CN114577359B - 测温装置 - Google Patents

Abstract

本公开涉及一种测温装置，包括：检测线圈和补偿线圈分别被设置在待测导体同一位置的两侧，且与待测导体之间的距离相同；其中，检测线圈和补偿线圈通电后分别产生第一交流磁场和第二交流磁场，第二交流磁场不受感应电流的影响；检测电路用于检测检测线圈对应的第一阻抗，补偿电路用于检测补偿线圈对应的第二阻抗，测温模块用于根据在相同时间点测量到的第一阻抗和第二阻抗之间的差值确定待测导体的目标温度。通过设置该补偿线圈并测量该第二阻抗来对该检测线圈对应的第一阻抗进行修正的方式，不仅能够使得测量得到的待测导体的目标温度更加精确，而且能够适用于任意环境，更加具有普适性，更加简单易操作。

Description

测温装置

技术领域

本公开涉及电磁测温领域，具体地，涉及一种测温装置。

背景技术

常见的测温技术分接触式测温和非接触式测温两大类。传统的接触式测温主要采用热敏电阻、热电偶、光纤和半导体器件，这些元件都需要与被测物体直接接触。但是在许多应用场合，由于高压绝缘、防水、可靠性等条件的限制而无法采用接触式测温。非接触式测温目前广泛应用的是红外测温技术，可实现远距离测量，但是红外测温方法要求测量装置发出的红外光线照射到被测物体时不能被阻挡，限制了这种技术在许多场合的应用。目前基于电磁感应方式测温技术进行温度测量时，测温结果受测量装置自身的影响较大，结果不够精准。

发明内容

本公开的目的是提供一种测温装置，通过设置该补偿线圈并测量该第二阻抗来对该检测线圈对应的第一阻抗进行修正的方式，不仅能够使得测量得到的待测导体的目标温度更加精确，而且能够适用于任意环境，更加具有普适性，更加简单易操作。

为了实现上述目的，本公开提供一种测温装置，所述装置包括检测线圈、检测电路、补偿线圈、补偿电路和测温模块，所述检测线圈和所述补偿线圈分别被设置在待测导体同一位置的两侧，且与所述待测导体之间的距离相同；

其中，所述检测线圈和所述补偿线圈通电后分别产生第一交流磁场和第二交流磁场，所述第一交流磁场受到所述待测导体在所述第一交流磁场中所产生的感应电流的影响被弱化，进而降低所述检测线圈对应的阻抗；所述第二交流磁场不受所述感应电流的影响；

所述检测电路用于检测所述检测线圈对应的第一阻抗，所述补偿电路用于检测所述补偿线圈对应的第二阻抗，所述测温模块用于根据在相同时间点测量到的所述第一阻抗和所述第二阻抗之间的差值确定所述待测导体的目标温度。

可选地，所述补偿线圈为所述检测线圈等比例缩小得到，所述补偿线圈与所述检测线圈的电阻相同。

可选地，所述补偿线圈与所述检测线圈的电阻率相同，所述补偿线圈的线长和横截面积的比值与所述检测线圈的线长和截面积的比值相同。

可选地，所述补偿线圈的线圈材质与所述检测线圈的线圈材质所具有的电阻温度系数相同。

可选地，所述检测电路中包括并联在所述检测线圈两端的第一电容，所述第一电容用于与所述检测线圈共同构成第一LC振荡电路，所述补偿电路中包括并联在所述补偿线圈两端的第二电容，所述第二电容用于与所述补偿线圈共同构成第二LC振荡电路；

其中，所述检测线圈的电感量与所述补偿线圈的电感量之间存在第一比例关系，所述第一电容的电容值与所述第二电容的电容值之间存在第二比例关系相同，所述第一比例关系与所述第二比例关系相同。

可选地，所述检测电路中还包括并联在所述第一电容和所述检测线圈两端的第一振荡器，所述第一振荡器用于在所述检测线圈上施加第一频率的交流电；

所述补偿电路中还包括并联在所述第二电容和所述补偿线圈两端的第二振荡器，所述第二振荡器用于在所述补偿线圈上施加第二频率的交流电；

其中，所述第一频率与所述第二频率之间的第三比例关系为所述第一比例关系或所述第二比例关系的倒数。

可选地，所述检测电路中还包括第一控制芯片、第一频率检测电路、第一频率比较器，所述第一频率检测电路用于检测所述第一振荡器施加在所述检测线圈上的交流电的第一实际频率，并将所述第一实际频率发送至所述第一频率比较器中用于与第一预设频率范围进行比较以得到第一频率比较信息，所述第一频率比较器还用于将所述第一频率比较信息发送给所述第一控制芯片，所述第一控制芯片用于根据所述第一频率比较信息控制所述第一振荡器在所述检测线圈上施加的交流电的所述第一频率保持在所述第一预设频率范围内；

