CN114594372B - 一种测试工装 - Google Patents

一种测试工装 Download PDF

Info

Publication number
CN114594372B
CN114594372B CN202210502812.0A CN202210502812A CN114594372B CN 114594372 B CN114594372 B CN 114594372B CN 202210502812 A CN202210502812 A CN 202210502812A CN 114594372 B CN114594372 B CN 114594372B
Authority
CN
China
Prior art keywords
load
relay
analog
time sequence
key
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
CN202210502812.0A
Other languages
English (en)
Other versions
CN114594372A (zh
Inventor
刘江
李校克
刘辉
郑恩泽
李�诚
帅常金
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Dongguan New Electronics Co ltd
Original Assignee
Dongguan New Electronics Co ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Dongguan New Electronics Co ltd filed Critical Dongguan New Electronics Co ltd
Priority to CN202210502812.0A priority Critical patent/CN114594372B/zh
Publication of CN114594372A publication Critical patent/CN114594372A/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN114594372B publication Critical patent/CN114594372B/zh
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/2801—Testing of printed circuits, backplanes, motherboards, hybrid circuits or carriers for multichip packages [MCP]
    • G01R31/281—Specific types of tests or tests for a specific type of fault, e.g. thermal mapping, shorts testing
    • G01R31/2815—Functional tests, e.g. boundary scans, using the normal I/O contacts
    • Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y02—TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
    • Y02P—CLIMATE CHANGE MITIGATION TECHNOLOGIES IN THE PRODUCTION OR PROCESSING OF GOODS
    • Y02P90/00—Enabling technologies with a potential contribution to greenhouse gas [GHG] emissions mitigation
    • Y02P90/02—Total factory control, e.g. smart factories, flexible manufacturing systems [FMS] or integrated manufacturing systems [IMS]

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Tests Of Circuit Breakers, Generators, And Electric Motors (AREA)
  • Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)

Abstract

本发明属于电路板测试领域，具体涉及一种测试工装，包括：时序控制模块，用于发出控制指令，对测试时序进行控制；模拟按键模块，与时序控制模块和待测板上的按键电路连接，用于接收时序控制模块的控制指令，并模拟待测板上的按键开关；模拟负载模块，与时序控制模块和待测板上的负载加压电路连接，用于接收时序控制模块的控制指令，并模拟待测板负载的接入和断开。本发明通过时序控制模块、模拟按键模块和模拟负载模块的配合使用，模拟按键模块用于模拟待测板上的按键开关，模拟负载模块用于模拟待测板上的负载接入和断开，通过时序控制模块控制时序，从而准确控制待测板的工作时序，实现对待测板的高效测试。

