CN114625213A - 存储设备转接卡、存储设备测试系统以及方法 - Google Patents
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Abstract
本发明揭示了一种存储设备转接卡、存储设备测试系统以及方法,涉及存储设备领域。该存储设备转接卡包括:控制组件和多个存储设备接口;控制组件分别与各存储设备接口相连:其中:各存储设备接口,用于插接存储设备;控制组件,用于当各存储设备接口插接存储设备时,获取各存储设备的状态,并根据各存储设备的状态通过存储设备接口向各存储设备输出指示信息,以使各存储设备根据指示信息进行点灯。该存储设备转接卡可以根据存储设备的状态输出指示信息,从而使得存储设备根据指示信息进行点灯。从而使得用户可以根据存储设备的点灯情况确定存储设备当前的状态,进一步实现了对存储设备性能进行测试,且保证了测试结果的准确性。
Description
技术领域
本发明涉及存储设备领域,具体涉及一种存储设备转接卡、存储设备测试系统以及方法。
背景技术
近年来,基于云计算、大数据、人工智能等科技应用的数字化转型逐渐成为一种发展趋势,将拉动基础设施和服务的增长。数据中心作为云计算、大数据的基石,其价值会进一步得到提升。数据中心一般会使用机械硬盘作为存储介质,但是由于机械硬盘的读写速度具有一定的瓶颈,固态硬盘的价格昂贵、容量小等原因,因此如何均衡存储容量和性价比是当前数据中心面临的问题。
在这样的背景下,intel开发了基于3D XPoint的Optane技术,它相当于在系统的内存和HDD之间加了一级高速缓存,可以智能地分析用户使用习惯,预先加载用户最可能调取到的数据,实现高速加载,为HDD提供更高的性能和响应能力,并且Optane内存的价格要比SSD低很多,这种方式为数据中心使用更大存储容量、价格实惠的存储介质提供了可能。
目前,intel的Optane存储设备已发布到第四代,但是,业内还没有用来测试的Optane存储设备的板卡,因此,如何开发一种专门测试存储设备性能的板卡是服务器开发领域需要解决的问题。
发明内容
有鉴于此,本发明实施例提供了一种存储设备转接卡、存储设备测试系统以及方法,旨在解决无法对存储设备性能进行测试的问题。
根据第一方面,本发明实施例提供了一种存储设备转接卡,存储设备转接卡包括:控制组件和多个存储设备接口;控制组件分别与各存储设备接口相连:其中:
各存储设备接口,用于插接存储设备;
控制组件,用于当各存储设备接口插接存储设备时,获取各存储设备的状态,并根据各存储设备的状态通过存储设备接口向各存储设备输出指示信息,以使各存储设备根据指示信息进行点灯。
本申请实施例提供的存储设备转接卡基于存储设备接口与存储设备相连,并当各存储设备接口插接存储设备时,获取各存储设备的状态,并根据各存储设备的状态通过存储设备接口向各存储设备输出指示信息,从而使得存储设备根据指示信息进行点灯。从而使得用户可以根据存储设备的点灯情况确定存储设备当前的状态,进一步实现了对存储设备性能进行测试,且保证了测试结果的准确性。
结合第一方面,在第一方面第一实施方式中,控制组件,还用于检测各存储设备接口的电流,并在各存储设备接口的电流高于预设电流值时,断开与各存储设备接口之间的连接,以使各存储设备断电。
本申请实施例提供的存储设备转接卡中的控制组件还可以检测各存储设备接口的电流,并在各存储设备接口的电流高于预设电流值时,确定存储设备发生异常。断开与各存储设备接口之间的连接,以使各存储设备断电,从而可以及时发现存储设备的异常情况,且保证了存储设备的安全。
结合第一方面,在第一方面第二实施方式中,存储设备转接卡还包括温度传感器;温度传感器与控制组件连接;
温度传感器,用于获取存储设备转接卡的温度,并将存储设备转接卡的温度传输至控制组件。
