但不限于是冰箱、冰柜等可制冷的设备。请参考图1和图2,图1为本申请实施例提供的制冷设备100的第一种结构示意图,图2为本申请实施例提供的制冷设备100的第二种结构示意图。制冷设备100可以但不限于包括冷冻室110、重量检测模块120、温度检测模块130、磁场发生装置140和处理器150。
冷冻室110可以存放食品,例如存放肉类、面食、冰淇淋、饮品等食品等。冷冻室110可以将放置于内部的食品进行速冻。冷冻室110的温度可以在零下16摄氏度至零下26摄氏度左右,在冷冻室110内的食品可以存放较长的时间。
可以理解的是,食品放置在冷冻室110一定时间后可以产生冰晶。冰晶的生产可以分为四个阶段:成核驱动力阶段、成核阶段、冰晶生产阶段和重结晶阶段。其中,成核驱动力直接决定冰晶的大小,成核驱动力大,冰晶小,冰晶的数量多,冰晶小且均匀,冰晶不易刺破食品的细胞;成核驱动力小,冰晶大,冰晶会刺破食品的细胞而导致营养物质的流失。
可以理解的是,提高成核驱动力的方式可以但不限于有:快速降温、超高压冷冻、超声波冷冻、渗透脱水冷冻、冰核蛋白、磁共振冷冻、微波辐射冷冻、磁场辅助冷冻等。通过上述方式可以控制冰晶的大小,使得冰晶小且均匀。
重量检测模块120可以设置于冷冻室110内,或者,重量检测模块120的部分模块可以形成于冷冻室110的底壁。重量检测模块120可以对放置在冷冻室110内的食品的重量进行检测。例如,重量检测模块120可以包括感应面板以及重量芯片,该感应面板可以设置在冷冻室110的底壁上,或者直接形成于冷冻室110的底壁;当食品放置在感应面板上,重量芯片可以检测出该食品的重量(初始重量)。
需要说明的是,重量检测模块120可以但不限于是重量传感器、电子秤。凡是可以检测出食品重量的装置均可以是本申请的重量检测模组,在此不对重量检测模块120的具体结构进行限定。
温度检测模块130可以设置于冷冻室110内,例如但不限于温度检测模块130设置于冷冻室110的出风口。温度检测模块130可以检测冷冻室110的温度。可以理解的是,基于用户的使用习惯,用户一般不会经常调整冷冻室110的温度,因此,温度检测模块130检测的冷冻室110的温度一般是固定不变的,例如,温度检测模块130检测的冷冻室110的温度可以为零下20摄氏度。需要说明的是,温度检测模块130可以但不限于是红外温度传感器、温度计、雷达传感器。本申请实施例对此不进行限定,凡是可以检测冷冻室110温度的装置均在本申请的保护范围内。
磁场发生装置140可以设置于冷冻室110内,例如设置于冷冻室110的顶部盖板上。当制冷设备100包括多个冷冻室110时,制冷设备100也可以包括多个磁场发生装置140,以使得一个磁场发生装置140可以设置于一个冷冻室110内。磁场发生装置140可以产生磁场,通过控制磁场的大小,可以使得磁场发生装置140的磁性材料从外部放热或从外部吸热,从而磁场发生装置140可以快速调整冷冻室110内的温度,实现快速降温、磁场辅助冷冻等功能,磁场发生装置140可以改变食品冰晶的大小。
可以理解的是,磁场发生装置140可以包括电磁控制模块(图未示)和线圈(图未示),电磁控制模块可以控制线圈模块切割磁场线运动从而产生磁场,并且,电磁控制模块可以通过调节磁场发生装置140产生的磁场的通断比、调整流过磁场发生装置140的线圈的电流值或者改变通电线圈的匝数来控制磁场发生装置140的磁场强度,以极速控制冷冻室110内的温度。
可以理解的是,磁场发生装置140的线圈可以是单一一组,线圈可以放置于冷冻室110内部的任意位置;磁场发生装置140的线圈也可以是多组线圈,例如两组线圈可以上下平行放置或者左右平行方式。
可以理解的是,线圈可以是铜线材质,也可以是铝线材质,本申请实施例对此不进行限定。同时,本申请实施例的磁场发生装置140的结构也并不局限于上述举例,例如,不采用线圈而采用铁芯。因此,本申请实施例对磁场发生装置140的具体结构不进行限定,凡是可以实现磁场保鲜功能的磁场发生装置140的结构均在本申请实施例的保护范围内。
