CN114690816B - 烹饪系统、烹饪控制方法、存储介质、计算机设备 - Google Patents

Abstract

本申请公开了一种烹饪系统、烹饪控制方法、存储介质、计算机设备，该烹饪系统包括：烹饪器皿，所述烹饪器皿包括发热组件；测控模块，所述测控模块与所述发热组件连接，所述测控模块用于基于所述发热组件的电阻变化确定所述烹饪器皿或食材的温度信息。本申请通过设置与烹饪器皿的发热组件相连的测控模块，以利用发热组件的电阻率随温度变化这一特性实现对烹饪器皿、食材的温度估计，有助于依据烹饪器皿温度、食材温度实现对烹饪过程的控制、对加热设备加热功率的控制，避免烹饪器皿因温度过高而导致的烹饪器皿损毁、烹饪事故产生，以及避免食材温度与期望值不符导致烹饪效果不佳，提高了烹饪器皿的安全性和实用性。

Description

烹饪系统、烹饪控制方法、存储介质、计算机设备

技术领域

本申请涉及烹饪设备技术领域，尤其是涉及到一种烹饪系统、烹饪控制方法、存储介质、计算机设备。

背景技术

烹饪温度的控制在烹饪领域中具有重要意义，对烹饪温度的合理控制不仅有助于保证食材的烹饪效果，更对烹饪器皿的使用安全、使用寿命具有显著影响，例如温度过高可能会造成食材粘锅、烧焦，更有可能导致烹饪器皿的损毁。

现有技术中，烹饪温度的测量通常是基于在烹饪锅具的锅壁中内置温度传感器的方式实现，尤其针对于烹饪器皿烧毁的问题，通常将温度传感器内置与发热层中，但这种方式对于一些发热层厚度较小的烹饪器具难以实现，例如将薄膜金属衬底作为发热层的锅具来说，上述温度测量方式难以实现。如何实现对各种烹饪器具的温度测量，从而控制烹饪过程对于烹饪技术领域至关重要。

发明内容

有鉴于此，本申请提供了一种烹饪系统、烹饪控制方法、存储介质、计算机设备，有助于烹饪器皿的安全性和实用性。

根据本申请的一个方面，提供了一种烹饪系统，所述烹饪系统包括：

烹饪器皿，所述烹饪器皿包括发热组件；

测控模块，所述测控模块与所述发热组件连接，所述测控模块用于基于所述发热组件的电阻变化确定所述烹饪器皿或食材的温度信息。

可选地，所述发热组件包括第一发热组件和第二发热组件，所述第一发热组件用于产生热量以对所述烹饪器皿内食材加热，所述第二发热组件与所述第一发热组件匹配，所述第二发热组件呈开口的环形形状，所述测控模块与所述第二发热组件连接。

可选地，所述烹饪系统还包括电阻器件，所述测控模块依次与所述第二发热组件以及所述电阻器件串联连接构成回路，所述测控模块与所述第二发热组件对应的环形开口的第一端连接，所述电阻器件与所述第二发热组件对应的环形开口的第二端连接。

可选地，所述第二发热组件的环宽小于预设环宽，所述电阻器件与所述烹饪器皿之间的距离大于预设距离。

可选地，所述测控模块还用于控制探测电流依次流入所述第二发热组件以及所述电阻器件后回流至所述测控模块中，所述烹饪系统还包括电压采集元件，所述电压采集元件用于采集所述电阻器件的电阻电压，其中，所述烹饪器皿的温度与所述电阻电压负相关。

可选地，所述测控模块与所述电磁加热设备连接，所述测控模块具体用于在所述电阻电压小于预设门限电压值时，控制所述电磁加热设备降低加热功率，所述预设门限电压基于预设温度阈值以及预设电阻电压计算公式确定，其中，所述预设电阻电压计算公式为U_Ro＝U_ref*(R_o/((ρ₀*(1+α*t)*L)/S+R_o))，U_Ro表示所述预设门限电压值，U_ref表示预设电压参考值，R_o表示所述电阻器件的电阻值，ρ₀表示所述第一发热组件在0℃时的电阻率，α表示所述第一发热组件的电阻率随温度变化系数，t表示所述预设温度阈值，L表示所述第二发热组件的环形区域周长，S表示所述所述第二发热组件的环形区域横截面积。

可选地，所述测控模块与所述电磁加热设备连接，所述测控模块具体用于基于预设温度计算公式以及所述电阻电压确定所述烹饪器皿的温度，以及用于在所述烹饪器皿的温度大于预设门限温度时，控制所述电磁加热设备降低加热功率，其中，所述预设温度计算公式为U’_Ro＝U_ref*(R_o/((ρ₀*(1+α*t’)*L)/S+R_o))，U’_Ro表示所述电阻电压，Uref表示预设电压参考值，Ro表示所述电阻器件的电阻值，ρ₀表示所述第一发热组件在0℃时的电阻率，α表示所述第一发热组件的电阻率随温度变化系数，t’表示所述烹饪器皿的温度，L表示所述第二发热组件的环形区域周长，S表示所述所述第二发热组件的环形区域横截面积。