Description

一种测试工装
技术领域
本发明属于电路板测试领域，具体涉及一种测试工装。
背景技术
在PCBA半成品电路生产出来后，需要对电路板进行功能测试。现有技术下，对于多按键、有复杂控制时序的PDBA半成品电路板，往往需要测试人员人工操作按键和接入断开负载，来改变电路板的运行状态，这种测试方法，不仅对测试人员的专业程度提出很高的要求，而且难以准确控制电路板的运行时序，测试效率低下。
发明内容
本发明要解决的技术问题在于克服现有技术下，对于多按键、有复杂控制时序的PDBA半成品电路板的测试方法不能准确控制电路板的运行时序并且测试效率低下的缺陷，从而提供一种测试工装。
一种测试工装，包括：
时序控制模块，设有模拟按键控制端和模拟负载控制端，用于发出控制指令，对测试时序进行控制；
模拟按键模块，与时序控制模块的模拟按键控制端和待测板上的按键电路连接，用于接收时序控制模块的控制指令，并模拟待测板上的按键开关；
模拟负载模块，与时序控制模块的模拟负载控制端和待测板上的负载加压电路连接，用于接收时序控制模块的控制指令，并模拟待测板负载的接入和断开。
本发明通过时序控制模块、模拟按键模块和模拟负载模块的配合使用，模拟按键模块用于模拟待测板上的按键开关，模拟负载模块用于模拟待测板上的负载接入和断开，通过时序控制模块控制模拟按键模块和模拟负载模块的时序，从而准确控制待测板的工作时序，实现对待测板的高效测试。
进一步的，所述模拟按键模块包括至少一个模拟按键电路，所述模拟按键电路包括一个NPN型的第一三极管和一个第一继电器；所述第一继电器的触点连接待测板上的按键，线圈一端连接电源，另一端连接第一三极管的集电极；所述第一三极管的基极连接模拟按键控制端，发射极接地。
通过模拟按键电路，模拟按键控制端通过控制第一三极管来控制第一继电器的工作，第一继电器连接待测板上的按键，从而能够模拟待测板的按键工作。
进一步的，所述模拟负载模块包括至少一个模拟负载电路，所述模拟负载电路包括一个NPN型的第二三极管、一个第二继电器、一个第三继电器和一个负载电阻；所述第二继电器和第三继电器的线圈并联，并且一端连接电源，另一端连接第二三极管的集电极；所述第二继电器和第三继电器的触点串联，并且在中间串联一个负载电阻，两端与待测板上的负载加压电路连接；所述第二三极管的基极连接模拟负载控制端，发射极接地。
通过模拟负载电路，模拟负载控制端通过控制第一三极管来控制第二继电器和第三继电器的工作，第二继电器和第三继电器能够将负载电阻接入到待测板的负载加压电路中，从而模拟待测板的负载接入。
进一步的，所述时序控制模块还设有按键反馈端，并连接所述第一继电器的触点。
通过按键反馈端的设置，连接第一继电器触点端的电平能够反映触点的开关状态到时序控制电路，从而实现模拟开关电路的反馈。
进一步的，所述时序控制模块还设有负载反馈端，所述第二继电器和第三继电器的触点中间串联一个电流传感器，所述电流传感器的输出端连接负载反馈端。
通过负载反馈端的设置，串联在负载电路回路中的电流传感器能够反馈负载电流值到时序控制电路，从而实现模拟负载电路的反馈。
进一步的，所述第一继电器的线圈并联有一个第一发光二极管，并且所述第一发光二极管串联一个第一限流电阻。
进一步的，所述第二继电器的线圈并联有一个第二发光二极管，并且所述第二发光二极管串联一个第二限流电阻。
通过第一发光二极管和第二发光二极管设置，测试人员通过肉眼观察二极管的发光状态，能够直接识别出每一个模拟按键电路和模拟负载电路的工作状态，方便了测试作业，同时限流电阻的设置避免了发光二极管被烧毁，确保正常工作。
进一步的，所述时序控制模块包括一个用于开启检测时序运行的开启按键，和一个用于复位测试工装的复位按键。
通过开启按键和复位按键的设置，可以实现通过按压按键实现对测试流程的简单控制，进一步提高测试效率。
进一步的，所述时序控制模块还包括一个用于传输数据的串口通信模块。
通过串口通信模块的设置，便于修改传入的时序控制程序，以适应不同的待测板测试，同时能够方便将测试的反馈数据实时导出，以供后续进一步的分析处理。
有益效果：
1.本发明通过时序控制模块、模拟按键模块和模拟负载模块的配合使用，模拟按键模块用于模拟待测板上的按键开关，模拟负载模块用于模拟待测板上的负载接入和断开，通过时序控制模块控制模拟按键模块和模拟负载模块的时序，从而准确控制待测板的工作时序，实现对待测板的高效测试。
