CN114608509B - 一种检测机构及检测方法 - Google Patents

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Abstract

本发明属于镜头生产技术领域,公开一种检测机构及检测方法,该检测机构包括承靠台、压圈、测量定位件以及高度计,承靠台的中部沿轴向贯穿开设有通孔,通孔的内壁沿轴向间隔设置有内螺纹和台阶,隔圈和镜片位于内螺纹与台阶之间;压圈设置于通孔具有内螺纹的位置上,压圈的外周壁设置有外螺纹,压圈与承靠台螺纹连接,压圈用于限定镜片沿轴向的移动;测量定位件位于通孔内,且测量定位件抵接于隔圈背离镜片的一侧,测量定位件的中部沿轴向贯穿开设有测量孔,测量孔与通孔同轴设置;高度计的探针头能够穿过测量孔以抵接镜片。本发明将隔圈和镜片安置于承靠台的通孔内,提高对隔圈和镜片的定位精度,保证高度计能够检测得到准确的测量值。

Description

一种检测机构及检测方法
技术领域
本发明涉及镜头生产技术领域,尤其涉及一种检测机构及检测方法。
背景技术
随着电子及自动化行业的快速发展,给机器视觉带来了巨大的机遇和挑战。人们将机器视觉系统广泛应用于电子、SMT、半导体、医疗、印刷、汽车等各个行业中,机器视觉系统应用项目包括装配定位、产品质量检测、产品识别、产品尺寸测量等方面。机器视觉系统中的镜头主要由镜片、隔圈或垫片,相邻的两枚镜片之间的空气间隔主要由隔圈或垫圈保证,空气间隔的好坏直接影响整个镜头的解像质量,使用现有的检测治具以及传统的测量方法时,需要引入镜片芯厚尺寸公差,但会因此造成测量数据偏离真实值,容易得到错误值,造成大批量产品报废。
发明内容
本发明的一个目的在于:提供一种检测机构及检测方法,将隔圈和镜片安置于承靠台的通孔内,提高对隔圈和镜片的定位精度,保证高度计能够检测得到准确的测量值。
为达此目的,本发明采用以下技术方案:
第一方面,提供一种检测机构,包括:
承靠台,其中部沿轴向贯穿开设有通孔,所述通孔的内壁沿轴向间隔设置有内螺纹和台阶,隔圈和镜片位于所述内螺纹与所述台阶之间,所述台阶用于抵接并限定所述隔圈沿轴向的移动,所述镜片抵接于所述隔圈背离所述台阶的一侧;
压圈,设置于所述通孔具有所述内螺纹的位置上,其外周壁设置有外螺纹,所述压圈与所述承靠台螺纹连接,所述压圈用于限定所述镜片沿轴向的移动;
测量定位件,位于所述通孔内,且所述测量定位件抵接于所述隔圈背离所述镜片的一侧,所述测量定位件的中部沿轴向贯穿开设有测量孔,所述测量孔与所述通孔同轴设置;
高度计,所述高度计的探针头能够穿过所述测量孔以抵接所述镜片。
作为一种可选的技术方案,所述通孔包括第一段通孔和第二段通孔,所述内螺纹位于所述第一段通孔内,所述台阶位于所述第二段通孔内,所述第一段通孔的直径大于所述第二段通孔的直径,所述镜片的一端伸入所述第一段通孔内并与所述第一段通孔的内壁间隔设置,所述镜片的另一端伸入所述第二段通孔内并与所述第二段通孔的内壁紧密抵接。
作为一种可选的技术方案,所述通孔还包括第三段通孔,所述测量定位件设置于所述第三段通孔内,所述第三段通孔的直径小于所述第二段通孔的直径,所述测量定位件的外壁与所述第三段通孔的内壁紧密抵接。
作为一种可选的技术方案,所述承靠台包括第一端和第二端,所述第一段通孔位于所述第一端,所述第三段通孔位于所述第二端,所述第二端的端面开设有避让槽,所述避让槽与所述第三段通孔接通,所述测量定位件背离所述隔圈的一端伸入所述避让槽。
第二方面,提供一种检测方法,采用如上所述的检测机构实施,所述检测方法包括以下步骤:
S100、将所述承靠台沿轴向竖放,并从上至下依次将所述隔圈和所述镜片放入所述通孔内,采用压力装置对所述镜片进行打压;
S200、将所述压圈从上至下螺旋转入所述通孔中,直至所述压圈与所述镜片紧密抵接;
S300、将所述承靠台沿轴向倒放,并采用所述高度计对所述隔圈的上表面以及所述镜片的最高点进行检测,所述高度计获取的绝对值即为所述镜片与所述隔圈的空气间隔值。