根据本申请的另一方面，提供了一种烹饪控制方法，用于上述的烹饪系统，所述方法包括：

电磁加热设备工作时，获取所述烹饪系统中电阻器件对应的电阻电压；

基于所述电阻电压，控制烹饪器皿对应的电磁加热设备的加热功率。

可选地，所述基于所述电阻电压，控制烹饪器皿对应的电磁加热设备的加热功率，具体包括：

在所述电阻电压小于预设门限电压值时，控制所述电磁加热设备降低加热功率，其中，所述预设门限电压基于预设温度阈值以及预设电阻电压计算公式确定，其中，所述预设电阻电压计算公式为U_Ro＝U_ref*(R_o/((ρ₀*(1+α*t)*L)/S+R_o))，U_Ro表示所述预设门限电压值，U_ref表示预设电压参考值，R_o表示所述电阻器件的电阻值，ρ₀表示所述第一发热组件在0℃时的电阻率，α表示所述第一发热组件的电阻率随温度变化系数，t表示所述预设温度阈值，L表示所述第二发热组件的环形区域周长，S表示所述所述第二发热组件的环形区域横截面积。

可选地，所述基于所述电阻电压，控制烹饪器皿对应的电磁加热设备的加热功率，具体包括：

基于预设温度计算公式以及所述电阻电压，确定所述烹饪器皿的温度；

在所述烹饪器皿的温度大于预设门限温度时，控制所述电磁加热设备降低加热功率，其中，所述预设温度计算公式为U’_Ro＝U_ref*(R_o/((ρ₀*(1+α*t’)*L)/S+R_o))，U’_Ro表示所述电阻电压，U_ref表示预设电压参考值，R_o表示所述电阻器件的电阻值，ρ₀表示所述第一发热组件在0℃时的电阻率，α表示所述第一发热组件的电阻率随温度变化系数，t’表示所述烹饪器皿的温度，L表示所述第二发热组件的环形区域周长，S表示所述所述第二发热组件的环形区域横截面积。

根据本申请的另一方面，提供了一种烹饪控制装置，用于上述的烹饪系统，所述装置包括：

电压获取模块，用于电磁加热设备工作时，获取所述烹饪系统中电阻器件对应的电阻电压；

功率控制模块，用于基于所述电阻电压，控制烹饪器皿对应的电磁加热设备的加热功率。

可选地，所述功率控制模块，具体包括：

第一控制单元，用于在所述电阻电压小于预设门限电压值时，控制所述电磁加热设备降低加热功率，其中，所述预设门限电压基于预设温度阈值以及预设电阻电压计算公式确定，其中，所述预设电阻电压计算公式为U_Ro＝U_ref*(R_o/((ρ₀*(1+α*t)*L)/S+R_o))，U_Ro表示所述预设门限电压值，U_ref表示预设电压参考值，R_o表示所述电阻器件的电阻值，ρ₀表示所述第一发热组件在0℃时的电阻率，α表示所述第一发热组件的电阻率随温度变化系数，t表示所述预设温度阈值，L表示所述第二发热组件的环形区域周长，S表示所述所述第二发热组件的环形区域横截面积。

可选地，所述功率控制模块，具体包括：

温度确定单元，用于基于预设温度计算公式以及所述电阻电压，确定所述烹饪器皿的温度；

第二控制单元，用于在所述烹饪器皿的温度大于预设门限温度时，控制所述电磁加热设备降低加热功率，其中，所述预设温度计算公式为U’_Ro＝U_ref*(R_o/((ρ₀*(1+α*t’)*L)/S+R_o))，U’_Ro表示所述电阻电压，U_ref表示预设电压参考值，R_o表示所述电阻器件的电阻值，ρ₀表示所述第一发热组件在0℃时的电阻率，α表示所述第一发热组件的电阻率随温度变化系数，t’表示所述烹饪器皿的温度，L表示所述第二发热组件的环形区域周长，S表示所述所述第二发热组件的环形区域横截面积。

依据本申请又一个方面，提供了一种存储介质，其上存储有计算机程序，所述程序被处理器执行时实现上述烹饪控制方法。

依据本申请再一个方面，提供了一种计算机设备，包括存储介质、处理器及存储在存储介质上并可在处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述程序时实现上述烹饪控制方法。

借由上述技术方案，本申请提供的一种烹饪系统、烹饪控制方法、存储介质、计算机设备，烹饪系统包括烹饪器皿以及与烹饪器皿的发热组件1相连的测控模块2，以基于发热组件1的电阻变化情况确定烹饪器皿的温度、器皿内食材的温度。本申请实施例相比于现有技术提供的烹饪器皿，通过设置与烹饪器皿的发热组件1相连的测控模块，以利用发热组件1的电阻率随温度变化这一特性，实现对发热组件1的温度的估计，从而实现对烹饪器皿、食材的温度估计，有助于依据烹饪器皿温度、食材温度实现对烹饪过程的控制、对加热设备加热功率的控制，避免烹饪器皿因温度过高而导致的烹饪器皿损毁、烹饪事故产生，以及避免食材温度与期望值不符导致烹饪效果不佳，提高了烹饪器皿的安全性和实用性。

上述说明仅是本申请技术方案的概述，为了能够更清楚了解本申请的技术手段，而可依照说明书的内容予以实施，并且为了让本申请的上述和其它目的、特征和优点能够更明显易懂，以下特举本申请的具体实施方式。