2.本发明通过模拟按键电路，模拟按键控制端通过控制第一三极管来控制第一继电器的工作，第一继电器连接待测板上的按键，从而能够模拟待测板的按键工作；通过模拟负载电路，模拟负载控制端通过控制第一三极管来控制第二继电器和第三继电器的工作，第二继电器和第三继电器能够将负载电阻接入到待测板的负载加压电路中，从而模拟待测板的负载接入；通过按键反馈端的设置，连接第一继电器触点端的电平能够反映触点的开关状态到时序控制电路，从而实现模拟开关电路的反馈。通过负载反馈端的设置，串联在负载电路回路中的电流传感器能够反馈负载电流值到时序控制电路，从而实现模拟负载电路的反馈；
3.本发明通过第一发光二极管和第二发光二极管设置，测试人员通过肉眼观察二极管的发光状态，能够直接识别出每一个模拟按键电路和模拟负载电路的工作状态，方便了测试作业，同时限流电阻的设置避免了发光二极管被烧毁，确保正常工作。
4.本发明通过开启按键和复位按键的设置，可以实现通过按压按键实现对测试流程的简单控制，进一步提高测试效率；通过串口通信模块的设置，便于修改传入的时序控制程序，以适应不同的待测板测试，同时能够方便将测试的反馈数据实时导出，以供后续进一步的分析处理。
附图说明
图1为本发明的结构框架图；
图2为本发明的模拟按键电路电路图；
图3为本发明的模拟负载电路电路图。
具体实施方式
为了使本领域的技术人员更好地理解本申请中的技术方案，下面将结合本申请实施例中的附图对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本申请的一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本申请保护的范围。
实施例1
参照图1所示，本实施例提供了一种测试工装，包括：
时序控制模块，设有模拟按键控制端IO_OUT和模拟负载控制端LOAD_OUT，用于发出控制指令，对测试时序进行控制；
模拟按键模块，与时序控制模块的模拟按键控制端IO_OUT和待测板上的按键电路连接，用于接收时序控制模块的控制指令，并模拟待测板上的按键开关；
模拟负载模块，与时序控制模块的模拟负载控制端LOAD_OUT和待测板上的负载加压电路连接，用于接收时序控制模块的控制指令，并模拟待测板负载的接入和断开。
本发明通过时序控制模块、模拟按键模块和模拟负载模块的配合使用，模拟按键模块用于模拟待测板上的按键开关，模拟负载模块用于模拟待测板上的负载接入和断开，通过时序控制模块控制模拟按键模块和模拟负载模块的时序，从而准确控制待测板的工作时序，实现对待测板的高效测试。
参照图2所示，所述模拟按键模块包括至少一个模拟按键电路，所述模拟按键电路包括一个NPN型的第一三极管Q1和一个第一继电器T1；所述第一继电器T1的触点连接待测板上的按键，线圈一端连接电源，另一端连接第一三极管Q1的集电极；所述第一三极管Q1的基极连接模拟按键控制端IO_OUT，发射极接地。
当模拟按键控制端IO_OUT给出高电平，第一三极管Q1打开，使第一继电器T1的线圈和第一三极管Q1形成回路，从而使第一继电器T1触点端闭合，模拟待测板上按键的按下；当模拟按键控制端IO_OUT给出低电平，第一三极管Q1关闭，第一继电器T1的线圈和第一三极管Q1不能形成回路，从而第一继电器T1触点端不闭合，模拟待测板上按键的未按下。
通过模拟按键电路，模拟按键控制端IO_OUT通过控制第一三极管Q1来控制第一继电器T1的工作，第一继电器T1连接待测板上的按键，从而能够模拟待测板的按键工作。
本实施例中，模拟按键模块包括七个模拟按键电路，模拟负载模块包括四个模拟负载电路。
参照图3所示，所述模拟负载模块包括至少一个模拟负载电路，所述模拟负载电路包括一个NPN型的第二三极管Q2、一个第二继电器T2、一个第三继电器T3和一个负载电阻R1；所述第二继电器T2和第三继电器T3的线圈并联，并且一端连接电源，另一端连接第二三极管Q2的集电极；所述第二继电器T2和第三继电器T3的触点串联，并且在中间串联一个负载电阻R1，两端与待测板上的负载加压电路连接；所述第二三极管Q2的基极连接模拟负载控制端LOAD_OUT，发射极接地。
当模拟负载控制端LOAD_OUT给出高电平，第二三极管Q2打开；第二继电器T2的线圈和第二三极管Q2形成回路，使第二继电器T2的触点端闭合；第三继电器T3的线圈和第二三极管Q2形成回路，使第三继电器T3的触点端闭合；从而第二继电器T2的触点端、负载电阻R1、第三继电器T3的触点端和待测板上的负载加压电路形成回路，模拟负载的接入。
