CN113760619A - 一种存储设备测试方法、装置及电子设备和存储介质 - Google Patents
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Abstract
本申请公开了一种存储设备测试方法、装置及一种电子设备和计算机可读存储介质，该方法包括：确定待测试的目标存储设备和目标测试项；通过调用所述目标测试项对应的测试脚本中的获取命令，获取所述目标存储设备的目标测试项的实际状态信息；对比所述实际状态信息与所述测试脚本中的标准状态信息，得到所述目标存储设备的目标测试项的测试结果。本申请提供的存储设备测试方法，实现了多个存储设备的批量测试，提高了测试效率，缩短检测周期，在客户现场实现了存储设备的测试，保证现场测试的存储设备可靠性。
Description
技术领域
本申请涉及计算机技术领域，更具体地说，涉及一种存储设备测试方法、装置及一种电子设备和一种计算机可读存储介质。
背景技术
存储设备在发往客户现场的运输过程中，很可能会造成存储设备内部线缆的松动，线缆的松动会导致设备的链路中存在误码，对设备进行压力测试时会产生误差，而且送到客户现场的设备要进行环境部署，光纤线路的连接问题会造成网络传输速率达不到额定值，对设备进行性能测试时造成影响。为避免在客户现场因设备存储设备配套问题影响测试进度和可靠性，需要高效快速的对部署设备进行检测。
因此，如何在客户现场对存储设备进行测试是本领域技术人员需要解决的技术问题。
发明内容
本申请的目的在于提供一种存储设备测试方法、装置及一种电子设备和一种计算机可读存储介质，在客户现场实现了存储设备的测试，保证现场测试的存储设备可靠性。
为实现上述目的，本申请提供了一种存储设备测试方法，包括：
确定待测试的目标存储设备和目标测试项；
通过调用所述目标测试项对应的测试脚本中的获取命令，获取所述目标存储设备的目标测试项的实际状态信息；
对比所述实际状态信息与所述测试脚本中的标准状态信息，得到所述目标存储设备的目标测试项的测试结果。
其中，所述目标测试项包括光纤线路，所述获取所述目标存储设备的目标测试项的实际状态信息，包括：
获取所述目标存储设备的光纤线路的实际光纤衰减值；
相应的，所述对比所述实际状态信息与所述测试脚本中的标准状态信息，得到所述目标存储设备的目标测试项的测试结果，包括：
判断所述实际光纤衰减值是否大于所述测试脚本中的标准光纤衰减值；
若是，则判定所述目标存储设备的光纤线路异常。
其中，所述实际光纤衰减值包括实际激光输出功率和/或实际接收信号平均光功率，所述判断所述实际光纤衰减值是否大于所述测试脚本中的标准光纤衰减值，包括：
判断所述实际激光输出功率是否大于所述测试脚本中的标准激光输出功率，或，所述实际接收信号平均光功率是否大于所述测试脚本中的接收信号平均光功率。
其中，所述目标测试项包括SAS链路，所述获取所述目标存储设备的目标测试项的实际状态信息，包括：
获取所述目标存储设备的SAS链路的实际PHY误码和实际CHGCNT值；
相应的，所述对比所述实际状态信息与所述测试脚本中的标准状态信息，得到所述目标存储设备的目标测试项的测试结果，包括：
判断所述实际PHY误码与所述测试脚本中的标准PHY误码是否一致，或，所述实际CHGCNT值与所述测试脚本中的标准CHGCNT值是否一致；
若任一项判断结果为否，则判定所述目标存储设备的SAS链路异常。
其中，所述目标测试项包括数据盘，所述获取所述目标存储设备的目标测试项的实际状态信息，包括：
获取所述目标存储设备的实际数据盘RCC值；
相应的，所述对比所述实际状态信息与所述测试脚本中的标准状态信息，得到所述目标存储设备的目标测试项的测试结果，包括：
判断所述实际数据盘RCC值与所述测试脚本中的标准数据盘RCC值是否一致；
若否，则判定所述目标存储设备的数据盘异常。
其中，所述目标测试项包括缓存盘，所述获取所述目标存储设备的目标测试项的实际状态信息，包括：
获取所述目标存储设备的实际缓存盘计数；