附图说明

此处所说明的附图用来提供对本申请的进一步理解，构成本申请的一部分，本申请的示意性实施例及其说明用于解释本申请，并不构成对本申请的不当限定。在附图中：

图1示出了本申请实施例提供的一种烹饪系统的结构示意图。

具体实施方式

下文中将参考附图并结合实施例来详细说明本申请。需要说明的是，在不冲突的情况下，本申请中的实施例及实施例中的特征可以相互组合。

在本申请实施例中提供了一种烹饪系统，如图1所示，该烹饪系统包括：烹饪器皿，所述烹饪器皿包括发热组件1；测控模块2，所述测控模块2与所述发热组件1连接，所述测控模块2用于基于所述发热组件1的电阻变化确定所述烹饪器皿或食材的温度信息。

本申请实施例中烹饪器皿具体可以为薄膜金属器皿，薄膜金属器皿接受电磁加热设备的加热时，由于金属薄膜热容小，升温快，一旦出现干烧、局部加热物堆积后，会导致金属薄膜温度骤然上升，很短时间内即可使得金属膜衬底烧穿，而金属薄膜的温度又难以测量和估计，导致烹饪器皿容易损坏。当然，本申请实施例中的烹饪器皿也可以为其他形式、结构的器皿，对于烹饪器皿的类型本申请不做限定，仅以薄膜金属器皿为例对本申请进行解释说明，本领域技术人员应知晓，其他类型的烹饪器皿所构成的烹饪系统也属于本申请的保护范围之内。

在本申请实施例中，常见的金属膜材质有：铜、铝、锌等。这类型金属不具备导磁特性，所以按照电磁加热原理，是不会在电磁场中高效发热，但是镀膜技术使得器皿衬底表面生长薄薄的金属层，导致金属原子与自由电子在电磁涡流作用下，相互间间隙较小，因此其电子对原子的碰撞摩擦，造成生热作用比大块金属要强，导致相比大块金属，金属薄膜可以将电磁能转化为更多的热能；金属膜材料也可以直接选用含铁等磁性金属材料，在电磁感应下发热。

在上述实施例中，烹饪器皿的发热组件1具体可以为薄膜金属，例如该烹饪器皿为具有金属膜衬底的器皿，该金属膜衬底即为发热组件1，为了探测发热组件1的温度从而估计烹饪器皿的温度、或食材的温度，烹饪系统还包括测控模块2，该测控模块2与发热组件1相连，利用金属电阻率随温度变化这一特性可知，发热组件1受热时自身的电阻率会发生变化，测控组件2通过一些方式感应到该发热组件1的电阻率的变化，或该发热组件1的电阻率变化所引起的其他可测得、或可计算的参数的变化，从而根据上述的由发热组件1电阻率变化直接或间接导致的变化特征，可以实现对发热组件1温度的估计。进一步由于发热组件1属于烹饪器皿的一部分，根据发热组件1的温度预估值还可以对烹饪器皿的温度、食材的温度进行估计，从而基于发热组件1电阻率随温度的变化这一特性，实现对烹饪器皿或食材的温度信息的估计，进而有助于依据烹饪器皿温度、食材温度实现对烹饪过程的控制、对加热设备加热功率的控制，避免烹饪器皿因温度过高而损毁，避免食材温度与期望值不符导致烹饪效果不佳，提高烹饪器皿的安全性和实用性。

通过应用本实施例的技术方案，烹饪系统包括烹饪器皿以及与烹饪器皿的发热组件1相连的测控模块2，以基于发热组件1的电阻变化情况确定烹饪器皿的温度、器皿内食材的温度。本申请实施例相比于现有技术提供的烹饪器皿，通过设置与烹饪器皿的发热组件1相连的测控模块，以利用发热组件1的电阻率随温度变化这一特性，实现对发热组件1的温度的估计，从而实现对烹饪器皿、食材的温度估计，有助于依据烹饪器皿温度、食材温度实现对烹饪过程的控制、对加热设备加热功率的控制，避免烹饪器皿因温度过高而导致的烹饪器皿损毁、烹饪事故产生，以及避免食材温度与期望值不符导致烹饪效果不佳，提高了烹饪器皿的安全性和实用性。

在本申请实施例中，可选地，所述发热组件1包括第一发热组件11和第二发热组件12，所述第一发热组件11用于产生热量以对所述烹饪器皿内食材加热，所述第二发热组件12与所述第一发热组件11匹配，所述第二发热组件12呈开口的环形形状，所述测控模块2与所述第二发热组件12连接。

在上述实施例中，发热组件1具体可以由第一发热组件11和第二发热组件12两部分组成，第一发热组件11主要用于在电磁加热设备的磁场作用下，在金属薄膜表面形成电涡流，从而使第一发热组件11发热对烹饪器皿内食材进行加热。在第一发热组件11的周围环绕有一个金属带，即第二发热组件12，第二发热组件12不与第一发热组件11连通，第二发热组件12呈环形并且具有开口，发热组件1通过该第二发热组件12与测控模块2实现连接。

在本申请实施例中，可选地，所述烹饪系统还包括电阻器件3，所述测控模块2依次与所述第二发热组件12以及所述电阻器件3串联连接构成回路，所述测控模块2与所述第二发热组件12对应的环形开口的第一端连接，所述电阻器件3与所述第二端连接。