处理器150可以分别与重量检测模块120、温度检测模块130和磁场发生装置140直接或间接电连接,处理器150可以控制重量检测模块120获取放置于冷冻室110的食品的重量,也可以控制温度检测模块130获取冷冻室110内的温度,还可以建立食品冷冻后产生的冰晶的当量直径与食品重量、冷冻室110温度以及食品的储藏时长的模型,并根据模型预测冰晶在预设时长后的冰晶当量直径,还可以根据冰晶当量直径控制磁场发生装置140产生的磁场,以使得制冷设备100能够预测食品在预设时长后的冰晶大小,也可以控制磁场发生装置140控制冰晶的成核驱动力,使得食品在预设时长后产生的冰晶的大小可以处于预设范围内,食品可以产生小且均匀的冰晶,食品的细胞不易被冰晶刺破。
基于上述制冷设备100的结构,请参阅图3,图3为本申请实施例提供的制冷设备控制方法的第一流程示意图。本申请实施例的制冷设备控制方法可以应用于制冷设备100,该制冷设备100可以包括冷冻室110、重量检测模块120、温度检测模块130和磁场发生装置140;该制冷设备控制方法可以包括以下步骤:
在101中,控制重量检测模块120获取放置于冷冻室110的食品的重量;
重量检测模块120可以设置于冷冻室110内,或者,重量检测模块120的部分模块可以形成于冷冻室110的底壁。重量检测模块120可以对放置在冷冻室110内的食品的重量进行检测,重量检测模块120可以检测出该食品的刚放入冷冻室110的初始重量。
可以理解的是,重量检测模块120检测出食品的初始重量后,可以将该重量发送至制冷设备100的处理器150,以便于处理器150获取该初始重量。当然,如果制冷设备100内设置专门的模型建立模块,重量检测模块120也可以将该初始重量直接发送至模型建立模块,或者,重量检测模块120也可以该初始重量先发给处理器150,然后通过处理器150发送至模型建立模块。本申请实施例对处理器150、重量检测模块120获取食品的初始重量的方式不进行具体的限定。
在102中,控制温度检测模块130获取冷冻室110内的温度;
温度检测模块130可以设置于冷冻室110内,例如但不限于温度检测模块130设置于冷冻室110的出风口。温度检测模块130可以检测冷冻室110的温度。
可以理解的是,温度检测模块130可以将检测的温度发送至处理器150,也可以将检测的温度发送至模型建立模块230,本申请实施例对此不进行限定。
在103中,建立食品冷冻后产生的冰晶的当量直径与食品的重量、冷冻室110内的温度以及食品的储藏时长的模型,并根据该模型预测冰晶在预设时长后的冰晶当量直径;
制冷设备100内部可以预先设置有冰晶的当量直径与食品的重量、冷冻室110内的温度以及食品的储藏时长的程序模型,该程序模型可以是:
D=F(W,T,t)
其中,D可以是冰晶的当量直径;W可以是重量检测模块120检测的食品的重量(即初始重量);T可以是温度检测模块130检测的冷冻室110的温度(为冷冻室110设定的温度,一般为定值);t可以是食品放置于冷冻室110内的储藏时长。F可以是制冷设备100内部预先设置的函数,根据该函数以及W、T、t的数值可以建立出冰晶当量直径的函数模型。
可以理解的是,冰晶的当量直径是指将冰晶看做一个与之相当的球,该球体的直径作为冰晶的粒径。冰晶的当量直径可以反映冰晶的大小。
可以理解的是,函数F可以但不限于是高斯函数、傅里叶变换函数、形状直径函数、回归拟合函数、马尔科夫预测函数、组合预测函数、向量机法函数、组合预测法函数、三次样差值预测函数。凡是可以建立当量直径与食品的重量、冷冻室110内的温度以及食品的储藏时长的函数模型就可以是上述公式中的函数F,本申请实施例对此不进行限定。