所述补偿电路中还包括第二控制芯片、第二频率检测电路、第二频率比较器，所述第二频率检测电路用于检测所述第二振荡器施加在所述检补偿线圈上的交流电的第二实际频率，并将所述第二实际频率发送至所述第二频率比较器中用于与第二预设频率范围进行比较以得到第二频率比较信息，所述第二频率比较器还用于将所述第二频率比较信息发送给所述第一控制芯片，所述第二控制芯片用于根据所述第二频率比较信息控制所述第二振荡器在所述补偿线圈上施加的交流电的所述第二频率保持在所述第二预设频率范围内。

可选地，所述检测电路中还包括第一电流检测模块，所述第一电流检测模块用于检测所述第一LC振荡电路中的第一电流信息，并将所述第一电流信息发送给所述第一控制芯片，所述第一控制芯片还用于根据所述第一电流信息计算所述检测线圈对应的所述第一阻抗；

所述补偿电路中还包括第二电流检测模块，所述第二电流检测模块用于检测所述第二LC振荡电路中的第二电流信息，并将所述第二电流信息发送给所述第二控制芯片，所述第二控制芯片还用于根据所述第二电流信息计算所述补偿线圈对应的所述第二阻抗。

可选地，所述测温模块还用于根据在所述在相同时间点测量到的所述第一阻抗和所述第二阻抗之间的差值，在预设对应关系表中确定与所述差值对应的所述目标温度，其中，所述预设对应关系表为预先根据所述第一阻抗和所述第二阻抗之间的差值与所述待测导体的温度之间的对应关系。

可选地，所述测温模块还用于在第一时间点测量到的所述第一阻抗和所述第二阻抗之间的差值，确定所述待测导体从所述第一时间点之前的第二时间点，至所述第一时间点之间的时段内所变化的温度变化值，并根据所述第二时间点对应的原始温度，确定所述待测导体在所述第一时间点对应的所述目标温度。

可选地，所述装置还包括隔热装置，所述隔热装置被设置于所述待测导体与所述检测线圈之间，以及所述待测导体与所述补偿线圈之间，用于降低所述待测导体的温度对所述检测线圈和所述补偿线圈的影响。

通过上述技术方案，通过设置该补偿线圈并测量该第二阻抗来对该检测线圈对应的第一阻抗进行修正的方式，不仅能够使得测量得到的待测导体的目标温度更加精确，而且能够适用于任意环境，更加具有普适性，更加简单易操作。

本公开的其他特征和优点将在随后的具体实施方式部分予以详细说明。

附图说明

附图是用来提供对本公开的进一步理解，并且构成说明书的一部分，与下面的具体实施方式一起用于解释本公开，但并不构成对本公开的限制。在附图中：

图1是根据本公开一示例性实施例示出的一种测温装置的结构示意图。

图2是根据本公开一示例性实施例示出的一种测温装置中的检测线圈和补偿线圈之间的比较关系示意图。

图3是根据本公开又一示例性实施例示出的一种测温装置的结构示意图。

图4是根据本公开又一示例性实施例示出的一种测温装置的结构示意图。

附图标记说明

1待测导体 2检测线圈

3检测电路 4补偿线圈

5补偿电路 6测温模块

7隔热装置 31第一电容

32第一电流检测模块 33第一振荡器

34第一频率检测电路 35第一频率比较器

36第一控制芯片 51第二电容

52第二电流检测模块 53第二振荡器

54第二频率检测电路 55第二频率比较器

56第二控制芯片

具体实施方式

以下结合附图对本公开的具体实施方式进行详细说明。应当理解的是，此处所描述的具体实施方式仅用于说明和解释本公开，并不用于限制本公开。

图1是根据本公开一示例性实施例示出的一种测温装置的结构示意图。如图1所示，所述装置包括检测线圈2、检测电路3、补偿线圈4、补偿电路5和测温模块6，所述检测线圈2和所述补偿线圈4分别被设置在待测导体1同一位置的两侧，且与所述待测导体1之间的距离相同；其中，所述检测线圈2和所述补偿线圈4通电后分别产生第一交流磁场和第二交流磁场，所述第一交流磁场受到所述待测导体1在所述第一交流磁场中所产生的感应电流的影响被弱化，降低所述检测线圈2对应的阻抗，所述第二交流磁场不受所述感应电流的影响；所述检测电路3用于检测所述检测线圈2对应的第一阻抗，所述补偿电路5用于检测所述补偿线圈4对应的第二阻抗，所述测温模块6用于根据在相同时间点测量到的所述第一阻抗和所述第二阻抗之间的差值确定所述待测导体1的目标温度。