在上述实施例中，由于第一发热组件11的电阻率变化难以直接测量，因此可以通过在电路中串联一个电阻器件3的方式，具体该电阻器件可以串联在测控模块2和第二发热组件12之间，使得第二发热组件12的环形开口的第一端与测控模块2连接，第二发热组件12的环形开口的第二端与电阻器件3连接，构成回路，在实际应用场景中，电阻器件3具体可采用对温度变化不敏感的电阻，即电阻器件3的电阻率比较稳定，以便通过对电阻器件3的电压值进行测量，或者对电阻器件3对应的电流值进行测量，实现对第二发热组件12的温度测算，从而预估烹饪器皿、烹饪食材的温度信息。

在本申请实施例中，可选地，所述第二发热组件12的环宽小于预设环宽，所述电阻器件3与所述烹饪器皿之间的距离大于预设距离。

在上述实施例中，由于第一发热组件11主要用于为烹饪器皿内食材供热，而第二发热组件12主要用于与电阻器件3以及测控模块2一起实现对烹饪器皿温度、食材温度的预估，在实际应用场景中，为了避免在第二发热组件12上形成大的加热涡流，从而引起该金属带(即第二发热组件12)电阻率测量引入不必要的电磁干扰，保证该金属带膜的温度，只与加热器皿中加热盘附近环境温度相关，第二发热组件12的环形宽度小于预设环宽，使得金属带相对于第一发热组件11更加细长，减少第二发热组件12的受热面积，从而避免第二发热组件12上形成较大的加热涡流，引入电磁干扰，从而提高对烹饪器皿、烹饪食材温度测算的准确性。另外，为了进一步保证电阻器件3的电阻率稳定，将电阻器件3设置在远离烹饪器皿的位置，保证电子器件3与烹饪器皿之间的距离大于预设距离，从而更有效的保证电阻器件3的电阻值稳定不变，进一步提高对烹饪器皿、烹饪食材温度测算的准确性。

在本申请实施例中，可选地，所述测控模块2还用于控制探测电流依次流入所述第二发热组件12以及所述电阻器件3后回流至所述测控模块2中，所述烹饪系统还包括电压采集元件，所述电压采集元件用于采集所述电阻器件3的电阻电压，其中，所述烹饪器皿的温度与所述电阻电压负相关。

在上述实施例中，测控模块2用于输出探测电流，并使探测电流依次流入第二发热组件12以及电阻器件3后回流至测控模块2中，另外，可以设置电压采集元件测量电阻器件3两端的电压，从而根据该电压来预测烹饪器皿、烹饪食材的温度信息，具体的，电阻器件3与第二发热组件12串联，在电阻器件3的电阻率近乎不变的情况下，由于第二发热组件12的电阻率随温度升高而变大，因此电阻器件3对应的电阻电压会随第二发热组件12的电阻率增大而变小，也即电阻器件3对应的电阻电压会随第二发热组件12的温度升高而变小，或者说电阻器件3对应的电阻电压与第二发热组件12对应的温度负相关，同时由于烹饪器皿、烹饪食材的温度主要在第一发热组件11的加热作用下产生变化，第一发热组件11与第二发热组件12同时受电磁加热设备作用，第一发热组件11与第二发热组件12可以采用相同或相似的材质，从而在基于电阻器件3的电阻电压反应第二发热组件12对应的电压、电阻率以及温度的情况下，也可以基于电阻器件3的电阻电压反应第一加热组件11的温度信息，并进一步实现对烹饪器皿温度、烹饪食材温度的预估。

需要说明的是，也可以通过在回路中串联电流采集元件的方式基于电阻器件3与电流采集元件测得的电流值来确定电阻器件3对应的电阻电压，省略上述的电压采集元件。

另外，所述烹饪系统还包括数模转换模块4以及模数转换模块5，所述数模转换模块4串联于所述测控模块2与所述第一端之间，所述模数转换模块5串联于所述电阻器件3与所述测控模块2之间。

在本申请实施例中，可选地，所述测控模块2与所述电磁加热设备6连接，所述测控模块2具体用于在所述电阻电压小于预设门限电压值时，控制所述电磁加热设备6降低加热功率，所述预设门限电压基于预设温度阈值以及预设电阻电压计算公式确定，其中，所述预设电阻电压计算公式为U_Ro＝U_ref*(R_o/((ρ₀*(1+α*t)*L)/S+R_o))，U_Ro表示所述预设门限电压值，U_ref表示预设电压参考值，R_o表示所述电阻器件3的电阻值，ρ₀表示所述第一发热组件11在0℃时的电阻率，α表示所述第一发热组件11的电阻率随温度变化系数，t表示所述预设温度阈值，L表示所述第二发热组件12的环形区域周长，S表示所述所述第二发热组件12的环形区域横截面积。

在上述实施例中，测控模块2与电磁加热设备6连接，测控模块2还可以控制电磁加热设备6的加热功率，具体可以基于电阻器件3对应的电阻电压与预设门限电压值的大小关系来控制电磁加热设备6的加热功率，其中，预设门限电压值按预设温度阈值以及预设电阻电压计算公式计算得出，该公式如上所述，其中，U_Ro＝U_ref*R_o/(R₁+Ro)，R₁＝(ρ*L)/S，ρ＝ρ₀*(1+α*t)，R₁为第一发热组件11的电阻，ρ为第一发热组件11的电阻率，预设温度阈值为第一发热组件11对应的温度上限，达到该温度时应降低加热功率，使第一发热组件11降温，起到对第一发热组件11的保护作用，利用上述公式计算出电阻器件3对应的预设门限电压值之后，可以直接根据实际的电阻电压与预设门限电压值的大小关系来控制电磁加热设备6的加热功率。