作为一种可选的技术方案,在所述步骤S100中,将所述承靠台沿轴向竖放时,所述内螺纹位于所述台阶的上方。
作为一种可选的技术方案,在所述步骤S100中,采用压力装置对所述镜片进行打压时,确保所述隔圈紧密抵接于所述台阶以及所述镜片紧密抵接于所述隔圈。
作为一种可选的技术方案,在所述步骤S300中,将所述承靠台沿轴向倒放时,所述内螺纹位于所述台阶的下方。
作为一种可选的技术方案,所述步骤S300具体为:使所述高度计的探针头抵接于所述隔圈的用于抵接所述台阶的上表面,并对所述高度计的探针头进行归零,再将所述高度计取走以及将所述测量定位件从上至下放入所述通孔中,使所述测量孔正对所述镜片的最高点,最后将所述高度计的探针头穿过所述测量孔并抵接所述镜片,所述高度计显示的绝对值即为所述镜片与所述隔圈的空气间隔值。
作为一种可选的技术方案,所述步骤S300具体为:将所述测量定位件从上至下放入所述通孔中,使所述测量孔正对所述镜片的最高点,再将所述高度计的探针头穿过所述测量孔并抵接所述镜片,并对所述高度计的探针头进行归零,之后将所述测量定位件取走,并使所述高度计的探针头抵接于所述隔圈的用于抵接所述台阶的上表面,所述高度计显示的绝对值即为所述镜片与所述隔圈的空气间隔值。
本发明的有益效果在于:
本发明提供一种检测机构,该检测机构包括承靠台、压圈、测量定位件以及高度计,采用压圈将隔圈和镜片限定于通孔内,提高对隔圈和镜片的定位精度,在承靠台翻转时,能够避免隔圈和镜片相对通孔移动,保证高度计能够检测得到准确的测量值;压圈与承靠台之间为螺纹连接,能够对不同厚度的隔圈和镜片进行限定,即能够测量不同规格厚度的隔圈和镜片,提高检测范围;在测量定位件上开设测量孔,使得测量孔与通孔同轴设置,即测量孔正对镜片的最高点,通过测量定位件上的测量孔,使得高度计的探针头能够快速且准确地抵接于镜片的最高点。
本发明还提供一种检测方法,采用如上所述的检测机构实施,先将承靠台沿轴向竖放,并从上至下依次将隔圈和镜片放入通孔内,采用压力装置对镜片进行打压;再将压圈从上至下螺旋转入通孔中,直至压圈与镜片紧密抵接;之后将承靠台沿轴向倒放,并采用高度计对隔圈的上表面以及镜片的最高点进行检测,高度计获取的绝对值即为镜片与隔圈的空气间隔值。通过本发明的检测方法,能够快速地检测到准确的测量值。
附图说明
下面根据附图和实施例对本发明作进一步详细说明;
图1为实施例所述的检测机构的(高度计未展示)结构爆炸图;
图2为实施例所述的高度计对隔圈的上表面进行检测时的剖视图;
图3为实施例所述的高度计对镜片的最高点进行检测时的剖视图;
图4为实施例所述的承靠台的剖视图;
图5为实施例所述的检测方法的步骤流程图。
图中:
100、隔圈;200、镜片;
1、承靠台;11、内螺纹;12、台阶;13、第一段通孔;14、第二段通孔;15、第三段通孔;16、避让槽;
2、压圈;
3、测量定位件;31、测量孔;
4、高度计。
具体实施方式
为使本发明解决的技术问题、采用的技术方案和达到的技术效果更加清楚,下面将结合附图对本发明实施例的技术方案作进一步的详细描述,显然,所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例,本领域技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本发明保护的范围。
在本发明的描述中,除非另有明确的规定和限定,术语“相连”、“连接”、“固定”应做广义理解,例如,可以是固定连接,也可以是可拆卸连接,或成一体;可以是机械连接,也可以是电连接;可以是直接相连,也可以通过中间媒介间接相连,可以是两个元件内部的连通或两个元件的相互作用关系。对于本领域的普通技术人员而言,可以具体情况理解上述术语在本发明中的具体含义。