当模拟负载控制端LOAD_OUT给出低电平，第二三极管Q2关闭；第二继电器T2的线圈和第二三极管Q2不能形成回路，使第二继电器T2的触点端不闭合；第三继电器T3的线圈和第二三极管Q2不能形成回路，使第三继电器T3的触点端不闭合；从而负载电阻R1与待测板上的负载加压电路断开，模拟负载的断开。
通过模拟负载电路，模拟负载控制端LOAD_OUT通过控制第一三极管Q1来控制第二继电器T2和第三继电器T3的工作，第二继电器T2和第三继电器T3能够将负载电阻R1接入到待测板的负载加压电路中，从而模拟待测板的负载接入。
继电器的线圈上还并联有一个续流二极管，能够保护三极管不被线圈电感的反电动势击穿。三极管的基极还串联一个基极限流电阻，起到限流的作用，防止基极电流过大把三极管烧坏。三级管的基极和发射极还串接一个下拉电阻，作用是在输入呈高阻态确保三极管可靠截止。
作为本实施例的进一步改进，所述时序控制模块还设有按键反馈端IO_IN，并连接所述第一继电器T1的触点。通过按键反馈端IO_IN的设置，连接第一继电器T1触点端的电平能够反映触点的开关状态到时序控制电路，从而实现模拟开关电路的反馈。
所述时序控制模块还设有负载反馈端LOAD_IN，所述第二继电器T2和第三继电器T3的触点中间串联一个电流传感器U1，所述电流传感器U1的输出端连接负载反馈端LOAD_IN。通过负载反馈端LOAD_IN的设置，串联在负载电路回路中的电流传感器U1能够反馈负载电流值到时序控制电路，从而实现模拟负载电路的反馈。
所述第一继电器T1的线圈并联有一个第一发光二极管D1，并且所述第一发光二极管D1串联一个第一限流电阻。当第一发光二极管D1发光时，表示第一三极管Q1打开，此时模拟按键处在按下状态；当第一发光二极管D1不发光时，表示第一二极管关闭，此时模拟按键处在未按下状态；所述第二继电器T2的线圈并联有一个第二发光二极管D2，并且所述第二发光二极管D2串联一个第二限流电阻。当第二发光二极管D2不发光时，表示第二三极管Q2关闭，此时模拟负载与待测板上的负载加压电路断开；当第二发光二极管D2发光时，表示第二三极管Q2打开，此时模拟负载与待测板上的负载加压电路连接。通过第一发光二极管D1和第二发光二极管D2设置，测试人员通过肉眼观察二极管的发光状态，能够直接识别出每一个模拟按键电路和模拟负载电路的工作状态，方便了测试作业，同时限流电阻的设置避免了发光二极管被烧毁，确保正常工作。
所述时序控制模块包括一个用于开启检测时序运行的开启按键，和一个用于复位测试工装的复位按键。按压开启按键，能够控制开启检测时序，或者继续下一步的检测时序；按压复位按键，能够在检测时序运行时随时中断并复位。通过开启按键和复位按键的设置，可以实现通过按压按键实现对测试流程的简单控制，进一步提高测试效率。
所述时序控制模块还包括一个用于传输数据的串口通信模块。通过串口通信模块的设置，便于修改传入的时序控制程序，以适应不同的待测板测试，同时能够方便将测试的反馈数据实时导出，以供后续进一步的分析处理。
自检方法：首先将测试工装与待测板连接，每一个模拟按键电路连接到待测板上的对应按键，每一个模拟负载电路连接到待测板上的负载加压电路；并通过串口模块将自检程序导入时序控制模块；然后按下开启按键，开始运行自检时序，时序控制通过模拟按键控制端IO_OUT对每一个模拟按键电路输出一定时间的高电平和低电平，同时根据按键反馈端IO_IN输入确定其工作是否正常时序控制通过模拟负载控制端LOAD_OUT对每一个模拟负载电路输出一定时间的高电平和低电平，同时根据负载反馈端LOAD_IN输入确定其工作是否正常；对每一个模拟按键电路和模拟负载电路进行测试后完成自检。
测试方法：首先将测试工装与待测板连接，每一个模拟按键电路连接到待测板上的对应按键，每一个模拟负载电路连接到待测板上的负载加压电路，并通过串口模块将测试程序导入时序控制模块；然后按下开启按键，开始运行测试时序，时序控制电路根据测试程序控制时序控制每一个模拟按键电路的按键开关和每一个模拟负载电路的负载接入和断开；同时观察发光二极管发光状态辅助确认待测板的工作状态；并且通过串口将模拟开关电路反馈的开关状态和模拟负载电路反馈的电流值实时通过串口模块实时输出；最后处理分析输出的数据，确认对应测试时序下待测板的工作状态，完成测试。
以上内容是结合具体的优选实施方式对本发明所作的进一步详细说明，不能认定本发明的具体实施只局限于这些说明。对于本发明所属技术领域的技术人员来说，在不脱离本发明构思的前提下，还可以做出若干等同替代或明显变型，而且性能或用途相同，都应当视为属于本发明的保护范围之内。