本申请实施例提供的存储设备转接卡还包括温度传感器,从而可以利用温度传感器获取存储设备转接卡的温度,并将存储设备转接卡的温度传输至控制组件,使得控制组件可以获取到存储设备转接卡的温度,并根据获取到的存储设备转接卡的温度对存储设备转接卡的温度进行调整了,保证了存储设备转接卡正常工作,避免因为温度太高而烧毁。
结合第一方面第二实施方式,在第一方面第三实施方式中,存储设备转接卡还包括风扇控制组件以及风扇接口,控制组件与风扇控制组件连接,风扇控制组件与风扇接口;其中:
风扇接口,用于连接风扇组件;
风扇控制组件,用于基于风扇接口获取风扇组件的当前风速,并将风扇组件的当前风速传输至控制组件;
控制组件,用于根据存储设备转接卡的温度以及风扇组件的当前风速,向风扇控制组件发送风扇组件对应的目标转速;
风扇控制组件,用于接收目标转速,并通过风扇接口将风扇组件的当前风速调整为目标转速。
本申请实施例提供的存储设备转接卡还包括风扇控制组件以及风扇接口,控制组件基于风扇接口获取风扇组件的风速,并根据存储设备转接卡的温度以及风扇组件的当前风速,向风扇控制组件发送风扇组件对应的目标转速。然后,风扇控制组件接收目标转速,并通过风扇接口将风扇组件的当前风速调整为目标转速。从而实现了对存储设备转接卡的温度进行调整,保证了存储设备转接卡正常工作,避免因为温度太高而烧毁。
结合第一方面,在第一方面第四实施方式中,存储设备转接卡还包括存储组件;存储组件与控制组件;
存储组件,用于存储存储设备转接卡的信息。
本申请实施例提供的存储设备转接卡还包括存储组件,通过存储组件存储存储设备转接卡的信息,从而使得使用该存储设备转接卡的用户可以获取到存储设备转接卡的信息。
结合第一方面,在第一方面第五实施方式中,存储设备转接卡还包括第一连接器,其中:
第一连接器,用于连接存储设备转接卡与计算机设备中的主板;
控制组件,用于检测各存储设备接口是否连接存储设备,并在各存储设备接口连接存储设备时,基于第一连接器将存储设备在位信号发送至计算机设备中的主板;
控制组件,还用于在基于第一连接器将存储设备在位信号发送至计算机设备中的主板之后,接收主板发送的复位信号,并将复位信号传输至各存储设备,以完成各存储设备复位。
本申请实施例提供的存储设备转接卡还包括第一连接器,存储设备转接卡基于第一连接器可以与计算机设备中的主板。存储设备转接卡中的控制组件检测各存储设备接口是否连接存储设备,并在各存储设备接口连接存储设备时,基于第一连接器将存储设备在位信号发送至计算机设备中的主板,从而使得主板可以获取到各存储设备的在位情况,从而使得主板可以基于存储设备完成相关任务。此外,控制组件还可以接收主板发送的复位信号,并将复位信号传输至各存储设备,以完成各存储设备复位。从而使得存储设备复位,保证存储设备的正常工作。
结合第一方面第五实施方式,在第一方面第六实施方式中,存储设备接口通过线缆与主板相连;
或
存储设备接口通过第一连接器与主板相连。
本申请实施例提供的存储设备转接卡中存储设备接口通过线缆与主板相连或存储设备接口通过第一连接器与主板相连,从而可以对存储设备与主板之间的连接关系进行检测,且可以保证检测结果的准确性。
结合第一方面第五实施方式,在第一方面第七实施方式中,控制组件还用于在检测到传输信号异常时,向主板发送告警信号。
本申请实施例提供的存储设备转接卡,控制组件还用于在检测到传输信号异常时,向主板发送告警信号。从而可以保证在存储设备转接卡工作过程中及时发现存储设备转接卡的异常。
根据第二方面,本发明实施例还提供了一种存储设备测试系统,存储设备测试系统包括主板和第一方面以及第一方面实施方式中任一项所述的存储设备转接卡,其中,主板包括第二连接器,主板和储设备转接卡中的控制组件通过第二连接器和第一连接器热插拔连接;
各存储设备接口,用于插接存储设备;
控制组件,用于检测各存储设备接口是否插接存储设备,并在各存储设备接口插接存储设备时,基于第一连接器将存储设备在位信号发送至主板;