在本发明中,除非另有明确的规定和限定,第一特征在第二特征之“上”或之“下”可以包括第一和第二特征直接接触,也可以包括第一和第二特征不是直接接触而是通过它们之间的另外的特征接触。而且,第一特征在第二特征“之上”、“上方”和“上面”包括第一特征在第二特征正上方和斜上方,或仅仅表示第一特征水平高度高于第二特征。第一特征在第二特征“之下”、“下方”和“下面”包括第一特征在第二特征正下方和斜下方,或仅仅表示第一特征水平高度小于第二特征。
于本文的描述中,需要理解的是,术语“上”、“下”、“左”、“右”、等方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系,仅是为了便于描述和简化操作,而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作,因此不能理解为对本发明的限制。此外,术语“第一”、“第二”,仅仅用于在描述上加以区分,并没有特殊的含义。
在本说明书的描述中,参考术语“一实施例”、“示例”等的描述意指结合该实施例或示例描述的具体特征、结构、材料或者特点包含于本发明的至少一个实施例或示例中。在本说明书中,对上述术语的示意性表述不一定指的是相同的实施例或示例。
下面结合附图并通过具体实施方式来进一步说明本发明的技术方案。
如图1至图4所示,本实施例提供一种检测机构,该检测机构包括承靠台1、压圈2、测量定位件3以及高度计4,承靠台1的中部沿轴向贯穿开设有通孔,通孔的内壁沿轴向间隔设置有内螺纹11和台阶12,隔圈100和镜片200位于内螺纹11与台阶12之间,台阶12用于抵接并限定隔圈100沿轴向的移动,镜片200抵接于隔圈100背离台阶12的一侧;压圈2设置于通孔具有内螺纹11的位置上,其外周壁设置有外螺纹,压圈2与承靠台1螺纹连接,压圈2用于限定镜片200沿轴向的移动;测量定位件3位于通孔内,且测量定位件3抵接于隔圈100背离镜片200的一侧,测量定位件3的中部沿轴向贯穿开设有测量孔31,测量孔31与通孔同轴设置;高度计4的探针头能够穿过测量孔31以抵接镜片200。
具体的,镜片200为凸透镜,镜片200的正中间为最高点,采用压圈2将隔圈100和镜片200限定于通孔内,提高对隔圈100和镜片200的定位精度,在承靠台1翻转时,能够避免隔圈100和镜片200相对通孔移动,保证高度计4能够检测得到准确的测量值;压圈2与承靠台1之间为螺纹连接,能够对不同厚度的隔圈100和镜片200进行限定,即能够测量不同规格厚度的隔圈100和镜片200,提高检测范围;在测量定位件3上开设测量孔31,使得测量孔31与通孔同轴设置,即测量孔31正对镜片200的最高点,通过测量定位件3上的测量孔31,使得高度计4的探针头能够快速且准确地抵接于镜片200的最高点。
可选的,通孔包括第一段通孔13和第二段通孔14,内螺纹11位于第一段通孔13内,台阶12位于第二段通孔14内,第一段通孔13的直径大于第二段通孔14的直径,镜片200的一端伸入第一段通孔13内并与第一段通孔13的内壁间隔设置,镜片200的另一端伸入第二段通孔14内并与第二段通孔14的内壁紧密抵接。将第一段通孔13的直径设置大于第二段通孔14的直径,方便将镜片200从通孔中取出。
可选的,隔圈100的外壁与第二段通孔14的内壁紧密抵接,以避免隔圈100在第二段通孔14内沿径向偏移,造成定位不准。
可选的,第二段通孔14的内侧壁还开设有环槽,环槽与镜片200的外壁间隔设置,减少镜片200与第二段通孔14之间的接触面积,减少摩擦力,避免无法将镜片200从通孔中取出。
可选的,通孔还包括第三段通孔15,测量定位件3设置于第三段通孔15内,第三段通孔15的直径小于第二段通孔14的直径,测量定位件3的外壁与第三段通孔15的内壁紧密抵接,避免测量定位件3在第三段通孔15中沿径向偏移而导致高度计4的探针头无法抵接到镜片200的最高点。
可选的,承靠台1包括第一端和第二端,第一段通孔13位于第一端,第三段通孔15位于第二端,第二端的端面开设有避让槽16,避让槽16与第三段通孔15接通,测量定位件3背离隔圈100的一端伸入避让槽16,方便将测量定位件3装入第三段通孔15或者从第三段通孔15中取出。