该检测线圈2和该补偿线圈4在通电后能分别产生该第一交流磁场和该第二交流磁场。检测电路3和补偿电路5分别与检测线圈2和补偿线圈4连接，检测电路3为检测线圈提供一定频率的交流电产生第一交流磁场，补偿电路5为补偿线圈4提供一定频率的交流电产生第二交流磁场。

而当任意导体靠近交流磁场时，导体表面将产生涡流，也即感应电流，根据楞次定律，感应电流会对抗导致该感应电流的交流磁场，对交流磁场产生弱化的效果，并且该感应电流的大小会与该导体的温度相关，进而影响对该交流磁场产生的弱化程度。在如图1所示的测温装置中，在出现该第一交流磁场被该待测导体1所产生的感应电流对抗而弱化的情况下，该检测线圈2在该第一交流磁场中所产生的感抗也会降低，也即，可以根据该检测线圈2的阻抗变化情况来表征该感应电流的变化大小，进而表征该待测导体1的变化温度。

然而，由于该待测导体1的温度会发生变化，并且还会对该检测线圈2的温度造成一定的影响，并且该检测线圈2自身的阻值会随着该检测线圈2的温度的变化而发生变化，因此，直接检测到的该检测线圈2对应的阻抗中不仅包括了因为待测导体1的温度变化而导致的检测线圈2的感抗的变化情况，而且还包括了由于待测导体1的温度变化而导致的检测线圈2的温度变化，进而所导致的检测线圈2自身的阻值的变化。

由于待测导体1的温度会如何影响检测线圈2的温度，也即检测线圈2的温度具体会如何变化不可知，因此单对检测线圈2对应的阻抗进行测量无法清除由于检测线圈2本身的阻值的变化的影响，从而会导致根据该检测线圈2对应的阻抗所确定的该待测导体1的温度会出现一定的偏差，不够精准。

由此，可以在该待测导体1一侧设置该补偿线圈4，通过将该补偿线圈4设置在该待测导体1相对于该检测线圈2的同一位置的另一侧，并设置该补偿线圈4与该待测导体1的距离与该检测线圈2与该从待测导体1的距离相同，从而能够保证该补偿线圈4与该检测线圈2能够在该待测导体1加热升温或不加热升温的任何时刻，都保持在相同的温度环境下。并且，还能通过对该补偿线圈4的设置，使得该补偿线圈4受到到该待测导体1所产生的感应电流的影响几乎可以小到忽略不计，也即可以认为该补偿线圈4不受该待测导体1所产生的感应电流的影响，该补偿线圈4的感抗不会根据该感应电流的变化而发生变化，仅有该补偿线圈4自身的阻值会根据温度的变化而变化。又因为该补偿线圈4与该检测线圈2一直处于相同的温度环境中，因此该补偿线圈4对应的阻抗所表现出来的温度变化也即该检测线圈2在相同的温度变化的情况下所应该呈现的阻抗。

从而，该检测线圈2对应的第一阻抗和该补偿线圈4对应的第二阻抗的差值，便可以将该检测线圈2的感抗随该待测导体1的温度变化而发生的变化程度进行表示，进而根据该差值便可以确定该待测导体1的温度变化。

在该测温模块6根据该差值确定该待测导体1的目标温度时，可以是根据在所述在相同时间点测量到的所述第一阻抗和所述第二阻抗之间的差值，在预设对应关系表中确定与所述差值对应的所述目标温度，其中，所述预设对应关系表为预先根据所述第一阻抗和所述第二阻抗之间的差值与所述待测导体1的温度之间的对应关系。或者，也可以是在第一时间点测量到的所述第一阻抗和所述第二阻抗之间的差值，确定所述待测导体1从所述第一时间点之前的第二时间点，至所述第一时间点之间的时段内所变化的温度变化值，并根据所述第二时间点对应的原始温度，确定所述待测导体1在所述第一时间点对应的所述目标温度。