可以理解的是,根据上述模型可以预测出预设时长后的冰晶当量直径(即此时的冰晶的当量直径)。该预设时长可以根据需求设置,一般可以设置预设时长t等于24小时,当食品放置于冷冻室110内24小时后,其表面产生的冰晶已经成核,冰晶大小相对稳定。
当然,考虑到不同的食品的成核时间可能有差异,此处的预设时长也可以根据不同的食品类别进行不同的设定。本申请实施例对预设时长不进行具体的限定。
在104中,根据冰晶当量直径控制磁场发生装置140产生的磁场。
当根据上述模型预测出预设时长后的冰晶当量直径,则可以根据该冰晶当量直径控制磁场发生装置140产生的磁场,以使得食品在预设时长后可以产生小且均匀的冰晶。
例如,当预测出冰晶当量直径较大,则说明该食品在冷冻过程中会产生直径较大的冰晶,该较大的冰晶可能会刺破食品的细胞而导致营养物质流失;此时,磁场发生装置140可以产生较高磁场强度的磁场,以使得该食品可以产生较大的过冷度,食品可以极速冷冻而使得食品在冷冻过程中实际产生的冰晶可以较小且均匀。
再例如,当预测出冰晶当量直径较小,则说明该食品在冷冻过程中会产生直径较小的冰晶,该较小的冰晶基本不会刺破食品的细胞;此时,磁场发生装置140可以不产生磁场,以使得该食品按照正常的冷冻速度进行冷冻,该食品在冷冻过程中实际产生的冰晶也可以较小且均匀。
又例如,当预测出冰晶当量直径适中,则说明该食品在冷冻过程中会产生直径适中的冰晶,该适中的冰晶中有可能部分冰晶会刺破食品的细胞而导致营养物质流失;此时,磁场发生装置140可以产生适中磁场强度的磁场,以使得该食品可以产生适中的过冷度,食品可以快速冷冻而使得食品在冷冻过程中实际产生的冰晶可以较小且均匀。
可以理解的是,磁场发生装置140产生不同磁场强度的磁场,可以但不限于根据冰晶当量直径通过调节磁场发生装置140产生的磁场的通断比、调整流过磁场发生装置140的线圈的电流值、或者改变磁场发生装置140的线圈(通电线圈)的匝数来控制磁场发生装置140的磁场强度。
需要说明的是,当磁场发生装置140产生磁场以极速或快速冷冻食品而调整冰晶大小时,在预设时长内磁场发生装置140可以一直工作,也可以仅工作一段时长,磁场发生装置140的具体工作时长可以根据预测的冰晶当量直径与直径阈值之间的关系来确定,本申请实施例对此不进行限定。
本申请实施例的制冷设备控制方法,通过重量检测模块120获取放置于冷冻室110的食品的重量;控制温度检测模块130获取冷冻室110内的温度;建立食品冷冻后产生的冰晶的当量直径与重量、温度以及食品的储藏时长的模型,并根据模型预测冰晶在预设时长后的冰晶当量直径;根据冰晶当量直径控制磁场发生装置140产生的磁场。基于此,从而,本申请实施例的制冷设备控制方法可以解决相关技术中不易获取冰晶大小的问题。本申请实施例的制冷设备控制方法根据检测的食品重量、冷冻室110温度以及储藏时长建立食品冷冻后产生的冰晶的当量直径,并可以预测预设时长后的冰晶当量直径,本申请不需要利用复杂的工具观察冰晶大小,本申请冰晶大小的预测方式更简单,更利于操作。并且,本申请还可以根据预设的冰晶大小来控制磁场发生装置140产生的磁场的大小,以使得预设时长后的冰晶当量直径较小,冷冻后的食品可以产生小而均匀的冰晶,冰晶不易刺破食品细胞,可以最大限度地减少食品营养的流失。
在一些实施例中,建立食品冷冻后产生的冰晶的当量直径与重量、温度以及食品的储藏时长的模型之前,还包括:确定放置于冷冻室110内的食品的类别。建立食品冷冻后产生的冰晶的当量直径与重量、温度以及食品的储藏时长的模型,包括:建立食品冷冻后产生的冰晶的当量直径与类别、重量、温度以及食品的储藏时长的模型。
可以理解的是,考虑到不同类别的食品产生能刺破其细胞的冰晶的大小可以不一样,因此,本申请实施例的制冷设备控制方法在建立模型之前,还可以获取食品的类别,并且,制冷设备控制方法可以根据该食品类别、食品重量、冷冻室110温度、储藏时长等参数建立模型并预测冰晶的大小。从而,该冰晶的大小可以与食品的类别相对应,冰晶大小的预测更准确。