控制组件,还用于在基于第一连接器将存储设备在位信号发送至主板之后,接收主板发送的复位信号,并将复位信号传输至各存储设备接口,以完成各存储设备复位;
控制组件,还用于当各存储设备接口插接存储设备时,获取各存储设备的状态,并根据各存储设备的状态通过存储设备接口向各存储设备输出指示信息,以使各存储设备根据指示信息进行点灯。
本申请实施例提供的存储设备测试系统,存储设备转接卡中的控制组件检测各存储设备接口是否连接存储设备,并在各存储设备接口连接存储设备时,基于第一连接器将存储设备在位信号发送至计算机设备中的主板,从而使得主板可以获取到各存储设备的在位情况,从而使得主板可以基于存储设备完成相关任务。此外,控制组件还可以接收主板发送的复位信号,并将复位信号传输至各存储设备,以完成各存储设备复位。从而使得存储设备复位,保证存储设备的正常工作。此外,存储设备转接卡基于存储设备接口与存储设备相连,并当各存储设备接口插接存储设备时,获取各存储设备的状态,并根据各存储设备的状态通过存储设备接口向各存储设备输出指示信息,从而使得存储设备根据指示信息进行点灯。从而使得用户可以根据存储设备的点灯情况确定存储设备当前的状态,进一步实现了对存储设备性能进行测试,且保证了测试结果的准确性。
根据第三方面,本发明实施例提供了一种存储设备测试方法,应用于第一方面以及第一方面实施方式中任一项的存储设备转接卡,方法包括:
获取各存储设备的状态;
根据各存储设备的状态通过存储设备接口向各存储设备输出指示信息,以使各存储设备根据指示信息进行点灯。
本申请实施例提供的存储设备测试方法,获取各存储设备的状态,并根据各存储设备的状态通过存储设备接口向各存储设备输出指示信息,从而使得存储设备根据指示信息进行点灯。从而使得用户可以根据存储设备的点灯情况确定存储设备当前的状态,进一步实现了对存储设备性能进行测试,且保证了测试结果的准确性。
根据第四方面,本发明实施例提供了一种计算机可读存储介质,计算机可读存储介质存储计算机指令,计算机指令用于使计算机执行第一方面或者第一方面的任意一种实施方式中的存储设备测试方法。
附图说明
为了更清楚地说明本发明具体实施方式或现有技术中的技术方案,下面将对具体实施方式或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图是本发明的一些实施方式,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1是应用本发明实施例提供的存储设备转接卡的结构示意图;
图2是应用本发明另一实施例提供的存储设备转接卡的结构示意图;
图3是应用本发明另一实施例提供的存储设备转接卡的结构示意图;
图4是应用本发明另一实施例提供的存储设备转接卡的结构示意图;
图5是应用本发明另一实施例提供的现有技术中热插拔连接的结构示意图;
图6是应用本发明另一实施例提供的存储设备转接卡的结构示意图;
图7是应用本发明另一实施例提供的存储设备转接卡的结构示意图;
图8是应用本发明实施例提供的存储设备测试方法的流程图。
具体实施方式
为使本发明实施例的目的、技术方案和优点更加清楚,下面将结合本发明实施例中的附图,对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例是本发明一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例,本领域技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本发明保护的范围。