相应的，所述对比所述实际状态信息与所述测试脚本中的标准状态信息，得到所述目标存储设备的目标测试项的测试结果，包括：
判断所述实际缓存盘计数是否大于所述测试脚本中的标准缓存盘计数；
若是，则判定所述目标存储设备的缓存盘异常。
其中，所述目标测试项包括带宽，所述获取所述目标存储设备的目标测试项的实际状态信息，包括：
获取所述目标存储设备的实际带宽；
相应的，所述对比所述实际状态信息与所述测试脚本中的标准状态信息，得到所述目标存储设备的目标测试项的测试结果，包括：
判断所述带宽与所述测试脚本中的标准带宽是否一致；
若否，则判定所述目标存储设备的带宽异常。
为实现上述目的，本申请提供了一种存储设备测试装置，包括：
确定模块，用于确定待测试的目标存储设备和目标测试项；
获取模块，用于通过调用所述目标测试项对应的测试脚本中的获取命令，获取所述目标存储设备的目标测试项的实际状态信息；
对比模块，用于对比所述实际状态信息与所述测试脚本中的标准状态信息，得到所述目标存储设备的目标测试项的测试结果。
为实现上述目的，本申请提供了一种电子设备，包括：
存储器，用于存储计算机程序；
处理器，用于执行所述计算机程序时实现如上述存储设备测试方法的步骤。
为实现上述目的，本申请提供了一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现如上述存储设备测试方法的步骤。
通过以上方案可知，本申请提供的一种存储设备测试方法，包括：确定待测试的目标存储设备和目标测试项；通过调用所述目标测试项对应的测试脚本中的获取命令，获取所述目标存储设备的目标测试项的实际状态信息；对比所述实际状态信息与所述测试脚本中的标准状态信息，得到所述目标存储设备的目标测试项的测试结果。
本申请提供的存储设备测试方法，为各测试编写项对应的测试脚本，该测试脚本中包括该测试项的实际状态信息的获取命令和预期的标准状态信息。通过输入待测试的目标存储设备的IP地址和目标测试项，通过对比获取到的目标测试项的实际状态信息和测试脚本中的标准状态信息，即可得到目标存储设备的目标测试项的测试结果，实现了多个存储设备的批量测试，提高了测试效率，缩短检测周期，在客户现场实现了存储设备的测试，保证现场测试的存储设备可靠性。本申请还公开了一种存储设备测试装置及一种电子设备和一种计算机可读存储介质，同样能实现上述技术效果。
应当理解的是，以上的一般描述和后文的细节描述仅是示例性的，并不能限制本申请。
附图说明
为了更清楚地说明本申请实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。附图是用来提供对本公开的进一步理解，并且构成说明书的一部分，与下面的具体实施方式一起用于解释本公开，但并不构成对本公开的限制。在附图中：
图1为根据一示例性实施例示出的一种存储设备测试方法的流程图；
图2为根据一示例性实施例示出的一种存储设备测试装置的结构图；
图3为根据一示例性实施例示出的一种电子设备的结构图。
具体实施方式
下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述。显然，所描述的实施例仅仅是本申请一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本申请保护的范围。另外，在本申请实施例中，“第一”、“第二”等是用于区别类似的对象，而不必用于描述特定的顺序或先后次序。
本申请实施例公开了一种存储设备测试方法，在客户现场实现了存储设备的测试，保证现场测试的存储设备可靠性。
参见图1，根据一示例性实施例示出的一种存储设备测试方法的流程图，如图1所示，包括：
S101：确定待测试的目标存储设备和目标测试项；
S102：通过调用所述目标测试项对应的测试脚本中的获取命令，获取所述目标存储设备的目标测试项的实际状态信息；
S103：对比所述实际状态信息与所述测试脚本中的标准状态信息，得到所述目标存储设备的目标测试项的测试结果。