可以理解的是,制冷设备100可以利用摄像设备采集冷冻室110内存放的食品的图像以获取该食品的类别;也可以设置输入设备并检测用户输入的关于食品类别的信息以获取该食品的类别;还可以根据冷冻室110的类型来确定存放于该冷冻室110内食品的类别(例如储藏肉类的冷冻室110、储藏面食的冷冻室110、储藏冰淇淋、雪糕等的冷冻室110)。需要说明的是,本申请实施例对制冷设备100获取食品类别的具体方式不进行限定,凡是可以确定出食品类别的方式均在本申请实施例的保护范围内。
在一些实施例中,根据模型预测冰晶在预设时长后的冰晶当量直径之后,还包括:获取用户在预设时长内打开冷冻室110的时长以及冷冻室110内外温差;根据打开冷冻室110的时长以及冷冻室110内外温差对冰晶当量直径进行补偿;根据冰晶当量直径控制磁场发生装置140产生的磁场,包括:根据补偿后的冰晶当量直径控制磁场发生装置140产生的磁场。
可以理解的是,上述根据模型预测冰晶当量直径的方案中,模型中的温度T往往是定量不变。用户在使用制冷设备100的过程中一般较少打开冷冻室110而使得冷冻室110与制冷设备100外部连通,用户在正常使用中打开冷冻室110的操作,一般不会影响模型中的温度T的数值,一般不会影响模型预测的冰晶当量直径的大小。但是,当遇到异常使用情况时,例如但不限于制冷设备100遇到较长时间的停电、用户未完全关闭冷冻室110而导致冷冻室110存在内外温差等情形,此时,这些异常使用情形会影响问题T的数值,从而会影响按照预设时长t预测的冰晶当量直径的大小。
基于此,本申请实施例可以根据用户在预设时长内打开冷冻室110的时长以及冷冻室110内外温差对冰晶当量直径进行补偿,以使得冰晶当量直径的预测更准确。然后磁场发生装置140可以根据补偿后的冰晶当量直径来调整磁场发生装置140产生的磁场,从而,可以使得冰晶成核后的大小不易刺破细胞表面。
可以理解的是,如果获取的用户在预设时长内打开冷冻室110的时长以及冷冻室110内外温差较小、或者为零时,在模型也可以不对冰晶当量直径进行补偿,或者对冰晶当量直径的补偿值为零。
可以理解的是,在上述对冰晶当量直径进行补偿的方案中,磁场发生装置140可以多次调整其产生的磁场,例如,在未补偿之前可以具有初始的磁场大小;在遇到突发情形进行补偿后可以根据补偿的冰晶大小而调整磁场的大小。本申请实施例对磁场发生装置140的具体工作过程不进行限定。
在一些实施例中,根据所述冰晶当量直径控制磁场发生装置140产生的磁场,包括:在冰晶当量直径符合直径阈值范围时,关闭磁场发生装置140;在冰晶当量直径不符合直径阈值范围时,控制磁场发生装置140产生磁场。
可以理解的是,当预测的冰晶当量直径符合要求时,此时磁场发生装置140可以不进行干涉,磁场发生装置140可以关闭而不工作;当预测的冰晶当量直径不符合要求时,此时磁场发生装置140可以改变冷冻室110的温度以对食品进行速冻而改变冰晶大小,以使得预设时长后冰晶可以小而均匀。
在一些实施例中,在冰晶当量直径不符合直径阈值范围时,控制磁场发生装置140产生磁场,包括:在冰晶当量直径处于第一范围时,控制磁场发生装置140产生的磁场的强度处于第一磁场强度范围;在冰晶当量直径处于第二范围时,控制磁场发生装置140产生的磁场的强度处于第二磁场强度范围;其中,第一范围大于第二范围,第一磁场强度范围大于第二磁场强度范围。
可以理解的是,预测的冰晶当量直径的大小不同,磁场发生装置140产生的磁场的强度也不同。例如,当冰晶当量直径较大,则需要较大的磁场强度来使得食品极速冷冻,以降低冰晶成核后的大小;当冰晶当量直径不太大时,则需要适中的磁场强度来使得食品快速冷冻,以降低冰晶成核后的大小。