在本申请实施例中，可选地，所述测控模块2与所述电磁加热设备6连接，所述测控模块2具体用于基于预设温度计算公式以及所述电阻电压确定所述烹饪器皿的温度，以及用于在所述烹饪器皿的温度大于预设门限温度时，控制所述电磁加热设备6降低加热功率，其中，所述预设温度计算公式为U’_Ro＝U_ref*(R_o/((ρ₀*(1+α*t’)*L)/S+R_o))，U’_Ro表示所述电阻电压，U_ref表示预设电压参考值，R_o表示所述电阻器件3的电阻值，ρ₀表示所述第一发热组件11在0℃时的电阻率，α表示所述第一发热组件11的电阻率随温度变化系数，t’表示所述烹饪器皿的温度，L表示所述第二发热组件12的环形区域周长，S表示所述所述第二发热组件12的环形区域横截面积。

在上述实施例中，测控模块2与电磁加热设备6连接，测控模块2还可以基于电阻器件3对应的电阻电压预估第一发热组件11的温度，以及烹饪器皿的温度，并进一步基于第一发热组件11的温度、烹饪器皿的温度控制电磁加热设备6的加热功率，具体可以按照上述的预设温度计算公式计算第一发热组件11的温度(该温度可以认为近似于烹饪器皿的温度)，从而在烹饪器皿的温度大于预设门限温度时，降低加热设备的功率。当然，还可以在烹饪器皿的温度与烹饪所需温度不匹配时，对电磁加热设备6的加热功率进行适应性控制，例如烹饪器皿的温度低于烹饪所需温度(具体可以从电子菜谱中解析出烹饪所需温度)时，增加电磁加热设备6的加热功率，烹饪器皿的温度高于烹饪所需温度时，降低电磁加热设备6的加热功率。

另外，为了确保电磁加热设备6的安全性，本申请实施例中，可选地，烹饪系统还可以包括：振荡频率检测设备，所述振荡频率检测设备与所述电磁加热设备6匹配，所述振荡频率检测设备用于检测所述电磁加热设备6的电磁振荡频率；控制器，所述控制器与所述振荡频率检测设备以及所述电磁加热设备6连接，所述控制器用于根据所述电磁振荡频率控制所述电磁加热设备6工作。

进一步，可选地，所述电磁加热设备包括制冷设备，所述制冷设备与所述控制器连接，所述控制器具体用于根据所述电磁振荡频率以及预设振荡频率，控制所述制冷设备按照第一工作模式工作，其中，所述第一工作模式包括所述制冷设备的制冷功率与所述电磁振荡频率正相关；所述制冷设备包括多个，所述控制器还用于根据所述电磁振荡频率以及所述预设振荡频率，控制多个制冷设备按照第二工作模式工作，其中，所述第二工作模式包括所述多个制冷设备交替运行或任意数量制冷设备同时运行，以及运行的制冷设备的制冷功率与所述电磁振荡频率正相关。

在上述实施例中，考虑到一般的电磁加热设备(例如电磁炉、电磁灶)为具有金属膜衬底的烹饪器皿加热时，金属膜衬底在充当电磁加热线圈铁芯阶段，即金属膜衬底作为烹饪器皿的发热组件与电磁加热设备产生的磁场进行电磁发热作用时，相比铁质锅具，电感值更小，这种缺陷会导致电磁加热设备的电磁加热线圈及功率器件发热严重，严重降低电磁加热设备的使用寿命以及电磁加热设备的使用安全性。由于更小的电感值会导致电磁加热线圈自由震荡频率变大，本申请实施例中烹饪系统还包括设置在电磁加热设备处的振荡频率检测设备，通过该振荡频率检测设备可以检测电磁加热设备的电磁振荡频率，由于具备金属膜衬底的烹饪设备受热时对应的电磁加热设备的电磁振荡频率会落入一定的范围内，因此可以基于振荡频率检测设备检测到的电磁振荡频率是否落入该范围，判断烹饪器皿是否是以金属膜作为发热组件的烹饪器皿，以便实现对电磁加热设备的控制，例如电磁振荡频率落入该范围内后，控制器持续对振荡频率检测设备检测的电磁振荡频率进行监控，且可以以更高频率监控该电磁振荡频率，比如原来以5s一次的频率监控电磁振荡频率，当监控到电磁振荡频率落入该范围内之后，以2s一次的频率继续进行监控，进而在电磁振荡频率达到预设阈值时，这时可能电磁加热设备温度过高，必要时可以停止加热，避免危险事故发生。

在上述实施例中，电磁加热设备还可以配备对应的一个或多个制冷设备，用于为电磁加热设备的功率器件降温，在具体应用场景中，当电磁振荡频率大于预设振荡频率时，可以控制制冷设备工作，且制冷设备的制冷功率随电磁振荡频率的上升而增大，如果制冷设备包括两个或两个以上，还可以控制多个制冷设备交替运行或者任意几个同时运行，以增加对电磁加热设备降温的可靠性，增强降温效果，避免电磁加热设备损毁。制冷设备具体可以是风扇，通过控制风扇转速实现对制冷功率的控制。