本文中为部件所编序号本身,例如“第一”、“第二”等,仅用于区分所描述的对象,不具有任何顺序或技术含义。而本申请所说“连接”、“联接”,如无特别说明,均包括直接和间接连接(联接)。在本申请的描述中,需要理解的是,术语“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”、“内”、“外”、“顺时针”、“逆时针”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系,仅是为了便于描述本申请和简化描述,而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作,因此不能理解为对本申请的限制。
在本申请中,除非另有明确的规定和限定,第一特征在第二特征“上”或“下”可以是第一和第二特征直接接触,或第一和第二特征通过中间媒介间接接触。而且,第一特征在第二特征“之上”、“上方”和“上面”可是第一特征在第二特征正上方或斜上方,或仅仅表示第一特征水平高度高于第二特征。第一特征在第二特征“之下”、“下方”和“下面”可以是第一特征在第二特征正下方或斜下方,或仅仅表示第一特征水平高度小于第二特征。
在本申请一个实施例中,提供了一种存储设备转接卡,如图1所示。存储设备转接卡包括:控制组件01和多个存储设备接口02;控制组件01分别与各存储设备接口02相连:其中:
各存储设备接口02,用于插接存储设备。
控制组件01,用于当各存储设备接口02插接存储设备时,获取各存储设备的状态,并根据各存储设备的状态通过存储设备接口02向各存储设备输出指示信息,以使各存储设备根据指示信息进行点灯。
具体地,各存储设备可以插接到存储设备转接卡中的存储设备接口02。控制组件01基于与存储设备接口02之间的连接可以获取到存储设备的工作数据,通过对存储设备的工作数据进行研究和分析,获取各存储设备的状态。然后,并根据各存储设备的状态通过存储设备接口02向各存储设备输出指示信息,以使存储设备根据指示信息进行点灯。
在本申请一种可选的实施方式中,控制组件01可以通过向存储设备接口02传指示信号的方式,将指示信息传输至存储设备接口02。
示例性的,当存储设备为故障状态,则指示信号一直为低电平,经过了一个反相器后,指示信号为高电平,存储设备接收到高电平的指示信号后,控制指示灯常亮;当存储设备在在位状态,则指示信号为一个4Hz的波形,存储设备接收到4Hz的波的指示信号后,控制指示灯以4Hz的频率闪烁;当存储设备在重建状态,则指示信号为一个1Hz的波形,存储设备接收到1Hz的波的指示信号后,控制指示灯以1Hz的频率闪烁。
本申请实施例提供的存储设备转接卡基于存储设备接口02与存储设备相连,并当各存储设备接口02插接存储设备时,获取各存储设备的状态,并根据各存储设备的状态通过存储设备接口02向各存储设备输出指示信息,从而使得存储设备根据指示信息进行点灯。从而使得用户可以根据存储设备的点灯情况确定存储设备当前的状态,进一步实现了对存储设备性能进行测试,且保证了测试结果的准确性。
在本申请一个实施例中,控制组件01,还用于检测各存储设备接口02的电流,并在各存储设备接口02的电流高于预设电流值时,断开与各存储设备接口02之间的连接,以使各存储设备断电。
具体地,控制组件01可以获取存储设备接口02的电流,并对存储设备接口02的电流进行检测,将存储设备接口02的电流与预设电流值进行对比,判断存储设备接口02的电流是否高于预设电流值。当各存储设备接口02的电流高于预设电流值时,确定存储设备发生异常,控制组件01断开与各存储设备接口02之间的连接,以使各存储设备断电。
本申请实施例提供的存储设备转接卡中的控制组件01还可以检测各存储设备接口02的电流,并在各存储设备接口02的电流高于预设电流值时,确定存储设备发生异常。断开与各存储设备接口02之间的连接,以使各存储设备断电,从而可以及时发现存储设备的异常情况,且保证了存储设备的安全。