基于上述实施例,为了更加详细的了解本申请实施例提供的制冷设备控制方法,请参阅图4,图4为本申请实施例提供的制冷设备控制方法的第二流程示意图。该制冷设备控制方法可以包括以下步骤:
在201中,控制重量检测模块120获取放置于冷冻室110的食品的重量;
重量检测模块120可以对放置在冷冻室110内的食品的重量进行检测,重量检测模块120可以检测出该食品的刚放入冷冻室110的初始重量。
在202中,控制温度检测模块130获取冷冻室110内的温度;
温度检测模块130可以设置于冷冻室110内,例如但不限于温度检测模块130设置于冷冻室110的出风口。温度检测模块130可以检测冷冻室110的温度。
在203中,确定放置于冷冻室110内的食品的类别;
不同类别的食品产生能刺破其细胞的冰晶的大小可以不一样。制冷设备100可以但不限于利用摄像设备采集冷冻室110内存放的食品的图像以获取该食品的类别、通过设置输入设备并检测用户输入的关于食品类别的信息以获取该食品的类别、根据冷冻室110的类型来确定存放于该冷冻室110内食品的类别。
在204中,建立食品冷冻后产生的冰晶的当量直径与食品的类别、食品的重量、冷冻室110内的温度以及食品的储藏时长的模型,并根据该模型预测冰晶在预设时长后的冰晶当量直径;
制冷设备控制方法可以根据该食品类别、食品重量、冷冻室110温度、储藏时长等参数建立模型并预测冰晶的大小。制冷设备100内部可以预先设置有程序模型,该程序模型可以是:
D=F(L,W,T,t)
其中,D可以是冰晶的当量直径;L可以是放置于冷冻室110的食品的类别;W可以是重量检测模块120检测的食品的重量(即初始重量);T可以是温度检测模块130检测的冷冻室110的温度;t可以是食品放置于冷冻室110内的储藏时长。F可以是制冷设备100内部预先设置的函数,根据该函数以及L、W、T、t的数值可以建立出冰晶当量直径的函数模型。
本申请实施例的冰晶当量直径模型,冰晶的大小可以与食品的类别相对应,冰晶大小的预测更准确。
在205中,获取用户在预设时长内打开冷冻室110的时长以及冷冻室110内外温差;
在206中,根据时长和温差对冰晶当量直径进行补偿;
当遇到异常使用情况时,例如但不限于制冷设备100遇到较长时间的停电、用户未完全关闭冷冻室110而导致冷冻室110存在内外温差等情形,此时,这些异常使用情形会影响问题T的数值,从而会影响按照预设时长t预测的冰晶当量直径的大小。
基于此,本申请实施例可以根据用户在预设时长内打开冷冻室110的时长以及冷冻室110内外温差对冰晶当量直径进行补偿,以使得冰晶当量直径的预测更准确。然后磁场发生装置140可以根据补偿后的冰晶当量直径来调整磁场发生装置140产生的磁场,从而,可以使得冰晶成核后的大小不易刺破细胞表面。
在207中,当补偿后的冰晶当量直径符合直径阈值范围时,关闭磁场发生装置140;
当预测的补偿后的冰晶当量直径符合要求时,此时磁场发生装置140可以不进行干涉,磁场发生装置140可以关闭而不工作;当预测的补偿后的冰晶当量直径不符合要求时,此时磁场发生装置140可以改变冷冻室110的温度以对食品进行速冻而改变冰晶大小,以使得冰晶成核后可以小而均匀。
在208中,当补偿后的冰晶当量直径处于第一范围时,控制磁场发生装置140产生的磁场的强度处于第一磁场强度范围;
在209中,当补偿后的冰晶当量直径处于第二范围时,控制磁场发生装置140产生的磁场的强度处于第二磁场强度范围;其中,第一范围大于第二范围,第一磁场强度范围大于第二磁场强度范围。
预测的补偿后的冰晶当量直径的大小不同,磁场发生装置140产生的磁场的强度也不同。
例如,当预测出冰晶可能的当量直径D为11-15微米范围时,冰晶很大,需要较高的磁场强度,此时可以调整磁场强度为25-30mT(毫特斯拉),保证食品产生较大的过冷度。
再例如,预测出冰晶可能的当量直径D为4-8微米范围时,冰晶适中,可以调整磁场强度为5-10mT(毫特斯拉),保证食品产生适中的过冷度。