另外，在本申请实施例中，为了进一步保证烹饪器皿的安全性，以及使烹饪器皿的温度可监测、可控，可选地，烹饪系统还可以包括金属带、电阻器件以及测控模块，其中，所述金属带与所述金属膜衬底匹配，所述金属带呈开口的环形形状，所述测控模块依次与所述金属带以及所述电阻器件串联构成回路，所述测控模块与所述金属带对应的环形开口的第一端连接；所述电阻器件与所述金属带对应的环形开口的第二端连接，所述金属带的环宽小于预设环宽，所述电阻器件与所述烹饪器皿之间的距离大于预设距离；所述测控模块还用于控制探测电流依次流入所述金属带以及所述电阻器件后回流至所述测控模块中，所述烹饪系统还包括电压采集元件，所述电压采集元件用于采集所述电阻器件的电阻电压，其中，所述烹饪器皿的温度与所述电阻电压负相关。

在本实施例中提供了一种烹饪控制方法，应用在上述的烹饪系统中，该方法包括：

步骤101，电磁加热设备工作时，获取所述烹饪系统中电阻器件对应的电阻电压；

步骤102，基于所述电阻电压，控制烹饪器皿对应的电磁加热设备的加热功率。

在上述实施例中，利用本申请实施例提供的烹饪系统，在电磁加热设备对烹饪器皿加热时，可以通过与电阻器件对应的电压采集元件或者与电阻器件对应的电流采集元件，确定电阻器件对应的电阻电压，从而根据该电阻电压实现对电磁加热设备加热功率的控制。

可选地，步骤102具体可以包括：

步骤102-1，在所述电阻电压小于预设门限电压值时，控制所述电磁加热设备降低加热功率，其中，所述预设门限电压基于预设温度阈值以及预设电阻电压计算公式确定，其中，所述预设电阻电压计算公式为U_Ro＝U_ref*(R_o/((ρ₀*(1+α*t)*L)/S+R_o))，U_Ro表示所述预设门限电压值，U_ref表示预设电压参考值，R_o表示所述电阻器件的电阻值，ρ₀表示所述第一发热组件在0℃时的电阻率，α表示所述第一发热组件的电阻率随温度变化系数，t表示所述预设温度阈值，L表示所述第二发热组件的环形区域周长，S表示所述所述第二发热组件的环形区域横截面积。

在步骤102-1中，可以基于电阻器件3对应的电阻电压与预设门限电压值的大小关系来控制电磁加热设备6的加热功率，其中，预设门限电压值按预设温度阈值以及预设电阻电压计算公式计算得出，该公式如上所述，其中，U_Ro＝U_ref*R_o/(R₁+Ro)，R₁＝(ρ*L)/S，ρ＝ρ₀*(1+α*t)，R₁为第一发热组件11的电阻，ρ为第一发热组件11的电阻率，预设温度阈值为第一发热组件11对应的温度上限，达到该温度时应降低加热功率，使第一发热组件11降温，起到对第一发热组件11的保护作用，利用上述公式计算出电阻器件3对应的预设门限电压值之后，可以直接根据实际的电阻电压与预设门限电压值的大小关系来控制电磁加热设备6的加热功率。

步骤102-2，基于预设温度计算公式以及所述电阻电压，确定所述烹饪器皿的温度；

步骤102-3，在所述烹饪器皿的温度大于预设门限温度时，控制所述电磁加热设备降低加热功率，其中，所述预设温度计算公式为U’_Ro＝U_ref*(R_o/((ρ₀*(1+α*t’)*L)/S+R_o))，U’_Ro表示所述电阻电压，U_ref表示预设电压参考值，R_o表示所述电阻器件的电阻值，ρ₀表示所述第一发热组件在0℃时的电阻率，α表示所述第一发热组件的电阻率随温度变化系数，t’表示所述烹饪器皿的温度，L表示所述第二发热组件的环形区域周长，S表示所述所述第二发热组件的环形区域横截面积。

在步骤102-2至步骤102-3中，还可以基于电阻器件3对应的电阻电压预估第一发热组件11的温度，以及烹饪器皿的温度，并进一步基于第一发热组件11的温度、烹饪器皿的温度控制电磁加热设备6的加热功率，具体可以按照上述的预设温度计算公式计算第一发热组件11的温度(该温度可以认为近似于烹饪器皿的温度)，从而在烹饪器皿的温度大于预设门限温度时，降低加热设备的功率。当然，还可以在烹饪器皿的温度与烹饪所需温度不匹配时，对电磁加热设备6的加热功率进行适应性控制，例如烹饪器皿的温度低于烹饪所需温度(具体可以从电子菜谱中解析出烹饪所需温度)时，增加电磁加热设备6的加热功率，烹饪器皿的温度高于烹饪所需温度时，降低电磁加热设备6的加热功率。