在本申请一个实施例中,如图2所示,提供了一种存储设备转接卡,存储设备转接卡还温度传感器03,温度传感器03与控制组件01连接;
温度传感器03,用于获取存储设备转接卡的温度,并将存储设备转接卡的温度传输至控制组件01。
具体地,控制组件01可以基于温度传感器03获取到存储设备转接卡的温度。
在本申请一个可选的实方式中,如图2所示,存储设备转接卡还包括风扇控制组件04以及风扇接口05,控制组件01与风扇控制组件04连接,风扇控制组件04与风扇接口05。其中:
风扇接口05,用于连接风扇组件。
风扇控制组件04,用于基于风扇接口05获取风扇组件的当前风速,并将风扇组件的当前风速传输至控制组件01;
控制组件01,用于根据存储设备转接卡的温度以及风扇组件的当前风速,向风扇控制组件04发送风扇组件对应的目标转速;
风扇控制组件04,用于接收目标转速,并基于目标转速通过风扇接口05将风扇组件的当前风速调整为目标转速。
具体地,风扇接口05与风扇组件,风扇控制组件04基于风扇接口05获取风扇组件的风速,并将风扇组件的当前风速传输至控制组件01。
控制组件01获取风扇组件的当前风速以及存储设备转接卡的温度,然后根据存储设备转接卡的温度以及风扇组件的当前风速,向风扇控制组件04发送风扇组件对应的目标转速。然后,风扇控制组件04接收控制组件01发送的目标转速,并基于目标转速通过风扇接口05将风扇组件的当前风速调整为目标转速。
本申请实施例提供的存储设备转接卡还包括温度传感器03,从而可以利用温度传感器03获取存储设备转接卡的温度,并将存储设备转接卡的温度传输至控制组件01,使得控制组件01可以获取到存储设备转接卡的温度。此外,存储设备转接卡还包括风扇控制组件04以及风扇接口05,控制组件01基于风扇接口05获取风扇组件的风速,并根据存储设备转接卡的温度以及风扇组件的当前风速,向风扇控制组件04发送风扇组件对应的目标转速。然后,风扇控制组件04接收目标转速,并基于目标转速通过风扇接口05将风扇组件的当前风速调整为目标转速。从而实现了对存储设备转接卡的温度进行调整,保证了存储设备转接卡正常工作,避免因为温度太高而烧毁。
在本申请一个可选的实施方式中,如图3所示,存储设备转接卡还包括存储组件06;存储组件06与控制组件01;
存储组件06,用于存储存储设备转接卡的信息。
具体地,存储组件06中存储有存储设备转接卡的信息,其中,这些信息包括但不限于存储设备转接卡的属性信息、生产信息以及其他型号信息等。
控制组件01可以从存储组件06中获取存储设备转接卡的信息,并将存储设备转接卡的信息传输至其他设备。其他设备也可以基于与存储组件06的连接,获取到存储设备转接卡的信息
本申请实施例提供的存储设备转接卡还包括存储组件06,通过存储组件06存储存储设备转接卡的信息,从而使得使用该存储设备转接卡的用户可以获取到存储设备转接卡的信息。
在本申请一个可选的实施方式中,如图4所示,存储设备转接卡还包括第一连接器07,其中:
第一连接器07,用于连接存储设备转接卡与计算机设备中的主板。
控制组件01,用于检测各存储设备接口02是否连接存储设备,并在各存储设备接口02连接存储设备时,基于第一连接器07将存储设备在位信号发送至计算机设备中的主板。
控制组件01,还用于在基于第一连接器07将存储设备在位信号发送至计算机设备中的主板之后,接收主板发送的复位信号,并将复位信号传输至各存储设备,以完成各存储设备复位。
在本申请一种可选的实施方式中,存储设备转接卡通过第一连接器07与计算机设备中的主板上的第二连接器热插拔连接。
在本申请一种可选的实施方式中,存储设备接口02通过线缆与主板相连;或存储设备接口02通过第一连接器07与主板相连。
在本申请一种可选的实施方式中,控制组件01还用于在检测到传输信号异常时,向主板发送告警信号。从而可以保证在存储设备转接卡工作过程中及时发现存储设备转接卡的异常。