又例如,当预测出冰晶可能的当量直径D为0-2微米范围时,冰晶很小,可以满足冷冻食品营养流失少、不刺破细胞的要求,可关闭磁场,从而达到节能的目的。
本申请的制冷设备控制方法,根据食品类别、食品重量、冷冻室110温度以及储藏时长建立食品冷冻后产生的冰晶的当量直径,并可以预测预设时长后的冰晶当量直径,预测方式更简单,更利于操作;并且,本申请还可以对预设的冰晶大小进行补偿,以进一步提高冰晶当量直径预测的准确性;同时,可以根据预测的冰晶的大小控制磁场发生装置140产生的磁场的大小,以使得预设时长后的冰晶当量直径较小,冷冻后的食品可以产生小而均匀的冰晶,冰晶不易刺破食品细胞,可以最大限度地减少食品营养的流失。
为了更好实施本申请实施例中制冷设备控制方法,在制冷设备控制方法基础之上,本申请实施例还提供了一种制冷设置控制装置。请参考图5,图5为本申请实施例提供的制冷设备控制装置200的第一种结构示意图。本申请实施例还提供一种制冷设备控制装置200,应用于制冷设备100,制冷设备100包括冷冻室110、重量检测模块120、温度检测模块130和磁场发生装置140;制冷设备控制装置200包括:重量确定模块210、温度确定模块220、模型建立模块230和磁场控制模块240。
重量确定模块210,用于控制重量检测模块120获取放置于冷冻室110的食品的重量;
温度确定模块220,用于控制温度检测模块130获取冷冻室110内的温度;
模型建立模块230,用于建立食品冷冻后产生的冰晶的当量直径与食品的重量、冷冻室110内的温度以及食品的储藏时长的模型,并根据该模型预测冰晶在预设时长后的冰晶当量直径;
磁场控制模块240,用于根据冰晶当量直径控制磁场发生装置140产生的磁场。
在一些实施例中,请参考6,图6为本申请实施例提供的制冷设备控制装置200的第二种结构示意图。制冷设备控制装置200还包括类别检测模块250。
类别检测模块250,用于确定放置于冷冻室110内的食品的类别。模型建立模块230还用于:建立食品冷冻后产生的冰晶的当量直径与类别、重量、温度以及食品的储藏时长的模型。
在一些实施例中,模型建立模块230还可以获取用户在预设时长内打开冷冻室110的时长以及冷冻室110内外温差;根据该时长和温差对冰晶当量直径进行补偿。磁场控制模块240还用于根据补偿后的冰晶当量直径控制磁场发生装置140产生的磁场。
在一些实施例中,磁场控制模块240还用于:在冰晶当量直径符合直径阈值范围时,关闭磁场发生装置140;在冰晶当量直径不符合直径阈值范围时,控制磁场发生装置140产生磁场。
在一些实施例中,磁场控制模块240还用于:在冰晶当量直径处于第一范围时,控制磁场发生装置140产生的磁场的强度处于第一磁场强度范围;在冰晶当量直径处于第二范围时,控制磁场发生装置140产生的磁场的强度处于第二磁场强度范围;其中,第一范围大于第二范围,第一磁场强度范围大于第二磁场强度范围。
在一些实施例中,磁场控制模块240还用于:根据冰晶当量直径(或补偿后的冰晶当量直径)通过调节磁场的通断比、调整流过磁场发生装置140的线圈的电流值或者改变线圈的匝数来控制磁场发生装置140的磁场强度。
本申请的制冷设备控制装置200,可以根据食品类别、食品重量、冷冻室110温度以及储藏时长建立食品冷冻后产生的冰晶的当量直径,并可以预测预设时长后的冰晶当量直径,预测方式更简单,更利于操作;同时,可以根据预测的冰晶的大小控制磁场发生装置140产生的磁场的大小,以使得预设时长后的冰晶当量直径较小,冷冻后的食品可以产生小而均匀的冰晶,冰晶不易刺破食品细胞,可以最大限度地减少食品营养的流失。
应当说明的是,本申请实施例提供的制冷设备控制装置200与上文实施例中的制冷设备控制方法属于同一构思,制冷设备控制装置200的具体实现过程详见设备控制方法实施例,此处不再赘述。