例如，在该待测导体1为烟管的情况下，通常会需要测量烟管开始加热之后所能达到的温度，此时，可以将该烟管加热结束的时间点作为该第一时间点，或者该相同时间点来对该第一阻抗和该第二阻抗进行测量，在得到该第一阻抗和该第二阻抗的差值之后，可以直接根据该预设对应关系表来查找与该差值对应的温度来作为该目标温度，也可以先确定与该差值对应的该温度变化值，该第二时间点也即该烟管刚开始加热时的时间点，该第二时间点对应的原始温度可以是预先设置好的，也可以是在该第二时间点获取到的室温。其中，该预设对应关系表中的数据可以是通过对该检测线圈2进行完全隔热的设置的情况下所实验得到的数据，由于对该检测线圈2进行完全隔热只能在特定的试验环境下能够实现，因此，通过设置该补偿线圈4并测量该第二阻抗来对该检测线圈2对应的第一阻抗进行修正的方式，不仅能够使得测量得到的待测导体1的目标温度更加精确，而且能够适用于任意环境，更加具有普适性，更加简单易操作。

图2是根据本公开一示例性实施例示出的一种测温装置中的检测线圈2和补偿线圈4之间的比较关系示意图。如图2所示，所述补偿线圈4为所述检测线圈2等比例缩小得到，所述补偿线圈4与所述检测线圈2的电阻率相同，所述补偿线圈4的线长和横截面积的比值与所述检测线圈2的线长和截面积的比值相同。并且，所述补偿线圈4的线圈材质与所述检测线圈2的线圈材质所具有的电阻温度系数相同。由于该检测线圈2和该补偿线圈4自身的阻值的计算公式为：

R＝ρ*l/S，

其中，R为所述检测线圈2或所述补偿线圈4自身的阻值，ρ为该电阻温度系数，l为该检测线圈2或该补偿线圈4的线长，S为该检测线圈2或该补偿线圈4的横截面积，因此，上述的设置能够保证该检测线圈2和该补偿线圈4自身的阻值相同，且在相同的温度变化条件下，阻值的变化也相同。

其中，为了保证该补偿线圈4受到该待测导体1的感应电流的影响可以小到忽略不计，可以通过将该补偿线圈4的线径，也即该横截面积尽可能的缩小的方式来实现。

图3是根据本公开又一示例性实施例示出的一种测温装置的结构示意图。如图3所示，所述检测电路3中包括并联在所述检测线圈2两端的第一电容31、并联在所述第一电容31和所述检测线圈2两端的第一振荡器33，以及第一电流检测模块32、第一控制芯片36、第一频率检测电路34、第一频率比较器35，所述补偿电路5中包括并联在所述补偿线圈4两端的第二电容51、并联在所述第二电容51和所述补偿线圈4两端的第二振荡器53、以及第二电流检测模块52第二控制芯片56、第二频率检测电路54、第二频率比较器55。

该第一电容31用于与所述检测线圈2共同构成第一LC振荡电路，所述第二电容51用于与所述补偿线圈4共同构成第二LC振荡电路；其中，所述检测线圈2的电感量与所述补偿线圈4的电感量之间存在第一比例关系，所述第一电容31的电容值与所述第二电容51的电容值之间存在第二比例关系，所述第一比例关系与所述第二比例关系相同。例如，在该检测线圈2的电感量为该补偿线圈4的电感量的X倍的情况下，该第一电容31的电容值也为该第二电容51的电容值的X倍。由于在该第一LC振荡电路或该第二LC振荡电路中的并联阻抗，也即该检测线圈2对应的阻抗或该补偿线圈4对应的阻抗的计算公式为：

Rp＝L/(R*C)，

其中，Rp为该检测线圈2或该补偿线圈4对应的阻抗，L为该检测线圈2或该补偿线圈4的电感量，R为该检测线圈2或该补偿线圈4自身的阻值，C为该第一电容31或该第二电容51的电容值。因此，上述的设置能够保证该检测线圈2和该补偿线圈4所对应的阻抗在没有该待测导体1的感应电流的情况下相同。

该检测电路3中的所述第一振荡器33用于在所述检测线圈2上施加第一频率的交流电，该补偿电路5中的所述第二振荡器53用于在所述补偿线圈4上施加第二频率的交流电；其中，所述第一频率与所述第二频率之间的第三比例关系为所述第一比例关系或所述第二比例关系的倒数。LC振荡电路的频率公式为：