具体地,在没有存储设备插入存储设备接口02情况下,存储设备接口02与主控制组件01相连的在位标识信号为高电平,如果存储设备插入存储设备接口02的情况下,则存储设备接口02相应的在位标识信号为低电平,那么控制组件01根据存储设备接口02相应的在位标识信号,确定存储设备接口02与存储设备相连。
然后,控制组件01可以将与第一连接器07将相连的存储设备接口02相应的在位标识信号也拉低,从而基于第一连接器07将存储设备在位信号发送至计算机设备中的主板。
然后,主板发送的复位信号给控制组件01,控制组件01将接收到的复位信号通过存储设备接口02发送至在位的存储设备,从而完成各存储设备复位。
在现有技术中,如图5所示,热插拔的控制方式通常通过SMB MUX扩展芯片,如PCA9546,每一路可控两个EDSFF设备,但是,在设备多的情况下,需要更多的扩展芯片,因此,这种控制方式会大大增加板卡设计的成本。
在本申请实施例中,上述控制组件01可以是CPLD组件、也可以是BMC组件,本申请实施例对控制组件01不做具体限定。当控制组件01为CPLD组件时,可以利用CPLD的可编程性,在CPLD内部虚拟出了一个PCA9555芯片,如图6所示,减少实际的芯片使用,降低成本。从而利用CPLD实现上述实施方式中控制组件01的部分或者全部作用。
示例性的,如图7所示,左边为主板包括CPU和CPLD。右边riser卡为存储设备转接卡,其中,CPLD为控制组件01,EDSFF为存储设备接口02,存储设备可以是DPS存储设备,也可以是其他存储设备。
假设,CPU需要接出4组PCIE信号,PE0-PE3,其中PE2、PE3直连到存储设备转接卡的第一连接器07上。为了测试PCIE线缆传输的性能是否符合要求,PE0、PE1连接到主板的MCIO上,主板MCIO与riser卡MCIO通过线缆直连。
本Riser卡是支持DPS热插拔的,因此CPU需要接出热插拔信号(HP_SMB),控制热插拔。热插拔信号和告警信号(HP_ALERT)通过第二连接器和第一连接器07接到Riser卡的CPLD上面。
主板的HOST_SMB是管理总线,通过第二连接器和第一连接器07接到Riser卡的存储组件(FRU)和温度传感器(TS),以读取板卡信息和温度。
在没有DPS插入EDSFF情况下,EDSFF与CPLD相连的PRSNT<0-3>_N为高电平,如果DPS插入的话,则相应的PRSNT_N为低电平,那么CPLD会把与金手指相连的PRSNT_N拉低,给到主板CPLD,同时Riser上面的CPLD通过HP_SMB内部协议,传到CPU,指示出在位的DPS。然后主板CPLD发送PE_RST低电平信号给到Riser CPLD,接着CPLD会发送PE_RST给在位的DPS,完成一次复位。
此外,HP_ALERT为告警信号,当CPLD检测到传输信号有错误,会将HP_ALERT拉低,从而向主板发送告警信号。示例性的,假设HP-SMB一直是低电平,则CPLD确定HP-SMB信号有误,会将HP_ALERT拉低,从而向主板发送告警信号。
本申请实施例提供的存储设备转接卡还包括第一连接器07,存储设备转接卡基于第一连接器07可以与计算机设备中的主板。存储设备转接卡中的控制组件01检测各存储设备接口02是否连接存储设备,并在各存储设备接口02连接存储设备时,基于第一连接器07将存储设备在位信号发送至计算机设备中的主板,从而使得主板可以获取到各存储设备的在位情况,从而使得主板可以基于存储设备完成相关任务。此外,控制组件01还可以接收主板发送的复位信号,并将复位信号传输至各存储设备,以完成各存储设备复位。从而使得存储设备复位,保证存储设备的正常工作。控制组件01还用于在检测到传输信号异常时,向主板发送告警信号。从而可以保证在存储设备转接卡工作过程中及时发现存储设备转接卡的异常。