Claims (3)

1.一种测试工装，其特征在于，包括：
时序控制模块，设有模拟按键控制端和模拟负载控制端，用于发出控制指令，对测试时序进行控制；
模拟按键模块，与时序控制模块的模拟按键控制端和待测板上的按键电路连接，用于接收时序控制模块的控制指令，并模拟待测板上的按键开关；
所述模拟按键模块包括至少一个模拟按键电路，所述模拟按键电路包括一个NPN型的第一三极管和一个第一继电器；所述第一继电器的触点连接待测板上的按键，线圈一端连接电源，另一端连接第一三极管的集电极；所述第一三极管的基极连接模拟按键控制端，发射极接地；
模拟负载模块，与时序控制模块的模拟负载控制端和待测板上的负载加压电路连接，用于接收时序控制模块的控制指令，并模拟待测板负载的接入和断开；
所述模拟负载模块包括至少一个模拟负载电路，所述模拟负载电路包括一个NPN型的第二三极管、一个第二继电器、一个第三继电器和一个负载电阻；所述第二继电器和第三继电器的线圈并联，并且一端连接电源，另一端连接第二三极管的集电极；所述第二继电器和第三继电器的触点串联，并且在中间串联一个负载电阻，两端与待测板上的负载加压电路连接；所述第二三极管的基极连接模拟负载控制端，发射极接地；
所述时序控制模块还设有负载反馈端，所述第二继电器和第三继电器的触点中间串联一个电流传感器，所述电流传感器的输出端连接负载反馈端；
所述时序控制模块还设有按键反馈端，并连接所述第一继电器的触点；
所述第一继电器的线圈并联有一个第一发光二极管，并且所述第一发光二极管串联一个第一限流电阻；
所述第二继电器的线圈并联有一个第二发光二极管，并且所述第二发光二极管串联一个第二限流电阻。
2.根据权利要求1所述的一种测试工装，其特征在于，所述时序控制模块包括一个用于开启检测时序运行的开启按键，和一个用于复位测试工装的复位按键。
3.根据权利要求1所述的一种测试工装，其特征在于，所述时序控制模块还包括一个用于传输数据的串口通信模块。
CN202210502812.0A 2022-05-10 2022-05-10 一种测试工装 Active CN114594372B (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN202210502812.0A CN114594372B (zh) 2022-05-10 2022-05-10 一种测试工装

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN202210502812.0A CN114594372B (zh) 2022-05-10 2022-05-10 一种测试工装

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN114594372A CN114594372A (zh) 2022-06-07
CN114594372B true CN114594372B (zh) 2022-08-12

Family

ID=81821862

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN202210502812.0A Active CN114594372B (zh) 2022-05-10 2022-05-10 一种测试工装

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN114594372B (zh)

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN115638700B (zh) * 2022-12-21 2023-02-28 北京星途探索科技有限公司 一种用于多通道火工品的时序记录设备

Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN205485412U (zh) * 2016-03-23 2016-08-17 芜湖美智空调设备有限公司 Ito膜显示板的模拟按键电路及采用该电路的空调器
CN205844473U (zh) * 2016-05-13 2016-12-28 广州市思林杰自动化科技有限公司 一种用于测试pcba的功能测试装置
CN110988648A (zh) * 2019-11-15 2020-04-10 武汉光庭科技有限公司 一种pcba自动检测系统及方法
CN112505523A (zh) * 2020-11-23 2021-03-16 邓文言 Pcba功能测试系统
CN214473748U (zh) * 2020-12-07 2021-10-22 上能电气股份有限公司 电路功能检测装置及设备
CN215729398U (zh) * 2021-10-09 2022-02-01 杭州汇唐电子科技有限公司 一种用于检测bms板的自动测试仪控制电路

Family Cites Families (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE3674000D1 (de) * 1986-06-25 1990-10-11 Mania Gmbh Verfahren und vorrichtung zum elektrischen pruefen von leiterplatten.
JP3329623B2 (ja) * 1995-06-27 2002-09-30 株式会社東芝 ワイヤボンディング装置およびワイヤボンディング方法
CN201955773U (zh) * 2010-12-30 2011-08-31 东莞市长田电子有限公司 一种键盘类型电路板的测试装置
TW201231979A (en) * 2011-01-17 2012-08-01 Hon Hai Prec Ind Co Ltd Automatic test system and method
CN203786262U (zh) * 2014-04-14 2014-08-20 合肥宝龙达信息技术有限公司 一种主板键盘接口的测试电路及系统

Patent Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN205485412U (zh) * 2016-03-23 2016-08-17 芜湖美智空调设备有限公司 Ito膜显示板的模拟按键电路及采用该电路的空调器
CN205844473U (zh) * 2016-05-13 2016-12-28 广州市思林杰自动化科技有限公司 一种用于测试pcba的功能测试装置
CN110988648A (zh) * 2019-11-15 2020-04-10 武汉光庭科技有限公司 一种pcba自动检测系统及方法
CN112505523A (zh) * 2020-11-23 2021-03-16 邓文言 Pcba功能测试系统
CN214473748U (zh) * 2020-12-07 2021-10-22 上能电气股份有限公司 电路功能检测装置及设备
CN215729398U (zh) * 2021-10-09 2022-02-01 杭州汇唐电子科技有限公司 一种用于检测bms板的自动测试仪控制电路

Also Published As

Publication number Publication date
CN114594372A (zh) 2022-06-07

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN103869260B (zh) 一种电源测试系统及方法
CN205080235U (zh) 一种继电器测试装置
CN206930954U (zh) Pcba功能自动化检测设备
CN114070765B (zh) 通信接口测试电路及方法
CN114594372B (zh) 一种测试工装
CN111366835A (zh) 电控板测试方法和测试系统
CN103680274A (zh) 一种电气类实验设备连接线自动检测方法与装置
CN109521357A (zh) 一种集程序烧写、电路功能性测试于一体的单板测试系统
CN110988648A (zh) 一种pcba自动检测系统及方法
CN111104131A (zh) 一种电源板、芯片烧录装置及烧录方法
CN205374637U (zh) 一种开关机测试装置
CN106802392A (zh) 便携式全节点精确检测继电器校验平台
CN207198265U (zh) 手持接点测试仪
CN105704484A (zh) 模拟用户操作电视的测试装置及方法
CN206002601U (zh) 射频阻抗测试装置
TW201039122A (en) Automatic testing system for keyboard
CN111458592A (zh) 车灯驱动模块自动化检测系统
CN200941110Y (zh) 多功能电缆检测装置
CN212255518U (zh) 车灯驱动模块自动化检测系统
CN211042424U (zh) 一种民用智能燃气表控制器功能检测设备的控制系统
CN210427730U (zh) 一种电路板开关量输入自动检测装置
CN114113826A (zh) 一种手持终端eos性能的测试装置及其方法
CN108803583B (zh) 群控系统控制柜的测试设备
CN201449545U (zh) 电控系统程序智能检测设备
CN211015137U (zh) 一种1e级应急机组控制柜功能实验用的模拟装置

Legal Events

Date Code Title Description
PB01 Publication
PB01 Publication
SE01 Entry into force of request for substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
GR01 Patent grant
GR01 Patent grant