在本实施例中，可以采用shell语言编写各测试项对应的测试脚本，该测试脚本中包括该测试项的实际状态信息的获取命令和预期的标准状态信息。需要说明的是，各测试项预期的标准状态信息可以通过配置文件进行统一配置。
在具体实施中，通过输入待测试的目标存储设备的IP地址和目标测试项，通过对比获取到的目标测试项的实际状态信息和测试脚本中的标准状态信息，即可得到目标存储设备的目标测试项的测试结果，各测试项的测试结果可以输出至同一文件中反馈给测试人员。
可以理解的是，测试项可以包括光纤线路、SAS(Serial Attached SCSI，串行连接SCSI接口)链路、数据盘、缓存盘和带宽五个方面。作为一种可行的实施方式，所述获取所述目标存储设备的目标测试项的实际状态信息，包括：获取所述目标存储设备的光纤线路的实际光纤衰减值；相应的，所述对比所述实际状态信息与所述测试脚本中的标准状态信息，得到所述目标存储设备的目标测试项的测试结果，包括：判断所述实际光纤衰减值是否大于所述测试脚本中的标准光纤衰减值；若是，则判定所述目标存储设备的光纤线路异常。在具体实施中，通过调用测试脚本内光衰检查的命令，获取光纤线路的实际光纤衰减值，并与测试脚本中配置的标准光纤衰减值对比，当实际光纤衰减值超过标准光纤衰减值时，判定光纤线路异常，将异常信息反馈给测试人员。优选的，所述实际光纤衰减值包括实际激光输出功率(Laser output power)和/或实际接收信号平均光功率(Receiver signal averageoptical power)，所述判断所述实际光纤衰减值是否大于所述测试脚本中的标准光纤衰减值，包括：判断所述实际激光输出功率是否大于所述测试脚本中的标准激光输出功率，或，所述实际接收信号平均光功率是否大于所述测试脚本中的接收信号平均光功率，当任一项为是时，判定光纤线路异常。
作为一种可行的实施方式，所述获取所述目标存储设备的目标测试项的实际状态信息，包括：获取所述目标存储设备的SAS链路的实际PHY误码(数据链路上传输存在错误时的一种错误状态表示方法)和实际CHGCNT(change count，PHY的变化计数)值；相应的，所述对比所述实际状态信息与所述测试脚本中的标准状态信息，得到所述目标存储设备的目标测试项的测试结果，包括：判断所述实际PHY误码与所述测试脚本中的标准PHY误码是否一致，或，所述实际CHGCNT值与所述测试脚本中的标准CHGCNT值是否一致；若任一项判断结果为否，则判定所述目标存储设备的SAS链路异常。在具体实施中，通过调用测试脚本内获取SAS链路内PHY误码和CHGCNT值的命令，获取实际PHY误码和实际CHGCNT值，并分别与测试脚本中的配置的标准PHY误码和标准CHGCNT值进行对比，当对比结果不一致，判定SAS链路异常，将异常信息反馈给测试人员
作为一种可行的实施方式，所述获取所述目标存储设备的目标测试项的实际状态信息，包括：获取所述目标存储设备的实际数据盘RCC(循环冗余校验码)值；相应的，所述对比所述实际状态信息与所述测试脚本中的标准状态信息，得到所述目标存储设备的目标测试项的测试结果，包括：判断所述实际数据盘RCC值与所述测试脚本中的标准数据盘RCC值是否一致；若否，则判定所述目标存储设备的数据盘异常。在具体实施中，通过调用测试脚本内获取数据盘RCC的命令获取实际数据盘RCC值，并与测试文件中的标准数据盘RCC值对比，当对比结果不一致，判定数据盘异常，将异常信息反馈给测试人员。
作为一种可行的实施方式，所述目标测试项包括缓存盘，所述获取所述目标存储设备的目标测试项的实际状态信息，包括：获取所述目标存储设备的实际缓存盘计数；相应的，所述对比所述实际状态信息与所述测试脚本中的标准状态信息，得到所述目标存储设备的目标测试项的测试结果，包括：判断所述实际缓存盘计数是否大于所述测试脚本中的标准缓存盘计数；若是，则判定所述目标存储设备的缓存盘异常。在具体实施中，通过调用测试脚本内获取缓存盘错误计数的命令获取实际缓存盘错误计数，并与测试文件中配置的标准缓存盘计数对比，当实际缓存盘计数大于标准缓存盘计数时，判定缓存盘异常，将异常信息反馈给测试人员。优选的，可以将标准缓存盘计数设置为零，当实际缓存盘计数与标准缓存盘计数不一致时，判定缓存盘异常。