进一步的，作为上述方法的具体实现，本申请实施例提供了一种烹饪控制装置，该装置包括：

电压获取模块，用于电磁加热设备工作时，获取所述烹饪系统中电阻器件对应的电阻电压；

功率控制模块，用于基于所述电阻电压，控制烹饪器皿对应的电磁加热设备的加热功率。

可选地，所述功率控制模块，具体包括：

第一控制单元，用于在所述电阻电压小于预设门限电压值时，控制所述电磁加热设备降低加热功率，其中，所述预设门限电压基于预设温度阈值以及预设电阻电压计算公式确定，其中，所述预设电阻电压计算公式为U_Ro＝U_ref*(R_o/((ρ₀*(1+α*t)*L)/S+R_o))，U_Ro表示所述预设门限电压值，U_ref表示预设电压参考值，R_o表示所述电阻器件的电阻值，ρ₀表示所述第一发热组件在0℃时的电阻率，α表示所述第一发热组件的电阻率随温度变化系数，t表示所述预设温度阈值，L表示所述第二发热组件的环形区域周长，S表示所述所述第二发热组件的环形区域横截面积。

可选地，所述功率控制模块，具体包括：

温度确定单元，用于基于预设温度计算公式以及所述电阻电压，确定所述烹饪器皿的温度；

第二控制单元，用于在所述烹饪器皿的温度大于预设门限温度时，控制所述电磁加热设备降低加热功率，其中，所述预设温度计算公式为U’_Ro＝U_ref*(R_o/((ρ₀*(1+α*t’)*L)/S+R_o))，U’_Ro表示所述电阻电压，U_ref表示预设电压参考值，R_o表示所述电阻器件的电阻值，ρ₀表示所述第一发热组件在0℃时的电阻率，α表示所述第一发热组件的电阻率随温度变化系数，t’表示所述烹饪器皿的温度，L表示所述第二发热组件的环形区域周长，S表示所述所述第二发热组件的环形区域横截面积。

需要说明的是，本申请实施例提供的一种烹饪控制装置所涉及各功能单元的其他相应描述，可以参考上述方法中的对应描述，在此不再赘述。

基于上述方法，相应的，本申请实施例还提供了一种存储介质，其上存储有计算机程序，该计算机程序被处理器执行时实现上述的烹饪控制方法。

基于这样的理解，本申请的技术方案可以以软件产品的形式体现出来，该软件产品可以存储在一个非易失性存储介质(可以是CD-ROM，U盘，移动硬盘等)中，包括若干指令用以使得一台计算机设备(可以是个人计算机，服务器，或者网络设备等)执行本申请各个实施场景所述的方法。

基于上述的方法，以及上述的虚拟装置实施例，为了实现上述目的，本申请实施例还提供了一种计算机设备，具体可以为个人计算机、服务器、网络设备等，该计算机设备包括存储介质和处理器；存储介质，用于存储计算机程序；处理器，用于执行计算机程序以实现上述的烹饪控制方法。

可选地，该计算机设备还可以包括用户接口、网络接口、摄像头、射频(RadioFrequency，RF)电路，传感器、音频电路、WI-FI模块等等。用户接口可以包括显示屏(Display)、输入单元比如键盘(Keyboard)等，可选用户接口还可以包括USB接口、读卡器接口等。网络接口可选的可以包括标准的有线接口、无线接口(如蓝牙接口、WI-FI接口)等。

本领域技术人员可以理解，本实施例提供的一种计算机设备结构并不构成对该计算机设备的限定，可以包括更多或更少的部件，或者组合某些部件，或者不同的部件布置。

存储介质中还可以包括操作系统、网络通信模块。操作系统是管理和保存计算机设备硬件和软件资源的程序，支持信息处理程序以及其它软件和/或程序的运行。网络通信模块用于实现存储介质内部各组件之间的通信，以及与该实体设备中其它硬件和软件之间通信。

通过以上的实施方式的描述，本领域的技术人员可以清楚地了解到本申请可以借助软件加必要的通用硬件平台的方式来实现，也可以通过硬件实现烹饪系统包括烹饪器皿以及与烹饪器皿的发热组件1相连的测控模块2，以基于发热组件1的电阻变化情况确定烹饪器皿的温度、器皿内食材的温度。本申请实施例相比于现有技术提供的烹饪器皿，通过设置与烹饪器皿的发热组件1相连的测控模块，以利用发热组件1的电阻率随温度变化这一特性，实现对发热组件1的温度的估计，从而实现对烹饪器皿、食材的温度估计，有助于依据烹饪器皿温度、食材温度实现对烹饪过程的控制、对加热设备加热功率的控制，避免烹饪器皿因温度过高而导致的烹饪器皿损毁、烹饪事故产生，以及避免食材温度与期望值不符导致烹饪效果不佳，提高了烹饪器皿的安全性和实用性。

本领域技术人员可以理解附图只是一个优选实施场景的示意图，附图中的模块或流程并不一定是实施本申请所必须的。本领域技术人员可以理解实施场景中的装置中的模块可以按照实施场景描述进行分布于实施场景的装置中，也可以进行相应变化位于不同于本实施场景的一个或多个装置中。上述实施场景的模块可以合并为一个模块，也可以进一步拆分成多个子模块。

上述本申请序号仅仅为了描述，不代表实施场景的优劣。以上公开的仅为本申请的几个具体实施场景，但是，本申请并非局限于此，任何本领域的技术人员能思之的变化都应落入本申请的保护范围。

Claims (12)

1.一种烹饪系统，其特征在于，所述烹饪系统包括：

烹饪器皿，所述烹饪器皿包括材质相同的第一发热组件和第二发热组件，所述第一发热组件用于在电磁加热设备的磁场作用下产生热量以对所述烹饪器皿内食材加热，所述第二发热组件与所述第一发热组件匹配且不连通；