此外,存储设备转接卡中存储设备接口02通过线缆与主板相连或存储设备接口02通过第一连接器07与主板相连,从而可以对存储设备与主板之间的连接关系进行检测,且可以保证检测结果的准确性。
本发明实施例还提供了一种存储设备测试系统,存储设备测试系统包括主板以及上述实施例中任一项的存储设备转接卡,其中,主板包括第二连接器,主板和储设备转接卡中的控制组件通过第二连接器和第一连接器热插拔连接;
各存储设备接口,用于插接存储设备;
控制组件,用于检测各存储设备接口是否插接存储设备,并在各存储设备接口插接存储设备时,基于第一连接器将存储设备在位信号发送至主板;
控制组件,还用于在基于第一连接器将存储设备在位信号发送至主板之后,接收主板发送的复位信号,并将复位信号传输至各存储设备接口,以完成各存储设备复位;
控制组件,还用于当各存储设备接口插接存储设备时,获取各存储设备的状态,并根据各存储设备的状态通过存储设备接口向各存储设备输出指示信息,以使各存储设备根据指示信息进行点灯。
关于存储设备测试系统的具体限定以及有益效果可以参见上文中对于存储设备转换卡的限定,在此不再赘述。
本申请实施例提供的存储设备测试系统,存储设备转接卡中的控制组件检测各存储设备接口是否连接存储设备,并在各存储设备接口连接存储设备时,基于第一连接器将存储设备在位信号发送至计算机设备中的主板,从而使得主板可以获取到各存储设备的在位情况,从而使得主板可以基于存储设备完成相关任务。此外,控制组件还可以接收主板发送的复位信号,并将复位信号传输至各存储设备,以完成各存储设备复位。从而使得存储设备复位,保证存储设备的正常工作。此外,存储设备转接卡基于存储设备接口与存储设备相连,并当各存储设备接口插接存储设备时,获取各存储设备的状态,并根据各存储设备的状态通过存储设备接口向各存储设备输出指示信息,从而使得存储设备根据指示信息进行点灯。从而使得用户可以根据存储设备的点灯情况确定存储设备当前的状态,进一步实现了对存储设备性能进行测试,且保证了测试结果的准确性。
如图8所示,本发明实施例提供了一种存储设备测试方法,应用于上述实施方式中任一项的存储设备转接卡,该方法包括:
S11、获取各存储设备的状态。
S12、根据各存储设备的状态通过存储设备接口向各存储设备输出指示信息,以使各存储设备根据指示信息进行点灯。
关于存储设备测试方法的具体限定以及有益效果可以参见上文中对于存储设备转换卡的限定,在此不再赘述。
本申请实施例提供的存储设备测试方法,获取各存储设备的状态,并根据各存储设备的状态通过存储设备接口向各存储设备输出指示信息,从而使得存储设备根据指示信息进行点灯。从而使得用户可以根据存储设备的点灯情况确定存储设备当前的状态,进一步实现了对存储设备性能进行测试,且保证了测试结果的准确性。
本发明实施例还提供了一种非暂态计算机存储介质,计算机存储介质存储有计算机可执行指令,该计算机可执行指令可执行上述任意方法实施例中的存储设备测试方法。其中,存储介质可为磁碟、光盘、只读存储记忆体(Read-Only Memory,ROM)、随机存储记忆体(Random Access Memory,RAM)、快闪存储器(Flash Memory)、硬盘(Hard Disk Drive,缩写:HDD)或固态硬盘(Solid-State Drive,SSD)等;存储介质还可以包括上述种类的存储器的组合。
虽然结合附图描述了本发明的实施例,但是本领域技术人员可以在不脱离本发明的精神和范围的情况下做出各种修改和变型,这样的修改和变型均落入由所附权利要求所限定的范围之内。
Claims (10)
1.一种存储设备转接卡,其特征在于,所述存储设备转接卡包括:控制组件和多个存储设备接口;所述控制组件分别与各所述存储设备接口相连:其中:
各所述存储设备接口,用于插接存储设备;