作为一种可行的实施方式，所述获取所述目标存储设备的目标测试项的实际状态信息，包括：获取所述目标存储设备的实际带宽；相应的，所述对比所述实际状态信息与所述测试脚本中的标准状态信息，得到所述目标存储设备的目标测试项的测试结果，包括：判断所述带宽与所述测试脚本中的标准带宽是否一致；若否，则判定所述目标存储设备的缓存盘异常。在具体实施中，通过调用测试脚本内获取SAS卡、缓存盘和网卡带宽的命令分别获取实际SAS卡带宽、实际缓存盘带宽和实际网卡带宽，并与测试脚本中配置的标准SAS卡带宽、标准缓存盘带宽和标准网卡带宽分别进行比较，当任一项对比结果不一致时，判定目标存储设备的带宽异常，将异常信息反馈给测试人员。
本申请实施例提供的存储设备测试方法，为各测试编写项对应的测试脚本，该测试脚本中包括该测试项的实际状态信息的获取命令和预期的标准状态信息。通过输入待测试的目标存储设备的IP地址和目标测试项，通过对比获取到的目标测试项的实际状态信息和测试脚本中的标准状态信息，即可得到目标存储设备的目标测试项的测试结果，实现了多个存储设备的批量测试，提高了测试效率，缩短检测周期，在客户现场实现了存储设备的测试，保证现场测试的存储设备可靠性。
下面对本申请实施例提供的一种存储设备测试装置进行介绍，下文描述的一种存储设备测试装置与上文描述的一种存储设备测试方法可以相互参照。
参见图2，根据一示例性实施例示出的一种存储设备测试装置的结构图，如图2所示，包括：
确定模块201，用于确定待测试的目标存储设备和目标测试项；
获取模块202，用于通过调用所述目标测试项对应的测试脚本中的获取命令，获取所述目标存储设备的目标测试项的实际状态信息；
对比模块203，用于对比所述实际状态信息与所述测试脚本中的标准状态信息，得到所述目标存储设备的目标测试项的测试结果。
本申请实施例提供的存储设备测试装置，为各测试编写项对应的测试脚本，该测试脚本中包括该测试项的实际状态信息的获取命令和预期的标准状态信息。通过输入待测试的目标存储设备的IP地址和目标测试项，通过对比获取到的目标测试项的实际状态信息和测试脚本中的标准状态信息，即可得到目标存储设备的目标测试项的测试结果，实现了多个存储设备的批量测试，提高了测试效率，缩短检测周期，在客户现场实现了存储设备的测试，保证现场测试的存储设备可靠性。
在上述实施例的基础上，作为一种优选实施方式，所述目标测试项包括光纤线路，所述获取模块202具体为通过调用所述光纤线路对应的测试脚本中的获取命令，获取所述目标存储设备的光纤线路的实际光纤衰减值；
相应的，所述对比模块203具体为判断所述实际光纤衰减值是否大于所述测试脚本中的标准光纤衰减值；若是，则判定所述目标存储设备的光纤线路异常的模块。
在上述实施例的基础上，作为一种优选实施方式，所述实际光纤衰减值包括实际激光输出功率和/或实际接收信号平均光功率，所述对比模块203具体为判断所述实际激光输出功率是否大于所述测试脚本中的标准激光输出功率，或，所述实际接收信号平均光功率是否大于所述测试脚本中的接收信号平均光功率；若任一项为是，则判定所述目标存储设备的光纤线路异常的模块。
在上述实施例的基础上，作为一种优选实施方式，所述目标测试项包括SAS链路，所述获取模块202具体为通过调用所述SAS链路对应的测试脚本中的获取命令，获取所述目标存储设备的SAS链路的实际PHY误码和实际CHGCNT值；
相应的，所述对比模块203具体为判断所述实际PHY误码与所述测试脚本中的标准PHY误码是否一致，或，所述实际CHGCNT值与所述测试脚本中的标准CHGCNT值是否一致；若任一项判断结果为否，则判定所述目标存储设备的SAS链路异常的模块。
在上述实施例的基础上，作为一种优选实施方式，所述目标测试项包括数据盘，所述获取模块202具体为通过调用所述数据盘对应的测试脚本中的获取命令，获取所述目标存储设备的实际数据盘RCC值；