电阻器件和电压采集元件，所述电压采集元件用于采集所述电阻器件的电阻电压；

测控模块，所述测控模块依次与所述第二发热组件和电阻器件串联构成回路，所述测控模块用于控制探测电流依次流入所述第二发热组件和所述电阻器件后回流至所述测控模块中，以及基于所述电阻器件的电阻电压变化确定所述烹饪器皿或食材的温度信息。

2.根据权利要求1所述的烹饪系统，其特征在于，

所述第二发热组件呈开口的环形形状，所述测控模块与所述第二发热组件连接。

3.根据权利要求2所述的烹饪系统，其特征在于，所述测控模块与所述第二发热组件对应的环形开口的第一端连接，所述电阻器件与所述第二发热组件对应的环形开口的第二端连接。

4.根据权利要求3所述的烹饪系统，其特征在于，

所述第二发热组件的环宽小于预设环宽，所述电阻器件与所述烹饪器皿之间的距离大于预设距离。

5.根据权利要求3所述的烹饪系统，其特征在于，

所述烹饪器皿的温度与所述电阻电压负相关。

6.根据权利要求5所述的烹饪系统，其特征在于，

所述测控模块与所述电磁加热设备连接，所述测控模块具体用于在所述电阻电压小于预设门限电压值时，控制所述电磁加热设备降低加热功率，所述预设门限电压基于预设温度阈值以及预设电阻电压计算公式确定，其中，所述预设电阻电压计算公式为U_Ro＝U_ref*(R_o/((ρ₀*(1+α*t)*L)/S+R_o))，U_Ro表示所述预设门限电压值，U_ref表示预设电压参考值，R_o表示所述电阻器件的电阻值，ρ₀表示所述第一发热组件在0℃时的电阻率，α表示所述第一发热组件的电阻率随温度变化系数，t表示所述预设温度阈值，L表示所述第二发热组件的环形区域周长，S表示所述第二发热组件的环形区域横截面积。

7.根据权利要求5所述的烹饪系统，其特征在于，

所述测控模块与所述电磁加热设备连接，所述测控模块具体用于基于预设温度计算公式以及所述电阻电压确定所述烹饪器皿的温度，以及用于在所述烹饪器皿的温度大于预设门限温度时，控制所述电磁加热设备降低加热功率，其中，所述预设温度计算公式为U’_Ro＝U_ref*(R_o/((ρ₀*(1+α*t’)*L)/S+R_o))，U’_Ro表示所述电阻电压，Uref表示预设电压参考值，Ro表示所述电阻器件的电阻值，ρ₀表示所述第一发热组件在0℃时的电阻率，α表示所述第一发热组件的电阻率随温度变化系数，t’表示所述烹饪器皿的温度，L表示所述第二发热组件的环形区域周长，S表示所述第二发热组件的环形区域横截面积。

8.一种烹饪控制方法，其特征在于，用于如权利要求1至7中任一项所述的烹饪系统，所述方法包括：

电磁加热设备工作时，获取所述烹饪系统中电阻器件对应的电阻电压；

基于所述电阻电压，控制烹饪器皿对应的电磁加热设备的加热功率。

9.根据权利要求8所述的方法，其特征在于，所述基于所述电阻电压，控制烹饪器皿对应的电磁加热设备的加热功率，具体包括：

在所述电阻电压小于预设门限电压值时，控制所述电磁加热设备降低加热功率，其中，所述预设门限电压基于预设温度阈值以及预设电阻电压计算公式确定，其中，所述预设电阻电压计算公式为U_Ro＝U_ref*(R_o/((ρ₀*(1+α*t)*L)/S+R_o))，U_Ro表示所述预设门限电压值，U_ref表示预设电压参考值，R_o表示所述电阻器件的电阻值，ρ₀表示所述第一发热组件在0℃时的电阻率，α表示所述第一发热组件的电阻率随温度变化系数，t表示所述预设温度阈值，L表示所述第二发热组件的环形区域周长，S表示所述第二发热组件的环形区域横截面积。

10.根据权利要求8所述的方法，其特征在于，所述基于所述电阻电压，控制烹饪器皿对应的电磁加热设备的加热功率，具体包括：

基于预设温度计算公式以及所述电阻电压，确定所述烹饪器皿的温度；

在所述烹饪器皿的温度大于预设门限温度时，控制所述电磁加热设备降低加热功率，其中，所述预设温度计算公式为U’_Ro＝U_ref*(R_o/((ρ₀*(1+α*t’)*L)/S+R_o))，U’_Ro表示所述电阻电压，U_ref表示预设电压参考值，R_o表示所述电阻器件的电阻值，ρ₀表示所述第一发热组件在0℃时的电阻率，α表示所述第一发热组件的电阻率随温度变化系数，t’表示所述烹饪器皿的温度，L表示所述第二发热组件的环形区域周长，S表示所述第二发热组件的环形区域横截面积。

11.一种存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，所述计算机程序被处理器执行时实现权利要求8至10中任一项所述的方法。

12.一种计算机设备，包括存储介质、处理器及存储在存储介质上并可在处理器上运行的计算机程序，其特征在于，所述处理器执行所述计算机程序时实现权利要求8至10中任一项所述的方法。