所述控制组件,用于当各所述存储设备接口插接所述存储设备时,获取各所述存储设备的状态,并根据各所述存储设备的状态通过所述存储设备接口向各所述存储设备输出指示信息,以使各所述存储设备根据所述指示信息进行点灯。
2.根据权利要求1所述的存储设备转接卡,其特征在于,所述控制组件,还用于检测各所述存储设备接口的电流,并在各所述存储设备接口的电流高于预设电流值时,断开与各所述存储设备接口之间的连接,以使各所述存储设备断电。
3.根据权利要求1所述的存储设备转接卡,其特征在于,所述存储设备转接卡还包括温度传感器;所述温度传感器与所述控制组件连接;
所述温度传感器,用于获取所述存储设备转接卡的温度,并将所述存储设备转接卡的温度传输至所述控制组件。
4.根据权利要求3所述的存储设备转接卡,其特征在于,存储设备转接卡还包括风扇控制组件以及风扇接口,所述控制组件与所述风扇控制组件连接,所述风扇控制组件与所述风扇接口;其中:
所述风扇接口,用于连接风扇组件;
所述风扇控制组件,用于基于所述风扇接口获取所述风扇组件的当前风速,并将所述风扇组件的当前风速传输至所述控制组件;
所述控制组件,用于根据所述存储设备转接卡的温度以及所述风扇组件的当前风速,向所述风扇控制组件发送所述风扇组件对应的目标转速;
所述风扇控制组件,用于接收所述目标转速,并通过所述风扇接口将所述风扇组件的当前风速调整为所述目标转速。
5.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述存储设备转接卡还包括存储组件;所述存储组件与所述控制组件;
所述存储组件,用于存储所述存储设备转接卡的信息。
6.根据权利要求1所述的存储设备转接卡,其特征在于,所述存储设备转接卡还包括第一连接器,其中:
所述第一连接器,用于连接所述存储设备转接卡与计算机设备中的主板;
所述控制组件,用于检测各所述存储设备接口是否连接所述存储设备,并在各所述存储设备接口连接所述存储设备时,基于所述第一连接器将所述存储设备在位信号发送至所述计算机设备中的主板;
所述控制组件,还用于在基于所述第一连接器将所述存储设备在位信号发送至所述计算机设备中的主板之后,接收所述主板发送的复位信号,并将所述复位信号传输至各所述存储设备,以完成各所述存储设备复位。
7.根据权利要求6所述的存储设备转接卡,其特征在于,所述存储设备接口通过线缆与所述主板相连;
或
所述存储设备接口通过第一连接器与所述主板相连。
8.根据权利要求6所述的存储设备转接卡,其特征在于,所述控制组件还用于在检测到传输信号异常时,向所述主板发送告警信号。
9.一种存储设备测试系统,其特征在于,所述存储设备测试系统包括主板以及权利要求1-8中任一项所述的存储设备转接卡,其中,所述主板包括第二连接器,所述主板和所述储设备转接卡通过所述第二连接器和所述第一连接器热插拔连接;
各所述存储设备接口,用于插接存储设备;
所述控制组件,用于检测各所述存储设备接口是否插接所述存储设备,并在各所述存储设备接口插接所述存储设备时,基于所述第一连接器将所述存储设备在位信号发送至所述主板;
所述控制组件,还用于在基于所述第一连接器将所述存储设备在位信号发送至所述主板之后,接收所述主板发送的复位信号,并将所述复位信号传输至各所述存储设备接口,以完成各所述存储设备复位;
所述控制组件,还用于当各所述存储设备接口插接所述存储设备时,获取各所述存储设备的状态,并根据各所述存储设备的状态通过所述存储设备接口向各所述存储设备输出指示信息,以使各所述存储设备根据所述指示信息进行点灯。
10.一种存储设备测试方法,其特征在于,应用于权利要求1-8任一所述的储设备转接卡,所述方法包括:
获取各存储设备的状态;
根据各所述存储设备的状态通过存储设备接口向各所述存储设备输出指示信息,以使各所述存储设备根据所述指示信息进行点灯。
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