相应的，所述对比模块203具体为判断所述实际数据盘RCC值与所述测试脚本中的标准数据盘RCC值是否一致；若否，则判定所述目标存储设备的数据盘异常的模块。
在上述实施例的基础上，作为一种优选实施方式，所述目标测试项包括缓存盘，所述获取模块202具体为通过调用所述缓存盘对应的测试脚本中的获取命令，获取所述目标存储设备的实际缓存盘计数；
相应的，所述对比模块203具体为判断所述实际缓存盘计数是否大于所述测试脚本中的标准缓存盘计数；若是，则判定所述目标存储设备的缓存盘异常的模块。
在上述实施例的基础上，作为一种优选实施方式，所述目标测试项包括带宽，所述获取模块202具体为通过调用所述带宽对应的测试脚本中的获取命令，获取所述目标存储设备的实际带宽；
相应的，所述对比模块203具体为判断所述带宽与所述测试脚本中的标准带宽是否一致；若否，则判定所述目标存储设备的带宽异常的模块。
关于上述实施例中的装置，其中各个模块执行操作的具体方式已经在有关该方法的实施例中进行了详细描述，此处将不做详细阐述说明。
基于上述程序模块的硬件实现，且为了实现本申请实施例的方法，本申请实施例还提供了一种电子设备，图3为根据一示例性实施例示出的一种电子设备的结构图，如图3所示，电子设备包括：
通信接口1，能够与其它设备比如网络设备等进行信息交互；
处理器2，与通信接口1连接，以实现与其它设备进行信息交互，用于运行计算机程序时，执行上述一个或多个技术方案提供的存储设备测试方法。而所述计算机程序存储在存储器3上。
当然，实际应用时，电子设备中的各个组件通过总线系统4耦合在一起。可理解，总线系统4用于实现这些组件之间的连接通信。总线系统4除包括数据总线之外，还包括电源总线、控制总线和状态信号总线。但是为了清楚说明起见，在图3中将各种总线都标为总线系统4。
本申请实施例中的存储器3用于存储各种类型的数据以支持电子设备的操作。这些数据的示例包括：用于在电子设备上操作的任何计算机程序。
可以理解，存储器3可以是易失性存储器或非易失性存储器，也可包括易失性和非易失性存储器两者。其中，非易失性存储器可以是只读存储器(ROM，Read Only Memory)、可编程只读存储器(PROM，Programmable Read-Only Memory)、可擦除可编程只读存储器(EPROM，Erasable Programmable Read-Only Memory)、电可擦除可编程只读存储器(EEPROM，Electrically Erasable Programmable Read-Only Memory)、磁性随机存取存储器(FRAM，ferromagnetic random access memory)、快闪存储器(Flash Memory)、磁表面存储器、光盘、或只读光盘(CD-ROM，Compact Disc Read-Only Memory)；磁表面存储器可以是磁盘存储器或磁带存储器。易失性存储器可以是随机存取存储器(RAM，Random AccessMemory)，其用作外部高速缓存。通过示例性但不是限制性说明，许多形式的RAM可用，例如静态随机存取存储器(SRAM，Static Random Access Memory)、同步静态随机存取存储器(SSRAM，Synchronous Static Random Access Memory)、动态随机存取存储器(DRAM，Dynamic Random Access Memory)、同步动态随机存取存储器(SDRAM，SynchronousDynamic Random Access Memory)、双倍数据速率同步动态随机存取存储器(DDRSDRAM，Double Data Rate Synchronous Dynamic Random Access Memory)、增强型同步动态随机存取存储器(ESDRAM，Enhanced Synchronous Dynamic Random Access Memory)、同步连接动态随机存取存储器(SLDRAM，SyncLink Dynamic Random Access Memory)、直接内存总线随机存取存储器(DRRAM，Direct Rambus Random Access Memory)。本申请实施例描述的存储器2旨在包括但不限于这些和任意其它适合类型的存储器。