基于上述实施例的记载,本申请实施例还提供一种制冷设备100,该制冷设备100可以但不限于是冰箱、冰柜等具有保鲜功能的设备。请参考图7,图7为本申请实施例提供的制冷设备100的第三种结构示意图。该制冷设备100除了包括一个或者一个以上处理核心的处理器150、重量检测模块120、温度检测模块130、磁场发生装置140外,还可以包括一个或一个以上计算机可读存储介质的存储器160及存储在存储器160上并可在处理器150上运行的计算机程序。
其中,处理器150与存储器160电性连接。本领域技术人员可以理解的是,制冷设备100可以包括比图示更多或更少的部件,或者组合某些部件,或者不同的部件布置。处理器150是制冷设备100的控制中心,利用各种接口和线路连接整个制冷设备100的各个部分,通过运行或加载存储在存储器160内的软件程序和/或模块,以及调用存储在存储器160内的数据,执行制冷设备100的各种功能和处理数据,从而对制冷设备100进行整体监控。
在本申请实施例中,制冷设备100中的处理器150会按照如下的步骤,将一个或一个以上的应用程序的进程对应的指令加载到存储器160中,并由处理器150来运行存储在存储器160中的应用程序,从而实现本申请提供的设备控制方法,比如:控制重量检测模块120获取放置于所述冷冻室110的食品的重量;控制温度检测模块130获取冷冻室110内的温度;建立食品冷冻后产生的冰晶的当量直径与重量、温度以及食品的储藏时长的模型,并根据模型预测冰晶在预设时长后的冰晶当量直径;根据冰晶当量直径控制磁场发生装置140产生的磁场。
以上各个操作的具体实施可参见前面的实施例,此处不再赘述并且。在上述实施例中,对各个实施例的描述都各有侧重,某个实施例中没有详述的部分,可以参见其他实施例的相关描述。
本领域普通技术人员可以理解,上述实施例的各种方法中的全部或部分步骤可以通过指令来完成,或通过指令控制相关的硬件来完成,该指令可以存储于一计算机可读存储介质中,并由处理器150进行加载和执行。
为此,本申请实施例提供一种计算机可读存储介质,该计算机可读存储介质中存储有计算机程序,该计算机程序被处理器150执行时,实现本申请实施例所提供的任一种设备控制方法中的步骤。例如,该指令可以执行如下步骤:控制重量检测模块120获取放置于所述冷冻室110的食品的重量;控制温度检测模块130获取冷冻室110内的温度;建立食品冷冻后产生的冰晶的当量直径与重量、温度以及食品的储藏时长的模型,并根据模型预测冰晶在预设时长后的冰晶当量直径;根据冰晶当量直径控制磁场发生装置140产生的磁场。
以上各个操作的具体实施可参见前面的实施例,在此不再赘述。
其中,该存储介质可以包括:只读存储器160(ROM,Read Only Memory)、随机存取记忆体(RAM,Random Access Memory)、磁盘或光盘等。
由于该存储介质中所存储的指令,可以执行本申请实施例所提供的任一种制冷设备控制方法中的步骤,因此,可以实现本申请实施例所提供的任一种制冷设备控制方法所能实现的有益效果,详见前面的实施例,在此不再赘述。
需要理解的是,在本申请的描述中,诸如“第一”、“第二”等术语仅用于区分类似的对象,而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。
以上对本申请实施例提供的制冷设备控制方法、装置、制冷设备及存储介质进行了详细介绍。本文中应用了具体个例对本申请的原理及实施方式进行了阐述,以上实施例的说明只是用于帮助理解本申请。同时,对于本领域的技术人员,依据本申请的思想,在具体实施方式及应用范围上均会有改变之处,综上所述,本说明书内容不应理解为对本申请的限制。
Claims (10)
1.一种制冷设备控制方法,其特征在于,应用于制冷设备,所述制冷设备包括冷冻室、重量检测模块、温度检测模块和磁场发生装置;所述方法包括:
控制所述重量检测模块获取放置于所述冷冻室的食品的重量;
控制所述温度检测模块获取所述冷冻室内的温度;
建立所述食品冷冻后产生的冰晶的当量直径与所述重量、所述温度以及所述食品的储藏时长的模型,并根据所述模型预测所述冰晶在预设时长后的冰晶当量直径;
根据所述冰晶当量直径控制所述磁场发生装置产生的磁场。
2.根据权利要求1所述的制冷设备控制方法,其特征在于,所述建立所述食品冷冻后产生的冰晶的当量直径与所述重量、所述温度以及所述食品的储藏时长的模型之前,还包括:
确定放置于所述冷冻室内的食品的类别;
所述建立所述食品冷冻后产生的冰晶的当量直径与所述重量、所述温度以及所述食品的储藏时长的模型,包括:
建立所述食品冷冻后产生的冰晶的当量直径与所述类别、所述重量、所述温度以及所述食品的储藏时长的模型。
3.根据权利要求1所述的制冷设备控制方法,其特征在于,所述根据所述模型预测所述冰晶在预设时长后的冰晶当量直径之后,还包括:
获取用户在所述预设时长内打开所述冷冻室的时长以及冷冻室内外温差;
根据所述时长和所述温差对所述冰晶当量直径进行补偿;
所述根据所述冰晶当量直径控制所述磁场发生装置产生的磁场,包括:
根据补偿后的所述冰晶当量直径控制所述磁场发生装置产生的磁场。
4.根据权利要求1所述的制冷设备控制方法,其特征在于,所述根据所述冰晶当量直径控制所述磁场发生装置产生的磁场,包括:
在所述冰晶当量直径符合直径阈值范围时,关闭所述磁场发生装置;
在所述冰晶当量直径不符合直径阈值范围时,控制所述磁场发生装置产生磁场。
5.根据权利要求4所述的制冷设备控制方法,其特征在于,所述在所述冰晶当量直径不符合直径阈值范围时,控制所述磁场发生装置产生磁场,包括:
在所述冰晶当量直径处于第一范围时,控制所述磁场发生装置产生的磁场的强度处于第一磁场强度范围;
在所述冰晶当量直径处于第二范围时,控制所述磁场发生装置产生的磁场的强度处于第二磁场强度范围;其中,
所述第一范围大于所述第二范围,所述第一磁场强度范围大于所述第二磁场强度范围。
6.根据权利要求1所述的制冷设备控制方法,其特征在于,所述根据所述冰晶当量直径控制所述磁场发生装置产生的磁场,包括:
根据所述冰晶当量直径通过调节所述磁场发生装置产生的磁场的通断比、调整流过磁场发生装置的线圈的电流值或者改变所述线圈的匝数来控制所述磁场发生装置的磁场强度。
7.一种制冷设备控制装置,其特征在于,应用于制冷设备,所述制冷设备包括冷冻室、重量检测模块、温度检测模块和磁场发生装置;所述装置包括:
重量确定模块,用于控制所述重量检测模块获取放置于所述冷冻室的食品的重量;
温度确定模块,用于控制所述温度检测模块获取所述冷冻室内的温度;
模型建立模块,用于建立所述食品冷冻后产生的冰晶的当量直径与所述重量、所述温度以及所述食品的储藏时长的模型,并根据所述模型预测所述冰晶在预设时长后的冰晶当量直径;及
磁场控制模块,用于根据所述冰晶当量直径控制所述磁场发生装置产生的磁场。
8.根据权利要求7所述的制冷设备控制装置,其特征在于,所述装置还包括:
类别检测模块,用于确定放置于所述冷冻室内的食品的类别;
所述模型建立模块还用于:
建立所述食品冷冻后产生的冰晶的当量直径与所述类别、所述重量、所述温度以及所述食品的储藏时长的模型。
9.一种制冷设备,其特征在于,包括冷冻室及处理器,所述冷冻室内设置有重量检测模块、温度检测模块和磁场发生装置,所述重量检测模块、所述温度检测模块和所述磁场发生装置均与所述处理器电连接,所述处理器用于执行权利要求1至6任一项所述的制冷设备控制方法。
10.一种计算机可读存储介质,其特征在于,所述计算机可读存储介质存储有计算机程序,所述计算机程序适于处理器进行加载,以执行如权利要求1至6任一项所述的制冷设备控制方法中的步骤。
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