可选的,第三段通孔15的端口边沿设置有倒角。
如图5所示,本实施例还提供一种检测方法,采用如上的检测机构实施,检测方法包括以下步骤:
S100、将承靠台1沿轴向竖放,并从上至下依次将隔圈100和镜片200放入通孔内,采用压力装置对镜片200进行打压。
S200、将压圈2从上至下螺旋转入通孔中,直至压圈2与镜片200紧密抵接。
S300、将承靠台1沿轴向倒放,并采用高度计4对隔圈100的上表面以及镜片200的最高点进行检测,高度计4获取的绝对值即为镜片200与隔圈100的空气间隔值。
通过本实施例的以上步骤能够快速地检测到准确的测量值,且本实施例的检测方法适用于多种不同厚度的隔圈100和镜片200,提高了检测范围。本实施例在步骤S100中先采用压力装置对镜片200进行打压,例如采用打压机对镜片200进行打压,确保隔圈100紧密抵接于台阶12以及镜片200紧密抵接于隔圈100,减小相互之间的间隙,避免误差值过大,在步骤S200中,通过旋转压圈2,使得压圈2能够快速地装入通孔或者从通孔中拆下,能够对不同厚度或者相同厚度的隔圈100和镜片200进行快速定位。
可选的,在步骤S100中,将承靠台1沿轴向竖放时,内螺纹11位于台阶12的上方。
可选的,在步骤S100中,采用压力装置对镜片200进行打压时,确保隔圈100紧密抵接于台阶12以及镜片200紧密抵接于隔圈100。
可选的,在步骤S300中,将承靠台1沿轴向倒放时,内螺纹11位于台阶12的下方。
在本实施例中,步骤S300具体为:使高度计4的探针头抵接于隔圈100的用于抵接台阶12的上表面,并对高度计4的探针头进行归零,再将高度计4取走以及将测量定位件3从上至下放入通孔中,使测量孔31正对镜片200的最高点,最后将高度计4的探针头穿过测量孔31并抵接镜片200,高度计4显示的绝对值即为镜片200与隔圈100的空气间隔值。在本实施例的步骤S300中,采用测量定位件3对高度计4的探针头进行定位,保证高度计4的探针头能够快速且准确地抵接于镜片200的最高点,从而获得准确的检测值。
在其他的一些实施例中,步骤S300具体为:将测量定位件3从上至下放入通孔中,使测量孔31正对镜片200的最高点,再将高度计4的探针头穿过测量孔31并抵接镜片200,并对高度计4的探针头进行归零,之后将测量定位件3取走,并使高度计4的探针头抵接于隔圈100的用于抵接台阶12的上表面,高度计4显示的绝对值即为镜片200与隔圈100的空气间隔值。在本实施例的步骤S300中,采用测量定位件3对高度计4的探针头进行定位,保证高度计4的探针头能够快速且准确地抵接于镜片200的最高点,从而获得准确的检测值。
此外,上述仅为本发明的较佳实施例及所运用技术原理。本领域技术人员会理解,本发明不限于这里所述的特定实施例,对本领域技术人员来说能够进行各种明显的变化、重新调整和替代而不会脱离本发明的保护范围。因此,虽然通过以上实施例对本发明进行了较为详细的说明,但是本发明不仅仅限于以上实施例,在不脱离本发明构思的情况下,还可以包括更多其他等效实施例,而本发明的范围由所附的权利要求范围决定。

Claims (8)

1.一种检测方法,其特征在于,采用检测机构实施,所述检测机构包括:
承靠台(1),其中部沿轴向贯穿开设有通孔,所述通孔的内壁沿轴向间隔设置有内螺纹(11)和台阶(12),隔圈(100)和镜片(200)位于所述内螺纹(11)与所述台阶(12)之间,所述台阶(12)用于抵接并限定所述隔圈(100)沿轴向的移动,所述镜片(200)抵接于所述隔圈(100)背离所述台阶(12)的一侧;
压圈(2),设置于所述通孔具有所述内螺纹(11)的位置上,其外周壁设置有外螺纹,所述压圈(2)与所述承靠台(1)螺纹连接,所述压圈(2)用于限定所述镜片(200)沿轴向的移动;