其中，f为该第一LC振荡电路或该第二LC振荡电路的频率，pi为圆周率π，L为该检测线圈2或该补偿线圈4的电感量，C为该第一电容31或该第二电容51的电容值。根据该频率公式、该检测线圈2与该补偿线圈4的电感量之间的关系、以及第一电容31和该第二电容51的电容值之间的关系可以得知，例如，在该检测线圈2的电感量为该补偿线圈4的电感量的X倍，且该第一电容31的电容值也为该第二电容51的电容值的X倍的情况下，为了保证该检测线圈2与该补偿线圈4能够保持在相同的条件下，可以将该补偿电路5的工作频率设置为该检测电路3的工作频率的X倍。

该检测电路3中的该第一频率检测电路34用于检测所述第一振荡器33施加在所述检测线圈2上的交流电的第一实际频率，并将所述第一实际频率发送至所述第一频率比较器35中用于与第一预设频率范围进行比较以得到第一频率比较信息，所述第一频率比较器35还用于将所述第一频率比较信息发送给所述第一控制芯片36，所述第一控制芯片36用于根据所述第一频率比较信息控制所述第一振荡器33在所述检测线圈2上施加的交流电的所述第一频率保持在所述第一预设频率范围内。

该补偿电路5中的该第二频率检测电路54用于检测所述第二振荡器53施加在所述补偿线圈4上的交流电的第二实际频率，并将所述第二实际频率发送至所述第二频率比较器55中用于与第二预设频率范围进行比较以得到第二频率比较信息，所述第二频率比较器55还用于将所述第二频率比较信息发送给所述第一控制芯片36，所述第二控制芯片56用于根据所述第二频率比较信息控制所述第二振荡器53在所述补偿线圈4上施加的交流电的所述第二频率保持在所述第二预设频率范围内。

该检测电路3中的该第一电流检测模块32用于检测所述第一LC振荡电路中的第一电流信息，并将所述第一电流信息发送给所述第一控制芯片36，所述第一控制芯片36还用于根据所述第一电流信息计算所述检测线圈2对应的所述第一阻抗。

该补偿电路5中的该第二电流检测模块52用于检测所述第二LC振荡电路中的第二电流信息，并将所述第二电流信息发送给所述第二控制芯片56，所述第二控制芯片56还用于根据所述第二电流信息计算所述补偿线圈4对应的所述第二阻抗。

图4是根据本公开又一示例性实施例示出的一种测温装置的结构示意图。如图4所示，所述装置还包括隔热装置7，所述隔热装置7被设置于所述待测导体1与所述检测线圈2之间，以及所述待测导体1与所述补偿线圈4之间，用于降低所述待测导体1的温度对所述检测线圈2和所述补偿线圈4的影响。该隔热装置7可以为任意隔热材料。

以上结合附图详细描述了本公开的优选实施方式，但是，本公开并不限于上述实施方式中的具体细节，在本公开的技术构思范围内，可以对本公开的技术方案进行多种简单变型，这些简单变型均属于本公开的保护范围。。

另外需要说明的是，在上述具体实施方式中所描述的各个具体技术特征，在不矛盾的情况下，可以通过任何合适的方式进行组合。为了避免不必要的重复，本公开对各种可能的组合方式不再另行说明。

此外，本公开的各种不同的实施方式之间也可以进行任意组合，只要其不违背本公开的思想，其同样应当视为本公开所公开的内容。

Claims (9)

1.一种测温装置，其特征在于，所述装置包括检测线圈、检测电路、补偿线圈、补偿电路和测温模块，所述检测线圈和所述补偿线圈分别被设置在待测导体同一位置的两侧，且与所述待测导体之间的距离相同；

其中，所述检测线圈和所述补偿线圈通电后分别产生第一交流磁场和第二交流磁场，所述第一交流磁场受到所述待测导体在所述第一交流磁场中所产生的感应电流的影响被弱化，进而降低所述检测线圈对应的阻抗；所述第二交流磁场不受所述感应电流的影响；

所述检测电路用于检测所述检测线圈对应的第一阻抗，所述补偿电路用于检测所述补偿线圈对应的第二阻抗，所述测温模块用于根据在相同时间点测量到的所述第一阻抗和所述第二阻抗之间的差值确定所述待测导体的目标温度；