上述本申请实施例揭示的方法可以应用于处理器2中，或者由处理器2实现。处理器2可能是一种集成电路芯片，具有信号的处理能力。在实现过程中，上述方法的各步骤可以通过处理器2中的硬件的集成逻辑电路或者软件形式的指令完成。上述的处理器2可以是通用处理器、DSP，或者其他可编程逻辑器件、分立门或者晶体管逻辑器件、分立硬件组件等。处理器2可以实现或者执行本申请实施例中的公开的各方法、步骤及逻辑框图。通用处理器可以是微处理器或者任何常规的处理器等。结合本申请实施例所公开的方法的步骤，可以直接体现为硬件译码处理器执行完成，或者用译码处理器中的硬件及软件模块组合执行完成。软件模块可以位于存储介质中，该存储介质位于存储器3，处理器2读取存储器3中的程序，结合其硬件完成前述方法的步骤。
处理器2执行所述程序时实现本申请实施例的各个方法中的相应流程，为了简洁，在此不再赘述。
在示例性实施例中，本申请实施例还提供了一种存储介质，即计算机存储介质，具体为计算机可读存储介质，例如包括存储计算机程序的存储器3，上述计算机程序可由处理器2执行，以完成前述方法所述步骤。计算机可读存储介质可以是FRAM、ROM、PROM、EPROM、EEPROM、Flash Memory、磁表面存储器、光盘、或CD-ROM等存储器。
本领域普通技术人员可以理解：实现上述方法实施例的全部或部分步骤可以通过程序指令相关的硬件来完成，前述的程序可以存储于一计算机可读取存储介质中，该程序在执行时，执行包括上述方法实施例的步骤；而前述的存储介质包括：移动存储设备、ROM、RAM、磁碟或者光盘等各种可以存储程序代码的介质。
或者，本申请上述集成的单元如果以软件功能模块的形式实现并作为独立的产品销售或使用时，也可以存储在一个计算机可读取存储介质中。基于这样的理解，本申请实施例的技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分可以以软件产品的形式体现出来，该计算机软件产品存储在一个存储介质中，包括若干指令用以使得一台电子设备(可以是个人计算机、服务器、或者网络设备等)执行本申请各个实施例所述方法的全部或部分。而前述的存储介质包括：移动存储设备、ROM、RAM、磁碟或者光盘等各种可以存储程序代码的介质。
以上所述，仅为本申请的具体实施方式，但本申请的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本申请揭露的技术范围内，可轻易想到变化或替换，都应涵盖在本申请的保护范围之内。因此，本申请的保护范围应以所述权利要求的保护范围为准。
Claims (10)
1.一种存储设备测试方法，其特征在于，包括：
确定待测试的目标存储设备和目标测试项；
通过调用所述目标测试项对应的测试脚本中的获取命令，获取所述目标存储设备的目标测试项的实际状态信息；
对比所述实际状态信息与所述测试脚本中的标准状态信息，得到所述目标存储设备的目标测试项的测试结果。
2.根据权利要求1所述存储设备测试方法，其特征在于，所述目标测试项包括光纤线路，所述获取所述目标存储设备的目标测试项的实际状态信息，包括：
获取所述目标存储设备的光纤线路的实际光纤衰减值；
相应的，所述对比所述实际状态信息与所述测试脚本中的标准状态信息，得到所述目标存储设备的目标测试项的测试结果，包括：
判断所述实际光纤衰减值是否大于所述测试脚本中的标准光纤衰减值；
若是，则判定所述目标存储设备的光纤线路异常。
3.根据权利要求2所述存储设备测试方法，其特征在于，所述实际光纤衰减值包括实际激光输出功率和/或实际接收信号平均光功率，所述判断所述实际光纤衰减值是否大于所述测试脚本中的标准光纤衰减值，包括：
判断所述实际激光输出功率是否大于所述测试脚本中的标准激光输出功率，或，所述实际接收信号平均光功率是否大于所述测试脚本中的接收信号平均光功率。