测量定位件(3),位于所述通孔内,且所述测量定位件(3)抵接于所述隔圈(100)背离所述镜片(200)的一侧,所述测量定位件(3)的中部沿轴向贯穿开设有测量孔(31),所述测量孔(31)与所述通孔同轴设置;
高度计(4),所述高度计(4)的探针头能够穿过所述测量孔(31)以抵接所述镜片(200);
所述检测方法包括以下步骤:
S100、将所述承靠台(1)沿轴向竖放,并从上至下依次将所述隔圈(100)和所述镜片(200)放入所述通孔内,采用压力装置对所述镜片(200)进行打压;
S200、将所述压圈(2)从上至下螺旋转入所述通孔中,直至所述压圈(2)与所述镜片(200)紧密抵接;
S300、将所述承靠台(1)沿轴向倒放,并采用所述高度计(4)对所述隔圈(100)的上表面以及所述镜片(200)的最高点进行检测,所述高度计(4)获取的绝对值即为所述镜片(200)与所述隔圈(100)的空气间隔值;
所述步骤S300具体为:使所述高度计(4)的探针头抵接于所述隔圈(100)的用于抵接所述台阶(12)的上表面,并对所述高度计(4)的探针头进行归零,再将所述高度计(4)取走以及将所述测量定位件(3)从上至下放入所述通孔中,使所述测量孔(31)正对所述镜片(200)的最高点,最后将所述高度计(4)的探针头穿过所述测量孔(31)并抵接所述镜片(200),所述高度计(4)显示的绝对值即为所述镜片(200)与所述隔圈(100)的空气间隔值。
2.根据权利要求1所述的检测方法,其特征在于,在所述步骤S100中,将所述承靠台(1)沿轴向竖放时,所述内螺纹(11)位于所述台阶(12)的上方。
3.根据权利要求1所述的检测方法,其特征在于,在所述步骤S100中,采用压力装置对所述镜片(200)进行打压时,确保所述隔圈(100)紧密抵接于所述台阶(12)以及所述镜片(200)紧密抵接于所述隔圈(100)。
4.根据权利要求1所述的检测方法,其特征在于,在所述步骤S300中,将所述承靠台(1)沿轴向倒放时,所述内螺纹(11)位于所述台阶(12)的下方。
5.根据权利要求4所述的检测方法,其特征在于,所述步骤S300具体为:将所述测量定位件(3)从上至下放入所述通孔中,使所述测量孔(31)正对所述镜片(200)的最高点,再将所述高度计(4)的探针头穿过所述测量孔(31)并抵接所述镜片(200),并对所述高度计(4)的探针头进行归零,之后将所述测量定位件(3)取走,并使所述高度计(4)的探针头抵接于所述隔圈(100)的用于抵接所述台阶(12)的上表面,所述高度计(4)显示的绝对值即为所述镜片(200)与所述隔圈(100)的空气间隔值。
6.根据权利要求1所述的检测方法,其特征在于,所述通孔包括第一段通孔(13)和第二段通孔(14),所述内螺纹(11)位于所述第一段通孔(13)内,所述台阶(12)位于所述第二段通孔(14)内,所述第一段通孔(13)的直径大于所述第二段通孔(14)的直径,所述镜片(200)的一端伸入所述第一段通孔(13)内并与所述第一段通孔(13)的内壁间隔设置,所述镜片(200)的另一端伸入所述第二段通孔(14)内并与所述第二段通孔(14)的内壁紧密抵接。
7.根据权利要求6所述的检测方法,其特征在于,所述通孔还包括第三段通孔(15),所述测量定位件(3)设置于所述第三段通孔(15)内,所述第三段通孔(15)的直径小于所述第二段通孔(14)的直径,所述测量定位件(3)的外壁与所述第三段通孔(15)的内壁紧密抵接。
8.根据权利要求7所述的检测方法,其特征在于,所述承靠台(1)包括第一端和第二端,所述第一段通孔(13)位于所述第一端,所述第三段通孔(15)位于所述第二端,所述第二端的端面开设有避让槽(16),所述避让槽(16)与所述第三段通孔(15)接通,所述测量定位件(3)背离所述隔圈(100)的一端伸入所述避让槽(16)。
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