其中，所述测温模块还用于根据在相同时间点测量到的所述第一阻抗和所述第二阻抗之间的差值，在预设对应关系表中确定与所述差值对应的所述目标温度，其中，所述预设对应关系表为预先根据所述第一阻抗和所述第二阻抗之间的差值与所述待测导体的温度之间的对应关系；

或者，

所述测温模块还用于在第一时间点测量到的所述第一阻抗和所述第二阻抗之间的差值，确定所述待测导体从所述第一时间点之前的第二时间点，至所述第一时间点之间的时段内所变化的温度变化值，并根据所述第二时间点对应的原始温度，确定所述待测导体在所述第一时间点对应的所述目标温度。

2.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述补偿线圈为所述检测线圈等比例缩小得到，所述补偿线圈与所述检测线圈的电阻相同。

3.根据权利要求2所述的装置，其特征在于，所述补偿线圈与所述检测线圈的电阻率相同，所述补偿线圈的线长和横截面积的比值与所述检测线圈的线长和截面积的比值相同。

4.根据权利要求3所述的装置，其特征在于，所述补偿线圈的线圈材质与所述检测线圈的线圈材质所具有的电阻温度系数相同。

5.根据权利要求4所述的装置，其特征在于，

所述检测电路中包括并联在所述检测线圈两端的第一电容，所述第一电容用于与所述检测线圈共同构成第一LC振荡电路，所述补偿电路中包括并联在所述补偿线圈两端的第二电容，所述第二电容用于与所述补偿线圈共同构成第二LC振荡电路；

其中，所述检测线圈的电感量与所述补偿线圈的电感量之间存在第一比例关系，所述第一电容的电容值与所述第二电容的电容值之间存在第二比例关系，所述第一比例关系与所述第二比例关系相同。

6.根据权利要求5所述的装置，其特征在于，

所述检测电路中还包括并联在所述第一电容和所述检测线圈两端的第一振荡器，所述第一振荡器用于在所述检测线圈上施加第一频率的交流电；

所述补偿电路中还包括并联在所述第二电容和所述补偿线圈两端的第二振荡器，所述第二振荡器用于在所述补偿线圈上施加第二频率的交流电；

其中，所述第一频率与所述第二频率之间的第三比例关系为所述第一比例关系或所述第二比例关系的倒数。

7.根据权利要求6所述的装置，其特征在于，

所述检测电路中还包括第一控制芯片、第一频率检测电路、第一频率比较器，所述第一频率检测电路用于检测所述第一振荡器施加在所述检测线圈上的交流电的第一实际频率，并将所述第一实际频率发送至所述第一频率比较器中用于与第一预设频率范围进行比较以得到第一频率比较信息，所述第一频率比较器还用于将所述第一频率比较信息发送给所述第一控制芯片，所述第一控制芯片用于根据所述第一频率比较信息控制所述第一振荡器在所述检测线圈上施加的交流电的所述第一频率保持在所述第一预设频率范围内；

所述补偿电路中还包括第二控制芯片、第二频率检测电路、第二频率比较器，所述第二频率检测电路用于检测所述第二振荡器施加在所述补偿线圈上的交流电的第二实际频率，并将所述第二实际频率发送至所述第二频率比较器中用于与第二预设频率范围进行比较以得到第二频率比较信息，所述第二频率比较器还用于将所述第二频率比较信息发送给所述第一控制芯片，所述第二控制芯片用于根据所述第二频率比较信息控制所述第二振荡器在所述补偿线圈上施加的交流电的所述第二频率保持在所述第二预设频率范围内。

8.根据权利要求7所述的装置，其特征在于，

所述检测电路中还包括第一电流检测模块，所述第一电流检测模块用于检测所述第一LC振荡电路中的第一电流信息，并将所述第一电流信息发送给所述第一控制芯片，所述第一控制芯片还用于根据所述第一电流信息计算所述检测线圈对应的所述第一阻抗；

所述补偿电路中还包括第二电流检测模块，所述第二电流检测模块用于检测所述第二LC振荡电路中的第二电流信息，并将所述第二电流信息发送给所述第二控制芯片，所述第二控制芯片还用于根据所述第二电流信息计算所述补偿线圈对应的所述第二阻抗。

9.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述装置还包括隔热装置，所述隔热装置被设置于所述待测导体与所述检测线圈之间，以及所述待测导体与所述补偿线圈之间，用于降低所述待测导体的温度对所述检测线圈和所述补偿线圈的影响。

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