4.根据权利要求1所述存储设备测试方法，其特征在于，所述目标测试项包括SAS链路，所述获取所述目标存储设备的目标测试项的实际状态信息，包括：
获取所述目标存储设备的SAS链路的实际PHY误码和实际CHGCNT值；
相应的，所述对比所述实际状态信息与所述测试脚本中的标准状态信息，得到所述目标存储设备的目标测试项的测试结果，包括：
判断所述实际PHY误码与所述测试脚本中的标准PHY误码是否一致，或，所述实际CHGCNT值与所述测试脚本中的标准CHGCNT值是否一致；
若任一项判断结果为否，则判定所述目标存储设备的SAS链路异常。
5.根据权利要求1所述存储设备测试方法，其特征在于，所述目标测试项包括数据盘，所述获取所述目标存储设备的目标测试项的实际状态信息，包括：
获取所述目标存储设备的实际数据盘RCC值；
相应的，所述对比所述实际状态信息与所述测试脚本中的标准状态信息，得到所述目标存储设备的目标测试项的测试结果，包括：
判断所述实际数据盘RCC值与所述测试脚本中的标准数据盘RCC值是否一致；
若否，则判定所述目标存储设备的数据盘异常。
6.根据权利要求1所述存储设备测试方法，其特征在于，所述目标测试项包括缓存盘，所述获取所述目标存储设备的目标测试项的实际状态信息，包括：
获取所述目标存储设备的实际缓存盘计数；
相应的，所述对比所述实际状态信息与所述测试脚本中的标准状态信息，得到所述目标存储设备的目标测试项的测试结果，包括：
判断所述实际缓存盘计数是否大于所述测试脚本中的标准缓存盘计数；
若是，则判定所述目标存储设备的缓存盘异常。
7.根据权利要求1所述存储设备测试方法，其特征在于，所述目标测试项包括带宽，所述获取所述目标存储设备的目标测试项的实际状态信息，包括：
获取所述目标存储设备的实际带宽；
相应的，所述对比所述实际状态信息与所述测试脚本中的标准状态信息，得到所述目标存储设备的目标测试项的测试结果，包括：
判断所述带宽与所述测试脚本中的标准带宽是否一致；
若否，则判定所述目标存储设备的带宽异常。
8.一种存储设备测试装置，其特征在于，包括：
确定模块，用于确定待测试的目标存储设备和目标测试项；
获取模块，用于通过调用所述目标测试项对应的测试脚本中的获取命令，获取所述目标存储设备的目标测试项的实际状态信息；
对比模块，用于对比所述实际状态信息与所述测试脚本中的标准状态信息，得到所述目标存储设备的目标测试项的测试结果。
9.一种电子设备，其特征在于，包括：
存储器，用于存储计算机程序；
处理器，用于执行所述计算机程序时实现如权利要求1至7任一项所述存储设备测试方法的步骤。
10.一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述计算机可读存储介质上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现如权利要求1至7任一项所述存储设备测试方法的步骤。
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Cited By (6)
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|---|---|---|---|---|
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| CN114625213B (zh) * | 2022-01-24 | 2023-08-11 | 苏州浪潮智能科技有限公司 | 存储设备转接卡、存储设备测试系统以及方法 |
| CN114978973A (zh) * | 2022-05-18 | 2022-08-30 | 宁畅信息产业(北京)有限公司 | 一种通信接口测试方法、装置、测试机及存储介质 |
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